JP2001289900A - 絶縁劣化検出回路と該回路を用いた装置 - Google Patents

絶縁劣化検出回路と該回路を用いた装置

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JP2001289900A
JP2001289900A JP2000109303A JP2000109303A JP2001289900A JP 2001289900 A JP2001289900 A JP 2001289900A JP 2000109303 A JP2000109303 A JP 2000109303A JP 2000109303 A JP2000109303 A JP 2000109303A JP 2001289900 A JP2001289900 A JP 2001289900A
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Makoto Tsubaki
真 椿
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Tempearl Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】インバータ機器等による誤検出の少ない絶縁劣
化検出回路と該回路を使用した装置を提供する。 【解決手段】電路に流れる電流を検出する電流検出部2
と,電流を電圧に変換する電流−電圧変換回路3と,電
流−電圧変換回路の出力電圧をアンチエリアシング処理
するフィルター回路4と,フィルター回路の出力電圧を
デジタル値に変換するA/D変換回路5と,A/D変換
回路の前または後に設置されて高周波成分のみを抽出す
るフィルター部6と,電路の電圧の位相信号を検出する
位相検出回路7と,位相信号に同期して商用周波数1周
期の時間をT個に分割したブロックのうち,所定のブロ
ックで計測された電圧デジタル値の絶対値が閾値Aを超
えた個数をブロック毎に出力するパルス数計測部8と,
所定の各ブロックのパルス数が閾値B個以上のブロック
の数が閾値C個以上の場合,絶縁劣化検出信号を出力す
る絶縁劣化判定部9から成る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は,電線や機器の電路
に生じた絶縁劣化を検出する回路と装置に関するもので
ある。
【0002】近年,電気火災は漸増傾向にある。このう
ちコード・プラグなどからの火災が約1/4を占めてお
り,不適切な維持管理のために絶縁が劣化し,過熱また
は短絡から発火に至ったものと考えられている。OA機
器,クーラー等のコンセントに接続して使用される電気
機器の増加が著しい中,電源コードから発生する電気火
災は今後も増加する可能性がある。
【0003】
【従来の技術】そこで,このような電気火災を未然に防
ぐために例えば図2に示すような絶縁劣化検出装置が考
案された。すなわち,絶縁劣化発生時に,電路1に流れ
る電流を電流検出部2で検出して,電流−電圧変換回路
3で前記電流を交流電圧に変換し,フィルター回路4で
前期電圧に含まれる絶縁劣化特有の高周波電流成分を取
り出して,パルス発生部でパルス電圧に変換した後,定
時間毎にパルス電圧の発生回数を積算して,遮断判定部
12は前記積算値が閾値を越えたかどうかを判定し,閾
値を越えた場合,遮断判定部18は遮断信号を出力し
て,引き外し回路13は遮断判定部18の遮断信号をも
とに遮断用の電圧を出力して,引き外しコイル部14を
動作させ,接点15を乖離させることによって電路1を
負荷側と遮断する絶縁劣化検出装置である。
【0004】
【従来の技術課題】しかし,以上に示した従来の技術か
らなる装置では,絶縁劣化が発生していなくても,イン
バータ回路が組み込まれている家電機器等を使用した場
合,電流波形には高周波電流が重畳したものとなって,
その高周波電流から絶縁劣化と誤判断し,不用な遮断動
作をすることがあるなど実用化が困難であった。
【0005】
【発明の目的】そこで,本発明は,係る事由に鑑みてな
されたもので,インバータ等の機器を使用したときに発
生する高周波電流が電路に重畳していても誤検出の少な
い絶縁劣化検出回路を得ること,さらに,該回路を用い
て誤動作しにくい警報装置や,回路遮断器などの装置を
提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】そこで,請求項1は電路
に流れる電流から高周波成分のみを取り出す高周波電流
抽出部と,電路の電圧の位相信号を検出する位相検出回
路と,前記位相信号に同期して商用周波数1周期の時間
をT個に分割した複数のブロックのうち,少なくとも予
め設定しておいた所定のブロックにおいて前記高周波電
流抽出部から出力された高周波電流の絶対値が予め設定
された閾値Aを超えた個数をブロック毎に出力する電流
個数計数部と,該電流個数計数部から出力される前記所
定のブロック毎に計測された高周波電流の個数が閾値B
以上であるブロックの数が閾値C以上である場合,絶縁
劣化検出信号を出力する絶縁劣化判定部から構成される
ことを特徴とする絶縁劣化検出回路を提供したものであ
る。
【0007】それにより,機器から発生する高周波電流
が存在しているブロックの高周波電流の発生個数を絶縁
劣化の判定に用いないので,誤検出の少ない絶縁劣化検
出回路を得ることができる。
【0008】請求項2では,請求項1に示す絶縁劣化検
出回路の絶縁劣化判定部が,所定のブロック毎に計測さ
れた高周波電流の個数が閾値B以上であるブロックの数
が閾値C以上であるとともに,所定のブロック毎に計測
された高周波電流の個数が閾値D以上であるブロックの
数が閾値E以上である場合,絶縁劣化検出信号を出力す
ることを特徴とする絶縁劣化検出回路を提供している。
【0009】それにより,請求項1にさらに絶縁劣化判
定部の判定条件を加えたので,検出精度のよい絶縁劣化
検出回路を得ることができる。
【0010】請求項3では,電路に流れる電流を検出す
る電流検出部と,電流検出部から出力される電流を電圧
に変換する電流−電圧変換回路と,前記電流−電圧変換
回路から出力される電圧をアンチエリアシング処理する
フィルター回路と,前記フィルター回路から出力される
電圧をデジタル値に変換するA/D変換回路と,前記A
/D変換回路の前または後に設置されて高周波成分のみ
を抽出するフィルター部と,電路の電圧の位相信号を検
出する位相検出回路と,前記位相信号に同期して商用周
波数1周期の時間をT個に分割した複数のブロックのう
ち,少なくとも予め設定した所定のブロックで計測され
た前記高周波電圧デジタル値の絶対値が予め設定された
閾値Aを超えた個数をブロック毎にパルス数として出力
するパルス数計測部と,前記所定の各ブロックにおいて
パルス数が閾値B個以上であるブロックの数が閾値C個
以上である場合,絶縁劣化検出信号を出力する絶縁劣化
判定部から構成されることを特徴とする絶縁劣化検出回
路を提供している。
【0011】それにより,機器から発生する高周波電流
が存在するブロックのパルス個数を絶縁劣化の判定に用
いないので,誤検出の少ない絶縁劣化検出回路を得るこ
とができる。
【0012】請求項4では,請求項3に示す絶縁劣化検
出回路の絶縁劣化判定部が,所定のブロック毎に計測さ
れたパルス数が閾値B以上であるブロックの数が閾値C
以上であるとともに,所定のブロック毎に計測されたパ
ルス数が閾値D以上であるブロックの数が閾値E以上で
ある場合,絶縁劣化検出信号を出力することを特徴とす
る絶縁劣化検出回路を提供している。
【0013】それにより,請求項3にさらに絶縁劣化判
定部の判定条件を加えたので,検出精度のよい絶縁劣化
検出回路を得ることができる。
【0014】請求項5では,請求項1から4に示す絶縁
劣化検出回路の絶縁劣化判定部を第一の絶縁劣化判定部
とし,全部または一部の閾値が異なる第二の絶縁劣化判
定部を追加したことを特徴とする絶縁劣化検出回路を提
供したものである。
【0015】それにより,絶縁劣化の程度を分けて出力
可能な絶縁劣化検出回路を得ることができる。
【0016】請求項6では,請求項1から5に示す絶縁
劣化検出回路の絶縁劣化判定部の出力を一定時間毎に積
分し,該積分値が閾値Jを超えたとき絶縁劣化出力信号
を出力することを特徴とする絶縁劣化検出回路を提供し
たものである。
【0017】それにより,スイッチのオンオフノイズの
ように,一時的に発生する高周波ノイズなどの影響で誤
動作しにくい絶縁劣化検出回路を得ることができる。
【0018】請求項7では,請求項1から6に示す絶縁
劣化検出回路と該絶縁劣化検出回路の出力により警報を
発生する手段を有することを特徴とする絶縁劣化検出回
路を用いた装置を提供したものである。
【0019】それにより,誤動作の少ない絶縁劣化警報
装置を得ることができる。
【0020】請求項8では,請求項1から6に示す絶縁
劣化検出回路と該絶縁劣化検出回路の出力により回路を
遮断する手段を有することを特徴とする絶縁劣化検出回
路を用いた装置を提供している。
【0021】それにより,誤動作の少ない絶縁劣化遮断
装置を得ることができる。
【0022】請求項9では,請求項1から6に示す絶縁
劣化検出回路と該絶縁劣化検出回路の出力または該出力
による処置状況をネットワークに接続する手段を有する
ことを特徴とする絶縁劣化検出回路を用いた装置を提供
している。
【0023】それにより,誤動作の少ない絶縁劣化検出
回路の出力または該出力により電路を処置した内容をネ
ットワークを介して,外部に情報提供することが可能と
なる。
【0024】請求項10では,請求項5に示す絶縁劣化
検出回路と,該回路の第一の絶縁劣化判定部の出力から
警報を発生する手段と,該回路の第二の絶縁劣化判定部
の出力により回路を遮断する手段を有することを特徴と
する絶縁劣化検出回路を用いた装置を提供している。
【0025】それにより,誤検出の少ない絶縁劣化検出
回路を用いて,電路を遮断する必要がない程度の低い絶
縁劣化では警報を発し,トラッキングのような程度の悪
い絶縁劣化では,電路を遮断するような装置を提供でき
る。
【0026】
【発明の実施例の説明】以下本件の発明について図面を
用いて詳細に説明する。
【0027】図1に本件発明請求項1から4の実施例の
ブロック図を示す。電流検出部2と,電流−電圧変換回
路3と,フィルター回路4と,A/D変換回路5と,フ
ィルター部6と,位相検出回路7と,パルス数計測部
8,絶縁劣化判定部9を組み合わせて構成したものであ
る。なお,請求項1の高周波電流抽出部は図1の2から
6の範囲が相当するが,図1のようにA/D変換するも
のでなく,電路の電流をある周波数範囲で高周波電流成
分として抽出できるものであれば,図1の構成にこだわ
るものではない。また同様に電流個数計数部は8が相当
するが8のパルス数計測部は信号をA/D変換するもの
に特化した場合に用いるもので,請求項1の場合高周波
電流を相当の機能で処理するものとなる。
【0028】電路1は単相2線式の場合を示している
が,特に単相2線式に限定するものではない。
【0029】電流検出部2は,変流器などを用いる。電
流検出部2は,たとえば図3に示すような電流波形を検
出する。
【0030】電流−電圧変換回路3は,電流検出部2よ
り出力された電流波形を電圧波形に変換するものであ
り,具体的には,抵抗を介して電圧値に変換する。電流
−電圧変換回路3は,たとえば,図4に示すような電圧
波形を出力する。
【0031】フィルター回路4では,電流−電圧変換回
路3の出力する電圧波形を,A/D変換回路5のサンプ
リング周波数の半分以下に設定した周波数をカットオフ
周波数とするローパスフィルター処理する。これによ
り,サンプリング時に生じるエリアシングの影響をなく
すことができる。フィルター回路4では,たとえば図4
のように交流電圧に重畳したサンプリング周波数よりも
高い周波数の高周波成分を除去して,図5に示すような
電圧波形を出力する。
【0032】A/D変換回路5は,フィルター回路4の
出力電圧の電圧値を数十μ秒以下(一例として30μ
秒)の時間幅毎に,デジタル値に変換するものである。
【0033】A/D変換回路5の最大入力電圧を5Vと
し,デジタル変換の分解能を12ビットとすると,A/
D変換回路5の出力するデジタル値は,たとえば図6に
示すように,電圧0Vのときが−511,2.5Vの時
が0,5Vの時が511となる。ここで,A/D変換時
の1ビットが100mAに対応するように電流―電圧変
換回路を調整すると,A/D変換回路5の性能として,
約−51Aから約51Aまでの電流波形の計測が可能と
なる。
【0034】フィルター部6では,温度特性を小さくす
るために,デジタル値の状態でフィルター処理して高周
波電圧のデジタル値を出力する。たとえば,図7に示す
ような高周波電圧のデジタル値を出力する。従来アナロ
グ回路で行っていたフィルター処理は部品の温度特性が
顕著に表れるために絶縁劣化の検出精度に大きな影響を
与えていたが,このようにデジタルで信号を処理するこ
とによってその影響はほとんどなくすることができる
が,A/D変換前のアナログ信号の状態で低周波成分を
除去するようなフィルターでもよい。
【0035】位相検出回路7では,電路の電圧位相を検
出する。たとえば,図8に電路の電圧と位相検出回路7
の出力する位相信号のタイミングを示す。商用周波数を
60Hzとすると,位相検出回路7に入力した電路の電
圧が0Vから増加するタイミング,約16.6m秒の間
隔で位相信号を出力する。
【0036】パルス数計測部8では,商用周波数1周期
に相当する時間,具体的には位相検出回路7の出力する
位相信号の立ち上がりから,次の立ち上がりまでの時間
幅をT個に等分してブロックと定義し,その各ブロック
の時間内に,フィルター部6から出力された高周波電圧
のデジタル値の絶対値のうち,閾値Aを超えた個数をカ
ウントする。
【0037】前記の閾値Aを超えたデジタル値の個数
は,カウント終了後にパルス数計測部8からパルス個数
として出力される。
【0038】絶縁劣化判定部9では,商用周波数1周期
ごとに予め定めておいた所定のブロックにおいてパルス
計測部8から出力される前記パルス個数が閾値B以上と
なっているブロックの数が閾値C以上である場合,絶縁
劣化検出信号を出力する。
【0039】絶縁劣化発生時の高周波電流と,家電機器
の負荷電流を区別する方法について,実際に電路で観測
される図9の絶縁劣化時の高周波電流と,図10の家電
機器の負荷電流と,図10に示す家電機器の負荷電流を
フィルター処理した図11の負荷電流の高周波成分,に
基づいて説明する。
【0040】絶縁劣化発生時の高周波電流の場合は,図
9に示すように電流が時間軸上の広い範囲に分布してい
ることが特徴である。
【0041】しかし,家電機器の負荷電流の場合は,図
10に示す負荷電流の例をフィルター処理すると,図1
0のa,bのように急激に電流が増加や減少する時間に
集中して,図11のように高周波電流を発生する。
【0042】したがって,図10のような電流の急激な
増減を伴う時間を避けて,その他の時間に発生する高周
波電流を絶縁劣化の判定に用いることで,インバータ回
路などの組み込まれている家電機器から発生する高周波
電流の絶縁劣化判定への影響を減らすことができる。
【0043】以上の処理を図12,図13,図14に基
づいて具体的に説明する。図13のように商用周波数1
周期の時間幅を16個に等分した各時間帯を個々のブロ
ックとし,図12の表のように,3番目から6番目のブ
ロックと,11番目から14番目のブロックを所定のブ
ロック,前述のデジタル値の閾値Aを40,パルス個数
の閾値Bを10,ブロック数の閾値Cを2に予め設定す
る。
【0044】たとえば,図13に示す絶縁劣化発生時の
高周波電圧デジタル値をパルス数計測部8に入力した場
合,高周波電圧デジタル値の絶対値のうち閾値Aを超え
るものについて,図12の表中の絶縁劣化時の欄のよう
に各ブロックでパルス数が計測される。
【0045】この場合,閾値Bの設定値である10個以
上のパルス数が計測されたブロック数は所定のブロック
内では全部で3個あり,ブロック数の閾値Cの2個以上
を満たしているので,絶縁劣化判定部9は絶縁劣化検出
信号を出力する。
【0046】次に,たとえば,図14に示す家電機器の
高周波電圧デジタル値をパルス数計測部8に入力した場
合の例を示す。高周波電圧デジタル値の絶対値のうち閾
値Aを超えるものについて,図12の表中の家電機器の
欄のように各ブロックのパルス数が計測される。
【0047】この場合,閾値Bの設定値である10個以
上のパルス数が計測されるブロック数は所定のブロック
内では全部で1個しかなく,ブロック数の閾値Cの設定
値である2個以上を満たしていないので,絶縁劣化判定
部9は絶縁劣化検出信号を出力しない。
【0048】なお,Tを商用周波数1周期あたりのデジ
タル電圧変換する回数を超えない数値,閾値AはA/D
コンバータの出力できるデジタル値の最大値を超えない
数値,閾値Bは任意の整数,閾値Cは1以上かつT以下
の範囲の数値と定義し,T,A,B,Cを絶縁劣化を検
出でき,家電機器で動作しない条件を満たす適当な数値
として予め設定しておく。
【0049】以上の実施例による絶縁劣化検出回路で
は,従来の図2による積算型の判定をするものに比べ
て,家電機器から発生する高周波電流の発生タイミング
を避けて絶縁劣化を判定するので,誤検出を少なくする
ことができる。
【0050】次に,本件発明の請求項2,4の実施例を
説明する。請求項2,4は,絶縁劣化判定部9におい
て,所定のブロック中,パルス数(高周波電流個数)が
閾値Bを超えるブロック数が閾値Cを超え,かつパルス
数(高周波電流個数)が閾値D個を超えるブロック数が
閾値E個を超える場合,絶縁劣化判定部は絶縁劣化と判
断して絶縁劣化検出信号を出力するものである。
【0051】以上の処理を図12,図13,図14に基
づいて具体的に説明する。例では商用周波数1周期の時
間幅を16個に等分した各時間帯をブロックとし,その
うち3番目から6番目のブロックと,11番目から14
番目のブロックを所定のブロックとし,前述のデジタル
値の閾値Aを40,パルス数の閾値Bが10であるブロ
ック数の閾値Cを2,パルス数の閾値Dが1であるブロ
ック数の閾値Eを6と設定する。
【0052】たとえば,図13に示す絶縁劣化発生時の
高周波電圧デジタル値をパルス数計測部8に入力する。
高周波電圧デジタル値の絶対値のうち閾値Aを超えるも
のについて,図12の表中絶縁劣化時の欄のように各ブ
ロックのパルス数が計測される。
【0053】この場合,閾値Bの設定値である10個以
上のパルス数が計測されたブロック数は全部で3個あ
り,ブロック数の閾値C設定値である2個以上を満たし
ている。さらに,閾値Dの設定値である1個以上のパル
ス数が計測されたブロックは全部で7個あり,ブロック
数の閾値Eの設定値である6以上を満たしているので絶
縁劣化判定部は絶縁劣化検出信号を出力する。
【0054】なお,Dは任意の整数で,Eは1以上T以
下の整数として,かつ絶縁劣化を検出でき,家電機器で
動作しない条件を満たす適当な数値に設定しておく。
【0055】以上請求項2,4の発明による絶縁劣化検
出回路では,請求項1,3に比べて,絶縁劣化判定部の
判定条件が増えている分,誤検出する可能性が少ない絶
縁劣化検出回路を得ることができる。
【0056】次に本件発明請求項5の実施例を示す。図
17は本件発明請求項5の実施例のブロック図であり,
本件請求項1から4の実施例である図1の前記絶縁劣化
判定部を第一の絶縁劣化判定部9として更に閾値の異な
る第二の絶縁劣化判定部10を追加したものである。
【0057】第二の絶縁劣化判定部10の閾値はトラッ
キングの発生を検出できるようにするために第一の絶縁
劣化判定部9の閾値よりも大きめに設定する。
【0058】商用1周期ごとに,所定のブロックにおい
て前記パルス個数が閾値Fを超えるブロック数が閾値G
を超え,かつ前記パルス個数が閾値Hを超えるブロック
数が閾値Iを超える場合,トラッキングが発生している
と判断して絶縁劣化検出信号を出力するようにし,Fか
らIの閾値の設定は第一の絶縁劣化判定部が判定する絶
縁劣化より進行した絶縁劣化を検出するように設定す
る。
【0059】ここで,絶縁劣化発生時の高周波電流とト
ラッキング発生時の高周波電流の違いについて図13,
図16を用いて説明する。
【0060】絶縁劣化が進行してトラッキングに至った
場合,図13の絶縁劣化発生時の高周波電圧デジタル値
に比べて,図16のように,トラッキング発生時の高周
波電圧デジタル値は値が大きくなる傾向がある。
【0061】トラッキングの判定処理を図12,図1
4,図16に基づいて具体的に説明する。例では商用周
波数1周期の時間幅を16個に等分した各時間幅をブロ
ックとし,そのうち3番目から6番目のブロックと,1
1番目から14番目のブロックを所定のブロックとし,
前述の第二の絶縁劣化判定部の閾値Fを20,閾値Gを
3,閾値Hを10,閾値Iを7と設定する。
【0062】たとえば,図16に示すトラッキング発生
時の高周波電圧デジタル値をパルス数計測部8に入力す
ると,図12の表中のトラッキング時の欄のように各ブ
ロックのパルス数が計測される。
【0063】この場合,閾値Fの設定値の20以上のパ
ルス数が計測されたブロックは全部で4個あり,ブロッ
ク数の閾値Gの設定値である3以上を満たしている。さ
らに,閾値Hの設定値である10個以上のパルス数の計
測されたブロックは全部で7個あり,ブロック数の閾値
Iの設定値である7以上を満たしているので第二の絶縁
劣化判定部10はトラッキングが発生していると判断し
て判定結果を出力する。
【0064】なお,閾値F,Hは正の数値,閾値G,I
は1以上かつT以下の範囲の数値と定義し,F,H,
G,I,Tを絶縁劣化を検出でき,家電機器で動作しな
い条件を満たす適当な数値として設定する。
【0065】以上の請求項5の発明の実施例による絶縁
劣化検出回路では,閾値の異なる第二の絶縁劣化判定部
を追加することによって絶縁劣化状態の2段階検出が可
能となる。
【0066】次に本件発明の請求項6の実施例を図18
に示す。図18は図1に示す絶縁劣化検出回路の絶縁劣
化判定部9の出力をさらに積分判定回路11で一定時間
毎に積分リセットし,積分値が閾値Jを超えたとき出力
を発生するようにしている。絶縁不良は一過性でなく継
続して発生する現象であるので,このような構成として
閾値Jを適当に選定すればスイッチ開閉などによる一過
性ノイズによる誤判定を避けることが可能な絶縁不良判
定回路を得ることができる。なお,11の積分判定回路
の機能を絶縁劣化判定部9に含めて構成することも可能
である。
【0067】次に請求項7の実施例を図19示す。図1
9の例では図1の絶縁劣化検出回路に警報出力手段12
を加えたもので,誤動作の少ない絶縁劣化警報装置を得
ることができる。
【0068】次に請求項8の実施例を図20に示す。図
20の例では図1の絶縁劣化検出回路に回路を遮断する
手段すなわち引き外し回路13と引き外しコイル14と
接点15を加えたもので,誤動作の少ない絶縁劣化遮断
装置を得ることができる。
【0069】次に請求項9の実施例を図21に示す。図
21の例では図1の絶縁劣化検出回路にネットワークに
接続する手段16を加えたもので,誤動作の少ない絶縁
劣化検出回路の出力をネットワークを介して,外部に情
報提供することが可能となる。またネットワーク接続手
段は図19,20,後述の22において警報手段や回路
遮断手段が動作したかどうかの状態をネットワークに対
し情報を発信するようにすることもできる。
【0070】次に請求項10の実施例を図22に示す。
図22の例では図17に示す絶縁劣化検出回路と,該回
路の第一の絶縁劣化判定部9の出力から警報を発生する
手段12と,該回路の第二の絶縁劣化判定部10の出力
により回路を遮断する手段として,引き外し回路13,
引き外しコイル14,接点15を加えたもので,誤検出
の少ない絶縁劣化検出回路を用いて,電路を遮断する必
要がない,程度の低い絶縁劣化では警報を発し,トラッ
キングのような程度の悪い絶縁劣化では,電路を遮断す
るような装置を提供できる。
【0071】
【発明の効果】以上のように本発明によれば,インバー
タ等の機器を使用したときに発生する高周波電流が電路
に重畳していても誤検出の少ない絶縁劣化検出回路を得
ることができ,さらに,誤動作しにくい警報装置や,回
路遮断器などの装置をえることができるという効果を有
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本件発明請求項1から4の絶縁劣化検出回路の
ブロック構成の実施例
【図2】従来の絶縁劣化検出遮断装置の例
【図3】電路に流れる電流波形例
【図4】電流−電圧変換回路の出力する電圧波形例
【図5】エリアシングをフィルターで除去した電圧波形
【図6】A/D変換回路の出力する電圧デジタル値波形
【図7】フィルター部の出力する高周波電圧デジタル値
波形例
【図8】電路の電圧波形と,位相検出回路の出力する電
圧位相波形
【図9】絶縁劣化発生時の電流波形例
【図10】家電機器の負荷電流波形例
【図11】家電機器の高周波電流波形例
【図12】絶縁劣化発生時とトラッキング発生時と家電
機器動作中に,各ブロック毎にカウントされたパルス数
の例
【図13】絶縁劣化発生時の高周波電圧デジタル値波形
の例
【図14】家電機器動作中の高周波電圧デジタル値波形
の例
【図15】トラッキング発生時の高周波電流波形例
【図16】トラッキング発生時の高周波電圧デジタル値
の波形例
【図17】本件発明,請求項5の実施例のブロック構成
【図18】本件発明,請求項6の実施例のブロック構成
【図19】本件発明,請求項7の実施例のブロック構成
【図20】本件発明,請求項8の実施例のブロック構成
【図21】本件発明,請求項9の実施例のブロック構成
【図22】本件発明の請求項10の実施例のブロック構
成図
【符号の説明】
1 電路 2 電流検出部 3 電流−電圧変換回路 4 フィルター回路 5 A/D変換回路 6 フィルター部 7 位相検出回路 8 パルス数計測部 9 絶縁劣化判定部 10 第二の絶縁劣化判定部 11 積分判定回路 12 警報出力手段 13 引き外し回路 14 引き外しコイル部 15 接点 16 ネットワーク接続手段

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電路に流れる電流から高周波成分のみを取
    り出す高周波電流抽出部と,電路の電圧の位相信号を検
    出する位相検出回路と,前記位相信号に同期して商用周
    波数1周期の時間をT個に分割した複数のブロックのう
    ち,少なくとも予め設定しておいた所定のブロックにお
    いて前記高周波電流抽出部から出力された高周波電流の
    絶対値が予め設定された閾値Aを超えた個数をブロック
    毎に出力する電流個数計数部と,該電流個数計数部から
    出力される前記所定のブロック毎に計測された高周波電
    流の個数が閾値B以上であるブロックの数が閾値C以上
    である場合,絶縁劣化検出信号を出力する絶縁劣化判定
    部から構成されることを特徴とする絶縁劣化検出回路。
  2. 【請求項2】請求項1に示す絶縁劣化検出回路の絶縁劣
    化判定部が,所定のブロック毎に計測された高周波電流
    の個数が閾値B以上であるブロックの数が閾値C以上で
    あるとともに,所定のブロック毎に計測された高周波電
    流の個数が閾値D以上であるブロックの数が閾値E以上
    である場合,絶縁劣化検出信号を出力することを特徴と
    する絶縁劣化検出回路。
  3. 【請求項3】電路に流れる電流を検出する電流検出部
    と,電流検出部から出力される電流を電圧に変換する電
    流−電圧変換回路と,前記電流−電圧変換回路から出力
    される電圧をアンチエリアシング処理するフィルター回
    路と,前記フィルター回路から出力される電圧をデジタ
    ル値に変換するA/D変換回路と,前記A/D変換回路
    の前または後に設置されて高周波成分のみを抽出するフ
    ィルター部と,電路の電圧の位相信号を検出する位相検
    出回路と,前記位相信号に同期して商用周波数1周期の
    時間をT個に分割した複数のブロックのうち,少なくと
    も予め設定した所定のブロックで計測された前記高周波
    電圧デジタル値の絶対値が予め設定された閾値Aを超え
    た個数をブロック毎にパルス数として出力するパルス数
    計測部と,前記所定の各ブロックにおいてパルス数が閾
    値B個以上であるブロックの数が閾値C個以上である場
    合,絶縁劣化検出信号を出力する絶縁劣化判定部から構
    成されることを特徴とする絶縁劣化検出回路。
  4. 【請求項4】請求項3に示す絶縁劣化検出回路の絶縁劣
    化判定部が,所定のブロック毎に計測されたパルス数が
    閾値B以上であるブロックの数が閾値C以上であるとと
    もに,所定のブロック毎に計測されたパルス数が閾値D
    以上であるブロックの数が閾値E以上である場合,絶縁
    劣化検出信号を出力することを特徴とする絶縁劣化検出
    回路。
  5. 【請求項5】請求項1から4に示す絶縁劣化検出回路の
    絶縁劣化判定部を第一の絶縁劣化判定部とし,全部また
    は一部の閾値が異なる第二の絶縁劣化判定部を追加した
    ことを特徴とする絶縁劣化検出回路。
  6. 【請求項6】請求項1から5に示す絶縁劣化検出回路の
    絶縁劣化判定部の出力を一定時間毎に積分し,該積分値
    が閾値Jを超えたとき絶縁劣化出力信号を出力すること
    を特徴とする絶縁劣化検出回路。
  7. 【請求項7】請求項1から6に示す絶縁劣化検出回路と
    該絶縁劣化検出回路の出力により警報を発生する手段を
    有することを特徴とする絶縁劣化検出回路を用いた装
    置。
  8. 【請求項8】請求項1から6に示す絶縁劣化検出回路と
    該絶縁劣化検出回路の出力により回路を遮断する手段を
    有することを特徴とする絶縁劣化検出回路を用いた装
    置。
  9. 【請求項9】請求項1から6に示す絶縁劣化検出回路と
    該絶縁劣化検出回路の出力または該出力により処置され
    た状況をネットワークに接続する手段を有することを特
    徴とする絶縁劣化検出回路を用いた装置。
  10. 【請求項10】請求項5に示す絶縁劣化検出回路と,該
    回路の第一の絶縁劣化判定部の出力から警報を発生する
    手段と,該回路の第二の絶縁劣化判定部の出力により回
    路を遮断する手段を有することを特徴とする絶縁劣化検
    出回路を用いた装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008003059A (ja) * 2006-06-26 2008-01-10 Kawamura Electric Inc 湿潤劣化検出装置及び検出方法
JP2009066690A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Hitachi Koki Co Ltd 集塵機、および集塵機と電動工具の組合せ構造
CN101819246A (zh) * 2010-04-27 2010-09-01 重庆大学 超高频局部放电放电量监测采集方法、装置和系统
CN101826754A (zh) * 2010-05-05 2010-09-08 杭州交联电气工程有限公司 变电站在线检测及运行维护系统
JP2011185728A (ja) * 2010-03-08 2011-09-22 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2012008139A (ja) * 2011-08-19 2012-01-12 Tempearl Ind Co Ltd トラッキング電流検出装置
JP2012055100A (ja) * 2010-09-02 2012-03-15 Yazaki Corp 使用電気機器判断装置及び使用電気機器判断方法
JP2012233798A (ja) * 2011-05-02 2012-11-29 Sysmex Corp 臨床検査装置の管理方法、臨床検査システム、及びメンテナンス用管理装置
JP2014115276A (ja) * 2012-11-16 2014-06-26 Sensata Technologies Massachusetts Inc Dcアークと負荷スイッチングノイズとを区別するシステムおよび方法
JP2015155889A (ja) * 2013-12-23 2015-08-27 センサータ テクノロジーズ マサチューセッツ インコーポレーテッド 多重ストリングアーク故障検出デバイスの改良されたノイズ伝搬耐性

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60120268A (ja) * 1983-12-05 1985-06-27 Toshiba Corp コロナ放電検出装置
JPS627310A (ja) * 1985-07-03 1987-01-14 株式会社日立製作所 ガス絶縁開閉装置の予防診断法
JPH03200200A (ja) * 1989-12-28 1991-09-02 Fujitsu Ltd 周波数解析方式
JPH03222625A (ja) * 1990-01-25 1991-10-01 Mitsubishi Electric Corp 地絡検出装置
JPH03233374A (ja) * 1990-02-09 1991-10-17 Asahi Koyo Kk 架空送電線及びその設備の異常箇所探査装置
JPH04372226A (ja) * 1991-06-20 1992-12-25 Hioki Ee Corp A/dコンバータの入力回路
JPH05249175A (ja) * 1992-03-10 1993-09-28 Meidensha Corp 部分放電測定装置
JPH0743399A (ja) * 1993-07-30 1995-02-14 Hioki Ee Corp パワーアナライザ装置における測定データ表示方法
JPH07296708A (ja) * 1994-04-28 1995-11-10 Matsushita Electric Works Ltd 配線用遮断器
JPH1014094A (ja) * 1996-06-21 1998-01-16 Tempearl Ind Co Ltd 配線用遮断器
JPH11311654A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Yazaki Corp 車両用ワイヤハーネスの異常電流検出方法及びその装置
JP2001045653A (ja) * 1999-07-29 2001-02-16 Chugoku Electric Power Co Inc:The 電流波形の統計判定方式を用いたコード・プラグの絶縁劣化検出装置の絶縁劣化判定方法
JP2001289903A (ja) * 2000-04-11 2001-10-19 Tempearl Ind Co Ltd 絶縁劣化検出回路と該回路を用いた装置

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60120268A (ja) * 1983-12-05 1985-06-27 Toshiba Corp コロナ放電検出装置
JPS627310A (ja) * 1985-07-03 1987-01-14 株式会社日立製作所 ガス絶縁開閉装置の予防診断法
JPH03200200A (ja) * 1989-12-28 1991-09-02 Fujitsu Ltd 周波数解析方式
JPH03222625A (ja) * 1990-01-25 1991-10-01 Mitsubishi Electric Corp 地絡検出装置
JPH03233374A (ja) * 1990-02-09 1991-10-17 Asahi Koyo Kk 架空送電線及びその設備の異常箇所探査装置
JPH04372226A (ja) * 1991-06-20 1992-12-25 Hioki Ee Corp A/dコンバータの入力回路
JPH05249175A (ja) * 1992-03-10 1993-09-28 Meidensha Corp 部分放電測定装置
JPH0743399A (ja) * 1993-07-30 1995-02-14 Hioki Ee Corp パワーアナライザ装置における測定データ表示方法
JPH07296708A (ja) * 1994-04-28 1995-11-10 Matsushita Electric Works Ltd 配線用遮断器
JPH1014094A (ja) * 1996-06-21 1998-01-16 Tempearl Ind Co Ltd 配線用遮断器
JPH11311654A (ja) * 1998-04-28 1999-11-09 Yazaki Corp 車両用ワイヤハーネスの異常電流検出方法及びその装置
JP2001045653A (ja) * 1999-07-29 2001-02-16 Chugoku Electric Power Co Inc:The 電流波形の統計判定方式を用いたコード・プラグの絶縁劣化検出装置の絶縁劣化判定方法
JP2001289903A (ja) * 2000-04-11 2001-10-19 Tempearl Ind Co Ltd 絶縁劣化検出回路と該回路を用いた装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008003059A (ja) * 2006-06-26 2008-01-10 Kawamura Electric Inc 湿潤劣化検出装置及び検出方法
JP2009066690A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Hitachi Koki Co Ltd 集塵機、および集塵機と電動工具の組合せ構造
JP2011185728A (ja) * 2010-03-08 2011-09-22 Toshiba Corp 自動分析装置
CN101819246A (zh) * 2010-04-27 2010-09-01 重庆大学 超高频局部放电放电量监测采集方法、装置和系统
CN101826754A (zh) * 2010-05-05 2010-09-08 杭州交联电气工程有限公司 变电站在线检测及运行维护系统
JP2012055100A (ja) * 2010-09-02 2012-03-15 Yazaki Corp 使用電気機器判断装置及び使用電気機器判断方法
JP2012233798A (ja) * 2011-05-02 2012-11-29 Sysmex Corp 臨床検査装置の管理方法、臨床検査システム、及びメンテナンス用管理装置
JP2012008139A (ja) * 2011-08-19 2012-01-12 Tempearl Ind Co Ltd トラッキング電流検出装置
JP2014115276A (ja) * 2012-11-16 2014-06-26 Sensata Technologies Massachusetts Inc Dcアークと負荷スイッチングノイズとを区別するシステムおよび方法
JP2015155889A (ja) * 2013-12-23 2015-08-27 センサータ テクノロジーズ マサチューセッツ インコーポレーテッド 多重ストリングアーク故障検出デバイスの改良されたノイズ伝搬耐性

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