JP2001516974A - 量子コンピュータ - Google Patents
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Abstract
Description
ものである。量子演算理論における最近の進歩、特に高速な量子アルゴリズムの
発見により、このような装置の開発が重要となってきている。
れている。原子核スピンが量子コンピュータ構想に取り入れられている。という
のは、これらの存続期間は少なくとも6等級であり、スピンにおいて論理処理を
実行するのに必要な時間よりも大きいものであり得るからである。
子波作用を有するドナー原子核スピン電子システムの配列が形成され、前記ドナ
ー電子(前記ドナー原子に弱く拘束された電子)が非縮退の最低スピンエネルギ
ーレベルだけをもつ半導体基層と、 前記基層上の絶縁層と、 各ドナー原子上方で前記絶縁層上に設けられ、前記ドナー電子と前記ドナー
原子の原子核スピンとの間での微細相互作用の強度及び前記ドナー原子の前記原
子核スピンの共鳴周波数を制御する導電Aゲートと、 Aゲート間において前記絶縁層上に設けられ、隣接する前記ドナー原子の原
子核スピン間において電子を介する接続を断続する導電Jゲートと、を備え、 前記ドナー原子の前記原子核スピンは、前記A又はJゲートに対する電圧の
選択的適用及び前記基層に対する交番磁場の選択的適用によりバイナリ情報が格
納され処理される量子状態又は「キュービット」となっている、量子コンピュー
タである。
記ドナーにおける前記電子の拘束状態での二重スピン縮退を解消するのに十分な
強度の定常磁場源が必要となり得る。確実に前記電子が非縮退の最低スピンエネ
ルギーレベルだけに存在するようにするため、冷却及び定常磁場の組合わせが必
要となり得る。
せるのに十分な力の交番磁場源を備えてもよく、また前記交番磁場を前記基層に
対して選択的に適用する手段を設けてもよい。
に適用させる手段を有してもよい。
用している。そのため、電子スピンと原子核のスピンとの間での微細相互作用及
び、電子と2つの原子核の原子核スピンとの間での相互作用(即ち、電子を仲介
とした又は間接的な原子核スピン結合)が、半導体装置上のゲートに交番磁場中
でかけられた電圧により電子的に制御可能となっている。本発明はこれらの効果
をふまえて、半導体におけるドナー原子の原子核スピン力学を外部から操作して
、量子演算に利用するものである。
存続期間が演算時間を超えていなければならない。さもなくば、量子アルゴリズ
ムが拠所とするコンピュータ内の統一状態が破壊されてしまう。原子核スピンが
、半導体ホスト中で正電荷に滞電されたドナー上に位置するならば、電子が結合
される原子核スピン演算及び単一原子核スピンの検出に必要な条件を生じさせる
ことが出来る。こうして、電子波作用がドナー原子核に集中され(もともと原子
核に形成されているs電子軌道及びエネルギーバンドに対して)、大きな微細相
互作用エネルギーを発生させる。しかし浅いレベルのドナーに対しては、電子波
作用がドナー原子核から数10又は数100オングストロームまで届き、電子を
仲介とする原子核スピン結合を相当距離先で発生させることができる。
与えてはいけないということである。自由度をもつことにより、キュービットの
相互作用と「分散」が起こるかもしれないからである。キュービットが半導体中
のドナー上のスピンであるならば、該ホスト中の原子核スピンはドナーのスピン
が相互作用可能な大きな貯蔵手段となる。つまりホストは、スピンI=0の原子
核だけを備えるべきである。この要求により全てのIIIV半導体は、その構成要素
が安定したI=0同位体を含まないことによりホスト候補から除外される。IV
族の半導体はもともとI=0同位体を要素として含むが、I=0同位体だけを含
むように精製してもよい。シリコン物質技術の進歩及びシリコン微小構造につい
て現在取組まれている多くの努力により、半導体ホストとしてシリコンを選択す
るということは魅力的なことである。
i:31Pシステムは、最初の電子・原子核二重共鳴実験において40年前にフ
ィーア(Feher)により余すところ無く研究されている。温度T=1.5Kにお いて十分低い31P凝縮で、フィーアは、電子緩和時間は数千秒であり、31P
原子核緩和時間は10時間を超えることを観察した。ミリケルビンの温度では、
フォノンに制限された31P緩和時間は1018秒の大きさとなり、量子演算に
とって理想的なシステムとなり得る。
成されてもよい。ゲートが交差している絶縁層に形成された段は、ゲートの電場
を前記ドナー原子の近傍に配置するように作用し得る。
的には50ミリケルビン(mK)程度にしてもよい。量子演算処理は非放熱であ
るため、演算中も比較的容易に低温を維持可能である。放熱は、ゲートのバイア
ス付加や交番磁場により生じる過電流によって、また演算の開始及び終了時にお
ける原子核スピンの極性化や検出の最中に、コンピュータに対し外因的に発生す
るものである。これらの効果によりコンピュータの最低作動可能温度が決定され
る。
装置の有用性及び携帯性には制限が生じる。しかし、実験室内に離れて設置され
たコンピュータに、例えばインターネットを介して高レベルでアクセスすること
により、持ち出せないことから生じる不都合は解消される。また本装置を、個人
のパソコンに対するネットワークサーバとして利用することも実現可能である。
この場合、前記サーバにローカルの冷却システムを備え、前記パソコンは室温で
作動させるようにすることができる。
ならない。初期状態の設定及び量子コンピュータからの出力読取を行う電子装置
を備えても良い。この装置により原子核スピンの極性化及び計測を行う。例えば
、前記電子装置は、単一の原子核スピンの状態により、単一の電子又は電子電流
を変調してもよい。これら装置は、典型的には配列の端部に設けられる。
きな電子波作用を有するドナー原子核スピン電子システムが形成された半導体基
層と、 前記基層上の絶縁層と、 前記ドナー原子上方で前記絶縁層上に設けられ、前記ドナーにおける拘束電
子状態のエネルギーを制御する導電Aゲートと、 前記Aゲートのどちらか一方において前記絶縁層上に設けられ、前記ドナー
の近傍に電子を引き寄せる導電Eゲートと、を備え、 使用時に、前記ゲートがバイアスされることで、遷移が許可される場合に1
つ以上の電子が前記ドナーの状態と相互作用し得るようになっている。
スピンが第1の状態である場合に遷移を不許可とし、或いは前記ドナーの原子核
スピンが第2の状態である場合に遷移を許可し、かつ1つ以上の電子を前記ドナ
ー状態と相互作用させて前記原子核スピンを前記第1の状態に変更可能とし、 上記プロセスを全てのドナーが前記第1の状態となるまで続けるようにして
構成した、量子コンピュータの初期化方法である。
ンが第1の状態である場合に遷移を不許可とし、或いは前記ドナーの原子核スピ
ンが第2の状態である場合に遷移を許可し、かつ1つ以上の電子を前記ドナー状
態と相互作用させて前記原子核スピンを前記第1の状態に変更可能とし、 前記1つ以上の電子の動きを検出して前記各ドナーの状態を決定するように
して構成した、原子核スピンの計測方法である。
内に31Pドナー及び電子を有する1次元配列における2つのセルを示す。Aゲ
ートは原子核スピンキュービットの共鳴周波数を制御し、Jゲートは隣接する原
子核スピン間で電子を介した接続を制御する。前記ゲートが交差する出っ張りは
ドナー近傍のゲート電場に位置する。
数を低減させると共に、電子波作用をどのようにしてドナー原子からバリアに向
けて引き出すかを示している。ドナー原子核スピン電子システムは電圧制御振動
子として作用する。
アVを重複した電子波作用に比例して変化させることにより、交換結合をどのよ
うに促進又は低減させるのかを示している。V=0の際の交換周波数(=4J/
h)がシリコンについて示されている。
作用を示している。図4(a)では、相互作用が電子一重項エネルギーを各三重
項に対して低下させている。コンピュータは常にJ<μBB/2で作動している
ので、電子状態はスピン極性化されている。図4(b)では、原子核間の電子を
介した相互作用により、原子核レベルでの分断が判る。即ち、J=μBB/2で
|10−01>−|10+01>の分断が発生する(2次摂動理論による)。
なる、制御されたNOT処理を示す。
示す。図6(a)は、該構造の模式図である。正にバイアスされた場合に、Eゲ
ートがオーム接触(図示せず)から端部キュービットのドナー付近へと電子を引
き出す。図6(b)は、2DEGに弱く結合された31Pドナーを示す断面図で
ある。即ち、遷移が許可されると、電子がドナー位置を突き抜け可能である。図
6(c)は、ドナーの反対側における、フェルミ準位状態における電子スピン状
態が反対極性を有する、「スピン・ダイオード」の構造を示す。一方から他方へ
の共鳴トンネリングがドナー上で原子核スピンを発生させる。これにより原子核
スピンは電流で極性化される。図6(d)は、「単一電子スピン値」の構成を示
している。ここでは、電子がそのスピンを原子核に伝達できない場合には、電子
はドナーを突き抜けることができない。その結果、電子及び原子核スピンが同一
方向の場合にはスピン封鎖となる。ドナーを横切る電子は原子核スピンを2回発
生させるが、最初の原子核スピン極性化が保持される。
元配列1はシリコン基層4を構成しており、このシリコン基層4には31Pから
なる2つのドナー原子5、6が表面7の200オングストローム下方に導入され
ている。各セルには31Pからなる1つの原子があり、これら原子は少なくとも
200オングストローム離間されている。複数の導電Aゲート8が、前記シリコ
ン基層4上の絶縁層9であるSiO2上に設けられており、各Aゲートは各31 P原子の真上に配置されている。導電Jゲート10が、各セル2、3間において
前記絶縁層9上に設けられている。前記複数のゲートと交差する段11が、ドナ
ー原子5、6の近傍におけるゲート電場に配置されている。
核スピンキュービットの共鳴周波数を制御すると共に、Jゲート10が、隣接す
る原子核スピン間において電子を介する接続の制御を行う。
ピン縮退(two-fold spin degeneracy)を防止するために、B=2Tの定常磁場
がかけられる。これにより、電子は非縮退の最低スピンエネルギーレベルだけに
存在するという相乗効果を得る。この電子は、演算の最中にはゼロ・エントロピ
ー基準状態で維持されねばならない。
と、配列中のドナー間において必要とされる間隔とで決定される。I=1/2の
ドナー原子核に対してB0zで適用される、シリコンにおける原子スピン核電子
システムに対するハミルトニアンは次のようになる。
り、μnは原子核磁子であり、gnは原子核g因子(=1.13、31Pに対し
て)である。
下記数3の電子波作用についての確率密度をもったものである。
る。
包が原子核からシフトされ、微細相互作用が低減される。このようなシリコンに
おける低いドナーのシュタルクシフト(Stark shift)のサイズは、ゲートの2 00オングストローム下のドナーに関して図2のように示される。ドナー原子核
スピン電子システムは電圧制御振動子としてのAゲート機能に近接配置される。
即ち、原子核スピンにおける歳差運動周波数は外部的には制御可能であり、外部
からかけられた交番磁場、BAC=10−3T、によってスピンは選択的に共鳴
状態となり得る。これにより原子核スピンにおける任意の回転が可能となる。
御回転」処理が必要である。この処理により、前記制御キュービットが特定の方
向に向けられている場合にのみ、目的キュービットのスピンを定められた角度だ
け回転させ、制御キュービットの方向を変更しないでおく。このような2つのス
ピン処理を行うには、ドナーが互いに十分接近している際に電子スピン交換相互
作用により生じる2つのドナー電子スピンシステム間における関連付けが必要で
ある。2つの関連付けられたドナー原子核・電子システムにおけるハミルトニア
ンは次の数5である。
びA2は、原子核・電子システムにおける微細相互作用エネルギーである。交換
エネルギーである4Jは電子波作用の重なりに依存している。十分に離れたドナ
ーについて下記の数6が成り立つ。
図3に示されている。もともとはH原子についてのものである数6は、シリコン
においては、その谷のような形で縮退した異方性バンド構造によって複雑化して
いる。各谷間からの関連項の交換により干渉が起こり、J(r)は振動する挙動
を呈する。この例では、シリコンバンド構造により導入された問題は無視されて
いる。図3においてJ(r)を決定する際に、シリコンに対する横方向質量(=
0.2me)が使用されており、aB=30オングストロームである。下に示す
ように、原子核間における重要な結合が、4J=μBBの場合に生じる。そして
この状態が、100〜200オングストロームというドナー間で必要な間隔を決
定している。Jは電子波動作用重なりに対して比例するものであり、ドナー間に
配置されたJゲートにより加えられた静電気エネルギーによって様々な値をとり
得るものである。
ネルギーを三重項に対して低減させる。しかし磁場においては、図4(a)に示
すようにμBB>2Jである場合は、電子基準状態が極性をもつ。極性をもつ基
準状態において、原子核状態のエネルギーは摂動理論を用いるAにおいて二次的
に計算され得る。原子核一重項(|10−01>)は、下記数7のように、(1
0+01>)に対してエネルギーが低下される。
る状態だけ、高いか又は低い。このhVAは上記数4において与えられる。B=
2テスラ(Tesla)で4J/h=30GhzであるSi:31Pシステムについて
は、数7ではvj=75kHzとなる。この周波数は、コンピュータによりバイ
ナリ処理が可能なレートの上限に近い。単一スピン処理のスピードはBACのサ
イズにより決定され、BAC=10−3テスラの場合に75kHzと等しくなる
。
場合には、原子核スピン一重項及び三重項はもはや固有状態にはなく、|A1−
A2|>>hVjの場合、中央レベルの固有状態は|10>及び|01>に近づ
く。|A1−A2|>>hVjの場合とは、図5(a)に示すように2レベルシ
ステムの特徴である。
、2つの近接するスピン間で制御された回転処理に影響を与える。
熱処理を用いることにより実行可能である。この断熱処理では、図5(b)及び
(c)に示すようにゲートバイアスがゆっくりと除去される。t=t0の場合に
おいて2つのスピンシステムは、関連がなく(J=0)及びA1=A2であり、
|10>及び|01>が縮退される。t1において、異なる電圧がAゲートに適
用され(ΔAとする)、これにより前記縮退が解消される。この調和解消ステッ
プにより目的キュービットが制御キュービットから見分けられる。t2において
、スピンシステム間における交換結合が行われ、t3において、ΔAバイアスが
取り除かれる。この一連のステップは断熱的に|01>から|10−01>、|
10>から|10+01>へと進む。t4において、BACが付加され、|10
+01>−|11>のエネルギーギャップで共鳴する。摂動理論においては最も
低レベルで、BACも|00>−|10−01>のギャップで共鳴するか、一重
項状態がBACによって他の状態と結合されていないので、この第二の変化のマ
トリクス要素はゼロである。
持される。そして|10−01>及び|10+01>は、当該処理の始めに実行
された一連のステップを逆に行うことにより、断熱的に|10>及び|01>へ
と戻される。共鳴エネルギーが最初にΔA の動作により増加したキュービット
は変化しないと共に、他のキュービット|1>である場合にのみ、エネルギーが
減少された状態は逆転される。制御されたNOT処理は実行される。任意の制御
された回転は、BACの接続時間及び周波数を適切に設定することにより達成す
ることができる。
、交換処理(隣接するキュービットがお互いに交換されるだけのものであり、量
子コンピュータにおいてキュービットが移動可能となる唯一の方法である)は、
ΔA=0で期間がVj −1/2の間Jゲートをオンにすることにより行なえる。
またBACは継続してオンとなることができ、制御されたNOT処理の最中、結
合されたスピンのA1+A2=ΣAを変化させることにより、キュービットを共
鳴する。この方法によりユナリ(unary)及びバイナリ処理が、コンピュータの キュービット上で同時に実行可能となる。各キュービットにおける処理の性質は
、各Aゲート及びJゲートのバイアスにより完全に決定される。
トのバイアス付加によりキュービットに対する通常の制御及びこれらキュービッ
トにおける通信が可能となる。しかし、ゲートのバイアスが所定の値から外れて
変動すると、このゲートの存在はスピンの不調和につながる。不調和の最大原因
はAゲート上の電圧変動で生じるようである。t=0における2つのスピンの歳
差周波数は、各Aゲート上の電位に依存する。電位の変動により歳差周波数の相
違が生じる。その後のある時間t=tφにおいて、前記スピンは位相が180度
ずれる。tφは、2つのスピンシステムの|10+01>(位相にずれのないス
ピン)と|10−01>(位相が180度ずれたスピン)との間における変化率
を決定することにより求めることができる。これら状態を関連付けるハミルトニ
アンは下記数8の通りである。
ある。変動するハミルトニアンについての標準的な扱いによると次の数9が予想
される。
01>及び|10+01>の状態間の周波数の差である。特定のバイアス電圧で
、Aゲートは、周波数調整パラメータα=dΔ/dVを有している。これにより
下記数10が得られる。
ある。
、50Ωの抵抗の室温ジョンソン・ノイズ(Johnson noise)に匹敵し、図2か らαは10〜100MHz/ボルトであり、tφ=10〜1000秒となる。α
は、ドナー配列セルのサイズにより決定され、セル間の相互作用を減らすこと無
しには容易に低減(tφの増加)され得ない。αはゲートバイアスの関数(図2
参照)であり、Aゲートに適用される電圧を最小限にすることにより増加され得
る。
やすい要素(1/fノイズ)がスピンの位相ずれを起こす主要な原因となる。そ
の結果、コンピュータにおいてtφを確定させるのは困難である。低い周波数の
変動についての特定の原因は、上述したように半導体ホストの原子核スピンから
生じる。このスピン位相ずれの原因は、半導体及びバリア層にI=0同位体を使
用することによってのみ排除可能である。コンピュータ内における電荷変動(例
えば、通風口や表面状態の変動から生じる)は特に重要であり、これらを最小限
にするにはコンピュータ構成に多大な要求が必要となる。
演算手段の非放熱性は、原則として変動が極めて小さく保たれることを意味して
いる。即ち、低温電子機器でゲートにバイアスを付加することにより、tφ=1
06秒とすることができる。こうして電子制御された原子核スピン量子コンピュ
ータは、tφの間に少なくとも105から多分1010までの論理処理を実行す
ることが理論的に可能であり、これは多数のキュービット上で複雑な計算を実行
する上での重要な条件である。
全ての可逆処理が実行される。なおキュービットは適切に初期化され計測されね
ばならない。
列の端部にあるキュービットが2次元の電子ガス(2DEG's)に弱く結合されてい
る。この電子ガスはEゲート(エンハンスモードにおける電界効果トランジスタ
)上の陽性ポテンシャルによりバリア・シリコン境界部分に封入されている。図
6を参照。原子核スピンキュービットは、ドナーにおける拘束状態を突き抜ける
電子により検知される。Bが0でない場合、電子エネルギーレベルは離散してお
り、電子スピンレベルは2μBBにより分離されている。ランダウ準位がファク
ターであるV<1を満たしている場合、低温において電子スピンは完全に極性を
もつ。しかしながらV>1の場合は、V<1の場合に比べて、電子がより高いエ
ネルギーのスピンレベルをもたねばならず、フェルミ準位(EF)での状態が反
対方向の極性をもつ。(簡単のため、シリコン中の電子の谷間での縮退を無視す
る。また、電子スピン極性化を低減させることのできる多くのボディ・「スキル
ミオン」効果(body skyrmion effect)はシリコンにおいて小さいので無視する
。)
である。こう呼ばれる所以は、これら装置において分離する電子スピンと、半導
体p−n結合ダイオードにおけるバンドギャップとの間の類似性による。これは
図6(c)を参照。スピン・ダイオードは、2つのEゲートを異なる電圧でバイ
アスして各2DEGにおいて異なる密度を生成することにより形成される。電子
及び原子核のスピン起動エネルギー間における大きなエネルギー差はスピン伝送
を妨げることになる。しかし、スピン・ダイオード結合における電場が、同一エ
ネルギーをもつ電子の|↑>及び|↓>の状態を重なり可能にし、共鳴電子・原
子核スピン交換を可能とする。従って、この結合における原子核は、結合を介す
る電流により直ちに極性を与えられることが可能である。このような方法でドナ
ー配列の端部に形成された|0>キュービット状態は、交換処理により配列を通
して伝送され得る。初期処理を完了するためのユナリNOT処理を選択的に行う
ことにより|0>は|1>に変換可能である。
動は、ドナーの配置やゲートのサイズをどのようにしても結果的には不可避であ
る。しかし、各セルのパラメータは、コンピュータの計測能力を利用することに
より各々決定可能である。というのは、ここで説明する計測技術では、J及びA
結合についての正確な知識を要しないからである。下方にある原子核スピンが適
用されたBacと共鳴している、Aゲート電圧は、断熱高速転送(adiabatic fa
st passage)の技術を利用することにより決定可能である。即ち、Bac=0の
場合、原子核スピンが計測され、Aゲートが共鳴しない所定の電圧にバイアスさ
れる。そしてBacはオンされ、Aゲートバイアスが規定の電圧の差によって除
去される。そしてBacはオフされ、原子核スピンは再び計測される。このスピ
ンは、前記規定のAゲートの電圧領域内で共鳴が生じた場合にのみ回転している 。ますます小さい電圧領域におけるスピン回転のテストにより共鳴電圧の決定に
なる。隣接したAゲートが補正されていると、Jゲートが、2つの結合されたセ
ルの共鳴を横切るJゲートバイアスを除去することにより同じ方法で補正可能で
ある。
であり、量子コンピュータに隣接しシリコンチップ上に配置されたコンデンサに
補正電圧が蓄電可能である。これによりコンピュータを初期化する。コンピュー
タを大きなサイズにする際にも補正は重要な障害とはならない。また、外部制御
回路は、ゲートバイアスのタイミング制御だけを必要とし、その大きさは必要な
い。
実行可能である。電子は、原子核とスピンを交換(例えば|1>を|0>に変換
)することによりスピン・ダイオード結合を通過することしかできないので、原
子核スピンが|0>の場合、「スピン封鎖」生じる。原子核状態が|1>の場合
は、単一の電子が結合を横断することができ、同時に原子核を|1>から|0>
に起動する。
は非常に敏感な単一電子検知回路が必要である。コンダクタンス変調技術(cond
uctance modulation technique)により原子核スピンを検知することが好ましい
。多数の電子が極性を失わずに原子核スピンと相互作用が可能であれば、このス
ピンより、多くの異なる効果的な計測が可能となる。
がある。Eゲートがバイアスされ、その結果、|↓>の電子のみが出力セルの両
側に存在する。出力セルのAゲートがバイアスされ、その結果、EFがドナーに
おける2つの電子拘束状態(D−状態)のエネルギーに配置される。B=2テス
ラでのSi:31Pにおいてこの状態は一重項である。また、第2の電子拘束エ
ネルギーは1.7meVであり、これは分離するスピンレベルより7倍大きい。
単一の電子スピン値において、原子核及び電子のスピンが反対極性を帯びている
場合にのみ、相互電子・原子核スピン回転により電子はD−位置の内外を突き抜
けることができる。ドナーを通る電流には2つの継続スピン回転が必要である。
というのは、電子がD−位置の内外を突き抜け、その結果、ドナーを横切る電流
が原子核スピン極性を保存するからである。単一電子スピン値を横切る電流は、
ドナー上の原子核スピンの方向に応じてオン・オフされる。
i:31P又はI=10pAにおいて60MHzに匹敵するかもしれない。実際
の装置では、原子核スピンを起動することなしにチャンネル間を突き抜ける電子
のバックグラウンド電流がどうしても存在する。双極スピン相互作用(通常は接
触微細相互作用よりずっと弱い)は、電気スピンを起こすこと無しに単一の原子
核スピンを起動することができ、極性を失う前に原子核スピンを検知する電子の
数を制限する。最適化された装置では、バックグラウンドに対する原子核を検知
できる電子数の割合を最大にする。プロトタイプの単一電子スピン値装置では、
非ゼロ原子核スピンを有するドナー状態を検知する単一電子静電容量プローブを
使用することによりテスト可能である。
に位相ずれ変動が生じないように、略完全にスピンをもたず(I=/0同位体)
不純物が混入していないものでなければならない。ドナーは、表面の数100オ
ングストロームで、前記物質に配列をなす形で導入されなければならない。最後
に、横の寸法及び間隔が100オングストローム未満のゲートが、下方のドナー
と対応するように、表面にパターン配置されねばならない。これらの方法は、半
導体拡張及び微小構築における高速移動分野での最近の活発な研究における焦点
となっている。この研究は、原子核スピン量子コンピュータをシリコンで構築す
るという課題に直接関係するものである。
体的及び部分的に量子ホール効果が観察できるかどうかということである。特に
、上述したスピン検出技術では、電子が完全に極性をもってスピンされ得ること
が必要である。これはスピンのギャップに完全に対応して、ホール効果の量子化
に通じる条件である。この状態は高移動性のGaAs/AlxGa1−xAsヘ
テロ構造において好適に満足されている。ここでは電子を検知する原子核スピン
が証明されている。しかし、これらの材料中にI=0同位体が無いと、これらか
ら量子コンピュータを構築することは非常に難しいことになる。最近のSi/S
ixGe1−xヘテロ構造における進歩により、IV族の元素だけからなり、G
aAsヘテロ構造に匹敵する品質をもった物質が開発されている。部分的な量子
ホール効果がこれらの物質中で観察され、スピン分離が好適に解決されている。
また、高品質のSi/SixGe1−xヘテロ構造において微小構造が構築され
ている。
シャルの接触面より劣っているが、スピン分離は低温にて良好に解決されている
。SiO2におけるSi/SixGe1−x(3.3VVS〜0.2V)を超え
た更に大きなバリア高が、100オングストローム以下のサイズの微小構造にと
って重要な利点となっている。バリア物質を横切る電子のリークはドナー状態か
らの電子の放出となるものであり、上述していないがこのリークが量子コンピュ
ータの不調和の原因である。つまり、演算の最中、電子がバリアを横切って突き
抜けてはいけない。また、大きなバリア高をもつ装置では、Jゲートが広い動的
レンジに亘って相互作用を変化させることができる能力が向上する。電子機器に
対して開発されている技術により、高い接触面品質のSi/SixGe1−x及
びSiO2の大きなトンネルバリアの両方をもつ構造が得られるかもしれない。
電荷変動及び乱れのため、もし量子コンピュータをSiO2で構築するのであれ
ば、SiO2のかさ高な状態及び接触面の状態は低減或いは排除される必要があ
るようである。
ー列をバリア層下方のシリコン層に導入することである。最近は半導体のヘテロ
構造が複数層に構築されている。δドーピング技術により、物質中で平らに配設
されたドナーが生成され、これらドナーは平面において任意に分割される。想定
される量子コンピュータでは、ドナーが整列された1D又は2D列に配置される
ことが必要である。更に、正確に1つのドナーが各配列セルに配置されねばなら
ない。しかし、リトグラフやイオン注入を用いることや、或いは焦点蒸着(focu
sed deposition)により配列を生成することは非常に困難である。超高真空スキ
ャニング・トンネリング顕微鏡(ultra high vacuum scannig tunnelling micro
scopy)を使用することにより単一原子を表面に配置する方法が最近開発されて おり、この方法はドナー列を配置するのに使用できそうである。この方法ではG
a原子をシリコン表面に配置するのに採用されている。ドナーの配置に続いて、
高品質の表面シリコン層も開発されるであろう。
0オングストローム未満でなければならない。このため、ゲートのサイズは10
0オングストローム未満でなければならない。更に、ゲートは確実に下方のドナ
ーと合致していなければならない。スキャン検出リトグラフ技術(Scanned prob
e lithography technique)では、表層にゲートのパターンを露光する前に該表 層下のドナーの位置を検知することができる。例えば、スキャニング近視野光学
顕微鏡(scanning near field optical microscope)により、フォトレジストを
露光させない波長レンジにおいてPドナーのフォトルミネセンス特性を検出する
ことができる。Pの検出及びプローブを適切に配置した後、異なる光波長でレジ
ストが露光される。ゲートの「カスタム・パターニング(Custom patterning) 」は、ドナー配列の配置における不揃いや欠陥を補うために必要であるかもしれ
ない。
めの技術的課題の多くが、既存電子機器の次世代開発における課題と略同じであ
るということである。つまり、問題を解決するための多くの努力がすでに行われ
ているのである。この共有性により、キュービットセルの大きな2D配列を形成
する困難な作業が、いつかは既存のシリコン電子技術を用いて達成されるという
期待が高まっている。ここで説明されたコンピュータを製作する上での特別な問
題は、キュービットセル間の原子レベルでの不可避な相違により、量子演算中に
ゲートに適用される適切なバイアスが各セルで異なるようになるということであ
る。つまり、多数のキュービットでコンピュータを製作するには、カスタム・ゲ
ートバイアス付加を可能とする同様に多数の外部電子回路への接続が必要である
。一度に数個のキュービットだけを用いて論理処理を行うことにより、そして量
子コンピュータの近くに設置された従来のFET多重回路を用いて各ゲートを個
別にアドレス指定することにより、現段階でも非凡な量子計算(例えば、量子コ
ンピュータが素因数分解において従来のコンピュータの能力を超えるには103 〜104のキュービットが必要である)を実行すれることは可能である。この方
法により、多くの量子論理処理を並行して行うことのできる上述の能力をもつコ
ンピュータの設計及び操作が大幅に簡単になる。
ション及び/又は変更が、実施例で示された本発明になされ得ることが当業者に
より解釈される。従って本実施例は、全ての観点で例示的なものであり、限定的
ではないと見なされるべきである。
り、μnは原子核磁子であり、gnは原子核g因子(=1.13、31Pに対し
て)である。
3の電子波作用についての確率密度をもったものである。
る。
図3に示されている。もともとはH原子についてのものである数6は、シリコン
においては、その低下異方性バンド構造によって結合される。各谷間からの関連
項の交換により干渉が起こり、J(r)の振動子として作用するようになる。こ
の例では、シリコンバンド構造により導入された結合が無視されている。図3に
おいてJ(r)を決定する際に、シリコンに対する横方向質量(=0.2me)
が使用されており、aB=30オングストロームである。下に示すように、原子
核間における重要な結合が、4J=μBBの場合に生じる。そしてこの状態が、
100〜200オングストロームというドナー間で必要な間隔を決定している。
Jは電子波動作用重なりに対する比率であり、ドナー間に配置されたJゲートに
より加えられた静電気エネルギーによって様々な値をとり得るものである。
作用を有するドナー原子核スピン電子システムの配列が形成され、前記ドナーの
電子が非縮退の最低スピンエネルギーレベルだけをもつ半導体基層と、前記基層
上の絶縁層と、各ドナー原子上方で前記絶縁層上に設けられ、提供された電子と
前記ドナー原子の原子核スピンとの間での極細通信の強度及び前記ドナー原子の
前記原子核スピンの共振周波数を制御する導電Aゲートと、Aゲート間において 前記絶縁層上に設けられ、隣接する前記ドナー原子の原子核スピン間において電
子を介する接続を有効・無効に切り替える導電Jゲートと、を備え、前記ドナー
原子の前記原子核スピンは、前記Aゲートに対する電圧の選択的適用及び前記基
層に対する交番磁場の選択的適用により量子コンピュータ情報が格納され処理さ
れる量子状態又は「キュービット」となっている、量子コンピュータ。
Claims (23)
- 【請求項1】 ドナー原子を導入して、該ドナー原子の原子核において大きな電子波作用を
有するドナー原子核スピン電子システムの配列が形成され、前記ドナー電子が非
縮退の最低スピンエネルギーレベルだけをもつ半導体基層と、 前記基層上の絶縁層と、 各ドナー原子上方で前記絶縁層上に設けられ、前記ドナー電子と前記ドナー
原子の原子核スピンとの間での微細相互作用の強度及び前記ドナー原子の前記原
子核スピンの共鳴周波数を制御する導電Aゲートと、 Aゲート間において前記絶縁層上に設けられ、隣接する前記ドナー原子の原
子核スピン間において電子を介する接続を断続する導電Jゲートと、を備え、 前記ドナー原子の前記原子核スピンは、前記A及びJゲートに対する電圧の
選択的適用及び前記基層に対する交番磁場の選択的適用によりバイナリ情報が格
納され処理される量子状態又は「キュービット」となっている、量子コンピュー
タ。 - 【請求項2】 前記原子核スピンは、半導体ホスト中で正電荷を滞電したドナー上に位置し
ている、請求項1記載の量子コンピュータ。 - 【請求項3】 前記ホストは、I=0のスピンをもつ原子核のみを含んでいる、請求項2記
載の量子コンピュータ。 - 【請求項4】 前記ホストは、I=0同位体からなるか又はI=0同位体だけを含むように
精製されたIV族の半導体のみを含んでいる、請求項3記載の量子コンピュータ
。 - 【請求項5】 前記半導体ホストはシリコンである、請求項4記載の量子コンピュータ。
- 【請求項6】 前記ホストとドナーとのシステムはSi:31Pである、請求項5記載の量
子コンピュータ。 - 【請求項7】 前記A及びJゲートは、前記絶縁層の表面にパターン配置された金属片で形
成されている、請求項1乃至6のいずれか1項に記載の量子コンピュータ。 - 【請求項8】 前記絶縁層に段を、前記ゲートと該段を交差させることにより前記ゲートの
電場を前記ドナー原子の近傍に配置する形で形成した、請求項7記載の量子コン
ピュータ。 - 【請求項9】 前記Aゲート及びJゲートに対して電圧を選択的に適用させる手段を有する
、請求項1乃至8のいずれか1項に記載の量子コンピュータ。 - 【請求項10】 前記基層を冷却保持する冷却手段を有する、請求項1乃至9のいずれか1項
に記載の量子コンピュータ。 - 【請求項11】 作動中に前記装置の温度が100ミリケルビン(mK)以下となる、請求項
10記載の量子コンピュータ。 - 【請求項12】 作動中に前記装置の温度が約50ミリケルビン(mK)となる、請求項11
記載の量子コンピュータ。 - 【請求項13】 前記ドナーにおける前記電子の拘束状態での二重スピン縮退を解消するのに
十分な強度の定常磁場源を有する、請求項1乃至12のいずれか1項に記載の量
子コンピュータ。 - 【請求項14】 前記定常磁場の大きさは2テスラ(Tesla)のレベルである、請求項13記 載の量子コンピュータ。
- 【請求項15】 前記定常磁場は超伝導体より発生する、請求項14記載の量子コンピュータ
。 - 【請求項16】 冷却及び定常磁場の前記組合わせにより、確実に前記電子が非縮退の最低ス
ピンエネルギーレベルだけをもつようにさせる、請求項11、12及び、請求項
10、11、12のいずれかに従属する場合の請求項13のうちいずれか1項に
記載の量子コンピュータ。 - 【請求項17】 前記装置は、前記ドナー原子の原子核スピンを磁場との共鳴により発生させ
るのに十分な力の交番磁場源と、前記交番磁場を前記基層に対して選択的に適用
する手段と、を備えている、請求項1乃至16のいずれか1項に記載の量子コン
ピュータ。 - 【請求項18】 原子核スピンの極性化及び計測を行うことにより、初期状態の設定及び前記
量子コンピュータからの出力読取のうちいずれか又は両方を行う電子装置を有す
る、請求項1乃至17のいずれか1項に記載の量子コンピュータ。 - 【請求項19】 前記電子装置が作動することにより単一の原子核スピンが電子電流を変調す
る、請求項18記載の量子コンピュータ。 - 【請求項20】 前記電子装置は前記配列の端部に設けられている、請求項18又は19記載
の量子コンピュータ。 - 【請求項21】 前記電子装置は、 少なくとも1つのドナー原子を導入して、該ドナー原子の原子核において大
きな電子波作用を有するドナー原子核スピン電子システムが形成された半導体基
層と、 前記基層上の絶縁層と、 前記ドナー原子上方で前記絶縁層上に設けられ、ドナー電子と前記ドナー原
子の原子核スピンとの間での微細相互作用の強度及び前記ドナー原子の前記原子
核スピンの共鳴周波数を制御すると共に、前記ドナーにおける拘束電子状態の化
学ポテンシャルを制御する導電Aゲートと、 前記Aゲートのいずれかの側において前記絶縁層上に設けられ、前記ドナー
の近傍に電子を引き寄せる導電Eゲートと、を備え、 使用時に、前記ゲートがバイアスされることで、伝送が許可される場合に電
子が前記ドナーの状態を突き抜けることができるようになっている、請求項18
、19、20のいずれか1項に記載の量子コンピュータ。 - 【請求項22】 請求項1乃至21のいずれか1項に記載の量子コンピュータを初期化する方
法において、 前記ゲートをバイアスすることにより、前記ドナーの原子核スピンが第1の
状態である場合に遷移を不許可とし、或いは前記ドナーの原子核スピンが第2の
状態である場合に遷移を許可し、かつ1つ以上の電子を前記ドナー状態に相互作
用させて前記原子核スピンを前記第1の状態に変更可能とし、 上記プロセスを全てのドナーが前記第1の状態となるまで続けるようにして
構成した、量子コンピュータの初期化方法。 - 【請求項23】 請求項1乃至21のいずれか1項に記載の量子コンピュータでの原子核スピ
ンの計測方法において、 前記ゲートをバイアスすることにより、前記ドナーの原子核スピンが第1の
状態である場合に遷移を不許可とし、或いは前記ドナーの原子核スピンが第2の
状態である場合に遷移を許可し、かつ1つ以上の電子を前記ドナー状態に相互作
用させて前記原子核スピンを前記第1の状態に変更可能とし、 前記1つ以上の電子の動きを検出して前記各ドナーの状態を決定するように
して構成した、原子核スピンの計測方法。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060080134A (ko) * | 2006-02-28 | 2006-07-07 | 안도열 | 실리콘 전자구조의 계곡축퇴를 이용한 양자비트 구현방법 |
JP2006261610A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Hokkaido Univ | 核スピンメモリセルおよび情報処理回路 |
WO2015118579A1 (ja) * | 2014-02-10 | 2015-08-13 | 独立行政法人理化学研究所 | スキルミオンの駆動方法 |
Families Citing this family (77)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000137007A (ja) * | 1998-08-26 | 2000-05-16 | Canon Inc | 状態構成方法及びその装置、並びにこれを用いた通信方法及びその装置 |
US6988058B1 (en) * | 1998-12-16 | 2006-01-17 | The Regents Of The University Of California | Quantum computation with quantum dots and terahertz cavity quantum electrodynamics |
AU5291099A (en) * | 1999-07-30 | 2001-02-19 | Eugene M. Chudnovsky | Quantic computer based on magnetic qubits |
DE69933556T2 (de) * | 1999-08-19 | 2007-08-30 | Hitachi Europe Ltd., Maidenhead | Photodetektor |
JP3427179B2 (ja) * | 2000-02-16 | 2003-07-14 | 東北大学長 | 核スピン制御素子及びその制御方法 |
JP2003532648A (ja) * | 2000-05-02 | 2003-11-05 | ハーン−マイトネル−インスチツート ベルリン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 構造形成した分子配列及び量子力学的情報処理のためのその使用 |
AUPQ975900A0 (en) * | 2000-08-30 | 2000-09-21 | Unisearch Limited | A process for the fabrication of a quantum computer |
EP1423975A1 (en) * | 2001-07-11 | 2004-06-02 | Daniel Kilbank | System and method for compressing data |
EP1286303A1 (en) * | 2001-08-13 | 2003-02-26 | Hitachi Europe Limited | Quantum computer |
AUPR728901A0 (en) * | 2001-08-27 | 2001-09-20 | Unisearch Limited | Method and system for introducing an ion into a substrate |
WO2003018465A1 (en) * | 2001-08-27 | 2003-03-06 | Unisearch Limited | Substituted donor atoms in silicon crystal for quantum computer |
JP4088927B2 (ja) | 2001-12-06 | 2008-05-21 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 固体中核スピン量子演算素子 |
US20090182542A9 (en) * | 2001-12-22 | 2009-07-16 | Hilton Jeremy P | Hybrid classical-quantum computer architecture for molecular modeling |
GB0205011D0 (en) * | 2002-03-04 | 2002-04-17 | Univ London | A gate for information processing |
KR100997699B1 (ko) * | 2002-03-05 | 2010-12-02 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 트랜지스터 |
WO2003091842A2 (en) * | 2002-04-23 | 2003-11-06 | Daniel Kilbank | System and method for using microlets in communications |
US7018852B2 (en) | 2002-08-01 | 2006-03-28 | D-Wave Systems, Inc. | Methods for single qubit gate teleportation |
AU2003259762A1 (en) * | 2002-08-10 | 2004-02-25 | Routt, Thomas J | Methods for transmitting data across quantum interfaces and quantum gates using same |
AU2002950888A0 (en) * | 2002-08-20 | 2002-09-12 | Unisearch Limited | Quantum device |
AU2003250608B2 (en) * | 2002-08-20 | 2009-05-14 | Newsouth Innovations Pty Limited | Solid state charge qubit device |
IL152565A0 (en) * | 2002-10-31 | 2003-05-29 | Erez Yahalomi | Size regulating systems |
US7364923B2 (en) | 2003-03-03 | 2008-04-29 | The Governing Council Of The University Of Toronto | Dressed qubits |
US7408486B2 (en) * | 2003-04-21 | 2008-08-05 | Qbit Corporation | System and method for using a microlet-based modem |
EP1665141A4 (en) | 2003-09-05 | 2010-01-27 | Dwave Sys Inc | QUANTIC QUANTIC BITS WITH PHASE CHARGE |
US7219017B2 (en) * | 2003-09-11 | 2007-05-15 | Franco Vitaliano | Quantum information processing elements and quantum information processing platforms using such elements |
US7219018B2 (en) * | 2003-09-11 | 2007-05-15 | Franco Vitaliano | Quantum information processing elements and quantum information processing platforms using such elements |
US7216038B2 (en) * | 2003-09-11 | 2007-05-08 | Franco Vitaliano | Quantum information processing elements and quantum information processing platforms using such elements |
US7321884B2 (en) * | 2004-02-23 | 2008-01-22 | International Business Machines Corporation | Method and structure to isolate a qubit from the environment |
US7135697B2 (en) * | 2004-02-25 | 2006-11-14 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Spin readout and initialization in semiconductor quantum dots |
US20070239366A1 (en) * | 2004-06-05 | 2007-10-11 | Hilton Jeremy P | Hybrid classical-quantum computer architecture for molecular modeling |
CA2570354C (en) * | 2004-06-15 | 2014-05-20 | National Research Council Of Canada | Voltage-controlled computing element for quantum computer |
US20060007025A1 (en) * | 2004-07-08 | 2006-01-12 | Manish Sharma | Device and method for encoding data, and a device and method for decoding data |
US7875876B1 (en) | 2006-06-15 | 2011-01-25 | Hrl Laboratories, Llc | Scalable quantum computer |
CN102530856B (zh) * | 2006-12-20 | 2016-12-14 | 复旦大学附属中山医院 | 氧化还原纳米药物量子点构成室温超导量子比特网络的方法 |
US7985965B2 (en) * | 2007-03-29 | 2011-07-26 | Raytheon Company | Quantum computing device and method including qubit arrays of entangled states using negative refractive index lenses |
US7790051B1 (en) | 2007-10-31 | 2010-09-07 | Sandia Corporation | Isolating and moving single atoms using silicon nanocrystals |
EP2248157B1 (en) * | 2008-02-11 | 2019-09-04 | Qucor Pty Ltd | Control and readout of electron or hole spin |
CA3077980C (en) * | 2008-09-03 | 2023-06-13 | D-Wave Systems Inc. | Systems, methods and apparatus for active compensation of quantum processor elements |
US11235062B2 (en) * | 2009-03-06 | 2022-02-01 | Metaqor Llc | Dynamic bio-nanoparticle elements |
US11096901B2 (en) | 2009-03-06 | 2021-08-24 | Metaqor Llc | Dynamic bio-nanoparticle platforms |
US8612499B1 (en) * | 2010-11-01 | 2013-12-17 | Robert R. Tucci | Method for evaluating quantum operator averages |
US8816325B2 (en) * | 2011-10-07 | 2014-08-26 | The Regents Of The University Of California | Scalable quantum computer architecture with coupled donor-quantum dot qubits |
CN102779288B (zh) * | 2012-06-26 | 2015-09-30 | 中国矿业大学 | 一种基于场理论的本体分析方法 |
CN103512653B (zh) * | 2012-06-29 | 2016-12-21 | 新昌县冠阳技术开发有限公司 | 一种可测量反射光的光自旋霍尔效应的装置 |
EP2883194B1 (en) * | 2012-08-13 | 2020-08-05 | NewSouth Innovations Pty Limited | Quantum logic |
US9691033B2 (en) * | 2013-03-20 | 2017-06-27 | Newsouth Innovations Pty Limited | Quantum computing with acceptor-based qubits |
EP3117374A4 (en) * | 2014-03-12 | 2017-03-29 | Temporal Defense Systems, LLC | Solving digital logic constraint problems via adiabatic quantum computation |
EP2927963B1 (en) * | 2014-04-02 | 2021-05-26 | Hitachi, Ltd. | Single-charge tunnelling device |
AU2015252051B2 (en) * | 2014-11-03 | 2020-10-15 | Newsouth Innovations Pty Limited | A quantum processor |
US11113084B2 (en) | 2015-04-10 | 2021-09-07 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Method and system for approximate quantum circuit synthesis using quaternion algebra |
US10740689B2 (en) | 2015-04-10 | 2020-08-11 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Method and system for quantum circuit synthesis using quaternion algebra |
EP3303212A4 (en) * | 2015-05-28 | 2019-07-03 | NewSouth Innovations Pty Limited | QUANTUM PROCESSING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING A QUANTUM PROCESSING DEVICE |
EP3380996A4 (en) * | 2015-11-27 | 2018-11-14 | Qoherence Instruments Corp. | Systems, devices, and methods to interact with quantum information stored in spins |
US10930836B2 (en) * | 2015-12-30 | 2021-02-23 | Google Llc | Reducing surface loss and stray coupling in quantum devices using dielectric thinning |
EP3402744A4 (en) * | 2016-01-15 | 2019-08-21 | Yale University | TWO QUITUMS STATE HANDLING TECHNIQUES AND ASSOCIATED SYSTEMS AND METHODS |
US10636955B2 (en) * | 2016-05-20 | 2020-04-28 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | Terahertz transistor |
CA3027982A1 (en) | 2016-06-08 | 2017-12-14 | Socpra Sciences Et Genie S.E.C. | Electronic circuit for control or coupling of single charges or spins and methods therefor |
US10311370B2 (en) * | 2016-08-17 | 2019-06-04 | International Business Machines Corporation | Efficient reduction of resources for the simulation of Fermionic Hamiltonians on quantum hardware |
WO2018063205A1 (en) * | 2016-09-29 | 2018-04-05 | Intel Corporation | On-chip wireless communication devices for qubits |
CN107807342B (zh) * | 2017-10-31 | 2023-07-07 | 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 | 用于电流互感器的绝缘缺陷检测装置及方法 |
WO2019118442A1 (en) | 2017-12-11 | 2019-06-20 | Yale University | Superconducting nonlinear asymmetric inductive element and related systems and methods |
US11423322B2 (en) | 2018-06-20 | 2022-08-23 | equal1.labs Inc. | Integrated quantum computer incorporating quantum core and associated classical control circuitry |
US11450760B2 (en) | 2018-06-20 | 2022-09-20 | equal1.labs Inc. | Quantum structures using aperture channel tunneling through depletion region |
US10903413B2 (en) | 2018-06-20 | 2021-01-26 | Equal!.Labs Inc. | Semiconductor process optimized for quantum structures |
US11214484B2 (en) | 2018-06-20 | 2022-01-04 | equal1.labs Inc. | Planar quantum structures utilizing quantum particle tunneling through local depleted well |
US20190392352A1 (en) * | 2018-06-25 | 2019-12-26 | Intel Corporation | Adaptive programming of quantum dot qubit devices |
US10482388B1 (en) * | 2018-06-29 | 2019-11-19 | National Technology & Engineering Solutions Of Sandia, Llc | Spin-orbit qubit using quantum dots |
US20210295196A1 (en) * | 2018-08-07 | 2021-09-23 | PsiQuantum Corp. | Generation of entangled photonic states |
US20210256413A1 (en) * | 2018-08-23 | 2021-08-19 | The University Of Melbourne | Quantum computer arrays |
US11126062B1 (en) | 2018-11-21 | 2021-09-21 | PsiQuantum Corp. | Generation of entangled photonic states |
US11791818B2 (en) | 2019-01-17 | 2023-10-17 | Yale University | Josephson nonlinear circuit |
EP3918540A4 (en) * | 2019-01-31 | 2022-11-30 | Diraq Pty Ltd | ADVANCED PROCESSING ELEMENT AND SYSTEM |
KR102126448B1 (ko) | 2019-03-25 | 2020-06-24 | 국방과학연구소 | 원자 스핀을 이용한 회전측정 장치 |
US20220269974A1 (en) * | 2019-07-17 | 2022-08-25 | President And Fellows Of Harvard College | Nanophotonic quantum memory |
CN113030144B (zh) * | 2019-12-09 | 2022-12-06 | 华东师范大学 | 利用核自旋单态实现对目标物进行磁共振成像的方法及应用 |
CN113030145A (zh) * | 2019-12-09 | 2021-06-25 | 华东师范大学 | 利用核自旋单态选择性检测目标物的方法 |
US20220147824A1 (en) | 2020-11-12 | 2022-05-12 | equal1.labs Inc. | Accelerated Learning In Neural Networks Incorporating Quantum Unitary Noise And Quantum Stochastic Rounding Using Silicon Based Quantum Dot Arrays |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US550263A (en) * | 1895-11-26 | Stick | ||
JP3125332B2 (ja) * | 1991-06-21 | 2001-01-15 | ソニー株式会社 | 量子ドットトンネル素子とそれを用いた情報処理装置及び情報処理方法 |
JP3635683B2 (ja) * | 1993-10-28 | 2005-04-06 | ソニー株式会社 | 電界効果トランジスタ |
US5530263A (en) | 1994-08-16 | 1996-06-25 | International Business Machines Corporation | Three dot computing elements |
JP3468866B2 (ja) | 1994-09-16 | 2003-11-17 | 富士通株式会社 | 3次元量子閉じ込めを利用した半導体装置 |
US5793091A (en) | 1996-12-13 | 1998-08-11 | International Business Machines Corporation | Parallel architecture for quantum computers using ion trap arrays |
US5940193A (en) * | 1997-03-26 | 1999-08-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | General purpose quantum computing |
JP3028072B2 (ja) * | 1997-05-13 | 2000-04-04 | 日本電気株式会社 | 磁場検出素子 |
WO1998059255A1 (en) * | 1997-06-24 | 1998-12-30 | California Institute Of Technology | A method for suppressing noise in measurements |
US6218832B1 (en) * | 1999-02-16 | 2001-04-17 | International Business Machines Corporation | Nuclear magnetic resonance quantum computing method with improved solvents |
-
1997
- 1997-09-17 AU AUPO9268A patent/AUPO926897A0/en not_active Abandoned
-
1998
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- 1998-09-17 IL IL13492098A patent/IL134920A/xx not_active IP Right Cessation
- 1998-11-06 TW TW087115550A patent/TW423046B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-11-06 TW TW087115549A patent/TW423028B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006261610A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Hokkaido Univ | 核スピンメモリセルおよび情報処理回路 |
KR20060080134A (ko) * | 2006-02-28 | 2006-07-07 | 안도열 | 실리콘 전자구조의 계곡축퇴를 이용한 양자비트 구현방법 |
WO2015118579A1 (ja) * | 2014-02-10 | 2015-08-13 | 独立行政法人理化学研究所 | スキルミオンの駆動方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1016216A4 (en) | 2002-05-08 |
IL134920A (en) | 2003-11-23 |
TW423028B (en) | 2001-02-21 |
AUPO926897A0 (en) | 1997-10-09 |
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EP1025449A4 (en) | 2003-04-02 |
CA2304045A1 (en) | 1999-03-25 |
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IN192584B (ja) | 2004-05-08 |
CA2304185A1 (en) | 1999-03-25 |
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