JP2001272667A - 液晶装置用基板及びその製造方法、並びに液晶装置 - Google Patents

液晶装置用基板及びその製造方法、並びに液晶装置

Info

Publication number
JP2001272667A
JP2001272667A JP2000085185A JP2000085185A JP2001272667A JP 2001272667 A JP2001272667 A JP 2001272667A JP 2000085185 A JP2000085185 A JP 2000085185A JP 2000085185 A JP2000085185 A JP 2000085185A JP 2001272667 A JP2001272667 A JP 2001272667A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
liquid crystal
crystal device
light
shielding layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000085185A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3824837B2 (ja
Inventor
Hideto Ishiguro
英人 石黒
Hiroyuki Murai
博之 村井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2000085185A priority Critical patent/JP3824837B2/ja
Publication of JP2001272667A publication Critical patent/JP2001272667A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3824837B2 publication Critical patent/JP3824837B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 画面に継ぎ目模様が生じることを防止した液
晶装置用基板及びその製造方法、並びに液晶装置を提供
する。 【解決手段】 フォトマスクにより形成される露光領域
より大きな基板2に対して、露光領域を複数個継ぎ合わ
せてフォトリソ加工がなされることにより、少なくとも
画素電極と遮光層とが基板2の表面に形成されてなり、
少なくとも遮光層を形成する際の露光領域R1、R2、R
3、R4同士の継ぎ合わせ境界Sが、基板2のどの方向を
とってみても一直線上に連続して並んでいない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶装置用基板及
びその製造方法、並びに液晶装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】液晶装置は、互いに対向する一対の基板
間に液晶を配して成り、液晶の配向状態に応じて液晶を
通過する光を変調させて表示を行うものである。特に、
任意の画像表示が可能なマトリクス型の液晶装置は、種
々の電子機器等のディスプレイに広く用いられている。
このマトリクス型の液晶装置として、アクティブマトリ
クス型のTFT液晶装置を例にとると、図14に示すよ
うに、一方の基板(素子基板)102はマトリクス状に
複数の画素電極101を備え、各画素電極101の横の
辺に沿って走査線104が延設され、画素電極101の
縦の辺に沿ってデータ線103が延設されている。又、
データ線103及び走査線104の下の所定位置には半
導体層112が形成され、画素電極101を制御するT
FT素子を構成している。この半導体層112はコンタ
クトホール109を介してデータ線103に接続され、
コンタクトホール110を介して画素電極101に接続
されている。さらに、走査線104の下における半導体
層112はチャネル領域114となっている。
【0003】また、画像のコントラストの向上を目的と
して、素子基板102と対向する他方の基板側には格子
状の遮光層(ブラックマトリクス)が形成され、各基板
を対向配置した際に当該遮光層が画素電極の周囲に位置
するようになっている。この遮光層は、各基板を貼り合
わせる際の位置ずれを考慮し、通常は各画素電極101
の周縁部とオーバーラップするようにして形成されてい
る。
【0004】ところが、このようにして遮光層を形成す
ると、前記オーバーラップ分だけ液晶装置の開口率(基
板の面積に対する画像表示部の面積が占める割合)が低
下するという問題がある。そのため、近年では素子基板
102側に画素電極とともに遮光層を設け、前記オーバ
ーラップを不要として開口率を向上させる技術が提案さ
れている。特に、透過表示型(又は、反射・透過兼用表
示型)の液晶装置の場合、データ線103や走査線10
4を画素電極101の周縁部の外側に、該画素電極10
1と一部重なるようにして形成し、データ線103と走
査線104とで遮光層を形成することも可能である。そ
して、この場合には、図15に示すように、各画素電極
101のうちデータ線103や走査線104と重なって
いない部分は画像表示部200となり、データ線103
や走査線104は遮光層220となる。
【0005】上記した遮光層を備えた素子基板102
は、一般的には次のようにして製造される。まず、例え
ば図16に示すステップ・アンド・リピート型の露光装
置(以下、「ステッパ」という)300が用意され、ス
テージ380上にガラス等の基板120が載置される。
基板120の表面には走査線104の形成用膜等が適宜
形成され、さらにその上に所定のフォトレジストが塗布
されている。そして、ステッパ300はその上部にUV
光源320を備え、ここからの光がスリット340を介
してフォトマスク400に照射され、光学系360を経
て基板120の表面に到達する。
【0006】フォトマスク400は、例えば図17に示
すように、走査線等を形成するための所定パターンが形
成されて成り、当該走査線のパターン(以下、「走査線
のパターン形成部分」という)401の外側には、駆動
回路等のパターン402〜405が適宜形成されてい
る。また、図示しない別のフォトマスクには例えばデー
タ線のパターンが形成されている。そして、フォトマス
ク400により走査線104を形成した後、別のフォト
マスクを用いてデータ線103を形成することにより、
走査線104とデータ線103から成る遮光層を形成す
る。この場合、フォトマスク400における走査線のパ
ターン形成部分(図示斜線部)401を光が透過するこ
とにより露光が行われ、この部分に相当する基板上に露
光領域が形成されるようになっている。
【0007】ところで、通常、上記したフォトマスク4
00において、前記パターン形成部分401の大きさは
基板120に比べて小さく、従って、走査線を形成する
ための露光領域も基板120に比べて小さくなってい
る。そのため、1回の露光で基板120全体を露光する
ことは困難である。そこで、図18に示すように、まず
1回目の露光で露光領域R100を形成した後、基板ごと
ステージ380を移動して2回目の露光を行い、この露
光領域R100に隣接して露光領域R101を形成し、各露光
領域R100〜R103を互いに継ぎ合わせていく。そして、
その後にフォトリソ加工を行って基板120全体に走査
線を形成する。同様に、データ線のパターンが形成され
たフォトマスクを用いて複数回の露光を行い、図示しな
い複数の露光領域を継ぎ合わせて形成し、フォトリソ加
工を行ってデータ線を形成する。そして、このデータ線
と走査線で略格子状の遮光層220を形成した後、画素
電極を遮光層220の間に形成することにより、マトリ
クス状の画像表示部200を有する素子基板102を製
造する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが、図19に示
すように、各露光領域R100、R101に形成された走査線
104のパターンの大きさが変化することがある。例え
ば、この場合において、露光領域R100では図の左から
右に向って走査線104のパターン幅が太くなり、露光
領域R101でも同様になる。つまり、各露光領域R100
101ごとに周期的にパターンの大きさが変化し、その
結果として各露光領域の継ぎ合わせ境界Tで、走査線1
04の幅が段差状に変化する。
【0009】このように、露光領域内でパターンの大き
さが変化する原因としては、例えばステッパ300のレ
ンズの端部を透過する光とレンズの中央部を透過する光
とで露光量が変化したり、レンズの一部に汚れが付着し
てその部分での光透過率が低下し、露光量が変化するこ
と(露光ムラ)が挙げられる。そして、上述のように、
継ぎ合わせ境界Tで走査線104の幅が段差状に変化す
ると、遮光層の大きさも段差状に変化し、それに伴っ
て、図20に示すように、継ぎ合わせ境界Tを介して対
向する画像表示部200a、200bの大きさがステッ
プ状に変化する。なお、この場合、画像表示部200a
の方が画像表示部200bより小さい。さらに、画像表
示部の大きさが変化すると、それに応じて、図21に示
すように画像表示部の明るさも境界Tで大きく変化し、
当該境界Tが継ぎ目模様として視認されるという問題が
生じる。
【0010】本発明は、液晶装置用基板における上記し
た問題を解決し、画面に継ぎ目模様が生じることを防止
した液晶装置用基板及びその製造方法、並びに液晶装置
の提供を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明の液晶装置用基板は、フォトマスクによ
り形成される露光領域より大きな基板に対して、当該露
光領域を複数個継ぎ合わせてフォトリソ加工がなされる
ことにより、少なくとも画素電極と遮光層とが該基板の
表面に形成されてなり、少なくとも前記遮光層を形成す
る際の露光領域同士の継ぎ合わせ境界が、前記基板のど
の方向をとってみても一直線上に連続して並んでいない
ことを特徴とする。このような構成によれば、継ぎ合わ
せ境界において遮光層の大きさが著しく変化し、それに
伴って画像表示部の大きさ(明るさ)が大幅に変化して
も、かかる明るさの差を生じる部分が基板上に適宜散ら
ばって配列されるので、人間の目で継ぎ合わせ境界を明
るさの差(継ぎ目模様)として視認することを防止する
ことができる。
【0012】本発明の液晶装置用基板においては、前記
継ぎ合わせ境界は、一方向からみたときに凸部と凹部と
を互い違いに備えていることが好ましい。また、前記遮
光層は、走査線、データ線、又は容量線の少なくともい
ずれかから成ることが好ましい。特に、前記画素電極の
うち前記遮光層と重なっていない部分が画像表示部とな
っていて、前記継ぎ合わせ境界を介して対向する画像表
示部の大きさが互いに1%以上異なっていることが好ま
しい。
【0013】本発明の液晶装置用基板の製造方法は、ス
テップ・アンド・リピート型の露光装置を用い、遮光層
のパターンが形成されたフォトマスクを基板の表面に配
設して複数回の露光を行って当該フォトマスクにより形
成される露光領域同士を継ぎ合わせ、次いでフォトリソ
加工を行うことにより前記基板の表面に遮光層を形成す
る第1工程と、少なくとも前記遮光層が形成されていな
い部分における基板の表面に複数の画素電極を形成する
第2工程とを備え、前記フォトマスクとして、少なくと
も前記遮光層のパターン形成部分の端縁が一直線になっ
ていないものを用いることを特徴とする。このような構
成によれば、フォトマスクによる露光領域同士を継ぎ合
わせたときの継ぎ合わせ境界が、基板のどの方向をとっ
てみても一直線上に連続して並ぶことはなく、この境界
で画像表示部の大きさ(明るさ)が急激に変化したとし
ても、かかる明るさの差を継ぎ目模様として視認するこ
とを防止できる。
【0014】本発明の液晶装置用基板の製造方法におい
ては、前記フォトマスクとして、前記遮光層のパターン
形成部分の端縁が凸部と凹部とを互い違いに備えている
ものを用い、前記遮光層のパターンを露光する際、一の
露光領域の端縁における凸部と他の露光領域の端縁にお
ける凹部とが噛み合うようにすることが好ましい。又、
前記フォトマスクとして、前記遮光層のパターン形成部
分の端縁の周辺部に前記露光装置の解像度未満の大きさ
で、かつ、該端縁の内側から外側に向って徐々に露光量
を低減させる模様が形成されたものを用いることが好ま
しい。さらに、前記フォトマスクとして、前記遮光層の
パターン形成部分の端縁の周辺部に、該端縁の内側から
外側に向って徐々に露光量が低減するように金属膜が形
成されたものを用いることが好ましい。特に、前記フォ
トマスクとして、走査線、データ線、又は容量線の少な
くともいずれかのパターンがそれぞれ形成されたものを
用い、該走査線、データ線、又は容量線の少なくともい
ずれかにより前記遮光層を形成することが好ましい。
【0015】本発明の液晶装置は、前記液晶装置用基板
と、該液晶装置用基板に液晶を介して対向配置される対
向基板とを備えたことを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る液晶装置用基
板について、図1ないし図6に基づいて説明する。な
お、本発明における「液晶装置用基板」とは、液晶装置
を構成する一方の基板であって、少なくとも後述する複
数の画素電極と遮光層を備えたものをいうが、その他の
画素電極制御用の素子等については特に制限はなく、液
晶装置の動作方式(TFT方式、TFD方式等)に応じ
て適宜これらを備えてもよく、又、カラーフィルタ等を
適宜備えてもよい。
【0017】この液晶装置用基板20は、図1に示すよ
うにして構成されている。すなわち、ガラス等から成る
所定の基板上に、インジウム錫酸化膜(Indium Tin Oxi
de,以下、ITOと略記する)等の透明導電性薄膜から
なる矩形状の画素電極1がマトリクス状に複数個設けら
れており、画素電極1の縦方向の辺に沿ってデータ線3
が延設されている。一方、画素電極1の横方向の辺に沿
って容量線6が設けられ、又、画素電極1の横方向の辺
に平行に、かつ、画素電極1を横断するようにして走査
線4が延設されている。容量線6は、画素電極1と対向
電極との間で一定期間保持された画像信号がリークする
のを防ぐものであり、画素電極と対向電極との間に形成
される液晶容量と並列な蓄積容量をなしている。そし
て、誘電体膜となるゲート絶縁層を介して、容量線6と
半導体層8とを対向配置することにより、全体として蓄
積容量をなしている。なお、容量線6は、縦方向に延設
されてデータ線3の狭幅部と重なるようになっていて、
1画素をとってみたときに略H状に形成されている。
【0018】データ線3、走査線4、及び容量線6の下
の所定位置には逆L字状の半導体層8が形成され、画素
電極1を制御するTFT素子を構成している。この半導
体層8の一端はコンタクトホール14を介してデータ線
3に接続され、ここから横に延びた後に直角に折曲して
走査線4と交差し、他端が片状部をなしている。この片
状部は容量線6の下に位置し、該片状部の上にはドレイ
ン電極12が形成されている。そして、ドレイン電極1
2の一端部はコンタクトホール16を介して半導体層8
に接続され、他端部はコンタクトホール18を介して画
素電極1に接続されている。なお、走査線4は縦方向に
延びる舌片部を備えており、走査線4の本体部分及び当
該舌片部の2個所で半導体層8と交差し、この部分にお
ける半導体層がそれぞれチャネル領域10a、10bを
なしている。つまり、この実施形態においては、デュア
ルゲート型のTFTが構成されている。そして、走査線
4に印加された信号に基づいて、ドレイン電極12を介
してデータ線3と画素電極1の間を流れる電流の制御が
行われる。
【0019】上記した液晶装置用基板20の断面構造
は、図2に示すようになっている。この図において、基
板2の表面には例えばポリシリコン膜から成る半導体層
8が形成され、半導体層8及び基板2を覆うようにして
ゲート絶縁層22が形成されている。そして、ゲート絶
縁層22を介し、半導体層8上の所定位置にゲート電極
をなす走査線4、及び容量線6が配設され、さらに、走
査線4、容量線6、及びゲート絶縁層22を覆うように
して第1層間絶縁層24が形成されている。第1層間絶
縁層24の上には、データ線3及びドレイン電極12が
形成され、これらはそれぞれコンタクトホール14、1
6に接続され、各コンタクトホール14、16は、第1
層間絶縁層24及びゲート絶縁層22を貫通して半導体
層8に接続されている。又、データ線3、ドレイン電極
12、及び第1層間絶縁層24の上には第2層間絶縁層
26が形成され、第2層間絶縁層26の上に画素電極1
が形成されている。そして、画素電極1はコンタクトホ
ール18に接続され、コンタクトホール18は第2層間
絶縁層26を貫通してドレイン電極12に接続されてい
る。なお、画素電極1の表面には適宜配向膜28が形成
されている。なお、この図において、液晶装置用基板2
0には対向基板50が対向配置され、全体として液晶装
置60が構成されているが、対向基板50及び液晶装置
60の説明については後述する。
【0020】液晶装置用基板20において、画像表示部
は次のように構成されている。まず、画素電極1の下に
は、該画素電極1とオーバーラップするようにして容量
線6とドレイン電極12が配設され、又、画素電極1の
下を横切って走査線4が形成されている。そして、これ
らは、それぞれ透過表示時の遮光層(ブラックマトリク
ス)32をなしていて、画素電極1のうち上記各遮光層
32と重なっていない部分が画像表示部34となってい
る。又、画素電極1の縦方向(図2の左右方向)におい
ては、該画素電極の下にオーバーラップして配設された
データ線3、及び容量線6が遮光層32をなしている。
【0021】なお、本発明における遮光層とは、各画素
電極1の周囲に形成され、画像表示部の大きさを規定す
るとともに、光の反射や透過を抑制してコントラストを
向上させるものである。この場合、遮光層と画素電極の
周縁部を適宜重ねることにより、遮光層の周縁部が画像
表示部の縁となる。かかる遮光層は、例えば顔料分散法
によりフォトレジストを格子状にパターニングして形成
することができるが、データ線、走査線、及び容量線を
適宜画素電極の周囲に配設して形成することもでき、こ
のようにすると、データ線等で遮光層を兼用できるので
工程省略を図ることが可能となる。従って、かかるデー
タ線、走査線、及び容量線等から構成される場合を含め
て、「遮光層」と称する。
【0022】かかる液晶装置用基板20を上面から見た
ときの各画像表示部34の配設状態は、図3に示すよう
になっている。この図において、画素電極の縦方向の周
縁部はデータ線3(と容量線6)により遮光され、画素
電極の横方向の周縁部は容量線6により遮光されてい
る。さらに、走査線4により画素電極の一部が遮光され
ている。つまり、データ線3、走査線4、及び容量線6
によって略格子状の遮光層32が構成され、該遮光層3
2の隙間部分が画像表示部34となっている。
【0023】又、かかる画像表示部34と遮光層32
は、図4に示すようにして、基板2の上にフォトマスク
を用いて形成されている。この場合、詳しくは後述する
が、まず、走査線と容量線のパターンが形成されたフォ
トマスクを用いて基板2上に露光がされ、次いでフォト
リソ加工がなされて走査線と容量線が形成される。次い
で、データ線のパターンが形成された別のフォトマスク
を用い、上記と同様にしてデータ線が形成され、走査
線、容量線、及びデータ線で構成される遮光層32が格
子状に形成される。そして、遮光層32を形成する際の
フォトマスクによる各露光領域R1〜R4は互いに継ぎ合
わされ、当該継ぎ合わせ境界Sが基板2の横方向と縦方
向にそれぞれ延び、各継ぎ合わせ境界Sは基板2の中央
部で交差している。
【0024】そして、このようにして形成された遮光層
32の上に該遮光層32と一部重なるようにして複数の
画素電極が形成され、遮光層32の間に画像表示部34
a、34b等が形成されている。なお、基板2の周囲に
は接続配線70等が配設されている。
【0025】本発明は、かかる継ぎ合わせ境界Sが、液
晶装置用基板20のどの方向をとってみても一直線上に
連続して並ばないようにすることで、該継ぎ合わせ境界
Sが継ぎ目模様として視認されることを防止するもので
ある。これについて図4の部分拡大図である図5に基づ
いて説明する。この図において、継ぎ合わせ境界Sは紙
面の縦方向に延び、かつ、基準位置(隣接する画像表示
部34a、34b間の境界部分)から左側へ張り出す凸
部S1と、右側へ窪む凹部S2とを互い違いに備えてい
る。凸部S1と凹部S2は、それぞれ縦方向に1画像表示
部の幅で形成され、該凸部S1と凹部S2の間には、前記
基準位置を継ぎ合わせ境界とし、縦方向に1画像表示部
の幅を有する平坦部S3が介装されている。また、凸部
1と凹部S2とは、横方向(継ぎ合わせ境界Sの延びる
方向と交差する方向)に距離Lだけ離間している。
【0026】このように、継ぎ合わせ境界Sは鋸歯状に
形成されていて、一直線上に連続して並ぶことはない。
そのため、継ぎ合わせ境界Sで遮光層32の大きさ
(幅)が顕著に変化し、それに伴って、継ぎ合わせ境界
Sを介して対向する画像表示部34a、34bの大きさ
(画像の明るさ)が互いに異なったとしても、かかる明
るさの差を生じる部分は基板上に適宜散らばって(鋸歯
状に)配列されることになる。
【0027】ところで、人間の目は個々の画像表示部の
明るさの差を認識することはできず、視野中における画
像表示部の集合体の明るさ差が閾値(約1%)を超える
と、全体として明るさの差があるものとして認識し、こ
れを継ぎ目模様とみなすと言われている。従って、上記
したように明るさの差を生じる部分が基板上に分散して
いると、継ぎ合わせ境界Sにおいて対向する個々の画像
表示部の明るさの差が1%を超えていても、人間の目で
は全体としてこの部分を明るさの差がないものと認識す
る。すなわち、本発明においては、フォトマスクを変え
て継ぎ合わせ境界Sの配列状態を変えるだけで、継ぎ目
模様の発生を容易に防止することができる。この場合、
ステッパの露光精度等を向上させて画像表示部の大きさ
の差自体を低減させる必要はなく、従来の製造装置をそ
のまま用いることができる。
【0028】なお、上記した効果を得るためには、凸部
1と凹部S2との離間距離Lが人間の目の分解能より大
きな値(例えば0.2mm以上)になっていることが好
ましい。離間距離Lが0.2mm未満であると、人間の
目には、明るさの差が生じている部分が全体として一直
線上にあるように認識され、その結果として、継ぎ合わ
せ境界Sが継ぎ目模様として視認される虞があるからで
ある。但し、離間距離Lが大きくなり過ぎると、フォト
マスクによる露光作業が煩雑となり、又露光回数が増え
るので、離間距離Lを10mm以下とするのが好まし
い。
【0029】又、継ぎ合わせ境界Sは、基板上に一直線
上に連続して並んでいなければよく、上記した鋸歯状の
ものに限られることはない。例えば、図6に示すよう
に、継ぎ合わせ境界SAが波形に形成されていてもよ
い。この場合には、波の山が凸部SA1となり、波の谷が
凹部SA2となる。なお、この実施形態において、継ぎ合
わせ境界SAにおいて対向する画像表示部34c、34
dは、実際には画像表示部の一部分であり、両者が合わ
さって1つの画像表示部を構成している。従って、この
ような場合は便宜上、各画像表示部34c、34dにそ
れぞれ隣接し、1画像表示部の大きさを有する画像表示
部34e、34fを、「継ぎ合わせ境界において対向す
る画像表示部」とみなすこととする。
【0030】そして、上記した液晶装置用基板20に対
向基板50を対向配置することにより、液晶装置60を
製造することができる。この対向基板50について、前
述した図2に基づいて簡単に説明すると、基板52の表
面に、それぞれ3原色のいずれかをなすカラーフィルタ
54a、54b、54cが適宜形成され、その上に保護
層58を介してITO等から成る対向電極58が基板5
2の全面に形成されている。なお、各カラーフィルタ5
4a、54b、54cは、各画素電極1に対応した位置
に、かつ、各画素電極1の周縁部より外側にはみ出して
配設され、対向電極58の表面には配向膜59が形成さ
れている。そして、各基板20,50の間に液晶40を
所定のシール材を用いて介装することにより液晶装置6
0が構成されている。この液晶装置60の全体の構造や
画像表示の詳しい動作については、従来のものと同様で
あるのでその説明を省略する。
【0031】次に、本発明の液晶装置用基板の製造方法
について図7〜図13に基づいて説明する。なお、本発
明の製造方法は、遮光層のパターンが形成された所定の
フォトマスクを用いることに特徴があり、ステッパによ
る露光自体や、各種の層の成膜方法等については従来と
同様であるのでその説明を省略する。図7は、遮光層の
パターンが形成されたフォトマスク80を示している。
この図において、フォトマスク80の中央部には、遮光
層の一部をなす走査線のパターン4aと容量線のパター
ン6aが形成されたパターン形成部分80Aが配置され
ている。そして、このパターン形成部分80Aを通った
光により基板上の所定位置が露光され、走査線や容量線
を形成する際の露光領域Rが形成される。つまり、「露
光領域」とは、フォトマスクによる1回の露光でパター
ン形成された(走査線等の)領域をいい、上記パターン
形成部分80Aとほぼ相似形状をなすものである。な
お、パターン形成部分80Aの周囲には駆動回路等のパ
ターン90aが形成されている。
【0032】フォトマスク80の拡大図は、図8に示す
ようになっていて、パターン形成部分80Aの端縁80
bのうちフォトマスク80の縦方向に延びる部分は、そ
れぞれ横に突没する凸部と凹部とを互い違いに備えた鋸
歯状をなしている。また、端縁80bのうちフォトマス
ク80の横方向に延びる部分は、それぞれ縦に突没する
凸部と凹部とを備えた鋸歯状をなしている。そして、上
記したフォトマスク80を用い、例えば図9、図10に
示すようにして液晶装置用基板20を製造する。
【0033】まず、走査線及び容量線の形成用膜が表面
に形成されたガラス等の透明な基板2を用意し、該形成
用膜の上に所定のフォトレジストを塗布した後、ステッ
パ上に載置する。そして、図9(1)に示すように、フ
ォトマスク80を用いて走査線及び容量線のパターンを
基板2の左上部に露光する。ステッパとしては、特に制
限はなく、公知のステッパを用いることができる。この
1回目の露光においては、露光領域R1が形成され、該
露光領域R1の端縁は鋸歯状になっている。
【0034】次に、図9(2)に示すように、フォトマ
スク80に対して基板2を移動させ、基板2の右上部を
露光し(露光領域R2)、その際に、露光領域R1の右側
端縁における凸部と、露光領域R2の左側端縁における
凹部とが噛み合うようにする。以下同様にして、図9
(3)に示すように、基板2の表面に4つの露光領域R
1〜R4を互いに隣接して継ぎ合わせ、各隣接部において
露光領域同士の端縁の凸部と凹部とが噛み合うようにす
る。
【0035】そして、図10(4)に示すように、各露
光領域R1〜R4の周囲に別のフォトマスクを配設して配
線部70等のパターンを露光する。なお、配線部70の
パターンの近傍には、各露光領域R1〜R4の周縁の凹凸
に継ぎ合わされて該周縁を直線状にするための画素パタ
ーンが形成されている。従って、各露光領域R1〜R4
周縁は図示したように凹凸が消失して直線状をなしてい
る。その後、フォトリソ加工することにより、図10
(5)に示すように、基板2上に走査線4、容量線6、
及び配線部70等を形成する。
【0036】次に、図示しないが、走査線4や容量線6
の上に所定の層間絶縁膜、及びデータ線3形成用膜等を
形成した後、データ線のパターンが形成された別のフォ
トマスクにより、上記と同様にして露光を行って4つの
露光領域を継ぎ合わせ、フォトリソ加工して、図10
(6)に示すように、走査線4等の上にデータ線3を形
成し、遮光層を完成させる。さらに、図示しない画素電
極を基板2上の所定の位置に形成することにより、遮光
層の間に画像表示部34を備えた液晶装置用基板20を
製造する。
【0037】このようにして製造された液晶装置用基板
20においては、隣接する露光領域同士の継ぎ合わせ境
界Sは、基板のどの方向をとってみても一直線上に連続
して並ぶことはない。そのため、継ぎ合わせ境界Sを介
して対向する画像表示部の大きさ(画像の明るさ)が大
幅に異なっていたとしても、明るさの差を生じる部分が
基板上で適宜分散しているので、人間の目でこの部分を
明るさの差(継ぎ目模様)として認識することはない。
すなわち、上記したフォトマスクを用いるだけで、継ぎ
目模様の発生を容易に防止することができる。
【0038】なお、上記した実施形態においては、フォ
トマスクにおける遮光層のパターン形成部分の端縁を鋸
歯状に形成した場合について説明したが、端縁の形状は
これに限定されることはなく、例えば図11に示すよう
に、図6における実施例に対応させてフォトマスク82
のパターン形成部分82Aの端縁82bを波状に形成し
てもよく、この場合も上記と同様にして露光を行うこと
ができる。
【0039】又、図12に示すように、フォトマスク8
4のパターン形成部分84Aの端縁84bの周辺部に、
ステッパの解像度未満の大きさで、かつ、端縁の内側か
ら外側に向って露光量を徐々に低減させる模様86を形
成してもよい。ここで、端縁84bの周辺部とは、端縁
84bの内側と外側を含む領域をいう。模様86として
は、例えばステッパの解像度より小さい径のドット
(点)の集まりを用いることができる。又、この実施形
態においては、端縁84bの形状は何であってもよく、
一直線としても構わない。
【0040】つまり、模様86により、端縁84bの周
辺部の露光量が端縁の内側から外側へ向って緩やかに減
少するので、図13に示すように、隣接する露光領域R
10、R11間で露光量が急激に変化することが抑制され
る。そして、その結果として、継ぎ合わせ境界Sで遮光
層(走査線等)の大きさが階段状に変化することが防止
され、当該継ぎ合わせ境界Sが継ぎ目模様として視認さ
れなくなる。なお、上記したように、模様86はステッ
パの解像度より小さい点から成っているため、基板上で
この模様が結像して遮光層の形状に影響を及すことはな
い。また、模様86の代わりに所定の透過率で光を透過
させる金属膜を蒸着等により形成してもよい。
【0041】本発明は、以上述べた実施形態に限定され
るものではない。例えば、液晶装置をTFD(Thin Fil
m Diode)型の液晶装置とした場合、液晶装置用基板2
0側には、画素電極、該画素電極を制御するTFD、及
び走査線を形成し、データ線は対向基板側に形成すれば
よい。また、遮光層についても、上記した走査線やデー
タ線とは別の層を形成してもよい。
【0042】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、フォトマスクにより形成される露光領域の継ぎ
合わせ境界が、基板のどの方向をとってみても一直線上
に連続して並ぶことはない。そして、このようにする
と、継ぎ合わせ境界において遮光層の大きさが著しく変
化し、それに伴って、当該継ぎ合わせ境界を介して対向
する画像表示部の大きさ(明るさ)が大幅に変化して
も、かかる明るさの差を生じる部分が基板上で適宜散ら
ばって配列されるので、人間の目では継ぎ合わせ境界を
継ぎ目模様として視認することがなくなる。すなわち、
フォトマスクを変えて継ぎ合わせ境界の配列状態を変え
るだけで、画面に継ぎ目模様が生じることを容易に防止
できる。この場合、ステッパの露光精度等を向上させて
画像表示部の大きさの差を低減させる必要はなく、従来
の製造装置等をそのまま用いることができる。
【0043】又、本発明の製造方法によれば、フォトマ
スクとして、少なくとも遮光層のパターン形成部分の端
縁が一直線になっていないものを用いているので、フォ
トマスクにより形成される露光領域を継ぎ合わせたとき
の継ぎ合わせ境界が基板のどの方向をとってみても一直
線上に連続して並ぶことはない。そのため、この境界で
画像表示部の大きさ(明るさ)が急激に変化したとして
も、かかる明るさの差を生じる部分が基板上で適宜散ら
ばって配列されるので、これを継ぎ目模様として視認す
ることを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の液晶装置用基板を示す上面図であ
る。
【図2】 図1のA−A’線に沿う断面図である。
【図3】 液晶装置用基板における、画像表示部と遮光
層の配設状態を示す上面図である。
【図4】 フォトマスクを用いて、基板の表面に画像表
示部と遮光層とを形成する態様を示す上面図である。
【図5】 継ぎ合わせ境界Sの近傍における、図4の部
分拡大図である。
【図6】 同、図4の部分拡大図である。
【図7】 液晶装置用基板の製造に用いるフォトマスク
を示す上面図である。
【図8】 図7の部分拡大図である。
【図9】 液晶装置用基板の製造プロセスを示す工程上
面図である。
【図10】 図9に続く工程上面図である。
【図11】 液晶装置用基板の製造に用いるフォトマス
クの別の例を示す上面図である。
【図12】 液晶装置用基板の製造に用いるフォトマス
クのさらに別の例を示す上面図である。
【図13】 隣接露光領域の端縁の周辺部における露光
量を示す図である。
【図14】 従来の素子基板を示す上面図である。
【図15】 従来の素子基板における、画像表示部と遮
光層の配設状態を示す上面図である。
【図16】 従来の素子基板の製造方法を示す図であ
る。
【図17】 従来の素子基板の製造に用いるフォトマス
クを示す図である。
【図18】 従来の素子基板の全体における、画像表示
部と遮光層の配設状態を示す上面図である。
【図19】 継ぎ合わせ境界近傍に形成された走査線を
示す図である。
【図20】 継ぎ合わせ境界近傍での画像表示部の大き
さを示す図である。
【図21】 従来の素子基板における、隣接する露光領
域での明るさを示す図である。
【符号の説明】
2 基板 3 データ線 4 走査線 6 容量線 20 液晶装置用基板 32 遮光層 34、34a、34b、34c、34d、34e、34
f 画像表示部 60 液晶装置 80、82、84 フォトマスク 80A、82A、84A (遮光層の)パター
ン形成部分 80b、82b、84b パターン形成部分の
端縁 R1、R2、R3、R4 露光領域 S、S1、S2、S3、SA (露光領域の)継ぎ
合わせ境界
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09F 9/30 349 G09F 9/30 349C (72)発明者 村井 博之 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 2H042 AA09 AA15 AA26 2H091 FA35Y FC10 FD04 GA02 GA11 GA13 LA12 LA16 2H092 GA20 JB22 JB31 JB52 JB54 MA13 MA16 NA07 NA27 PA06 PA09 5C094 AA22 BA03 BA43 CA19 EA04 EA07 GA10 5G435 AA01 BB12 CC09 FF13 KK05 KK10

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フォトマスクにより形成される露光領域
    より大きな基板に対して、当該露光領域を複数個継ぎ合
    わせてフォトリソ加工がなされることにより、少なくと
    も画素電極と遮光層とが該基板の表面に形成されてな
    り、 少なくとも前記遮光層を形成する際の露光領域同士の継
    ぎ合わせ境界が、前記基板のどの方向をとってみても一
    直線上に連続して並んでいないことを特徴とする液晶装
    置用基板。
  2. 【請求項2】 前記継ぎ合わせ境界は、一方向からみた
    ときに凸部と凹部とを互い違いに備えていることを特徴
    とする請求項1に記載の液晶装置用基板。
  3. 【請求項3】 前記遮光層は、走査線、データ線、又は
    容量線の少なくともいずれかから成ることを特徴とする
    請求項1又は2に記載の液晶装置用基板。
  4. 【請求項4】 前記画素電極のうち前記遮光層と重なっ
    ていない部分が画像表示部となっていて、前記継ぎ合わ
    せ境界を介して対向する画像表示部の大きさが、互いに
    1%以上異なっていることを特徴とする請求項1ないし
    3のいずれかに記載の液晶装置用基板。
  5. 【請求項5】 ステップ・アンド・リピート型の露光装
    置を用い、遮光層のパターンが形成されたフォトマスク
    を基板の表面に配設して複数回の露光を行って当該フォ
    トマスクにより形成される露光領域同士を継ぎ合わせ、
    次いでフォトリソ加工を行うことにより前記基板の表面
    に遮光層を形成する第1工程と、 少なくとも前記遮光層が形成されていない部分における
    基板の表面に複数の画素電極を形成する第2工程とを備
    え、 前記フォトマスクとして、少なくとも前記遮光層のパタ
    ーン形成部分の端縁が一直線になっていないものを用い
    ることを特徴とする液晶装置用基板の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記フォトマスクとして、前記遮光層の
    パターン形成部分の端縁が凸部と凹部とを互い違いに備
    えているものを用い、 前記遮光層のパターンを露光する際、一の露光領域の端
    縁における凸部と他の露光領域の端縁における凹部とが
    噛み合うようにすることを特徴とする請求項5に記載の
    液晶装置用基板の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記フォトマスクとして、前記遮光層の
    パターン形成部分の端縁の周辺部に前記露光装置の解像
    度未満の大きさで、かつ、該端縁の内側から外側に向っ
    て徐々に露光量を低減させる模様が形成されたものを用
    いることを特徴とする請求項5又は6に記載の液晶装置
    用基板の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記フォトマスクとして、前記遮光層の
    パターン形成部分の端縁の周辺部に、該端縁の内側から
    外側に向って徐々に露光量が低減するように金属膜が形
    成されたものを用いることを特徴とする請求項5又は6
    に記載の液晶装置用基板の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記フォトマスクとして、走査線、デー
    タ線、又は容量線の少なくともいずれかのパターンがそ
    れぞれ形成されたものを用い、 該走査線、データ線、又は容量線の少なくともいずれか
    により前記遮光層を形成することを特徴とする請求項5
    ないし8のいずれかに記載の液晶装置用基板の製造方
    法。
  10. 【請求項10】 請求項1ないし4のいずれかに記載の
    液晶装置用基板と、該液晶装置用基板に液晶を介して対
    向配置される対向基板とを備えたことを特徴とする液晶
    装置。
JP2000085185A 2000-03-24 2000-03-24 液晶装置用基板の製造方法 Expired - Fee Related JP3824837B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000085185A JP3824837B2 (ja) 2000-03-24 2000-03-24 液晶装置用基板の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000085185A JP3824837B2 (ja) 2000-03-24 2000-03-24 液晶装置用基板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001272667A true JP2001272667A (ja) 2001-10-05
JP3824837B2 JP3824837B2 (ja) 2006-09-20

Family

ID=18601561

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000085185A Expired - Fee Related JP3824837B2 (ja) 2000-03-24 2000-03-24 液晶装置用基板の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3824837B2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006145663A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 平面表示装置、その設計方法およびそのプログラム
JP2007034136A (ja) * 2005-07-29 2007-02-08 Toppan Printing Co Ltd フォトマスク及び液晶表示装置用カラーフィルタの製造方法
WO2007086474A1 (ja) * 2006-01-26 2007-08-02 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
WO2008108032A1 (ja) * 2007-03-05 2008-09-12 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置及びその製造方法
JP2010250000A (ja) * 2009-04-14 2010-11-04 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置およびその製造方法
JP2014153558A (ja) * 2013-02-08 2014-08-25 Ricoh Co Ltd 減光フィルタ、及び撮像装置
CN114967199A (zh) * 2021-02-23 2022-08-30 成都京东方光电科技有限公司 显示面板及其制备方法
CN115793313A (zh) * 2022-10-25 2023-03-14 福州京东方光电科技有限公司 显示面板、电子设备及显示面板的制作方法

Cited By (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4695382B2 (ja) * 2004-11-17 2011-06-08 東芝モバイルディスプレイ株式会社 平面表示装置の露光用マスクの設計方法
JP2006145663A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 平面表示装置、その設計方法およびそのプログラム
JP2007034136A (ja) * 2005-07-29 2007-02-08 Toppan Printing Co Ltd フォトマスク及び液晶表示装置用カラーフィルタの製造方法
CN102298235A (zh) * 2006-01-26 2011-12-28 夏普株式会社 液晶显示装置的制造方法和液晶显示装置
JP4606514B2 (ja) * 2006-01-26 2011-01-05 シャープ株式会社 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
JP2010117734A (ja) * 2006-01-26 2010-05-27 Sharp Corp 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
JP4493697B2 (ja) * 2006-01-26 2010-06-30 シャープ株式会社 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
JP2010181913A (ja) * 2006-01-26 2010-08-19 Sharp Corp 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
CN102298235B (zh) * 2006-01-26 2015-05-27 夏普株式会社 液晶显示装置的制造方法和液晶显示装置
JP4606510B2 (ja) * 2006-01-26 2011-01-05 シャープ株式会社 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
US8174652B2 (en) 2006-01-26 2012-05-08 Sharp Kabushiki Kaisha Production method of liquid crystal display device and liquid crystal display device
US7872718B2 (en) 2006-01-26 2011-01-18 Sharp Kabushiki Kaisha Production method of a liquid crystal display device including dividing an exposure step into two exposure regions that partly overlap each other and a photomask with a halftone part
US8767156B2 (en) 2006-01-26 2014-07-01 Sharp Kabushiki Kaisha Production method of liquid crystal display device with halftone overlapping masking and liquid crystal display device
US8054431B2 (en) 2006-01-26 2011-11-08 Sharp Kabushiki Kaisha Production method of liquid crystal display device with halftone overlapping masking and liquid crystal display device
WO2007086474A1 (ja) * 2006-01-26 2007-08-02 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
US8094276B2 (en) 2006-01-26 2012-01-10 Sharp Kabushiki Kaisha Production method of liquid crystal display device and liquid crystal display device
JPWO2007086474A1 (ja) * 2006-01-26 2009-06-25 シャープ株式会社 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
US8730439B2 (en) 2006-01-26 2014-05-20 Sharp Kabushiki Kaisha Production method of liquid crystal display device with halftone overlapping masking and liquid crystal display device
US8169576B2 (en) 2006-01-26 2012-05-01 Sharp Kabushiki Kaisha Production method of liquid crystal display device and liquid crystal display device
CN101622572B (zh) * 2007-03-05 2012-01-11 夏普株式会社 液晶显示装置及其制造方法
US8134668B2 (en) 2007-03-05 2012-03-13 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device and production method thereof
WO2008108032A1 (ja) * 2007-03-05 2008-09-12 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置及びその製造方法
JP2010250000A (ja) * 2009-04-14 2010-11-04 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置およびその製造方法
JP2014153558A (ja) * 2013-02-08 2014-08-25 Ricoh Co Ltd 減光フィルタ、及び撮像装置
CN114967199A (zh) * 2021-02-23 2022-08-30 成都京东方光电科技有限公司 显示面板及其制备方法
US11656512B2 (en) 2021-02-23 2023-05-23 Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Display panel and method for manufacturing the same
CN114967199B (zh) * 2021-02-23 2023-11-10 成都京东方光电科技有限公司 显示面板及其制备方法
US11953791B2 (en) 2021-02-23 2024-04-09 Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Display panel and method for manufacturing the same
CN115793313A (zh) * 2022-10-25 2023-03-14 福州京东方光电科技有限公司 显示面板、电子设备及显示面板的制作方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3824837B2 (ja) 2006-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3599663B2 (ja) 広視野角液晶ディスプレイとその製造方法
KR100798761B1 (ko) 액정표시장치
US10094962B2 (en) Color filter array substrate, method for fabricating the same and display device
KR101201017B1 (ko) 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
US7742130B2 (en) Color filter plate and thin film transistor plate for liquid crystal display, and methods for fabricating the plates
KR101085136B1 (ko) 수평 전계 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법
US8294855B2 (en) Method of fabricating a liquid crystal display device
WO2017077994A1 (ja) 表示基板及び表示装置
US20180314099A1 (en) Display board, display device, and method of producing display board
JP2004252309A (ja) 電気光学パネル及び電子機器
JP2005018079A (ja) 薄膜トランジスタ表示板及びこれを含む液晶表示装置
US10797082B2 (en) Thin film transistor array substrate and method of producing the same
JP3296704B2 (ja) 液晶表示装置
KR100327928B1 (ko) 액정표시장치
US20060119772A1 (en) Liquid crystal display device and fabricating method thereof
JP4220231B2 (ja) 表示パネル用基板製造方法
JP2001272667A (ja) 液晶装置用基板及びその製造方法、並びに液晶装置
JP2004093826A (ja) 液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置
KR101333594B1 (ko) 액정표시장치 및 그 제조방법
US9195080B2 (en) Photo mask and method of manufacturing in-plane switching mode liquid crystal display device using the same
JP2002055333A (ja) 液晶装置用基板、その製造方法、液晶装置および電子機器
JP5008929B2 (ja) 液晶装置の製造方法
JP3937773B2 (ja) 電気光学装置及びその製造方法並びに電子機器
KR101278107B1 (ko) 액정표시장치 및 그 제조방법
JP2004157257A (ja) 表示装置用基板及びそれを備えた表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060104

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060306

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060606

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060628

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100707

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100707

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110707

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120707

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120707

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130707

Year of fee payment: 7

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees