JP2001506802A - ソレノイド・ドライバおよびソレノイドの動作ステータスを判定する方法 - Google Patents

ソレノイド・ドライバおよびソレノイドの動作ステータスを判定する方法

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Abstract

(57)【要約】 ソレノイド・コイル内における電機子の位置および動作方法を含む、ソレノイド(12)の動作ステータスを検出可能なソレノイド・ドライバ(10)。ソレノイド・ドライバ(10)は、ソレノイド(12)内に第1ソレノイド電流を発生し、第1減衰時間t1を測定する。第1ソレノイド電流は、電機子をソレノイド(12)のコイルに引き込むには不十分である。比較回路(22)が連続的にソレノイド電流を監視し、カウンタ回路(34)内のタイマを起動して、第1電流減衰時間を計算する。電機子をソレノイド(12)のコイル内に引き込むのに十分な、第2ソレノイド電流をソレノイド(12)内で発生する。第2ソレノイド電流をオフに切り替え、第2減衰時間t2を測定する。減衰時間は、コントローラ(36)内の格納レジスタ(R1,R2)に格納する。コントローラ(36)は、測定減衰時間を格納値と比較し、通信バス(34)を通じて電機子位置情報を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】 ソレノイド・ドライバおよび ソレノイドの動作ステータスを判定する方法 発明の分野 本発明は、一般的に、ソレノイドの開閉を制御するソレノイド・ドライバ回路 に関し、更に特定すれば、ソレノイドの動作態様を判定する、先進の回路および プログラミング・ロジックを内蔵したソレノイド・ドライバに関するものである 。 発明の背景 ソレノイドは、自動車を含む広い範囲の機械に多くの用途を有する。ソレノイ ドは、自動車の燃料噴射システム,電子式変速機,自動制動システム等に頻繁に 用いられている。ソレノイドは、共通して、コイルによって包囲された電機子を 含み、コイルが付勢されると、電機子がコイルに引き込まれる。かかるソレノイ ドは全て、ソレノイド・ドライバを用いて、ソレノイドのコイルを付勢し、電機 子の位置を制御する。 最新の自動車システムでは、自動車内の電子制御システ ムが、ソレノイド内にある電機子の正確な位置に関する情報を利用している。従 来技術のソレノイド・ドライバは、コイルを付勢し、電機子をソレノイドの中に 移動させるには効果的である。しかしながら、コイル内の電機子の位置の判定に は、先進の(advanced)ソレノイド・ドライバが必要となる。かかる先進のソレノ イド・ドライバの1つが、J.W.Kopec et al.に許可され、本願と同じ譲受人に譲 渡された米国特許番号第5,053,911号に開示されている。これに開示さ れているソレノイド・ドライバは、ソレノイド・コイル内のインダクタンスを間 接的に測定することによって、ソレノイドが閉じたときを判定する。ソレノイド ・コイルのインダクタンス変化は、コイルを流れる電流またはコイル間の電圧を 測定することによって間接的に検出する。電機子がコイルに引き込まれると、イ ンダクタンスが増加するので、コイルを流れる電流を監視することによりインダ クタンス変化が判定可能となる。1つの方法では、電流パルスをコイルに通過さ せ、電流パルスの減衰時間を判定して、コイルのインダクタンスを間接的に測定 する。検出した減衰時間の増加が、コイル・インダクタンスの増加を示し、これ が、ソレノイドが閉じていることの指示となる。 従来技術の方法は、ソレノイドが閉じたか否かを判定するには効果的であるが 、閉鎖が判定できるのは、ソレノイド電流が傾斜して上昇する場合のみである。 したがって、 情報が得られるのは、「電源投入」動作状態の間のみに限られる。 自動車業界に増々厳しい汚染制御要求が出されているので、政府の汚染制御規 制を満足するためには、一層広範な監視およびフィードバック・システムが必要 となっている。例えば、車装診断(on-board-diagnostics)に関する政府の規制( OBD−II)は、電子指示自動変速機のソレノイドの監視を要求している。制 御電子回路は、電機子の動きおよび回路の連続性双方を確認できなければならな い。これらの要件を満たすには、より広い情報を自動車内のシステム・マイクロ コントローラに提供するために先進のソレノイド・ドライバが必要となる。例え ば、ソレノイドの開放位置および閉鎖位置および電気的連続性に関する情報のリ アル・タイムのフィードバックを用いると、エンジン動作を調節し、エンジンの 排気ガスからの汚染を最少に抑えることができる。したがって、ソレノイドの動 作ステータスの監視強化を図るには、ソレノイド・ドライバ監視プロセスおよび 回路設計の一層の開発が必要となる。 図面の簡単な説明 第1図は、本発明の一実施例にしたがって構成されたソレノイド・ドライバの 回路構成図である。 第2図は、第1図に示すソレノイド・ドライバの動作を 示す波形のプロットである。 第3図および第4図は、それぞれ、消勢されたソレノイドおよび付勢されたソ レノイドについて、電流対時間の関係を示すプロットである。 第5A図、第5B図、および第5C図は、ソレノイド・ドライバが電機子ステ ータスを判定するために用いるプログラミングを示すフロー・チャートである。 第6図は、本発明にしたがってコントローラに結合され、構成されたカウンタ 回路の回路構成図である。 第7図は、本発明の代替実施例にしたがって構成されたソレノイド・ドライバ の回路構成図である。 好適実施例の詳細な説明 本発明は、ソレノイド・ドライバ、およびソレノイドの動作ステータスおよび ソレノイド・コイル内の電機子の位置を検出するための動作方法に関する。ソレ ノイド・ドライバは、電機子の位置を判定し、ソレノイド・コイルを通じて2つ の電流パルスを発生することによって、回路の連続性を確認する。第1電流パル スは、電機子の「プル・イン」電流未満である。ここで用いる場合、プル・イン 電流とは、電機子をコイル内に引き込むのに必要な電流レベルのことである。第 1電流パルスの電流レベルは、電機子をコイル内に引き込むには不十分である。 第2電流パルスは、 ソレノイド・コイルへの電流を短期間停止させ、ドロップ・アウト電流より高い レベルにおける電流の減衰時間を測定することによって生成する。第2電流パル スは、電機子をソレノイド・コイル内に維持するのに十分な電流レベルで起動す る。 ソレノイド・ドライバ内の回路によって計算される2つの減衰時間を、メモリ に格納されている基準値と比較する。加えて、これら減衰時間の比率を計算し、 メモリに格納されている値と比較する。測定値を格納値と比較することによって 、ソレノイドの開放または閉鎖状態を判定することができる。加えて、ソレノイ ド内における異常は、測定された減衰時間および減衰時間比を、適正なソレノイ ド動作を示す、メモリ内に格納されている値と比較することによって検出するこ とができる。本発明のソレノイド・ドライバは、ソレノイドが付勢状態および消 勢状態双方にある間に、電機子の位置を検出することができる。加えて、本発明 は、バッテリ電圧の変動や、バッテリ電源や接地線のノイズに感応しない。 第1図は、本発明の一実施例にしたがって構成されたソレノイド・ドライバ1 0の構成図を示す。典型的なソレノイド12が、トランジスタ・スイッチ14, および再循環ダイオード(recirculating diode)16に結合されている。ソレノ イド12の他端は、電流センサ18に結合されている。電流センサ18は、図示 のように、接地,または磁気 式変圧器のような更に高度な素子に接続された抵抗とすることができる。トラン ジスタ・スイッチ14を閉じると、第1図でVBatで示すDC電圧源にソレノイ ド12を結合することができる。金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MO SFET)の場合、トランジスタ・スイッチ14のソースは、電流センサ18を 介して、接地に結合される。したがって、トランジスタ・スイッチ14がオンに なると、ソレノイド12のコイルを通って、完全な回路経路が確立され、ソレノ イドを閉じる。当業者は、他のタイプの素子を用いてソレノイド12への電流を 切り替えることが可能であり、例えば、バイポーラ・トランジスタ,磁気スイッ チ回路等が使用可能であることを認めよう。 第1図に示す実施例では、ソレノイド12を通過する電流は、電流センサ18 がノード20に発生する電圧として検出される。ノード20に発生する電圧は、 比較回路22に結合されている。当業者は、電流比調整回路(図示せず)を含ま せることによって、電流レベルをノード20において検出可能であることを認め よう。 比較回路22は、第1比較器24および第2比較器26を含む。第1および第 2比較器24,26は、共通ノード28を介して電流センサ18のノード20に 結合された、共通入力を共有する。第1比較器24は、第1基準回路30に結合 された第2入力を有する。第2比較器26は、第2基準回路32に結合された第 2入力を有する。比較回路 22は、論理状態信号をカウンタ回路34に出力する。カウンタ回路34は、タ イミング・バス38を通じてコントローラ36に時間信号を出力し、制御バス4 0を通じてコントローラ36から制御信号を受信する。コントローラ36は、「 パワー・オン」コマンドおよび「パワー・オフ」コマンドを、制御線42を通じ てスイッチ14に出力する。また、コントローラ36は、基準電圧コマンドを線 33,35に出力し、基準値を第1および第2基準回路30,32に出力し、初 期化設定コマンドを線37上に出力しカウンタ回路34に供給する。コントロー ラ36は、コマンド命令を受信し、通信バス44を通じて、電機子ステータス情 報を出力する。 基準回路30,32は、電圧基準また電流基準のいずれでも可能であることを 、当業者は認めよう。好適実施例では、第1および第2基準回路30,32から 出力される基準値は、コントローラ36からのコマンドによって指定することが できる。電圧基準の場合、分圧回路を用いて、コントローラ36によって個々に 選択可能とすることができる。 次に、第2図に示す波形信号を参照しながら、ソレノイド・ドライバ10の動 作について例示する。コントローラ36は、外部マイクロコントローラ(図示せ ず)から通信バス44を通じて受信したコマンド信号に応答する。マイクロコン トローラからのコマンドに応答して電機子ステー タスを判定するために、コントローラ36は検査シーケンスを開始して、電機子 ステータスを判定する。電機子が完全にソレノイド・コアの外にある時点で、第 2図ではスイッチ・ステータス46で示すように、オフ状態検査を開始する。オ フ状態検査を開始する時点で、ソレノイド電流レベル48によって示されるよう に、ソレノイド12を通じて、電流パルスを発生する。トランジスタ・スイッチ 14を閉じて、ソレノイド電流をレベルI2に到達させる。電流レベル情報は、 比較回路22の第1比較器24を介して、コントローラ36にフィード・バック される。一旦電流レベルI2が得られると、コントローラ36はトランジスタ・ スイッチ14を閉じ、ソレノイド電流は、ソレノイド電流レベル48で示すよう に減衰し始める。ソレノイド電流が基準電流I1まで減衰し、第2比較器26に よって判定されると、カウンタ回路34によって減衰時間t1が判定され、コン トローラ36にリレーされて、コントローラ36内部の格納レジスタR1に格納 される。 電機子ステータス50で示すように、減衰時間t1は、電機子が完全にコイル の外にある間に測定することを注記するのは重要である。従来技術のソレノイド ・ドライバは、消勢状態にあるソレノイドの状態を検出することができない。こ のステップは、電子変速機などのような自動車システムにおいて用いられるシス テム・マイクロコントローラに有用な情報を提供する際に重要である。 一旦減衰時間t1を判定したなら、プル・イン電流より高いレベルにソレノイ ド電流を上昇させる。この電流レベルにおいて、ソレノイド12を付勢し、電機 子ステータス50で示すように、電機子をソレノイド・コイル内に引き込む。一 旦電機子が完全にコイル内部に入ったなら、コントローラ36によるオン状態検 査を開始する。第2図におけるスイッチ状態46で示すように、トランジスタ・ スイッチ14を開き、ソレノイド電流は減衰し始める。カウンタ回路は、ソレノ イド電流が上側の基準レベルI4に到達し、これが第1比較器24によって判定 されると、カウントを開始する。ソレノイド電流は下側の基準レベルI3まで減 衰し、第2比較器26によって判定される。次に、カウンタ回路34は、タイマ ・バス38を通じて第2減衰時間t2をコントローラ36に出力し、コントロー ラ36内の格納レジスタR2に格納する。下側の電流基準I3は、ソレノイド1 2内の電機子のドロップ・アウト電流よりも高いことを注記するのは重要である 。したがって、第2図では電機子位置インディケータで示すように、第2減衰時 間t2は、電機子がソレノイド・コイル内に維持されている間に判定される。 既に説明したように、一旦第1および第2減衰時間t1,t2を判定したなら、 これらの値はカウンタ回路34によってコントローラ36に出力される。次に、 コントローラ36は、適正に機能するソレノイドに対する正常な減衰時間 を、ソレノイド・ドライバ10が判定した実際の減衰時間と比較する。 第3図および第4図は、正常なソレノイド電流パターンを、異常なソレノイド からの減衰電流パターンと比較するためのグラフである。即ち、第3図は、正常 なソレノイド、および不適正に機能し異常を呈するソレノイド双方について、電 流対時間のプロットを示す。図示のように、正常状態に対する電流レベルI2, I1間の減衰時間は減衰時間tnとなり、一方異常なソレノイドの電流レベルI2 ,I1間の減衰時間はtfとなる。 第4図は、付勢状態にあり、電流レベルがソレノイド・コイル内に電機子を維 持するために必要なレベルより高いソレノイドについて、ソレノイド電流対時間 の関係を表すプロットである。第2図に示すように、電機子が完全にソレノイド ・コイル内に入った時点で、トランジスタ・スイッチ12を短期間開放すること によって、ソレノイド電流の減衰を開始する。正常なソレノイドおよび異常なソ レノイドに対するオン状態電流減衰パターンを示す。ここで、電流レベルI4, I3間の減衰時間は、正常に機能するソレノイドの場合はtn、異常なソレノイド の場合はtfである。 第3図および第4図に示す電流パターンを比較することによって、消勢状態に ある異常なソレノイドの減衰時間が、正常に機能するソレノイドのそれよりも大 きいことは明白である。付勢状態では、異常なソレノイドの減衰時間は、 正常に機能するソレノイドのそれよりも大幅に短い。コントローラ36は、測定 した減衰時間を、第3図および第4図に示す正常に機能するソレノイドに対する 格納値と比較し、ソレノイド12の動作状態を判定する。正常な減衰時間の絶対 値の比較に加えて、測定した減衰時間についてもその比率を計算し、正常な減衰 時間の比率と比較することによって、ソレノイド12の動作ステータスに関する 情報を更に提供することも可能である。 第5a図、第5b図、および第5c図は、ソレノイド12の動作状態を判定す るためにコントローラ36が実行するプログラミング・ロジックのフローチャー トを示す。第5a図は、電機子ステータス検査を開始するためのコマンド制御シ ーケンスを示す。適切な制御割り込みの受信時に、第5a図に示すプログラムが 実行される。割り込みに続いて、命令52を実行し、トランジスタ・スイッチ1 2をオフに切り替える。次に、プログラム・ロジックはステップ54において待 機状態に入り、通信バス44を通じて外部マイクロコントローラからコマンド5 6によって催促されるまで、この状態に留まる。次に、プログラムは、命令ステ ップ58,60,62を実行することによってソレノイド12をオンに切り替え るか、あるいはオフ命令ステップ64,66,68を実行することにより、ソレ ノイド12をオフ状態に維持する。コマンド・ステップ70によって、減衰時間 t1,t2に対する正常な動作値、および減衰時間 tratioの比率を、コントローラ36内の格納レジスタRa,Rb,Rcに書き 込む。オフ状態検査を実行するのか、あるいはオン状態検査を実行するのかに応 じて、マイクロコントローラは、オフ状態命令72またはオン状態命令74のい ずれかを開始する。 オフ状態およびオン状態のプログラミング・シーケンス双方を第5b図に示す 。ステップ72において開始するオフ状態検査の間、電機子をコイル内に引き込 むのに必要なレベルよりも低いレベルで、電流パルスを送りソレノイド12の電 流コイルを通過させる。格納レジスタR1は、カウンタ回路34内のレジスタの 初期化に加えて、命令76においてクリアされる。次に、命令78によってトラ ンジスタ・スイッチ14をオンに切り替え、ソレノイド電流が基準レベルI2に 到達した場合、命令80を実行する。電流レベルI2に達した場合、命令82に よってトランジスタ・スイッチ14を開放し、命令84によって、カウンタ回路 34内のタイマを起動する。ソレノイド電流が基準レベルI1まで減衰している 場合、命令ステップ86を実行してタイマを停止し、命令ステップ88によって 値をレジスタR1に格納する。次に、命令ステップ90によって、プログラムの 制御をコントローラ36内の比較器に移す。 命令ステップ74からのオン状態検査のプログラミング・シーケンスは、オフ 状態検査と同様に進行する。命令92によって、レジスタR2をクリアし、制御 信号をコントロー ラ36に送る。次に、命令ステップ94によってトランジスタ・スイッチ14を 開放し、ソレノイド電流が基準レベルI4に減衰したなら、命令96を実行する 。命令ステップ98によってカウンタ34を起動し、時間の蓄積を開始して、第 2減衰時間を判定する。ソレノイド電流が電流レベルI3に減衰したなら、命令 ステップ100を実行し、命令ステップ102によって、カウンタ34を停止し 、値をレジスタR2に格納する。命令ステップ104によって、トランジスタ・ スイッチ14をオンに切り替え、命令ステップ106によって、プログラムの制 御をコントローラ36内の比較器に移す。 測定減衰時間値を格納値と比較し、ソレノイド12内の異常状態を判定するプ ログラミング・シーケンスについて、第5C図に示すフロー・チャートを参照し ながら説明する。比較検査は、命令ステップ108において開始し、絶対値、ま たは減衰時間の比率のいずれかを、格納値と比較する。好適な動作方法では、命 令110から進行する絶対値比較、および命令ステップ112から進行する比率 比較の双方を実行する。絶対値比較方法は、命令ステップ114によって開始さ れ、レジスタR1に格納されている第1減衰時間値が、レジスタRaに格納され ている基準減衰時間値に等しくない場合、命令ステップ116において、オン状 態異常メッセージを発生する。測定したオフ状態減衰時間が基準値に等しい場合 、命令ステップ118によって、オフ状 態正常メッセージを発生する。尚、比較結果が正確に等しい必要はなく、典型的 に、レジスタRaに格納されている値を中心とする所定範囲を用いて検査が行わ れることを注記するのは重要である。例えば、R1内の値がRaを中心とする所 定範囲内にある場合、値は等しいと見做す。 オフ状態異常が検出されたか否かには無関係に、命令ステップ120を実行し 、オン状態異常の存在を判定する。レジスタR2に格納されている第2測定減衰 時間値が、レジスタRbに格納されている基準値に等しくない場合、命令ステッ プ122によって、オフ状態異常メッセージを発生する。測定した減衰時間が、 基準減衰時間に等しい場合、命令ステップ124によってオン状態正常メッセー ジを発生する。いずれの場合でも、プログラミングの制御は、第5A図に示す待 機状態54に戻る。再び、R1−Raの比較について先に説明したように、ここ でRb値を中心とする所定範囲を用いて検査を実行する。 比率検査比較は、命令ステップ112において開始する。レジスタR2に格納 されているオン状態減衰時間およびレジスタR1に格納されているオフ状態減衰 時間の比率を計算する。測定減衰時間の比が格納値の比に等しくない(または所 定の範囲内にない)場合、命令ステップ128において、オン状態異常メッセー ジを発生する。減衰時間値の比が格納値に等しい(または所定の範囲内にある) 場合、命令ステップ130によって正常オン状態メッセージを発 生する。いずれの場合でも、一旦正常または異常状態メッセージを発生したなら 、プログラミングの制御は待機状態54に戻る。 前述のプログラミング・ロジックは、コントローラ36内で実行するが、命令 80,96は第1比較器24によって実行され、命令86,100は第2比較器 26によって実行される。 当業者は、多くの異なる構成がカウンタ回路34には可能であることを認めよ う。第6図に示すのは、ソレノイド・ドライバ10に用いて好適なカウンタ回路 51の回路構成図である。図6にはコントローラ36も示し、カウンタ回路51 の動作をよりよく記載することとした。カウンタ回路51は、ORゲート57に 出力する、第1および第2JKフリップ・フロップ53,55を含む。一方、O Rゲート57は、タイマ回路59に結合されている。好ましくは、JKフリップ ・フロップ53,55は、例えば、Motorola,Inc.から入手可能なMC14027B のような標準的な素子であり、タイマ回路は標準的な14ビット二進素子であり 、例えば、同様にMotrola,Inc.から入手可能なMC14020Bである。 次に、オフ状態検査および第1減衰時間t1の測定について、カウンタ回路5 1の動作を説明する。動作において、コントローラ36内のレジスタR1クリア し、基準電圧コマンドを線33,35上に伝達し、基準回路30,32 に、オフ状態検査を実行するように命令する。第1JKフリップ・フロップを起 動し、ノードAに論理「1」を生成する。これによって、第2JKフリップ・フ ロップ55を論理「0」に強制する。ノードA,Bにおける論理状態の結果、O Rゲート57から論理「1」が出力され、出力Q1ないしQ4を強制的に論理「 0」にリセットする。ORゲート57からのリセット入力が論理「0」である場 合、カウンタが前進し、カウントをコントローラ36に中継する。パワー・オン (または論理「1」コマンド)を、制御線42を通じてトランジスタ・スイッチ 14(第1図に示す)に送る。ソレノイド12内の電流が電流レベルI2に到達 した場合、第1比較器24(図1に示す)はノードCHに論理「1」を出力し、 線61を通じてこの論理「1」を受信すると、コントローラ36はパワー・オフ (または論理「0」コマンド)をトランジスタ・スイッチ12に出力する。XO Rゲート63が、ノードCHからの論理「0」状態、および線33,35上の論 理「0」を受信し、論理「1」を第1JKフリップ・フロップ53に出力する。 第1JKフリップ・フロップ53へのクロック遷移入力によって、ノードAに おける出力が論理「0」にセットされる。ノードCにおけるカウント信号も論理 「0」となると、タイマ回路59がイネーブルされる(第2JKフリップ・フロ ップ55の出力は、そのCLK入力の立ち上がりエッジが来るまで、論理「0」 に留まる)。 ソレノイド12内の電流がI1に減衰すると、第2比較器26(図1に示す) はノードCLに論理「1」を出力する。ノードCLにおける論理「1」は、線65 を通じてコントローラ36に送出され、コントローラ36に、タイマ回路59か らの出力をレジスタR1に格納するように促す。ノードCLにおける論理状態「 1」によって、第2JKフリップ・フロップ55の出力が、ノードBにおけるロ ジック「1」にセットされる。ノードAは既に論理「0」になっているので、ノ ードBが論理「1」になった場合、ノードCに論理「1」が表れ、これによって タイマ回路59がディゼーブルされ、出力Q1ないしQ4がクリアされる。 本発明の代替実施例を、第7図に示す回路構成図に表す。明確化のために、第 1図に示す実施例において説明したのと同じ構造には、同じ参照番号を繰り返し た。代替実施例では、トランジスタ・スイッチ14が電流センサ18を接地に結 合する。トランジスタ・スイッチ14を閉じ、接地接続を完成することによって 、ソレノイド12を付勢する。電流センサ18およびソレノイド12を跨いで、 再循環ダイオード16を結合する。比較器132が、第1および第2入力134 ,136から電圧信号を受信する。比較器132は、電流レベル情報を比較回路 32に提供する。 このように、本発明によれば、先に明記した利点を最大限実現するソレノイド ・ドライバおよび動作方法が提供されたことは明白である。本発明の特定の例示 的な実施例を 参照しながら、本発明の説明および図示を行ったが、本発明がこれら例示的な実 施例に限定されることを意図するのではない。本発明の精神から逸脱することな く、変容や変更が可能であることを当業者は認めよう。したがって、請求の範囲 およびその均等の範囲に該当する変容および変更は全て、本発明に含まれること を意図するものである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.ソレノイド・コイル内における電機子の位置を検出する方法であって: 第1ソレノイド電流を供給する段階であって、前記電機子を前記ソレノイド・ コイルに引き込むには不十分である前記第1ソレノイド電流を供給する段階; 前記第1ソレノイド電流の供給を停止し、第1電流減衰時間を測定する段階; 第2ソレノイド電流を供給する段階であって、前記電機子を前記ソレノイド・ コイル内に引き込むには十分な前記第2ソレノイド電流を供給する段階; 前記電機子を前記ソレノイド・コイル内に維持しつつ、前記第2ソレノイド電 流の供給を停止し、第2電流減衰時間を測定する段階; 基準値を用意する段階;および 前記第1および第2減衰時間を前記基準値と比較し、前記電機子の位置を調べ る段階; から成ることを特徴とする方法。 2.前記第1電流減衰時間を測定する前記段階は: 前記第1ソレノイド電流を高基準値と比較することによって、開始基準時刻を 判定する段階; 前記第1ソレノイド電流を低基準値と比較することによっ て停止基準時刻を判定する段階;および 前記開始基準時刻から前記停止基準時刻までの時間を調べることによって、前 記第1電流減衰時間を計算する段階; から成ることを特徴とする請求項1記載の方法。 3.前記第2電流減衰時間を測定する前記段階は: 前記第2ソレノイド電流を高基準値と比較することによって、開始基準時刻を 判定する段階; 前記第2ソレノイド電流を低基準値と比較することによって停止基準時刻を判 定する段階;および 前記開始基準時刻から前記停止基準時刻までの時間を調べることによって、前 記第2電流減衰時間を計算する段階; から成ることを特徴とする請求項1記載の方法。 4.ソレノイド・コイル内における電機子の位置を検出可能なソレノイド・ドラ イバであって: 制御信号に応答し、前記ソレノイド・コイルを付勢するスイッチング回路; 前記ソレノイド・コイルに結合され、電流信号を出力する電流センサ; 第1基準コマンド信号に応答し、第1基準信号を出力する第1基準回路; 第2基準コマンド信号に応答し、第2基準信号を出力する第2基準回路; 前記電流信号ならびに前記第1および第2基準信号に応答し、論理状態信号を 発生する比較回路; 前記論理状態信号に応答し、時間信号を出力するカウンタ回路;および パワー・オン信号およびパワー・オフ信号を前記スイッチング回路に出力し、 前記第1および第2基準制御信号をそれぞれ前記第1および第2基準回路に出力 するコントローラ; から成り、前記コントローラは前記時間信号を受信し、前記パワー・オン信号を 終了させた後に第1減衰時間を計算し、前記パワー・オフ信号を出力した後に第 2減衰時間を計算し、 前記コントローラは電機子ステータス信号を出力することを特徴とするソレノ イド・ドライバ。 5.前記パワー・オン信号の間に前記コイル内に発生する電流は、前記電機子を 前記コイル内に引き込むのに必要な電流より低いことを特徴とする請求項4記載 のソレノイド・ドライバ。 6.前記パワー・オフ信号の間に前記ソレノイド・コイル内に維持される電流は 、前記電機子を前記コイル内に維持するのに十分であることを特徴とする請求項 5記載のソレノイド・ドライバ。 7.前記スイッチング回路は、前記ソレノイド・コイルを電源に結合し、前記ソ レノイド・コイルを付勢することを特徴とする請求項4記載のソレノイド・ドラ イバ。 8.前記スイッチング回路は、接地接続を完成し、前記ソレノイド・コイルを付 勢することを特徴とする請求項4記載のソレノイド・ドライバ。 9.前記比較回路は、 前記第1基準回路に結合された第1比較器;および 前記第2基準回路に結合された第2比較器; から成り、 前記第1および第2比較器は共通ノードによって前記電流センサに接続され、 前記第1比較器は、前記電流信号の大きさおよび前記第1基準信号に応答して 、第1論理状態信号を出力し、 前記第2比較器は、前記電流信号の大きさおよび前記第2基準基準信号に応答 して、第2論理状態信号を出力することを特徴とする請求項4記載のソレノイド ・ドライバ。 10.前記カウンタ回路は、 前記コントローラから一方の入力を受信し、XORゲートから別の入力を受信 し、ORゲートに出力する第1JK フリップ・フロップ; 前記コントローラから一方の入力で受信し、前記第2比較器から別の入力で受 信し、前記ORゲートに出力する第2JKフリップ・フロップ;および 前記ORゲートからの入力を受信し、タイミング値を前記コントローラに出力 するクロック回路; から成ることを特徴とする請求項9記載のソレノイド・ドライバ。 11.前記コントローラは、前記第1減衰時間を、前記電機子を前記ソレノイド ・コイルに引き込むのに必要な電流値よりも小さい電流値に関する第1基準時間 標準と比較し、前記第2減衰時間を、前記電機子を前記ソレノイド・コイル内に 維持するのに必要な電流値よりも大きな電流値に関する第2基準時間標準と比較 することによって、前記電機子の位置を判定することを特徴とする請求項9記載 のソレノイド・ドライバ。 12.ソレノイド・コイル内における電機子の位置を検出可能なソレノイド・ド ライバであって: 前記ソレノイド・コイルに結合されたスイッチであって、該スイッチがオンに 切り替えられたときに前記ソレノイド・コイルを付勢するスイツチ; 前記ソレノイド・コイルに結合され、電流信号を出力す る電流センサ; 前記電流センサに結合され、第1および第2基準回路から基準信号を受信する ように構成された比較回路であって、前記電流信号の相対的な大きさならびに前 記第1および第2基準回路からの前記基準信号に応答し、出力信号をカウンタ回 路に発生する比較回路;および 前記スイッチにパワー・オン信号およびパワー・オフ信号を出力するコントロ ーラであって、前記コントローラは、前記カウンタ回路から時間信号を受信し、 前記パワー・オン信号を出力した後に第1減衰時間を測定し、前記パワー・オフ 信号の出力の間、第2減衰時間を測定し、前記第1および第2減衰時間を基準時 間標準と比較し、電機子ステータス信号を出力するコントローラ; から成ることを特徴とするソレノイド・ドライバ。 13.前記パワー・オン信号の間に前記ソレノイド・コイルに発生する電流は、 前記電機子を前記ソレノイド・コイル内に引き込むのに必要な電流よりも低く、 前記パワー・オフ信号の間に前記コイル内に維持される電流は、前記電機子を前 記コイル内に維持するのに十分であることを特徴とする請求項12記載のソレノ イド・ドライバ。 14.前記スイッチは、前記コイルを電源に結合し、前記ソレノイド・コイルを 付勢することを特徴とする請求項1 2記載のソレノイド・ドライバ。 15.前記スイッチは、接地接続を完成し、前記ソレノイド・コイルを付勢する ことを特徴とする請求項12記載のソレノイド・バルブ。 16.ソレノイド・コイル内における電機子の位置を検出可能なソレノイド・ド ライバであって: 電源に結合され、オンおよびオフ電流を前記ソレノイド・コイルに供給するト ランジスタ・スイッチ; 第1基準回路および第2基準回路; 前記ソレノイド・コイルに結合された電流センサ; 前記電流センサに結合された第1入力と、前記第1基準回路に結合された第2 入力とを有する第1比較器であって、第1論理状態信号を出力する第1比較器; 前記電流センサに結合された第1入力と、前記第2基準回路に結合された第2 入力とを有する第2比較器であって、第2論理状態信号を出力する第2比較器; 前記第1および第2論理状態信号に応答し、第1および第2タイミング信号を 出力する第1カウンタ回路;および 前記トランジスタ・スイッチに結合された第1出力と、前記第1基準回路に結 合された第2出力と、前記第2基準回路に結合された第3出力とを有するコント ローラ; から成り、前記コントローラは、前記電機子が前記ソレノ イドの外にあるとき、パワー・オン信号を前記トランジスタ・スイッチに出力し 、前記第1および第2タイミング信号を受信し、 前記コントローラは、前記電機子が前記ソレノイド内にあるとき、パワー・オ フ信号を前記トランジスタ・スイッチに出力し、前記第1および第2タイミング 信号を受信し、 前記コントローラは、前記パワー・オン信号を出力した後に第1減衰時間を測 定し、前記パワー・オフ信号を出力したときに第2減衰信号を測定し、電機子位 置信号を出力することを特徴とするソレノイド・ドライバ。 17.ソレノイド・コイル内における電機子の位置を検出可能なソレノイド・ド ライバであって: 前記ソレノイド・コイル内に電流パルスを発生する手段; 第1電流パルスおよび第2電流パルスの減衰時間を測定する手段であって、 前記第1電流パルスは、前記電機子を前記ソレノイド・コイル内に引き込むに は不十分であり、 前記第2電流パルスは、前記電機子を前記ソレノイド・コイル内に維持するに は十分であり; 前記第1および第2減衰時間を時間基準標準と比較し、前記電機子位置を判定 する手段; から成ることを特徴とするソレノイド・ドライバ。 18.前記測定手段は、 第1基準回路に結合された第1比較器と、第2基準回路に結合された第2比較 器とを含む比較回路; を備えており、 前記第1および第2比較器は、共通ノードによって電流センサに接続されてお り、 前記第1比較器は、前記電流センサからの電流信号の大きさと、前記第1基準 回路からの第1基準信号とに応答して、第1論理状態を出力し、 前記第2比較器は、前記電流センサからの電流信号の大きさと、前記第2基準 回路からの第2基準信号とに応答して、第2論理状態を出力することを特徴とす る請求項17記載のソレノイド・ドライバ。 19.前記測定手段は: 前記第1比較器から前記第1論理状態を受信し、コントローラから第1クロッ ク信号を受信するように構成された第1カウンタを含むカウンタ回路;および 前記第2比較器から前記第2論理状態信号を受信し、前記コントローラから第 2クロック信号を受信するように構成された第2カウンタ; を更に備え、 前記第1カウンタは、前記電流信号が前記第1基準信号未満である場合に、前 記コントローラに第1時間信号を出 力し、 前記第2カウンタは、前記電流信号が前記第2基準信号より大きい場合に、前 記コントローラに第2時間信号を出力することを特徴とする請求項18記載のソ レノイド・ドライバ。 20.ソレノイド・コイル内における電機子の位置を検出可能なソレノイド・ド ライバであって: 第1および第2電流パルスを前記ソレノイド・コイルに発生する制御回路であ って、 前記第1電流パルスは、前記電機子を前記ソレノイド・コイル内に引き込むに は不十分であり、 前記第2電流パルスは、前記電機子を前記ソレノイド・コイル内に維持するの に十分であり; 前記第1電流パルスの第1減衰時間と、前記第2電流パルスの第2減衰時間と を測定するタイミング回路;および 前記第1および第2減衰時間を受信し、該第1および第2減衰時間を基準減衰 時間標準と比較し、電機子状態メッセージを出力する論理回路; から成ることを特徴とするソレノイド・ドライバ。 21.前記制御回路は、前記ソレノイドを電源に結合し、前記ソレノイドを付勢 するスイッチを備えることを特徴とする請求項20記載のソレノイド・ドライバ 。 22.前記制御回路は、接地接続を完成し、前記ソレノイド・コイルを付勢する スイッチを備えることを特徴とする請求項20記載のソレノイド・ドライバ。
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