JP2001284910A - 非可逆回路素子および通信装置 - Google Patents
非可逆回路素子および通信装置Info
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Abstract
絡を回避した非可逆回路素子およびそれを用いた通信装
置を提供する。 【解決手段】 フェライト54とそれに対してそれぞれ
異なった向きに結合する中心導体51,52,53を設
けた磁性組立体5を用い、各中心導体のポート部と金属
ケース8との間にチップコンデンサC1,C2,C3お
よびチップ抵抗Rを接続するが、金属ケース8の、ポー
ト部P1,P2,P3が接続されるチップ部品の端子の
近傍に孔を形成することによって、半田ボールの発生を
防止し、また仮に半田ボールが生じても端子電極と金属
ケースとの短絡を防止する。
Description
どの高周波帯域で使用される、例えばアイソレータなど
の非可逆回路素子、およびそれを用いた通信装置に関す
るものである。
ェライト板に近接配置される互いに交差した複数の中心
導体と、フェライト板に直流磁界を印加する磁石とをケ
ース内に収納して構成されている。また、サーキュレー
タの3つのポートのうち所定のポートを抵抗終端させる
ことによってアイソレータが構成されている。
である。ここで2は磁性体金属からなる箱状の上ヨー
ク、3は上ヨーク2の内面に配置する円板形状の永久磁
石である。また5は磁性組立体であり、円板形状のフェ
ライト54の底面と同形状である中心導体の連結部にフ
ェライト54を置き、上記連結部から延び出た3本の中
心導体を、互いに略120°の角度をなしてフェライト
54を包むように折り曲げて配置し、中心導体の先端側
のポート部P1,P2,P3を外方へ突出させた構造と
している。C1,C2,C3はポート部P1,P2,P
3と、樹脂ケース7内のアース電極との間に接続される
整合用のチップコンデンサである。Rはポート部P3に
導通する電極とアース電極との間に接続される終端用の
チップ抵抗である。7は樹脂ケースである。8は磁性体
金属からなる下ヨークであり、上ヨーク2に組み合わせ
ることによって、閉磁路を構成する。
2に示した従来のアイソレータにおける主要部の断面図
である。チップ抵抗Rの一方の端子電極はアース端子7
3に接続している。このチップ抵抗Rの他方の端子電極
には中心電極のポート部P3を半田付けしている。また
チップコンデンサC3をポート部P3とアース端子73
との間に接続している。
抗Rの端子電極を金属ケース8から樹脂ケースの底部7
bで絶縁するようにした構造では、樹脂を射出成形する
際に、金型内での流動性を確保するために、樹脂ケース
の底部7bを通常は0.2mm以上の厚さにする必要が
あり、その分低背化には不利であった。
ップ抵抗Rの中心電極のポート部P3が接続される部分
の端子電極を金属ケース8とは反対側の面にのみ設けて
おき、このチップ抵抗Rのもう一方の端子電極を金属ケ
ース8に直接半田付けするようにした構造も採れる。さ
らに、図13の(C)に示すように、チップコンデンサ
C3も金属ケース8に直接半田付けすることによって低
背化することもできる。
チップ部品を直接半田付けするようにした構造では、端
子電極等に塗布した半田ペースト(クリーム半田)の溶
融時に、中心電極のポート部が接続される端子電極と金
属ケース8との間の狭い空間に、溶融した半田が閉じ込
められて、図中Bで示すようにボール状に残ってしまう
現象が稀に生じる。このような半田ボールBが生じる
と、上記端子電極と金属ケース8との間がショートされ
たり、チップコンデンサC3のホット側の電極と金属ケ
ースとがショートするおそれが生じる。
つ半田ボールによる短絡などを回避できるようにした非
可逆回路素子およびそれを用いた通信装置を提供するこ
とにある。
印加される磁性体と、該磁性体に対してそれぞれ異なっ
た向きに結合する複数の中心導体と、各中心導体のポー
ト部と金属ケースとの間にチップ部品を接続してなる非
可逆回路素子において、前記金属ケースの、前記ポート
部が接続されるチップ部品の端子が近接する箇所に孔を
形成する。この構造により、チップ部品のポート部の接
続部分を孔によって開放し、半田ボールが残留する可能
性を極めて低くし、チップ部品の端子電極または中心導
体のポート部が金属ケースなどに半田ボールを介して短
絡する、という不良の発生を防止する。
または挿入する。これにより、チップ部品の端子部が孔
部分で浮くのを防止し、底部の全面を、孔に充填された
絶縁体および金属ケースに当接させて安定化を図る。ま
た金属ケース内を密閉状態として信頼性を向上させる。
部品などを収容する樹脂ケースの一部とする。これによ
り、全体の部品点数を削減し低コスト化を図る。
側開口を内面側開口より狭くする。この構造により、チ
ップ部品の端子電極近傍の、金属ケースに対して絶縁状
態を保つべき空間を広げ、且つ金属ケースの外部に対す
る開口面積を小さくして、耐環境性を高める。
て、ほぼ直方体形状を成し、縦方向または横方向の対向
する辺に端子電極を形成し、一方の端子電極を金属ケー
スに導通させ、他方の端子電極を金属ケース側とは反対
側にのみ形成する。この構造により、チップ部品の金属
ケース側(アース側)に接続される側とは反対側の端子
電極、すなわちホット側の端子電極と金属ケースとの距
離を稼いで、半田ボールによる短絡の危険性をより回避
し、信頼性を高める。
成を備えた非可逆回路素子を用いて通信装置を構成す
る。
タの構成を図1〜図4を参照して説明する。図1はアイ
ソレータの分解斜視図、図2は上ヨーク2を取り除いた
状態での上面図および側断面図である。ここで2は磁性
体金属からなる箱状の上ヨーク、3は上ヨーク2の内面
に配置する円板形状の永久磁石である。また5は磁性組
立体であり、このフェライト54の底面と略同形状であ
る中心導体の連結部にフェライト54を置き、上記連結
部から延び出た3本の中心導体51,52,53を、絶
縁シート(不図示)を介在させて互いに略120°の角
度をなしてフェライト54を包むように折り曲げて配置
し、中心導体51,52,53の先端側のポート部P
1,P2,P3を外方へ突出させた構造としている。7
は上記磁性体組立体と下記チップ部品を収容する樹脂ケ
ースであり、この樹脂ケース7には、ケース内の上面に
一部が露出するアース電極、底面から側面にかけて露出
する入出力端子72およびアース端子73などをインサ
ートモールド成形している。整合用のチップコンデンサ
C1,C2,C3はポート部P1,P2,P3と樹脂ケ
ース7内のアース電極との間に接続される。また終端用
のチップ抵抗Rはポート部P3に導通する電極とアース
電極との間に接続される。8は磁性体金属からなる下ヨ
ークであり、上ヨーク2に組み合わせることによって、
閉磁路を構成する。これにより、永久磁石3による磁界
がフェライト54に対してその厚み方向に印加される。
分離して描いたが、この金属ケース8は樹脂ケース7と
別体であってもよいし、樹脂ケースにインサートモール
ドして一体成型してもよい。
る。この図では、直流磁界をHで表し、中心導体51,
52,53を等価的なインダクタLとして表している。
このような回路構成により、順方向の入力端子である入
出力端子71から入力された信号は、順方向の出力端子
である入出力端子72から低挿入損失で出力され、入出
力端子72に入射した信号は抵抗Rで消費され、入出力
端子71からはほとんど出力されない。
よびチップコンデンサC3部分を通る部分断面図であ
る。図4においてHは金属ケース8の一部に設けた孔で
あり、チップ抵抗Rのホット側の端子電極の位置に設け
ている。また、73で示す部分は樹脂ケースの底部に一
体成形している。チップコンデンサC3の下面のアース
側の電極はこのアース端子73に半田付けしている。ま
た中心導体のポート部P3はチップ抵抗Rのホット側の
端子電極およびチップコンデンサC3のホット側の端子
電極にそれぞれ半田付けしている。また、チップ抵抗R
のアース側の端子電極は金属ケース8に直接半田付けし
ている。
けすべき箇所に半田ペースト(クリーム半田)を予め塗
布し、金属ケース8の所定箇所にチップ抵抗Rを、アー
ス端子73の所定位置にチップコンデンサC3を、さら
に中心導体のポート部P3を所定位置にそれぞれ仮固定
した状態で全体を加熱し、上記半田ペーストを溶融させ
て半田付けする。この時、チップ抵抗Rのホット側の端
子電極部分の空間は、孔Hで開口させているので、狭い
空間に溶融半田が閉じ込められることがなく、半田ボー
ルの発生が抑制される。また、チップ抵抗Rのホット側
の端子電極と金属ケース8とは孔Hで電気的に絶縁され
ているので、仮に半田ボールが生じて、チップ抵抗Rの
ホット側の端子電極に半田ボールが取りついても、チッ
プ抵抗Rのホット側の端子電極または中心導体のポート
部P3と金属ケース8とが半田ボールを介して短絡する
ことはない。
法を、樹脂ケースが0.2mm、アース端子(電極)7
3が0.1mm、チップコンデンサC3が0.2mm、
チップ抵抗Rが所謂1005サイズで0.35mmとす
れば、図13の(A)に示した従来構造では、金属ケー
スの樹脂ケースが接する面からチップ抵抗Rの上面まで
は0.65mmである。これに対して、図4に示した例
では、チップ抵抗Rの上面がチップコンデンサC3の上
面より低くなり、金属ケースの樹脂ケースが接する面か
らチップコンデンサC3の上面までが0.5mmとな
り、低背化できる。
の主要部の部分断面図を図5に示す。(A)に示す例で
は、図4に示した孔H部分を絶縁性の樹脂9で充填して
いる。また(B)に示す例では、上記孔H部分に絶縁性
の樹脂9を挿入している。(A)に示した構造によれ
ば、チップ抵抗Rの底面の全面が平面上に搭載されるこ
とになり、その取り付け状態が安定化し、信頼性が高ま
る。また(A),(B)のいずれの例でも、金属ケース
8に孔が開口したままではないので、孔から塵埃がアイ
ソレータ内に入り込んだりせず、高い耐環境性を実現で
きる。
の主要部の部分断面図を図6に示す。(A)に示す例で
は、金属ケース8と樹脂ケースとをインサートモールド
成形により一体化するとともに、金属ケース8に設けた
孔部分に樹脂ケースの底部7bの樹脂を充填した構造と
している。また(B)に示す例では、孔部分を完全に充
填せずに、樹脂ケースの底部7bで塞いだ構造としてい
る。いずれの場合でも、チップ抵抗Rの取り付け状態の
安定性を高め、且つそのホット側の端子電極に半田ボー
ルが付着しても、その半田ボールと金属ケース8との導
通を防いで、金属ケース8に対するチップ抵抗Rのホッ
ト側の端子電極の短絡を防止することができる。
部材としては、樹脂に限らず、他の電気的絶縁体を用い
てもよい。
の主要部の部分断面図を図7に示す。この例では、金属
ケース8に設けた孔Hの金属ケース外面側の開口を内面
側の開口より狭く形成している。この構造により、チッ
プ抵抗Rのホット側の端子電極と金属ケース8との絶縁
を確実に行ない、且つ磁路の有効断面積の減少を最低限
にして、磁気抵抗の増大を防止し、磁気回路の劣化を最
低限のものにすることができる。また、金属ケース8に
設けた孔Hの外部に対する開口面積が縮小化されるの
で、金属ケース8の電磁シールド効果を損なうことな
く、また塵埃等に対する耐環境性を高めることができ
る。
ース外面側の開口を内面側の開口より単に狭くするだけ
でなく、両者の形状を異なったものとしてもよい。例え
ば金属ケース外面側の開口を正方形、内面側の開口を長
方形にしてもよい。
開口の形状を異ならせた構造は、図5および図6に示し
たように、孔に絶縁体を設けたものに適用してもよい。
の主要部の部分断面図を図8に示す。この例では、整合
用のチップコンデンサC3を金属ケース8の内面に直接
半田付けしている。このような構造においても、チップ
抵抗Rのホット側の端子電極を金属ケース8から絶縁す
る孔Hを設けることにより、半田ボールの発生を抑制
し、仮に半田ボールが生じても、チップ抵抗Rのホット
側の端子電極と金属ケース8との短絡を確実に防止する
ことができる。
を金属ケース8の内面に直接半田付けする構造において
も、図5および図6に示したような、孔に絶縁体を設け
た構造を適用してもよい。同様に、図7に示したような
金属ケースの外面側と内面側とで、開口の形状を異なら
せた構造を適用してもよい。
の主要部の部分断面図を図9に示す。この例では、チッ
プ抵抗Rのホット側の端子電極を金属ケース8から絶縁
する孔Hを設けるとともに、この孔Hを中心導体のポー
ト部P3とチップコンデンサC3の接続部付近にまで広
げている。この構造により、チップコンデンサC3のホ
ット側の端子電極(上面の電極)と金属ケース8との間
に半田ボールが生じることをも抑制し、仮に半田ボール
が生じても、チップ抵抗Rのホット側の端子電極または
ポート部P3と金属ケース8との半田ボールによる短絡
を防止する。
部P3とチップコンデンサC3の接続部付近にまで広げ
た構造において、図5および図6に示したように、孔に
絶縁体を設けてもよい。
の主要部の断面図を図10に示す。この例では、チップ
抵抗Rのホット側の端子電極およびチップコンデンサC
3のホット側の端子電極に対する中心導体のポート部P
3の接続部の全体にわたって開口した孔Hを金属ケース
8に設け、且つ孔Hの外面側の開口面積を縮小化してい
る。この構造により、チップ抵抗Rのホット側の端子電
極と金属ケース8との絶縁を確実に行ない、且つ磁路の
有効断面積の減少を最低限にして、磁気抵抗の増大を防
止し、磁気回路の劣化を最低限なものとする。また、金
属ケース8に設けた孔Hの外部に対する開口面積を縮小
化して、金属ケース8の電磁シールド効果を損なうこと
なく、また塵埃等に対する耐環境性を高める。
面を経由して下面にかけて端子電極を形成したチップ抵
抗を用いたが、図13の(B),(C)に示したよう
に、端子電極が上面にのみ形成されていてもよい。この
構造によれば、チップ部品の金属ケース側(アース側)
に接続される側とは反対側の端子電極、すなわちホット
側の端子電極と金属ケースとの距離を稼いで、半田ボー
ルによる短絡の危険性をより確実に回避し、信頼性をさ
らに高めることができる。
としてチップ抵抗と単板のチップコンデンサを例に挙げ
たが、チップ部品の上下面に端子電極が形成されたチッ
プ部品であれば、同様に適用できる。例えば、チップイ
ンダクタ(チップコイル)や積層型のチップコンデンサ
を用いる場合にも同様に適用できる。
アイソレータを例に挙げたが、磁性体に2つの中心導体
を結合させた2ポートタイプの非可逆回路素子にも同様
に適用できる。
形状のフェライトを用いたが、四角形板形状やその他の
多角形板形状であってもよい。
の例を図11を参照して説明する。同図においてANT
は送受信アンテナ、DPXはデュプレクサ、BPFa,
BPFbはそれぞれ帯域通過フィルタ、AMPa,AM
Pbはそれぞれ増幅回路、MIXa,MIXbはそれぞ
れミキサ、OSCはオシレータ、SYNは周波数シンセ
サイザである。MIXaはSYNから出力される周波数
信号を変調信号で変調し、BPFaは送信周波数の帯域
のみを通過させ、AMPaはこれを電力増幅して、アイ
ソレータISOおよびDPXを介しANTより送信す
る。BPFbはDPXから出力される信号のうち受信周
波数帯域のみを通過させ、AMPbはそれを増幅する。
MIXbはSYNより出力される周波数信号と受信信号
とをミキシングして中間周波信号IFを出力する。この
ような構成の通信装置において、上記アイソレータIS
Oとして、図1〜図10に示したいずれかの素子を用い
る。
部品のポート部の接続部分が孔によって開放されるた
め、半田ボールが残留し難く、また半田ボールが生じて
もチップ部品の端子電極または中心導体のポート部が金
属ケースなどに半田ボールを介して短絡する、という不
良の発生が確実に防止できる。
品の端子部が孔部分で浮くこともなく、底部の全面が、
孔に充填された絶縁体および金属ケースに当接するた
め、また、金属ケース内が密閉状態となるため、電子部
品としての信頼性が向上する。
品点数を削減して低コスト化を図ることができる。
品の端子電極近傍の、金属ケースに対して絶縁状態を保
つべき空間が広くなり、且つ金属ケースの外部に対する
開口面積が小さくなるため、半田ボールによる短絡を確
実に防止するとともに、耐環境性を高めることができ
る。
品の金属ケース側に接続される側とは反対側の端子電極
と金属ケースとの距離を稼いで、半田ボールによる短絡
の危険性を更に低下させ信頼性を高めることができる。
れた低コストの非可逆回路素子を用いて、小型で低コス
トな通信装置を容易に構成することができる。
図
の上面図および側断面図
部分断面図
部分断面図
部分断面図
部分断面図
部分断面図
の部分断面図
ブロック図
面図
Claims (6)
- 【請求項1】 直流磁界が印加される磁性体と、該磁性
体に対してそれぞれ異なった向きに結合する複数の中心
導体と、各中心導体のポート部と金属ケースとの間に接
続されるチップ部品とを備えてなる非可逆回路素子にお
いて、 前記金属ケースの、前記ポート部が接続される前記チッ
プ部品の端子が近接する箇所に孔を形成した非可逆回路
素子。 - 【請求項2】 前記孔に絶縁体を充填または挿入した請
求項1に記載の非可逆回路素子。 - 【請求項3】 前記絶縁体は、前記チップ部品等を収容
する樹脂ケースの一部である請求項2に記載の非可逆回
路素子。 - 【請求項4】 前記孔は、前記金属ケースの外面側開口
を内面側開口より狭くした請求項1、2または3に記載
の非可逆回路素子。 - 【請求項5】 前記チップ部品は、略直方体形状をな
し、縦方向または横方向の対向する辺に端子電極が形成
されていて、一方の端子電極が前記金属ケースに導通
し、他方の端子電極が金属ケース側とは反対側にのみ形
成されている請求項1〜4のうちいずれかに記載の非可
逆回路素子。 - 【請求項6】 請求項1〜5のうちいずれかに記載の非
可逆回路素子を用いた通信装置。
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