JP2001274282A - 半導体装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 151
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 64
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 64
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims abstract description 39
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract description 31
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 1
- UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N iron nickel Chemical compound [Fe].[Ni] UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 27
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 26
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 14
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 10
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 4
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 3
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 3
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 3
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 2
- 238000001883 metal evaporation Methods 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 2
- 101100321669 Fagopyrum esculentum FA02 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000282373 Panthera pardus Species 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 229960003280 cupric chloride Drugs 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L24/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4821—Flat leads, e.g. lead frames with or without insulating supports
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- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
- H01L23/3121—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0555—Shape
- H01L2224/05552—Shape in top view
- H01L2224/05554—Shape in top view being square
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/3205—Shape
- H01L2224/32057—Shape in side view
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- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
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- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
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- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
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- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45139—Silver (Ag) as principal constituent
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- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
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- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
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Abstract
ルシート等が支持基板として半導体素子が実装された半
導体装置がある。しかしこれらの支持基板は、本来必要
でなく余分な材料であり、支持基板の厚みが、半導体装
置を大型化にし、中に組み込まれた半導体素子の熱が放
熱されにくい構造となっている。 【解決手段】 導電箔60に分離溝14を形成した後、
回路素子を実装し、この導電箔60を支持基板として絶
縁性樹脂10を被着し、反転した後、今度は絶縁性樹脂
10を支持基板として導電箔を研磨して導電路11とし
て分離している。従って支持基板を採用することなく、
導電路11、半導体チップ12が絶縁性樹脂10に支持
された半導体装置13が実現できる。しかも半導体チッ
プ12と第1の導電路11Aが熱的に結合されて固着さ
れているため、半導体チップ12の熱を外部に放出する
ことができる。
Description
し、特に半導体チップの外側から半導体チップ裏面に配
線を延在させ、半導体チップの裏面で外部接続電極が形
成された半導体装置に関するものである。
・高密度実装機器への採用が進み、従来のICパッケー
ジとその実装概念が大きく変わろうとしている。詳細
は、例えば電子材料(1998年9月号22頁〜)の特
集「CSP技術とそれを支える実装材料・装置」で述べ
られている。
ターポーザー基板として採用するもので、このフレキシ
ブルシート50の上には、接着剤を介して銅箔パターン
51が貼り合わされている。この銅箔パターン51に
は、ICチップ52が固着され、このICチップの周囲
にボンディング用パッド53が形成されている。またこ
のボンディング用パッド53と一体で形成される配線を
介して半田ボール接続用パッド54が形成され、この半
田ボール接続用パッド54に半田ボール55が形成され
ている。
は、フレキシブルシートが開口された開口部56が設け
られており、この開口部56を介して半田ボール55が
形成されている。そしてフレキシブルシート50を基板
にして全体が絶縁性樹脂58で封止されている。
絶縁性樹脂58で封止されている点、ICチップ52の
裏面は、フレキシブルシート50が設けられている点、
および熱伝導良好な材料より成る熱伝導パスは、金属細
線57、銅箔パターン51および半田ボール55から成
る点により、前述したパッケージは、駆動時に十分な放
熱ができない構造であった。よって、駆動時、ICチッ
プが温度上昇し、駆動電流を十分流せない問題があっ
た。
熱膨張係数の差によって、絶縁性樹脂の溶融温度(また
は硬化温度)から常温に冷却するまでの温度差により絶
縁性樹脂58に収縮力が働く。このような収縮力によ
り、常温まで冷却すると、パッケージ端部が持ち上が
り、外形寸法に変化をもたらし、パッケージの水平が維
持できなくなり、実装基板に実装する際に予期せぬトラ
ブルが発生する問題もあった。
の課題に鑑みて成され、第1に、分離溝で電気的に分離
された複数の導電路と、前記複数の導電路の内、ダイパ
ッド形状の第1の導電路上に固着された半導体チップ
と、前記半導体チップのボンディング電極とボンディン
グパッド形状の第2の導電路とを接続する接続手段と、
前記半導体チップを被覆し且つ前記複数の導電路間の前
記分離溝に充填され前記導電路の裏面を露出して一体に
支持する絶縁性樹脂とを備えた半導体装置であり、前記
第2の導電路を、前記半導体チップの外側に設け、前記
第2の導電路から前記半導体チップの裏面に延在される
配線を介して外部接続パッドを設けることで解決するも
のである。
の導電路と、前記複数の導電路の内、ダイパッド形状の
第1の導電路上に固着された半導体チップと、前記半導
体チップのボンディング電極とボンディングパッド形状
の第2の導電路とを接続する接続手段と、前記半導体チ
ップを被覆し且つ前記複数の導電路間の前記分離溝に充
填され前記導電路の裏面を露出して一体に支持する絶縁
性樹脂とを備えた半導体装置であり、前記第1の導電路
を、前記半導体チップ裏面のサイズよりも小さく設け、
前記第2の導電路を、前記半導体チップの外側に設け、
前記第2の導電路から前記半導体チップの裏面に延在さ
れる配線を介して電気的に接続される外部接続パッド形
状の第3の導電路を、前記第2の導電路よりも大きく形
成することで解決するものである。
の導電路と、前記複数の導電路の内、ダイパッド形状の
第1の導電路上に固着された半導体チップと、前記半導
体チップのボンディング電極とボンディングパッド形状
の第2の導電路とを接続する接続手段と、前記半導体チ
ップを被覆し且つ前記複数の導電路間の前記分離溝に充
填され前記導電路の裏面を露出して一体に支持する絶縁
性樹脂とを備えた半導体装置であり、前記第1の導電路
を、前記半導体チップ裏面に、チップサイズよりも小さ
く設け、前記第2の導電路を、前記半導体チップの外側
に複数個設け、前記第2の導電路の一つを、島状に設
け、前記第2の導電路の一つを、前記半導体チップの裏
面に延在される配線と一体で成し、前記配線を、前記半
導体チップ周辺と前記第1の導電路との間に設けられた
外部接続パッド形状の第3の導電路と一体で形成するこ
とで解決するものである。
されるパッケージ側のボンディングパッド(第2の導電
路)を半導体チップの周辺に配置することにより、外部
接続パッドを空き領域となる半導体チップの裏面にも配
置できる。よって外部接続パッドの配置できる部分が拡
大し、パッドのサイズを大きく設定できる特徴を有す
る。
露出している第1の導電路と直接固着されるため、半導
体チップに発生する熱を第1の導電路を介して外部に放
熱させることができる。
路を支持基板無しに達成できるため、支持基板との熱膨
張係数の差により発生する反りを無くすことができる。
の形態まず本発明の半導体装置について図1を参照しな
がらその構造について説明する。尚、図1Aは、半導体
装置の平面図であり、図1Bは、A−A線の断面図であ
る。
導電路11A〜11Dを有し、前記第1の導電路11A
は、ダイパッドとなり、この上には半導体チップ12が
固着され、前記絶縁性樹脂10で導電路11A〜11D
を支持して成る半導体装置13が示されている。また前
記導電路11A〜11Dの側面は湾曲構造を有しても良
い。詳細は、図4を参照。
路11A〜11Dと、この導電路11A〜11Dを埋め
込む絶縁性樹脂10の3つの材料で構成され、導電路1
1A〜11D間には、この絶縁性樹脂10で充填された
分離溝14が設けられる。そして絶縁性樹脂10により
前記導電路11A〜11Dが支持されている。
硬化性樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフェニレンサルファ
イド等の熱可塑性樹脂を用いることができる。また絶縁
性樹脂は、金型を用いて固める樹脂、ディップ、塗布を
して被覆できる樹脂であれば、全ての樹脂が採用でき
る。また導電路11A〜11Dとしては、Cuを主材料
とした導電箔、Alを主材料とした導電箔、またはFe
−Ni等の合金から成る導電箔等を用いることができ
る。もちろん、他の導電材料でも可能であり、特にエッ
チングできる導電材、レーザで蒸発する導電材が好まし
い。
14にも充填され、絶縁性樹脂10で前記導電路11A
〜11Dが支持されているために、導電路11A〜11
Dの抜けが防止できる特徴を有する。またエッチングと
してドライエッチング、あるいはウェットエッチングを
採用して非異方性的なエッチングを施すことにより、図
4に示すように、導電路11の側面を湾曲構造15と
し、アンカー効果を発生させることもできる。その結
果、導電路11A〜11Dが絶縁性樹脂10から抜けな
い構造を実現できる。
10から成るパッケージの裏面に露出し、半導体チップ
12の裏面と直接ロウ材等により固着されている。例え
ば、第1の導電路11Aを実装基板上の電極と固着する
と、半導体チップ12から発生する熱は、第1の導電路
11Aを介して外部に放熱でき、半導体チップ12の温
度上昇を防止でき、その分半導体チップ12の駆動電流
を増大させることができる。
細線16、半田等のロウ材17(またはAgペースト等
の導電ペースト、導電被膜または異方性導電性樹脂等)
である。
固着は、電気的接続が不要であれば、熱伝導を助けるフ
ィラーが混入された絶縁性接着剤が選択される。
ある絶縁性樹脂10で支持しているため、支持基板が不
要となり、導電路11、半導体チップ12および絶縁性
樹脂10で構成される。この構成は、本発明の特徴であ
る。従来の技術の欄でも説明したように、従来の半導体
装置の導電路は、支持基板(フレキシブルシート、プリ
ント基板またはセラミック基板)で支持されていたり、
リードフレームで支持されているため、本来不要にして
も良い構成が付加されている。しかし、本回路装置は、
必要最小限の構成要素で構成され、支持基板を不要とし
ているため、薄型で安価となる特徴を有する。
18が、金属細線16の一端と接続されるため、金属細
線16の他端と接続される第2の導電路11Bは、半導
体チップ12の周辺に配置される。半導体チップは、複
数の回路に対応できるようにボンディングパッドが用意
されており、ボンディング電極18は、半導体装置13
を使って構成される回路Aに必要な入出力電極、半導体
装置13を使って構成される回路Bに必要な入出力電
極、半導体チップ評価用のテスト電極等に分類される。
装置13としてパッケージされているため、必要とされ
る入出力電極、テスト電極が金属細線16を介して第2
の導電路11Bと接続されている。そして前記テスト電
極と接続される第2の導電路11Bは、フローバー等で
当接して測定されるためにそのサイズは小さくて良い。
しかし入出力電極と電気的に接続される第2の導電路1
1Bは、電流容量等の問題からそのサイズを大きくする
必要がある。そのため、この入出力電極と電気的に接続
される第2の導電路11Bは、配線11Dを介して半導
体チップ12の裏面に延在され、半導体チップ12の周
囲と第1の導電路11Aとの間の空きスペースに第3の
導電路11Cが電気的に接続されて配置される。
れたCu等により構成されているため、そのサイズは、
半導体チップ12よりも小さくて良い。従って第1の導
電路11Aと第2の導電路11Bとの間には、空きスペ
ースが発生する。従ってこの空きスペースに、第2の導
電路11Bよりもサイズの大きな第3の導電路11Cを
配置することができる。
1Bの中に第3の導電路11Cが配置されていめた、実
装基板に本半導体装置13を固着した場合、以下のメリ
ットが発生する。つまり実装基板と半導体装置13との
熱膨張係数の違いにより、接続部分に応力が働いても、
実装基板側に形成された電極と第2の導電路11Bがロ
ウ材により固着されるため、実装基板側に形成された電
極と第3の導電路11Cとの固着部分には前記応力が働
きずらい構成となっている。
面は、実質一致させることも、導電路11を飛び出させ
ることも可能な構造となっている。裏面電極11A〜1
1Dと絶縁性樹脂に段差が設けられないと、半導体装置
13をそのまま水平に移動できる特徴を有する。つまり
ロウ材による固着を実装基板上で実現する場合、溶融し
たロウ材の表面張力により実装基板上で前記半導体装置
13が自らセルフアライメントする。また裏面電極11
A〜11Dを絶縁性樹脂から飛び出させると、ロウ材の
飛散、フラックスの飛散があっても、配線は、実装基板
上の導電路と短絡しない構造となる。
硬化性樹脂または熱可塑性樹脂を用いた金型モールドに
よって封止成形され場合がある。この工程は絶縁性樹脂
58を硬化するための熱処理を伴い、このモールド時の
線膨張係数が30ppm/℃にも達する。その為、IC
チップ52のシリコンの線膨張係数(3ppm/℃)と
の差によって、前記処理温度から常温に冷却するまでの
温度差により絶縁性樹脂58に収縮力が働く。
を成形後、常温まで冷却すると、半導体装置の端部が持
ち上がり、外形寸法に変化(反り)をもたらす問題が発
生した。
る支持基板を採用しない点、更には導電路11A〜11
Dが個別分離され、導電路11A〜11Dの間に絶縁性
樹脂10が配置されている点から、半導体装置13の裏
面に位置する所の熱膨張係数を絶縁性樹脂の熱膨張係数
に近づけることができ、その反りを抑制することができ
る。回路装置の製造方法を説明する第2の実施の形態次
に図2〜図9を使って半導体装置13の製造方法につい
て説明する。
用意する。この導電箔60は、ロウ材の付着性、ボンデ
ィング性、メッキ性が考慮されてその材料が選択され、
材料としては、Cuを主材料とした導電箔、Alを主材
料とした導電箔またはFe−Ni等の合金から成る導電
箔等が採用される。
ると10μm〜300μm程度が好ましく、ここでは7
0μm(2オンス)の銅箔を採用した。しかし300μ
m以上でも10μm以下でも基本的には良い。後述する
ように、導電箔60の厚みよりも浅い分離溝61が形成
できればよい。
ロール状に巻かれて用意され、これが後述する各工程に
搬送されても良いし、所定の大きさにカットされた導電
箔が用意され、後述する各工程に搬送されても良い。
となる領域を除いた導電箔60を、導電箔60の厚みよ
りも薄く除去する工程がある。そしてこの除去工程によ
り形成された導電路11A〜11Dに半導体チップ12
を実装し、分離溝61および導電箔60に絶縁性樹脂1
0を被覆する工程がある。
0の上に、ホトレジストPR(耐エッチングマスク)を
形成し、導電路11A〜11Dとなる領域を除いた導電
箔60が露出するようにホトレジストPRをパターニン
グする。そして、前記ホトレジストPRを介してエッチ
ングしている。
成されているが、本製造方法ではウェットエッチングま
たはドライエッチングで、非異方性的にエッチングさ
れ、その側面は、粗面となり、しかも図4に示すように
湾曲となる特徴を有する。しかし異方性エッチング、レ
ーザによる金属蒸発を採用するならば、図3の様に分離
溝61の側壁はストレートに形成される。尚、エッチン
グにより形成された分離溝61の深さは、約50μmで
ある。
は、塩化第二鉄または塩化第二銅が採用され、前記導電
箔は、このエッチャントの中にディッピングされるか、
このエッチャントがシャワーリングされる。
ホトレジストPRの直下は、横方向のエッチングが進み
づらく、それより深い部分が横方向にエッチングされ
る。図のように分離溝61の側面のある位置から上方に
向かうにつれて、その位置に対応する開口部の開口径が
小さくなるので、逆テーパー構造となり、アンカー構造
を有する構造となる。またシャワーリングを採用するこ
とで、深さ方向に向かいエッチングが進み、横方向のエ
ッチングは抑制されるため、このアンカー構造が顕著に
現れる。
非異方性でエッチングが可能である。現在では、Cuを
反応性イオンエッチングで取り除くことは不可能といわ
れているが、スパッタリングで除去できる。またスパッ
タリングの条件によって異方性、非異方性でエッチング
できる。
Rの代わりにエッチング液に対して耐食性のある導電被
膜を選択的に被覆しても良い。導電路と成る部分に選択
的に被着すれば、この導電被膜がエッチング保護膜とな
り、レジストを採用することなく分離溝をエッチングで
きる。この導電被膜として考えられる材料は、Ag、A
u、PtまたはPd等である。しかもこれら耐食性の導
電被膜は、ダイパッド、ボンディングパッドとしてその
まま活用できる特徴を有する。
ウ材とも接着する。よってチップ裏面にAu被膜が被覆
されていれば、そのまま導電路51上のAg被膜にチッ
プを熱圧着でき、また半田等のロウ材を介してチップを
固着できる。またAgの導電被膜にはAu細線が接着で
きるため、ワイヤーボンディングも可能となる。従って
これらの導電被膜をそのままダイパッド、ボンディング
パッドとして活用できるメリットを有する。
れた導電箔60に半導体チップ12を電気的に接続して
実装する工程がある。
タ、ダイオード、ICチップ等の半導体素子である。
エッチングにより形成された第1の導電路11Aにダイ
ボンディングされ、ICチップのボンディング電極と第
2の導電路11Bが熱圧着によるボールボンディングあ
るいは超音波によるウェッヂボンデイング等で固着され
る接続手段(例えば金属細線)16を介して接続され
る。
D、半導体チップ12の裏面と第3の導電路11Cとの
短絡を防止するために、絶縁材料19が形成されてい
る。ここで絶縁材料19として、絶縁性樹脂が半導体チ
ップ12または導電箔60に形成され、第1の導電路1
1Aに対応する部分が取り除かれて形成されている。
および分離溝61に絶縁性樹脂10を付着する工程があ
る。これは、トランスファーモールド、インジェクショ
ンモールド、またはディッピングにより実現できる。樹
脂材料としては、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂がトラ
ンスファーモールドで実現でき、ポリイミド樹脂、ポリ
フェニレンサルファイド等の熱可塑性樹脂はインジェク
ションモールドで実現できる。
された絶縁性樹脂10の厚さは、接続手段16の頂部か
ら上に約100μmが被覆されるように調整されてい
る。この厚みは、回路装置の強度を考慮して厚くするこ
とも、薄くすることも可能である。
るまでは、導電路11となる導電箔60が支持基板とな
ることである。従来では、図10の様に、本来必要とし
ない支持基板50を採用して導電路51を形成している
が、本発明では、支持基板となる導電箔60は、電極材
料として必要な材料である。そのため、構成材料を極力
省いて作業できるメリットを有し、コストの低下も実現
できる。
く形成されているため、導電箔60が導電路11A〜1
1Dとして個々に分離されていない。従ってシート状の
導電箔60として一体で取り扱え、絶縁性樹脂10をモ
ールドする際、金型への搬送、金型への実装の作業が非
常に楽になる特徴を有する。
に絶縁性樹脂10が充填されると、この部分でアンカー
効果が発生し、絶縁性樹脂10の剥がれが防止でき、逆
に後の工程で分離される導電路11の抜けが防止でき
る。
/または物理的に除き、導電路11として分離する工程
がある。ここでこの除く工程は、研磨、研削、エッチン
グ、レーザの金属蒸発等により施される。
を30μm程度削り、分離溝61から絶縁性樹脂10を
露出させている。この露出される面を図6では点線で示
している。その結果、約40μmの厚さの導電路51と
なって分離される。また絶縁性樹脂50が露出する手前
まで、導電箔60を全面ウェトエッチングし、その後、
研磨または研削装置により全面を削り、絶縁性樹脂50
を露出させても良い。更には、図7に示すように、前記
導電路11A〜11Dに対応する裏面にホトレジストP
Rを形成し、ホトレジストを耐エッチングマスクとして
活用し、エッチング加工しても良い。
表面が露出する構造となる。そして分離溝61が図1の
分離溝14となる。
性樹脂10と導電路11は、その表面が一致する。その
ため、半導体装置裏面が平坦になる。またホトレジスト
PRを採用すると、図8のように、導電路11A〜11
Dは、絶縁性樹脂10の裏面より突出する構造となる。
る場合、図7の導電箔の裏面に、前もって導電被膜を形
成しても良い。この場合、導電路に対応する部分を選択
的に被着すれば良い。被着方法は、例えばメッキであ
る。またこの導電被膜は、エッチングに対して耐性があ
る材料がよい。またこの導電被膜を採用した場合、研磨
をせずにエッチングだけで導電路51として分離でき
る。
に半田等の導電材を被着し、回路装置として完成し、こ
れを図9に示すように実装基板70に実装する。
に対応する電極が設けられ、例えば半田等のロウ材71
を介して電気的に接続されて固着される。
る熱が、第1の導電路11Aを介して実装基板70側に
伝わることを示している。図10の従来構造のように、
支持基板(フレキシブルシート)50を採用すると、支
持基板が熱抵抗が高く、半導体チップが発熱し、駆動電
流を高く取れない問題が発生する。しかし、本発明では
半導体チップ12の裏面は、ロウ材17、第1の導電路
11A、ロウ材71を介して実装基板70の導電パター
ンと固着されるため、半導体チップ12の熱を実装基板
側へ伝えることができる。従って半導体チップ12の温
度上昇を防止でき、その分駆動電流を増大させることが
できる。
ジスタとチップ抵抗が実装されているだけであるが、こ
れを1単位としてマトリックス状に配置しても良いし、
どちらか一方の回路素子を1単位としてマトリックス状
に配置しても良い。また複数の半導体チップ、複数の受
動素子およびこれらを電気的に接続する配線を前記導電
路で形成し、所望の機能を有する回路を構成し、これを
マトリックス状に配置しても良い。この場合は、ダイシ
ング装置で半導体装置を個々に分離する工程が付加され
る。
実質全域に導電箔60が貼り合わされていると、導電箔
60と絶縁性樹脂10の線膨張係数の違いにより、半導
体装置13は大きく反る。しかしこの後に、導電路11
として分離され、導電箔60の厚みよりも薄く導電路1
1が形成されると同時に、導電路間には絶縁性樹脂10
が埋め込まれた形状となる。従ってこのバイメタル効果
は、抑制され、反りが少なくなるメリットも有する。
持基板として活用し導電路11の分離作業ができること
にある。絶縁性樹脂10は、導電路11を埋め込む材料
として必要な材料であり、図10で示す従来の製造方法
のように、不要な支持基板50を必要としない。従っ
て、最小限の材料で製造でき、コストの低減が実現でき
る特徴を有する。
では、前記第1の導電路11Aは、熱伝導性の優れた材
料により構成されてあるため、そのサイズは、半導体チ
ップよりも小さくて良い。従って第1の導電路と第2の
導電路との間には、空きスペースが発生する。従ってこ
の空きスペースに、第2の導電路よりもサイズの大きな
第3の導電路を配置することができる。
囲まれて第3の導電路が配置されているため、実装基板
と実装基板に固着された半導体装置との熱膨張係数の違
いにより、接続部分に応力が働いても、実装基板側に形
成された電極と第3の導電路との固着部分には前記応力
が働きずらい構成となっている。
電路と、所望の該導電路上に固着された半導体チップ
と、該半導体チップを被覆し且つ前記導電路間の前記分
離溝に充填され前記導電路の裏面のみを露出して一体に
支持する絶縁性樹脂とを備えたことにより、導電路およ
び絶縁性樹脂の必要最小限で構成され、資源に無駄のな
い回路装置となる。よって完成するまで余分な構成要素
が無く、コストを大幅に低減できる回路装置を実現でき
る。また絶縁性樹脂の被覆膜厚、導電箔の厚みを最適値
にすることにより、非常に小型化、薄型化および軽量化
された回路装置を実現できる。
出しているため、導電路の裏面が直ちに外部との接続に
供することができ、図10の如き従来構造の支持基板を
不要にできる利点を有する。
れ、しかもこの導電路の裏面が露出されてため、回路素
子から発生する熱を導電路を介して直接実装基板に熱を
伝えることができる。特にこの放熱により、半導体チッ
プの駆動能力を向上させることができる。
と導電路の表面は、実質一致している平坦な表面を有す
る構造となる場合、半導体装置自身をそのまま水平に移
動できるので、リードずれの修正が極めて容易となる。
合、アンカー効果を発生させることができ、導電路の反
り、抜けを防止することができる。
ある。
ある。
ある。
ある。
ある。
ある。
ある。
ある。
る。
Claims (13)
- 【請求項1】 分離溝で電気的に分離された複数の導電
路と、前記複数の導電路の内、ダイパッド形状の第1の
導電路上に固着された半導体チップと、前記半導体チッ
プのボンディング電極とボンディングパッド形状の第2
の導電路とを接続する接続手段と、前記半導体チップを
被覆し且つ前記複数の導電路間の前記分離溝に充填され
前記導電路の裏面を露出して一体に支持する絶縁性樹脂
とを備えた半導体装置であり、 前記第2の導電路は、前記半導体チップの外側に設けら
れ、前記第2の導電路から前記半導体チップの裏面に延
在される配線を介して外部接続パッドが設けられること
を特徴とした半導体装置。 - 【請求項2】 分離溝で電気的に分離された複数の導電
路と、前記複数の導電路の内、ダイパッド形状の第1の
導電路上に固着された半導体チップと、前記半導体チッ
プのボンディング電極とボンディングパッド形状の第2
の導電路とを接続する接続手段と、前記半導体チップを
被覆し且つ前記複数の導電路間の前記分離溝に充填され
前記導電路の裏面を露出して一体に支持する絶縁性樹脂
とを備えた半導体装置であり、 前記第1の導電路は、前記半導体チップ裏面のサイズよ
りも小さく設けられ、 前記第2の導電路は、前記半導体チップの外側に設けら
れ、前記第2の導電路から前記半導体チップの裏面に延
在される配線を介して電気的に接続される外部接続パッ
ド形状の第3の導電路は、前記第2の導電路よりも大き
く形成されることを特徴とした半導体装置。 - 【請求項3】 分離溝で電気的に分離された複数の導電
路と、前記複数の導電路の内、ダイパッド形状の第1の
導電路上に固着された半導体チップと、前記半導体チッ
プのボンディング電極とボンディングパッド形状の第2
の導電路とを接続する接続手段と、前記半導体チップを
被覆し且つ前記複数の導電路間の前記分離溝に充填され
前記導電路の裏面を露出して一体に支持する絶縁性樹脂
とを備えた半導体装置であり、 前記第1の導電路は、前記半導体チップ裏面に、チップ
サイズよりも小さく設けられ、 前記第2の導電路は、前記半導体チップの外側に複数個
設けられ、 前記第2の導電路の一つは、島状に設けられ、 前記第2の導電路の一つは、前記半導体チップの裏面に
延在される配線と一体で成り、 前記配線は、前記半導体チップ周辺と前記第1の導電路
との間に設けられた外部接続パッド形状の第3の導電路
と一体で形成されることを特徴とした半導体装置。 - 【請求項4】 前記第1の導電路は、導電材料を介して
半導体チップと固着される事を特徴とした請求項1から
請求項3のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項5】 前記半導体チップの裏面に延在される前
記配線と前記半導体チップとの間、または第3の導電路
と前記半導体チップとの間には、絶縁材料が設けられる
事を特徴とした請求項2または請求項3に記載の半導体
装置。 - 【請求項6】 前記半導体チップの裏面全域は、絶縁材
料が設けられる事を特徴とした請求項1から請求項3の
いずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項7】 前記接続手段は金属細線である事を特徴
とした請求項1から請求項3のいずれかに記載の半導体
装置。 - 【請求項8】 前記導電路の側面を湾曲させて前記絶縁
性樹脂と嵌合させたことを特徴とする請求項1から請求
項7のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項9】 前記導電路は銅、アルミニウム、鉄−ニ
ッケルのいずれかの導電箔で構成されることを特徴とす
る請求項1から請求項8のいずれかに記載された半導体
装置。 - 【請求項10】 前記導電路上面に前記導電路とは異な
る金属材料より成る導電被膜を設けることを特徴とする
請求項1から請求項9のいずれかに記載された半導体装
置。 - 【請求項11】 前記導電被膜はニッケル、銀あるいは
金で構成される事を特徴とする請求項10に記載された
半導体装置。 - 【請求項12】 前記第1の導電路は、実装基板に形成
される導電パターンと導電材料を介して固着される事を
特徴とする請求項1から請求項11のいずれかに記載さ
れた半導体装置。 - 【請求項13】 前記島状に形成された第2の導電路
は、テストピンである事を特徴とする請求項3に記載さ
れた半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000088735A JP3759572B2 (ja) | 2000-03-28 | 2000-03-28 | 半導体装置 |
US09/810,105 US20010026014A1 (en) | 2000-03-28 | 2001-03-16 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000088735A JP3759572B2 (ja) | 2000-03-28 | 2000-03-28 | 半導体装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005316184A Division JP4439459B2 (ja) | 2005-10-31 | 2005-10-31 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001274282A true JP2001274282A (ja) | 2001-10-05 |
JP3759572B2 JP3759572B2 (ja) | 2006-03-29 |
Family
ID=18604571
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000088735A Expired - Fee Related JP3759572B2 (ja) | 2000-03-28 | 2000-03-28 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20010026014A1 (ja) |
JP (1) | JP3759572B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009170454A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-30 | Denso Corp | モールドパッケージおよびその実装構造 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW506236B (en) * | 2000-06-09 | 2002-10-11 | Sanyo Electric Co | Method for manufacturing an illumination device |
JP4034073B2 (ja) * | 2001-05-11 | 2008-01-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置の製造方法 |
US7420206B2 (en) | 2006-07-12 | 2008-09-02 | Genusion Inc. | Interposer, semiconductor chip mounted sub-board, and semiconductor package |
EP2248161B1 (en) | 2009-03-06 | 2019-05-01 | Kaixin Inc. | Leadless integrated circuit package having high density contacts |
US8829685B2 (en) * | 2009-03-31 | 2014-09-09 | Semiconductor Components Industries, Llc | Circuit device having funnel shaped lead and method for manufacturing the same |
CN102576701B (zh) | 2009-09-02 | 2016-08-17 | 凯信公司 | Ic封装件及其制造方法 |
US8664043B2 (en) * | 2009-12-01 | 2014-03-04 | Infineon Technologies Ag | Method of manufacturing a laminate electronic device including separating a carrier into a plurality of parts |
CN104795436B (zh) * | 2015-04-28 | 2017-08-25 | 华天科技(昆山)电子有限公司 | 晶圆封装结构、芯片封装结构及其封装方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4889962A (en) * | 1988-08-19 | 1989-12-26 | Northern Telecom Limited | Circuit board with coaxial circuit and method therefor |
US5179032A (en) * | 1990-02-01 | 1993-01-12 | Quigg Fred L | Mosfet structure having reduced capacitance and method of forming same |
JP3258764B2 (ja) * | 1993-06-01 | 2002-02-18 | 三菱電機株式会社 | 樹脂封止型半導体装置の製造方法ならびに外部引出用電極およびその製造方法 |
JP3452678B2 (ja) * | 1995-03-03 | 2003-09-29 | 三菱電機株式会社 | 配線構成体の製造方法 |
-
2000
- 2000-03-28 JP JP2000088735A patent/JP3759572B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-03-16 US US09/810,105 patent/US20010026014A1/en not_active Abandoned
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009170454A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-30 | Denso Corp | モールドパッケージおよびその実装構造 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3759572B2 (ja) | 2006-03-29 |
US20010026014A1 (en) | 2001-10-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040726 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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|
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051031 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20051213 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20051229 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100113 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100113 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110113 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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