JP2001320146A - 配線基板及びその製造方法 - Google Patents
配線基板及びその製造方法Info
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- JP2001320146A JP2001320146A JP2000135915A JP2000135915A JP2001320146A JP 2001320146 A JP2001320146 A JP 2001320146A JP 2000135915 A JP2000135915 A JP 2000135915A JP 2000135915 A JP2000135915 A JP 2000135915A JP 2001320146 A JP2001320146 A JP 2001320146A
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- Structure Of Printed Boards (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 配線基板本体内に電子部品を内蔵するにあた
り、確実に電子部品を固定できるようにする。 【解決手段】 配線基板1においては、コンデンサ素子
13を貫通孔21内にて固定するための固定樹脂部4の
内部にファイバー30を設け、これにより固定樹脂部4
を補強するようにしている。このため、固定樹脂部4に
亀裂などが発生する可能性を少なくすることができ、コ
ンデンサ素子13を確実に固定することが可能となる。
り、確実に電子部品を固定できるようにする。 【解決手段】 配線基板1においては、コンデンサ素子
13を貫通孔21内にて固定するための固定樹脂部4の
内部にファイバー30を設け、これにより固定樹脂部4
を補強するようにしている。このため、固定樹脂部4に
亀裂などが発生する可能性を少なくすることができ、コ
ンデンサ素子13を確実に固定することが可能となる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、電子部品を内蔵
した配線基板およびその製造方法に関する。
した配線基板およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、集積回路素子(以下、「IC
チップ」という)が搭載される配線基板には、ICチッ
プのスイッチングノイズの低減や動作電源電圧の安定化
を図るために、コンデンサ素子を配設することが行われ
ている。しかし、コンデンサ素子を配線基板に設ける場
合、ICチップとコンデンサ素子との間の配線長が長い
と、配線自体のインダクタンス成分が増加するなど、上
記目的を十分には図ることが難しくなる。そのため、コ
ンデンサ素子はなるべくICチップの近傍に設けるほう
が望ましい。また、コンデンサ素子に限らず、その他の
電子部品を配線基板に設けるにあたっても、配線長はな
るべく短い方が望ましい。
チップ」という)が搭載される配線基板には、ICチッ
プのスイッチングノイズの低減や動作電源電圧の安定化
を図るために、コンデンサ素子を配設することが行われ
ている。しかし、コンデンサ素子を配線基板に設ける場
合、ICチップとコンデンサ素子との間の配線長が長い
と、配線自体のインダクタンス成分が増加するなど、上
記目的を十分には図ることが難しくなる。そのため、コ
ンデンサ素子はなるべくICチップの近傍に設けるほう
が望ましい。また、コンデンサ素子に限らず、その他の
電子部品を配線基板に設けるにあたっても、配線長はな
るべく短い方が望ましい。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】そこで、発明者らは、
配線基板の支持体となる板状の配線基板本体に電子部品
(即ちコンデンサ素子など)を内蔵することを考えてい
る。具体的には、配線基板本体に電子部品を収容するた
めの収容部(貫通孔或いは凹部など)を設け、その中に
電子部品を配置するのである。この場合、収容部内にお
いて電子部品を固定するには、電子部品の周囲を樹脂で
固めることが考えられるが、硬化した状態の樹脂には適
当な強度が要求される。
配線基板の支持体となる板状の配線基板本体に電子部品
(即ちコンデンサ素子など)を内蔵することを考えてい
る。具体的には、配線基板本体に電子部品を収容するた
めの収容部(貫通孔或いは凹部など)を設け、その中に
電子部品を配置するのである。この場合、収容部内にお
いて電子部品を固定するには、電子部品の周囲を樹脂で
固めることが考えられるが、硬化した状態の樹脂には適
当な強度が要求される。
【0004】本発明は、こうした課題を背景としてなさ
れたものであり、配線基板本体内に電子部品を内蔵する
にあたり、確実に電子部品を固定できるようにすること
を目的とする。
れたものであり、配線基板本体内に電子部品を内蔵する
にあたり、確実に電子部品を固定できるようにすること
を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】上記目的
を達成するためになされた本発明(請求項1記載)の配
線基板においては、電子部品を収容部内にて固定するた
めの樹脂部分(本明細書では「固定樹脂部」という)
に、補強用のファイバーを有している。
を達成するためになされた本発明(請求項1記載)の配
線基板においては、電子部品を収容部内にて固定するた
めの樹脂部分(本明細書では「固定樹脂部」という)
に、補強用のファイバーを有している。
【0006】即ち、電子部品の周囲を樹脂で固めるだけ
では、力(例えば熱応力など)が加えられて固定樹脂部
に亀裂等が発生し、電子部品を確実には固定することが
望めなくなったり、或いは亀裂に何らかの物質(例えば
水蒸気など)が侵入したりすることも考えられ、そうし
た不具合を補うための対策が必要となってしまう。
では、力(例えば熱応力など)が加えられて固定樹脂部
に亀裂等が発生し、電子部品を確実には固定することが
望めなくなったり、或いは亀裂に何らかの物質(例えば
水蒸気など)が侵入したりすることも考えられ、そうし
た不具合を補うための対策が必要となってしまう。
【0007】そこで本発明(請求項1)の配線基板で
は、固定樹脂部を補強するためのファイバーを、固定樹
脂部に設け、これにより固定樹脂部に亀裂が発生したり
する可能性を抑制している。ファイバーは、固定樹脂部
の表面に設けるようにしても良いし、その一部又は全部
が固定樹脂部の内部にあるようにしても良いが、固定樹
脂部の内部に設けた方が、ファイバーと固定樹脂部との
密着度が高く、固定樹脂部をより確実に補強できると考
えられるので好ましい。
は、固定樹脂部を補強するためのファイバーを、固定樹
脂部に設け、これにより固定樹脂部に亀裂が発生したり
する可能性を抑制している。ファイバーは、固定樹脂部
の表面に設けるようにしても良いし、その一部又は全部
が固定樹脂部の内部にあるようにしても良いが、固定樹
脂部の内部に設けた方が、ファイバーと固定樹脂部との
密着度が高く、固定樹脂部をより確実に補強できると考
えられるので好ましい。
【0008】また、ファイバーを固定樹脂部の内部に設
ける場合であっても、様々な態様が考えられる。即ち、
短いファイバーを固定樹脂部中に分散(即ち、散り散り
に配置)させてもよいし、長いファイバーを所定方向
(一方向或いは複数方向)に走らせるようにしてもよ
い。
ける場合であっても、様々な態様が考えられる。即ち、
短いファイバーを固定樹脂部中に分散(即ち、散り散り
に配置)させてもよいし、長いファイバーを所定方向
(一方向或いは複数方向)に走らせるようにしてもよ
い。
【0009】ところで複数の電子部品を配線基板に内蔵
するにあたっては、製造工程をなるべく簡単なものとす
るため、一の収容部に複数の電子部品を配置することに
なるが、その場合、電子部品間においては、その他の部
位と比較して応力が集中しやすくなる可能性がある。
するにあたっては、製造工程をなるべく簡単なものとす
るため、一の収容部に複数の電子部品を配置することに
なるが、その場合、電子部品間においては、その他の部
位と比較して応力が集中しやすくなる可能性がある。
【0010】そこで、請求項2に記載の様に、ファイバ
ーが各電子部品間に位置するようにすると良く、そうす
れば電子部品間において固定樹脂部が割れたり、亀裂を
生じたりする可能性を少なくすることができる。また、
配線基板に形成される配線パターンとの接続を図る上
で、電子部品の間に適当な間隔が形成されることが必要
となる場合があるが、各電子部品間にファイバーがあれ
ば、ファイバーの太さ程度の間隔は容易に確保すること
ができるという効果を奏する。
ーが各電子部品間に位置するようにすると良く、そうす
れば電子部品間において固定樹脂部が割れたり、亀裂を
生じたりする可能性を少なくすることができる。また、
配線基板に形成される配線パターンとの接続を図る上
で、電子部品の間に適当な間隔が形成されることが必要
となる場合があるが、各電子部品間にファイバーがあれ
ば、ファイバーの太さ程度の間隔は容易に確保すること
ができるという効果を奏する。
【0011】そして、より好ましくは、請求項3に記載
の様に、太さが電子部品の間隔と略等しいファイバーを
選択すればよい。即ち、電子部品同士を必要な大きさの
間隔で離すには、その大きさと略等しい太さのファイバ
ーを電子部品間に配置すればよいのである。請求項3の
配線基板によれば、電子部品の位置関係を確実に保持で
きるという効果も得られ、また、電子部品同士の絶縁に
必要な間隔を確実に保つ効果もある。
の様に、太さが電子部品の間隔と略等しいファイバーを
選択すればよい。即ち、電子部品同士を必要な大きさの
間隔で離すには、その大きさと略等しい太さのファイバ
ーを電子部品間に配置すればよいのである。請求項3の
配線基板によれば、電子部品の位置関係を確実に保持で
きるという効果も得られ、また、電子部品同士の絶縁に
必要な間隔を確実に保つ効果もある。
【0012】さて、固定樹脂部の補強を更に確実にする
には、請求項4に記載の様に、ファイバーが縦横に交差
するようにするとよい。そうすれば、多方向からの力に
耐え得るよう固定樹脂部を補強できる。ファイバーを構
成する材料としては、様々考えられる。固定樹脂部を補
強するという観点からは、ファイバーとして導電性材料
および絶縁性材料の何れで構成されたものを採用しても
良いが、導電性材料で構成されたものを採用した場合に
は、短絡を防止するための対策(例えば、導電性材料を
絶縁性材料で被覆したり、電子部品の電極に触れないよ
うファイバーの配置を工夫するなど)が必要となり面倒
である。
には、請求項4に記載の様に、ファイバーが縦横に交差
するようにするとよい。そうすれば、多方向からの力に
耐え得るよう固定樹脂部を補強できる。ファイバーを構
成する材料としては、様々考えられる。固定樹脂部を補
強するという観点からは、ファイバーとして導電性材料
および絶縁性材料の何れで構成されたものを採用しても
良いが、導電性材料で構成されたものを採用した場合に
は、短絡を防止するための対策(例えば、導電性材料を
絶縁性材料で被覆したり、電子部品の電極に触れないよ
うファイバーの配置を工夫するなど)が必要となり面倒
である。
【0013】そこで請求項5に記載の様に、ファイバー
としては絶縁性材料(例えば樹脂、ガラスなど)で形成
されたものを用いると良く、そうすれば、ファイバーに
よる短絡の可能性を抑制できるので好ましい。以上の様
な構成の配線基板を製造する方法としては、様々考えら
れるが、収容部内に複数の電子部品を配置する場合に
は、例えば請求項6に記載の様にすることが考えられ
る。
としては絶縁性材料(例えば樹脂、ガラスなど)で形成
されたものを用いると良く、そうすれば、ファイバーに
よる短絡の可能性を抑制できるので好ましい。以上の様
な構成の配線基板を製造する方法としては、様々考えら
れるが、収容部内に複数の電子部品を配置する場合に
は、例えば請求項6に記載の様にすることが考えられ
る。
【0014】即ち、収容部内に複数の電子部品を配置す
る際には、個々の電子部品が互いに接触しないようにす
べき場合があるが、配線基板本体内に配置するための電
子部品自体小さいものであるから、それらの間の所定の
大きさの間隔を確保するのは容易でない。
る際には、個々の電子部品が互いに接触しないようにす
べき場合があるが、配線基板本体内に配置するための電
子部品自体小さいものであるから、それらの間の所定の
大きさの間隔を確保するのは容易でない。
【0015】そこで請求項6記載の製造方法では、まず
ファイバー配置工程において、格子状(例えば網目状)
に組まれたファイバーを収容部内に配置することによ
り、収容部内を区分する。即ち、電子部品を配置するた
めの複数の区域に区分するのである。そして、電子部品
配置工程においては、上記形成された各区域に電子部品
を配置し、固定工程においては、電子部品が配置された
収容部内に充填樹脂を注入し硬化させる。
ファイバー配置工程において、格子状(例えば網目状)
に組まれたファイバーを収容部内に配置することによ
り、収容部内を区分する。即ち、電子部品を配置するた
めの複数の区域に区分するのである。そして、電子部品
配置工程においては、上記形成された各区域に電子部品
を配置し、固定工程においては、電子部品が配置された
収容部内に充填樹脂を注入し硬化させる。
【0016】つまり、電子部品を配置すべき区域を予め
ファイバーで区切り、その後、個々の電子部品を配置す
ることから、電子部品の間に所定の大きさの間隔を容易
に確保することができる。また、ファイバーがガイドと
して機能し、収容部内における電子部品の位置決めも容
易となる。なお、この場合、ファイバーの太さは、電子
部品間に設けるべき距離(即ち間隔)と略等しければよ
り好ましい。
ファイバーで区切り、その後、個々の電子部品を配置す
ることから、電子部品の間に所定の大きさの間隔を容易
に確保することができる。また、ファイバーがガイドと
して機能し、収容部内における電子部品の位置決めも容
易となる。なお、この場合、ファイバーの太さは、電子
部品間に設けるべき距離(即ち間隔)と略等しければよ
り好ましい。
【0017】なお、本発明の配線基板を製造する方法
は、請求項6記載の方法に限られるものではなく、例え
ば、配線基板本体の収容部内の所定位置(予め定められ
た位置)に電子部品を配置し、その配置した電子部品同
士の間にファイバー(望ましくは格子状に組まれたファ
イバー)を配置し、その後収容部内に充填樹脂を注入し
硬化させるという方法も採ることができる。
は、請求項6記載の方法に限られるものではなく、例え
ば、配線基板本体の収容部内の所定位置(予め定められ
た位置)に電子部品を配置し、その配置した電子部品同
士の間にファイバー(望ましくは格子状に組まれたファ
イバー)を配置し、その後収容部内に充填樹脂を注入し
硬化させるという方法も採ることができる。
【0018】また次の方法も考えられる。格子状に組ま
れたファイバーを型(金型その他の成形用型)に配置す
ることにより、その型内を、電子部品を配置するための
複数の区域に区分し、その各区域に電子部品を配置し、
その電子部品が配置された型内に充填樹脂を注入し硬化
させることにより、電子部品集合体を形成する。そし
て、この電子部品集合体を配線基板本体の収容部内の所
定位置(予め定められた位置)に配置し、その後収容部
内に充填樹脂を注入し硬化させることにより、電子部品
集合体(即ち電子部品)を収容部内において固定すると
いう方法も採ることができる。
れたファイバーを型(金型その他の成形用型)に配置す
ることにより、その型内を、電子部品を配置するための
複数の区域に区分し、その各区域に電子部品を配置し、
その電子部品が配置された型内に充填樹脂を注入し硬化
させることにより、電子部品集合体を形成する。そし
て、この電子部品集合体を配線基板本体の収容部内の所
定位置(予め定められた位置)に配置し、その後収容部
内に充填樹脂を注入し硬化させることにより、電子部品
集合体(即ち電子部品)を収容部内において固定すると
いう方法も採ることができる。
【0019】また、電子部品集合体の形成方法として
は、例えば、型内の所定位置(予め定められた位置)に
電子部品を配置し、その配置した電子部品同士の間にフ
ァイバー(望ましくは格子状に組まれたファイバー)を
配置し、型内に充填樹脂を注入し硬化させるという方法
も採ることができる。
は、例えば、型内の所定位置(予め定められた位置)に
電子部品を配置し、その配置した電子部品同士の間にフ
ァイバー(望ましくは格子状に組まれたファイバー)を
配置し、型内に充填樹脂を注入し硬化させるという方法
も採ることができる。
【0020】なお、ファイバーを格子状に組んだもの
は、収容部内に1層だけ配置しても良いし、同様のもの
を複数重ねて(即ち多層状に)配置しても良い。
は、収容部内に1層だけ配置しても良いし、同様のもの
を複数重ねて(即ち多層状に)配置しても良い。
【0021】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の一実施例を図面
と共に説明する。 (第1実施例)図1は、第1実施例の配線基板1の構成
を示す図である。図1に示すように、この配線基板1
は、配線基板本体3を支持体(支持材、コア材ともい
う)として構成されている。即ち、厚さ0.8mm程
の、ガラス−エポキシ樹脂複合材料製の絶縁性基板であ
る配線基板本体3の表裏の両面(第1主面3a及び第2
主面3b)には、厚さ約25μm程度のCuからなる第
1導体層5a,5bが形成されている。
と共に説明する。 (第1実施例)図1は、第1実施例の配線基板1の構成
を示す図である。図1に示すように、この配線基板1
は、配線基板本体3を支持体(支持材、コア材ともい
う)として構成されている。即ち、厚さ0.8mm程
の、ガラス−エポキシ樹脂複合材料製の絶縁性基板であ
る配線基板本体3の表裏の両面(第1主面3a及び第2
主面3b)には、厚さ約25μm程度のCuからなる第
1導体層5a,5bが形成されている。
【0022】配線基板本体3には、両主面3a,3bの
一方から他方に貫通する貫通孔9の内壁にメッキが施さ
れた直径約250μm程度のスルーホール11が形成さ
れている。このスルーホール11により、第1主面3a
上の第1導体層5aと第2主面3b上の第1導体層5b
とは相互に接続されている。なお、スルーホール11の
内部には樹脂12が充填されている。
一方から他方に貫通する貫通孔9の内壁にメッキが施さ
れた直径約250μm程度のスルーホール11が形成さ
れている。このスルーホール11により、第1主面3a
上の第1導体層5aと第2主面3b上の第1導体層5b
とは相互に接続されている。なお、スルーホール11の
内部には樹脂12が充填されている。
【0023】また、配線基板本体3には電子部品を配置
するための貫通孔21(縦横約12mm×12mm)が
形成されており、その内部には電子部品として複数のコ
ンデンサ素子13(約3.2mm×1.6mm×0.8
mm)が設けられている。即ち、貫通孔21は、請求項
の「収容部」に相当するものである。
するための貫通孔21(縦横約12mm×12mm)が
形成されており、その内部には電子部品として複数のコ
ンデンサ素子13(約3.2mm×1.6mm×0.8
mm)が設けられている。即ち、貫通孔21は、請求項
の「収容部」に相当するものである。
【0024】コンデンサ素子13は、BaTiO3を主
成分とする高誘電体セラミックから成る本体15と、C
uを主成分とする電極端子14と図示しないNiからな
る内部電極から構成されている。貫通孔21の内部にお
いて、コンデンサ素子13は、硬化した充填樹脂からな
る固定樹脂部4により固定されている。このコンデンサ
素子13は、配線基板1に設けられることとなるICチ
ップ16にて発生するスイッチングノイズの抑制や、ま
たICチップ16に供給すべき動作電源電圧の安定化な
どを図るために使用される。
成分とする高誘電体セラミックから成る本体15と、C
uを主成分とする電極端子14と図示しないNiからな
る内部電極から構成されている。貫通孔21の内部にお
いて、コンデンサ素子13は、硬化した充填樹脂からな
る固定樹脂部4により固定されている。このコンデンサ
素子13は、配線基板1に設けられることとなるICチ
ップ16にて発生するスイッチングノイズの抑制や、ま
たICチップ16に供給すべき動作電源電圧の安定化な
どを図るために使用される。
【0025】そして第1導体層5a,5bの上には、シ
リカフィラーを含有するエポキシ樹脂からなる第1層間
絶縁層103a,103b(厚さ約30μm程度)が積
層され、更に、第1層間絶縁層103a,103bの上
には、第2導体層105a,105b(厚さ約15μm
程度。幅約25μm程度)が形成されている。即ち、こ
の第1導体層5a(5b)と第2導体層105a(10
5b)とは、第1層間絶縁層103a(103b)を間
に挟んで積層されている。また第1導体層5a(5b)
と第2導体層105a(105b)とは、第1層間絶縁
層103a(103b)に形成された開口径約50μm
程度のフィルドビア104a(104b)、115a
(115b)により接続されている。
リカフィラーを含有するエポキシ樹脂からなる第1層間
絶縁層103a,103b(厚さ約30μm程度)が積
層され、更に、第1層間絶縁層103a,103bの上
には、第2導体層105a,105b(厚さ約15μm
程度。幅約25μm程度)が形成されている。即ち、こ
の第1導体層5a(5b)と第2導体層105a(10
5b)とは、第1層間絶縁層103a(103b)を間
に挟んで積層されている。また第1導体層5a(5b)
と第2導体層105a(105b)とは、第1層間絶縁
層103a(103b)に形成された開口径約50μm
程度のフィルドビア104a(104b)、115a
(115b)により接続されている。
【0026】第2導体層105a,105bの上には更
に第2層間絶縁層107a,107bが積層されてい
る。この内、第1主面3a側の第2層間絶縁層107a
の上には、破線で示すICチップ16と配線基板1の配
線とを接続するためフリップチップパッド111が多数
形成され、各フリップチップパッド111上には、高温
はんだから成る略半球状のフリップチップバンプ112
が形成されている。なお第1主面3a側の第2層間絶縁
層107a上において、フリップチップパッド111の
周囲には、フリップチップバンプ112の形成時に、フ
リップチップパッド111の周囲に半田が流れ出すのを
防ぐためのソルダレジスト層109a(厚さ約20μm
程度)が形成されている。ソルダレジスト層109a
は、シリカフィラーを含有するエポキシ樹脂で形成され
ている。
に第2層間絶縁層107a,107bが積層されてい
る。この内、第1主面3a側の第2層間絶縁層107a
の上には、破線で示すICチップ16と配線基板1の配
線とを接続するためフリップチップパッド111が多数
形成され、各フリップチップパッド111上には、高温
はんだから成る略半球状のフリップチップバンプ112
が形成されている。なお第1主面3a側の第2層間絶縁
層107a上において、フリップチップパッド111の
周囲には、フリップチップバンプ112の形成時に、フ
リップチップパッド111の周囲に半田が流れ出すのを
防ぐためのソルダレジスト層109a(厚さ約20μm
程度)が形成されている。ソルダレジスト層109a
は、シリカフィラーを含有するエポキシ樹脂で形成され
ている。
【0027】一方、第2主面側の第2層間絶縁層107
bの上には、マザーボードなどの他の配線基板の配線
と、当該配線基板1の配線と接続するためのLGAパッ
ド113が多数形成されている。そして、第2主面3b
側の第2層間絶縁層107b上において、LGAパッド
113の周囲にもソルダレジスト層109bが形成され
ている。
bの上には、マザーボードなどの他の配線基板の配線
と、当該配線基板1の配線と接続するためのLGAパッ
ド113が多数形成されている。そして、第2主面3b
側の第2層間絶縁層107b上において、LGAパッド
113の周囲にもソルダレジスト層109bが形成され
ている。
【0028】なお、第1主面側3aにおいて第2導体層
105aとフリップチップパッド111とは、第2層間
絶縁層107aに形成されたフィルドビア117aによ
り互いに接続されている。そして、第2主面側3bにお
いて、第2導体層105bとLGAパッド113とは、
第2層間絶縁層107bに形成されたフィルドビア11
7bを介して互いに接続されている。この様に層間接続
にフィルドビアを用いることで、コンデンサ素子の電極
端子14とフリップチップパッド111を一直線で結ぶ
ことができる(即ち、スタックトビアを形成できる)。
そのため、ICチップ16とコンデンサ素子13とを短
い距離で結ぶことが可能となり、ループインダクタンス
を低減できるなど、電気的特性の向上を図ることができ
る。
105aとフリップチップパッド111とは、第2層間
絶縁層107aに形成されたフィルドビア117aによ
り互いに接続されている。そして、第2主面側3bにお
いて、第2導体層105bとLGAパッド113とは、
第2層間絶縁層107bに形成されたフィルドビア11
7bを介して互いに接続されている。この様に層間接続
にフィルドビアを用いることで、コンデンサ素子の電極
端子14とフリップチップパッド111を一直線で結ぶ
ことができる(即ち、スタックトビアを形成できる)。
そのため、ICチップ16とコンデンサ素子13とを短
い距離で結ぶことが可能となり、ループインダクタンス
を低減できるなど、電気的特性の向上を図ることができ
る。
【0029】さて、本実施例の配線基板1において、充
填樹脂部4内には、ファイバ30が設けられている。図
2は、図1において、第1主面3a側から配線基板1の
内部の構成を示す模式図であるが、この図2に示す様
に、複数のファイバー30が縦方向及び横方向に延びて
網目状(換言すれば格子状)に組まれており、その個々
の網目にはコンデンサ素子13が配置されている。即ち
ファイバー30は、各コンデンサ素子13の間を縦横に
走っており、互いに交差している。そして、コンデンサ
素子13の間だけでなく、コンデンサ素子13と貫通孔
21の側面との間にもファイバー30が配置されてい
る。ファイバー30は、絶縁性材料としてのナイロン樹
脂で構成されたものであり、コンデンサ素子13の間隔
と略等しい太さを有するものである。また、網目の大き
さは、その中に配置すべきコンデンサ素子13の大きさ
に合わせて適宜設定されたものである。
填樹脂部4内には、ファイバ30が設けられている。図
2は、図1において、第1主面3a側から配線基板1の
内部の構成を示す模式図であるが、この図2に示す様
に、複数のファイバー30が縦方向及び横方向に延びて
網目状(換言すれば格子状)に組まれており、その個々
の網目にはコンデンサ素子13が配置されている。即ち
ファイバー30は、各コンデンサ素子13の間を縦横に
走っており、互いに交差している。そして、コンデンサ
素子13の間だけでなく、コンデンサ素子13と貫通孔
21の側面との間にもファイバー30が配置されてい
る。ファイバー30は、絶縁性材料としてのナイロン樹
脂で構成されたものであり、コンデンサ素子13の間隔
と略等しい太さを有するものである。また、網目の大き
さは、その中に配置すべきコンデンサ素子13の大きさ
に合わせて適宜設定されたものである。
【0030】以上の様な構成の配線基板1の製造方法に
ついて、図3を参照しながら以下に説明する。図3
(a)に示す様に、配線基板本体3としては、予め銅張
積層板の一部として構成されたものを使用すると好まし
い。銅張積層板は、樹脂製の絶縁性基板の両面に銅箔を
載せ、加熱および加圧により、絶縁性基板に銅からなる
導体層20a,20bを積層したものである。なお、配
線基板本体3として、こうした導体層20a,20bが
積層されていない絶縁性基板を使用しても良い。
ついて、図3を参照しながら以下に説明する。図3
(a)に示す様に、配線基板本体3としては、予め銅張
積層板の一部として構成されたものを使用すると好まし
い。銅張積層板は、樹脂製の絶縁性基板の両面に銅箔を
載せ、加熱および加圧により、絶縁性基板に銅からなる
導体層20a,20bを積層したものである。なお、配
線基板本体3として、こうした導体層20a,20bが
積層されていない絶縁性基板を使用しても良い。
【0031】そして、この配線基板本体3に、スルーホ
ール11を構成するための貫通孔9を多数個形成(例え
ばドリルにより)すると共に、コンデンサ素子13を配
置するための貫通孔21を形成(例えばパンチングによ
り)する。貫通孔9や、貫通孔21は、レーザ(C
O2、YAG、エキシマ等)で穿孔することとすれば、
径を小さくすることも可能である。
ール11を構成するための貫通孔9を多数個形成(例え
ばドリルにより)すると共に、コンデンサ素子13を配
置するための貫通孔21を形成(例えばパンチングによ
り)する。貫通孔9や、貫通孔21は、レーザ(C
O2、YAG、エキシマ等)で穿孔することとすれば、
径を小さくすることも可能である。
【0032】次に図3(b)に示す様に、電子部品配設
用の貫通孔21の開口部の一方(第2主面3b側の開口
部21a)を、片面にシリコン系の粘着剤24を有する
ポリイミドからなるシート材23で覆う。その際、粘着
剤24を有する面23aが配線基板本体3側に向けら
れ、シート材23は配線基板本体3(詳しくは導体層2
0b)に張り付けられる。このとき、粘着剤24は、貫
通孔21の内側に露出する。また、配線基板1には多数
の貫通孔21が形成されているが、これらの開口部21
aを1枚のシート材23で覆う。
用の貫通孔21の開口部の一方(第2主面3b側の開口
部21a)を、片面にシリコン系の粘着剤24を有する
ポリイミドからなるシート材23で覆う。その際、粘着
剤24を有する面23aが配線基板本体3側に向けら
れ、シート材23は配線基板本体3(詳しくは導体層2
0b)に張り付けられる。このとき、粘着剤24は、貫
通孔21の内側に露出する。また、配線基板1には多数
の貫通孔21が形成されているが、これらの開口部21
aを1枚のシート材23で覆う。
【0033】また、貫通孔21の内部には、図2に示し
た様に網目状に組まれたファイバー30を配置すること
により、コンデンサ素子13の配置区域を区分する。な
お、貫通孔21の内部へのファイバー30の配置と、シ
ート材23による貫通孔21の閉塞はどちらを先に行っ
ても良い。
た様に網目状に組まれたファイバー30を配置すること
により、コンデンサ素子13の配置区域を区分する。な
お、貫通孔21の内部へのファイバー30の配置と、シ
ート材23による貫通孔21の閉塞はどちらを先に行っ
ても良い。
【0034】さてシート材23で貫通孔21を塞いだ
後、図3(c)に示す様に、コンデンサ素子13を、粘
着剤24を介してシート材23に粘着するよう、貫通孔
21の内部において、ファイバー30の網の目に(例え
ばチップマウンタ等により)配置する。この際、コンデ
ンサ素子13は、その電極端子14の部分にてシート材
23に粘着すると共に、その本体15とシート材23と
の間には充填樹脂28が流入可能な隙間が形成されるよ
う配置される。また、電極端子14は互いに反対方向に
向いている端部14a,14bを備えており、各端部1
4a,14bが夫々第1主面3a側、第2主面3b側に
向けられる。ここでは、第1主面3a方向に向けられる
端部を上側端部14aと称し、第2主面3b側に向けら
れる端部を下側端部14bと称することとする。
後、図3(c)に示す様に、コンデンサ素子13を、粘
着剤24を介してシート材23に粘着するよう、貫通孔
21の内部において、ファイバー30の網の目に(例え
ばチップマウンタ等により)配置する。この際、コンデ
ンサ素子13は、その電極端子14の部分にてシート材
23に粘着すると共に、その本体15とシート材23と
の間には充填樹脂28が流入可能な隙間が形成されるよ
う配置される。また、電極端子14は互いに反対方向に
向いている端部14a,14bを備えており、各端部1
4a,14bが夫々第1主面3a側、第2主面3b側に
向けられる。ここでは、第1主面3a方向に向けられる
端部を上側端部14aと称し、第2主面3b側に向けら
れる端部を下側端部14bと称することとする。
【0035】以上の様にして貫通孔21の内部にコンデ
ンサ素子13を配置した状態とした上で、図3(d)の
様に、貫通孔21の内部に充填樹脂28を注入し、充填
樹脂28を硬化させる。これにより、配線基板本体3の
内部に電子部品としてのコンデンサ素子13が固定され
ることとなる。また、コンデンサ素子13の本体15と
シート材23との間にも、充填樹脂28が充填される。
充填樹脂28を貫通孔21に注入した後、硬化させる前
には、充填樹脂28から真空脱泡により気泡を抜く。
ンサ素子13を配置した状態とした上で、図3(d)の
様に、貫通孔21の内部に充填樹脂28を注入し、充填
樹脂28を硬化させる。これにより、配線基板本体3の
内部に電子部品としてのコンデンサ素子13が固定され
ることとなる。また、コンデンサ素子13の本体15と
シート材23との間にも、充填樹脂28が充填される。
充填樹脂28を貫通孔21に注入した後、硬化させる前
には、充填樹脂28から真空脱泡により気泡を抜く。
【0036】充填樹脂28を硬化させるには、充填樹脂
28の種類に応じて様々な方法が考えられる。本実施例
では充填樹脂28として熱硬化性のエポキシ系樹脂を使
用しており、加熱および乾燥により硬化(所謂キュア)
させる。具体的には、貫通孔21に充填した充填樹脂2
8を、1時間〜3時間程、100℃〜120℃の温度に
保つことによってキュアを行う。
28の種類に応じて様々な方法が考えられる。本実施例
では充填樹脂28として熱硬化性のエポキシ系樹脂を使
用しており、加熱および乾燥により硬化(所謂キュア)
させる。具体的には、貫通孔21に充填した充填樹脂2
8を、1時間〜3時間程、100℃〜120℃の温度に
保つことによってキュアを行う。
【0037】なお、充填樹脂28には、充填樹脂28よ
りも熱膨張係数が小さいフィラー(例えばSiO2等)
を混合しておくと好ましい。こうすることにより、充填
樹脂28とフィラーとの複合体としての固定樹脂部4の
熱膨張係数を精度良くコントロールすることが可能とな
る。その結果、例えば、Cu等にて形成される配線(導
体層)やSi等にて形成されるICチップ16と配線基
板1との間で、熱膨張係数の整合をとり易くなり、配線
基板1上に構成される配線の、熱に対する信頼性を向上
させることができることになる。
りも熱膨張係数が小さいフィラー(例えばSiO2等)
を混合しておくと好ましい。こうすることにより、充填
樹脂28とフィラーとの複合体としての固定樹脂部4の
熱膨張係数を精度良くコントロールすることが可能とな
る。その結果、例えば、Cu等にて形成される配線(導
体層)やSi等にて形成されるICチップ16と配線基
板1との間で、熱膨張係数の整合をとり易くなり、配線
基板1上に構成される配線の、熱に対する信頼性を向上
させることができることになる。
【0038】さて充填樹脂28を硬化させた後、次に、
シート材23を、コンデンサ素子13の電極端子14、
充填樹脂28および配線基板本体3(詳しくは、導体層
20a)から除去し、その後、充填樹脂28および配線
基板本体3の各主面3a,3bを、ベルトサンダーによ
り研磨する(図3(e))。
シート材23を、コンデンサ素子13の電極端子14、
充填樹脂28および配線基板本体3(詳しくは、導体層
20a)から除去し、その後、充填樹脂28および配線
基板本体3の各主面3a,3bを、ベルトサンダーによ
り研磨する(図3(e))。
【0039】第1主面3a側における充填樹脂28の研
磨によって、電極端子14の上側端部14aが、第1主
面3a側から充填樹脂28の外部に露出される。第2主
面3b側からは、シート材23の除去によって、電極端
子14の下側端部14bが、充填樹脂28の外部に露出
される。また、コンデンサ素子13の本体15は、充填
樹脂28の中に埋没した状態となっている。
磨によって、電極端子14の上側端部14aが、第1主
面3a側から充填樹脂28の外部に露出される。第2主
面3b側からは、シート材23の除去によって、電極端
子14の下側端部14bが、充填樹脂28の外部に露出
される。また、コンデンサ素子13の本体15は、充填
樹脂28の中に埋没した状態となっている。
【0040】また、各主面3a,3bの研磨の際には、
コンデンサ素子13の周囲に形成した充填樹脂28が平
坦化されると共に、導体層20a,20bの表面と充填
樹脂28の表面との高さが揃えられる。即ち、第1主面
3a側において、導体層20aと充填樹脂28(即ち固
定樹脂部4)とが同一平面をなすと共に、第2主面3b
側においても導体層20bと充填樹脂28(即ち固定樹
脂部4)とが同一平面をなすこととなる。その結果、両
主面3a,3b上には、周知のビルドアップ法により、
平坦な導体層および層間絶縁層を形成することが可能と
なる。
コンデンサ素子13の周囲に形成した充填樹脂28が平
坦化されると共に、導体層20a,20bの表面と充填
樹脂28の表面との高さが揃えられる。即ち、第1主面
3a側において、導体層20aと充填樹脂28(即ち固
定樹脂部4)とが同一平面をなすと共に、第2主面3b
側においても導体層20bと充填樹脂28(即ち固定樹
脂部4)とが同一平面をなすこととなる。その結果、両
主面3a,3b上には、周知のビルドアップ法により、
平坦な導体層および層間絶縁層を形成することが可能と
なる。
【0041】この様な研磨の後、図3(f)に示す様
に、スルーホール11の形成、及び、各主面3a,3b
上への第1導体層5a,5bの形成を行う。第1導体層
5a,5bの形成は、次の様にして行われる。即ち、貫
通孔21内にコンデンサ素子13を内蔵した配線基板本
体3全体に、Cuにて無電解メッキを施した後、更にC
uにて電解メッキを施すことにより、配線基板本体3全
体にパネルめっきを行う。そして、エッチングによって
導体層の不要部分を除去することにより、第1導体層5
a,5bを形成する。なお、上記のパネルめっきの際に
は、貫通孔9の内周面にもメッキ層を形成し、その後貫
通孔9内部に樹脂12を充填し硬化させることにより、
スルーホール11を形成する(図3(f))。
に、スルーホール11の形成、及び、各主面3a,3b
上への第1導体層5a,5bの形成を行う。第1導体層
5a,5bの形成は、次の様にして行われる。即ち、貫
通孔21内にコンデンサ素子13を内蔵した配線基板本
体3全体に、Cuにて無電解メッキを施した後、更にC
uにて電解メッキを施すことにより、配線基板本体3全
体にパネルめっきを行う。そして、エッチングによって
導体層の不要部分を除去することにより、第1導体層5
a,5bを形成する。なお、上記のパネルめっきの際に
は、貫通孔9の内周面にもメッキ層を形成し、その後貫
通孔9内部に樹脂12を充填し硬化させることにより、
スルーホール11を形成する(図3(f))。
【0042】なお、配線基板本体3に貫通孔9を形成
し、内周面にメッキ層を形成し、樹脂を充填した後、貫
通孔を形成し、同様にコンデンサ素子13を内蔵しても
良い。第1導体層5a,5bの形成後、第1主面3a側
及び第2主面3b側において、充填樹脂28、第1導体
層5a,5b並びに上側端部14a及び下側端部14b
の上に、エポキシ樹脂を主成分とするフィルム化された
感光性樹脂を貼付する。そして、この感光性樹脂を露光
・現像することにより、上側端部14a及び下側端部1
4bを露出すべき位置にビアホールを形成し、感光性樹
脂を硬化させて、第1層間絶縁層103a,103bを
形成する。なお、ビアホールは、第1層間絶縁層103
a,103bを感光性のない樹脂で形成した後、レーザ
などを用いて穿設しても良い。また、層間絶縁層の形成
は、フィルム化された樹脂の貼付の他、液状の樹脂をロ
ールコータなどで塗布することにより行っても良い。
し、内周面にメッキ層を形成し、樹脂を充填した後、貫
通孔を形成し、同様にコンデンサ素子13を内蔵しても
良い。第1導体層5a,5bの形成後、第1主面3a側
及び第2主面3b側において、充填樹脂28、第1導体
層5a,5b並びに上側端部14a及び下側端部14b
の上に、エポキシ樹脂を主成分とするフィルム化された
感光性樹脂を貼付する。そして、この感光性樹脂を露光
・現像することにより、上側端部14a及び下側端部1
4bを露出すべき位置にビアホールを形成し、感光性樹
脂を硬化させて、第1層間絶縁層103a,103bを
形成する。なお、ビアホールは、第1層間絶縁層103
a,103bを感光性のない樹脂で形成した後、レーザ
などを用いて穿設しても良い。また、層間絶縁層の形成
は、フィルム化された樹脂の貼付の他、液状の樹脂をロ
ールコータなどで塗布することにより行っても良い。
【0043】さらに、Cuにて無電解メッキおよび電解
メッキを施し、第1層間絶縁層103a、103bに形
成したビアホールに導電体を充填すると共に、パネルメ
ッキを行ってメッキ層を形成する。このメッキ層の上に
ドライフィルムを貼り付け、露光現像してエッチングレ
ジストを形成し、メッキ層の内の不要部分をエッチング
により除去する。これにより、第2導体層105a、1
05bから成る配線が形成される。なお、導体層の形成
には、周知のサブトラクティブ法の他、フルアディティ
ブ法やセミアディティブ法を用いてもよい。
メッキを施し、第1層間絶縁層103a、103bに形
成したビアホールに導電体を充填すると共に、パネルメ
ッキを行ってメッキ層を形成する。このメッキ層の上に
ドライフィルムを貼り付け、露光現像してエッチングレ
ジストを形成し、メッキ層の内の不要部分をエッチング
により除去する。これにより、第2導体層105a、1
05bから成る配線が形成される。なお、導体層の形成
には、周知のサブトラクティブ法の他、フルアディティ
ブ法やセミアディティブ法を用いてもよい。
【0044】以降は、同様にして第2層間絶縁層107
a,107b、フィルドビア117a,117b、フリ
ップチップパッド111(LGAパッド113)を順に
形成し、その後ソルダレジスト層109a,109bを
形成する。そして、ソルダレジスト層109aから露出
したフリップチップパッド111の上には、Ni−Au
メッキ層を形成し、更にハンダペーストを塗布しリフロ
ーすることで、フリップチップバンプ112を形成す
る。
a,107b、フィルドビア117a,117b、フリ
ップチップパッド111(LGAパッド113)を順に
形成し、その後ソルダレジスト層109a,109bを
形成する。そして、ソルダレジスト層109aから露出
したフリップチップパッド111の上には、Ni−Au
メッキ層を形成し、更にハンダペーストを塗布しリフロ
ーすることで、フリップチップバンプ112を形成す
る。
【0045】以上の様にして、図1に示す構造の配線基
板1が完成する。なお、LGAパッド113の表面に
は、酸化防止のためにNi−Auメッキ層を形成すると
良い。以上の様にして本実施例の配線基板1が構成され
るが、この配線基板1によれば以下の効果を奏する。
板1が完成する。なお、LGAパッド113の表面に
は、酸化防止のためにNi−Auメッキ層を形成すると
良い。以上の様にして本実施例の配線基板1が構成され
るが、この配線基板1によれば以下の効果を奏する。
【0046】(1)本実施例の配線基板1においては、
コンデンサ素子13を貫通孔21内にて固定するための
固定樹脂部4の内部にファイバー30を設けて、これに
より固定樹脂部4を補強するようにしている。このた
め、固定樹脂部4に亀裂などが発生する可能性を少なく
することができ、コンデンサ素子13の固定の確実性を
高くすることができる。
コンデンサ素子13を貫通孔21内にて固定するための
固定樹脂部4の内部にファイバー30を設けて、これに
より固定樹脂部4を補強するようにしている。このた
め、固定樹脂部4に亀裂などが発生する可能性を少なく
することができ、コンデンサ素子13の固定の確実性を
高くすることができる。
【0047】(2)ファイバー30が各コンデンサ素子
13の間に位置するようにしているので、コンデンサ素
子13間において固定樹脂部4が割れたり、亀裂を生じ
たりする可能性を少なくすることができる。また、コン
デンサ素子13同士の間隔を確保することも可能とな
る。
13の間に位置するようにしているので、コンデンサ素
子13間において固定樹脂部4が割れたり、亀裂を生じ
たりする可能性を少なくすることができる。また、コン
デンサ素子13同士の間隔を確保することも可能とな
る。
【0048】(3)ファイバー30は、コンデンサ素子
13と貫通孔21の側面との間にも配置されていること
から、コンデンサ素子13と配線基板本体3との位置関
係も正確に保持することができる。 (4)ファイバー30の太さは、要求されるコンデンサ
素子13の間隔と略等しいものとされている。即ち、コ
ンデンサ素子13を所望の間隔で配置することが容易で
ある。コンデンサ素子13の位置関係を確実に保持で
き、また、コンデンサ素子13同士の絶縁に必要な間隔
を確実に保つことができる。
13と貫通孔21の側面との間にも配置されていること
から、コンデンサ素子13と配線基板本体3との位置関
係も正確に保持することができる。 (4)ファイバー30の太さは、要求されるコンデンサ
素子13の間隔と略等しいものとされている。即ち、コ
ンデンサ素子13を所望の間隔で配置することが容易で
ある。コンデンサ素子13の位置関係を確実に保持で
き、また、コンデンサ素子13同士の絶縁に必要な間隔
を確実に保つことができる。
【0049】(5)ファイバー30を縦横に交差するよ
うに配置していることから、様々な方向からの力に固定
樹脂部4が耐え得るよう補強することができる。 (6)ファイバー30は、絶縁性の材料であるナイロン
樹脂で構成されている。そのため、ファイバー30が、
短絡を発生させることがなく好ましい。
うに配置していることから、様々な方向からの力に固定
樹脂部4が耐え得るよう補強することができる。 (6)ファイバー30は、絶縁性の材料であるナイロン
樹脂で構成されている。そのため、ファイバー30が、
短絡を発生させることがなく好ましい。
【0050】(7)貫通孔21内にコンデンサ素子13
を配置するにあたっては、まず、網目状(即ち格子状)
に組まれたファイバー30を貫通孔21内に配置するこ
とにより貫通孔21内を複数の配置用区域(配置すべき
区域)に区分する。従って、各コンデンサ素子13を配
置すると同時に、コンデンサ素子13の間に所定の大き
さの間隔を確保することができる。即ち、所定の大きさ
の間隔の確保が容易となる。また貫通孔21内における
コンデンサ素子13の位置決めも容易である。
を配置するにあたっては、まず、網目状(即ち格子状)
に組まれたファイバー30を貫通孔21内に配置するこ
とにより貫通孔21内を複数の配置用区域(配置すべき
区域)に区分する。従って、各コンデンサ素子13を配
置すると同時に、コンデンサ素子13の間に所定の大き
さの間隔を確保することができる。即ち、所定の大きさ
の間隔の確保が容易となる。また貫通孔21内における
コンデンサ素子13の位置決めも容易である。
【0051】(第2実施例)次に、第2実施例について
説明する。この第2実施例の配線基板201において
は、固定樹脂部の構成が第1実施例とは異なっている。
即ち、本実施例の配線基板201の固定樹脂部204
は、図4(a)に示す様に、電子部品としてのコンデン
サ素子13の周囲に形成(いわゆるモールド)されたモ
ールド樹脂部206と、貫通孔21内に注入された充填
樹脂が硬化して形成された充填樹脂部208とから構成
されている。そして、このモールド樹脂部206の内部
に、固定樹脂部204を補強するためのファイバー23
0が設けられている。
説明する。この第2実施例の配線基板201において
は、固定樹脂部の構成が第1実施例とは異なっている。
即ち、本実施例の配線基板201の固定樹脂部204
は、図4(a)に示す様に、電子部品としてのコンデン
サ素子13の周囲に形成(いわゆるモールド)されたモ
ールド樹脂部206と、貫通孔21内に注入された充填
樹脂が硬化して形成された充填樹脂部208とから構成
されている。そして、このモールド樹脂部206の内部
に、固定樹脂部204を補強するためのファイバー23
0が設けられている。
【0052】こうした構成は、図4(b)、(c)に示
す様なコンデンサ集合体240を予め構成しておき、こ
れを貫通孔21の内部に配置した後、充填樹脂を貫通孔
21の内部に充填し硬化させることにより実現できる。
なお、図4(c)は、(b)におけるA−A断面図であ
る。
す様なコンデンサ集合体240を予め構成しておき、こ
れを貫通孔21の内部に配置した後、充填樹脂を貫通孔
21の内部に充填し硬化させることにより実現できる。
なお、図4(c)は、(b)におけるA−A断面図であ
る。
【0053】コンデンサ集合体240は、例えば、次の
ようにして構成される。まず、複数のコンデンサ素子1
3を成形用の型内に配置し、そして、各コンデンサ素子
13の間に、この間隔と略同等の太さを有するナイロン
樹脂製のファイバー230を、縦横方向に交差するよう
配置する。そして、エポキシ樹脂を型内に注入し硬化さ
せることにより、図4(b)、(c)に示す様なコンデ
ンサ集合体240を得ることができる。なお、コンデン
サ素子13を型内に配置する前に、ファイバー230を
型内に配置するようにしても良く、そうすれば、当該型
内におけるコンデンサ素子13の位置決めが容易であ
る。
ようにして構成される。まず、複数のコンデンサ素子1
3を成形用の型内に配置し、そして、各コンデンサ素子
13の間に、この間隔と略同等の太さを有するナイロン
樹脂製のファイバー230を、縦横方向に交差するよう
配置する。そして、エポキシ樹脂を型内に注入し硬化さ
せることにより、図4(b)、(c)に示す様なコンデ
ンサ集合体240を得ることができる。なお、コンデン
サ素子13を型内に配置する前に、ファイバー230を
型内に配置するようにしても良く、そうすれば、当該型
内におけるコンデンサ素子13の位置決めが容易であ
る。
【0054】この様にコンデンサ集合体240を構成す
る一方、図5(a)に示す様に、配線基板本体3に、ス
ルーホール11を構成するための貫通孔9を多数個形成
し(例えばドリルにより)、また、コンデンサ素子13
を配置するための貫通孔21を形成(例えばパンチング
により)する。この工程は、図3(a)に示すものと同
様である。
る一方、図5(a)に示す様に、配線基板本体3に、ス
ルーホール11を構成するための貫通孔9を多数個形成
し(例えばドリルにより)、また、コンデンサ素子13
を配置するための貫通孔21を形成(例えばパンチング
により)する。この工程は、図3(a)に示すものと同
様である。
【0055】次に図5(b)に示す様に、電子部品配設
用の貫通孔21の開口部の一方(第2主面3b側の開口
部21a)を、片面にシリコン系の粘着剤24を有する
ポリイミドからなるシート材23で覆う。この工程は図
3(b)と共に説明したものと同様であるので、これ以
上の説明は省略するが、シート材23で貫通孔21を塞
いだ後、図5(c)に示す様に、粘着剤24を介してシ
ート材23に粘着するよう、コンデンサ集合体240を
貫通孔21の内部に配置する。この際、コンデンサ素子
13の電極端子14をシート材23に粘着させる。
用の貫通孔21の開口部の一方(第2主面3b側の開口
部21a)を、片面にシリコン系の粘着剤24を有する
ポリイミドからなるシート材23で覆う。この工程は図
3(b)と共に説明したものと同様であるので、これ以
上の説明は省略するが、シート材23で貫通孔21を塞
いだ後、図5(c)に示す様に、粘着剤24を介してシ
ート材23に粘着するよう、コンデンサ集合体240を
貫通孔21の内部に配置する。この際、コンデンサ素子
13の電極端子14をシート材23に粘着させる。
【0056】そして、図5(d)の様に、貫通孔21の
内部に充填樹脂28を注入し、充填樹脂28を硬化させ
る。この様に充填樹脂28が硬化することで、上述の充
填樹脂部208が構成される。そして、充填樹脂28の
硬化により、配線基板本体3の内部に電子部品としての
コンデンサ素子13が固定されることとなる。なお、充
填樹脂28の硬化は、第1実施例の場合と同様にして行
われ、また硬化させる前には、真空脱泡により充填樹脂
28から気泡が抜かれる。
内部に充填樹脂28を注入し、充填樹脂28を硬化させ
る。この様に充填樹脂28が硬化することで、上述の充
填樹脂部208が構成される。そして、充填樹脂28の
硬化により、配線基板本体3の内部に電子部品としての
コンデンサ素子13が固定されることとなる。なお、充
填樹脂28の硬化は、第1実施例の場合と同様にして行
われ、また硬化させる前には、真空脱泡により充填樹脂
28から気泡が抜かれる。
【0057】充填樹脂28を硬化させた後、次に、シー
ト材23を、コンデンサ素子13の電極端子14、充填
樹脂28および配線基板本体3(詳しくは、導体層20
a)から除去し、その後、充填樹脂28および配線基板
本体3の各主面3a,3bを、ベルトサンダーにより研
磨する(図5(e))。
ト材23を、コンデンサ素子13の電極端子14、充填
樹脂28および配線基板本体3(詳しくは、導体層20
a)から除去し、その後、充填樹脂28および配線基板
本体3の各主面3a,3bを、ベルトサンダーにより研
磨する(図5(e))。
【0058】第1主面3a側における充填樹脂28の研
磨によって、電極端子14の上側端部14aが、第1主
面3a側から充填樹脂28の外部に露出される。第2主
面3b側からは、シート材23の除去によって、電極端
子14の下側端部14bが、充填樹脂28の外部に露出
される。
磨によって、電極端子14の上側端部14aが、第1主
面3a側から充填樹脂28の外部に露出される。第2主
面3b側からは、シート材23の除去によって、電極端
子14の下側端部14bが、充填樹脂28の外部に露出
される。
【0059】以下、第1実施例の配線基板1の製造方法
と同様の手順にして、本実施例の配線基板201が構成
される。従って、本実施例の配線基板201の製造方法
に関し、これ以上の説明は省略するが、本実施例の配線
基板201によれば、第1実施例の効果と同様の効果
(1)、(2)、(4)〜(6)を奏する。
と同様の手順にして、本実施例の配線基板201が構成
される。従って、本実施例の配線基板201の製造方法
に関し、これ以上の説明は省略するが、本実施例の配線
基板201によれば、第1実施例の効果と同様の効果
(1)、(2)、(4)〜(6)を奏する。
【0060】なお、発明者らは、上記実施例の様な構成
を有する配線基板1、201の効果を確かめるため、以
下の様な実験を行った。即ち、図6に示す様に、図4
(b)(c)に示したものと略同様のコンデンサ集合体
を構成する。このコンデンサ集合体は、コンデンサ素子
(図6中に破線で示す。なおサイズは約3.2mm×
1.6mm×0.8mmである)を2×5個を集合させ
たものである。モールド樹脂には、エポキシ樹脂を使用
している。ファイバーワイヤは、約130μmの太さを
有するナイロン樹脂製のものであり、図6中の一点鎖線
で示す位置に配置されている。なお、コンデンサ素子の
間隔は、ファイバーの太さと略等しい。
を有する配線基板1、201の効果を確かめるため、以
下の様な実験を行った。即ち、図6に示す様に、図4
(b)(c)に示したものと略同様のコンデンサ集合体
を構成する。このコンデンサ集合体は、コンデンサ素子
(図6中に破線で示す。なおサイズは約3.2mm×
1.6mm×0.8mmである)を2×5個を集合させ
たものである。モールド樹脂には、エポキシ樹脂を使用
している。ファイバーワイヤは、約130μmの太さを
有するナイロン樹脂製のものであり、図6中の一点鎖線
で示す位置に配置されている。なお、コンデンサ素子の
間隔は、ファイバーの太さと略等しい。
【0061】このようなコンデンサ集合体について、3
点曲げ強度測定を行った。即ち、3mmのスパンで、コ
ンデンサ集合体を下から支持し、こうして支持したコン
デンサ素子の中央付近に上から荷重Fを加える。コンデ
ンサ集合体がどの程度の荷重Fまで耐えることができる
かを測定した。
点曲げ強度測定を行った。即ち、3mmのスパンで、コ
ンデンサ集合体を下から支持し、こうして支持したコン
デンサ素子の中央付近に上から荷重Fを加える。コンデ
ンサ集合体がどの程度の荷重Fまで耐えることができる
かを測定した。
【0062】その結果、上記構成のコンデンサ集合体
(試料1)は、表1に示すように、29N程度の荷重F
に対しても破断を生じなかった。
(試料1)は、表1に示すように、29N程度の荷重F
に対しても破断を生じなかった。
【0063】
【表1】
【0064】一方、形は同じながら、ファイバーのみを
なくした構成のコンデンサ集合体(試料2)を作成し、
これについて同様の実験を行ったところ、17N程度の
荷重で破断が起こった。なお、試料2では、破断後、コ
ンデンサ素子同士は分裂したが、試料1では、ファイバ
ーを介して繋がりが保たれていた。
なくした構成のコンデンサ集合体(試料2)を作成し、
これについて同様の実験を行ったところ、17N程度の
荷重で破断が起こった。なお、試料2では、破断後、コ
ンデンサ素子同士は分裂したが、試料1では、ファイバ
ーを介して繋がりが保たれていた。
【0065】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明の実施形態は、上記実施例に限定されるもの
ではない。例えば、以下の様な種々の態様を採ることが
できる。例えば、上記実施例では、各貫通孔21にコン
デンサ素子13を複数内蔵するものとして図示して説明
したが、これに限らず単数のコンデンサ素子13を内蔵
してもよい。
が、本発明の実施形態は、上記実施例に限定されるもの
ではない。例えば、以下の様な種々の態様を採ることが
できる。例えば、上記実施例では、各貫通孔21にコン
デンサ素子13を複数内蔵するものとして図示して説明
したが、これに限らず単数のコンデンサ素子13を内蔵
してもよい。
【0066】また、上記実施例では、請求項の「収容
部」として、貫通孔21を例にとって説明したが、これ
に限られない。収容部を、例えば凹部として構成した場
合であっても、本発明を適用でき、同様の効果を得るこ
とができる。なお、コンデンサ集合体240を配線基板
本体(コア基板)として構成し、その片面又は両面に導
体層、樹脂絶縁層等のビルドアップ層を形成しても良
い。
部」として、貫通孔21を例にとって説明したが、これ
に限られない。収容部を、例えば凹部として構成した場
合であっても、本発明を適用でき、同様の効果を得るこ
とができる。なお、コンデンサ集合体240を配線基板
本体(コア基板)として構成し、その片面又は両面に導
体層、樹脂絶縁層等のビルドアップ層を形成しても良
い。
【0067】また、上記実施例では、網目状に組まれた
ファイバー30,230を固定樹脂部4,204内に配
置するものとして説明したが、これに限られるものでは
ない。例えば、固定樹脂部4,204にファイバーを散
り散りに含有させるようにしても良い。
ファイバー30,230を固定樹脂部4,204内に配
置するものとして説明したが、これに限られるものでは
ない。例えば、固定樹脂部4,204にファイバーを散
り散りに含有させるようにしても良い。
【0068】また、上記第1実施例では、網目状に組ま
れたファイバー30(即ち、シート状に構成されている
もの)を一層だけ固定樹脂部4内に配置するものとして
説明したが、これに限られない。例えば、同様のシート
状のものを固定樹脂部4内に複数層設ける(図1におい
て上下方向に重ねる)ようにしても良い。
れたファイバー30(即ち、シート状に構成されている
もの)を一層だけ固定樹脂部4内に配置するものとして
説明したが、これに限られない。例えば、同様のシート
状のものを固定樹脂部4内に複数層設ける(図1におい
て上下方向に重ねる)ようにしても良い。
【0069】また、上記第1実施例では、貫通孔21に
ファイバー30を配置した後に、コンデンサ素子13を
配置するものとして説明したが、これに限られるもので
はない。ファイバー30よりも先に、貫通孔21内にコ
ンデンサ素子13を配置しても、本発明に係る配線基板
を製造することができることは言うまでもない。
ファイバー30を配置した後に、コンデンサ素子13を
配置するものとして説明したが、これに限られるもので
はない。ファイバー30よりも先に、貫通孔21内にコ
ンデンサ素子13を配置しても、本発明に係る配線基板
を製造することができることは言うまでもない。
【0070】また、上記実施例では、ファイバー30を
構成する材料として、ナイロン樹脂を採用するものして
説明したがこれに限られるものではない。この他にも、
様々な樹脂で構成されたファイバーを採用することが可
能であるし、また、グラスファイバーを採用しても良
い。また、炭素繊維、絶縁被覆金属線(Cu線)を用い
ることもできる。
構成する材料として、ナイロン樹脂を採用するものして
説明したがこれに限られるものではない。この他にも、
様々な樹脂で構成されたファイバーを採用することが可
能であるし、また、グラスファイバーを採用しても良
い。また、炭素繊維、絶縁被覆金属線(Cu線)を用い
ることもできる。
【0071】また、上記実施例では、電子部品として、
コンデンサ素子13を配線基板に内蔵するものとして説
明したが、これに限らず、チップ状の抵抗体、インダク
タ、フィルタ、トランジスタ、メモリなど、各種の電子
部品を内蔵させてもよい。また、上記実施例では、配線
基板本体3の材料として、ガラス−エポキシ樹脂複合材
料を用いたが、これに限られることなく、耐熱性、機械
強度、可撓性、加工の容易さ等を考慮して選択すればよ
い。従って、例えばガラス織布、ガラス不織布などのガ
ラス繊維と、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、BT樹脂
等の樹脂との複合材料であるガラス繊維−樹脂複合材料
を用いることができる。また、ポリイミド繊維などの有
機繊維と樹脂との複合材料、連続気孔を有するPTFE
など3次元網目構造のフッ素系樹脂にエポキシ樹脂等の
樹脂を含浸させた樹脂−樹脂複合材料などを用いること
ができる。
コンデンサ素子13を配線基板に内蔵するものとして説
明したが、これに限らず、チップ状の抵抗体、インダク
タ、フィルタ、トランジスタ、メモリなど、各種の電子
部品を内蔵させてもよい。また、上記実施例では、配線
基板本体3の材料として、ガラス−エポキシ樹脂複合材
料を用いたが、これに限られることなく、耐熱性、機械
強度、可撓性、加工の容易さ等を考慮して選択すればよ
い。従って、例えばガラス織布、ガラス不織布などのガ
ラス繊維と、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、BT樹脂
等の樹脂との複合材料であるガラス繊維−樹脂複合材料
を用いることができる。また、ポリイミド繊維などの有
機繊維と樹脂との複合材料、連続気孔を有するPTFE
など3次元網目構造のフッ素系樹脂にエポキシ樹脂等の
樹脂を含浸させた樹脂−樹脂複合材料などを用いること
ができる。
【0072】また、上記実施例では、第1層間絶縁層1
03a,103b、第2層間絶縁層107a,107b
としてエポキシ樹脂を主成分とするものを用いたが、耐
熱性、パターン成形性等を考慮して適宜選択すればよ
い。例えば、ポリイミド樹脂、BT樹脂、PPE樹脂、
連続気孔を有するPTFEなど3次元網目構造のフッ素
系樹脂にエポキシ樹脂等の樹脂を含浸させた樹脂−樹脂
複合材料などを用いることができる。
03a,103b、第2層間絶縁層107a,107b
としてエポキシ樹脂を主成分とするものを用いたが、耐
熱性、パターン成形性等を考慮して適宜選択すればよ
い。例えば、ポリイミド樹脂、BT樹脂、PPE樹脂、
連続気孔を有するPTFEなど3次元網目構造のフッ素
系樹脂にエポキシ樹脂等の樹脂を含浸させた樹脂−樹脂
複合材料などを用いることができる。
【0073】また、上記実施例では、第1導体層5a,
5b、第2導体層105a,105b等を無電解Cuメ
ッキ及び電解メッキによって形成したが、他の材質、例
えばNi,Ni−Au等によって形成しても良く、さら
には、メッキによらず、導電性樹脂を塗布するなどの手
法によって形成しても良い。
5b、第2導体層105a,105b等を無電解Cuメ
ッキ及び電解メッキによって形成したが、他の材質、例
えばNi,Ni−Au等によって形成しても良く、さら
には、メッキによらず、導電性樹脂を塗布するなどの手
法によって形成しても良い。
【0074】また、上記実施例では、ICチップ16と
の接続のために、配線基板上面にフリップチップパッド
111やフリップチップバンプ112を多数設けた。し
かし、IC接続端子としては、接続するICチップに形
成された端子に応じて、適切な形態のものを使用すれば
良く、フリップチップバンプを形成したものの他、フリ
ップチップパッドのみのもの、或いはワイヤボンディン
グパッドやTAB接続用のパッドを形成したものなどが
挙げられる。
の接続のために、配線基板上面にフリップチップパッド
111やフリップチップバンプ112を多数設けた。し
かし、IC接続端子としては、接続するICチップに形
成された端子に応じて、適切な形態のものを使用すれば
良く、フリップチップバンプを形成したものの他、フリ
ップチップパッドのみのもの、或いはワイヤボンディン
グパッドやTAB接続用のパッドを形成したものなどが
挙げられる。
【0075】また、上記実施例では、コンデンサ素子1
3の本体15にBaTiO3を主成分とする高誘電体セ
ラミックを用いたが、この材質に限定されず、例えば、
PbTiO3、PbZrO3、TiO2、SrTiO3、C
aTiO3、MgTiO3、KNbO3、NaTiO3、K
TaO3、RbTaO3、(Na1/2Bi1/2)TiO3、
Pb(Mg1/2W1/2)O3、(K1/2Bi1/2)TiO3な
どが挙げられ、要求されるコンデンサの静電容量その他
に応じて適宜選択すればよい。
3の本体15にBaTiO3を主成分とする高誘電体セ
ラミックを用いたが、この材質に限定されず、例えば、
PbTiO3、PbZrO3、TiO2、SrTiO3、C
aTiO3、MgTiO3、KNbO3、NaTiO3、K
TaO3、RbTaO3、(Na1/2Bi1/2)TiO3、
Pb(Mg1/2W1/2)O3、(K1/2Bi1/2)TiO3な
どが挙げられ、要求されるコンデンサの静電容量その他
に応じて適宜選択すればよい。
【0076】また、電極端子14には、Cuを主成分と
する材料を使用したが、本体15の材質等との適合性を
考慮して選択すれば良く、例えば、Pt、Ag、Ag−
Pt、Ag−Pd、Pd、Au、Ni等が挙げられる。
さらに、高誘電体セラミックを主成分とする誘電体層や
Ag−Pd等から成る電極層と、樹脂やCuメッキ、
Niメッキ等から成るビア導体や配線層とを複合させて
コンデンサとして構成したものを用いることもできる。
する材料を使用したが、本体15の材質等との適合性を
考慮して選択すれば良く、例えば、Pt、Ag、Ag−
Pt、Ag−Pd、Pd、Au、Ni等が挙げられる。
さらに、高誘電体セラミックを主成分とする誘電体層や
Ag−Pd等から成る電極層と、樹脂やCuメッキ、
Niメッキ等から成るビア導体や配線層とを複合させて
コンデンサとして構成したものを用いることもできる。
【図1】 第1実施例の配線基板の構成を示す説明図で
ある。
ある。
【図2】 貫通孔内部のファイバー、コンデンサ素子の
配置を示す図である。
配置を示す図である。
【図3】 第1実施例の配線基板の製造方法を示す説明
図である。
図である。
【図4】 第2実施例の配線基板の構成およびコンデン
サ集合体の構成を示す図である。
サ集合体の構成を示す図である。
【図5】 第2実施例の配線基板の製造方法を示す説明
図である。
図である。
【図6】 発明の効果を確かめるための実験を説明する
図である。
図である。
1,201…配線基板 3…配線基板本体 4,204…固定樹脂部 13…コンデンサ素子(電子部品) 21…貫通孔(収容部) 28…充填樹脂 30,230…ファイバー 206…モールド樹脂部 208…充填樹脂部 240…コンデンサ集合体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E336 AA04 AA07 BC01 BC25 CC32 CC53 GG16 5E338 AA02 AA03 BB03 BB19 BB63 BB72 CC01 EE28 5E346 AA06 AA60 BB01 BB16 CC01 CC02 CC08 CC09 CC16 CC31 FF45 GG40 HH21 HH31
Claims (6)
- 【請求項1】 電子部品を収容可能な収容部を有する配
線基板本体と、 前記収容部内に配置された電子部品と、 該電子部品を前記収容部内にて固定する固定樹脂部と、 を備えた配線基板において、 前記固定樹脂部に、該固定樹脂部を補強するためのファ
イバーを設けたことを特徴とする配線基板。 - 【請求項2】 請求項1記載の配線基板において、 前記収容部には、複数の電子部品が配置され、 前記ファイバーは、各電子部品間に配置されていること
を特徴とする配線基板。 - 【請求項3】 請求項2記載の配線基板において、 前記電子部品間に配置されたファイバーは、該電子部品
の間隔と略等しい太さを有することを特徴とする配線基
板。 - 【請求項4】 請求項1〜3の何れか記載の配線基板に
おいて、 前記ファイバーは、縦横に交差するよう配置されている
ことを特徴とする配線基板。 - 【請求項5】 請求項1〜4の何れか記載の配線基板に
おいて、 前記ファイバーは絶縁性材料からなっていることを特徴
とする配線基板。 - 【請求項6】 電子部品を収容可能な収容部を有する配
線基板本体の該収容部内に複数の電子部品を配置するこ
とにより配線基板を製造する方法であって、 格子状に組まれたファイバーを前記収容部内に配置する
ことにより、該収容部内を、電子部品を配置するための
複数の区域に区分するファイバー配置工程と、 前記各区域に、電子部品を配置する電子部品配置工程
と、 前記電子部品が配置された収容部内に充填樹脂を注入し
硬化させる固定工程と、 を有することを特徴とする配線基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000135915A JP2001320146A (ja) | 2000-05-09 | 2000-05-09 | 配線基板及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000135915A JP2001320146A (ja) | 2000-05-09 | 2000-05-09 | 配線基板及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001320146A true JP2001320146A (ja) | 2001-11-16 |
Family
ID=18643933
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2000135915A Pending JP2001320146A (ja) | 2000-05-09 | 2000-05-09 | 配線基板及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001320146A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009081183A (ja) * | 2007-09-25 | 2009-04-16 | Murata Mfg Co Ltd | 配線基板の製造方法 |
WO2012137626A1 (ja) * | 2011-04-01 | 2012-10-11 | 株式会社村田製作所 | 部品内蔵樹脂基板およびその製造方法 |
-
2000
- 2000-05-09 JP JP2000135915A patent/JP2001320146A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009081183A (ja) * | 2007-09-25 | 2009-04-16 | Murata Mfg Co Ltd | 配線基板の製造方法 |
WO2012137626A1 (ja) * | 2011-04-01 | 2012-10-11 | 株式会社村田製作所 | 部品内蔵樹脂基板およびその製造方法 |
CN103460821A (zh) * | 2011-04-01 | 2013-12-18 | 株式会社村田制作所 | 元器件内置树脂基板及其制造方法 |
JP5610064B2 (ja) * | 2011-04-01 | 2014-10-22 | 株式会社村田製作所 | 部品内蔵樹脂基板およびその製造方法 |
US10555421B2 (en) | 2011-04-01 | 2020-02-04 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Component-embedded resin substrate and method for manufacturing same |
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