JPH10232170A - 熱電対劣化予測装置 - Google Patents
熱電対劣化予測装置Info
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- JPH10232170A JPH10232170A JP9052297A JP5229797A JPH10232170A JP H10232170 A JPH10232170 A JP H10232170A JP 9052297 A JP9052297 A JP 9052297A JP 5229797 A JP5229797 A JP 5229797A JP H10232170 A JPH10232170 A JP H10232170A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】簡易な構成で、容易に熱電対の劣化を検知、予
測できる熱電対劣化予測装置を提供する。 【解決手段】熱電対１に所定の電流を断続的に供給する
電流源５と、熱電対１に電流源５から電流を供給したと
きの電圧降下から熱電対１の抵抗値を測定し、この抵抗
値の時間に対する変化に基き所定の関係を用い劣化時点
を予測して報知する処理手段３とを備えるようにした熱
電対劣化予測装置である。
測できる熱電対劣化予測装置を提供する。 【解決手段】熱電対１に所定の電流を断続的に供給する
電流源５と、熱電対１に電流源５から電流を供給したと
きの電圧降下から熱電対１の抵抗値を測定し、この抵抗
値の時間に対する変化に基き所定の関係を用い劣化時点
を予測して報知する処理手段３とを備えるようにした熱
電対劣化予測装置である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、熱電対の劣化を
予測する装置に関するものである。
予測する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】熱電対は、加熱炉その他の温度測定に広
く使用されている。ところが、高温雰囲気で長時間使用
していると劣化するおそれがある。
く使用されている。ところが、高温雰囲気で長時間使用
していると劣化するおそれがある。
【０００３】従来、劣化を予測する良い方法はなく、定
期的に標準の熱電対と比較検定したり、経験的に所定時
間使用する毎に定期的に交換していた。
期的に標準の熱電対と比較検定したり、経験的に所定時
間使用する毎に定期的に交換していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、比較検
定をする為には、高価な検定装置を用意する必要があ
り、検定の手間を大きく要し、また、熱電対を定期的に
交換する場合では使用可能な熱電対まで交換することも
あり無駄を生じるおそれがあった。
定をする為には、高価な検定装置を用意する必要があ
り、検定の手間を大きく要し、また、熱電対を定期的に
交換する場合では使用可能な熱電対まで交換することも
あり無駄を生じるおそれがあった。
【０００５】この発明の目的は、以上の点に鑑み、簡易
な構成で、容易に熱電対の劣化を検知、予測できる熱電
対劣化予測装置を提供することである。
な構成で、容易に熱電対の劣化を検知、予測できる熱電
対劣化予測装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は、熱電対に所
定の電流を断続的に供給する電流源と、前記熱電対に前
記電流源から電流を供給したときの電圧降下から熱電対
の抵抗値を測定し、この抵抗値の時間に対する変化に基
き所定の関係を用い劣化時点を予測して報する処理手段
とを備えるようにした熱電対劣化予測装置である。
定の電流を断続的に供給する電流源と、前記熱電対に前
記電流源から電流を供給したときの電圧降下から熱電対
の抵抗値を測定し、この抵抗値の時間に対する変化に基
き所定の関係を用い劣化時点を予測して報する処理手段
とを備えるようにした熱電対劣化予測装置である。
【０００７】
【発明の実施の形態】図１は、この発明の一実施例を示
す構成説明図である。図１において、１は先端部が測定
対象に設けられた熱電対で、この熱電対１からの熱起電
力は、増幅器、Ａ／Ｄ変換器等を含む測定手段２で測定
され、この測定電圧は処理手段３に供給される。μＣＰ
Ｕ等よりなる処理手段３は、あらかじめメモリ４に記憶
された熱電対の種類により定められた通常の熱起電力と
温度との第１の関係を用い、測定電圧から温度に換算す
る演算処理を行い温度出力を取り出すことができる。ま
た、処理手段３により必要時あるいは定期的に所定の間
隔でスイッチ手段６をオンとし、電流源５の所定の電流
を熱電対１に供給し、このときの電圧降下分を測定手段
２で測定して処理手段３に供給し、処理手段３で熱電対
１の抵抗値を測定する。そして、処理手段３は、あらか
じめメモリ４に記憶された温度と熱電対の抵抗値との第
２の関係から熱電対１で先に測定した温度に対応する抵
抗値を算出し、この算出した抵抗値と熱電対１に電流源
５から電流を供給したときの電圧降下から求めた熱電対
の抵抗値と比較し、熱電対１の劣化を検知、予測する。
す構成説明図である。図１において、１は先端部が測定
対象に設けられた熱電対で、この熱電対１からの熱起電
力は、増幅器、Ａ／Ｄ変換器等を含む測定手段２で測定
され、この測定電圧は処理手段３に供給される。μＣＰ
Ｕ等よりなる処理手段３は、あらかじめメモリ４に記憶
された熱電対の種類により定められた通常の熱起電力と
温度との第１の関係を用い、測定電圧から温度に換算す
る演算処理を行い温度出力を取り出すことができる。ま
た、処理手段３により必要時あるいは定期的に所定の間
隔でスイッチ手段６をオンとし、電流源５の所定の電流
を熱電対１に供給し、このときの電圧降下分を測定手段
２で測定して処理手段３に供給し、処理手段３で熱電対
１の抵抗値を測定する。そして、処理手段３は、あらか
じめメモリ４に記憶された温度と熱電対の抵抗値との第
２の関係から熱電対１で先に測定した温度に対応する抵
抗値を算出し、この算出した抵抗値と熱電対１に電流源
５から電流を供給したときの電圧降下から求めた熱電対
の抵抗値と比較し、熱電対１の劣化を検知、予測する。
【０００８】つまり、図２の実線の曲線Ａで示すよう
に、メモリ４には、通常の熱起電力と温度との第１の関
係の他に、測定温度Ｔと、そのときの熱電対の抵抗値
Ｒ、またはある温度Ｔ０のときの抵抗Ｒ０で割った抵抗
比Ｒ／Ｒ０との上記第２の関係を記憶・格納しておく。
そして、各温度に対し、点線の曲線Ｂ、Ｃで示す所定の
抵抗値幅の限界レベル（例えば±１０％）を設け、これ
を越えたとき、劣化と判断することができる。そして、
抵抗値の時間に対する変化に基き所定の関係を用い上記
限界レベルとなる劣化時点をあらかじめ予測報知するよ
うにする。勿論、抵抗と電圧は比例するので、電圧値で
比較してもよい。なお、抵抗比Ｒ／Ｒ０は、熱電対の種
類により一定であるので、抵抗比Ｒ／Ｒ０を用いて比較
することにより、熱電対の長さ、太さ等の影響を受ける
ことがない。また、適正な基準温度Ｔ０との温度比Ｔ／
Ｔ０を用いて比較するようにしてもよい。
に、メモリ４には、通常の熱起電力と温度との第１の関
係の他に、測定温度Ｔと、そのときの熱電対の抵抗値
Ｒ、またはある温度Ｔ０のときの抵抗Ｒ０で割った抵抗
比Ｒ／Ｒ０との上記第２の関係を記憶・格納しておく。
そして、各温度に対し、点線の曲線Ｂ、Ｃで示す所定の
抵抗値幅の限界レベル（例えば±１０％）を設け、これ
を越えたとき、劣化と判断することができる。そして、
抵抗値の時間に対する変化に基き所定の関係を用い上記
限界レベルとなる劣化時点をあらかじめ予測報知するよ
うにする。勿論、抵抗と電圧は比例するので、電圧値で
比較してもよい。なお、抵抗比Ｒ／Ｒ０は、熱電対の種
類により一定であるので、抵抗比Ｒ／Ｒ０を用いて比較
することにより、熱電対の長さ、太さ等の影響を受ける
ことがない。また、適正な基準温度Ｔ０との温度比Ｔ／
Ｔ０を用いて比較するようにしてもよい。
【０００９】以上のことから、熱電対１の熱起電力を測
定手段２で測定し、上記第１の関係から処理手段３で温
度Ｔを測定し、あらかじめメモリ４に記憶された温度と
熱電対の抵抗値との上記第２の関係から温度Ｔに対応し
た基準の抵抗値Ｒｒを算出しておく。次にスイッチ手段
６をオンとし、電流源５から熱電対１に所定の電流ｉを
断続的に供給し、供給したときの電圧降下から熱電対１
の抵抗値Ｒを測定する。そして、この抵抗値Ｒと測定温
度Ｔに対応する基準の抵抗値Ｒｒとを処理手段３で比較
し、この差から熱電対１の劣化を予測する。例えば、図
２で示すように、抵抗値Ｒが限界レベルＢ、Ｃを越えた
とき、劣化となるが、この劣化抵抗値に到達する時点を
予測計算し、予知・予測情報を外部に報知出力する。
定手段２で測定し、上記第１の関係から処理手段３で温
度Ｔを測定し、あらかじめメモリ４に記憶された温度と
熱電対の抵抗値との上記第２の関係から温度Ｔに対応し
た基準の抵抗値Ｒｒを算出しておく。次にスイッチ手段
６をオンとし、電流源５から熱電対１に所定の電流ｉを
断続的に供給し、供給したときの電圧降下から熱電対１
の抵抗値Ｒを測定する。そして、この抵抗値Ｒと測定温
度Ｔに対応する基準の抵抗値Ｒｒとを処理手段３で比較
し、この差から熱電対１の劣化を予測する。例えば、図
２で示すように、抵抗値Ｒが限界レベルＢ、Ｃを越えた
とき、劣化となるが、この劣化抵抗値に到達する時点を
予測計算し、予知・予測情報を外部に報知出力する。
【００１０】つまり、図３に、例えばある所定の温度に
おける限界レベルに達して越えて行くような時間ｔに対
する熱電対１の抵抗値Ｒの変化を示す。劣化が進行し始
め、基準の抵抗値Ｒｒをやや越えた抵抗値Ｒ１となった
時刻ｔ１において、これより所定の時間Δｔ経過した時
刻ｔ２の抵抗値Ｒ２を求める。これらの時間的変化Δｔ
＝ｔ２−ｔ１に対する抵抗値変化ΔＲ＝Ｒ２−Ｒ１の変
化率Ｋ＝ΔＲ／Δｔから、メモリ４に格納された第３の
関係である所定の関係（劣化関数Ｆ）を用い、劣化抵抗
値Ｒｘとなる劣化時刻（時点）ｔｘを予測計算し、この
予測時刻ｔｘ又はこの時刻ｔｘになるまでの時間を処理
手段３は外部に報知する。
おける限界レベルに達して越えて行くような時間ｔに対
する熱電対１の抵抗値Ｒの変化を示す。劣化が進行し始
め、基準の抵抗値Ｒｒをやや越えた抵抗値Ｒ１となった
時刻ｔ１において、これより所定の時間Δｔ経過した時
刻ｔ２の抵抗値Ｒ２を求める。これらの時間的変化Δｔ
＝ｔ２−ｔ１に対する抵抗値変化ΔＲ＝Ｒ２−Ｒ１の変
化率Ｋ＝ΔＲ／Δｔから、メモリ４に格納された第３の
関係である所定の関係（劣化関数Ｆ）を用い、劣化抵抗
値Ｒｘとなる劣化時刻（時点）ｔｘを予測計算し、この
予測時刻ｔｘ又はこの時刻ｔｘになるまでの時間を処理
手段３は外部に報知する。
【００１１】例えば、概略、劣化関数Ｆが時間ｔに対す
る抵抗値Ｒの一次関数とすれば、上記変化率Ｋの大きさ
から、劣化時刻ｔｘ及びそれまでの時間ｔｘ−ｔ２は、
次式となる。
る抵抗値Ｒの一次関数とすれば、上記変化率Ｋの大きさ
から、劣化時刻ｔｘ及びそれまでの時間ｔｘ−ｔ２は、
次式となる。
【００１２】 ｔｘ＝（Ｒｘ−Ｒ２）／Ｋ＋ｔ２ （１） ｔｘ−ｔ２＝（Ｒｘ−Ｒ２）／Ｋ （２） このように、抵抗値Ｒの時間ｔに対する変化に基き所定
の劣化関数Ｆを用い劣化時点ｔｘを予測して報知するこ
とができるが、この劣化関数Ｆは、熱電対１の種類又は
測定温度毎に異なるものを用いるとよい。また、熱電対
１による現場での測定を行って、実際の現場で特定の環
境で測定した時間に対する抵抗値変化の測定結果から、
劣化関数を修正して更新しメモリ４に格納するようにす
る学習機能を処理手段３に設け、常に最適のものとでき
る。
の劣化関数Ｆを用い劣化時点ｔｘを予測して報知するこ
とができるが、この劣化関数Ｆは、熱電対１の種類又は
測定温度毎に異なるものを用いるとよい。また、熱電対
１による現場での測定を行って、実際の現場で特定の環
境で測定した時間に対する抵抗値変化の測定結果から、
劣化関数を修正して更新しメモリ４に格納するようにす
る学習機能を処理手段３に設け、常に最適のものとでき
る。
【００１３】ところで、通常の測定時、電流源５より熱
電対１に電流ｉを流したとき、温度Ｔとされる熱電対１
の抵抗値をＲ、それ以外の部分の補償導線等の部分の抵
抗値をｒ１、温度Ｔのときの熱起電力をＶ０とすると測
定電圧Ｖ１は次式となる。
電対１に電流ｉを流したとき、温度Ｔとされる熱電対１
の抵抗値をＲ、それ以外の部分の補償導線等の部分の抵
抗値をｒ１、温度Ｔのときの熱起電力をＶ０とすると測
定電圧Ｖ１は次式となる。
【００１４】 Ｖ１＝Ｖ０＋ｉ（Ｒ＋ｒ１）＝ｉ・Ｒ＋（Ｖ０＋ｉ・ｒ１） （３） これより Ｒ＝［Ｖ１−（Ｖ０＋ｉ・ｒ１）］／ｉ （４） が求まる。ここで、（Ｖ０＋ｉ・ｒ１）は、十分小さけ
れば無視でき、あるいはＶ０は通常の測定により求ま
り、電流値ｉは設定値であり、抵抗値ｒ１は、補償導線
等の種類により既知である。この補正して求められた抵
抗値Ｒを用いて上記温度と熱電対の抵抗値との第３の関
係等を用いて同様に劣化予測を行うことができる。
れば無視でき、あるいはＶ０は通常の測定により求ま
り、電流値ｉは設定値であり、抵抗値ｒ１は、補償導線
等の種類により既知である。この補正して求められた抵
抗値Ｒを用いて上記温度と熱電対の抵抗値との第３の関
係等を用いて同様に劣化予測を行うことができる。
【００１５】また、上記劣化予測は、抵抗値の時間に対
する変化に基くものについて説明したが、電圧値、抵抗
値比、温度比等も、これに含まれ、同様の効果が得られ
る。
する変化に基くものについて説明したが、電圧値、抵抗
値比、温度比等も、これに含まれ、同様の効果が得られ
る。
【００１６】
【発明の効果】以上述べたように、この発明は、熱電対
に所定の電流を断続的に供給する電流源と、前記熱電対
に前記電流源から電流を供給したときの電圧降下から熱
電対の抵抗値を測定し、この抵抗値の時間に対する変化
に基き所定の関係を用い劣化時点を予測して報知する処
理手段とを備えるようにした熱電対劣化予測装置であ
る。このため、常時、熱電対の抵抗値変化から、熱電対
の劣化の時点を検知、予測することができ、しかも、そ
のときの測定温度に対応した基準の抵抗値と比較してい
るので、熱電対がどのような温度で測定していたとして
も、十分に劣化の予測が可能となる。また、抵抗の他に
抵抗比と温度との関係を用いることで、熱電対の長さ、
太さ等の影響を受けることがない。また、実際の稼働時
に温度上昇させて、熱電対の熱起電力による温度と、そ
のときの抵抗値を求め、これの関係を用いて、劣化予測
をすれば、種々の補正演算は不要となる。また、熱電対
が複数チャンネルの場合、入力切換器で各チャンネルの
入力取り込み毎に抵抗値測定を行って、各熱電対毎の劣
化予測が可能となる。また、熱電対による現場での測定
を行って、実際の現場で特定の環境で測定した時間に対
する抵抗値変化の測定結果から学習し、劣化関数を修正
して更新しメモリに格納するようにする学習機能を処理
手段に設け、常に最適劣化予測ができる。
に所定の電流を断続的に供給する電流源と、前記熱電対
に前記電流源から電流を供給したときの電圧降下から熱
電対の抵抗値を測定し、この抵抗値の時間に対する変化
に基き所定の関係を用い劣化時点を予測して報知する処
理手段とを備えるようにした熱電対劣化予測装置であ
る。このため、常時、熱電対の抵抗値変化から、熱電対
の劣化の時点を検知、予測することができ、しかも、そ
のときの測定温度に対応した基準の抵抗値と比較してい
るので、熱電対がどのような温度で測定していたとして
も、十分に劣化の予測が可能となる。また、抵抗の他に
抵抗比と温度との関係を用いることで、熱電対の長さ、
太さ等の影響を受けることがない。また、実際の稼働時
に温度上昇させて、熱電対の熱起電力による温度と、そ
のときの抵抗値を求め、これの関係を用いて、劣化予測
をすれば、種々の補正演算は不要となる。また、熱電対
が複数チャンネルの場合、入力切換器で各チャンネルの
入力取り込み毎に抵抗値測定を行って、各熱電対毎の劣
化予測が可能となる。また、熱電対による現場での測定
を行って、実際の現場で特定の環境で測定した時間に対
する抵抗値変化の測定結果から学習し、劣化関数を修正
して更新しメモリに格納するようにする学習機能を処理
手段に設け、常に最適劣化予測ができる。
【図１】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
【図２】この発明の一実施例を示す動作説明図である。
【図３】この発明の一実施例を示す動作説明図である。
１ 熱電対 ２ 測定手段 ３ 処理手段 ４ メモリ ５ 電流源 ６ スイッチ手段
Claims (2)
- 【請求項１】熱電対に所定の電流を断続的に供給する電
流源と、前記熱電対に前記電流源から電流を供給したと
きの電圧降下から熱電対の抵抗値を測定し、この抵抗値
の時間に対する変化に基き所定の関係を用い劣化時点を
予測して報知する処理手段とを備えたことを特徴とする
熱電対劣化予測装置。 - 【請求項２】前記所定の関係は、熱電対による測定結果
から修正することを特徴とする請求項１記載の熱電対劣
化予測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9052297A JPH10232170A (ja) | 1997-02-20 | 1997-02-20 | 熱電対劣化予測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9052297A JPH10232170A (ja) | 1997-02-20 | 1997-02-20 | 熱電対劣化予測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10232170A true JPH10232170A (ja) | 1998-09-02 |
Family
ID=12910872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9052297A Pending JPH10232170A (ja) | 1997-02-20 | 1997-02-20 | 熱電対劣化予測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10232170A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6594603B1 (en) * | 1998-10-19 | 2003-07-15 | Rosemount Inc. | Resistive element diagnostics for process devices |
| US6754601B1 (en) * | 1996-11-07 | 2004-06-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for resistive elements of process devices |
| US6859755B2 (en) | 2001-05-14 | 2005-02-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for industrial process control and measurement systems |
| GB2507093A (en) * | 2012-10-18 | 2014-04-23 | Melexis Technologies Nv | Method and circuit for measuring the electrical resistance of a thermocouple |
| US8898036B2 (en) | 2007-08-06 | 2014-11-25 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with acceleration sensor |
| US9052240B2 (en) | 2012-06-29 | 2015-06-09 | Rosemount Inc. | Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics |
| US9207129B2 (en) | 2012-09-27 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with EMF detection and correction |
| US9207670B2 (en) | 2011-03-21 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Degrading sensor detection implemented within a transmitter |
| WO2016071032A1 (de) * | 2014-11-04 | 2016-05-12 | Endress+Hauser Wetzer Gmbh+Co. Kg | Messanordnung umfassend ein erstes und ein zweites paar von thermodrähten |
| EP3070446A1 (en) * | 2015-03-18 | 2016-09-21 | ENDRESS + HAUSER WETZER GmbH + Co. KG | A thermo wire testing circuit |
| US9602122B2 (en) | 2012-09-28 | 2017-03-21 | Rosemount Inc. | Process variable measurement noise diagnostic |
| CN111406220A (zh) * | 2017-12-01 | 2020-07-10 | 三菱电机株式会社 | 建立功率半导体装置中的电连接的劣化状态的诊断装置和方法 |
-
1997
- 1997-02-20 JP JP9052297A patent/JPH10232170A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6754601B1 (en) * | 1996-11-07 | 2004-06-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for resistive elements of process devices |
| US6594603B1 (en) * | 1998-10-19 | 2003-07-15 | Rosemount Inc. | Resistive element diagnostics for process devices |
| US6859755B2 (en) | 2001-05-14 | 2005-02-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for industrial process control and measurement systems |
| US8898036B2 (en) | 2007-08-06 | 2014-11-25 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with acceleration sensor |
| US9207670B2 (en) | 2011-03-21 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Degrading sensor detection implemented within a transmitter |
| US9052240B2 (en) | 2012-06-29 | 2015-06-09 | Rosemount Inc. | Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics |
| US9207129B2 (en) | 2012-09-27 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with EMF detection and correction |
| US9602122B2 (en) | 2012-09-28 | 2017-03-21 | Rosemount Inc. | Process variable measurement noise diagnostic |
| GB2507093A (en) * | 2012-10-18 | 2014-04-23 | Melexis Technologies Nv | Method and circuit for measuring the electrical resistance of a thermocouple |
| WO2016071032A1 (de) * | 2014-11-04 | 2016-05-12 | Endress+Hauser Wetzer Gmbh+Co. Kg | Messanordnung umfassend ein erstes und ein zweites paar von thermodrähten |
| US10393593B2 (en) | 2014-11-04 | 2019-08-27 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Measuring arrangement comprising first and second pairs of thermowires |
| EP3070446A1 (en) * | 2015-03-18 | 2016-09-21 | ENDRESS + HAUSER WETZER GmbH + Co. KG | A thermo wire testing circuit |
| CN111406220A (zh) * | 2017-12-01 | 2020-07-10 | 三菱电机株式会社 | 建立功率半导体装置中的电连接的劣化状态的诊断装置和方法 |
| CN111406220B (zh) * | 2017-12-01 | 2022-03-08 | 三菱电机株式会社 | 建立功率半导体装置中的电连接的劣化状态的诊断装置和方法 |
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