JP2001305838A - 画像形成装置 - Google Patents
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Abstract
形成することのできる画像形成装置を提供すること。 【解決手段】 感光体の画像形成域における同一出力に
よる書き込み光量に偏差を有する画像形成装置であっ
て、該感光体の感度に偏差を設けることによって該書き
込み光量の偏差を低減させたことを特徴とする画像形成
装置。
Description
し、さらに詳しくは、画像の濃度偏差を低減させ、高品
質の画像を形成することのできる画像形成装置に関する
ものである。
機、プリンター、ファクシミリー等の電子写真装置に
は、小型化及び低価格化の要求が高まってきていると共
に、形成される画像の一層の高品質化が求められてい
る。電子写真装置に占める光学系の体積の影響は大き
く、電子写真装置の小型化及び低価格化を実現するため
には、光学系の簡略化が有効なものとなる。しかし、例
えば、レーザービームを用いた電子写真装置において
は、同一出力のレーザー光を画像形成域の感光体へ書き
込むことを試みたとしても、小型化、低価格化を優先し
て光学系を簡略化すると、書き込み光が、特に画像形成
域の端部で傾斜する等の原因により、同一出力でありな
がら書き込み光量に偏差が生じ、この偏差により形成さ
れる画像の濃度が書き込み光量の低い場所、殊に画像形
成域の端部で薄いという問題が生じ、高品質の画像を要
求される電子写真装置では、光学系の簡略化は困難なも
のであった。そのため、ポリゴンミラーから感光体への
書き込み光の光路長を十分長くするために、ポリゴンミ
ラーと感光体の距離を十分とる、ミラーを多数使用す
る、多数のレーザービームを用いる等の手段を採らざる
を得ず、なおかつ小型化及び低価格化を困難なものにし
ていた。書き込み光に偏差が存在することが予め分かっ
ている場合は、偏差に応じて出力を変化させて対応する
ことも考えられるが、プロセスが複雑になり、コストア
ップにもつながると共に、画像濃度に異常が生じ易いと
いうものであった。
現状を克服し、画像の濃度偏差を低減させ、高品質の画
像を形成することのできる画像形成装置を提供すること
をその課題とするものである。
を解決するために感光体の感度に着目して鋭意検討を重
ねた結果、書き込み光量の偏差が生じたとしても、その
偏差を低減させるように感光体の感度に偏差を設けれ
ば、画像の濃度偏差を低減させ、高品質の画像を形成す
ることのできる画像形成装置を実現できるということを
見出し、この知見に基づいて本発明を完成するに到っ
た。すなわち、本発明によれば、感光体の画像形成域に
おける同一出力による書き込み光量に偏差を有する画像
形成装置であって、該感光体の感度に偏差を設けること
によって該書き込み光量の偏差を低減させたことを特徴
とする画像形成装置が提供される。
従いながら説明する。図1は、感光体の画像形成域にお
ける同一出力による書き込み光量と感光体の位置との関
係を示すものである。縦軸は、画像形成域での同一出力
における書込み光の光量の最大値を100%としたとき
の光量の相対値を示す。例えば、感光体の画像形成域に
おける同一出力による書き込み光量が、図1に示すよう
な分布を有する場合、感度が均一な感光体を用いると、
同一出力で画像形成域に書き込まれた画像の濃度は、基
本的に書き込み光量の分布に対応して、図3(実線)の
ような濃度分布を示す。図2は、感光体の感度と感光体
の位置との関係を示すものである。縦軸は、画像形成域
での感光体の感度の最大値を100%としたときの感度
の相対値を示す。図3は、画像濃度と感光体の位置との
関係を示すものである。縦軸は、画像形成された画像の
画像濃度の最大値を100%としたときの画像濃度の相
対値を示す。この光学系を用いて、感光体の感度の分布
が図2のように書き込み光量の低い箇所を高感度にし、
書き込み光量の高い箇所を低感度にして、画像濃度を図
3(破線)のように、より均一にするものである。おお
よそ、感光体の画像形成域における同一出力による書き
込み光量は、画像形成域の端部で低くなることから、感
光体の画像形成域の左右両方、少なくとも左右のいずれ
か片方の箇所を、画像形成域の中心付近に比べて高感度
にすることにより、均一な濃度の画像を得ることができ
るものとなる。
感光体の感度に偏差を設けることによって書き込み光量
の偏差を低減させるものである。感光体の感度に偏差を
設ける方法としては、感光体が必要により下引層を有す
導電性支持体の上に、電荷発生層、電荷輸送層及び必要
により保護層を、順次、積層した積層型感光体において
は、各層間の界面を機械的、化学的又は電気化学的に変
える方法、各層又は特定の層の膜厚に偏差を持たせる方
法等が挙げられるが、再現性、異常画像の発生度合い、
簡便性を考慮すると、各層の膜厚に偏差をを持たせるこ
とが好ましい。特に、電荷発生層の膜厚に偏差を持たせ
ることが、スジ、ムラ、モアレ等の異常画像を発生させ
ることなく、かつ感度偏差を簡便に設けることができる
ので好ましい方法である。一般に、電荷発生層は他の層
に比べて膜厚が極めて薄いため、膜厚に偏差を設設けた
としても異常画像を発生させることが少なく、また、電
荷発生層の膜厚が薄いために膜厚の偏差の作成も容易で
あり、かつ他の方法に比べて感度偏差を大きくとること
が可能であるからである。
には、導電性支持体と感光層との界面を、各層間の界面
について機械的、化学的又は電気化学的に変えることに
より、偏差を設ける方法、感光層の膜厚に偏差を持たせ
て感光体の感度に偏差を設ける方法等が例示できるが、
積層型感光体に比べて異常画像が発生しやすい。
度の偏差は、上記のとおり、電荷発生層の膜厚として、
すなわち、電荷発生物質の付着量に偏差を設けることが
特に好ましい。感光体の感度の偏差は、静電特性等によ
り測定、管理することもできるが、電荷発生物質の付着
量と感光体の感度とは、一般に良好な相関関係が存在す
る。すなわち、一般に、電荷発生物質の付着量の多い箇
所は高感度であり、電荷発生物質の付少ない箇所は低感
度である。従って、電荷発生物質の付着量の測定、管理
で代用することにより、感光体の感度の偏差測定、管理
すること方が簡便で好ましいものである。電荷発生物質
の付着量の測定は、物理的、化学的、電気化学的又は分
光学的測定等、種々の方法を採用することが可能である
が、分光学的測定方法は、感光体を破壊することがな
く、簡便で、測定精度が高いため、好ましい方法であ
る。中でも、マクベス反射濃度計は、簡便で、信頼性が
高いので特に好ましい。電荷輸送層又は保護層は、マク
ベス反射濃度計で用いる測定光に対してほとんど透明で
あり、感光層中で測定光を吸収できるのは、電荷発生物
質のみであるため、マクベス濃度計による測定は、電荷
発生物質の付着量を的確に表すことができ、かつ作製し
た感光体を破壊することなく、簡便に測定することがで
きるためきわめて好ましい。
感光体の画像形成域における同一出力による書き込み光
量に偏差を有するが、画像形成域における感光体の各位
置での同一出力による書き込み光量(E)と、その位置
でのマクベス反射濃度計で測定した感光体のマクベスI
D(ID)との積の最大値〔(E・ID)max〕に対
する最大値と最小値の差〔(E・ID)min〕の比率
と、感光体の画像形成域における同一出力による書き込
み光量の最大値(Emax)に対する最大値と最小値
(Emin)との差の比率とが、下記式(1)を満足す
ることににより適正な画像濃度の画像を形成することが
できるものである。 (E・ID)max-(E・ID)min)/(E ・ID)max<(Emax-Emin)/Emax (1) IDと感光体の感度とは、かなり良好な相関関係が存在
するため、(E・ID)は、書き込み光を照射後の感光
体の表面電位と相関関係にある。従って、上記式(1)
が成立するということは、感光体の画像形成域における
同一出力による書き込み光量の偏差に比べて、感光体の
画像形成域における同一出力による書き込み後の感光体
の表面電位の偏差が小さくなることを意味しているた
め、適正な画像濃度での画像形成が可能となるのであ
る。
光体のマクベスIDの値としては、0.5〜2.0、好
ましくは、0.7〜1.8、より好ましくは、0.9〜
1.5である。マクベスIDが0.5未満では、感光体
の感度が低すぎるため実用が難しく、2.0を越える
と、IDと感光体の感度との相関関係が変化するため、
上記式(1)の適用が難しくなるので望ましくない。本
発明の画像形成装置における〔(E・ID)max−
(E・ID)min)/(E・ID)max〕は、0.
15以下、好ましくは、0.13以下、より好ましく
は、0.10以下である。0.15を越える場合は、形
成された画像の濃度が適切でなくなり、高画質の画像形
成は達成できなくなるので望ましくない。発明の画像形
成装置における(Emax−Emin)/Emax)
は、0.005〜0.200、好ましくは、0.010
〜0.150、より好ましくは、0.02〜0.13で
ある。0.005未満では、感光体の感度に偏差を設け
ること自体が不要であり、0.200を越える場合は、
感光体の慮度に偏差を設けても形成された画像の濃度が
適切でなくなり、高画質の画像形成は達成できなくな
る。
感光体の画像形成域における同一出力による書き込み光
量に偏差を有するが、画像形成域における感光体の各位
置での同一出力による書き込み光量に偏差が生じる理由
としては、書き込み光のの減衰、fθレンズの精度に伴
う書き込み光の感光体での結像不良、書き込み光の感光
体表面への入射角が感光体の画像形成域で一定でないこ
と等が考えられる。また、光学系を小型化しようとすれ
ば、書き込み光の感光体への入射角が感光体の画像形成
域で一定でなくなるため、書き込み光量に偏差が生じ易
いものとなる。図4は、本発明の画像形成装置の一部を
示す概略図である。本発明の画像形成装置においては、
感光体の画像形成域における感光体書き込み光の感光体
への図4に示す入射角θ1 、θ2 の絶対値の最大値は、
10°〜35°、好ましくは15°〜30°、より好ま
しくは、18°〜28°とすることが好ましい。入射角
θ1、θ2の絶対値の最大値が10°未満では、光学系
を大きくする必要があり、35°を越える場合は、画像
に歪みが生じ易くなるので望ましくない。
ジタル系ともに有効であるが、特にデジタル系画像形成
装置として有用である。本発明のデジタル系画像形成装
置においては、光源としてレーザー光を走査光学系によ
り感光体に照射する方式、発光ダイオード(LED)ア
レイにより照射する方式のいずれの照射方式も可能であ
る。しかし、発光ダイオード(LED)アレイにより照
射する方式では、発光ダイオードの偏差が、各LEDに
より異なり、その傾向も一定でないため、個々のLED
の偏差に合わせて感光体の感度に偏差を設ける必要があ
り、生産効率が低くなるため、あまり好ましくない。一
方、レーザー光を走査光学系により感光体に照射する方
式は、光学系の設計が決定すれば、感光体の画像形成域
における同一出力による書き込み光量の偏差はほぼ一定
となるので、同一機種での画像形成装置では、一定の感
度の偏差を有する感光体を用いればよい。レーザー光を
走査光学系により感光体に照射する場合、一般的にfθ
レンズを用いて感光体にレーザー光を書き込むが、fθ
レンズの性格上、感光体の画像形成域端部の書き込み光
量が、画像形成域中央に比べて低くなることは避けられ
ないため、本発明の感光体を用いることは、きわめて有
効である。
上記のとおり、必要により下引層を有する導電性支持体
上に、電荷発生層、電荷輸送層及び必要により保護層を
形成した積層型感光体であることが好ましい。導電性支
持体としては、銅、アルミニウム、金、銀、白金、鉄、
パラジウム、ニッケル等の金属又はこれら金属を主成分
とする合金のシート状又はドラム状に形成したもの、上
記の金属、酸化錫、酸化インジウム等をプラスチックフ
ィルム等に真空蒸着、無電解メッキ等により付着させた
シート等が挙げられる。
を主成分としたもの、導電性基体表面を化学的あ又は電
気化学的に酸化させた酸化金属膜等を挙げることができ
る。下引層に用いる樹脂としては、ポリアミド、ポリビ
ニルアルコール、カゼイン、メチルセルロース等の熱可
塑性樹脂、アクリル、フェノール、メラミン、アルキッ
ド、不飽和ポリエステル、エポキシ等の熱硬化性樹脂が
挙げられる。白色顔料としては、酸化チタン、酸化アル
ミニウム、酸化ジルコニウム、酸化亜鉛等の金属酸化物
が挙げられ、中でも導電性基体からの電荷の注入防止性
に優れる酸化チタンは最も好ましい白色顔料である。下
引層中の白色顔料のうち、酸化チタンの使用量は重量基
準で、60〜100%、好ましくは、70〜100%、
より好ましくは、80〜100%ある。酸化チタンの使
用量が60%未満では、環境変動により下引層の特性が
変動しやすくなり、導電性支持体からの電荷の注入をブ
ロックする効果が不安定になるので望ましくない。下引
層の膜厚は0.1μm〜15μm、好ましくは、1〜1
2μmである。
と電荷輸送層からなる感光層を設けるに当たっては、公
知の方法を採用することができ、この感光層を構成する
材料にも、公知の有機及び無機材料を使用することがで
きる。さらに、感光層の表面に保護層等を設けてもよ
い。本発明の感光体に用いる電荷発生物質としては、例
えば、モノアゾ系顔料、ビスアゾ系顔料、トリスアゾ系
顔料、テトラキスアゾ顔料、トリアリールメタン系染
料、チアジン系染料、オキサジン系染料、キサンテン系
染料、シアニン系色素、スチリル系色素、ビリリウム系
染料、キナクリドン系顔料、インジゴ系顔料、ペリレン
系顔料、多環キノン系顔料、ビスベンズイミダゾール系
顔料、インダスロン系顔料、スクアリリウム系顔料、フ
タロシアニン系顔料等の有機系顔料又は染料や、セレ
ン、セレン−ヒ素、セレン−テルル、硫化カドミウム、
酸化亜鉛、酸化チタン、アモルファスシリコン等の無機
材料を挙げることができる。これら電荷発生物質は、単
独で用いてもよく、混合物として用いてもよい。
偏差を設けるために電荷発生物質の付着量に偏差を設け
る方法としては、湿式法、乾式法共に採用可能である
が、量産性に優れる湿式法により行うことが好ましい。
円筒形の感光体にあっては、浸漬塗工法、スプレー塗工
法が好ましい。浸漬塗工法においては、塗膜の膜厚は導
電性支持体を塗工液に浸漬後、導電性支持体の引き上げ
速度に対応して変化するため、感光体の引き上げ速度を
変化させながら導電性支持体を引き上げれば、塗膜の膜
厚に所定の偏差を設けることができる。また、スプレー
塗工法においては、塗布液のスプレー量に偏差を設ける
ことにより、塗膜の膜厚に変化を持たせることができ
る。
ては、例えぱ、アントラセン誘導体、ピレン誘導体、カ
ルバゾール誘導体、テトラゾール誘導体、メタロセン誘
導体、フェノチアジン誘導体、ピラゾリン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、スチリルヒドラゾン化
合物、エナミン化合物、ブタジエン化合物、ジスチリル
化合物、オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合
物、チアゾール化合物、イミダゾール化合物、トリフェ
ニルアミン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アミノ
スチルベン誘導体、トリフェニルメタン誘導体等をあげ
ることができ、これら電荷輸送物質は、単独で用いても
よく、混合物として用いてもよい。
着樹脂としては、公知の熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、
光硬化性樹脂又は光導電性樹脂等を挙げることができ
る。適切な結着樹脂としては、例えば、ポリ塩化ビニ
ル、ポリ塩化ビニリデン、塩化ビニル−酢酸ビニル共重
合体、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸共重合
体、エチレン−酢酸ビニル共重合体、ポリビニルブチラ
ール、ポリビニルアセタール、ポリエステル、フェノキ
シ樹脂、(メタ)アクリル樹脂、ポリスチレン、ポリカ
ーボネート、ポリアリレート、ポリスルホン、ポリエー
テルスルホン、ABS樹脂等の熱可塑性樹脂、フェノー
ル樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、メラミン樹脂、
イソシアネート樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹
脂、熱硬化性アクリル樹脂等の熱硬化性樹脂、ポリビニ
ルカルバゾール、ポリビニルアントラセン、ポリビニル
ピレン等が挙げられ、これら樹脂は、単独で用いてもよ
く、混合物として用いてもよい。
く説明するが、これら実施例によって本発明はなんら限
定されるものではない。なお、「部」、「%」とあるの
は、重量基準である。 実施例1 アクリル樹脂(アクリディックA−460−60(大日
本インキ化学工業製))15部及びメラミレ樹脂(スー
パーベッカミンL−121−60(大日本インキ化学工
業製))10部をメチルエチルケトン80部に溶解し、
これに酸化チタン粉末(TM−1(富士チタンエ業
製))90部加え、ボールミルで12時間分散して、下
引層塗布液を調製した。この下引層塗布液を直径120
mm、長さ346mm、厚さmmのアルミドラムに引き
上げ速度一定の浸漬塗工により塗布し、140℃で20
分乾燥して、厚さ2μmの下引層を形成した。次に、ブ
チラール樹脂(エスレックBLS、積水化学製)15部
をシクロヘキサノン150部に溶解し、これに下記構造
式のトリスアゾ顔料10部を加えてボールミルで48時
間分散した。
を行った。これを固形分が1.5%になるように撹拌し
ながら、シクロヘキサノンで希釈して電荷発生層用塗工
液を調製した。この電荷発生層用塗工液を用い、上記下
引層上に浸漬塗工で、引き上げ速度を変化させながら電
荷発生層を形成した。さらに、下記構造式の電荷輸送物
質6部、ポリカーボネート樹脂(パンライトK−130
0、帝人化成製)10部及びシリコンオイル(KF−5
0、信越化学工業製)0.002部を90部の塩化メチ
レンに溶解して電荷輸送層塗工液を調製した。
により塗布し乾燥して、厚さ23μmの電荷輸送層を形
成し、電子写真感光体を作製した。このようにして作製
した感光体の画像形成域(A3)における感度表面のマ
クベスID分布を、RD918マクベス反射濃度計(マ
クベス社製)で測定したところ、図5(実線)に示す分
布分布であった。PRETER550(リコー製)の光
学系を改造して同一出力による書き込み光量の偏差を図
6のようにし、上記感光体を用いて画像形成域全面に均
一な白黒ハーフトーン画像を出力した。図6の縦軸は、
画像形成域での同一出力における書込み光の光量の最大
値を100%としたときの光量の相対値を示す。この画
像の濃度をRD918マクベス反射濃度計で測定したと
ころ、図7(実線)に示す分布であった。画像を視認し
たところ、極端に濃度が不均一であることは認められな
かった。
より行いほぼ均一な電荷発生層を形成した以外は、実施
例1と同様にして電子写真感光体を作製した。実施例1
と同様に感光体のマクベスID分布を測定したところ、
図5(破線)に示す分布であった。感光体のマクベスI
D分布は、実施例1に比べて均一であり、かつ画像形成
装置の同一出力による書き込み光量の偏差と感光体のマ
クベスID分布は全く対応していなかった。この感光体
を用いる以外は、実施例1と同様にして画像形成域全面
に均一な白黒ハーフトーン画像を出力した。この画像の
濃度を測定したところ、図7(破線)のような分布とな
り、実施例1の画像に比べて画像の濃度が不均一である
ことが分かる。画像を視認したところ、中央部が濃く、
端部、特に右端部が薄い傾向が認められた。
の引き上げ速度を変化させることにより、感光体A〜C
を作製した。各感光体のマクベスIDの最大値、最小値
は、表1のとおりであった。各感光体を用いた以外は、
実施例1と同様して画像形成装置によりA3の大きさの
カラー広告をコピーして、その画像品質を視認した。結
果を表1に示す。
光学系を改造して、種々の(Emax−Emin)/E
maxの画像形成装置を作製し、実施例2と同様にし
て、画像を画像を視認し評価した。結果を表1に示す。
させ、高品質の画像を形成することのできる画像形成装
置が提供され、複写機、プリンター、ファクシミリー等
の電子写真装置の設計、作製分野に寄与するところはき
わめて大きいものである。
き込み光量と感光体の位置との関係を示すものである。
を示すものである。
により出力された画像濃度と感光体の位置との関係を示
すものである。
る。
スIDと感光体の位置との関係を示すものである。
と感光体の位置との関係を示すものである。
IDと感光体の位置との関係を示すものである。
Claims (8)
- 【請求項1】 感光体の画像形成域における同一出力に
よる書き込み光量に偏差を有する電子写真装置であっ
て、該感光体の感度に偏差を設けることによって該書き
込み光量の偏差を低減させたことを特徴とする画像形成
装置。 - 【請求項2】 感光体の感度に偏差を設けることが、感
光体を形成する電荷発生層の電荷発生物質の付着量に偏
差を設けるものである請求項1に記載の画像形成装置。 - 【請求項3】 画像形成域における感光体の各位置の同
一出力による書き込み光量(E)と、その位置の感光体
のマクベスID(ID)との積の最大値〔(E・ID)
max〕に対する最大値と最小値〔(E・ID)mi
n〕の差の比率と、感光体の画像形成域における同一出
力による書き込み光量の最大値(Emax)に対する最
大値と最小値(Emin)との差の比率とが、下記式
(1)を満足するものである請求項1又は2に記載の画
像形成装置。 (E・ID)max-(E・ID)min)/(E ・ID)max<(Emax-Emin)/Emax (1) - 【請求項4】 画像形成域における感光体の各位置の同
一出力による書き込み光量(E)と、その位置の感光体
のマクベスID(ID)との積の最大値〔(E・ID)
max〕に対する最大値と最小値〔(E・ID)mi
n〕の差の比率が、下記式(2)を満足するものである
請求項1〜3のいずれかに記載の画像形成装置。 (E・ID)max-(E・ID)min)/(E ・ID)max≦0.10 (2) - 【請求項5】 画像形成域における感光体のマクベスI
Dが、0.8〜1.6である請求項1〜4のいずれかに
記載の画像形成装置。 - 【請求項6】 感光体の画像形成域における同一出力に
よる書き込み光量の最大値に対する最大値と最小値との
差の比率〔(Emax−Emin)/(Emax)〕
が、0.005〜0.200%である請求項1〜5のい
ずれかに記載の画像形成装置。 - 【請求項7】 感光体の画像形成域における書き込み光
の感光体への入射角の絶対値の最大値が、15°〜35
°である請求項1〜6のいずれかに記載の画像形成装
置。 - 【請求項8】 書き込み光がレーザー光であって、fθ
レンズを用いた走査光学系により感光体表面に照射して
画像形成を行うものである請求項1〜7のいずれかに記
載の画像形成装置。
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