JPS58738A - 硬さ計測表示方法およびその装置 - Google Patents
硬さ計測表示方法およびその装置Info
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- JPS58738A JPS58738A JP9282481A JP9282481A JPS58738A JP S58738 A JPS58738 A JP S58738A JP 9282481 A JP9282481 A JP 9282481A JP 9282481 A JP9282481 A JP 9282481A JP S58738 A JPS58738 A JP S58738A
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- hardness
- sample
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- indentation
- light
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/40—Investigating hardness or rebound hardness
- G01N3/42—Investigating hardness or rebound hardness by performing impressions under a steady load by indentors, e.g. sphere, pyramid
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、試料表面に形成された圧痕から試料の硬さを
計測して表示できるようにした方法および装置に関し、
特に試料表面に光を照射してその反射光を電気信号に変
換することにより、試料の硬さを計測して表示できるよ
うにした方法および装置に関する。
計測して表示できるようにした方法および装置に関し、
特に試料表面に光を照射してその反射光を電気信号に変
換することにより、試料の硬さを計測して表示できるよ
うにした方法および装置に関する。
従来より、光電変換システムを用いて試料の硬さを計測
する手段が各種提案されている。その−例として、試料
表面からの反射光を電気信号に変換し、この電気信号に
基づき、演算の際に圧痕の輪郭を認識して、この輪郭か
ら圧痕の大きさを計算して硬度値を求めるものがある。
する手段が各種提案されている。その−例として、試料
表面からの反射光を電気信号に変換し、この電気信号に
基づき、演算の際に圧痕の輪郭を認識して、この輪郭か
ら圧痕の大きさを計算して硬度値を求めるものがある。
しかしながら、このような従来の手段では、演算の際に
圧痕の輪郭全体を認識してから硬度値を求めることが行
なわれるので２信号処理が煩雑になるという問題点があ
る。
圧痕の輪郭全体を認識してから硬度値を求めることが行
なわれるので２信号処理が煩雑になるという問題点があ
る。
本発明は、このよづな問題点を解決しようとするもので
１表示手段によって映し出された像により、圧痕の輪郭
全体を目視により認識しながら、しかも硬さの計測に際
しては、圧痕の最大寸法を求めるのに必要な最少限度の
データを用いて計測できるようにした、硬さ計測表示方
法および装置を提供することを目的とする。
１表示手段によって映し出された像により、圧痕の輪郭
全体を目視により認識しながら、しかも硬さの計測に際
しては、圧痕の最大寸法を求めるのに必要な最少限度の
データを用いて計測できるようにした、硬さ計測表示方
法および装置を提供することを目的とする。
このため、本発明の硬さ計測表示方法は圧痕を形成され
た試料表面へ光を照射し、同試料表面からの反射光をマ
トリックス配置された光電変換素子群により電気信号に
変換して、この電気信号を２値化したのち、この２値化
電気信号に基づき、上記試料表面の圧痕像を表示すると
ともに、上記圧痕の最大寸法を計測することにより上記
試料の硬さを計測してこの硬さの値を表示することを特
徴としている。
た試料表面へ光を照射し、同試料表面からの反射光をマ
トリックス配置された光電変換素子群により電気信号に
変換して、この電気信号を２値化したのち、この２値化
電気信号に基づき、上記試料表面の圧痕像を表示すると
ともに、上記圧痕の最大寸法を計測することにより上記
試料の硬さを計測してこの硬さの値を表示することを特
徴としている。
また、本発明の硬さ計測表示装置は、圧痕を形成された
試料表面へ光を照射する投光系と、上記試料表面から反
射した光を導く反射系とをそなえるとともに、同反射系
からの光を受けて電気信号に変換すべくマ） １ｆワク
ス配置されだ光電変換素子群と、同光電変換素子群から
の電気信号を２値化する２値化回路と、同２値化回路か
らの２値化電気信号を受けて上記試料表面の像を表示す
る第１の表示手段と、上記２値化回路からの２値化電気
信号を受けて上記圧痕の最大寸法を計測することにより
、上記試料の硬さを計測する演算手段と、同演算手段か
らの信号を受けて上記硬さの値を表示する第２の表示手
段とをそなえ、上記試料表面へ光を偏光させて照射すべ
く、上記投光系に偏光板が設けられたことを特徴として
いる。
試料表面へ光を照射する投光系と、上記試料表面から反
射した光を導く反射系とをそなえるとともに、同反射系
からの光を受けて電気信号に変換すべくマ） １ｆワク
ス配置されだ光電変換素子群と、同光電変換素子群から
の電気信号を２値化する２値化回路と、同２値化回路か
らの２値化電気信号を受けて上記試料表面の像を表示す
る第１の表示手段と、上記２値化回路からの２値化電気
信号を受けて上記圧痕の最大寸法を計測することにより
、上記試料の硬さを計測する演算手段と、同演算手段か
らの信号を受けて上記硬さの値を表示する第２の表示手
段とをそなえ、上記試料表面へ光を偏光させて照射すべ
く、上記投光系に偏光板が設けられたことを特徴として
いる。
以下、図面により本発明の一実施例としての硬さ計測表
示方法およびその装置について説明すると、第１図は上
記装置の全体構成図、第２図は上記装置における第１．
第２の表示手段によって試料表面の像と硬さの値とを表
示する一例を示す模式図、第３〜７図はいずれも圧痕か
ら試料の硬さを求める手段を示す説明図である。
示方法およびその装置について説明すると、第１図は上
記装置の全体構成図、第２図は上記装置における第１．
第２の表示手段によって試料表面の像と硬さの値とを表
示する一例を示す模式図、第３〜７図はいずれも圧痕か
ら試料の硬さを求める手段を示す説明図である。
第１図に示すごとく、圧痕１が形成された試料２の表面
へ光を照射する投光系３が設けられており、この投光系
３は光源としての照明ランプ４．集光レンズ５．ハーフ
ミラ−６および対物レンズ７で構成されている。
へ光を照射する投光系３が設けられており、この投光系
３は光源としての照明ランプ４．集光レンズ５．ハーフ
ミラ−６および対物レンズ７で構成されている。
また、集光レンズ５とノ・−フミラー６との間には、偏
光板８が着脱できるように介設されている。
光板８が着脱できるように介設されている。
投光系３を通じて試料表面へ照射された光は試料表面で
反射して、この反射光が対物レンズ７、ハーフミラ−６
およびリレーレンズや接眼レンズから成るレンズ群９を
通じて導かれるようになっている。すなわち、これらの
対物レンズ７、ハーフミラ−６およびレンズ群９で反射
系１０が構成される。
反射して、この反射光が対物レンズ７、ハーフミラ−６
およびリレーレンズや接眼レンズから成るレンズ群９を
通じて導かれるようになっている。すなわち、これらの
対物レンズ７、ハーフミラ−６およびレンズ群９で反射
系１０が構成される。
なお、対物レンズ７とハーフミラ−６は投光系３と反射
系１０とに共通な部材として構成されている。
系１０とに共通な部材として構成されている。
ところで、レンズ群９に近接して固体素子カメラ１１が
設けられており、この固体素子カメラ１１は、レンズ群
９と対向する位置に設けられて多数の光電変換素子がマ
トリックス状に配列されて構成された光電変換素子群１
２をそなえている。これによりとの光電変換素子群１２
で反射光を電気信号に変換することができる。
設けられており、この固体素子カメラ１１は、レンズ群
９と対向する位置に設けられて多数の光電変換素子がマ
トリックス状に配列されて構成された光電変換素子群１
２をそなえている。これによりとの光電変換素子群１２
で反射光を電気信号に変換することができる。
なお、光電変換素子群１２は、光電変換素子が例えば９
．７朋Ｘ１２．７關のスペースに４９０Ｘ４０８個程度
マトリ・−クス状に集積化されて設けられたものである
。
．７朋Ｘ１２．７關のスペースに４９０Ｘ４０８個程度
マトリ・−クス状に集積化されて設けられたものである
。
また、光電変換素子群１２からの電気信号を２値化する
２値化回路１３が設けられている◇この２値化回路１３
は光電変換素子群１２の各光電変換素子からの電気信号
と所定のしきい値とを比較して、このしきい値よりも入
力電気信号が大きいときは「１」に相当する出力信号を
、逆に小さいときは「０」に相当する出力信号を出すも
のである。
２値化回路１３が設けられている◇この２値化回路１３
は光電変換素子群１２の各光電変換素子からの電気信号
と所定のしきい値とを比較して、このしきい値よりも入
力電気信号が大きいときは「１」に相当する出力信号を
、逆に小さいときは「０」に相当する出力信号を出すも
のである。
一般ＫＳ圧痕ｌの部分へ照射された光の反射光は、試料
２の他の表面へ照射された光の反射光に比べ、反射系１
０に導かれる光量が少ないため、２値化回路１３により
得られる２値化信号は、圧痕ｌの部分は「０」に相当す
る信号となり、圧痕ｌ以外の部分は「１」に相当する信
号となる。
２の他の表面へ照射された光の反射光に比べ、反射系１
０に導かれる光量が少ないため、２値化回路１３により
得られる２値化信号は、圧痕ｌの部分は「０」に相当す
る信号となり、圧痕ｌ以外の部分は「１」に相当する信
号となる。
この２値化回路１３からの２値化電気信号は。
マトリ、クスの配列順序に従って遂次第１の表示手段と
してのブラウン管１４へ供給され、これにより第２図に
示すごとく、そのスクリーン１４ａ上に圧痕１の像１′
が映し出される。
してのブラウン管１４へ供給され、これにより第２図に
示すごとく、そのスクリーン１４ａ上に圧痕１の像１′
が映し出される。
また、２値化回路１３からの２値化電気信号は、同様に
マトリックスの配列、順序に従って遂次マイクロコンビ
ーータのごとき演算手段１５へ供給される。
マトリックスの配列、順序に従って遂次マイクロコンビ
ーータのごとき演算手段１５へ供給される。
ところで、試料の硬さを示すものとして、プリネル硬さ
、ビッカース硬さ、ヌープ硬さ等ががあるが、これらの
硬さは圧痕作成の試験荷重をＦ・とすると、次のように
して求められる。
、ビッカース硬さ、ヌープ硬さ等ががあるが、これらの
硬さは圧痕作成の試験荷重をＦ・とすると、次のように
して求められる。
ブリネル硬さＨＢを求めるには、第３図に示すように、
圧痕１における所定の２方向の最大寸法ｄｘ、ｄｙを求
め、ＬＬ口」 をｄｍとすればよく、これによりブリネ
ル硬さＨＢは次のようになる。
圧痕１における所定の２方向の最大寸法ｄｘ、ｄｙを求
め、ＬＬ口」 をｄｍとすればよく、これによりブリネ
ル硬さＨＢは次のようになる。
また、ビッカース硬さＨＶを求めるには、第４図に示す
ように、圧痕１における所定の２方向の最大寸法即ち対
角線の長さｄｘ’、ｄｙ’を求りビッカース硬さＨＶは
次のようになる。
ように、圧痕１における所定の２方向の最大寸法即ち対
角線の長さｄｘ’、ｄｙ’を求りビッカース硬さＨＶは
次のようになる。
ＨＶ＝に□ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・（２）ｄｍ” ここで、ｋは定数である。
・・・・・・・・・・・・・・・・（２）ｄｍ” ここで、ｋは定数である。
さらに、ヌープ硬さＨＫを求めるには、第６図に示すよ
うに、圧ｆ！ＩＩＫおける所定方向の最大寸法ｌを求め
ればよく、これによりヌープ硬さＨＫは次のようになる
。
うに、圧ｆ！ＩＩＫおける所定方向の最大寸法ｌを求め
ればよく、これによりヌープ硬さＨＫは次のようになる
。
ここでに′は定数である。
演算手段１５では、求める硬さの種類に応じ上記の演算
式を適宜選択して、試料２の硬さを演算する。
式を適宜選択して、試料２の硬さを演算する。
例えば、ビッカース硬さＨＶを求める場合は、上記（２
）式を演算手段１５内においてセットし、第５図に斜線
で示すととく圧痕の対角線を含むように中央部における
十文字の範囲を走査することにより得られる２値化電気
信号から対角線の長さｄｘ’、ｄｙ’ を求め、これを
データとして予じめ記憶されているＦやｋの値とともに
、（２）式を演算して、ビッカース硬さｎｖに相当する
出力を出す。
）式を演算手段１５内においてセットし、第５図に斜線
で示すととく圧痕の対角線を含むように中央部における
十文字の範囲を走査することにより得られる２値化電気
信号から対角線の長さｄｘ’、ｄｙ’ を求め、これを
データとして予じめ記憶されているＦやｋの値とともに
、（２）式を演算して、ビッカース硬さｎｖに相当する
出力を出す。
なお、プリネル硬さＨＢを求める場合も、前述のビッカ
ース硬さＨＶを求める場合とほぼ同様にして、十文字の
範囲を走査することによって得られた信号に基づいて圧
痕１の最大寸法を計測することにより、試料２の硬さを
求めることが行なわれ、さらにヌープ硬さＩＩＫを求め
る場合は、第７図に斜線で示すととく圧痕１の対角線を
含むように中央部分のみを走査することにより得られる
信号に基づいて試料２の硬さを求めることが行なわれる
。
ース硬さＨＶを求める場合とほぼ同様にして、十文字の
範囲を走査することによって得られた信号に基づいて圧
痕１の最大寸法を計測することにより、試料２の硬さを
求めることが行なわれ、さらにヌープ硬さＩＩＫを求め
る場合は、第７図に斜線で示すととく圧痕１の対角線を
含むように中央部分のみを走査することにより得られる
信号に基づいて試料２の硬さを求めることが行なわれる
。
そして、この演算手段１５からの出力は図示しない適宜
のインターフェースを介して第２の表示手段としてのブ
ラウン管１４やプリンタ１７へ入力され、これにより第
２図に示すごとく。
のインターフェースを介して第２の表示手段としてのブ
ラウン管１４やプリンタ１７へ入力され、これにより第
２図に示すごとく。
ブラウン管１４のスクリーン１４ａ上に、硬さの値が表
示されたり、プリンタ１７で硬さの値が印字されたりす
る。
示されたり、プリンタ１７で硬さの値が印字されたりす
る。
また、演算手段１５からの出力を計算機１８へ入力して
、この計算機１７で硬さの値に基づき更に所望の演算処
理を行なうこともできる。
、この計算機１７で硬さの値に基づき更に所望の演算処
理を行なうこともできる。
ブラウン管１４は第１．第２の表示手段を兼用しており
、そのスクリーン１４ａ上には、第２図に示すごとく、
圧痕像１′と試料２の硬さの値とが同時に表示され更に
は圧痕対角線の長さも表示されるようになっているが、
第１．第２の表示手段を別々に設けて、例えば圧痕像１
′はブラウン管１４で表示し、試料２の硬さは液晶素子
やニキシー管によってディジタル表示するようにしても
よい。
、そのスクリーン１４ａ上には、第２図に示すごとく、
圧痕像１′と試料２の硬さの値とが同時に表示され更に
は圧痕対角線の長さも表示されるようになっているが、
第１．第２の表示手段を別々に設けて、例えば圧痕像１
′はブラウン管１４で表示し、試料２の硬さは液晶素子
やニキシー管によってディジタル表示するようにしても
よい。
上述の構成により、試料の硬さを計測して表示するには
、投光系３によって光が試料２の表面に照射され、試料
表面からの反射光が固体素子カメラ１１の光電変換素子
群１２により電気信号に変換されて、この電気信号が２
値化回路１３で２値化されたのち、この２値化電気信号
に基づき、ブラウン管１４のスクリーン１４ａ上に試料
表面の圧痕像１′が表示される。
、投光系３によって光が試料２の表面に照射され、試料
表面からの反射光が固体素子カメラ１１の光電変換素子
群１２により電気信号に変換されて、この電気信号が２
値化回路１３で２値化されたのち、この２値化電気信号
に基づき、ブラウン管１４のスクリーン１４ａ上に試料
表面の圧痕像１′が表示される。
また、上記２値化電気信号に基づき演算手段１５によっ
て圧痕１の最大寸法を計測するだけで迅速に試料２の硬
さが計測されて、この硬さの値がブラウン管１４のスク
リーン１４ａ上に圧痕像１′とほぼ同時に表示されると
ともにプリンタ１７で印字される。
て圧痕１の最大寸法を計測するだけで迅速に試料２の硬
さが計測されて、この硬さの値がブラウン管１４のスク
リーン１４ａ上に圧痕像１′とほぼ同時に表示されると
ともにプリンタ１７で印字される。
なお、演算手段１５からの信号は、計算機１８へも必要
に応じて供給され、所望の演算処理を施される。
に応じて供給され、所望の演算処理を施される。
このとき、投光系３の光は偏光板８を通じて試料表面へ
照射されているので、圧痕１が例えば２０μｍ以下の微
小な場合でも圧痕ｌの最大寸法を明確に認識でき、微小
圧痕ｌを形成された試料２の硬さをも正確に計測して表
示できるのである。
照射されているので、圧痕１が例えば２０μｍ以下の微
小な場合でも圧痕ｌの最大寸法を明確に認識でき、微小
圧痕ｌを形成された試料２の硬さをも正確に計測して表
示できるのである。
このように偏光板８を通じて光を照射することによって
圧痕１を明瞭に認識できるのは次の理由による。一般に
圧痕ｌが微小になると、対物レンズ７の倍率を４０〜１
００というように高くする必要があり、これにより対物
レンズ７の開口数が大きくなる。
圧痕１を明瞭に認識できるのは次の理由による。一般に
圧痕ｌが微小になると、対物レンズ７の倍率を４０〜１
００というように高くする必要があり、これにより対物
レンズ７の開口数が大きくなる。
これによって、圧痕１の内部からの反射光が多くなり、
試料２の表面からの反射光との差が少なくなるため、圧
痕１の輪郭が不明瞭になるのであるが、偏光板８を投光
系３に介装することにより、投光系３の光を偏光させる
ことができ、これにより圧痕内部からの反射光と試料２
の表面″７５）らの反射光との差を十分大きくできるか
らである。
試料２の表面からの反射光との差が少なくなるため、圧
痕１の輪郭が不明瞭になるのであるが、偏光板８を投光
系３に介装することにより、投光系３の光を偏光させる
ことができ、これにより圧痕内部からの反射光と試料２
の表面″７５）らの反射光との差を十分大きくできるか
らである。
以上詳述したよう゛に、本発明の硬さ計測表示方法およ
びその装置によれば、次のような効果ないし利点が得ら
れる。
びその装置によれば、次のような効果ないし利点が得ら
れる。
（ｌ）′試料の硬さを求めるに際し、少ないデータを用
いて行なうことができるので、演算処理時間を短くでき
るとともに、演算手段の容量を小さくできコストの低減
にも寄与しうる。
いて行なうことができるので、演算処理時間を短くでき
るとともに、演算手段の容量を小さくできコストの低減
にも寄与しうる。
（２） 試料の硬さの計測と同時に圧痕像を表示する
ことができるので、誤計測のチェックを確実にできる。
ことができるので、誤計測のチェックを確実にできる。
（３）投光系に偏光板が介設されているので、非常に小
さい圧痕を形成された試料の硬さも正確に計測できる。
さい圧痕を形成された試料の硬さも正確に計測できる。
図は本発明の一実施例としての硬さ計測表示方法および
その装置を示すもので、第１図は上記装置の全体構成図
、第２図は上記装置における第１．第２の表示手段によ
って試料表面の像と硬さの値とを表示する一例を示す模
式図、第３〜７図はいずれも圧痕から試料の硬さを求め
る手段を示す説明図である。 １・・圧痕 １／・・圧痕像、２・・試料、３・・投光
系、４・・照明ランプ、５・・集光レンズ、６・・ノ・
−フミラー、７・・対物レンズ、８・・偏光板、９・・
レンズ群、ｌＯ・・反射系、１１・・固体素子カメラ、
１２・・光電変換素子群、１３・・２値化回路、１４・
・第１゜第２の表示手段を兼ねるブラウン管、１ ｌＩ
ａ・・スクリーン、１５・・演算手段、１７・・プリ
ンタ、１８・・計算機。 代理人 弁理士 飯 沼 義 彦 第１図 第２図 第３図 第４図 第６図 昭和５７年 ８月 ６日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １ 事件の表示 昭和５６年特 許顧 第９２８２４号 ２ 発明の名称 硬さ計測表示方法およびその装置 ３ 補正をする者 事件との関係 出願人 郵便番号 １６０ 住所 東京都新宿区南元町５番地３号５ 補正
命令の日付 （自発補正） 明細書の発明の詳細な説明の欄。 ７ 補正の内容 （１）明細書第１０頁第１６行に記載された「計算機１
７」を「計算機１８」に補正する。
その装置を示すもので、第１図は上記装置の全体構成図
、第２図は上記装置における第１．第２の表示手段によ
って試料表面の像と硬さの値とを表示する一例を示す模
式図、第３〜７図はいずれも圧痕から試料の硬さを求め
る手段を示す説明図である。 １・・圧痕 １／・・圧痕像、２・・試料、３・・投光
系、４・・照明ランプ、５・・集光レンズ、６・・ノ・
−フミラー、７・・対物レンズ、８・・偏光板、９・・
レンズ群、ｌＯ・・反射系、１１・・固体素子カメラ、
１２・・光電変換素子群、１３・・２値化回路、１４・
・第１゜第２の表示手段を兼ねるブラウン管、１ ｌＩ
ａ・・スクリーン、１５・・演算手段、１７・・プリ
ンタ、１８・・計算機。 代理人 弁理士 飯 沼 義 彦 第１図 第２図 第３図 第４図 第６図 昭和５７年 ８月 ６日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １ 事件の表示 昭和５６年特 許顧 第９２８２４号 ２ 発明の名称 硬さ計測表示方法およびその装置 ３ 補正をする者 事件との関係 出願人 郵便番号 １６０ 住所 東京都新宿区南元町５番地３号５ 補正
命令の日付 （自発補正） 明細書の発明の詳細な説明の欄。 ７ 補正の内容 （１）明細書第１０頁第１６行に記載された「計算機１
７」を「計算機１８」に補正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｆｉｌ 圧痕を形成された試料表面へ光を照射し、同
試料表面からの反射光をマ） ＩＪフックス置された光
電変換素子群により電気信号に変換して、この電気信号
を２値化したのち、この２値化電気信号に基づき、上記
試料表面の圧痕像を表示するとともに、上記圧痕の最大
寸法を計測することにより上記試料の硬さを計測してこ
の硬さの値を表示することを特徴とする、硬さ計測表示
方法。 （２）圧痕を形成された試料表面へ光を照射する投光系
と、上記試料表面から反射した光を導く反射系とをそな
えるとともに、同反射系からの光を受けて電気信号に変
換すべくマトリックス配置された光電変換素子群と、同
光電変換素子群からの電気信号を２値化する２値化回路
と、同２値化回路からの２値化電気信号を受けて上記試
料表面の像を表示する第１の表示手段と、上記２値化回
路からの２値化電気信号を受けて上記圧痕の最大寸法を
計測することにより上記試料の硬さを計測する演算手段
と、同演算手段からの信号を受けて上記硬さの値を表示
する第２の表示手段とをそなえ、上記試料表面へ光を偏
光させて照射すべく、上記投光系に偏光板が設けられた
ことを特徴とする、硬さ計測表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9282481A JPS58738A (ja) | 1981-06-16 | 1981-06-16 | 硬さ計測表示方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9282481A JPS58738A (ja) | 1981-06-16 | 1981-06-16 | 硬さ計測表示方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58738A true JPS58738A (ja) | 1983-01-05 |
Family
ID=14065175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9282481A Pending JPS58738A (ja) | 1981-06-16 | 1981-06-16 | 硬さ計測表示方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58738A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4627096A (en) * | 1984-02-24 | 1986-12-02 | Consiglio Nazionale Delle Ricerche | Procedure and apparatus for the survey of the impression made on a specimen in measuring the hardness at penetration |
| US4860351A (en) * | 1986-11-05 | 1989-08-22 | Ibm Corporation | Tamper-resistant packaging for protection of information stored in electronic circuitry |
-
1981
- 1981-06-16 JP JP9282481A patent/JPS58738A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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