JP2001311689A - 物体表面の光沢度判別方法 - Google Patents
物体表面の光沢度判別方法Info
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- JP2001311689A JP2001311689A JP2000129541A JP2000129541A JP2001311689A JP 2001311689 A JP2001311689 A JP 2001311689A JP 2000129541 A JP2000129541 A JP 2000129541A JP 2000129541 A JP2000129541 A JP 2000129541A JP 2001311689 A JP2001311689 A JP 2001311689A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単かつ安価な回路構成により物体表面の光
沢度を正確に測定し判別することができる光沢度判別方
法を提供する。 【解決手段】 赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に
照射して反射させ、透過方向の異なる第１の偏光フィル
タと第２の偏光フィルタとで２つの反射光に分けて位置
検出センサにて検知し、上記２つの反射光の光量に応じ
た出力電流を信号処理することを特徴とし、上記の反射
光の光量に応じた出力電流を各々、２つの電流増幅回路
に分流した後、反転増幅器に入力し、信号処理すること
を特徴としている。
沢度を正確に測定し判別することができる光沢度判別方
法を提供する。 【解決手段】 赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に
照射して反射させ、透過方向の異なる第１の偏光フィル
タと第２の偏光フィルタとで２つの反射光に分けて位置
検出センサにて検知し、上記２つの反射光の光量に応じ
た出力電流を信号処理することを特徴とし、上記の反射
光の光量に応じた出力電流を各々、２つの電流増幅回路
に分流した後、反転増幅器に入力し、信号処理すること
を特徴としている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、反射光の光量に応
じた出力電流を信号処理して物体表面の光沢度を判別す
る方法に関するものである。
じた出力電流を信号処理して物体表面の光沢度を判別す
る方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、物体表面の光沢度を判別する際に
は、物体表面に赤外線、可視光線等を照射し、その反射
光を、カラーセンサ、リニアイメージセンサ等の素子で
受光し、出力電流を信号処理することで検知していた。
は、物体表面に赤外線、可視光線等を照射し、その反射
光を、カラーセンサ、リニアイメージセンサ等の素子で
受光し、出力電流を信号処理することで検知していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
造の光沢センサを使用した場合、カラーセンサ、リニア
イメージセンサ等が高価であること、およびセンサ素子
で受光した後の信号処理が複雑であることなどから、光
沢センサ自体の価格が高価になるという問題点があっ
た。一方、安価な２端子のホトダイオードをセンサ素子
として使用した場合、試料表面の色濃度によって反射光
量が異なること、および被測定試料からの反射光が正反
射光と乱反射光が混合された状態であることなどから、
正確な光沢度の測定は非常に難しいという問題点があっ
た。
造の光沢センサを使用した場合、カラーセンサ、リニア
イメージセンサ等が高価であること、およびセンサ素子
で受光した後の信号処理が複雑であることなどから、光
沢センサ自体の価格が高価になるという問題点があっ
た。一方、安価な２端子のホトダイオードをセンサ素子
として使用した場合、試料表面の色濃度によって反射光
量が異なること、および被測定試料からの反射光が正反
射光と乱反射光が混合された状態であることなどから、
正確な光沢度の測定は非常に難しいという問題点があっ
た。
【０００４】
【問題点を解決するための手段】本発明は、上記課題を
解決するもので、赤外〜可視領域に含まれる光線を物体
に照射して反射させ、透過方向の異なる第１の偏光フィ
ルタと第２の偏光フィルタとで２つの反射光に分けて位
置検出センサ（Position Sensitive Detector：以下、
ＰＳＤと称する。）にて検知し、上記２つの反射光の光
量に応じた出力電流を信号処理することを特徴とする物
体表面の光沢度判別方法である。また、上記の反射光の
光量に応じた出力電流を各々、２つの電流増幅回路に分
流した後、反転増幅器に入力し、信号処理することを特
徴とする物体表面の光沢度判別方法である。さらに、上
記電流増幅回路と反転増幅器がオペアンプの負帰還回路
であることを特徴とする物体表面の光沢度判別方法であ
る。そして、上記の第１の偏光フィルタと第２の偏光フ
ィルタの透過方向が、縦方向と横方向、または横方向と
縦方向の組み合わせからなることを特徴とする物体表面
の光沢度判別方法である。
解決するもので、赤外〜可視領域に含まれる光線を物体
に照射して反射させ、透過方向の異なる第１の偏光フィ
ルタと第２の偏光フィルタとで２つの反射光に分けて位
置検出センサ（Position Sensitive Detector：以下、
ＰＳＤと称する。）にて検知し、上記２つの反射光の光
量に応じた出力電流を信号処理することを特徴とする物
体表面の光沢度判別方法である。また、上記の反射光の
光量に応じた出力電流を各々、２つの電流増幅回路に分
流した後、反転増幅器に入力し、信号処理することを特
徴とする物体表面の光沢度判別方法である。さらに、上
記電流増幅回路と反転増幅器がオペアンプの負帰還回路
であることを特徴とする物体表面の光沢度判別方法であ
る。そして、上記の第１の偏光フィルタと第２の偏光フ
ィルタの透過方向が、縦方向と横方向、または横方向と
縦方向の組み合わせからなることを特徴とする物体表面
の光沢度判別方法である。
【０００５】
【発明の実施の形態】物体表面の色濃度に関係なく、物
体表面の光沢度を反射光の光量に応じた出力電流として
取り出し、信号処理することによって判別する。すなわ
ち、赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に照射して反
射させ、透過方向の異なる第１の偏光フィルタと第２の
偏光フィルタとで２つの反射光に分けて位置検出センサ
にて検知し、上記２つの反射光の光量に応じた出力電流
を各々、２つの電流増幅回路に分流した後、反転増幅器
に入力し、信号処理する。上記電流増幅回路と反転増幅
器は、オペアンプの負帰還回路を用い、正確な増幅度が
得られるようにする。
体表面の光沢度を反射光の光量に応じた出力電流として
取り出し、信号処理することによって判別する。すなわ
ち、赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に照射して反
射させ、透過方向の異なる第１の偏光フィルタと第２の
偏光フィルタとで２つの反射光に分けて位置検出センサ
にて検知し、上記２つの反射光の光量に応じた出力電流
を各々、２つの電流増幅回路に分流した後、反転増幅器
に入力し、信号処理する。上記電流増幅回路と反転増幅
器は、オペアンプの負帰還回路を用い、正確な増幅度が
得られるようにする。
【０００６】
【実施例】以下は、本発明を用いた実施例の一例であ
る。 〔実施例１〕本発明による物体表面の光沢度判別方法を
利用した光沢センサの構造を図１に示す。図１におい
て、被測定試料３に対し光の入射角と反射角が等しくな
るように光源１とＰＳＤ６を配置する。光源１からの光
は集光レンズ２を使ってスポット光の状態で被測定試料
３に照射する。必ずしも光点を一点に集中させる必要は
ない。光源１としては、ＬＥＤの他にハロゲンランプ、
半導体レーザー等の単波長成分の多い光源を用いること
が可能である。
る。 〔実施例１〕本発明による物体表面の光沢度判別方法を
利用した光沢センサの構造を図１に示す。図１におい
て、被測定試料３に対し光の入射角と反射角が等しくな
るように光源１とＰＳＤ６を配置する。光源１からの光
は集光レンズ２を使ってスポット光の状態で被測定試料
３に照射する。必ずしも光点を一点に集中させる必要は
ない。光源１としては、ＬＥＤの他にハロゲンランプ、
半導体レーザー等の単波長成分の多い光源を用いること
が可能である。
【０００７】図２は、図１の受光側を詳しく記述したも
のである。図２に示す、偏光フィルタ４、５を通過する
前の反射光ｂについて、被測定試料３に対する水平方向
の振動成分ｄをｓ波、ｓ波と直角方向の振動成分ｅをｐ
波とした場合、正反射光は反射の法則に従いｓ波方向の
振動成分に偏った反射光で、かつ試料表面の光沢度が高
いほど支配的となる。また、乱反射光は正反射光を除く
拡散的な反射光でｓ波、ｐ波を含む様々な振動方向を持
ち、試料表面の光沢度が低いほど支配的となる。
のである。図２に示す、偏光フィルタ４、５を通過する
前の反射光ｂについて、被測定試料３に対する水平方向
の振動成分ｄをｓ波、ｓ波と直角方向の振動成分ｅをｐ
波とした場合、正反射光は反射の法則に従いｓ波方向の
振動成分に偏った反射光で、かつ試料表面の光沢度が高
いほど支配的となる。また、乱反射光は正反射光を除く
拡散的な反射光でｓ波、ｐ波を含む様々な振動方向を持
ち、試料表面の光沢度が低いほど支配的となる。
【０００８】図２の偏光フィルタ４の透過方向は縦方向
であり、これは被測定試料３に対する反射光ｂの水平方
向の振動成分ｄと平行な方向である。また、図２の偏光
フィルタ５の透過方向は横方向であり、これは被測定試
料３に対する反射光ｂの水平方向の振動成分ｄと垂直な
方向である。図２に見られるように、被測定試料３の表
面からの反射光ｂについて、半分が偏光フィルタ４を、
又、残りの半分が偏光フィルタ５を通過するようにし、
偏光フィルタ４、５を通過した後の反射光ｃの中心がＰ
ＳＤ６の中心に入射するように配置する。
であり、これは被測定試料３に対する反射光ｂの水平方
向の振動成分ｄと平行な方向である。また、図２の偏光
フィルタ５の透過方向は横方向であり、これは被測定試
料３に対する反射光ｂの水平方向の振動成分ｄと垂直な
方向である。図２に見られるように、被測定試料３の表
面からの反射光ｂについて、半分が偏光フィルタ４を、
又、残りの半分が偏光フィルタ５を通過するようにし、
偏光フィルタ４、５を通過した後の反射光ｃの中心がＰ
ＳＤ６の中心に入射するように配置する。
【０００９】図４は、図２の被測定試料３からの反射光
ｂについて偏光フィルタ４を通過する成分を表してい
る。偏光フィルタ４を通過する前の反射光ｂは、乱反射
光ｈと正反射光ｉ、ｊで構成されている。乱反射光ｈが
偏光フィルタ４を通過する際に、透過方向に対して垂直
の振動方向をもつｐ波は通過が抑制されるが、平行の振
動方向をもつｓ波は通過が可能となる。一方、正反射光
ｉ、ｊのうち、偏光フィルタ４の透過方向に対して平行
の振動方向をもつ正反射光ｉは通過が可能となるが、垂
直の振動方向をもつ正反射光ｊは通過が抑制される。よ
って、被測定試料３からの反射光ｂについて偏光フィル
タ４を通過する成分は、正反射光（ｓ波）ｋと乱反射光
（ｓ波）ｌとなる。
ｂについて偏光フィルタ４を通過する成分を表してい
る。偏光フィルタ４を通過する前の反射光ｂは、乱反射
光ｈと正反射光ｉ、ｊで構成されている。乱反射光ｈが
偏光フィルタ４を通過する際に、透過方向に対して垂直
の振動方向をもつｐ波は通過が抑制されるが、平行の振
動方向をもつｓ波は通過が可能となる。一方、正反射光
ｉ、ｊのうち、偏光フィルタ４の透過方向に対して平行
の振動方向をもつ正反射光ｉは通過が可能となるが、垂
直の振動方向をもつ正反射光ｊは通過が抑制される。よ
って、被測定試料３からの反射光ｂについて偏光フィル
タ４を通過する成分は、正反射光（ｓ波）ｋと乱反射光
（ｓ波）ｌとなる。
【００１０】図５は、図２の被測定試料３からの反射光
ｂについて偏光フィルタ５を通過する成分を表してい
る。偏光フィルタ５を通過する前の反射光ｂは、図３と
同様に乱反射光ｈと正反射光ｉ、ｊで構成されている。
乱反射光ｈが偏光フィルタ５を通過する際に、透過方向
に対して垂直の振動方向をもつｓ波は通過が抑制される
が、平行の振動方向をもつｐ波は通過が可能となる。一
方、正反射光ｉ、ｊのうち、偏光フィルタ５の透過方向
に対して平行の振動方向をもつ正反射光ｊは通過が可能
となるが、垂直の振動方向をもつ正反射光ｉは通過が抑
制される。よって、被測定試料３からの反射光ｂについ
て偏光フィルタ５を通過する成分は、正反射光（ｐ波）
ｍと乱反射光（ｐ波）ｎとなる。
ｂについて偏光フィルタ５を通過する成分を表してい
る。偏光フィルタ５を通過する前の反射光ｂは、図３と
同様に乱反射光ｈと正反射光ｉ、ｊで構成されている。
乱反射光ｈが偏光フィルタ５を通過する際に、透過方向
に対して垂直の振動方向をもつｓ波は通過が抑制される
が、平行の振動方向をもつｐ波は通過が可能となる。一
方、正反射光ｉ、ｊのうち、偏光フィルタ５の透過方向
に対して平行の振動方向をもつ正反射光ｊは通過が可能
となるが、垂直の振動方向をもつ正反射光ｉは通過が抑
制される。よって、被測定試料３からの反射光ｂについ
て偏光フィルタ５を通過する成分は、正反射光（ｐ波）
ｍと乱反射光（ｐ波）ｎとなる。
【００１１】このため、図２のようにＰＳＤ６に入射す
る光のうち、上領域は偏光フィルタ４を通過してきた正
反射光（ｓ波）と乱反射光（ｓ波）からなる反射光ｆと
なり、下領域は偏光フィルタ５を通過してきた正反射光
（ｐ波）と乱反射光（ｐ波）からなる反射光ｇになり、
これら反射光ｆ、ｇの照射光量と照射位置及びＰＳＤ６
の電極間抵抗等によって決まる電流（ＩＰＳＤ１、Ｉ
ＰＳＤ２）が、ＰＳＤ６の端子から流れ出すことにな
る。
る光のうち、上領域は偏光フィルタ４を通過してきた正
反射光（ｓ波）と乱反射光（ｓ波）からなる反射光ｆと
なり、下領域は偏光フィルタ５を通過してきた正反射光
（ｐ波）と乱反射光（ｐ波）からなる反射光ｇになり、
これら反射光ｆ、ｇの照射光量と照射位置及びＰＳＤ６
の電極間抵抗等によって決まる電流（ＩＰＳＤ１、Ｉ
ＰＳＤ２）が、ＰＳＤ６の端子から流れ出すことにな
る。
【００１２】図３は、図２におけるＰＳＤ６の出力電流
（ＩＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）を信号処理し、正反射光量
に応じた出力電圧を得るための信号処理回路の例であ
る。ＰＳＤ６のカソード端子８には予め電圧Ｖｃｃが印
加されている。ＰＳＤ６のアノード端子９、１０から
は、ＰＳＤ６で受光された反射光ｃによる電流（Ｉ
ＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）が流れ出し、次段のオペアンプ
１１、１２による電流増幅回路で別々に増幅される。こ
の際、帰還抵抗Ｒ１、Ｒ２の値は、偏光フィルタによる
透過率が等しい場合は、Ｒ１＝Ｒ２と設定する。オペア
ンプ回路１１、１２のそれぞれの出力電圧、−ＩＰＳＤ
１×Ｒ１と−ＩＰＳＤ２×Ｒ２は、後段の差動アンプ回
路１３でその電位差（ＩＰＳＤ１×Ｒ１−ＩＰＳＤ２×
Ｒ２）＝（ＩＰＳ Ｄ１−ＩＰＳＤ２）×Ｒ１が取り出さ
れ、（Ｒ４／Ｒ３）倍に増幅される。従って、出力端子
１４には｛ＩＰＳＤ１−ＩＰＳＤ２｝×Ｒ１×（Ｒ４／
Ｒ３）の電圧が得られる。
（ＩＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）を信号処理し、正反射光量
に応じた出力電圧を得るための信号処理回路の例であ
る。ＰＳＤ６のカソード端子８には予め電圧Ｖｃｃが印
加されている。ＰＳＤ６のアノード端子９、１０から
は、ＰＳＤ６で受光された反射光ｃによる電流（Ｉ
ＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）が流れ出し、次段のオペアンプ
１１、１２による電流増幅回路で別々に増幅される。こ
の際、帰還抵抗Ｒ１、Ｒ２の値は、偏光フィルタによる
透過率が等しい場合は、Ｒ１＝Ｒ２と設定する。オペア
ンプ回路１１、１２のそれぞれの出力電圧、−ＩＰＳＤ
１×Ｒ１と−ＩＰＳＤ２×Ｒ２は、後段の差動アンプ回
路１３でその電位差（ＩＰＳＤ１×Ｒ１−ＩＰＳＤ２×
Ｒ２）＝（ＩＰＳ Ｄ１−ＩＰＳＤ２）×Ｒ１が取り出さ
れ、（Ｒ４／Ｒ３）倍に増幅される。従って、出力端子
１４には｛ＩＰＳＤ１−ＩＰＳＤ２｝×Ｒ１×（Ｒ４／
Ｒ３）の電圧が得られる。
【００１３】図３におけるＰＳＤ６の出力電流のうち、
ＩＰＳＤ１は｛正反射光（ｓ波）＋乱反射光（ｓ波）｝
に比例した電流であり、ＩＰＳＤ２は、｛正反射光（ｐ
波）＋乱反射光（ｐ波）｝に比例した電流であることか
ら、２つの電流量の差｛ＩＰ ＳＤ１−ＩＰＳＤ２｝は、
［｛正反射光（ｓ波）＋乱反射光（ｓ波）｝−｛正反射
光（ｐ波）＋乱反射光（ｐ波）｝］と比例関係にあると
考えられる。ここで、乱反射光に含まれるｓ波とｐ波の
存在確率がほぼ等しく、乱反射（ｓ波）≒乱反射（ｐ
波）となること、および、正反射光はｓ波方向の振動成
分に偏った反射光であり、正反射光（ｓ波）−正反射光
（ｐ波）≒正反射光（ｓ波）となることを利用すると、
先の式から
ＩＰＳＤ１は｛正反射光（ｓ波）＋乱反射光（ｓ波）｝
に比例した電流であり、ＩＰＳＤ２は、｛正反射光（ｐ
波）＋乱反射光（ｐ波）｝に比例した電流であることか
ら、２つの電流量の差｛ＩＰ ＳＤ１−ＩＰＳＤ２｝は、
［｛正反射光（ｓ波）＋乱反射光（ｓ波）｝−｛正反射
光（ｐ波）＋乱反射光（ｐ波）｝］と比例関係にあると
考えられる。ここで、乱反射光に含まれるｓ波とｐ波の
存在確率がほぼ等しく、乱反射（ｓ波）≒乱反射（ｐ
波）となること、および、正反射光はｓ波方向の振動成
分に偏った反射光であり、正反射光（ｓ波）−正反射光
（ｐ波）≒正反射光（ｓ波）となることを利用すると、
先の式から
【００１４】
【数１】 の関係式が得られる。よって、出力端子１４の電圧、
｛ＩＰＳＤ１−ＩＰＳＤ２｝×Ｒ１×（Ｒ４／Ｒ３）
は、正反射光（ｓ波）の光量に応じた値となり、この電
圧値の大小から光沢度が判別できる。
｛ＩＰＳＤ１−ＩＰＳＤ２｝×Ｒ１×（Ｒ４／Ｒ３）
は、正反射光（ｓ波）の光量に応じた値となり、この電
圧値の大小から光沢度が判別できる。
【００１５】図６は、図３の信号処理回路による光沢セ
ンサ出力電圧とＪＩＳ Ｚ８７４１方法３によるＧｓ
（６０°）測定値との相関データの一例を示したもので
ある。図６のグラフから、光沢センサ出力値（Ｖ）はＧ
ｓ（６０°）測定値（％）にほぼ比例し、被測定試料の
光沢度が安定して測定されていることが確認できる。
ンサ出力電圧とＪＩＳ Ｚ８７４１方法３によるＧｓ
（６０°）測定値との相関データの一例を示したもので
ある。図６のグラフから、光沢センサ出力値（Ｖ）はＧ
ｓ（６０°）測定値（％）にほぼ比例し、被測定試料の
光沢度が安定して測定されていることが確認できる。
【００１６】実施例１は偏光フィルタ４、５の透過率が
等しく、かつ透過方向と垂直な方向の光の透過率を０％
とした場合であり、これらが実際と異なり、その違いが
無視できない場合は図３に示した信号処理回路における
演算を補正する必要がある。
等しく、かつ透過方向と垂直な方向の光の透過率を０％
とした場合であり、これらが実際と異なり、その違いが
無視できない場合は図３に示した信号処理回路における
演算を補正する必要がある。
【００１７】また、実施例１において被測定試料３から
の反射光ｂの中心と偏光フィルタ４、５もしくはＰＳＤ
６の位置関係が多少違っても、図３における信号処理回
路における演算で補正することができる。
の反射光ｂの中心と偏光フィルタ４、５もしくはＰＳＤ
６の位置関係が多少違っても、図３における信号処理回
路における演算で補正することができる。
【００１８】実施例１では、非分割型のＰＳＤを用いた
が、分割型（２分割、４分割等）のＰＳＤ（あるいは、
ホトダイオード）を用いることも可能である。
が、分割型（２分割、４分割等）のＰＳＤ（あるいは、
ホトダイオード）を用いることも可能である。
【００１９】
【発明の効果】上記したように、本発明は、物体表面の
光沢度を示す正反射光量を的確に取り出し、該正反射光
量に応じた出力電流を電流増幅回路／反転増幅器により
信号処理するものであり、かつ、これらの回路はオペア
ンプの負帰還回路で構成されているので、正確な増幅度
が得られ、測定精度の向上を図ることができる。よっ
て、物体表面の色濃度に関係なく、また、正反射光と乱
反射光が混合した状態であっても、簡単かつ安価な回路
構成により精度の高い光沢度測定を行い、光沢度判別を
することができる。
光沢度を示す正反射光量を的確に取り出し、該正反射光
量に応じた出力電流を電流増幅回路／反転増幅器により
信号処理するものであり、かつ、これらの回路はオペア
ンプの負帰還回路で構成されているので、正確な増幅度
が得られ、測定精度の向上を図ることができる。よっ
て、物体表面の色濃度に関係なく、また、正反射光と乱
反射光が混合した状態であっても、簡単かつ安価な回路
構成により精度の高い光沢度測定を行い、光沢度判別を
することができる。
【図１】本発明による光沢センサの実施例である。
【図２】図１の光沢センサの受光側の細部を示したもの
である。
である。
【図３】図２の光沢センサでＰＳＤ出力電流を信号処理
し、正反射光量に応じた出力電圧を取り出す信号処理回
路の回路図を示したものである。
し、正反射光量に応じた出力電圧を取り出す信号処理回
路の回路図を示したものである。
【図４】図２の光沢センサで透過方向が縦方向の偏光フ
ィルタを通過する反射成分を表した図である。
ィルタを通過する反射成分を表した図である。
【図５】図２の光沢センサで透過方向が横方向の偏光フ
ィルタを通過する反射成分を表した図である。
ィルタを通過する反射成分を表した図である。
【図６】図３の信号処理回路による光沢センサ出力電圧
とＪＩＳ Ｚ８７４１ 方法３によるＧｓ（６０°）測
定値との相関データの一例を示したものである。
とＪＩＳ Ｚ８７４１ 方法３によるＧｓ（６０°）測
定値との相関データの一例を示したものである。
１ 光源 ２ 集光レンズ ３ 被測定試料 ４ 第１の偏光フィルタ（透過方向：縦） ５ 第２の偏光フィルタ（透過方向：横） ６ ＰＳＤ ７ ＰＳＤ上に照射される反射光 ８ ＰＳＤのカソード端子 ９ ＰＳＤのアノード端子 １０ ＰＳＤのアノード端子 １１ ＩＰＳＤ１の電流増幅回路 １２ ＩＰＳＤ２の電流増幅回路 １３ 差動アンプ回路 １４ 信号処理回路の出力端子 ａ 被測定試料３への入射光 ｂ 被測定試料３からの反射光 ｃ 偏光フィルタ４もしくは偏光フィルタ５を通過した
後の反射光 ｄ 被測定試料３に対する水平方向の振動成分 ｅ ｓ波と直角方向の振動成分 ｆ ＰＳＤ６の上領域に照射される正反射光（ｓ波）と
乱反射光（ｓ波） ｇ ＰＳＤ６の下領域に照射される正反射光（ｐ波）と
乱反射光（ｐ波） ｈ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる乱反射光 ｉ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる正反射光
（ｓ波） ｊ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる正反射光
（ｐ波） ｋ 偏光フィルタ４を通過した後の正反射光（ｓ波） ｌ 偏光フィルタ４を通過した後の乱反射光（ｓ波） ｍ 偏光フィルタ５を通過した後の正反射光（ｐ波） ｎ 偏光フィルタ５を通過した後の乱反射光（ｐ波）
後の反射光 ｄ 被測定試料３に対する水平方向の振動成分 ｅ ｓ波と直角方向の振動成分 ｆ ＰＳＤ６の上領域に照射される正反射光（ｓ波）と
乱反射光（ｓ波） ｇ ＰＳＤ６の下領域に照射される正反射光（ｐ波）と
乱反射光（ｐ波） ｈ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる乱反射光 ｉ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる正反射光
（ｓ波） ｊ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる正反射光
（ｐ波） ｋ 偏光フィルタ４を通過した後の正反射光（ｓ波） ｌ 偏光フィルタ４を通過した後の乱反射光（ｓ波） ｍ 偏光フィルタ５を通過した後の正反射光（ｐ波） ｎ 偏光フィルタ５を通過した後の乱反射光（ｐ波）
Claims (4)
- 【請求項１】 赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に
照射して反射させ、透過方向の異なる第１の偏光フィル
タと第２の偏光フィルタとで２つの反射光に分けて位置
検出センサにて検知し、上記２つの反射光の光量に応じ
た出力電流を信号処理することを特徴とする物体表面の
光沢度判別方法。 - 【請求項２】 上記の反射光の光量に応じた出力電流を
各々、２つの電流増幅回路に分流した後、反転増幅器に
入力し、信号処理することを特徴とする請求項１記載の
物体表面の光沢度判別方法。 - 【請求項３】 上記電流増幅回路と反転増幅器がオペア
ンプの負帰還回路であることを特徴とする請求項２記載
の物体表面の光沢度判別方法。 - 【請求項４】 上記の第１の偏光フィルタと第２の偏光
フィルタの透過方向が、縦方向と横方向、または横方向
と縦方向の組み合わせからなることを特徴とする請求項
１記載の物体表面の光沢度判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000129541A JP2001311689A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 物体表面の光沢度判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000129541A JP2001311689A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 物体表面の光沢度判別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001311689A true JP2001311689A (ja) | 2001-11-09 |
Family
ID=18638801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000129541A Pending JP2001311689A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 物体表面の光沢度判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001311689A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033103A (ja) * | 2005-07-25 | 2007-02-08 | Keyence Corp | 光電センサ |
-
2000
- 2000-04-28 JP JP2000129541A patent/JP2001311689A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033103A (ja) * | 2005-07-25 | 2007-02-08 | Keyence Corp | 光電センサ |
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