JP2001304848A - 薄円板の形状評価方法およびその装置 - Google Patents

薄円板の形状評価方法およびその装置

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JP2001304848A
JP2001304848A JP2000123835A JP2000123835A JP2001304848A JP 2001304848 A JP2001304848 A JP 2001304848A JP 2000123835 A JP2000123835 A JP 2000123835A JP 2000123835 A JP2000123835 A JP 2000123835A JP 2001304848 A JP2001304848 A JP 2001304848A
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Wataru Yamada
渉 山田
Mitsuo Muraki
光郎 村木
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Kuroda Precision Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、薄円板の板厚を測定して薄円板の
形状を評価する薄円板の形状評価方法およびその装置に
関し、薄円板の板厚を迅速に測定し、薄円板の形状を迅
速に評価することを目的とする。 【解決手段】 薄円板の板厚を半径方向に間隔を置いて
複数箇所同時に測定することを、所定角度を置いて複数
の半径方向に対して行い、測定された前記薄円板の複数
の測定点の板厚値に基づいて前記薄円板の形状を評価す
ることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、薄円板の板厚を測
定して薄円板の形状を評価する薄円板の形状評価方法お
よびその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、情報記録媒体として使用されるD
VD,CD−R等の基板となる薄円板は、樹脂を射出成
形することにより製造されている。そして、特に、DV
Dの基板となる薄円板では、その情報量が飛躍的に増大
するため、薄円板の板厚を、例えば、ミクロンオーダー
の精度で維持する必要がある。
【0003】従来、薄円板の板厚を所定の精度で維持す
るために、射出成形された薄円板の板厚を測定し、測定
された値に基づいて、成形用の金型への溶融樹脂の流し
込み量等の射出成形条件を変化することが行われてい
る。そして、従来、このような薄円板の板厚を測定する
装置として、例えば、特開平5−40018号公報に開
示される円盤厚み測定器が知られている。
【0004】図10は、この円盤厚み測定器を示すもの
で、この測定器では、円盤1の外周がローラ2により保
持され、ローラ2の回転により円盤1が回転される。一
方、円盤1を挟んで一対のレーザ変位計3が対向配置さ
れ、円盤1を回転した状態で、一対のレーザ変位計3を
支持する支持部材4を半径方向に移動することにより円
盤1の板厚が測定される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな円盤厚み測定器では、円盤1を回転した状態で、レ
ーザ変位計3を半径方向に移動することにより円盤1の
板厚を測定しているため、円盤1の動きとレーザ変位計
3の動きが重なると、測定軌跡が螺旋形状になり、正確
に円盤1の厚み分布を得ることが困難になるという問題
があった。
【0006】また、逆に厚み分布を正確に得るために
は、円盤1の半径方向にレーザ変位計3を移動し、所定
の位置でレーザ変位計3を停止し、この状態で円盤1を
回転して板厚を測定する必要があるため、測定に多大な
時間が必要になるという問題があった。本発明は、かか
る従来の問題点を解決するためになされたもので、薄円
板の板厚を迅速に測定することができるとともに、薄円
板の形状を迅速に評価することができる薄円板の形状評
価方法およびその装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1の薄円板の形状
評価方法は、薄円板の板厚を半径方向に間隔を置いて複
数箇所同時に測定することを、所定角度を置いて複数の
半径方向に対して行い、測定された前記薄円板の複数の
測定点の板厚値に基づいて前記薄円板の形状を評価する
ことを特徴とする。
【0008】請求項2の薄円板の形状評価方法は、請求
項1記載の薄円板の形状評価方法において、前記薄円板
の板厚値を、前記薄円板に対応する円が表示されるディ
スプレイ上において、前記板厚値が得られた測定点に対
応する位置に表示し、この表示に基づいて前記薄円板の
形状を評価することを特徴とする。請求項3の薄円板の
形状評価方法は、請求項1または請求項2記載の薄円板
の形状評価方法において、前記薄円板は、射出成形され
た樹脂材料からなり、評価された形状に基づいて射出成
形条件を変化することを特徴とする。
【0009】請求項4の薄円板の形状評価装置は、装置
本体内に形成される測定部に薄円板を搬送する搬送手段
と、前記搬送手段により前記測定部に搬送された前記薄
円板を回転自在に支持する支持手段と、前記支持手段に
支持された前記薄円板を回転する回転駆動手段と、前記
支持手段に支持される薄円板の半径方向に間隔を置いて
配置され前記薄円板の板厚を測定する複数の板厚測定部
を備えた測定手段と、前記回転駆動手段を作動し前記薄
円板が所定角度回転する毎に前記測定手段を作動する制
御手段と、前記測定手段で測定された板厚値を入力しデ
ィスプレイ上に表示する演算表示手段とを有することを
特徴とする。
【0010】請求項5の薄円板の形状評価装置は、請求
項4記載の薄円板の形状評価装置において、前記演算表
示手段は、前記測定手段で測定された薄円板の板厚値
を、前記薄円板に対応する円が表示されるディスプレイ
上において、前記板厚値が得られた測定点に対応する位
置に表示することを特徴とする。請求項6の薄円板の形
状評価装置は、請求項4または請求項5記載の薄円板の
形状評価装置において、前記演算表示手段は、前記測定
手段で測定された薄円板の板厚値に基づいて、前記薄円
板の最大板厚値,最小板厚値,最大板厚値と最小板厚値
との差の値、または平均板厚値のいずれか1つ以上の値
を表示することを特徴とする。
【0011】請求項7の薄円板の形状評価装置は、請求
項4ないし請求項6のいずれか1項記載の薄円板の形状
評価装置において、前記搬送手段は、前記薄円板を水平
状態で搬送し、前記支持手段は、前記薄円板を水平状態
で支持することを特徴とする。請求項8の薄円板の形状
評価装置は、請求項7記載の薄円板の形状評価装置にお
いて、前記搬送手段は、前記薄円板を水平状態で収容す
る移動テーブルを有することを特徴とする。
【0012】請求項9の薄円板の形状評価装置は、請求
項8記載の薄円板の形状評価装置において、前記支持手
段は、前記移動テーブルに収容された薄円板の中心の上
方に回転自在に配置され前記回転駆動手段により回転さ
れる上側回転部材と、前記移動テーブルに収容された薄
円板の中心の下方に回転自在に配置され前記移動テーブ
ルの中心に形成される貫通穴を貫通して上方に移動可能
な下側回転部材と、前記下側回転部材を上方に移動し前
記薄円板を前記下側回転部材と前記上側回転部材との間
に挟持する上下駆動手段とを有することを特徴とする。
【0013】請求項10の薄円板の形状評価装置は、請
求項4ないし請求項9のいずれか1項記載の薄円板の形
状評価装置において、前記制御手段は、前記回転駆動手
段を間歇駆動し、前記薄円板を所定角度毎に間歇回転す
ることを特徴とする。請求項11の薄円板の形状評価装
置は、請求項4ないし請求項10のいずれか1項記載の
薄円板の形状評価装置において、前記演算表示手段は、
前記測定手段で測定された薄円板の板厚値を、予め定め
られた板厚値との差に応じてカラー表示することを特徴
とする。
【0014】(作用)請求項1の薄円板の形状評価方法
では、薄円板の板厚を半径方向に間隔を置いて複数箇所
同時に測定することを、所定角度を置いて複数の半径方
向に対して行うことにより、薄円板の板厚の測定が迅速
に行われる。そして、測定された薄円板の複数の測定点
の板厚値に基づいて薄円板の形状が迅速に評価される。
【0015】請求項2の薄円板の形状評価方法では、薄
円板の板厚値が、薄円板に対応する円が表示されるディ
スプレイ上において、板厚値が得られた測定点に対応す
る位置に表示される。そして、この表示に基づいて薄円
板の形状が評価される。請求項3の薄円板の形状評価方
法では、薄円板が、射出成形された樹脂材料からなる。
【0016】そして、評価された形状に基づいて射出成
形条件が変化される。請求項4の薄円板の形状評価装置
では、先ず、搬送手段に薄円板が供給され、薄円板が装
置本体内に形成される測定部に搬送される。そして、測
定部において、支持手段により薄円板が回転自在に支持
される。
【0017】次に、制御手段により、支持手段に支持さ
れた薄円板を回転する回転駆動手段が作動され、薄円板
が所定角度回転する毎に測定手段が作動される。そし
て、測定手段の1回の作動により、支持手段に支持され
る薄円板の板厚が、半径方向に間隔を置いて複数箇所同
時に測定され、この測定が、所定角度を置いて複数の半
径方向に対して行われる。
【0018】そして、測定手段で測定された板厚値が、
演算表示手段に出力され、演算表示手段によりディスプ
レイ上に表示される。請求項5の薄円板の形状評価装置
では、演算表示手段により、測定手段で測定された薄円
板の板厚値が、薄円板に対応する円が表示されるディス
プレイ上において、板厚値が得られた測定点に対応する
位置に表示される。
【0019】請求項6の薄円板の形状評価装置では、演
算表示手段により、測定手段で測定された薄円板の板厚
値に基づいて、薄円板の最大板厚値,最小板厚値,最大
板厚値と最小板厚値との差の値、または平均板厚値のい
ずれか1つ以上の値が表示される。請求項7の薄円板の
形状評価装置では、搬送手段により薄円板が水平状態で
搬送され、支持手段により薄円板が水平状態で支持され
る。
【0020】請求項8の薄円板の形状評価装置では、搬
送手段の移動テーブルに、薄円板が水平状態で収容さ
れ、薄円板が測定部に搬送される。請求項9の薄円板の
形状評価装置では、搬送手段の移動テーブルにより薄円
板が測定部に搬送されると、上下駆動手段により、下側
回転部材が移動テーブルの貫通穴を通り上方に移動さ
れ、薄円板が上方に移動され、薄円板が下側回転部材と
上側回転部材との間に挟持され支持される。
【0021】そして、この状態で、回転駆動手段により
上側回転部材が回転され、薄円板が回転される。請求項
10の薄円板の形状評価装置では、制御手段により、回
転駆動手段が間歇駆動され、薄円板が所定角度毎に間歇
回転される。
【0022】請求項11の薄円板の形状評価装置では、
演算表示手段により、測定手段で測定された薄円板の板
厚値が、予め定められた板厚値との差に応じてカラー表
示される。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
用いて詳細に説明する。
【0024】図1は、本発明の薄円板の形状評価装置の
一実施形態を示しており、この実施形態では、装置は、
装置本体11と、演算表示手段13と、ディスプレイ1
5とを備えている。演算表示手段13は、パーソナルコ
ンピュータ17と、キーボード19とを備えている。
【0025】装置本体11は、図2に示すように、直方
体状の外形を有しており、その正面左側には、装置本体
11内の測定部21に薄円板23を搬送する搬送手段2
5が配置されている。薄円板23は、射出成形された樹
脂材料からなり、例えば、DVD用の基板として使用さ
れる。
【0026】搬送手段25は、薄円板23を水平状態で
収容する移動テーブル27を有している。図3および図
4は、測定部21の詳細を示すもので、この測定部21
には、搬送手段25により搬送された移動テーブル27
上の薄円板23を回転自在に支持する支持手段29が配
置されている。
【0027】この支持手段29は、移動テーブル27に
収容され、測定部21に移動された薄円板23の中心の
上方に配置される上側回転部材31と対向している。こ
の上側回転部材31は、装置本体11内に形成されるブ
ラケット33に、図示しないベアリングを介して回転自
在に支持されている。また、ブラケット33には、モー
タからなる回転駆動手段35が配置され、この回転駆動
手段35の回転が、コグベルト等の伝達手段37を介し
て上側回転部材31に伝達されている。
【0028】移動テーブル27に収容され、測定部21
に移動された薄円板23の中心の下方には、下側回転部
材39が配置されている。この下側回転部材39の大径
部39aは、装置本体11の底面11aに固定される固
定軸41に、ベアリング43を介して回転自在に支持さ
れている。また、下側回転部材39は、移動テーブル2
7の中心に形成される貫通穴27aを貫通して上方に移
動可能とされている。
【0029】装置本体11の底面11aには、例えば、
エアーシリンダからなる上下駆動手段45が配置されて
いる。そして、上下駆動手段45を作動し、下側回転部
材39を上方に移動することにより、図5に示すよう
に、薄円板23が、下側回転部材39と上側回転部材3
1との間に挟持され、移動テーブル27から浮いた状態
で支持される。
【0030】なお、この実施形態では、移動テーブル2
7は、移動テーブル27と装置本体11の間に配置され
るローラ47の回転により測定部21まで移動される。
そして、測定部21には、図4に示すように、支持手段
29に支持される薄円板23の板厚を測定する測定手段
51が配置されている。この測定手段51は、薄円板2
3の半径方向に間隔を置いて配置され薄円板23の板厚
を測定する3体の板厚測定部53を備えている。
【0031】3体の板厚測定部53は、図6に示すよう
に、薄円板23の両側に対向して配置される支持部材5
5を有している。支持部材55の先端には、レーザ変位
計等の距離センサ57が配置されている。
【0032】この距離センサ57からの信号は、後述す
る演算表示手段13に出力される。図7は、上述した薄
円板の形状評価装置の制御ブロックを示すもので、制御
手段59は、搬送手段25,支持手段29,回転駆動手
段35,測定手段51を制御する。すなわち、制御手段
59は、搬送手段25の移動テーブル27に薄円板23
が収容され、所定のスイッチがオンされると、ローラ4
7を回転し、移動テーブル27を支持手段29の位置、
すなわち、測定部21まで搬送する。
【0033】次に、制御手段59は、支持手段29の上
下駆動手段45を作動し、下側回転部材39を上方に移
動し、図5に示したように、薄円板23を上側回転部材
31と下側回転部材39との間に挟持する。次に、制御
手段59は、支持部材55に配置される距離センサ57
を作動し、支持手段29に支持される薄円板23の板厚
を、半径方向に間隔を置いて3箇所同時に測定する。
【0034】そして、制御手段59は、この時の薄円板
23の回転角度を0度として後述する演算表示手段13
に出力する。次に、制御手段59は、回転駆動手段35
を作動し、薄円板23を予め定められた角度、例えば、
45度の角度回転する。次に、制御手段59は、支持部
材55に配置される距離センサ57を作動し、支持手段
29に支持される薄円板23の板厚を、半径方向に間隔
を置いて3箇所同時に測定する。
【0035】そして、制御手段59は、この時の薄円板
23の回転角度を45度として後述する演算表示手段1
3に出力する。そして、これを繰り返すことにより、例
えば、薄円板23の板厚が、45度の角度を置いて8方
向に測定される。
【0036】そして、薄円板23の板厚の測定が全て終
了すると、制御手段59は、ローラ47を回転し、移動
テーブル27を薄円板23の取り出し位置まで搬送す
る。なお、この実施形態では、測定の前に、高い精度の
板厚値を有する較正用の薄円板の板厚値を測定手段51
により測定することにより、距離センサ57が較正され
る。
【0037】図7において符号13は、演算表示手段を
示しており、この演算表示手段13には、制御手段59
からの前述した薄円板23の回転角度、および、この時
に測定手段51で測定された板厚値が入力される。そし
て、この演算表示手段13は、測定手段51で測定され
た板厚値をディスプレイ15上に表示する。
【0038】図8は、ディスプレイ15上に表示される
画面61を示すもので、画面61上には、薄円板23に
対応する円63が表示されている。そして、測定手段5
1で測定された薄円板23の板厚値が、画面61上の円
63内の四角枠65内に表示される。それぞれの板厚値
は、板厚値が得られた測定点に対応する位置の四角枠6
5に表示される。
【0039】なお、この実施形態では、薄円板23の外
周部,中間部,内周部が測定され、これに対応する位置
に四角枠65が形成されている。そして、この実施形態
では、薄円板23の板厚値が、予め定められた板厚値と
の差に応じてカラー表示される。すなわち、例えば、予
め定められた板厚値との差が、所定寸法を越える場合に
は、板厚値が赤色でカラー表示され、所定寸法未満の場
合には、青色でカラー表示される。
【0040】また、更に、その中間値を濃淡色を加えて
表示することにより、板厚の分布状況が目視により明示
できる。また、この実施形態では、演算表示手段13に
より、測定手段51で測定された薄円板23の板厚値に
基づいて、薄円板23の最大板厚値MAX,最小板厚値
MIN,最大板厚値と最小板厚値との差の値R、および
平均板厚値AVGが演算され、画面61上に表示され
る。
【0041】そして、画面61上に表示される値に基づ
いて薄円板23の形状が評価される。そして、この評価
に基づいて、例えば、薄円板23の射出成形条件が、板
厚値が正常になるように変化される。上述した薄円板の
形状評価装置では、装置を、装置本体11内に形成され
る測定部21に薄円板23を搬送する搬送手段25と、
搬送手段25により測定部21に搬送された薄円板23
を回転自在に支持する支持手段29と、支持手段29に
支持された薄円板23を回転する回転駆動手段35と、
支持手段29に支持される薄円板23の半径方向に間隔
を置いて配置され薄円板23の板厚を測定する複数の板
厚測定部53を備えた測定手段51と、回転駆動手段3
5を作動し薄円板23が所定角度回転する毎に測定手段
51を作動する制御手段59により構成したので、薄円
板23の板厚を迅速に、かつ、容易,確実に測定するこ
とができる。
【0042】また、演算表示手段13により、測定手段
51で測定された板厚値をディスプレイ15上に表示す
るようにしたので、薄円板23の形状を迅速に評価する
ことができる。そして、上述した薄円板の形状評価装置
では、演算表示手段13により、測定手段51で測定さ
れた薄円板23の板厚値を、薄円板23に対応する円が
表示されるディスプレイ15上において、板厚値が得ら
れた測定点に対応する位置に表示するようにしたので、
ディスプレイ15を見ることにより、薄円板23の測定
点と板厚値との対応関係が明確になり、薄円板23の形
状を迅速,確実に評価することができる。
【0043】また、上述した薄円板の形状評価装置で
は、演算表示手段13により、測定手段51で測定され
た薄円板23の板厚値に基づいて、薄円板23の最大板
厚値,最小板厚値,最大板厚値と最小板厚値との差の
値、または平均板厚値のいずれか1つ以上の値を表示す
るようにしたので、薄円板23の形成をより確実に評価
することができる。
【0044】さらに、上述した薄円板の形状評価装置で
は、搬送手段25により薄円板23を水平状態で搬送
し、また、支持手段29により薄円板23を水平状態で
支持するようにしたので、薄円板23の搬送および支持
を容易,確実に行うことができる。また、上述した薄円
板の形状評価装置では、搬送手段25に、薄円板23を
水平状態で収容する移動テーブル27を設けたので、薄
円板23を容易,確実に搬送することができる。
【0045】さらに、上述した薄円板の形状評価装置で
は、支持手段29を、移動テーブル27に収容された薄
円板23の中心の上方に回転自在に配置され回転駆動手
段35により回転される上側回転部材31と、移動テー
ブル27に収容された薄円板23の中心の下方に回転自
在に配置され移動テーブル27の中心に形成される貫通
穴を貫通して上方に移動可能な下側回転部材39と、下
側回転部材39を上方に移動し薄円板23を下側回転部
材39と上側回転部材31との間に挟持する上下駆動手
段45により構成したので、薄円板23を容易,確実に
回転可能に支持することができる。
【0046】また、上述した薄円板の形状評価装置で
は、制御手段59により、回転駆動手段35を間歇駆動
し、薄円板23を所定角度毎に間歇回転するようにした
ので、薄円板23の板厚を所定角度を置いて複数の半径
方向に対して容易,確実に測定することができる。さら
に、上述した薄円板の形状評価装置では、演算表示手段
13により、測定手段51で測定された薄円板23の板
厚値を、予め定められた板厚値との差に応じてカラー表
示するようにしたので、各測定点における板厚値の大き
さを迅速、かつ容易,確実に評価することができる。
【0047】そして、上述した薄円板の形状評価方法で
は、薄円板23の板厚を半径方向に間隔を置いて複数箇
所同時に測定することを、所定角度を置いて複数の半径
方向に対して行うようにしたので、薄円板23の板厚を
迅速に測定することができる。また、測定された薄円板
23の複数の測定点の板厚値に基づいて薄円板23の形
状を評価するようにしたので、薄円板23の形状を迅速
に評価することができる。
【0048】また、上述した薄円板の形状評価方法で
は、薄円板23の板厚値を、薄円板23に対応する円が
表示されるディスプレイ15上において、板厚値が得ら
れた測定点に対応する位置に表示し、この表示に基づい
て薄円板23の形状を評価するようにしたので、ディス
プレイ15を見ることにより、板厚の分布状況が明示さ
れ、薄円板23の形状を迅速,確実に評価することがで
きる。
【0049】さらに、上述した薄円板の形状評価方法で
は、評価された形状に基づいて薄円板23の射出成形条
件を確実に変化することができる。図9は、本発明の薄
円板の形状評価装置に使用される測定手段の他の例を示
すもので、この例では、板厚測定部53Aが、一対の支
持部材55Aを有している。一対の支持部材55Aの支
点には、支持軸71が挿通され、一対の支持部材55A
は、ベアリング73を介して回動自在に支持されてい
る。
【0050】一対の支持部材55Aの前部の先端には、
半球状の測定子75が固定されている。また、一対の支
持部材55Aの後部には、スプリング77が配置され、
スプリング77により、一対の支持部材55Aの先端が
閉じる方向に付勢されている。一対の支持部材55Aの
一方の後部の内側には、リニアゲージ79が固定されて
いる。
【0051】また、一対の支持部材55Aの他方の後部
の内側には、リニアゲージ79の測定子81が当接され
る座部83が固定されている。さらに、一対の支持部材
55Aの後端の内側には、駒部材85が固定されてい
る。駒部材85の傾斜面85aには、エアーシリンダ8
7により移動されるローラ89が挿入されている。
【0052】この板厚測定部53では、エアーシリンダ
87の作動により、図9の状態から、ローラ89を駒部
材85の傾斜面85aの奥側に移動すると、一対の支持
部材55Aの先端に配置される測定子75の間隔が開
き、この状態で一対の支持部材55Aの間に薄円板23
が挿入される。そして、エアーシリンダ87の作動によ
り、ローラ89を図9の状態にすると、一対の支持部材
55Aが、スプリング77の力により閉じられ、一対の
支持部材55Aの先端に配置される測定子75が薄円板
23に所定の力で押圧される。
【0053】そして、この時のリニアゲージ79の値が
板厚値として演算表示手段13に出力される。なお、こ
の板厚測定部53Aを使用する場合にも、測定の前に、
高い精度の板厚値を有する較正用の薄円板の板厚値を測
定することにより、リニアゲージ79の較正が行われ
る。
【0054】
【発明の効果】以上述べたように、請求項1の薄円板の
形状評価方法では、薄円板の板厚を半径方向に間隔を置
いて複数箇所同時に測定することを、所定角度を置いて
複数の半径方向に対して行うようにしたので、薄円板の
板厚を迅速に測定することができる。
【0055】また、測定された薄円板の複数の測定点の
板厚値に基づいて薄円板の形状を評価するようにしたの
で、薄円板の形状を迅速に評価することができる。請求
項2の薄円板の形状評価方法では、薄円板の板厚値を、
薄円板に対応する円が表示されるディスプレイ上におい
て、板厚値が得られた測定点に対応する位置に表示し、
この表示に基づいて薄円板の形状を評価するようにした
ので、ディスプレイを見ることにより、薄円板の形状を
迅速,確実に評価することができる。
【0056】請求項3の薄円板の形状評価方法では、評
価された形状に基づいて薄円板の射出成形条件を確実に
変化することができる。請求項4の薄円板の形状評価装
置では、装置を、装置本体内に形成される測定部に薄円
板を搬送する搬送手段と、搬送手段により測定部に搬送
された薄円板を回転自在に支持する支持手段と、支持手
段に支持された薄円板を回転する回転駆動手段と、支持
手段に支持される薄円板の半径方向に間隔を置いて配置
され薄円板の板厚を測定する複数の板厚測定部を備えた
測定手段と、回転駆動手段を作動し薄円板が所定角度回
転する毎に測定手段を作動する制御手段により構成した
ので、薄円板の板厚を迅速に、かつ、容易,確実に測定
することができる。
【0057】また、演算表示手段により、測定手段で測
定された板厚値をディスプレイ上に表示するようにした
ので、薄円板の形状を迅速に評価することができる。請
求項5の薄円板の形状評価装置では、演算表示手段によ
り、測定手段で測定された薄円板の板厚値を、薄円板に
対応する円が表示されるディスプレイ上において、板厚
値が得られた測定点に対応する位置に表示するようにし
たので、ディスプレイを見ることにより、薄円板の測定
点と板厚値との対応関係が明確になり、薄円板の形状を
迅速,確実に評価することができる。
【0058】請求項6の薄円板の形状評価装置では、演
算表示手段により、測定手段で測定された薄円板の板厚
値に基づいて、薄円板の最大板厚値,最小板厚値,最大
板厚値と最小板厚値との差の値、または平均板厚値のい
ずれか1つ以上の値を表示するようにしたので、薄円板
の形成をより確実に評価することができる。請求項7の
薄円板の形状評価装置では、搬送手段により薄円板を水
平状態で搬送し、また、支持手段により薄円板を水平状
態で支持するようにしたので、薄円板の搬送および支持
を容易,確実に行うことができる。
【0059】請求項8の薄円板の形状評価装置では、搬
送手段に、薄円板を水平状態で収容する移動テーブルを
設けたので、薄円板を容易,確実に搬送することができ
る。請求項9の薄円板の形状評価装置では、支持手段
を、移動テーブルに収容された薄円板の中心の上方に回
転自在に配置され回転駆動手段により回転される上側回
転部材と、移動テーブルに収容された薄円板の中心の下
方に回転自在に配置され移動テーブルの中心に形成され
る貫通穴を貫通して上方に移動可能な下側回転部材と、
下側回転部材を上方に移動し薄円板を下側回転部材と上
側回転部材との間に挟持する上下駆動手段により構成し
たので、薄円板を容易,確実に回転可能に支持すること
ができる。
【0060】請求項10の薄円板の形状評価装置では、
制御手段により、回転駆動手段を間歇駆動し、薄円板を
所定角度毎に間歇回転するようにしたので、薄円板の板
厚を所定角度を置いて複数の半径方向に対して容易,確
実に測定することができる。請求項11の薄円板の形状
評価装置では、演算表示手段により、測定手段で測定さ
れた薄円板の板厚値を、予め定められた板厚値との差に
応じてカラー表示するようにしたので、各測定点におけ
る板厚値の大きさを迅速、かつ容易,確実に評価するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の薄円板の形状評価装置の一実施形態を
示す正面図である。
【図2】図1の装置本体を示す斜視図である。
【図3】図1の測定部を示す断面図である。
【図4】図1の測定部を示す説明図である。
【図5】薄円板を下側回転部材と上側回転部材との間に
挟持した状態を示す説明図である。
【図6】薄円板を板厚測定部の間に挿入した状態を示す
説明図である。
【図7】図1の薄円板の形状評価装置の制御ブロックを
示す説明図である。
【図8】ディスプレイに表示される画面を示す説明図で
ある。
【図9】板厚測定部の他の例を示す説明図である。
【図10】従来の薄円板の測定装置を示す説明図であ
る。
【符号の説明】
11 装置本体 13 演算表示手段 15 ディスプレイ 21 測定部 23 薄円板 25 搬送手段 27 移動テーブル 27a 貫通穴 29 支持手段 31 上側回転部材 35 回転駆動手段 39 下側回転部材 45 上下駆動手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F069 AA47 AA51 BB13 CC07 DD15 DD16 GG04 GG06 GG07 GG15 GG39 GG56 HH09 JJ02 JJ17 MM04 MM11 MM17 MM34 NN25 PP02 QQ05

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 薄円板の板厚を半径方向に間隔を置いて
    複数箇所同時に測定することを、所定角度を置いて複数
    の半径方向に対して行い、測定された前記薄円板の複数
    の測定点の板厚値に基づいて前記薄円板の形状を評価す
    ることを特徴とする薄円板の形状評価方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の薄円板の形状評価方法に
    おいて、 前記薄円板の板厚値を、前記薄円板に対応する円が表示
    されるディスプレイ上において、前記板厚値が得られた
    測定点に対応する位置に表示し、この表示に基づいて前
    記薄円板の形状を評価することを特徴とする薄円板の形
    状評価方法。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の薄円板の
    形状評価方法において、 前記薄円板は、射出成形された樹脂材料からなり、評価
    された形状に基づいて射出成形条件を変化することを特
    徴とする薄円板の形状評価方法。
  4. 【請求項4】 装置本体内に形成される測定部に薄円板
    を搬送する搬送手段と、 前記搬送手段により前記測定部に搬送された前記薄円板
    を回転自在に支持する支持手段と、 前記支持手段に支持された前記薄円板を回転する回転駆
    動手段と、 前記支持手段に支持される薄円板の半径方向に間隔を置
    いて配置され前記薄円板の板厚を測定する複数の板厚測
    定部を備えた測定手段と、 前記回転駆動手段を作動し前記薄円板が所定角度回転す
    る毎に前記測定手段を作動する制御手段と、 前記測定手段で測定された板厚値を入力しディスプレイ
    上に表示する演算表示手段と、 を有することを特徴とする薄円板の形状評価装置。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の薄円板の形状評価装置に
    おいて、 前記演算表示手段は、前記測定手段で測定された薄円板
    の板厚値を、前記薄円板に対応する円が表示されるディ
    スプレイ上において、前記板厚値が得られた測定点に対
    応する位置に表示することを特徴とする薄円板の形状評
    価装置。
  6. 【請求項6】 請求項4または請求項5記載の薄円板の
    形状評価装置において、 前記演算表示手段は、前記測定手段で測定された薄円板
    の板厚値に基づいて、前記薄円板の最大板厚値,最小板
    厚値,最大板厚値と最小板厚値との差の値、または平均
    板厚値のいずれか1つ以上の値を表示することを特徴と
    する薄円板の形状評価装置。
  7. 【請求項7】 請求項4ないし請求項6のいずれか1項
    記載の薄円板の形状評価装置において、 前記搬送手段は、前記薄円板を水平状態で搬送し、前記
    支持手段は、前記薄円板を水平状態で支持することを特
    徴とする薄円板の形状評価装置。
  8. 【請求項8】 請求項7記載の薄円板の形状評価装置に
    おいて、 前記搬送手段は、前記薄円板を水平状態で収容する移動
    テーブルを有することを特徴とする薄円板の形状評価装
    置。
  9. 【請求項9】 請求項8記載の薄円板の形状評価装置に
    おいて、 前記支持手段は、 前記移動テーブルに収容された薄円板の中心の上方に回
    転自在に配置され前記回転駆動手段により回転される上
    側回転部材と、 前記移動テーブルに収容された薄円板の中心の下方に回
    転自在に配置され前記移動テーブルの中心に形成される
    貫通穴を貫通して上方に移動可能な下側回転部材と、 前記下側回転部材を上方に移動し前記薄円板を前記下側
    回転部材と前記上側回転部材との間に挟持する上下駆動
    手段と、 を有することを特徴とする薄円板の形状評価装置。
  10. 【請求項10】 請求項4ないし請求項9のいずれか1
    項記載の薄円板の形状評価装置において、 前記制御手段は、前記回転駆動手段を間歇駆動し、前記
    薄円板を所定角度毎に間歇回転することを特徴とする薄
    円板の形状評価装置。
  11. 【請求項11】 請求項4ないし請求項10のいずれか
    1項記載の薄円板の形状評価装置において、前記演算表
    示手段は、前記測定手段で測定された薄円板の板厚値
    を、予め定められた板厚値との差に応じてカラー表示す
    ることを特徴とする薄円板の形状評価装置。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012093306A (ja) * 2010-10-28 2012-05-17 Tokai Kiyouhan Kk エアマイクロメータの測定ヘッド及び厚さ測定装置
JP2012117940A (ja) * 2010-12-01 2012-06-21 Tokai Kiyouhan Kk 厚さ測定装置
EP2871442A4 (en) * 2012-06-12 2015-05-27 Bellota Agrisolutions S L MACHINE AND METHOD FOR DATA COLLECTION FOR MEASURING THE CONNECTION AND HOLDING OF AGRICULTURAL PLATES

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