JP2001339300A - Pll周波数シンセサイザ - Google Patents

Pll周波数シンセサイザ

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JP2001339300A
JP2001339300A JP2000156326A JP2000156326A JP2001339300A JP 2001339300 A JP2001339300 A JP 2001339300A JP 2000156326 A JP2000156326 A JP 2000156326A JP 2000156326 A JP2000156326 A JP 2000156326A JP 2001339300 A JP2001339300 A JP 2001339300A
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voltage
loop
pll
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JP2000156326A
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Toshiaki Ando
敏晃 安藤
Toshibumi Nakatani
俊文 中谷
Hisashi Adachi
寿史 足立
Makoto Sakakura
真 坂倉
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来のPLL周波数シンセサイザにおいて
は、ループ帯域幅の狭いPLL周波数シンセサイザを構
成すると、周波数引き込み時間が長くなるという課題を
有していた。 【解決手段】 電圧制御発振器の電圧制御共振回路を2
系統もち、発振周波数を進み遅れ検出器により位相のず
れを検出した後、1系統は周波数レンジコントローラに
よりデジタル的に所望周波数近傍の周波数に近づけ、も
う1系統をアナログ的引き込みにより所望周波数にロッ
クすることにより、周波数引き込み時間を短縮する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、携帯電話、衛星通
信等の無線通信機器における発振器等のPLL周波数シ
ンセサイザに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の技術について図を用いて説明す
る。図7は、従来例のPLL周波数シンセサイザの回路
図である。図7において、1はTCXO、2は分周器、
3は電圧制御発振器、4は比較分周器、5はループフィ
ルタ、6は位相比較器(PD)、15は負性抵抗回路、
16は電圧制御発振器共振回路、17、18は共振回路
結合コンデンサ、19は共振用インダクタ、22、23
はバリキャップ結合コンデンサ、26、27、28はバ
イアス抵抗、32、33は周波数可変用バリキャップで
ある。
【0003】従来のPLL周波数シンセサイザでは周波
数が変更された場合、閉ループのアナログ引き込みによ
り所望の周波数に引き込みロックしていた。そのため、
周波数を引き込んで所望周波数にロックするまでの時間
は、発振回路3の制御電圧に対する周波数感度とループ
フィルタ5のフィルタ特性とにより決まる閉ループゲイ
ンにより決定していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな構成では、ループ帯域幅の狭いPLL周波数シンセ
サイザを構成すると、周波数引き込み時間が長くなると
いう課題を有していた。
【0005】本発明は、ループ帯域幅が狭くても周波数
引き込み時間の短いPLL周波数シンセサイザを得るこ
とを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、発振周波数を進み遅れ検出器により位相の
ずれを検出した後、周波数レンジコントローラによりデ
ジタル的にロック周波数近傍の周波数に近づけ、その
後、アナログ引き込みに切替えることにより、周波数引
き込み時間の短いPLL周波数シンセサイザを得ること
ができる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
【0008】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形
態1のPLL周波数シンセサイザを示す図であり、図2
にその発振周波数を示す。
【0009】図1において、1はTCXO、2は分周
器、3は電圧制御発振器、4は比較分周器、5はループ
フィルタ、6は位相比較器(PD)、7は周波数レンジ
探索コントローラ、8はD/Aコンバータ(DAC)、
9は進み遅れ検出器、10は切替えスイッチ、11は電
圧制御発振器アナログ電圧制御端子、12はループフィ
ルタ出力端子、13は定電圧印可端子、14は定電圧
源、15は負性抵抗回路、16は電圧制御発振器共振回
路、17、18は共振回路結合コンデンサ、19は共振
用インダクタ、20、21、22、23はバリキャップ
結合コンデンサ、24、25、26、27、28、29
はバイアス抵抗、30、31、32、33は周波数可変
用バリキャップ、34は電圧制御発振器デジタル電圧制
御端子、35はスイッチ切替え制御信号である。
【0010】図2はPLLシンセサイザの発振周波数を
示す。この図はレンジ探索コントローラのレンジが5レ
ンジの場合を示す。101はDAC出力電圧1における
閉ループ時の発振周波数、102はDAC出力電圧2に
おける閉ループ時の発振周波数、103はDAC出力電
圧3における閉ループ時の発振周波数、104はDAC
出力電圧4における閉ループ時の発振周波数、105は
DAC出力電圧5における閉ループ時の発振周波数であ
る。
【0011】動作を以下に示す。周波数がDAC出力電
圧3の領域103内でロックされている場合を示す。電
圧制御発振器3から比較分周器4を介して分周された信
号と、基準信号発生器であるTCXO1から分周器2に
て分周された信号により進み遅れ検出器9は周波数ずれ
を検出し、周波数レンジ探索コントローラ7に信号を送
る。
【0012】周波数がロックされている場合は周波数探
索レンジコントローラ7は現状を維持する。つまり、D
AC8には発振周波数がDAC出力電圧3の領域103
となる信号が送られ、スイッチ切替え制御信号35によ
り、切替えスイッチ10はループフィルタ出力端子12
側に接続される。
【0013】一方、比較分周器4の出力とTCXO1の
分周信号を位相比較器6にて比較しループフィルタ5、
切替えスイッチ10を介してPLL閉ループを構成し、
周波数をロックし続ける。
【0014】次に周波数がずれた場合を示す。まず、D
AC出力電圧3の領域103内において周波数がずれて
ロックがはずれた場合、あるいは分周器2の分周数を変
化させ、DAC出力電圧3の領域103内の周波数切替
えが行われた場合を示す。
【0015】電圧制御発振器3から比較分周器4を介し
て分周された信号と、基準信号発生器であるTCXO1
から分周器2にて分周された信号により進み遅れ検出器
9は周波数ずれを検出し、周波数レンジ探索コントロー
ラ7に信号を送る。
【0016】周波数探索レンジコントローラ7は周波数
ずれの範囲がDAC出力電圧3の領域103であると判
断し現状を維持する。つまり、DAC8には発振周波数
がDAC出力電圧3の領域103となる信号が送られ、
スイッチ切替え制御信号35により、切替えスイッチ1
0はループフィルタ出力端子12側に接続されたままと
なる。そのため、アナログ引き込みの動作に入り、ロッ
クが行われる。
【0017】次にDAC出力電圧3の領域103内でロ
ックしており、例えばDAC出力電圧1の領域101に
周波数切替えが行われた場合を示す。
【0018】電圧制御発振器3から比較分周器4を介し
て分周された信号と、基準信号発生器であるTCXO1
から分周器2にて分周された信号により進み遅れ検出器
9は周波数ずれを検出し、周波数レンジ探索コントロー
ラ7に信号を送る。
【0019】周波数探索レンジコントローラ7は周波数
ずれの範囲がDAC出力電圧1の領域101であると判
断し、DAC8には発振周波数がDAC出力電圧1の領
域101となる信号が出力される。
【0020】また、スイッチ切替え制御信号35は定電
圧印可端子13に切替えスイッチ10を切替える。その
後、再度進み遅れ検出器9は周波数ずれを検出し、周波
数レンジ探索コントローラ7が前の状態と変化していな
い。つまり、発振周波数がDAC出力電圧1の領域10
1であると判断した場合、スイッチ切替え制御信号35
により、ループフィルタ出力端子12に切替えスイッチ
10が切り換わる。そして、アナログ引き込みの動作に
入り、ロックが行われる。
【0021】上記の構成によれば、ループ帯域幅の狭い
PLL周波数シンセサイザにおいても、周波数引き込み
時間の短いPLL周波数シンセサイザを得ることができ
る。
【0022】(実施の形態2)図3は本発明の実施の形
態2のPLL周波数シンセサイザを示す図であり、図2
にその発振周波数を示す。
【0023】図3において、1はTCXO、2は分周
器、3は電圧制御発振器、4は比較分周器、5はループ
フィルタ、6は位相比較器(PD)、7は周波数レンジ
探索コントローラ、8はD/Aコンバータ(DAC)、
9は進み遅れ検出器、10は切替えスイッチ、11a、
11bは電圧制御発振器差動アナログ電圧制御端子、1
2a、12bはループフィルタ差動出力端子、13a、
13bは定電圧印可端子、14a、14bは定電圧源、
15は負性抵抗回路、16は電圧制御発振器共振回路、
17、18は共振回路結合コンデンサ、19は共振用イ
ンダクタ、20、21、22、23はバリキャップ結合
コンデンサ、24、25、26、27、28、29はバ
イアス抵抗、30、31、32、33は周波数可変用バ
リキャップ、34a、34bは電圧制御発振器差動デジ
タル電圧制御端子、35はスイッチ切替え制御信号であ
る。
【0024】図2はPLLシンセサイザの発振周波数を
示す。この図はレンジ探索コントローラのレンジが5レ
ンジの場合を示す。101はDAC出力電圧1における
閉ループ時の発振周波数、102はDAC出力電圧2に
おける閉ループ時の発振周波数、103はDAC出力電
圧3における閉ループ時の発振周波数、104はDAC
出力電圧4における閉ループ時の発振周波数、105は
DAC出力電圧5における閉ループ時の発振周波数であ
る。
【0025】最初に切替えスイッチ10の動作及びルー
プフィルタの出力について示す。切替えスイッチ10は
スイッチ切替え制御信号35により定電圧源14a、1
4b側とループフィルタ差動出力12a、12b側に切
り替わる。
【0026】また定電圧源14aと14bの電位差はル
ープフィルタ差動出力12a、12bの変更可能な電位
差内である。
【0027】以下に実施の形態2のPLL周波数シンセ
サイザの周波数引き込み動作を示す。周波数がDAC出
力電圧3の領域103内でロックされている場合を示
す。電圧制御発振器3から比較分周器4を介して分周さ
れた信号と、基準信号発生器であるTCXO1から分周
器2にて分周された信号により進み遅れ検出器9は周波
数ずれを検出し、周波数レンジ探索コントローラ7に信
号を送る。
【0028】周波数がロックされている場合は周波数探
索レンジコントローラ7は現状を維持する。つまり、D
AC8には差動出力として発振周波数がDAC出力電圧
3の領域103となる信号が送られ、スイッチ切替え制
御信号35により、切替えスイッチ10はループフィル
タ出力端子12側に接続されたままとなる。
【0029】一方、比較分周器4の出力とTCXO1の
分周信号を位相比較器6にて比較しループフィルタ5、
切替えスイッチ10を介してPLL閉ループを構成し周
波数をロックし続ける。
【0030】次に周波数がずれた場合を示す。まず、D
AC出力電圧3の領域103内において周波数がずれて
ロックがはずれた場合、あるいは分周器2の分周数を変
化させ、DAC出力電圧3の領域103内の周波数切替
えが行われた場合を示す。
【0031】電圧制御発振器3から比較分周器4を介し
て分周された信号と、基準信号発生器であるTCXO1
から分周器2にて分周された信号により進み遅れ検出器
9は周波数ずれを検出し、周波数レンジ探索コントロー
ラ7に信号を送る。
【0032】周波数探索レンジコントローラ7は、周波
数ずれの範囲がDAC出力電圧3の領域103内である
と判断し現状を維持する。つまり、DAC8の差動出力
として発振周波数がDAC出力電圧3の領域103とな
る信号が送られ、スイッチ切替え制御信号35により、
切替えスイッチ10はループフィルタ出力端子12側に
接続されたままとなる。そのためアナログ引き込みの動
作に入りロックが行われる。
【0033】次にDAC出力電圧3の領域103内でロ
ックしており、例えばDAC出力電圧1の領域101に
周波数切替えが行われた場合を示す。
【0034】電圧制御発振器3から比較分周器4を介し
て分周された信号と、基準信号発生器であるTCXO1
から分周器2にて分周された信号により進み遅れ検出器
9は周波数ずれを検出し、周波数レンジ探索コントロー
ラ7に信号を送る。
【0035】周波数探索レンジコントローラ7は周波数
ずれの範囲がDAC出力電圧1の領域101であると判
断し、DAC8の差動出力として発振周波数がDAC出
力電圧1の領域101となる信号が送られ、スイッチ切
替え制御信号35により定電圧印可端子13に切替えス
イッチ10を切替える。
【0036】その後、再度進み遅れ検出器9は周波数ず
れを検出し、周波数レンジ探索コントローラ7が前の状
態と変化していない。つまり、発振周波数がDAC出力
電圧1の領域101であると判断した場合、スイッチ切
替え制御信号35によりループフィルタ出力端子12に
切替えスイッチ10を切替える。その後アナログ引き込
みの動作に入りロックが行われる。
【0037】上記の構成によれば、ループ帯域幅の狭い
PLL周波数シンセサイザにおいても、周波数引き込み
時間の短いPLL周波数シンセサイザを得ることができ
る。
【0038】(実施の形態3)図4は本発明の実施の形
態3のPLL周波数シンセサイザを示す図であり、図2
にその発振周波数を示す。
【0039】図4において、1はTCXO、2は分周
器、3は電圧制御発振器、4aは整数分周器、4bは分
数分周器、5はループフィルタ、6は位相比較器(P
D)、7は周波数レンジ探索コントローラ、8はD/A
コンバータ(DAC)、9は進み遅れ検出器、10はル
ープフィルタ切替えスイッチ、11は電圧制御発振器ア
ナログ電圧制御端子、12はループフィルタ出力端子、
13は定電圧印可端子、14は定電圧源、15は負性抵
抗回路、16は電圧制御発振器共振回路、17、18は
共振回路結合コンデンサ、19は共振用インダクタ、2
0、21、22、23はバリキャップ結合コンデンサ、
24、25、26、27、28、29はバイアス抵抗、
30、31、32、33は周波数可変用バリキャップ、
34は電圧制御発振器デジタル電圧制御端子、35はス
イッチ切替え制御信号、36は整数分周−分数分周切替
えスイッチ、37は分周切替え制御信号である。
【0040】図2はPLLシンセサイザの発振周波数を
示す。この図はレンジ探索コントローラのレンジが5レ
ンジの場合を示す。101はDAC出力電圧1における
閉ループ時の発振周波数、102はDAC出力電圧2に
おける閉ループ時の発振周波数、103はDAC出力電
圧3における閉ループ時の発振周波数、104はDAC
出力電圧4における閉ループ時の発振周波数、105は
DAC出力電圧5における閉ループ時の発振周波数であ
る。
【0041】動作を以下に示す。周波数がDAC出力電
圧3の領域103内でロックされている場合を示す。整
数分周−分数分周切替えスイッチ36はロック時は整数
分周器4aに接続されており、電圧制御発振器3から整
数分周器4aを介して分周された信号と、基準信号発生
器であるTCXO1から分周器2にて分周された信号に
より進み遅れ検出器9は周波数ずれを検出し、周波数レ
ンジ探索コントローラ7に信号を送る。
【0042】周波数がロックされている場合は周波数探
索レンジコントローラ7は現状を維持する。つまり、D
AC8には発振周波数がDAC出力電圧3の領域103
となる信号が送られ、スイッチ切替え制御信号35によ
り、ループフィルタ切替えスイッチ10はループフィル
タ出力端子12側に接続される。
【0043】一方、整数分周−分数分周切替えスイッチ
36はロック時は整数分周器4aに接続されており、整
数分周器4aの出力とTCXO1の分周信号を位相比較
器6にて比較しループフィルタ5、ループフィルタ切替
えスイッチ10を介してPLL閉ループを構成し、周波
数をロックし続ける。
【0044】次に周波数がずれた場合を示す。まず、D
AC出力電圧3の領域103内において周波数がずれて
ロックがはずれた場合、あるいは分周器2の分周数を変
化させ、DAC出力電圧3の領域103内の周波数切替
えが行われた場合を示す。
【0045】ロックが外れると周波数探索レンジコント
ローラ7は分周切替え制御信号37を整数分周−分数分
周切替えスイッチ36に送り、スイッチを分数分周器4
b側に切替える。
【0046】電圧制御発振器3から分数分周器4bを介
して分周された信号と、基準信号発生器であるTCXO
1から分周器2にて分周された信号により進み遅れ検出
器9は周波数ずれを検出し、周波数レンジ探索コントロ
ーラ7に信号を送る。
【0047】周波数探索レンジコントローラ7は周波数
ずれの範囲がDAC出力電圧3の領域103であると判
断し現状を維持する。つまり、DAC8には発振周波数
がDAC出力電圧3の領域103となる信号が送られ、
スイッチ切替え制御信号35により、切替えスイッチ1
0はループフィルタ出力端子12側に接続されたままと
なる。その後、アナログ引き込みの動作に入り周波数ず
れが小さくなり、ある値以下になると周波数探索レンジ
コントローラ7は、分周切替え制御信号37を整数分周
−分数分周切替えスイッチ36に送り、整数分周器4a
側に整数分周−分数分周切替えスイッチ36を切替え周
波数ロックを続ける。
【0048】次にDAC出力電圧3の領域103内でロ
ックしており、例えばDAC出力電圧1の領域101に
周波数切替えが行われた場合を示す。
【0049】電圧制御発振器3から整数分周器4aを介
して分周された信号と、基準信号発生器であるTCXO
1から分周器2にて分周された信号により進み遅れ検出
器9は周波数ずれを検出し、周波数レンジ探索コントロ
ーラ7に信号を送る。
【0050】周波数探索レンジコントローラ7は周波数
ずれの範囲がDAC出力電圧1の領域101であると判
断し、DAC8には発振周波数がDAC出力電圧1の領
域101となる信号が出力される。また、スイッチ切替
え制御信号35は定電圧印可端子13に切替えスイッチ
10を切替える。
【0051】同時に周波数探索レンジコントローラ7
は、分周切替え制御信号37を整数分周−分数分周切替
えスイッチ36に送り、スイッチを分数分周器4b側に
切替える。
【0052】その後、再度進み遅れ検出器9は周波数ず
れを検出し、周波数レンジ探索コントローラ7が前の状
態と変化していない。つまり、発振周波数がDAC出力
電圧1の領域101であると判断した場合、スイッチ切
替え制御信号35により、ループフィルタ出力端子12
に切替えスイッチ10が切り換わる。
【0053】その後、アナログ引き込みの動作に入り周
波数ずれが小さくなり、ある値以下になると周波数探索
レンジコントローラ7は、分周切替え制御信号37を整
数分周−分数分周切替えスイッチ36に送り、整数分周
器4a側に整数分周−分数分周切替えスイッチ36を切
替え周波数ロックを続ける。
【0054】上記の構成によれば、ループ帯域幅の狭い
PLL周波数シンセサイザにおいても、周波数引き込み
時間の短いPLL周波数シンセサイザを得ることができ
る。
【0055】(実施の形態4)図5は本発明の実施の形
態4のPLL周波数シンセサイザを示す図であり、図6
にその発振周波数を示す。
【0056】図5において、1はTCXO、2は分周
器、3は電圧制御発振器、4は比較分周器、5はループ
フィルタ、6は位相比較器、7は周波数レンジ探索コン
トローラ、8はD/Aコンバータ、9は進み遅れ検出
器、10は切替えスイッチ、15は負性抵抗回路、16
は電圧制御発振器共振回路、17、18は共振回路結合
コンデンサ、19は共振用インダクタ、22、23はバ
リキャップ結合コンデンサ、26、27、28はバイア
ス抵抗、32、33は周波数可変用バリキャップ、35
はスイッチ切替え制御信号37はDAC出力である。
【0057】図6はPLLシンセサイザの発振周波数を
示す。この図はレンジ探索コントローラのレンジが5レ
ンジの場合を示す。100は電圧制御発振器の制御電圧
に対する発振周波数、101はDAC出力電圧1におけ
る発振周波数、102はDAC出力電圧2における発振
周波数、103はDAC出力電圧3における発振周波
数、104はDAC出力電圧4における発振周波数、1
05はDAC出力電圧5における発振周波数である。
【0058】動作を以下に示す。周波数がずれた場合、
周波数レンジ探索コントローラ7は、電圧制御発振器3
から比較分周器4を介して分周された信号と、基準信号
発生器であるTCXO1から分周器2にて分周された信
号により、進み遅れ検出器9は周波数ずれを検出し、周
波数レンジ探索コントローラ7に信号を送る。
【0059】周波数探索レンジコントローラ7は周波数
ずれの範囲と、ロックが外れる以前のコントロールデー
タによりDACへのデータを決定する。例えば、最初に
ロックしていた時のDAC出力37が出力電圧3であっ
た場合、アンロックにより進み送れ検出器9は周波数の
ずれを周波数レンジ探索コントローラ7に送る。
【0060】周波数レンジ探索コントローラ7はDAC
出力電圧3からのずれを計算し、所望周波数に一番近い
周波数となるようなDAC出力を選定する。それと同時
にスイッチ切替え制御信号35により切替えスイッチ1
0をオンする。これにより急速に充放電を行い、その後
切替えスイッチ10をオフにし、通常のアナログ引き込
みによりロックが行われる。
【0061】上記の構成によれば、ループ帯域幅の狭い
PLL周波数シンセサイザにおいても、周波数引き込み
時間の短いPLL周波数シンセサイザを得ることができ
る。
【0062】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、発振周波
数を進み遅れ検出器により位相のずれを検出した後、周
波数レンジコントローラによりデジタル的にロック周波
数近傍の周波数に近づけ、その後アナログ的引き込みに
切替えることにより、ループ帯域が狭く、周波数引き込
み時間の短いPLL周波数シンセサイザを得ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1を示す回路図
【図2】本発明の実施の形態1〜3の発振周波数を示す
【図3】本発明の実施の形態2を示す回路図
【図4】本発明の実施の形態3を示す回路図
【図5】本発明の実施の形態4を示す回路図
【図6】本発明の実施の形態4の発振周波数を示す図
【図7】従来の高周波発振回路の回路図
【符号の説明】
1 TCXO 2 分周器 3 電圧制御発振器 4 比較分周器 4a 整数分周器 4b 分数分周器 5 ループフィルタ 6 位相比較器 7 周波数レンジ探索コントローラ 8 D/Aコンバータ(DAC) 9 進み遅れ検出器 10 切替えスイッチ 11 電圧制御発振器アナログ電圧制御端子 11a,11b 電圧制御発振器差動アナログ電圧制御
端子 12 ループフィルタ出力端子 12a,12b ループフィルタ差動出力端子 13,13a,13b 定電圧印可端子 14,14a,14b 定電圧源 15 負性抵抗回路 16 電圧制御発振器共振回路 17,18 共振回路結合コンデンサ 19 共振用インダクタ 20,21,22,23 バリキャップ結合コンデンサ 24,25,26,27,28,29 バイアス抵抗 30,31,32,33 周波数可変用バリキャップ 34 電圧制御発振器デジタル電圧制御端子 34a,34b 電圧制御発振器差動デジタル電圧制御
端子 35 スイッチ切替え制御信号 36 整数分周ー分数分周切替えスイッチ 37 DAC出力 101 DAC出力電圧1における閉ループ時の発振周
波数 102 DAC出力電圧2における閉ループ時の発振周
波数 103 DAC出力電圧3における閉ループ時の発振周
波数 104 DAC出力電圧4における閉ループ時の発振周
波数 105 DAC出力電圧5における閉ループ時の発振周
波数
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H03L 7/18 A (72)発明者 足立 寿史 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 坂倉 真 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5J106 AA04 BB01 BB10 CC01 CC15 CC21 CC41 CC52 CC53 DD09 DD35 EE10 FF09 GG01 HH03 JJ01 JJ05 KK03 PP03 QQ09 RR17 RR18 RR20

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準周波数信号を発生する基準周波数信
    号発生器と、電圧制御発振器と、比較分周器と、開ルー
    プ制御時に所定周波数近傍の発振を行うための進み遅れ
    検出器と一定電圧を与えるD/Aコンバータと、周波数
    差により開ループから閉ループに切替えを行う周波数レ
    ンジ探索コントローラと、閉ループ制御時に所定周波数
    にロックするために位相差を検出し電圧に変換する位相
    比較器及び位相比較器からの出力の高周波成分を除去す
    るループフィルタとを備えたことを特徴とするPLL周
    波数シンセサイザ。
  2. 【請求項2】 前記電圧制御発振器の共振回路部分が、
    開ループ時にデジタル電圧制御を行う第1の共振回路と
    閉ループ時にアナログ電圧制御を行う第2の共振回路と
    からなり、 前記第1の共振回路には前記D/Aコンバータが接続さ
    れており、 前記第2の共振回路にはループフィルタが接続されてい
    ることを特徴とする請求項1記載のPLL周波数シンセ
    サイザ。
  3. 【請求項3】 前記第2の共振回路の制御電圧が、前記
    ループフィルタの出力とループフィルタから出力が可能
    な一定電圧を与える電源の切替えが可能であり、 開ループ時には一定電圧を与える電源に接続されてお
    り、 閉ループ時には前記フィルタの出力が制御電圧として供
    給されることを特徴とする請求項2記載のPLL周波数
    シンセサイザ。
  4. 【請求項4】 前記電圧制御発振器の入出力、比較分周
    器の入力、及びループフィルタの出力、D/Aコンバー
    タの出力が差動であることを特徴とする請求項1または
    2記載のPLL周波数シンセサイザ。
  5. 【請求項5】 前記比較分周器が比較周波数を変化させ
    その平均として動作させる分周分数と整数分周の2つの
    モードを持ち、開ループの初期は分周分数で動作し、一
    定時間後、整数分周で動作することを特徴とする請求項
    2または4記載のPLL周波数シンセサイザ。
  6. 【請求項6】 前記電圧制御発振器の制御電圧が、前記
    ループフィルタの出力と前記D/Aコンバータの出力と
    に切替えが可能であり、 開ループ時には前記D/Aコンバータの出力が制御電圧
    として供給され、 閉ループ時には前記フィルタの出力が制御電圧として供
    給されることを特徴とする請求項1記載のPLL周波数
    シンセサイザ。
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