JP2005083977A - 塗膜インピーダンスの測定装置および測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】金属材料表面の塗膜および非金属材料表面の塗膜のインピーダンスを正確に測定することのできる塗膜インピーダンスの測定装置、および測定方法を提供する。
【解決手段】下地金属の表面を覆う塗膜を貫通して前記下地金属に導通する接触子と、前記塗膜上に設置されるプローブと、異なる複数の周波数を含む電圧を前記接触子と前記プローブの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜を通して前記接触子と前記プローブの間に流れる電流を測定する電流測定手段と、前記電流の測定値から前記複数の周波数のおのおのに対する前記塗膜のインピーダンスを算出するインピーダンス算出手段とを備えている構成とする。
【選択図】図1
【解決手段】下地金属の表面を覆う塗膜を貫通して前記下地金属に導通する接触子と、前記塗膜上に設置されるプローブと、異なる複数の周波数を含む電圧を前記接触子と前記プローブの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜を通して前記接触子と前記プローブの間に流れる電流を測定する電流測定手段と、前記電流の測定値から前記複数の周波数のおのおのに対する前記塗膜のインピーダンスを算出するインピーダンス算出手段とを備えている構成とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、金属材料あるいは非金属材料に塗布された塗膜のインピーダンスを測定する装置および方法に関する。
変圧器や配電盤など屋外に設置される機器は、防食および美観のために塗装がなされるが、その塗膜は紫外線や水分の影響を受けて経時的に劣化する。塗膜の劣化を放置すれば、最終的には下地金属の腐食による塗膜の剥離や錆の発生に至るので、機器の保全のためには適当な時期に再塗装して新たな塗膜を形成する必要がある。再塗装の時期は、早すぎれば経済的に無駄が生じ、逆に遅すぎれば下地金属の腐食に至り、その補修に多くの工数を要し経済的な負担が大きくなる。そこで、従来この種の機器では、塗膜の劣化度を定期的に診断し、適切な再塗装の時期を判断したり、経験的に再塗装時期を決め、定期的に再塗装を実施している。
この種の判断は、できるだけ客観的になされて誰が行っても常に適切な判断が下されることが望ましい。この点に配慮した従来の一般的な塗膜劣化診断方法としては次のようなものがある。すなわち、剥がれ、割れ、膨れ、錆等の各種の劣化状況についてその劣化度が段階的に異なる種々の見本写真を多数準備しておき、診断すべき実際の塗膜とこれらの見本写真とを作業者が対比観察する。そして、各種の劣化状況についての実際の塗膜の状態がいずれの段階の写真と一致するかを作業者が見極めると共に、各種の劣化状況・劣化度について予め定められている評点を付し、これらを順次加算する。そして、その合計点が基準値に達すれば、塗り替えあるいは補修塗装の時期に至ったと判断するのである。
また次のような方法も開発されている。これは塗膜の劣化度によってそのインピーダンスが変化することを利用するもので、例えば下記特許文献1,2,3に記載されている。この種の方法を使って実際に採用されている塗膜の診断手順の概略を述べれば次の通りである。すなわち、現場にインピーダンス測定器を搬入し、そのプローブを塗膜の表面に設置し、プローブと下地金属との間に特定周波数の電圧を印加し、この電圧と流れる電流から決定される塗膜のインピーダンスを計器から読みとり記録する。そして次に、この様にして記録された抵抗性あるいは容量性の測定インピーダンスの値を、予め作成されている表と照合し、これに基づき劣化度を判断するのである。なお、この場合インピーダンスの測定周波数は200Hz、500Hz、1kHz程度が一般的である。
特開昭62−102148号公報
特開平4−218757号公報
特開平5−18922号公報
しかしながら、実際の塗膜と見本写真とを対比観察する前者の方法では、見本写真と一致するか否かの判断自体が観察者の主観により左右され易いため、誰でも常に適切な診断ができるという保証がない。また、この方法では、多くの見本写真との対比観察や評点の合計作業が必要であるが、こノートきに、計算ミスが発生する可能性がある。インピーダンス測定器を使用する方法は、やはり計器の読みとり等に主観が入る余地があり、またその測定値を評価基準と照合する作業も煩雑である。
また、塗膜は紫外線や水分の影響を受けて、経時的に劣化する。実際の塗膜と見本写真とを対比観察する方法では、観察時点での劣化度を判断するだけであり、その後の劣化予測を行うことは困難である。一方、インピーダンス測定による方法は、塗膜劣化予測データベースが存在すれば、そのデータベースに基づき劣化予測を行うことが可能である
金属材料に塗布された塗膜をインピーダンス測定する際には、金属材料を測定プローブに接続する必要がある。従来では、金属材料と接続するため、金属材料上の塗膜を機械的に、例えばやすりによって強制的に除去していた。しかし、測定点数が多い場合には、除去作業に非常に時間を要するという問題がある。
金属材料に塗布された塗膜をインピーダンス測定する際には、金属材料を測定プローブに接続する必要がある。従来では、金属材料と接続するため、金属材料上の塗膜を機械的に、例えばやすりによって強制的に除去していた。しかし、測定点数が多い場合には、除去作業に非常に時間を要するという問題がある。
また、同一構造物の塗膜インピーダンス測定を行った場合に、塗布状態あるいは劣化状態のばらつきにより、測定結果がばらつく可能性がある。このようにして得られたデータから、構造物の塗膜劣化診断を行うには困難が伴う。
一方、非金属材料、例えばコンクリート等に塗布された塗膜においては、非金属材料自体が高い抵抗を有するので、このような塗膜のインピーダンスを測定することは困難であった。また、金属材料上に塗布された塗膜であっても、金属材料に電気的接続ができない場合は、測定ができなかった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、金属材料表面の塗膜および非金属材料表面の塗膜のインピーダンスを正確に測定することのできる塗膜インピーダンスの測定装置、および測定方法を提供することを目的とする。
請求項1の発明は、下地金属の表面を覆う塗膜を貫通して前記下地金属に導通する接触子と、前記塗膜上に設置されるプローブと、異なる複数の周波数を含む電圧を前記接触子と前記プローブの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜を通して前記接触子と前記プローブの間に流れる電流を測定する電流測定手段と、前記電流の測定値から前記複数の周波数のおのおのに対する前記塗膜のインピーダンスを算出するインピーダンス算出手段とを備えている構成とする。
請求項2の発明は、非金属材料の表面を覆う塗膜の表面に設置される複数のプローブと、前記プローブの所定の2つの間に異なる複数の周波数を含む電圧を印加する電圧印加手段と、前記2つのプローブの間に流れる電流を測定する電流測定手段と、前記電流の測定値から前記複数の周波数のおのおのに対する前記塗膜のインピーダンスを算出するインピーダンス算出手段とを備えている構成とする。
請求項3の発明は、請求項2に記載の塗膜インピーダンスの測定装置において、1個のプローブを中心として所定の半径を有する円周上に他の複数個のプローブを設置し、円周上のプローブを切り替えながら中心のプローブと円周上のプローブの間に電圧を印加する構成とする。
請求項4の発明は、請求項2に記載の塗膜インピーダンスの測定装置において、前記複数のプローブを格子状に配置し、プローブを切り替えながら異なる2つのプローブ間に電圧を印加する構成とする。
本発明の塗膜インピーダンスの測定装置あるいは測定方法によれば、金属材料表面の塗膜および非金属材料表面の塗膜のインピーダンスを正確に測定することができる。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図1に本発明の第1の実施例の塗膜インピーダンスの測定装置の構成を示す。
この実施例の塗膜インピーダンスの測定装置は、測定装置本体であるパーソナルコンピュータ1と、このパーソナルコンピュータ1に接続されたプリアンプ12と、このプリアンプ12にプローブ用リード線13によって接続されたプローブ10と、前記プリアンプ12にアース線14によって接続され下地金属接触治具20にネジ結合された接触子21を備えている。
この実施例の塗膜インピーダンスの測定装置は、測定装置本体であるパーソナルコンピュータ1と、このパーソナルコンピュータ1に接続されたプリアンプ12と、このプリアンプ12にプローブ用リード線13によって接続されたプローブ10と、前記プリアンプ12にアース線14によって接続され下地金属接触治具20にネジ結合された接触子21を備えている。
硬いステンレス鋼等で作製され尖った先端を有する接触子21が下地金属11の表面に塗布された塗膜9を貫通して下地金属11と接触する。下地金属接触治具20と接触子21にはねじ溝が施してあり、接触子21を回転することで、接触子21の先端が塗膜9を破壊、貫通して、下地金属11と電気的に接続する。
ノートブック型等のパ−ソナルコンピュータ1は、本体ケ−ス(図示せず)内に、CPU(中央演算装置)2、メモリ3、FDD(フレキシブルディスク装置)4、HDD(ハードディスク装置)5等を内蔵すると共に、表示装置として例えば液晶のディスプレイ6および入力装置としてキ−ボード7を備えて構成されている。そして、このパ−ソナルコンピュータ1の拡張スロットには、D/A(ディジタル/アナログ)変換機能およびA/D(アナログ/ディジタル)変換機能を備えたI/F(インターフェース)ボード8が設けられている。I/Fボード8は、パ−ソナルコンピュータ1の拡張スロットに内蔵せず、場合によってはパ−ソナルコンピュータ1の通信ポートRS−232CにI/Fボード8が接続するようにした構成でもよい。
このような構成によって、下地金属11の表面に形成された塗膜9上に、プローブ10を設置し、そのプローブ10と前記下地金属11との間に所定波形の交流電圧を印加し、その時に流れる電流から塗膜9のインピーダンスを測定する。プローブ10には、各種の構造のものが知られている(例えば特開昭61−108954号公報)。一例として、導電性ゲルをしみ込ませたスポンジ状電極を容器内に収納すると共に、その容器の開口部周辺に永久磁石を備えた構成で、永久磁石と下地金属11との間に作用する吸引力によってスポンジ状電極を塗膜9の表面に密着させるようにしたものが使用できる。
プローブ10から導出されたリード線13と、下地金属11に接続したリード線14はプリアンプ12に接続されており、このプリアンプ12は、プローブ10と下地金属11との間に電圧を印加したときに塗膜9を通じて流れる電流に応じた電圧信号をI/Fボード8に与えるようになっている。これにより、プリアンプ12が塗膜9を通じてプローブ10に流れる電流を測定する電流測定手段として機能する。なお、プリアンプ12は、塗膜9の劣化度に応じて測定レンジを切り替えるようになっており、本実施例では0.01μA〜10μA(インピーダンスにして0.1MΩ〜100MΩ)の範囲が測定可能である。
I/Fボード8は、プローブ10と下地金属11との間に所定波形の交流電圧を印加する電圧印加手段として機能し、予めFDD4あるいはHDD5内に記憶されたディジタル情報に基づき、I/Fボード8のD/A変換機能によって生成、合成された所定波形の電圧を出力する。この場合印加される電圧は0.01〜50Hzの周波数を含み、パワースペクトルPが例えばP=1/周波数となるように合成されている。また、各周波数成分の位相はランダム化してあってピーク電圧を極力抑えるようにされている。
また、I/Fボード8のD/A変換とA/D変換とのタイミングは、毎回同一となるように構成されており、これにより、印加される電圧の位相角とプリアンプ12の電流位相角は同一に保たれる。さらに、パ−ソナルコンピュータ1のメモリ3には、予め求められたI/Fボード8からの出力電圧波形のスペクトルデータが記憶されるようになっている。これにより、CPU2は、プリアンプ12にて測定された電流測定結果から、機械語によるFFT(高速フ−リェ変換)プログラム等を利用して、各周波数に対するインピーダンスを算出する。
このようにして測定された塗膜インピーダンスは、抵抗とコンデンサの並列回路からなる等価回路にて表すことができる。塗膜9が劣化することにより、等価回路の抵抗値が小さくなってインピーダンスが変化することを利用して、塗膜9の劣化度を診断する。
つぎに図2,図3を用いて本発明の第2の実施例を説明する。
この実施例の塗膜インピーダンスの測定装置は、図2に示すように、パーソナルコンピュータ1と、プリアンプ12と、このプリアンプ12にプローブ用リード線13,16によって接続されたプローブ10,15を備えている。パーソナルコンピュータ1の構成および動作は前記第1の実施例(図1)におけると同じである。
この実施例の塗膜インピーダンスの測定装置は、図2に示すように、パーソナルコンピュータ1と、プリアンプ12と、このプリアンプ12にプローブ用リード線13,16によって接続されたプローブ10,15を備えている。パーソナルコンピュータ1の構成および動作は前記第1の実施例(図1)におけると同じである。
このような構成によって、コンクリート等の非金属材料17の表面に施された塗膜9の表面に2個以上のプローブ10を設置して、別のプローブ15との間でインピーダンスを測定する。また、この場合、非金属材料17だけではなく、金属材料表面に施された塗膜に対しても塗膜インピーダンス測定が可能である。
図3に本実施例によるセラミック上に塗布された塗膜のインピーダンス測定の結果を示す。劣化塗膜では、塗膜が劣化により吸水しやすくなり、測定プローブ間のインピーダンスが低下することが示されている。
つぎに図4を用いて本発明の第3の実施例の塗膜インピーダンスの測定方法を説明する。すなわち、塗膜9の表面にプローブ10を設置し、プローブ10を中心として所定の半径Rを有する円周上に別のプローブ15を配置し、プローブ10とプローブ15の間のインピーダンスを測定する。プローブ15は、複数個配置しており、プローブ用リード線13との接続を手作業で切り替える。切替え機を各プローブ15とプローブ用リード線13の間に接続し、自動あるいは切替えスイッチで接続を切り替えながら測定するようにしてもよい。また、この場合にも非金属材料だけではなく、金属材料表面に施された塗膜に対しても塗膜インピーダンス測定が可能である。
この実施例の測定方法によれば、塗膜の広い範囲のインピーダンスを迅速に測定することができる。また多数のインピーダンス測定値を迅速に得ることができる。
この実施例の測定方法によれば、塗膜の広い範囲のインピーダンスを迅速に測定することができる。また多数のインピーダンス測定値を迅速に得ることができる。
つぎに図5を用いて本発明の第4の実施例の塗膜インピーダンスの測定方法を説明する。塗膜9の表面に格子状に複数のプローブを配置し、例えばプローブ10と別のプローブ15の間でインピーダンスを測定する。2個プローブは、プローブ用リード線13ともう一つのプローブ用リード線16の接続を自動あるいは切替えスイッチで接続を切り替えながら測定するようにしてもよい。この場合にも非金属材料だけではなく、金属材料表面に施された塗膜に対しても塗膜インピーダンス測定が可能である。
この実施例の測定方法によって多数の塗膜インピーダンス測定値を迅速に得ることができる。また多数のインピーダンス測定値を迅速に得ることができる。
この実施例の測定方法によって多数の塗膜インピーダンス測定値を迅速に得ることができる。また多数のインピーダンス測定値を迅速に得ることができる。
1…パ−ソナルコンピュータ、2…CPU、3…メモリ、4…FDD、5…HDD、6…液晶ディスプレイ、7…キ−ボード、8…I/Fボード、9…塗膜、10…プローブ、11…下地金属、12…プリアンプ、13,16…プローブ用リード線、14…アース線、15…プローブ、17…非金属材料、20…下地金属接触治具、21…接触子、22…半径R。
Claims (4)
- 下地金属の表面を覆う塗膜を貫通して前記下地金属に導通する接触子と、前記塗膜上に設置されるプローブと、異なる複数の周波数を含む電圧を前記接触子と前記プローブの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜を通して前記接触子と前記プローブの間に流れる電流を測定する電流測定手段と、前記電流の測定値から前記複数の周波数のおのおのに対する前記塗膜のインピーダンスを算出するインピーダンス算出手段とを備えていることを特徴とする塗膜インピーダンスの測定装置。
- 非金属材料の表面を覆う塗膜の表面に設置される複数のプローブと、前記プローブの所定の2つの間に異なる複数の周波数を含む電圧を印加する電圧印加手段と、前記2つのプローブの間に流れる電流を測定する電流測定手段と、前記電流の測定値から前記複数の周波数のおのおのに対する前記塗膜のインピーダンスを算出するインピーダンス算出手段とを備えていることを特徴とする塗膜インピーダンスの測定装置。
- 請求項2に記載の塗膜インピーダンスの測定装置において、1個のプローブを中心として所定の半径を有する円周上に他の複数個のプローブを設置し、円周上のプローブを切り替えながら中心のプローブと円周上のプローブの間に電圧を印加することを特徴とする塗膜インピーダンスの測定方法。
- 請求項2に記載の塗膜インピーダンスの測定装置において、前記複数のプローブを格子状に配置し、プローブを切り替えながら異なる2つのプローブ間に電圧を印加することを特徴とする塗膜インピーダンスの測定方法。
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CN103852644A (zh) * | 2014-03-12 | 2014-06-11 | 昆山龙腾光电有限公司 | 显示面板的贴附阻抗检测装置、检测系统及检测方法 |
JP2021502569A (ja) * | 2017-11-08 | 2021-01-28 | ディーアンドディー アイソルテクニクス エヌヴィーD&D Isoltechnics Nv | 結露及び/又は腐食の進行を測定するための改善されたデバイス及び方法 |
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2003
- 2003-09-10 JP JP2003318403A patent/JP2005083977A/ja active Pending
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