JP2001335748A - 膜形成用組成物、絶縁膜形成用材料およびシリカ系膜 - Google Patents

膜形成用組成物、絶縁膜形成用材料およびシリカ系膜

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JP2001335748A JP2000157642A JP2000157642A JP2001335748A JP 2001335748 A JP2001335748 A JP 2001335748A JP 2000157642 A JP2000157642 A JP 2000157642A JP 2000157642 A JP2000157642 A JP 2000157642A JP 2001335748 A JP2001335748 A JP 2001335748A
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 塗膜の機械的特性やクラック耐性やTaNと
の密着性に優れ、かつ低い比誘電率を示す絶縁膜形成用
材料を得る。 【解決手段】 (A)下記式(1)化合物と、(B)下
記(2)、(3)で表される化合物の群から選ばれた少
なくとも1種の化合物とを加水分解縮合して得られる縮
合物、及び(C)下記式(4)で表される有機溶媒を含
有する膜形成用組成物。 HSi(OR・・・・・(1) R Si(OR4−a・・・・・(2) R (RO)3−bSi−(R−Si(OR
3−c ・・・・・(3) R11O(CHCHCHO)12・・・・・
(4) (式中RはF原子又は一価の有機基、R、R〜R
は一価の有機基、RはO原子又は−(CH
−、R11、R12はH或いは炭素数1〜4のアルキ
ル基又はCHCO−を示す、a、b、cは0〜2の整
数、dは0または1、gは1〜2の整数、nは1〜6の
整数を示す。)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、膜形成用組成物に
関し、さらに詳しくは、半導体素子などにおける層間絶
縁膜材料として、塗膜の機械的特性やクラック耐性やT
aNとの密着性に優れ、かつ低い比誘電率を示す膜形成
用組成物および絶縁膜形成用材料に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子などにおける層間絶縁
膜として、CVD法などの真空プロセスで以て形成され
たシリカ(SiO2)膜が多用されている。そして、近
年、より均一な層間絶縁膜を形成することを目的とし
て、SOG(Spin on Glass)膜と呼ばれ
るテトラアルコキシランの加水分解生成物を主成分とす
る塗布型の絶縁膜も使用されるようになっている。ま
た、半導体素子などの高集積化に伴い、有機SOGと呼
ばれるポリオルガノシロキサンを主成分とする低比誘電
率の層間絶縁膜が開発されている。しかしながら、半導
体素子などのさらなる高集積化や多層化に伴い、より優
れた導体間の電気絶縁性が要求されており、したがっ
て、より低比誘電率で機械的強度に優れる層間絶縁膜材
料が求められるようになっている。
【0003】そこで、特開平6−181201号公報に
は、層間絶縁膜材料として、より低比誘電率の絶縁膜形
成用塗布型組成物が開示されている。この塗布型組成物
は、吸水性が低く、耐クラック性に優れた半導体装置の
絶縁膜を提供することを目的としており、その構成は、
チタン、ジルコニウム、ニオブおよびタンタルから選ば
れる少なくとも1種の元素を含む有機金属化合物と、分
子内にアルコキシ基を少なくとも1個有する有機ケイ素
化合物とを縮重合させてなる、数平均分子量が500以
上のオリゴマーを主成分とする絶縁膜形成用塗布型組成
物である。
【0004】また、WO96/00758号公報には、
多層配線基板の層間絶縁膜の形成に使用される、アルコ
キシシラン類、シラン以外の金属アルコキシドおよび有
機溶媒などからなる、厚膜塗布が可能で、かつ耐酸素プ
ラズマ性に優れるシリカ系塗布型絶縁膜形成用材料が開
示されている。
【0005】さらに、特開平3−20377号公報に
は、電子部品などの表面平坦化、層間絶縁などに有用な
酸化物被膜形成用塗布液が開示されている。この酸化物
被膜形成用塗布液は、ゲル状物の発生のない均一な塗布
液を提供し、また、この塗布液を用いることにより、高
温での硬化、酸素プラズマによる処理を行った場合であ
っても、クラックのない良好な酸化物被膜を得ることを
目的としている。そして、その構成は、所定のシラン化
合物と、同じく所定のキレート化合物とを有機溶媒の存
在化で加水分解し、重合して得られる酸化物被膜形成用
塗布液である。
【0006】しかし、上記のようにシラン化合物にチタ
ンやジルコニウムなどの金属キレート化合物を組み合せ
た場合、塗膜の機械的特性やクラック耐性、溶液の保存
安定性、塗膜の低い比誘電率などをバランスよく有する
ものではない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
を解決するための膜形成用組成物に関し、さらに詳しく
は、半導体素子などにおける層間絶縁膜として、塗膜の
機械的特性やクラック耐性やTaNとの密着性に優れ、
かつ低い比誘電率を示す層間絶縁膜用材料を提供するこ
とを目的とする。
【0008】本発明は、(A)下記一般式(1)で表さ
れる化合物および HSi(OR13 ・・・・・(1) (R1は1価の有機基を示す。) (B)(B−1)下記一般式(2)で表される化合物 R2 aSi(OR34-a ・・・・・(2) (R2はフッ素原子または1価の有機基を示し、R3は1
価の有機基を示し、aは0〜2の整数を表す。) (B−2)下記一般式(3)で表される化合物 R4 b(R5O)3-bSi−(R8d−Si(OR63-c7 c ・・・(3) (R4,R5,R6およびR7は、同一でも異なっていても
よく、それぞれ1価の有機基を示し、bおよびcは、同
一でも異なっていてもよく、0〜2の数を示し、R8
酸素原子または−(CH2n−で表される基を示し、n
は1〜6を、dは0または1を示す。)からなる群より
選ばれる少なくとも1種の化合物を加水分解、縮合して
得られる加水分解縮合物ならびに(C)下記一般式
(4)で表される溶剤 R11O(CHCH3CH2O)g12 ・・・・・(4) (R11およびR12は、それぞれ独立して水素原子、炭素
数1〜4のアルキル基またはCH3CO−から選ばれる
1価の有機基を示し、gは1〜2の整数を表す。)を含
有することを特徴とする膜形成用組成物および絶縁膜形
成用材料を提供するものである。
【0009】
【発明の実施の形態】
【0010】(A)成分 上記一般式(1)において、R1は1価の有機基、特に
アルキル基またはフェニル基であることが好ましい。こ
こで、アルキル基としては、メチル基、エチル基、プロ
ピル基、ブチル基などが挙げられ、好ましくは炭素数1
〜5であり、これらのアルキル基は鎖状でも、分岐して
いてもよく、さらに水素原子がフッ素原子などに置換さ
れていてもよい。
【0011】一般式(1)で表される化合物の具体例と
しては、トリメトキシシラン、トリエトキシシラン、ト
リ−n−プロポキシシラン、トリ−iso−プロポキシ
シラン、トリ−n−ブトキシシラン、トリ−sec−ブ
トキシシラン、トリ−tert−ブトキシシラン、トリ
フェノキシシランを挙げることができ、トリメトキシシ
ラン、トリエトキシシラン、トリ−n−プロポキシシラ
ン、トリ−iso−プロポキシシランが特に好ましい。
これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよ
い。
【0012】(B−1)成分 上記一般式(2)において、R2およびR3の1価の有機
基としては、アルキル基、アリール基、アリル基、グリ
シジル基などを挙げることができる。また、一般式
(2)において、R2は1価の有機基、特にアルキル基
またはフェニル基であることが好ましい。ここで、アル
キル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブ
チル基などが挙げられ、好ましくは炭素数1〜5であ
り、これらのアルキル基は鎖状でも、分岐していてもよ
く、さらに水素原子がフッ素原子などに置換されていて
もよい。一般式(2)において、アリール基としては、
フェニル基、ナフチル基、メチルフェニル基、エチルフ
ェニル基、クロロフェニル基、ブロモフェニル基、フル
オロフェニル基などを挙げることができる。
【0013】一般式(2)で表される化合物の具体例と
しては、フルオロトリメトキシシラン、フルオロトリエ
トキシシラン、フルオロトリ−n−プロポキシシラン、
フルオロトリ−iso−プロポキシシラン、フルオロト
リ−n−ブトキシシラン、フルオロトリ−sec−ブト
キシシラン、フルオロトリ−tert−ブトキシシラ
ン、フルオロトリフェノキシシラン、テトラメトキシシ
ラン、テトラエトキシシラン、テトラ−n−プロポキシ
シラン、テトラ−iso−プロポキシシラン、テトラ−
n−ブトキシラン、テトラ−sec−ブトキシシラン、
テトラ−tert−ブトキシシラン、テトラフェノキシ
シランなど;メチルトリメトキシシラン、メチルトリエ
トキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシシラン、メ
チルトリ−iso−プロポキシシラン、メチルトリ−n
−ブトキシシラン、メチルトリ−sec−ブトキシシラ
ン、メチルトリ−tert−ブトキシシラン、メチルト
リフェノキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチ
ルトリエトキシシラン、エチルトリ−n−プロポキシシ
ラン、エチルトリ−iso−プロポキシシラン、エチル
トリ−n−ブトキシシラン、エチルトリ−sec−ブト
キシシラン、エチルトリ−tert−ブトキシシラン、
エチルトリフェノキシシラン、ビニルトリメトキシシラ
ン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリ−n−プロ
ポキシシラン、ビニルトリ−iso−プロポキシシラ
ン、ビニルトリ−n−ブトキシシラン、ビニルトリ−s
ec−ブトキシシラン、ビニルトリ−tert−ブトキ
シシラン、ビニルトリフェノキシシラン、n−プロピル
トリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラ
ン、n−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、n−プ
ロピルトリ−iso−プロポキシシラン、n−プロピル
トリ−n−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−sec
−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−tert−ブト
キシシラン、n−プロピルトリフェノキシシラン、i−
プロピルトリメトキシシラン、i−プロピルトリエトキ
シシラン、i−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、
i−プロピルトリ−iso−プロポキシシラン、i−プ
ロピルトリ−n−ブトキシシラン、i−プロピルトリ−
sec−ブトキシシラン、i−プロピルトリ−tert
−ブトキシシラン、i−プロピルトリフェノキシシラ
ン、n−ブチルトリメトキシシラン、n−ブチルトリエ
トキシシラン、n−ブチルトリ−n−プロポキシシラ
ン、n−ブチルトリ−iso−プロポキシシラン、n−
ブチルトリ−n−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−s
ec−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−tert−ブ
トキシシラン、n−ブチルトリフェノキシシラン、se
c−ブチルトリメトキシシラン、sec−ブチル−i−
トリエトキシシラン、sec−ブチル−トリ−n−プロ
ポキシシラン、sec−ブチル−トリ−iso−プロポ
キシシラン、sec−ブチル−トリ−n−ブトキシシラ
ン、sec−ブチル−トリ−sec−ブトキシシラン、
sec−ブチル−トリ−tert−ブトキシシラン、s
ec−ブチル−トリフェノキシシラン、t−ブチルトリ
メトキシシラン、t−ブチルトリエトキシシラン、t−
ブチルトリ−n−プロポキシシラン、t−ブチルトリ−
iso−プロポキシシラン、t−ブチルトリ−n−ブト
キシシラン、t−ブチルトリ−sec−ブトキシシラ
ン、t−ブチルトリ−tert−ブトキシシラン、t−
ブチルトリフェノキシシラン、フェニルトリメトキシシ
ラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルトリ−n
−プロポキシシラン、フェニルトリ−iso−プロポキ
シシラン、フェニルトリ−n−ブトキシシラン、フェニ
ルトリ−sec−ブトキシシラン、フェニルトリ−te
rt−ブトキシシラン、フェニルトリフェノキシシラ
ン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシ
ラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−ア
ミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプ
ロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピル
トリエトキシシラン、γ−トリフロロプロピルトリメト
キシシラン、γ−トリフロロプロピルトリエトキシシラ
ンなど;ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキ
シシラン、ジメチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジメ
チル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジメチル−ジ−
n−ブトキシシラン、ジメチル−ジ−sec−ブトキシ
シラン、ジメチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ
メチルジフェノキシシラン、ジエチルジメトキシシラ
ン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチル−ジ−n−プ
ロポキシシラン、ジエチル−ジ−iso−プロポキシシ
ラン、ジエチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジエチル−
ジ−sec−ブトキシシラン、ジエチル−ジ−tert
−ブトキシシラン、ジエチルジフェノキシシラン、ジ−
n−プロピルジメトキシシラン、ジ−n−プロピルジエ
トキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−プロポキシ
シラン、ジ−n−プロピル−ジ−iso−プロポキシシ
ラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ
−n−プロピル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n
−プロピル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−
プロピル−ジ−フェノキシシラン、ジ−iso−プロピ
ルジメトキシシラン、ジ−iso−プロピルジエトキシ
シラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−プロポキシシ
ラン、ジ−iso−プロピル−ジ−iso−プロポキシ
シラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−ブトキシシラ
ン、ジ−iso−プロピル−ジ−sec−ブトキシシラ
ン、ジ−iso−プロピル−ジ−tert−ブトキシシ
ラン、ジ−iso−プロピル−ジ−フェノキシシラン、
ジ−n−ブチルジメトキシシラン、ジ−n−ブチルジエ
トキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−プロポキシシ
ラン、ジ−n−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラ
ン、ジ−n−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−n
−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n−ブチ
ル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−ブチル−
ジ−フェノキシシラン、ジ−sec−ブチルジメトキシ
シラン、ジ−sec−ブチルジエトキシシラン、ジ−s
ec−ブチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−sec
−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−sec
−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチ
ル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチル
−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチル
−ジ−フェノキシシラン、ジ−tert−ブチルジメト
キシシラン、ジ−tert−ブチルジエトキシシラン、
ジ−tert−ブチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ
−tert−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラン、
ジ−tert−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−
tert−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−
tert−ブチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ
−tert−ブチル−ジ−フェノキシシラン、ジフェニ
ルジメトキシシラン、ジフェニル−ジ−エトキシシラ
ン、ジフェニル−ジ−n−プロポキシシラン、ジフェニ
ル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジフェニル−ジ−
n−ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−sec−ブトキ
シシラン、ジフェニル−ジ−tert−ブトキシシラ
ン、ジフェニルジフェノキシシラン、ジビニルトリメト
キシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、
γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシド
キシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプ
ロピルトリエトキシシラン、γ−トリフロロプロピルト
リメトキシシラン、γ−トリフロロプロピルトリエトキ
シシランなど;を挙げることができる。好ましくは、テ
トラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−
n−プロポキシシラン、テトラ−iso−プロポキシシ
ラン、テトラフェノキシシラン、メチルトリメトキシシ
ラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリ−n−プ
ロポキシシラン、メチルトリ−iso−プロポキシシラ
ン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシ
ラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシ
シラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエ
トキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジ
エトキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチル
ジエトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフ
ェニルジエトキシシラン、トリメチルモノメトキシシラ
ン、トリメチルモノエトキシシラン、トリエチルモノメ
トキシシラン、トリエチルモノエトキシシラン、トリフ
ェニルモノメトキシシラン、トリフェニルモノエトキシ
シランであり、特に好ましくはテトラメトキシシラン、
テトラエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メ
チルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、
ジメチルジエトキシシランである。これらは、1種ある
いは2種以上を同時に使用してもよい。
【0014】(B−2)成分 上記一般式(3)において、1価の有機基としては、先
の一般式(2)と同様な有機基を挙げることができる。
また、一般式(3)のR8である2価の有機基として
は、メチレン基、炭素数2〜6のアルキレン基などを挙
げることができる。一般式(3)のうち、R8が酸素原
子の化合物としては、ヘキサメトキシジシロキサン、ヘ
キサエトキシジシロキサン、ヘキサフェノキシジシロキ
サン、1,1,1,3,3−ペンタメトキシ−3−メチ
ルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタエトキシ
−3−メチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペン
タメトキシ−3−フェニルジシロキサン、1,1,1,
3,3−ペンタエトキシ−3−フェニルジシロキサン、
1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジメチルジ
シロキサン、1,1,3,3−テトラエトキシ−1,3
−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラメト
キシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,1,3,
3−テトラエトキシ−1,3−ジフェニルジシロキサ
ン、1,1,3−トリメトキシ−1,3,3−トリメチ
ルジシロキサン、1,1,3−トリエトキシ−1,3,
3−トリメチルジシロキサン、1,1,3−トリメトキ
シ−1,3,3−トリフェニルジシロキサン、1,1,
3−トリエトキシ−1,3,3−トリフェニルジシロキ
サン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラメ
チルジシロキサン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,
3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−
1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサン、1,3
−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシロ
キサンなどを挙げることができる。これらのうち、ヘキ
サメトキシジシロキサン、ヘキサエトキシジシロキサ
ン、1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジメチ
ルジシロキサン、1,1,3,3−テトラエトキシ−
1,3−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テト
ラメトキシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,3
−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキ
サン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラメ
チルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,
3−テトラフェニルジシロキサン、1,3−ジエトキシ
−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサンなど
を、好ましい例として挙げることができる。一般式
(3)においてdが0の化合物としては、ヘキサメトキ
シジシラン、ヘキサエトキシジシラン、ヘキサフェニキ
シジシラン、1,1,1,2,2−ペンタメトキシ−2
−メチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタエトキ
シ−2−メチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタ
メトキシ−2−フェニルジシラン、1,1,1,2,2
−ペンタエトキシ−2−フェニルジシラン、1,1,
2,2−テトラメトキシ−1,2−ジメチルジシラン、
1,1,2,2−テトラエトキシ−1,2−ジメチルジ
シラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2−ジ
フェニルジシラン、1,1,2,2−テトラエトキシ−
1,2−ジフェニルジシラン、1,1,2−トリメトキ
シ−1,2,2−トリメチルジシラン、1,1,2−ト
リエトキシ−1,2,2−トリメチルジシラン、1,
1,2−トリメトキシ−1,2,2−トリフェニルジシ
ラン、1,1,2−トリエトキシ−1,2,2−トリフ
ェニルジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2
−テトラメチルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,
1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2−ジメトキ
シ−1,1,2,2−テトラフェニルジシラン、1,2
−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラフェニルジシラ
ンなどを、一般式(3)においてR8が−(CH2n
で表される基の化合物としては、ビス(ヘキサメトキシ
シリル)メタン、ビス(ヘキサエトキシシリル)メタ
ン、ビス(ヘキサフェノキシシリル)メタン、ビス(ジ
メトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジエトキシメチ
ルシリル)メタン、ビス(ジメトキシフェニルシリル)
メタン、ビス(ジエトキシフェニルシリル)メタン、ビ
ス(メトキシジメチルシリル)メタン、ビス(エトキシ
ジメチルシリル)メタン、ビス(メトキシジフェニルシ
リル)メタン、ビス(エトキシジフェニルシリル)メタ
ン、ビス(ヘキサメトキシシリル)エタン、ビス(ヘキ
サエトキシシリル)エタン、ビス(ヘキサフェノキシシ
リル)エタン、ビス(ジメトキシメチルシリル)エタ
ン、ビス(ジエトキシメチルシリル)エタン、ビス(ジ
メトキシフェニルシリル)エタン、ビス(ジエトキシフ
ェニルシリル)エタン、ビス(メトキシジメチルシリ
ル)エタン、ビス(エトキシジメチルシリル)エタン、
ビス(メトキシジフェニルシリル)エタン、ビス(エト
キシジフェニルシリル)エタン、1,3−ビス(ヘキサ
メトキシシリル)プロパン、1,3−ビス(ヘキサエト
キシシリル)プロパン、1,3−ビス(ヘキサフェノキ
シシリル)プロパン、1,3−ビス(ジメトキシメチル
シリル)プロパン、1,3−ビス(ジエトキシメチルシ
リル)プロパン、1,3−ビス(ジメトキシフェニルシ
リル)プロパン、1,3−ビス(ジエトキシフェニルシ
リル)プロパン、1,3−ビス(メトキシジメチルシリ
ル)プロパン、1,3−ビス(エトキシジメチルシリ
ル)プロパン、1,3−ビス(メトキシジフェニルシリ
ル)プロパン、1,3−ビス(エトキシジフェニルシリ
ル)プロパンなどを挙げることができる。これらのう
ち、ヘキサメトキシジシラン、ヘキサエトキシジシラ
ン、ヘキサフェニキシジシラン、1,1,2,2−テト
ラメトキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,
2−テトラエトキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,
1,2,2−テトラメトキシ−1,2−ジフェニルジシ
ラン、1,1,2,2−テトラエトキシ−1,2−ジフ
ェニルジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2
−テトラメチルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,
1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2−ジメトキ
シ−1,1,2,2−テトラフェニルジシラン、1,2
−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラフェニルジシラ
ン、ビス(ヘキサメトキシシリル)メタン、ビス(ヘキ
サエトキシシリル)メタン、ビス(ジメトキシメチルシ
リル)メタン、ビス(ジエトキシメチルシリル)メタ
ン、ビス(ジメトキシフェニルシリル)メタン、ビス
(ジエトキシフェニルシリル)メタン、ビス(メトキシ
ジメチルシリル)メタン、ビス(エトキシジメチルシリ
ル)メタン、ビス(メトキシジフェニルシリル)メタ
ン、ビス(エトキシジフェニルシリル)メタンを、好ま
しい例として挙げることができる。本発明において、
(B)成分としては、上記(B−1)成分および(B−
2)成分、もしくはいずれか一方を用い、(B−1)成
分および(B−2)成分はそれぞれ2種以上用いること
もできる。
【0015】本発明において、加水分解とは、上記
(A)成分および(B)成分に含まれるR1O−基、R3
O−基、R5O−基、およびR6O−基すべてが加水分解
されている必要はなく、例えば1個だけが加水分解され
ているもの、2個以上が加水分解されているもの、ある
いは、これらの混合物が生成することである。本発明に
おいて縮合とは(A)成分および(B)成分の加水分解
物のシラノール基が縮合してSi−O−Si結合を形成
したものであるが、本発明では、シラノール基がすべて
縮合している必要はなく、僅かな一部のシラノール基が
縮合したもの、縮合の程度が異なっているものの混合物
などをも生成することを包含した概念である。なお、
(A)成分および(B)成分の加水分解縮合物の重量平
均分子量は、通常、400〜30,000、好ましくは
400〜20,000程度である。
【0016】また、(A)成分および(B)成分を加水
分解、部分縮合させる際には、(D)下記一般式(4)
で表される金属キレート化合物および有機酸もしくはい
ずれか一方を触媒として使用する。 R9 eM(OR10f-e ・・・・・(5) (R9はキレート剤、Mは金属原子、R10は炭素数2〜
5のアルキル基または炭素数6〜20のアリール基を示
し、fは金属Mの原子価、eは1〜fの整数を表す。) 金属キレート化合物としては、例えば、トリエトキシ・
モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−n−プロ
ポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−
i−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタ
ン、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナー
ト)チタン、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチル
アセトナート)チタン、トリ−t−ブトキシ・モノ(ア
セチルアセトナート)チタン、ジエトキシ・ビス(アセ
チルアセトナート)チタン、ジ−n−プロポキシ・ビス
(アセチルアセトナート)チタン、ジ−i−プロポキシ
・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−n−ブト
キシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−se
c−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、
ジ−t−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタ
ン、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チ
タン、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチルアセト
ナート)チタン、モノ−i−プロポキシ・トリス(アセ
チルアセトナート)チタン、モノ−n−ブトキシ・トリ
ス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−sec−ブ
トキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ
−t−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタ
ン、テトラキス(アセチルアセトナート)チタン、トリ
エトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、ト
リ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)
チタン、トリ−i−プロポキシ・モノ(エチルアセトア
セテート)チタン、トリ−n−ブトキシ・モノ(エチル
アセトアセテート)チタン、トリ−sec−ブトキシ・
モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−t−ブ
トキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、ジエ
トキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−
n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタ
ン、ジ−i−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテー
ト)チタン、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトア
セテート)チタン、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エチ
ルアセトアセテート)チタン、ジ−t−ブトキシ・ビス
(エチルアセトアセテート)チタン、モノエトキシ・ト
リス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−n−プ
ロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、
モノ−i−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテー
ト)チタン、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセ
トアセテート)チタン、モノ−sec−ブトキシ・トリ
ス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−t−ブト
キシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、テト
ラキス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ(アセ
チルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテート)
チタン、ビス(アセチルアセトナート)ビス(エチルア
セトアセテート)チタン、トリス(アセチルアセトナー
ト)モノ(エチルアセトアセテート)チタンなどのチタ
ンキレート化合物;トリエトキシ・モノ(アセチルアセ
トナート)ジルコニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ
(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−i−プ
ロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウ
ム、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナー
ト)ジルコニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(ア
セチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−t−ブトキ
シ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジエ
トキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、
ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジ
ルコニウム、ジ−i−プロポキシ・ビス(アセチルアセ
トナート)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(ア
セチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−sec−ブト
キシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ
−t−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコ
ニウム、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナー
ト)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(ア
セチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−i−プロポ
キシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、
モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)
ジルコニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセ
チルアセトナート)ジルコニウム、モノ−t−ブトキシ
・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、テト
ラキス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリエ
トキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウ
ム、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテ
ート)ジルコニウム、トリ−i−プロポキシ・モノ(エ
チルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−n−ブト
キシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、
トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテー
ト)ジルコニウム、トリ−t−ブトキシ・モノ(エチル
アセトアセテート)ジルコニウム、ジエトキシ・ビス
(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−プ
ロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウ
ム、ジ−i−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテー
ト)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルア
セトアセテート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ
・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−
t−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコ
ニウム、モノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテー
ト)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(エ
チルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−i−プロ
ポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウ
ム、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテ
ート)ジルコニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス
(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−t−
ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニ
ウム、テトラキス(エチルアセトアセテート)ジルコニ
ウム、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルア
セトアセテート)ジルコニウム、ビス(アセチルアセト
ナート)ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウ
ム、トリス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセ
トアセテート)ジルコニウムなどのジルコニウムキレー
ト化合物;トリス(アセチルアセトナート)アルミニウ
ム、トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウムな
どのアルミニウムキレート化合物;などを挙げることが
できる。これらの中で、チタンキレート化合物が特に好
ましい。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用し
てもよい。
【0017】有機酸としては、例えば酢酸、プロピオン
酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、
オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン
酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没食子
酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、ミキミ酸、2−
エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リノー
ル酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−アミ
ノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホ
ン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢
酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、
フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、無水マレイン
酸、フマル酸、イタコン酸、コハク酸、メサコン酸、シ
トラコン酸、リンゴ酸、グルタル酸の加水分解物、無水
マレイン酸の加水分解物、無水フタル酸の加水分解物等
を挙げることができる。これらの中で、カルボキシル基
を有する化合物が好ましく、酢酸、シュウ酸、マレイン
酸、ギ酸、マロン酸、フタル酸、フマル酸、イタコン
酸、コハク酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、
マロン酸、グルタル酸、無水マレイン酸の加水分解物が
特に好ましい。これらは1種あるいは2種以上を同時に
使用しても良い。
【0018】触媒の使用量は、(A)成分と(B)成分
の全量100重量部(完全加水分解縮合物)に対して、
0.0001重量部〜10重量部、好ましくは0.00
1重量部〜5重量部である。触媒の使用割合が0.00
01重量部未満であると、塗膜の塗布性に劣り、10重
量部を超えると塗膜のクラック耐性が低下することがあ
る。また、触媒は、前記溶剤中に予め添加しておいても
よいし、水添加時に水中に溶解あるいは分散させておい
てもよい。
【0019】(C)成分 本発明の(C)成分は下記一般式(4)で表される溶剤
である。 R11O(CHCH3CH2O)g12 ・・・・・(4) (R11およびR12は、それぞれ独立して水素原子、炭素
数1〜4のアルキル基またはCH3CO−から選ばれる
1価の有機基を示し、gは1〜2の整数を表す。) かかる溶剤としては、プロピレングリコールモノメチル
エーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、
プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレ
ングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコー
ルジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエ
ーテル、プロピレングリコールジプロピルエーテル、プ
ロピレングリコールジブチルエーテル、ジプロピレング
リコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコール
モノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノプロ
ピルエーテル、ジプロピレングリコールモノブチルエー
テル、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプ
ロピレングリコールジエチルエーテル、ジプロピレング
リコールジプロピルエーテル、ジプロピレングリコール
ジブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエ
ーテルアセテート、プロピレングリコールモノプロピル
エーテルアセテート、プロピレングリコールモノブチル
エーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノメチ
ルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノエ
チルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノ
プロピルエーテルアセテート、ジプロピレングリコール
モノブチルエーテルアセテート、プロピレングリコール
ジアセテート、ジプロピレングリコールジアセテートな
どが挙げられ、特にプロピレングリコールモノメチルエ
ーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プ
ロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレン
グリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコール
ジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエー
テル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテ
ート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテ
ート、プロピレングリコールモノプロピルエーテルアセ
テートが好ましい。これらは1種または2種以上を同時
に使用することができる。
【0020】本発明の組成物は、(A)成分と(B)成
分を溶剤に溶解し、(D)成分と水を添加して(A)成
分と(B)成分の加水分解を行うにより製造する。上記
(A)成分と(B)成分を加水分解、縮合させる際に、
(A)成分と(B)成分中のアルコキシル基1モルに対
して0.8〜2.5モルの水を用いることが好ましく、
0.8〜2モルの水を加えることが特に好ましい。添加
する水の量が0.8モル未満であると塗膜のクラック耐
性が劣り、2.5モルを超えると塗膜の塗布均一性が劣
る場合がある。さらに、水は断続的あるいは連続的に添
加されることが好ましい。本発明において、(A)成分
と(B)成分を加水分解するときの温度は通常0〜10
0℃、好ましくは15〜80℃である。本発明の膜形成
用組成物の全固形分濃度は、好ましくは、2〜30重量
%であり、使用目的に応じて適宜調整される。組成物の
全固形分濃度が2〜30重量%であると、塗膜の膜厚が
適当な範囲となり、保存安定性もより優れるものであ
る。
【0021】本発明の膜形成用組成物は、さらに下記の
有機溶剤を溶剤の50重量%以下含有していてもよい。
本発明に使用する有機溶剤としては、例えば、n−ペン
タン、i−ペンタン、n−ヘキサン、i−ヘキサン、n
−ヘプタン、i−ヘプタン、2,2,4−トリメチルペ
ンタン、n−オクタン、i−オクタン、シクロヘキサ
ン、メチルシクロヘキサンなどの脂肪族炭化水素系溶
媒;ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、
トリメチルベンゼン、メチルエチルベンゼン、n−プロ
ピルベンセン、i−プロピルベンセン、ジエチルベンゼ
ン、i−ブチルベンゼン、トリエチルベンゼン、ジ−i
−プロピルベンセン、n−アミルナフタレン、トリメチ
ルベンゼンなどの芳香族炭化水素系溶媒;アセトン、メ
チルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチ
ル−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−
ブチルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−
n−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−
i−ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロヘキサ
ノン、2−ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,
4−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、ジアセトン
アルコール、アセトフェノン、フェンチョンなどのケト
ン系溶媒;エチルエーテル、i−プロピルエーテル、n
−ブチルエーテル、n−ヘキシルエーテル、2−エチル
ヘキシルエーテル、エチレンオキシド、1,2−プロピ
レンオキシド、ジオキソラン、4−メチルジオキソラ
ン、ジオキサン、ジメチルジオキサン、エチレングリコ
ールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチ
ルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エ
チレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、エチレン
グリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エチレングリ
コールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ
−2−エチルブチルエーテル、エチレングリコールジブ
チルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテ
ル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチ
レングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコー
ルモノ−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールジ
−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n
−ヘキシルエーテル、エトキシトリグリコール、テトラ
エチレングリコールジ−n−ブチルエーテル、トリプロ
ピレングリコールモノメチルエーテル、テトラヒドロフ
ラン、2−メチルテトラヒドロフランなどのエーテル系
溶媒;ジエチルカーボネート、酢酸メチル、酢酸エチ
ル、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、酢酸n
−プロピル、酢酸i−プロピル、酢酸n−ブチル、酢酸
i−ブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸n−ペンチル、
酢酸sec−ペンチル、酢酸3−メトキシブチル、酢酸
メチルペンチル、酢酸2−エチルブチル、酢酸2−エチ
ルヘキシル、酢酸ベンジル、酢酸シクロヘキシル、酢酸
メチルシクロヘキシル、酢酸n−ノニル、アセト酢酸メ
チル、アセト酢酸エチル、酢酸エチレングリコールモノ
メチルエーテル、酢酸エチレングリコールモノエチルエ
ーテル、酢酸ジエチレングリコールモノメチルエーテ
ル、酢酸ジエチレングリコールモノエチルエーテル、酢
酸ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、酢
酸メトキシトリグリコール、プロピオン酸エチル、プロ
ピオン酸n−ブチル、プロピオン酸i−アミル、シュウ
酸ジエチル、シュウ酸ジ−n−ブチル、乳酸メチル、乳
酸エチル、乳酸n−ブチル、乳酸n−アミル、マロン酸
ジエチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジエチルなどの
エステル系溶媒;N−メチルホルムアミド、N,N−ジ
メチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、
アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメ
チルアセトアミド、N−メチルプロピオンアミド、N−
メチルピロリドンなどの含窒素系溶媒;硫化ジメチル、
硫化ジエチル、チオフェン、テトラヒドロチオフェン、
ジメチルスルホキシド、スルホラン、1,3−プロパン
スルトンなどの含硫黄系溶媒などを挙げることができ
る。これらは、1種あるいは2種以上を混合して使用す
ることができる。本発明の膜形成用組成物は、さらに下
記のような成分を含有してもよい。
【0022】その他の添加剤 本発明で得られる膜形成用組成物には、さらにコロイド
状シリカ、コロイド状アルミナ、有機ポリマー、界面活
性剤、シランカップリング剤、ラジカル発生剤、トリア
ゼン化合物などの成分を添加してもよい。コロイド状シ
リカとは、例えば、高純度の無水ケイ酸を前記親水性有
機溶媒に分散した分散液であり、通常、平均粒径が5〜
30μm、好ましくは10〜20μm、固形分濃度が1
0〜40重量%程度のものである。このような、コロイ
ド状シリカとしては、例えば、日産化学工業(株)製、
メタノールシリカゾルおよびイソプロパノールシリカゾ
ル;触媒化成工業(株)製、オスカルなどが挙げられ
る。コロイド状アルミナとしては、日産化学工業(株)
製のアルミナゾル520、同100、同200;川研フ
ァインケミカル(株)製のアルミナクリアーゾル、アル
ミナゾル10、同132などが挙げられる。有機ポリマ
ーとしては、例えば、糖鎖構造を有する化合物、ビニル
アミド系重合体、(メタ)アクリル系重合体、芳香族ビ
ニル化合物、デンドリマー、ポリイミド,ポリアミック
酸、ポリアリーレン、ポリアミド、ポリキノキサリン、
ポリオキサジアゾール、フッ素系重合体、ポリアルキレ
ンオキサイド構造を有する化合物などを挙げることがで
きる。
【0023】ポリアルキレンオキサイド構造を有する化
合物としては、ポリメチレンオキサイド構造、ポリエチ
レンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構造、
ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレンオキ
シド構造などが挙げられる。具体的には、ポリオキシメ
チレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキル
エーテル、ポリオキシエテチレンアルキルフェニルエー
テル、ポリオキシエチレンステロールエーテル、ポリオ
キシエチレンラノリン誘導体、アルキルフェノールホル
マリン縮合物の酸化エチレン誘導体、ポリオキシエチレ
ンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキ
シエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテルなど
のエーテル型化合物、ポリオキシエチレングリセリン脂
肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エ
ステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステ
ル、ポリオキシエチレン脂肪酸アルカノールアミド硫酸
塩などのエーテルエステル型化合物、ポリエチレングリ
コール脂肪酸エステル、エチレングリコール脂肪酸エス
テル、脂肪酸モノグリセリド、ポリグリセリン脂肪酸エ
ステル、ソルビタン脂肪酸エステル、プロピレングリコ
ール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステルなどのエー
テルエステル型化合物などを挙げることができる。ポリ
オキシチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー
としては下記のようなブロック構造を有する化合物が挙
げられる。 −(A)j−(B)k− −(A)j−(B)k−(A)l- (式中、Aは−CH2CH2O−で表される基を、Bは−
CH2CH(CH3)O−で表される基を示し、jは1〜
90、kは10〜99、lは0〜90の数を示す) これらの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、
ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポ
リマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアル
キルエーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エ
ステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステ
ル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、
などのエーテル型化合物をより好ましい例として挙げる
ことができる。これらは1種あるいは2種以上を同時に
使用しても良い。
【0024】界面活性剤としては、例えば、ノニオン系
界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活
性剤、両性界面活性剤などが挙げられ、さらには、フッ
素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキ
レンオキシド系界面活性剤、ポリ(メタ)アクリレート
系界面活性剤などを挙げることができ、好ましくはフッ
素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤を挙げること
ができる。
【0025】フッ素系界面活性剤としては、例えば1,
1,2,2−テトラフロロオクチル(1,1,2,2−
テトラフロロプロピル)エーテル、1,1,2,2−テ
トラフロロオクチルヘキシルエーテル、オクタエチレン
グリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)
エーテル、ヘキサエチレングリコール(1,1,2,
2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、オクタ
プロピレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロ
ロブチル)エーテル、ヘキサプロピレングリコールジ
(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エ
ーテル、パーフロロドデシルスルホン酸ナトリウム、
1,1,2,2,8,8,9,9,10,10−デカフ
ロロドデカン、1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロ
デカン、N−[3−(パーフルオロオクタンスルホンア
ミド)プロピル]-N,N‘−ジメチル−N−カルボキ
シメチレンアンモニウムベタイン、パーフルオロアルキ
ルスルホンアミドプロピルトリメチルアンモニウム塩、
パーフルオロアルキル−N−エチルスルホニルグリシン
塩、リン酸ビス(N−パーフルオロオクチルスルホニル
−N−エチルアミノエチル)、モノパーフルオロアルキ
ルエチルリン酸エステル等の末端、主鎖および側鎖の少
なくとも何れかの部位にフルオロアルキルまたはフルオ
ロアルキレン基を有する化合物からなるフッ素系界面活
性剤を挙げることができる。また、市販品としてはメガ
ファックF142D、同F172、同F173、同F1
83(以上、大日本インキ化学工業(株)製)、エフト
ップEF301、同303、同352(新秋田化成
(株)製)、フロラードFC−430、同FC−431
(住友スリーエム(株)製)、アサヒガードAG71
0、サーフロンS−382、同SC−101、同SC−
102、同SC−103、同SC−104、同SC−1
05、同SC−106(旭硝子(株)製)、BM−10
00、BM−1100(裕商(株)製)、NBX−15
((株)ネオス)などの名称で市販されているフッ素系
界面活性剤を挙げることができる。これらの中でも、上
記メガファックF172,BM−1000,BM−11
00,NBX−15が特に好ましい。
【0026】シリコーン系界面活性剤としては、例えば
SH7PA、SH21PA、SH30PA、ST94P
A(いずれも東レ・ダウコーニング・シリコーン(株)
製などを用いることが出来る。これらの中でも、上記S
H28PA、SH30PAに相当する下記一般式(6)
で表される重合体が特に好ましい。
【0027】一般式(6)
【式1】 (式中、Rは水素原子または炭素数1〜5のアルキル基
であり、zは1〜20の整数であり、x、yはそれぞれ
独立に2〜100の整数である。)
【0028】界面活性剤の使用量は、(A)成分と
(B)成分の総量100重量部(完全加水分解縮合物)
に対して通常0.0001〜10重量部である。これら
は1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0029】シランカップリング剤としては、例えば3
−グリシジロキシプロピルトリメトキシシラン、3−ア
ミノグリシジロキシプロピルトリエトキシシラン、3−
メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリ
シジロキシプロピルメチルジメトキシシラン、1−メタ
クリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミ
ノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルト
リエトキシシラン、2−アミノプロピルトリメトキシシ
ラン、2−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−
(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキ
シシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロ
ピルメチルジメトキシシラン、3−ウレイドプロピルト
リメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシ
シラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピル
トリメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−ア
ミノプロピルトリエトキシシラン、N−トリエトキシシ
リルプロピルトリエチレントリアミン、N−トリエトキ
シシリルプロピルトリエチレントリアミン、10−トリ
メトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、10−
トリエトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、9
−トリメトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテー
ト、9−トリエトキシシリル−3,6−ジアザノニルア
セテート、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリメト
キシシラン、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリエ
トキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリ
メトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルト
リエトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−
アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ビス(オキシ
エチレン)−3−アミノプロピルトリエトキシシランな
どが挙げられる。これらは1種あるいは2種以上を同時
に使用しても良い。
【0030】ラジカル発生剤としては、例えばイソブチ
リルパーオキサイド、α、α’ビス(ネオデカノイルパ
ーオキシ)ジイソプロピルベンゼン、クミルパーオキシ
ネオデカノエート、ジ−nプロピルパーオキシジカーボ
ネート、ジイソプロピルパーオキシジカーボネート、
1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシネオデ
カノエート、ビス(4−t−ブチルシクロヘキシル)パ
ーオキシジカーボネート、1−シクロヘキシル−1−メ
チルエチルパーオキシネオデカノエート、ジ−2−エト
キシエチルパーオキシジカーボネート、ジ(2−エチル
ヘキシルパーオキシ)ジカーボネート、t−ヘキシルパ
ーオキシネオデカノエート、ジメトキブチルパーオキシ
ジカーボネート、ジ(3−メチル−3−メトキシブチル
パーオキシ)ジカーボネート、t−ブチルパーオキシネ
オデカノエート、2,4−ジクロロベンゾイルパーオキ
サイド、t−ヘキシルパーオキシピバレート、t−ブチ
ルパーオキシピバレート、3,5,5−トリメチルヘキ
サノイルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイ
ド、ラウロイルパーオキサイド、ステアロイルパーオキ
サイド、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキ
シ2−エチルヘキサノエート、スクシニックパーオキサ
イド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(2−エチルヘキ
サノイルパーオキシ)ヘキサン、1−シクロヘキシル−
1−メチルエチルパーオキシ2−エチルヘキサノエー
ト、t−ヘキシルパーオキシ2−エチルヘキサノエー
ト、t−ブチルパーオキシ2−エチルヘキサノエート、
m−トルオイルアンドベンゾイルパーオキサイド、ベン
ゾイルパーオキサイド、t−ブチルパーオキシイソブチ
レート、ジ−t−ブチルパーオキシ−2−メチルシクロ
ヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)−
3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス
(t−ヘキシルパーオキシ)シクロヘキサン、1,1−
ビス(t−ブチルパーオキシ)−3,3,5−トリメチ
ルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキ
シ)シクロヘキサン、2,2−ビス(4,4−ジ−t−
ブチルパーオキシシクロヘキシル)プロパン、1,1−
ビス(t−ブチルパーオキシ)シクロデカン、t−ヘキ
シルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブ
チルパーオキシマレイン酸、t−ブチルパーオキシ−
3,3,5−トリメチルヘキサノエート、t−ブチルパ
ーオキシラウレート、2,5−ジメチル−2,5−ジ
(m−トルオイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパ
ーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパ
ーオキシ2−エチルヘキシルモノカーボネート、t−ヘ
キシルパーオキシベンゾエート、2,5−ジメチル−
2,5−ジ(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブ
チルパーオキシアセテート、2,2−ビス(t−ブチル
パーオキシ)ブタン、t−ブチルパーオキシベンゾエー
ト、n−ブチル−4,4−ビス(t−ブチルパーオキ
シ)バレレート、ジ−t−ブチルパーオキシイソフタレ
ート、α、α’ビス(t−ブチルパーオキシ)ジイソプ
ロピルベンゼン、ジクミルパーオキサイド、2,5−ジ
メチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキサ
ン、t−ブチルクミルパーオキサイド、ジ−t−ブチル
パーオキサイド、p−メンタンヒドロパーオキサイド、
2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキ
シ)ヘキシン−3、ジイソプロピルベンゼンヒドロパー
オキサイド、t−ブチルトリメチルシリルパーオキサイ
ド、1,1,3,3−テトラメチルブチルヒドロパーオ
キサイド、クメンヒドロパーオキサイド、t−ヘキシル
ヒドロパーオキサイド、t−ブチルヒドロパーオキサイ
ド、2,3−ジメチル−2,3−ジフェニルブタン等を
挙げることができる。
【0031】ラジカル発生剤の配合量は、重合体100
重量部に対し、0.1〜10重量部が好ましい。これら
は1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0032】トリアゼン化合物としては、例えば、1,
2−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、
1,3−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼ
ン、1,4−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベ
ンゼン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニ
ル)エーテル、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフ
ェニル)メタン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル
フェニル)スルホン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼ
ニルフェニル)スルフィド、2,2−ビス〔4−(3,
3−ジメチルトリアゼニルフェノキシ)フェニル〕−
1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、
2,2−ビス〔4−(3,3−ジメチルトリアゼニルフ
ェノキシ)フェニル〕プロパン、1,3,5−トリス
(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、2,7−
ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス
[4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フ
ルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニ
ル)−9,9−ビス[3−メチル−4−(3,3−ジメ
チルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビ
ス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス
[3−フェニル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニ
ル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジ
メチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−プロペニル
−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フ
ルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニ
ル)−9,9−ビス[3−フルオロ−4−(3,3−ジ
メチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−
ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス
[3,5−ジフルオロ−4−(3,3−ジメチルトリア
ゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3
−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−トリフ
ルオロメチル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)
フェニル]フルオレンなどが挙げられる。これらは1種
あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0033】本発明において、膜形成用組成物中の沸点
100℃以下のアルコールの含量が、20重量%以下、
特に5重量%以下であることが好ましい。沸点100℃
以下のアルコールは、上記(A)成分ならびに(B)成
分の加水分解および/またはその縮合の際に生じる場合
があり、その含量が20重量%以下、好ましくは5重量
%以下になるように蒸留などにより除去することが好ま
しい。
【0034】本発明の組成物を、シリコンウエハ、Si
2ウエハ、SiNウエハなどの基材に塗布する際に
は、スピンコート、浸漬法、ロールコート法、スプレー
法などの塗装手段が用いられる。この際の膜厚は、乾燥
膜厚として、1回塗りで厚さ0.05〜2.5μm程
度、2回塗りでは厚さ0.1〜5.0μm程度の塗膜を
形成することができる。その後、常温で乾燥するか、あ
るいは80〜600℃程度の温度で、通常、5〜240
分程度加熱して乾燥することにより、ガラス質または巨
大高分子の絶縁膜を形成することができる。この際の加
熱方法としては、ホットプレート、オーブン、ファーネ
スなどを使用することが出来、加熱雰囲気としては、大
気下、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気、真空下、酸素濃度
をコントロールした減圧下などで行うことができる。ま
た、電子線や紫外線を照射することによっても塗膜を形
成させることができる。
【0035】このようにして得られる層間絶縁膜は、塗
膜の機械的特性やクラック耐性やTaNとの密着性に優
れ、かつ低い比誘電率を示すことから、LSI、システ
ムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−R
DRAMなどの半導体素子用層間絶縁膜、半導体素子の
表面コート膜などの保護膜、多層レジストを用いた半導
体作製工程の中間層、多層配線基板の層間絶縁膜、液晶
表示素子用の保護膜や絶縁膜などの用途に有用である。
【0036】
【実施例】以下、実施例を挙げて、本発明をさらに具体
的に説明する。なお、実施例および比較例中の部および
%は、特記しない限り、それぞれ重量部および重量%で
あることを示している。また、実施例中における膜形成
用組成物の評価は、次のようにして測定したものであ
る。
【0037】重量平均分子量(Mw) 下記条件によるゲルパーミエーションクロマトグラフィ
ー(GPC)法により測定した。 試料:テトラヒドロフランを溶媒として使用し、加水分
解縮合物1gを、100ccのテトラヒドロフランに溶
解して調製した。 標準ポリスチレン:米国プレッシャーケミカル社製の標
準ポリスチレンを使用した。 装置:米国ウオーターズ社製の高温高速ゲル浸透クロマ
トグラム(モデル150−C ALC/GPC) カラム:昭和電工(株)製のSHODEX A−80M
(長さ50cm) 測定温度:40℃ 流速:1cc/分
【0038】機械的強度(弾性率) 8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて
組成物試料を塗布し、ホットプレート上で90℃で3分
間、窒素雰囲気200℃で3分間基板を乾燥し、さらに
400℃の減圧(30mTorr)の真空オーブンで6
0分基板を焼成した。得られた膜の弾性率は、ナノイン
デンターXP(ナノインスツルメント社製)を用いて、
連続剛性測定法により測定した。
【0039】耐クラック性 8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて
組成物試料を塗布した。この際、硬化後の塗膜の膜厚が
1.2μmになるように膜厚を調整した。この塗膜を、
ホットプレート上で90℃で3分間、窒素雰囲気200
℃で3分間基板を乾燥し、さらに400℃の減圧(30
mTorr)の真空オーブンで60分基板を焼成した。
得られた塗膜の一部をナイフで傷を付け、純水中に1時
間浸漬した。塗膜中のナイフの傷跡を顕微鏡で観察し、
以下の基準で評価した。 ○:クラックの伝播認められない。 ×:クラックの伝播認められる。
【0040】塗膜密着性 8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて
組成物試料を塗布した。この際、硬化後の塗膜の膜厚が
1.5μmになるように膜厚を調整した。この塗膜を、
ホットプレート上で90℃で3分間、窒素雰囲気200
℃で3分間基板を乾燥し、さらに400℃の減圧(30
mTorr)の真空オーブンで60分基板を焼成した。
得られたシリカ系膜上にCVD法でTaN膜を形成し、
その基板上にエポキシ樹脂を用いてスタッドピン10本
を固定し、150℃で1時間乾燥させた。このスタッド
ピンをセバスチャン法を用いて引き抜き試験行い、以下
の基準で密着性を評価した。 ○:スタッドピン10本共塗膜とSiNの界面での剥離
無し ×:塗膜とSiNの界面での剥離発生
【0041】比誘電率 8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて
組成物試料を塗布し、ホットプレート上で90℃で3分
間、窒素雰囲気200℃で3分間基板を乾燥し、さらに
400℃の減圧(30mTorr)の真空オーブンで6
0分基板を焼成した。得られた基板上にアルミニウムを
蒸着し、比誘電率評価用基板を作製した。比誘電率は、
横川・ヒューレットパッカード(株)製のHP1645
1B電極およびHP4284AプレシジョンLCRメー
ター用いて、10kHzにおける容量値から算出した。
【0042】合成例1 石英製セパラブルフラスコ中で、メチルトリメトキシシ
ラン324.40gとトリエトキシシラン123.64
gを、プロピレングリコールモノエチルエーテル298
gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、
溶液温度50℃に安定させた。次に、フタル酸0.20
gを溶解させたイオン交換水254gを1時間かけて溶
液に添加した。その後、50℃で3時間反応させたの
ち、プロピレングリコールモノエチルエーテル502g
を加え反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液から
メタノールとエタノールを含む溶液を502gエバポレ
ーションで除去し、反応液を得た。このようにして得
られた縮合物等の重量平均分子量は、1,700であっ
た。
【0043】合成例2 石英製セパラブルフラスコ中で、テトラメトキシシラン
253.08gとトリエトキシシラン309.08g
を、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト105gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪
拌させ、溶液温度50℃に安定させた。次に、イタコン
酸0.20gを溶解させたイオン交換水332gを1時
間かけて溶液に添加した。その後、50℃で1時間反応
させたのち、プロピレングリコールモノメチルエーテル
アセテート694gを加え反応液を室温まで冷却した。
50℃で反応液からメタノールとエタノールを含む溶液
を694gエバポレーションで除去し、反応液を得
た。このようにして得られた縮合物等の重量平均分子量
は、2,240であった。
【0044】合成例3 石英製セパラブルフラスコ中で、メチルトリメトキシシ
ラン243.30g、テトラメトキシシラン101.2
4g、トリエトキシシラン123.64gとテトラキス
(アセチルアセトナート)チタン0.02gを、ジプロ
ピレングリコールジメチルエーテル254gに溶解させ
たのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度50
℃に安定させた。次に、イオン交換水278gを1時間
かけて溶液に添加した。その後、50℃で3時間反応さ
せたのち、ジプロピレングリコールジメチルエーテル5
46gを加え反応液を室温まで冷却した。50℃で反応
液からメタノールとエタノールを含む溶液を546gエ
バポレーションで除去し、反応液を得た。このように
して得られた縮合物等の重量平均分子量は、7,600
であった。
【0045】合成例4 合成例1において、プロピレングリコールモノエチルエ
ーテルの代わりにジアセトンアルコールを使用した以外
は合成例1と同様にして、重量平均分子量750の反応
液を得た。 合成例5 合成例1において、トリエトキシシランを使用しなかっ
たこと以外は合成例1と同様にして、重量平均分子量
1,200の反応液を得た。 合成例6 合成例1において、フタル酸の代わりに硝酸を使用した
以外は合成例1と同様にして、重量平均分子量650の
反応液を得た。
【0046】実施例1 合成例1で得られた反応液50gにフッ素系界面活性
剤(NBX−15)0.005gを溶解し、0.2μm
孔径のテフロン(登録商標)製フィルターでろ過を行い
本発明の膜形成用組成物を得た。得られた組成物から得
られるシリカ系膜の評価を上記のとおり行ったところ、
弾性率は8.6GPaと機械的強度に優れており、水浸
漬後もクラックの伝搬は認められなかった。また、シリ
カ系膜の比誘電率を評価したところ、2.78と低い比
誘電率を示し、TaNの剥離は生じなかった。
【0047】実施例2〜4 表1に示す組成で膜形成用組成物を作製し、実施例1と
同様に評価を行った。評価結果を表1に併せて示す。
【0048】
【表1】
【0049】比較例1 合成例4で得られた反応液のみを使用した以外は、実
施例1と同様にして評価を行った。比誘電率は2.80と低
い値であったが、塗膜の水浸漬でクラックの伝播認めら
れた。また、塗膜塗膜に多数のピンホールが認められ
た。
【0050】比較例2 合成例5で得られた反応液のみを使用した以外は、実
施例1と同様にして評価を行った。比誘電率は2.74と低
い値であったが、塗膜の水浸漬でクラックの伝播認めら
れた。また、スタッドピンの7本で塗膜とTaNの剥離
が観察された。
【0051】比較例3 合成例6で得られた反応液のみを使用した以外は、実
施例1と同様にして評価を行った。比誘電率は3.09と高
い値であった。また、塗膜の水浸漬でクラックの伝播認
められた。
【0052】
【発明の効果】本発明によれば、特定のアルコキシシラ
ンの加水分解および/またはその縮合を金属キレート化
合物および/または有機酸で行い、かつ特定の溶剤を含
有させることで、塗膜の機械的特性やクラック耐性、密
着性に優れ、低い比誘電率を示す膜形成用組成物(層間
絶縁膜用材料)を提供することが可能である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C08L 83/00 C08L 83/00 C09D 183/02 C09D 183/02 183/14 183/14 185/00 185/00 H01L 21/312 H01L 21/312 C 21/316 21/316 G //(C08L 83/00 (C08L 83/00 83:12 83:12 71:02) 71:02) Fターム(参考) 4J002 CH012 CP021 CP041 CP051 CP182 CP191 CP201 ED026 FD312 FD317 GQ05 4J035 AA03 AB01 BA16 CA021 CA161 EA01 EB02 HA01 HA05 HA06 HB01 HB02 LA02 LB20 4J038 DL021 DL022 DL032 DL041 DL042 DL071 DL072 DL161 DL162 DM022 GA12 GA13 GA14 JA27 JA37 JA38 JA39 JA41 JB01 JC13 JC14 JC22 JC30 KA04 KA06 KA09 MA07 MA10 NA11 NA12 NA21 NA26 PA19 PB09 5F058 AA08 AA10 AC03 AD05 AF04 AG01 AH02

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)下記一般式(1)で表される化合
    物および HSi(OR13 ・・・・・(1) (R1は1価の有機基を示す。) (B)(B−1)下記一般式(2)で表される化合物 R2 aSi(OR34-a ・・・・・(2) (R2はフッ素原子または1価の有機基を示し、R3は1
    価の有機基を示し、aは0〜2の整数を表す。)(B−
    2)下記一般式(3)で表される化合物 R4 b(R5O)3-bSi−(R8d−Si(OR63-c7 c ・・・(3) (R4,R5,R6およびR7は、同一でも異なっていても
    よく、それぞれ1価の有機基を示し、bおよびcは、同
    一でも異なっていてもよく、0〜2の数を示し、R8
    酸素原子または−(CH2n−で表される基を示し、n
    は1〜6を、dは0または1を示す。)からなる群より
    選ばれる少なくとも1種の化合物を加水分解、縮合して
    得られる加水分解縮合物ならびに(C)下記一般式
    (4)で表される溶剤 R11O(CHCH3CH2O)g12 ・・・・・(4) (R11およびR12は、それぞれ独立して水素原子、炭素
    数1〜4のアルキル基またはCH3CO−から選ばれる
    1価の有機基を示し、gは1〜2の整数を表す。)を含
    有することを特徴とする膜形成用組成物。
  2. 【請求項2】 (A)成分および(B)成分が(D)下
    記一般式(5)で表される金属キレート化合物および有
    機酸もしくはいずれか一方の存在下で、加水分解、縮合
    されることを特徴とする請求項1記載の膜形成用組成
    物。 R9 eM(OR10f-e ・・・・・(5) (R9はキレート剤、Mは金属原子、R10はアルキル基
    またはアリール基を示し、fは金属Mの原子価、eは1
    〜fの整数を表す。)
  3. 【請求項3】 ポリアルキレンオキサイド構造を有する
    化合物、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤
    から選ばれる少なくとも1種をさらに含有することを特
    徴とする請求項1記載の膜形成用組成物。
  4. 【請求項4】 請求項1において、(A)成分100重
    量部(完全加水分解縮合物)に対して、(B)成分50
    〜2000重量部(完全加水分解縮合物)であることを
    特徴とする膜形成用組成物。
  5. 【請求項5】 請求項1において、(D)成分がチタン
    キレート化合物、ジルコニウムキレート化合物、アルミ
    ニウムキレート化合物および有機カルボン酸からなる群
    より選ばれる少なくとも1種の化合物であることを特徴
    とする膜形成用組成物。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5いずれかに記載の膜形成用
    組成物からなることを特徴とする絶縁膜形成用材料。
  7. 【請求項7】 請求項1〜5いずれかに記載の膜形成用
    組成物を硬化してなることを特徴とするシリカ系膜。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001187821A (ja) * 1999-10-25 2001-07-10 Dow Corning Corp 良好な溶解性と安定性を有するシリコーン樹脂組成物
JP2004140316A (ja) * 2002-03-20 2004-05-13 Nippon Steel Corp 高温動作電気機器及びその製造方法
JP2004277502A (ja) * 2003-03-13 2004-10-07 Hitachi Chem Co Ltd シリカ系被膜形成用組成物、シリカ系被膜及びその形成方法並びにシリカ系被膜を備える電子部品
JP2006083319A (ja) * 2004-09-17 2006-03-30 Toray Ind Inc コーティング用組成物およびそれを用いた表示装置
JP2008524374A (ja) * 2004-12-17 2008-07-10 ダウ・コーニング・コーポレイション シロキサン樹脂コーティング
US7608928B2 (en) 2004-05-21 2009-10-27 Jsr Corporation Laminated body and semiconductor device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001187821A (ja) * 1999-10-25 2001-07-10 Dow Corning Corp 良好な溶解性と安定性を有するシリコーン樹脂組成物
JP2004140316A (ja) * 2002-03-20 2004-05-13 Nippon Steel Corp 高温動作電気機器及びその製造方法
JP4482283B2 (ja) * 2002-03-20 2010-06-16 新日本製鐵株式会社 高温動作電気機器の製造方法
JP2004277502A (ja) * 2003-03-13 2004-10-07 Hitachi Chem Co Ltd シリカ系被膜形成用組成物、シリカ系被膜及びその形成方法並びにシリカ系被膜を備える電子部品
US7608928B2 (en) 2004-05-21 2009-10-27 Jsr Corporation Laminated body and semiconductor device
JP2006083319A (ja) * 2004-09-17 2006-03-30 Toray Ind Inc コーティング用組成物およびそれを用いた表示装置
JP2008524374A (ja) * 2004-12-17 2008-07-10 ダウ・コーニング・コーポレイション シロキサン樹脂コーティング

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