JP2001274432A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法

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JP2001274432A JP2000084897A JP2000084897A JP2001274432A JP 2001274432 A JP2001274432 A JP 2001274432A JP 2000084897 A JP2000084897 A JP 2000084897A JP 2000084897 A JP2000084897 A JP 2000084897A JP 2001274432 A JP2001274432 A JP 2001274432A
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cell
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Abstract

(57)【要約】 【課題】製造が容易でかつ、信頼性の高い半導体装置を
提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、少なくとも表面が第1導電型
の半導体層を構成する球状基板表面に、pn接合を形成
するように形成された第2導電型の半導体層と、前記第
2の半導体層表面に形成された透明導電膜からなる外側
電極とを形成した多数個のセルを用意する工程と、前記
セルを、トレイに一列に敷き詰める工程と、前記セルの
敷き詰められた前記トレイ内に、前記セルが一部の深さ
まで埋まるように導電性材料を充填し硬化する工程と、
さらにこの上に透明樹脂を充填し、硬化する工程と、前
記導電性材料を裏面側から研磨し、前記導電性材料の一
部が全体にわたって残留するように前記第1導電型の半
導体層を露呈せしめる工程と、前記第1導電型の半導体
層表面から突出するようにバンプを形成する工程と、前
記バンプを絶縁性樹脂で埋め込む工程と、前記絶縁性樹
脂をバンプとともに、研磨し、表面の平坦化をはかリ、
このバンプを内側電極とする工程とを含むことを特徴と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置の製造方
法に係り、特に球状半導体を用いた太陽電池や半導体レ
ーザなどの半導体装置に関する。
【0002】
【従来技術】半導体のpn接合部分には内部電界が生じ
ており、これに光を当て、電子正孔対を生成させると、
生成した電子と正孔は内部電界により分離されて、電子
はn側に、正孔はp側に集められ、外部に負荷を接続す
るとp側からn側に向けて電流が流れる。この効果を利
用し、光エネルギーを電気エネルギーに変換する素子と
して太陽電池の実用化が進められている。
【0003】近年、単結晶シリコンなどの直径1mm以
下の球状の半導体(Ball Semiconductor)上に回路パタ
ーンを形成して半導体素子を製造する技術が開発されて
いる。
【0004】その1つとして、アルミ箔を用いて多数個
の半導体粒子を接続したソーラーアレーの製造方法が提
案されている(特開平6-13633号)。この方法で
は、図7に示すように、第1導電型表皮部と第2導電型内
部を有する半導体粒子207をアルミ箔の開口にアルミ
箔201の両側から突出するように配置し、片側の表皮
部209を除去し、絶縁層221を形成する。次に第2
導電型内部111の一部およびその上の絶縁層221を
除去し、その除去された領域217に第2アルミ箔21
9を結合する。その平坦な領域217が導電部としての
第2アルミ箔219に対し良好なオーミック接触を提供
するようにしたものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな方法では、高密度配置には限界があり、また、アル
ミ箔への位置決めが困難であり、多数個の半導体粒子を
実装する場合には特に作業性が悪いという問題があっ
た。また、電極の形成についても、第1導電型表皮部と
第2導電型内部との両方へのコンタクト端子が必要であ
るが、受光面積を減少させることなく、確実なコンタク
ト端子の形成を行うのは難しいという問題があった。
【0006】本発明は前記実情に鑑みてなされたもの
で、製造が容易でかつ、信頼性の高い半導体装置を提供
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の第1は、少なく
とも表面が第1導電型の半導体層を構成する球状基板表
面に、pn接合を形成するように形成された第2導電型
の半導体層と、前記第2の半導体層表面に形成された透
明導電膜からなる外側電極とを形成した多数個のセルを
用意する工程と、前記セルを、トレイに一列に敷き詰め
る工程と、前記セルの敷き詰められた前記トレイ内に、
前記セルが一部の深さまで埋まるように導電性材料を充
填し硬化する工程と、さらにこの上に透明樹脂を充填
し、硬化する工程と、前記導電性材料を裏面側から研磨
し、前記導電性材料の一部が全体にわたって残留するよ
うに前記第1導電型の半導体層を露呈せしめる工程と、
前記第1導電型の半導体層表面から突出するようにバン
プを形成する工程と、前記バンプを絶縁性樹脂で埋め込
む工程と、前記絶縁性樹脂をバンプとともに、研磨し、
表面の平坦化をはかリ、このバンプを内側電極とする工
程とを含むことを特徴とする。
【0008】かかる構成によれば、セルをトレイに敷き
詰めた状態で導電性材料を充填し、硬化せしめるように
しているため、トレイの表面が各セルの接線に相当する
ように、高精度の位置決めが可能となり、同時に、最密
度充填構造を得ることが可能となる。また、固定と同時
に、外側電極間相互の電気的接続が可能となる。さらに
また、表面側は、透明樹脂で固定されており、保護と同
時に、レンズとしての役割も奏効可能である。さらにま
た、裏面側はバンプを形成したのち絶縁性樹脂で埋め込
み、裏面から一体的に研磨するようにしているため、平
坦度を維持しつつ電極取り出しを行なうことができる。
また内側電極を個別電極として高精度の取り出しを行な
うことができるため、太陽電池として用いる場合には各
セルを直列接続することが容易となる。また、光センサ
として用いる場合には、受光セルがいずれであるかを特
定することができる。さらにまた、GaAsやGaNな
どの化合物半導体を用いたセルを作成し、発光素子セル
を形成するようにすれば、表示素子としての使用も可能
となる。
【0009】本発明の第2によれば、請求項1に記載の
半導体装置の製造方法において、バンプを形成する工程
が、導電性ペーストを各領域に供給し、加熱することに
よりスパイク状突起を形成する工程であることを特徴と
する。
【0010】かかる構成によれば、導電性ペースト材料
を適宜選択することにより、容易に信頼性の高いバンプ
を形成することができる。
【0011】本発明の第3によれば、請求項1に記載の
半導体装置の製造方法において、前記バンプを形成する
工程は、厚膜印刷法により突起を形成する工程であるこ
とを特徴とする。
【0012】かかる構成によれば、容易に高精度に位置
決めのなされたバンプを形成することができる。
【0013】本発明の第4によれば、請求項1乃至3の
いずれかに記載の半導体装置の製造方法において、前記
絶縁性樹脂を埋め込む工程は、スピンコーティングによ
り絶縁性樹脂を塗布する工程であることを特徴とする。
【0014】かかる構成によれば、容易に平坦表面を形
成することができ、平坦な状態から研磨することによっ
て平坦性の高い電極面を得ることが可能となる。
【0015】本発明の第5によれば、少なくとも表面が
第1導電型の半導体層を構成する球状基板表面に、pn
接合を形成するように形成された第2導電型の半導体層
と、前記第2の半導体層表面に形成された透明導電膜か
らなる外側電極とを形成した多数個のセルを用意する工
程と、前記セルを、トレイに一列に敷き詰める工程と、
前記セルの敷き詰められた前記トレイ内に、前記セルが
半分程度の埋まるように導電性材料を充填し硬化する工
程と、さらにこの上に透明樹脂を充填し、硬化する工程
と、前記導電性材料を裏面側から研磨し、前記導電性材
料の一部が全体にわたって残留するように裏面側から前
記第1導電型の半導体層を露呈せしめる工程と、前記導
電性樹脂および前記セルの露呈面全体に絶縁膜を形成す
る工程と、前記絶縁膜にスルーホールを形成し、前記セ
ルの第1導電型の半導体層を露呈せしめる工程と、前記
スルーホール内に導体膜を充填する工程とを含むことを
特徴とする。
【0016】かかる構成によれば、上記第1の構成によ
る効果に加え、内側電極の取り出しが絶縁膜の形成後ス
ルーホールを形成してなされるため、信頼性の向上をは
かることができる。
【0017】本発明の第6によれば、請求項5に記載の
半導体装置の製造方法において、前記スルーホールを形
成する工程は、フォトリソグラフィを用いた工程である
ことを特徴とする。
【0018】かかる構成によれば、上記第6の構成によ
る効果に加え、より高精度にスルーホールの形成を行な
うことが可能となる。
【0019】本発明の第7によれば、請求項5に記載の
半導体装置の製造方法において、前記第1導電型の半導
体層は、シリコン層であり、前記導体膜を充填する工程
は、前記シリコン層をシードとして選択的気相成長法に
より成長せしめられたシリコン層であることを特徴とす
る。
【0020】かかる構成によれば、スルーホール内に露
呈する基板表面から選択的に導体膜が成長せしめられる
ため、容易に信頼性の高い電極形成を行なうことが可能
となる。
【0021】本発明の第8によれば、請求項5に記載の
半導体装置の製造方法において、前記導体膜を充填する
工程は、高圧埋め込み法により前記スルーホール内に導
体層を充填する工程であることを特徴とする。
【0022】かかる構成によれば、アスペクト比の高い
スルーホールに対しても容易に高精度の充填が可能とな
る。
【0023】本発明の第9によれば、請求項5乃至8の
いずれかに記載の半導体装置の製造方法において、前記
セルは太陽電池セルであることを特徴とする
【0024】かかる構成によれば、1個1個のセルから
確実に電極取り出しを行なうことができるため、各セル
の直列接続が可能となる。
【0025】本発明の第10によれば、請求項5乃至8
のいずれかに記載の半導体装置の製造方法において、前
記セルは光センサであることを特徴とする。
【0026】かかる構成によれば、1個1個のセルから
確実に電極取り出しを行なうことができるため、いかな
る位置で光を検出したかを高精度に検出することが可能
となる。
【0027】本発明の第11によれば、請求項5乃至8
のいずれかに記載の半導体装置の製造方法において、前
記セルは発光素子であることを特徴とする。
【0028】かかる構成によれば、1個1個のセルから
確実に電極取り出しを行なうことができるため、所望の
セルにのみ選択的に発光させることが容易に可能とな
る。
【0029】本発明の第12によれば、請求項11に記
載の半導体装置の製造方法において、前記セルはGaN
を用いた半導体レーザであることを特徴とする。
【0030】かかる構成によれば、1個1個のセルから
確実に電極取り出しを行なうことができるため、所望の
色をもつセルにのみ選択的に発光させることが容易に可
能となる。
【0031】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しつつ詳細に説明する。 実施形態1 本発明の第1の実施形態の太陽電池は、図1に全体図、図
2に断面概要図を示すように、球状シリコンからなる太
陽電池セル1の外側電極13が銀ペースト5で固着され
ており、さらに表面全体がエポキシ樹脂からなる透明樹
脂14で被覆されており、裏面側はポリイミド樹脂16
で被覆され、このポリイミド樹脂16内に形成されたス
ルーホールHを介して各太陽電池セルのp型多結晶シリ
コン球11に接続するように銀ペーストで形成されたバ
ンプ(内側電極)15を配列してなるものである。すな
わち、表面にpn接合を形成するように形成されたn型
多結晶シリコン層12と、このn型多結晶シリコン層1
2表面に形成された酸化インジウム錫(ITO)からな
る透明の外側電極13と、一部で前記外側電極13およ
びn型多結晶シリコン層12表面とが除去され前記p型
多結晶シリコン球表面が露呈せしめられた多数個の太陽
電池セル1と、前記外側電極13相互間を電気的に接続
する銀ペースト5と、表面側全体を覆う透明樹脂14と
でセル同士が固着されてなるものである.そして内側電
極の取り出しは前記p型多結晶シリコン球11にコンタ
クトするように、ポリイミド樹脂16から突出する銀か
らなるバンプ15によってなされている。
【0032】このポリイミド樹脂15により、内側電極
と外側電極との絶縁が確実となるように形成されるとと
もに、内側電極同士の絶縁分離も確実となるようにスル
ーホールを介して各セルのp型多結晶シリコン球11に
コンタクトせしめられている。
【0033】一方、この太陽電池を構成する太陽電池セ
ル1は、図2に拡大断面図を示すように、直径1mmの
p型多結晶シリコン球11の表面にn型多結晶シリコン
層12を形成し、pn接合を形成すると共に、さらにこ
の表面を覆うよう透明導電膜からなる外側電極13が形
成されている。そして、裏面側から研磨により導電性ぺ
ースト5とともに、p型多結晶シリコン球11に到達す
るまで外側電極13およびn型多結晶シリコン層12が
除去され、この除去領域の表面は絶縁性樹脂16で被覆
されスルーホールHを介してp型多結晶シリコン球11
にコンタクトするバンプ15が形成されている。
【0034】次に、この太陽電池の製造方法について説
明する。まず、太陽電池セルを形成する。図3(a)に示
すように、直径1mmのp型多結晶シリコン球11の表
面を鏡面研磨するとともに、洗浄し、フォスフィンを含
むシランなどの混合ガスを用いたCVD法により、n型
多結晶シリコン層12を形成する。ここでCVD工程は
細いチューブ内でシリコン球を搬送しながら、所望の反
応温度に加熱されたガスを供給排出することにより、薄
膜形成を行うものである。なお、n型多結晶シリコン層
12は拡散法で形成するようにしてもよい。
【0035】この後、図3(b)に示すように、スパッタ
リング法により、基板表面全体に膜厚1μm程度のIT
O薄膜13を形成する。
【0036】このようにして形成された、太陽電池セル
1を、長方形のトレイに入れ、傾けて一列になるように
配列する。そしてこのように敷き詰められた太陽電池セ
ル1の上から図4(a)に示すように、約半分程度セル
が埋まるように銀ペースト5を充填し、固定する。そし
て図4(b)に示すように、さらにこの上にポリイミド
樹脂からなる透明樹脂14をセル表面が埋まるように充
填し硬化せしめる。そしてこの銀ペースト5および透明
樹脂で固着された複数のセルを前記トレイTからはず
し、前記透明樹脂側が上に位置するように水平に配置す
る。この後、図4(c)に示すように、銀ペースト5が
わずかに残留する深さまで研磨し、各セルのp型多結晶
シリコン球11表面を露呈せしめる。そして、図4
(d)に示すように、この各セルのp型多結晶シリコン
球11表面およびすでに硬化せしめられた銀ペースト5
の一部に銀ぺーストを供給し、加熱することにより、ス
パイク状の突起からなるバンプ15を形成する。そし
て、図4(e)に示すように、バンプ15が上にくるよ
うにしてポリイミド樹脂16をスピンコートし、表面の
平坦な絶縁膜上にバンプが突出する形状となるように加
熱硬化させて形成する。最後、図4(f)に示すよう
に、バンプ側から研磨し、表面の平坦化をはかることに
より、図1および図2に示したような太陽電池セルが完
成する。
【0037】かかる構成によれば、セルをトレイに敷き
詰めた状態で銀ペースト5を充填し、硬化せしめるよう
にしているため、トレイの表面が各セルの接線に相当す
るように、高精度の位置決めが可能となり、同時に、最
密度充填構造を得ることが可能となる。
【0038】また、固定と同時に、外側電極間相互の電
気的接続が可能となる。さらにまた、表面側は、ポリイ
ミド樹脂で固定されており、保護と同時に、レンズとし
ての役割も奏効可能である。
【0039】さらにまた、裏面側はバンプを形成したの
ち絶縁性樹脂で埋め込み、裏面から一体的に研磨するよ
うにしているため、平坦度を維持しつつ電極取り出しを
行なうことができる。また内側電極を個別電極として高
精度の取り出しを行なうことができるため、各セルを直
列接続してなる太陽電池を得ることが可能となる。
【0040】なお、このセルを光センサとしている場合
には、受光セルがいずれであるかを特定することができ
【0041】さらにまた、GaAsやGaNなどの化合
物半導体を用いたセルを作成し、発光素子セルを形成す
ることも可能であり、表示素子としての使用もいかなる
方向から見ても良好な発光を得ることができ、信頼性の
高い表示素子を提供する事が可能となる。
【0042】かかる方法によれば、マスク工程が不要
で、かつ信頼性の高い太陽電池の形成が可能となる。
【0043】また、球状シリコンへのフォトリソグラフ
ィ工程は露光工程が極めて困難であるが、本発明の方法
によれば、フォトリソグラフィ工程を必要とすることな
く、極めて高効率の太陽電池を形成することが可能とな
る。
【0044】実施形態2 次に本発明の第2の実施形態について説明する。ここで
は図5(a)に示すように、図4(c)に示した研磨に
よりp型単結晶シリコン層を露呈せしめる工程までは前
記第1の実施形態と同様に形成する。こののち、研磨面
側を上にして、スピンコーティングにより低粘度のポリ
イミド樹脂を塗布し、前記半田層5表面を絶縁性樹脂膜
で覆うようにし、図5(b)に示すように、この絶縁性
樹脂膜にフォトリソグラフィ法によりスルーホールHを
形成する。
【0045】そして図5(c)に示すように、このスル
ーホールに選択的気相成長により、高濃度にドープされ
た多結晶シリコン層を形成し、これをバンプとする。
【0046】かかる構成によれば、容易に高精度の電極
取り出しを行なうことが可能となる。また、選択的気相
成長法の他、高圧埋め込み法によりスルーホール内に金
属膜を形成するようにしてもよい。
【0047】実施形態3 前記第1の実施形態ではバンプの形成に際し、銀ペース
トをボンダーで供給するようにしたが、厚膜ペーストを
用いてスクリーン印刷を行ない乾燥焼成工程を経て形成
することも可能である。他の工程については前記実施形
態と同様に形成すればよい。
【0048】実施形態4 前記第1乃至 第3の実施形態ではp型多結晶シリコン
球を用いて太陽電池セルを構成したが、図6に示すよう
に、球状基板10を、銅球で構成し、球状基板表面に、
p型のアモルファスシリコン層11‘と、n型アモルフ
ァスシリコン層12’とを形成しpn接合を形成してな
り、外側電極13、n型のアモルファスシリコン層12
‘と、p型アモルファスシリコン層11’の一部が除去
されていることを特徴とする。11cはコンタクト層で
ある。ここでバンプ15は銅球からなる球状基板10に
コンタクトするように形成されている。
【0049】かかる構成によれば、内側電極のコンタク
ト抵抗が低く信頼性の高い太陽電池を容易に形成するこ
とが可能となる。なお、太陽電池セルは直列接続しても
よいし、並列接続してもよい。直列接続する際には、直
列となるような相互配線パターンを裏面側に形成してな
るプリント基板表面に面実装により実装するにより、容
易に信頼性の高い直列接続体を形成することが可能とな
る。
【0050】なお、前記実施の形態ではpn接合を形成
する半導体層として、アモルファスシリコン、多結晶シ
リコン層を用いたが、これに限定されることなく、単結
晶シリコン層、さらにはGaAs,GaPなどの化合物
半導体層にも適用可能である。さらには、pn構造のみ
ならず、pin構造にも適用可能である。
【0051】この球状の半導体素子の製造に際し、各処
理工程を連結してライン化することが可能であるため、
生産性が極めて高いという特徴がある。
【0052】各工程では、活性ガス、不活性ガス等の気
体のみならず、水や各種溶液等の液体をも含む種々の雰
囲気での処理がなされる。このような処理工程を連結す
る場合、被処理物を搬送する雰囲気を前工程から後工程
に持ち込まないようにしなければならないため、工程間
において被処理物から前工程の雰囲気を除去し、そして
後工程に合わせた雰囲気に変換して被処理物を搬送する
といった作業が必要であるが、雰囲気変換装置を用いる
ことにより搬送しながら各処理工程が実行でき、極めて
高速で作業性よく信頼性の高い半導体装置を提供するこ
とが可能となる。
【0053】また、シリコン表面は酸化され易く、表面
に自然酸化膜が形成された場合、その上層に形成される
金属電極層などとの接触性が悪くなるなどの問題もある
が、外気に接触することなく、閉鎖空間内で搬送および
処理を行うことができる。
【0054】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、製造が容易で信頼性が高い光電変換素子を提供する
ことが可能となる。また、位置決めが不要であり、充填
密度も高く、高効率で信頼性の高い太陽電池を提供する
ことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の太陽電池を示す図
【図2】本発明の第1の実施形態の太陽電池を構成する
セルの断面図
【図3】本発明の第1の実施形態の太陽電池を構成する
セルの製造工程図
【図4】本発明の第1の実施形態の太陽電池の実装工程
を示す図
【図5】本発明の第2の実施形態の太陽電池の製造工程
を示す図
【図6】本発明の第3の実施形態の太陽電池を示す図
【図7】従来例の太陽電池を示す図
【符号の説明】
1 太陽電池 5 銀ペースト 11 p型多結晶シリコン球 12 n型多結晶シリコン層 13 外側電極 14 透明樹脂 15 バンプ H スルーホール 16 絶縁膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 33/00 H01L 21/92 602L H01S 5/022 29/46 Z 5/323 31/04 X 31/10 A Fターム(参考) 4M104 AA01 BB36 CC01 DD37 FF01 FF06 GG04 GG19 5F041 CA35 CA37 CA88 CA93 CB36 DA43 5F049 MA02 MA04 MB02 MB03 PA03 QA20 SE04 SE09 SS03 TA09 5F051 AA03 AA20 CB12 DA03 DA04 DA20 FA04 FA16 FA17 5F073 EA28 FA11 FA29

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも表面が第1導電型の半導体層
    を構成する球状基板表面に、pn接合を形成するように
    形成された第2導電型の半導体層と、前記第2の半導体
    層表面に形成された透明導電膜からなる外側電極とを形
    成した多数個のセルを用意する工程と、 前記セルを、トレイに一列に敷き詰める工程と、 前記セルの敷き詰められた前記トレイ内に、前記セルの
    一部が埋まるように導電性材料を充填し硬化する工程
    と、 さらにこの上に透明樹脂を充填し、硬化する工程と、 前記導電性材料を裏面側から研磨し、前記導電性材料の
    一部が全体にわたって残留するように前記第1導電型の
    半導体層を露呈せしめる工程と、 前記第1導電型の半導体層表面から突出するようにバン
    プを形成する工程と、 前記バンプを絶縁性樹脂で埋め込む工程と、 前記絶縁性樹脂をバンプとともに、研磨し、表面の平坦
    化をはかり、このバンプを内側電極とする工程とを含む
    ことを特徴とする半導体装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記バンプを形成する工程は、導電性ペ
    ーストを各領域に供給し、加熱することによりスパイク
    状突起を形成する工程であることを特徴とする請求項1
    に記載の半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記バンプを形成する工程は、厚膜印刷
    法により突起を形成する工程であることを特徴とする請
    求項1に記載の半導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記絶縁性樹脂を埋め込む工程は、スピ
    ンコーティングにより絶縁性樹脂を塗布する工程である
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の半
    導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 少なくとも表面が第1導電型の半導体層
    を構成する球状基板表面に、pn接合を形成するように
    形成された第2導電型の半導体層と、前記第2の半導体
    層表面に形成された透明導電膜からなる外側電極とを形
    成した多数個のセルを用意する工程と、 前記セルを、トレイに一列に敷き詰める工程と、 前記セルの敷き詰められた前記トレイ内に、前記セルが
    一部の深さまで埋まるように導電性材料を充填し硬化す
    る工程と、 さらにこの上に透明樹脂を充填し、硬化する工程と、 前記導電性材料を裏面側から研磨し、前記導電性材料の
    一部が全体にわたって残留するように前記第1導電型の
    半導体層を露呈せしめる工程と、 前記導電性樹脂および前記セルの露呈面全体に絶縁膜を
    形成する工程と、 前記絶縁膜にスルーホールを形成し、前記セルの第1導
    電型の半導体層を露呈せしめる工程と、 前記スルーホール内に導体膜を充填する工程とを含むこ
    とを特徴とする半導体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記スルーホールを形成する工程は、フ
    ォトリソグラフィを用いた工程であることを特徴とする
    請求項5に記載の半導体装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記第1導電型の半導体層は、シリコン
    層であり、 前記導体膜を充填する工程は、前記シリコン層をシード
    として選択的気相成長法により成長せしめられたシリコ
    ン層であることを特徴とする請求項5に記載の半導体装
    置の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記導体膜を充填する工程は、高圧埋め
    込み法により前記スルーホール内に導体層を充填する工
    程であることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置
    の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記セルは太陽電池セルであることを特
    徴とする請求項5乃至8のいずれかに記載の半導体装置
    の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記セルは光センサであることを特徴
    とする請求項5乃至8のいずれかに記載の半導体装置の
    製造方法。
  11. 【請求項11】 前記セルは発光素子であることを特徴
    とする請求項5乃至8のいずれかに記載の半導体装置の
    製造方法。
  12. 【請求項12】 前記セルはGaNを用いた半導体レー
    ザであることを特徴とする請求項5乃至8のいずれかに
    記載の半導体装置の製造方法。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005039230A (ja) * 2003-07-01 2005-02-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装体、光伝送路および光電気回路基板
JP2007027497A (ja) * 2005-07-19 2007-02-01 Clean Venture 21:Kk 光電変換装置およびその製造方法
JP2008004802A (ja) * 2006-06-23 2008-01-10 Clean Venture 21:Kk 光電変換装置の製造方法
JP2008306129A (ja) * 2007-06-11 2008-12-18 Clean Venture 21 Corp 光電変換装置の製造方法
JP2011009716A (ja) * 2009-05-28 2011-01-13 Denka Agsp Kk 発光素子搭載用基板の製造方法
JP2011205150A (ja) * 2011-07-15 2011-10-13 Clean Venture 21 Corp 光電変換装置の製造方法
JP2014175636A (ja) * 2013-03-13 2014-09-22 Shimadzu Corp 基板搬送システム
KR101792804B1 (ko) * 2015-11-13 2017-11-02 주식회사 뉴파워 프라즈마 태양전지 제조 시스템
KR101792803B1 (ko) * 2015-11-13 2017-11-02 주식회사 뉴파워프라즈마 가열 장치 및 이를 이용한 태양전지 제조 방법
US11901468B2 (en) 2021-11-12 2024-02-13 Softpv Inc. Semiconductor packaging including photovoltaic particles having a core-shell structure

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005039230A (ja) * 2003-07-01 2005-02-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装体、光伝送路および光電気回路基板
JP4510532B2 (ja) * 2003-07-01 2010-07-28 パナソニック株式会社 実装体、光伝送路および光電気回路基板
JP2007027497A (ja) * 2005-07-19 2007-02-01 Clean Venture 21:Kk 光電変換装置およびその製造方法
JP4590617B2 (ja) * 2005-07-19 2010-12-01 株式会社クリーンベンチャー21 光電変換装置およびその製造方法
JP2008004802A (ja) * 2006-06-23 2008-01-10 Clean Venture 21:Kk 光電変換装置の製造方法
JP2008306129A (ja) * 2007-06-11 2008-12-18 Clean Venture 21 Corp 光電変換装置の製造方法
JP2011009716A (ja) * 2009-05-28 2011-01-13 Denka Agsp Kk 発光素子搭載用基板の製造方法
JP2011205150A (ja) * 2011-07-15 2011-10-13 Clean Venture 21 Corp 光電変換装置の製造方法
JP2014175636A (ja) * 2013-03-13 2014-09-22 Shimadzu Corp 基板搬送システム
KR101792804B1 (ko) * 2015-11-13 2017-11-02 주식회사 뉴파워 프라즈마 태양전지 제조 시스템
KR101792803B1 (ko) * 2015-11-13 2017-11-02 주식회사 뉴파워프라즈마 가열 장치 및 이를 이용한 태양전지 제조 방법
US11901468B2 (en) 2021-11-12 2024-02-13 Softpv Inc. Semiconductor packaging including photovoltaic particles having a core-shell structure
JP7454876B2 (ja) 2021-11-12 2024-03-25 ソフトピーブイ インコーポレイテッド コアシェル構造の光発電パーティクルを含む半導体パッケージング

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