JP2000314701A - 物体表面の光沢度測定方法 - Google Patents
物体表面の光沢度測定方法Info
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- JP2000314701A JP2000314701A JP11123054A JP12305499A JP2000314701A JP 2000314701 A JP2000314701 A JP 2000314701A JP 11123054 A JP11123054 A JP 11123054A JP 12305499 A JP12305499 A JP 12305499A JP 2000314701 A JP2000314701 A JP 2000314701A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 （乱反射光）／（正・乱反射光）をそれぞれ
の反射光成分の光量に応じた２つの電流値として取り出
し、比較することによって、物体表面の光沢度を測定す
ることを目的とする。 【解決手段】 赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に
照射して反射させ、偏光板を通過する反射光と、偏光板
を通過しない反射光とに分けて位置検出センサにて検知
し、上記２つの反射光の光量に応じた出力電流を信号処
理することを特徴としている。
の反射光成分の光量に応じた２つの電流値として取り出
し、比較することによって、物体表面の光沢度を測定す
ることを目的とする。 【解決手段】 赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に
照射して反射させ、偏光板を通過する反射光と、偏光板
を通過しない反射光とに分けて位置検出センサにて検知
し、上記２つの反射光の光量に応じた出力電流を信号処
理することを特徴としている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、反射光の光量に応
じた出力電流を信号処理して、物体表面の光沢度を測定
する方法に関するものである。
じた出力電流を信号処理して、物体表面の光沢度を測定
する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、物体表面の光沢度を測定する際に
は、物体表面に赤外線、可視光線等を照射し、その反射
光を、カラーセンサ、リニアイメージセンサ等の素子で
受光し、出力電流を信号処理することで検知していた。
は、物体表面に赤外線、可視光線等を照射し、その反射
光を、カラーセンサ、リニアイメージセンサ等の素子で
受光し、出力電流を信号処理することで検知していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
造の光沢センサを使用した場合、カラーセンサ、リニア
イメージセンサ等が高価であること、およびセンサ素子
で受光した後の信号処理が複雑であることなどから、光
沢センサ自体の価格が高価になるという問題点があっ
た。一方、安価な２端子のフォトダイオードをセンサ素
子として使用した場合、試料表面の色濃度によって反射
光量が異なること、および被測定試料からの反射光が正
反射光と乱反射光が混合された状態であることなどか
ら、正確な光沢度の測定は非常に難しいという問題点が
あった。
造の光沢センサを使用した場合、カラーセンサ、リニア
イメージセンサ等が高価であること、およびセンサ素子
で受光した後の信号処理が複雑であることなどから、光
沢センサ自体の価格が高価になるという問題点があっ
た。一方、安価な２端子のフォトダイオードをセンサ素
子として使用した場合、試料表面の色濃度によって反射
光量が異なること、および被測定試料からの反射光が正
反射光と乱反射光が混合された状態であることなどか
ら、正確な光沢度の測定は非常に難しいという問題点が
あった。
【０００４】
【課題点を解決するための手段】本発明は上記課題を解
決するもので、赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に
照射して反射させ、偏光板を通過する反射光と、偏光板
を通過しない反射光とに分けて位置検出センサにて検知
し、上記２つの反射光の光量に応じた出力電流を信号処
理することを特徴とする物体表面の光沢度測定方法であ
る。
決するもので、赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に
照射して反射させ、偏光板を通過する反射光と、偏光板
を通過しない反射光とに分けて位置検出センサにて検知
し、上記２つの反射光の光量に応じた出力電流を信号処
理することを特徴とする物体表面の光沢度測定方法であ
る。
【０００５】
【発明の実施の形態】物体表面の色濃度に関係なく、物
体表面の光沢度を、反射光の光量に応じた出力電流とし
て取り出し、信号処理することによって測定する。この
とき、カラーセンサ、リニアイメージセンサ等の高価な
半導体を用いず、位置検出センサ（以下、ＰＳＤと称す
る。）、位相差フィルム、偏光板等の簡単な構成で、安
価な光沢センサを提供することができる。
体表面の光沢度を、反射光の光量に応じた出力電流とし
て取り出し、信号処理することによって測定する。この
とき、カラーセンサ、リニアイメージセンサ等の高価な
半導体を用いず、位置検出センサ（以下、ＰＳＤと称す
る。）、位相差フィルム、偏光板等の簡単な構成で、安
価な光沢センサを提供することができる。
【０００６】
【実施例】以下、本発明による実施例について、図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
【０００７】〔実施例１〕本発明による物体表面の光沢
度測定方法を利用した光沢センサの構造を図１に示す。
図１において、被測定試料３に対し光の入射角と反射角
が等しくなるように光源１とＰＳＤ６を配置する。光源
１からの光は集光レンズ２を使ってスポット光の状態で
被測定試料３に照射する。必ずしも光点を一点に集中さ
せる必要はない。光源１としては、ＬＥＤの他にハロゲ
ンランプ、半導体レーザー等の単波長成分の多い光源を
用いることが可能である。
度測定方法を利用した光沢センサの構造を図１に示す。
図１において、被測定試料３に対し光の入射角と反射角
が等しくなるように光源１とＰＳＤ６を配置する。光源
１からの光は集光レンズ２を使ってスポット光の状態で
被測定試料３に照射する。必ずしも光点を一点に集中さ
せる必要はない。光源１としては、ＬＥＤの他にハロゲ
ンランプ、半導体レーザー等の単波長成分の多い光源を
用いることが可能である。
【０００８】図２は、図１の受光側の細部を示したもの
である。図２に示す、偏光板７を通過する前の反射光ｂ
について、被測定試料３に対する垂直方向の振動成分ｅ
をｐ波、水平方向の振動成分ｄをｓ波とした場合、正反
射光は反射の法則に従いｓ波のみからなる反射光で、か
つ試料表面の光沢度が高いほど支配的となる。また、乱
反射光は正反射光を除く拡散的な反射光でｓ波、ｐ波を
含む様々な振動方向を持ち、試料表面の光沢度が低いほ
ど支配的となる。
である。図２に示す、偏光板７を通過する前の反射光ｂ
について、被測定試料３に対する垂直方向の振動成分ｅ
をｐ波、水平方向の振動成分ｄをｓ波とした場合、正反
射光は反射の法則に従いｓ波のみからなる反射光で、か
つ試料表面の光沢度が高いほど支配的となる。また、乱
反射光は正反射光を除く拡散的な反射光でｓ波、ｐ波を
含む様々な振動方向を持ち、試料表面の光沢度が低いほ
ど支配的となる。
【０００９】図２の偏光板７の透過方向は横方向であ
り、これは被測定試料３に対する水平方向の振動成分ｄ
と垂直な方向である。図２に見られるように、被測定試
料３の表面からの反射光ｂについて、半分が偏光板７を
通過するようにし、その他の反射光と合わせた反射光ｃ
の中心がＰＳＤ５の中心に入射するように配置する。
り、これは被測定試料３に対する水平方向の振動成分ｄ
と垂直な方向である。図２に見られるように、被測定試
料３の表面からの反射光ｂについて、半分が偏光板７を
通過するようにし、その他の反射光と合わせた反射光ｃ
の中心がＰＳＤ５の中心に入射するように配置する。
【００１０】図３は、図２の被測定試料３からの反射光
ｂについて偏光板７を通過する成分を表している。偏光
板７を通過する前の反射光ｂは、乱反射光ｈと正反射光
ｉで構成されている。乱反射光ｈはｓ波、ｐ波を含む様
々な振動方向を持つ反射光で、ｓ波とｐ波の存在確率は
ほぼ等しい。また、正反射光ｉはｓ波のみからなる。乱
反射光ｈは、偏光板７を通過する際に、透過方向に対し
て垂直の振動方向をもつｓ波は通過が抑制され、平行の
振動方向をもつｐ波は通過が可能となる。一方、正反射
光ｉは偏光板７の透過方向に対して垂直の振動方向をも
つこととなり、通過が抑制される。よって、被測定試料
３からの反射光ｂについて偏光板７を通過する成分は、
乱射光（ｐ波）ｊのみとなる。
ｂについて偏光板７を通過する成分を表している。偏光
板７を通過する前の反射光ｂは、乱反射光ｈと正反射光
ｉで構成されている。乱反射光ｈはｓ波、ｐ波を含む様
々な振動方向を持つ反射光で、ｓ波とｐ波の存在確率は
ほぼ等しい。また、正反射光ｉはｓ波のみからなる。乱
反射光ｈは、偏光板７を通過する際に、透過方向に対し
て垂直の振動方向をもつｓ波は通過が抑制され、平行の
振動方向をもつｐ波は通過が可能となる。一方、正反射
光ｉは偏光板７の透過方向に対して垂直の振動方向をも
つこととなり、通過が抑制される。よって、被測定試料
３からの反射光ｂについて偏光板７を通過する成分は、
乱射光（ｐ波）ｊのみとなる。
【００１１】図４は、図２の被測定試料３からの反射光
ｂについてＰＳＤ５に直接入射する成分を表している。
被測定試料３からの反射光ｂは、乱反射光ｈと正反射光
ｉで構成されている。乱反射光ｈは、乱反射光（ｓ波）
と乱反射光（ｐ波）で構成される反射光で、それぞれの
存在確率はほぼ等しい。また、正反射光ｉはｓ波のみか
らなる。よって、被測定試料３からの反射光ｂについて
ＰＳＤ５に直接入射する成分は、乱反射光（ｓ波）と乱
反射光（ｐ波）による乱反射光ｈおよび正反射光（ｓ
波）ｉとなる。
ｂについてＰＳＤ５に直接入射する成分を表している。
被測定試料３からの反射光ｂは、乱反射光ｈと正反射光
ｉで構成されている。乱反射光ｈは、乱反射光（ｓ波）
と乱反射光（ｐ波）で構成される反射光で、それぞれの
存在確率はほぼ等しい。また、正反射光ｉはｓ波のみか
らなる。よって、被測定試料３からの反射光ｂについて
ＰＳＤ５に直接入射する成分は、乱反射光（ｓ波）と乱
反射光（ｐ波）による乱反射光ｈおよび正反射光（ｓ
波）ｉとなる。
【００１２】このため、図２のようにＰＳＤ５に入射す
る光のうち、右領域は直接ＰＳＤ５に入射される乱反射
光（ｓ波）と乱反射光（ｐ波）および正反射光（ｓ波）
からなる反射光ｆ、左領域は偏光板７を通過してきた乱
反射光（ｐ波）のみの反射光ｇになり、これら反射光
ｆ、ｇの照射光量と照射位置およびＰＳＤ５の電極間抵
抗等によって決まる電流（ＩＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）
が、ＰＳＤ５の端子から得られる。
る光のうち、右領域は直接ＰＳＤ５に入射される乱反射
光（ｓ波）と乱反射光（ｐ波）および正反射光（ｓ波）
からなる反射光ｆ、左領域は偏光板７を通過してきた乱
反射光（ｐ波）のみの反射光ｇになり、これら反射光
ｆ、ｇの照射光量と照射位置およびＰＳＤ５の電極間抵
抗等によって決まる電流（ＩＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）
が、ＰＳＤ５の端子から得られる。
【００１３】図５は、図２におけるＰＳＤ５の出力電流
（ＩＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）を信号処理し、正反射光量
に応じた出力電圧を得るための信号処理ブロックの例で
ある。ＰＳＤ５のカソード端子８には予め電圧Ｖｃｃが
印加されている。ＰＳＤ５のアノード端子９、１０から
は、ＰＳＤ５で受光された反射光ｃによる電流（ＩＰ
ＳＤ１、ＩＰＳＤ２）が流れ出すこととなる。電流Ｉ
ＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２はＰＳＤ５の負荷抵抗ＲＬ１、Ｒ
Ｌ２によって電圧ＶＰＳＤ１、ＶＰＳＤ２に変換され、
次段の信号増幅回路１１、１２で別々に増幅される。図
５の例では、信号増幅回路１１、１２の増幅度を共に１
０００倍としているが、後段の信号演算回路での演算の
都合上、異なる増幅度とする場合もある。そして信号増
幅回路１１、１２から取り出された電圧は、後段の信号
演算回路１３で、ＰＳＤ５の照射光量と照射位置および
ＰＳＤ５の電極間抵抗等によって決定される式で演算さ
れ、出力端子１４から正反射光量に応じた出力電圧が得
られるので、この電圧値の大小から光沢度を測定するこ
とができる。
（ＩＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）を信号処理し、正反射光量
に応じた出力電圧を得るための信号処理ブロックの例で
ある。ＰＳＤ５のカソード端子８には予め電圧Ｖｃｃが
印加されている。ＰＳＤ５のアノード端子９、１０から
は、ＰＳＤ５で受光された反射光ｃによる電流（ＩＰ
ＳＤ１、ＩＰＳＤ２）が流れ出すこととなる。電流Ｉ
ＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２はＰＳＤ５の負荷抵抗ＲＬ１、Ｒ
Ｌ２によって電圧ＶＰＳＤ１、ＶＰＳＤ２に変換され、
次段の信号増幅回路１１、１２で別々に増幅される。図
５の例では、信号増幅回路１１、１２の増幅度を共に１
０００倍としているが、後段の信号演算回路での演算の
都合上、異なる増幅度とする場合もある。そして信号増
幅回路１１、１２から取り出された電圧は、後段の信号
演算回路１３で、ＰＳＤ５の照射光量と照射位置および
ＰＳＤ５の電極間抵抗等によって決定される式で演算さ
れ、出力端子１４から正反射光量に応じた出力電圧が得
られるので、この電圧値の大小から光沢度を測定するこ
とができる。
【００１４】〔実施例２〕実施例１による図２の光沢セ
ンサでは、偏光板７の透過方向を横方向（ｓ波と垂直方
向）としていた。しかし、図６のように偏光板１５の透
過方向を縦方向（ｓ波と平行方向）に配置した場合につ
いても同様に、光沢センサとして利用できる。図６に示
す、偏光板１５を通過する前の反射光ｂについて、図２
と同様に被測定試料３に対する垂直方向の振動成分ｅを
ｐ波、水平方向の振動成分ｄをｓ波とする。
ンサでは、偏光板７の透過方向を横方向（ｓ波と垂直方
向）としていた。しかし、図６のように偏光板１５の透
過方向を縦方向（ｓ波と平行方向）に配置した場合につ
いても同様に、光沢センサとして利用できる。図６に示
す、偏光板１５を通過する前の反射光ｂについて、図２
と同様に被測定試料３に対する垂直方向の振動成分ｅを
ｐ波、水平方向の振動成分ｄをｓ波とする。
【００１５】図６の場合、被測定試料３からの反射光ｂ
について偏光板１５を通過する成分は、正反射光（ｓ
波）と乱反射光（ｓ波）、直接ＰＳＤ５に入射される成
分は乱反射光（ｓ波）と乱反射光（ｐ波）および正反射
光（ｓ波）になる。（偏光板１５を通過してＰＳＤ５に
入射される反射光、およびＰＳＤ５に直接入射される反
射光の考え方は、図３、４と同様であるため、ここでは
省略する。）
について偏光板１５を通過する成分は、正反射光（ｓ
波）と乱反射光（ｓ波）、直接ＰＳＤ５に入射される成
分は乱反射光（ｓ波）と乱反射光（ｐ波）および正反射
光（ｓ波）になる。（偏光板１５を通過してＰＳＤ５に
入射される反射光、およびＰＳＤ５に直接入射される反
射光の考え方は、図３、４と同様であるため、ここでは
省略する。）
【００１６】このため、図６のようにＰＳＤ５に入射す
る光のうち、右領域は直接ＰＳＤ５に入射される乱反射
光（ｓ波）と乱反射光（ｐ波）および正反射光（ｓ波）
による反射光ｋ、左領域は偏光板１５を通過してきた正
反射光（ｓ波）と乱反射光（ｓ波）からなる反射光ｌに
なり、これら反射光ｋ、lの照射光量と照射位置およびＰ
ＳＤ５の電極間抵抗等によって決まる電流（Ｉ
ＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）が、ＰＳＤ５の端子から得られ
る。よって、ＰＳＤ５の出力電流（ＩＰＳＤ１、Ｉ
ＰＳＤ２）から、照射光量、照射位置、およびＰＳＤ５
の電極間抵抗等によって決定される演算を図５と同様の
信号処理ブロックを用いて行うことで、正反射光量に応
じた出力電圧が得られるので、この電圧値の大小から光
沢度を測定することができる。
る光のうち、右領域は直接ＰＳＤ５に入射される乱反射
光（ｓ波）と乱反射光（ｐ波）および正反射光（ｓ波）
による反射光ｋ、左領域は偏光板１５を通過してきた正
反射光（ｓ波）と乱反射光（ｓ波）からなる反射光ｌに
なり、これら反射光ｋ、lの照射光量と照射位置およびＰ
ＳＤ５の電極間抵抗等によって決まる電流（Ｉ
ＰＳＤ１、ＩＰＳＤ２）が、ＰＳＤ５の端子から得られ
る。よって、ＰＳＤ５の出力電流（ＩＰＳＤ１、Ｉ
ＰＳＤ２）から、照射光量、照射位置、およびＰＳＤ５
の電極間抵抗等によって決定される演算を図５と同様の
信号処理ブロックを用いて行うことで、正反射光量に応
じた出力電圧が得られるので、この電圧値の大小から光
沢度を測定することができる。
【００１７】実施例１、２は、偏光板７、１５の透過方
向の光の透過率を１００％、および透過方向と垂直な方
向の光の透過率を０％とした場合であり、これらが実際
と異なり、その違いが無視できない場合は図５に示した
信号処理ブロックにおける演算を補正する必要がある。
向の光の透過率を１００％、および透過方向と垂直な方
向の光の透過率を０％とした場合であり、これらが実際
と異なり、その違いが無視できない場合は図５に示した
信号処理ブロックにおける演算を補正する必要がある。
【００１８】また、実施例１、２において、被測定試料
３からの反射光ｂの中心と、偏光板７、１５もしくはＰ
ＳＤ５の位置関係が多少違っても、信号処理ブロックに
おける演算で補正することができる。
３からの反射光ｂの中心と、偏光板７、１５もしくはＰ
ＳＤ５の位置関係が多少違っても、信号処理ブロックに
おける演算で補正することができる。
【００１９】実施例１、２では、非分割型のＰＳＤを用
いたが、分割型（２分割、４分割等）のＰＳＤを用いる
ことも可能である。
いたが、分割型（２分割、４分割等）のＰＳＤを用いる
ことも可能である。
【００２０】
【発明の効果】上記したように、本発明によれば、物体
表面の色濃度に関係なく、（乱反射光）／（正反射光お
よび乱反射光）をそれぞれの反射光成分の光量に応じた
２つの電流値として取り出し、比較することによって、
物体表面の光沢度を知ることができ、光沢度の判別がで
きる。このとき、カラーセンサ、リニアイメージセンサ
等の高価な半導体を用いず、ＰＳＤ、位相差板、偏光板
等の簡単な構成で、安価な光沢センサの提供ができる。
表面の色濃度に関係なく、（乱反射光）／（正反射光お
よび乱反射光）をそれぞれの反射光成分の光量に応じた
２つの電流値として取り出し、比較することによって、
物体表面の光沢度を知ることができ、光沢度の判別がで
きる。このとき、カラーセンサ、リニアイメージセンサ
等の高価な半導体を用いず、ＰＳＤ、位相差板、偏光板
等の簡単な構成で、安価な光沢センサの提供ができる。
【図１】本発明を用いた光沢センサの一実施例である。
【図２】図１の光沢センサの受光側の細部を示したもの
である。
である。
【図３】図２の光沢センサで偏光板を通過する反射成分
を表した図である。
を表した図である。
【図４】図２の光沢センサで直接ＰＳＤに入射する反射
成分を表した図である。
成分を表した図である。
【図５】図２の光沢センサでＰＳＤ出力電流を信号処理
し、正反射光量に応じた出力電圧を取り出すための信号
処理ブロックを示したものである。
し、正反射光量に応じた出力電圧を取り出すための信号
処理ブロックを示したものである。
【図６】図１の光沢センサについて偏光板の透過方向を
縦方向とした光沢センサの受光側の細部を示したもので
ある。
縦方向とした光沢センサの受光側の細部を示したもので
ある。
１ 光源 ２ 集光レンズ ３ 被測定試料 ４ 偏光板 ５ ＰＳＤ ６ ＰＳＤ上に照射される反射光 ７ 偏光板（透過方向：横） ８ ＰＳＤのカソード端子 ９ ＰＳＤのアノード端子 １０ ＰＳＤのアノード端子 １１ ＶＰＳＤ１の信号増幅回路 １２ ＶＰＳＤ２の信号増幅回路 １３ 信号演算回路 １４ 信号処理ブロックの出力端子 １５ 偏光板（透過方向：縦） ａ 被測定試料３への入射光 ｂ 被測定試料３からの反射光 ｃ ＰＳＤ５に入射する直前の反射光 ｄ 被測定試料３に対する水平方向の振動成分 ｅ 被測定試料３に対する垂直方向の振動成分 ｆ ＰＳＤ５の右領域に照射される正反射光（ｓ波）と
乱反射光（ｓ波）および乱反射光（ｐ波） ｇ ＰＳＤ５の左領域に照射される乱反射光（ｐ波） ｈ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる乱反射光 ｉ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる正反射光 ｊ 偏光板７を通過した後の乱反射光（ｐ波） ｋ ＰＳＤ５の右領域に照射される正反射光（ｓ波）と
乱反射光（ｓ波）および乱反射光（ｐ波） ｌ ＰＳＤ５の左領域に照射される正反射光（ｓ波）と
乱反射光（ｓ波）
乱反射光（ｓ波）および乱反射光（ｐ波） ｇ ＰＳＤ５の左領域に照射される乱反射光（ｐ波） ｈ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる乱反射光 ｉ 被測定試料３からの反射光ｂに含まれる正反射光 ｊ 偏光板７を通過した後の乱反射光（ｐ波） ｋ ＰＳＤ５の右領域に照射される正反射光（ｓ波）と
乱反射光（ｓ波）および乱反射光（ｐ波） ｌ ＰＳＤ５の左領域に照射される正反射光（ｓ波）と
乱反射光（ｓ波）
Claims (1)
- 【請求項１】 赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に
照射して反射させ、偏光板を通過する反射光と、偏光板
を通過しない反射光とに分けて位置検出センサにて検知
し、上記２つの反射光の光量に応じた出力電流を信号処
理することを特徴とする物体表面の光沢度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11123054A JP2000314701A (ja) | 1999-04-28 | 1999-04-28 | 物体表面の光沢度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11123054A JP2000314701A (ja) | 1999-04-28 | 1999-04-28 | 物体表面の光沢度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000314701A true JP2000314701A (ja) | 2000-11-14 |
Family
ID=14851069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11123054A Pending JP2000314701A (ja) | 1999-04-28 | 1999-04-28 | 物体表面の光沢度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000314701A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102680409A (zh) * | 2012-05-30 | 2012-09-19 | 中国农业大学 | 一种布儒斯特角的测量装置及方法 |
-
1999
- 1999-04-28 JP JP11123054A patent/JP2000314701A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102680409A (zh) * | 2012-05-30 | 2012-09-19 | 中国农业大学 | 一种布儒斯特角的测量装置及方法 |
| CN102680409B (zh) * | 2012-05-30 | 2014-09-03 | 中国农业大学 | 一种布儒斯特角的测量装置及方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040301 |