JP2001267427A - 配置配線方法 - Google Patents

配置配線方法

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JP2001267427A
JP2001267427A JP2000073610A JP2000073610A JP2001267427A JP 2001267427 A JP2001267427 A JP 2001267427A JP 2000073610 A JP2000073610 A JP 2000073610A JP 2000073610 A JP2000073610 A JP 2000073610A JP 2001267427 A JP2001267427 A JP 2001267427A
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JP
Japan
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wiring
grid
placement
interval
predetermined
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JP2000073610A
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Masaya Satou
賢哉 佐藤
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JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 チップ面積の使用効率が高いとともにクロス
トークノイズの発生が少ないセル配置や配線を容易に得
ることができる配置配線方法を提供する。 【解決手段】 クロストークを生じやすい配線3aを、
N倍間隔(N≧2)の配線グリッド1b上に置くN倍過
程と、クロストークを生じやすい配線3a以外の他の配
線3bを通常間隔の配線グリッド1a上に置く通常過程
とを経る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップ上の
セルの配置および配線をデザインする配置配線方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】半導体チップ上に形成される大規模集積
回路(LSI)などにおけるセルの配置や配線をデザイ
ンするための配置配線ツールが従来から知られており、
この配置配線ツールでは、所定間隔の配線グリッドが用
いられてセル配置や配線がデザインされることが一般的
である。そして、この配線グリッドのグリッド間隔は、
チップ面積の利用効率を高めるために、集積回路の作成
技術によって作成可能な限度で十分に狭く設定される。
【0003】ところで、LSIなどの配線間では、隣り
合う配線間の寄生容量を介して一方の配線の信号変化が
他方の配線の電位を変化させることによるクロストーク
ノイズが発生することが知られている。そして、クロス
トークノイズは、特に、狭い配線間隔で長距離に渡って
隣り合う同層配線間で生じやすく、例えば、LSI内の
各所にクロック信号を分配するクロックツリーを構成し
ている配線とその配線に隣接する配線との間では、クロ
ック信号が常時オンオフしている信号であることも影響
して、クロストークノイズが生じやすい。
【0004】このようなクロストークは、LSIなどに
おける誤動作の原因となるので、半導体チップ上のセル
配置および配線をデザインする際には、クロストークノ
イズの発生が抑えられるようにデザインすることが求め
られる。
【0005】クロストークノイズの発生が抑えられるよ
うな配置配線方法としては、(1)配線グリッドの間隔
を広くして配線間の寄生容量を小さくする配置配線方
法、(2)配線間に、信号が流れないダミーの信号線を
追加して、配線間の寄生容量を小さくする配置配線方法
(特開平4−196462参照)、(3)セルの配置領
域と配線領域とを予め分けて定めておき、隣接配線との
並走距離を所定のアルゴリズムに基づいて算出して所定
距離毎にジョグ(折れ曲がり)を挿入する配置配線方法
(特開平8−101854参照)、(4)クロストーク
ノイズを生じやすい特定の配線に沿った所定幅の領域内
について、他の配線やセルの配置を禁止する配置配線方
法(特開平9−172073参照)などといった配置配
線方法が提案されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記(1)の
配置配線方法では、チップ全面で一律に配線間隔が広く
なるため、配線領域が非常に大きくなってしまうという
問題がある。また、上記(2)の配置配線方法では、配
線間に余分なダミーの信号線が追加されるため、そのダ
ミーの信号線の分だけ配線領域が大きくてチップ面積の
使用効率が低い。また、(3)の配置配線方法では、セ
ルの配置領域などが予め決められているため配置や配線
の自由度が小さく、配線の並走距離を算出するアルゴリ
ズムが複雑である。さらに、(4)の配置配線方法で
は、特定の配線に沿った所定幅の領域内について他の配
線やセルの配置が禁止されるので、配置や配線の自由度
が小さく、チップ面積の使用効率が低い。
【0007】本発明は、上記事情に鑑み、チップ面積の
使用効率が高いとともにクロストークノイズの発生が少
ないセル配置や配線を容易に得ることができる配置配線
方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の配置配線方法は、セルの配置および配線を所定間隔
のグリッドを用いてデザインする配置配線方法におい
て、デザインすることが予定されている配線のうちの所
定の配線については、上記所定間隔のN倍(N≧2)の
間隔のグリッド上に置くN倍過程と、デザインすること
が予定されている配線のうち上記所定の配線を除く他の
配線については、上記所定間隔のグリッド上に置く通常
過程とを経ることを特徴とする。
【0009】本発明の配置配線方法によれば、N倍過程
において、クロストークノイズの発生が予想される所定
の配線を上記所定間隔のN倍(N≧2)の間隔のグリッ
ド上に置くことにより、クロストークノイズの発生が少
ない配置配線を容易にデザインすることができる。ま
た、通常過程において、クロストークノイズの発生が予
想される配線を除く他の配線を上記所定間隔のグリッド
上に置くことにより、チップ面積の使用効率が高い配置
配線を容易にデザインすることができ、セル配置や配線
の自由度も高い。
【0010】本発明の配置配線方法は、上記N倍過程
が、デザインすることが予定されている配線のうち所定
配線長以上の配線長を有する配線を前記所定の配線とし
て上記所定間隔のN倍(N≧2)の間隔のグリッド上に
置くものであることが好適である。
【0011】上述したように、配線長が長い配線が互い
に隣り合うとクロストークノイズが生じやすいので、配
線長が長い配線をN倍間隔のグリッド上に置くことによ
り、クロストークノイズの発生が少ない配置配線をデザ
インすることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、従来技術と比較して説明する。
【0013】図1は、従来の配置配線方法によってデザ
インされた配線例を示す図である。
【0014】この図1には、配線グリッド1が示されて
おり、この配線グリッド1の交点上に端子2aが来るよ
うにセル2の配置がデザインされる。一般に、配置配線
ツールには、配置されたセル2の端子2a間を繋ぐ配線
3を、配線グリッド1上に置くように自動的にデザイン
する自動配線機能が備えられており、図1には、この自
動配線機能によってデザインされた配線3の例が示され
ている。この自動配線機能では、チップ面積の利用効率
を高めるために、配線3が端子2a間をなるべく最短距
離で直線的に結ぶようにデザインされているとともに、
配線3どうしが1グリッド分の間隔で隣り合うようにデ
ザインされている。このため、上述したようにクロスト
ークノイズが発生しやすく、回路の誤動作が生じやす
い。
【0015】図2は、本発明の配置配線方法の一実施形
態によりデザインされた配線例を示す図であり、図3
は、本発明の配置配線方法の一実施形態におけるデザイ
ン手順のフローチャートである。
【0016】図2には、図1同様の通常のグリッド間隔
の配線グリッド1aと、そのグリッド間隔のN倍(Nは
2以上の整数であって、ここではN=5)のグリッド間
隔の配線グリッド1bが示されている。但し、N倍間隔
の配線グリッド1bは、通常間隔の配線グリッド1aの
一部としても利用されるものである。
【0017】セル配置および配線のデザインに当たって
は、先ず、通常間隔の配線グリッド1aが基準として用
いられて、図1同様にセル2の配置(フロアプラン)が
デザインされる(図3のステップS101)。
【0018】次に、セル2の端子2a間を結ぶ配線3の
配線長が概略計算され(図3のステップS102)、所
定の配線長以上の配線長を有する長配線3aが、N倍間
隔の配線グリッド1b上に置くようにデザインされる
(図3のステップS103)。このステップS103
が、本発明にいうN倍過程の一例であり、このようなデ
ザインは、上述した配置配線ツールの自動配線機能にお
いて配線グリッドの間隔をN倍に設定することにより容
易に実行することができる。但し、セル2の端子2a
は、必ずしもN倍間隔の配線グリッド1b上に存在しな
いため、端子2aに接続される長配線3aの両端は、例
外として、N倍間隔の配線グリッド1b上から外れる場
合がある。
【0019】このように、長配線3aがN倍間隔の配線
グリッド1b上に置かれることによって、長配線3aど
うしが通常間隔の配線グリッド1aのN個分以上離れる
こととなり、クロストークノイズの発生が少ない配線が
得られる。
【0020】その後、セル2の端子2a間を結ぶ配線3
のうち、長配線3aを除く他の配線3bが、通常間隔の
配線グリッド1a上に置くようにデザインされる(図3
のステップS104)。このステップS104が、本発
明にいう通常過程の一例である。
【0021】上述した長配線3aと、長配線3a以外の
配線3bとの間では、配線間隔が、通常間隔の配線グリ
ッド1aの1つ分の間隔であることが許容されているた
め、セル配置や配線の自由度が高く、チップ面積の利用
効率も高い。また、長配線3aと、長配線3a以外の配
線3bとの間では、クロストークノイズがそもそも発生
しにくいので、配線間隔が狭くてもクロストークノイズ
の発生は少ない。
【0022】このように、本実施形態の配置配線方法に
よって、クロストークノイズの発生が少ない配置配線が
デザインされ、誤動作の少ない回路が設計される。
【0023】上記説明では、同層の配線について説明し
たが、複数の配線層が存在する場合には、互いに隣接す
る配線層の相互間で、上記N倍間隔の配線グリッド1b
の位置がずれていることが望ましい。これにより、互い
に隣接する配線層の相互間でのクロストークノイズの発
生が抑えられることとなる。
【0024】なお、上記実施形態では、所定の配線長を
有する長配線をN倍間隔の配線グリッド上に置くように
配線がデザインされたが、本発明にいうN倍過程では、
クロストークが生じることが予測される他の種類の配線
が、N倍間隔の配線グリッド上に置かれてもよい。
【0025】また、本発明にいうN倍過程および通常過
程は、どちらが先に実行されてもよい。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の配置配線
方法によれば、チップ面積の使用効率が高いとともにク
ロストークノイズの発生が少ないセル配置や配線を容易
に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の配置配線方法によってデザインされた配
線例を示す図である。
【図2】本発明の配置配線方法の一実施形態によりデザ
インされた配線例を示す図である。
【図3】本発明の配置配線方法の一実施形態におけるデ
ザイン手順のフローチャートである。
【符号の説明】
1,1a,1b 配線グリッド 2 セル 2a セルの端子 3,3a,3b 配線

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セルの配置および配線を所定間隔のグリ
    ッドを用いてデザインする配置配線方法において、 デザインすることが予定されている配線のうちの所定の
    配線については、前記所定間隔のN倍(N≧2)の間隔
    のグリッド上に置くN倍過程と、 デザインすることが予定されている配線のうち前記所定
    の配線を除く他の配線については、前記所定間隔のグリ
    ッド上に置く通常過程とを経ることを特徴とする配置配
    線方法。
  2. 【請求項2】 前記N倍過程が、デザインすることが予
    定されている配線のうち所定配線長以上の配線長を有す
    る配線を、前記所定の配線とみなして前記所定間隔のN
    倍(N≧2)の間隔のグリッド上に置くものであること
    を特徴とする請求項1記載の配置配線方法。
JP2000073610A 2000-03-16 2000-03-16 配置配線方法 Withdrawn JP2001267427A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6968521B2 (en) 2002-03-20 2005-11-22 Fujitsu Limited Method, apparatus and program product for automatic placement and routing of integrated circuit
JP2006278886A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Kawasaki Microelectronics Kk 半導体集積回路の配線方法

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Effective date: 20070605