JP2001264374A - 電子部品検査機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パレット１１自体の不良によって、本来良品
である電子部品２が不良と判断されてしまうことを抑制
し、電子部品２の歩留まりを向上させることができる電
子部品検査機を提供する。 【解決手段】 本発明に係る電子部品検査機は、電子部
品供給機７から供給された電子部品２の端子２１を保持
するパレット１１が多数直列に配列されてなり、周回駆
動する無端状チェーン１２と、パレット１１に保持され
た電子部品２を検査する検査手段１３と、を備え、各パ
レット１１が保持した電子部品２の検査結果を各パレッ
ト１１毎に蓄積する記録手段３と、記録手段３に蓄積さ
れた各パレット１１毎の検査結果を表示する表示手段４
とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は電子部品検査機に関
し、より詳細には、検査対象となる電子部品の端子を保
持するパレットが多数直列に配列された無端状チェーン
１２式電子部品検査機であって、パレット自体の不良に
よって、本来良品である電子部品が不良と判断されてし
まうことを抑制することができる電子部品検査機に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来より、例えば、フィルムコンデンサ
等の電子部品の電気的特性を検査する電子部品検査機と
して、図２に示すような、無端状チェーン１２式電子部
品検査機が知られている。

【０００３】以下、この無端状チェーン１２式電子部品
検査機について、図２に基づいて説明する。無端状チェ
ーン１２式電子部品検査機１（以下、単に「検査機１」
という）においては、検査対象となる電子部品２の２本
の端子２１を表面に保持するパレット１１が多数チェー
ン状に連結され、チェーン１２を構成している。このチ
ェーン状に連結されたパレット１１は、モーター（図示
せず）等により矢印方向に周回駆動するようになってい
る。

【０００４】また、検査機１には、電子部品２を検査す
る検査手段１３が固定されている。この検査手段１３
は、連結された多数のパレット１１からなるチェーン１
２の内側に位置すると共に２本の平行な金属製のブラシ
からなり、パレット１１に向けて押圧付勢されている。
そしてこのブラシ状の検査手段１３は、周回駆動される
各パレット１１の裏面に摺接するようになっている。

【０００５】連結された多数のパレットからなるチェー
ン１２の外側に位置する電子部品供給機３から電子部品
２を供給されたパレット１１は、電子部品２の２本の端
子２１をそれぞれ挟んで保持する。周回駆動により当該
パレット１１の裏面が検査手段１３に摺接した際には、
当該パレット１１を介して各ブラシと各端子２１とがそ
れぞれ電気的に接続され、検査手段１３から電子部品２
に電流を流すことにより当該電子部品が良品であるかど
うかが判断される。そして、良品であると判断された電
子部品２は、パレット１１が所定位置まで周回駆動した
後、端子１１の保持を解除され、良品ボックス５に投入
される。一方、不良品であると判断された電子部品２も
同様に、不良品ボックス６に投入される。

【０００６】そして、端子２１の保持を解除して電子部
品２が各ボックス５・６に投入された後のパレット１１
は、周回駆動により元の位置に戻り、再度、電子部品供
給機７から電子部品２を供給される。検査機１は、これ
を何度も繰り返すようになっている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記のような検査機１
においては、検査手段１３は電子部品８を検査している
ように見えるが、実際にはパレット１１を介して電子部
品８を介して検査している。そのため、電子部品２その
ものが良品であっても、パレット１１が劣化する等、不
良化している場合には、検査手段１３は当該電子部品２
を不良であると判断してしまう。

【０００８】従来、パレット１１の保全は、その劣化等
に拘わらず、所定期間、検査機１を使用した後に一括し
てまたは部分的に取り替えたり、または所定部分のパレ
ット１１のみを取り替えていたが、パレット１１は取り
替えられない限り永久的に周回駆動するため、パレット
１１そのものが劣化して不良化している場合には、その
劣化したパレット１１に何度も電子部品２が保持されて
検査に供されてしまうことになる。そのため、パレット
１１そのものが劣化して不良化している場合には、当該
パレット１１に保持される電子部品２はすべて不良であ
ると判断されてしまうため、本来良品である電子部品２
が廃棄されてしまう。そのため、著しく電子部品２の歩
留まりが悪化してしまうことにつながっている。

【０００９】本発明は上記課題を解決するためになさ
れ、パレット１１自体の不良によって、本来良品である
電子部品２が不良と判断されてしまうことを抑制し、電
子部品２の歩留まりを向上させることができる電子部品
検査機を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明に係る電子部品検査機１は、電子部品供給機７から供
給された電子部品２の端子２１を保持するパレット１１
が多数直列に配列されてなり、周回駆動する無端状チェ
ーン１２と、パレット１１に保持された電子部品２が良
品であるかどうかを検査する検査手段１３とを備え、検
査手段１３により良品と判断された電子部品２を保持す
るパレット１１が電子部品２の保持を解除する場所と、
検査手段１３により不良品と判断された電子部品２を保
持するパレット１１が電子部品２の保持を解除する場所
とが異なり、各パレット１１が保持した電子部品２の検
査結果を各パレット１１毎に蓄積する記録手段３と、記
録手段３に蓄積された各パレット１１毎の検査結果を表
示する表示手段４とを有することを特徴とする。

【００１１】表示手段４に代えて、またはこれと共に、
記録手段３から、所定の少なくとも１つのパレット１１
について、当該パレット１１に保持された電子部品２が
不良品であった総不良数と、当該パレット１１に保持さ
れて検査手段１３により検査された全電子部品の数とを
読み出す読み出し手段４１と、総不良数を全電子部品の
数により除して不良率を算出する算出手段４２と、不良
率が一定値を超える場合に、当該パレット１１自体が不
良であることを報知する報知手段４３とを備えているこ
とが好ましい。表示手段４は、報知手段４３を兼ねても
よい。

【００１２】報知手段４３としては、当該パレット１１
にマーキングを行うマーキング手段を挙げることがで
き、具体的には、各パレット１１がマーキング用ランプ
を有し、不良率が一定値を超える場合に、マーキング手
段がこのパレットのマーキング用ランプを点灯させるよ
うにしてもよい。

【００１３】このほか、不良率が一定値を超えたパレッ
トには電子部品の供給を止めることを電子部品供給機に
指示する指示手段４４を備えていることも好ましい。ま
た、無端状チェーン１２が外装ケース１４内に収納され
ている場合には、交換しようとするパレット１１の現在
位置を検出すると共に、交換しようとするパレット１１
を外部から交換可能な位置までまで移動させるために必
要な移動量をチェーン１２の駆動手段に送信するパレッ
ト位置検出手段を備えていることが好ましい。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面と共に詳細に
説明する。なお、以下の説明においても、本発明に係る
電子部品検査機１を、単に「検査機１」と言うことにす
る。検査機１においては、検査対象となる電子部品２の
２本の端子２１を表面に保持するパレット１１が多数チ
ェーン状に連結され、チェーン１２を構成している。こ
のチェーン状に連結されたパレット１１は、モーター
（図示せず）等により矢印方向に周回駆動するようにな
っている。

【００１５】また、各パレット１１は、他のパレット１
１から区別するため、それぞれ固有のＩＤを有してい
る。固有のＩＤとしては、特に限定されず、各パレット
に名前を付けても良いが、各パレットに１、２、３、４
…と昇順に自然数を付したり、アルファベット順にＡ、
Ｂ、Ｃ、Ｄ…と付していくことが好ましい。なお、この
ような各パレット１１に固有のＩＤは、実際に各パレッ
ト１１に表記されていてもよく、表記されていなくても
よい。この表記については後述する。また、以下の説明
においては、説明を容易にするため、固有のＩＤとし
て、各パレット１１がアルファベット順にＡ、Ｂ、Ｃ、
Ｄ…と付されていることとする。

【００１６】検査機１には、電子部品２を検査する検査
手段１３が固定されている。この検査手段１３は、連結
された多数のパレット１１からなるチェーン１２の内側
に位置すると共に２本の平行な金属製のブラシからな
り、パレット１１に向けて押圧付勢されている。そして
このブラシ状の検査手段１３は、周回駆動される各パレ
ット１１の裏面に摺接するようになっている。なお、図
１においては、２つの検査手段１３を固定しており、こ
のように検査機１に固定される検査手段１３は、１つと
は限られず、複数個の検査手段１３が固定されていても
良い。また、ここでは、検査手段１３は固定されている
こととして説明を続けるが、検査の必要上、検査手段１
３は移動するものであってもよい。

【００１７】連結された多数のパレット１１からなるチ
ェーン１２の外側に位置する電子部品供給機３から電子
部品２を供給されたパレット１１は、電子部品２の２本
の端子２１をそれぞれ挟んで保持する。周回駆動により
当該パレット１１の裏面が検査手段１３に摺接した際に
は、当該パレット１１を介して各ブラシと各端子２１と
がそれぞれ電気的に接続され、検査手段１３から電子部
品２に電流を流すことにより当該電子部品が良品である
かどうかが判断される。

【００１８】そして、検査結果が「良品」である場合に
は、検査手段１３はコンピュータに内蔵されたハードデ
ィスク、ＲＡＭ等の記録手段３にそのパレット１１に保
持された電子部品２が「良品」である旨を蓄積する。逆
に、検査結果が「不良」である場合には、検査手段１１
は記録手段３にそのパレット１１に保持された電子部品
２が「不良」である旨を蓄積する。そして、検査を受け
た後、良品であると判断された電子部品２は、パレット
１１が所定位置まで周回駆動した後、端子１１の保持を
解除され、良品ボックス５に投入される。一方、不良品
であると判断された電子部品２も同様に、不良品ボック
ス６に投入される。もちろん、周回駆動により各ボック
ス５・６に到達したパレット１１が現在保持している電
子部品２が良品であるか不良品であるかどうかを判断す
るために、記録手段を参照してもよいことは言うまでも
ない。そして、いずれかのボックス５・６に保持してい
た電子部品２が投入された後に、周回駆動によりパレッ
ト１１は元の位置に戻り、再度、電子部品供給機７から
電子部品２を供給される。検査機１は、これを何度も繰
り返す。

【００１９】パレット１１を連結して構成されるチェー
ン１２が１回転するごとに、各パレット１１に保持され
た電子部品２が良品であるか、不良品であるかが、各パ
レット１１ごとに記録手段３に記録、蓄積される。ま
た、パレット１１に保持された電子部品の総数も記録手
段３に記録、蓄積される。このように、記録手段３は、
それぞれ固有のＩＤを付された各パレット１１ごとに、
その各パレット１１に保持された電子部品が良品である
か、不良品であるかを蓄積する。また、記録手段３は、
必要に応じて、各パレット１１ごとに、そのパレット１
１に保持されて検査に供された電子部品の総数を記録、
蓄積する。

【００２０】すなわち、電子部品２が良品である場合に
は、そのパレット１１における総良品数が１だけ増加す
る。同様に、電子部品２が不良である場合には、そのパ
レット１１における総不良数が１だけ増加する。また、
必要に応じて、電子部品の良品・不良に拘わらず、その
パレット１１に保持された電子部品の総数を全電子部品
の数として記録、蓄積する。この全電子部品の数は、パ
レット１１を連結して構成されるチェーン１２が回転し
た回数と同じになる。

【００２１】例えば、パレット１１を連結して構成され
るチェーン１２が１００回転したとして、固有のＩＤと
して「Ａ」が付されたパレット１１（以下、単に「Ａパ
レット１１」という。「Ｂ」等についても同様）に保持
された電子部品２のうち、検査手段１３により良品と判
断された電子部品２の数が９５個、不良と判断された電
子部品の数が５個であって、Ｂパレット１１に保持され
た電子部品２のうち、検査手段１３により良品と判断さ
れた電子部品２の数が９９個、不良と判断された電子部
品の数が１個である場合、記録手段３には、Ａパレット
１１上の総良品数が９５個、Ａパレット１１上の総不良
品数が５個、Ｂパレット１１上の総良品数が９９個、Ｂ
パレット上の総不良品数が１個、全電子部品の数が１０
０個である旨が記録、蓄積される。

【００２２】記録手段３に記録された各パレットごとの
総良品数および総不良数、ならびに全電子部品の数は、
ＣＲＴディスプレー、液晶ディスプレー、プラズマディ
スプレーなどの表示手段４に表示される。検査機１を操
作する検査者は、この表示手段４に表示された各パレッ
トごとの総良品数および総不良数、ならびに必要に応じ
て全電子部品の数を見ることによって、特定のパレット
１１（例えば、Ａパレット１１）の総不良数が他のパレ
ット１１と比較して著しく多いことを知ることができ
る。これにより、検査者は、その特定のパレット１１
（Ａパレット１１）が既に劣化して、パレット１１が不
良化しており、交換の必要があることを知ることができ
る。

【００２３】このように、本発明においては、不良化に
より交換が必要なパレット１１が存在する場合には、検
査者にそのようなパレット１１が存在することを知らせ
ることができるだけでなく、どのパレット１１を交換す
べきかも知らせることができる。したがって、検査者は
交換が必要なパレット１１をすぐに交換することができ
るため、不良化したパレット１１自体を使いつづけるこ
とによる電子部品２の歩留まりの著しい悪化を抑制する
ことができる。

【００２４】また、表示手段４に代えて、または表示手
段４と共に、記録手段３に蓄積された各パレット１１ご
との総不良数を全電子部品の数により除して不良率を算
出し、この不良率が一定値（例えば、３％）を越えるパ
レット１１（例えば、Ａパレット１１）がある場合に
は、検査者に、当該Ａパレット１１自体が不良であるこ
とを報知するようにしてもよい。もちろん、不良率に対
する上記一定値は、検査者等により、任意の値に設定す
ることができる。

【００２５】具体的には、図２に示すように、本発明に
係る電子部品検査機１は、表示手段４に代えて、または
表示手段４と共に、記録手段３から、所定の少なくとも
１つのパレット１１について、当該パレット１１に保持
された電子部品２が不良品であった総不良数と、当該パ
レット１１に保持されて検査手段１３により検査された
全電子部品の数とを読み出す読み出し手段４１と、総不
良数を全電子部品の数により除して不良率を算出する算
出手段４２と、この不良率が一定値を超える場合に、当
該パレット自体１１が不良であることを報知する報知手
段４３とを備えている。

【００２６】報知手段４３としては、前述の表示手段４
であってもよく、表示手段４とは別に設けられたランプ
や、パトカーや救急車の屋根に取り付けられているよう
なサイレンランプ等の視覚に訴える手段の他、ブザー、
サイレンのような聴覚に訴える手段であってもよい。検
査者に、取り替えるべきパレット１１が存在することを
より早急かつ明確に知らせるために、視覚に訴える手段
と聴覚に訴える手段との両方を併用してもよいことはも
ちろんである。

【００２７】報知手段４３としては、前述の表示手段４
が用いられる場合には、不良率が一定値を超えるパレッ
ト１１が存在する場合、そのパレット１１に関する表示
の色を赤色にする一方、通常の表示を白色にするといっ
た、不良率が一定値を越えるパレット１１に関しては表
示色を異ならせることにより、検査者に当該パレット１
１が劣化しており、取り替えるべき旨を知らせる。

【００２８】その他、報知手段４３としては、不良率が
一定値を越えるパレット１１にマーキングを行う手段が
挙げられる。具体的には、不良率が一定値を越えるパレ
ット１１に対して、マジック（登録商標）、インク等に
より当該パレット１１が不良であることを印刷・印字し
たり、パレット１１自体に熱等により刻印を打ち付けた
りすることも考えられる。さらに、パレット１１がマー
キング用ランプを有し、不良率が一定値を越えた場合に
は、このマーキング用ランプを点灯させるようにしても
よい。

【００２９】このように、パレット１１にマーキングを
行う場合には、検査者がチェーン１２を１回転周回駆動
させるだけで、交換が必要なパレット１１をすぐに見出
すことができる。また、多くの場合、交換が必要なパレ
ット１１は、その内部に故障を有することが多いので、
外装はそのままに、内部の部品のみ交換して再利用する
ことができる。マジック、インク等により当該パレット
１１の外装に印刷・印字したり、パレット１１自体に刻
印を打ち付けたりすることは、このような再利用にはあ
まり適さないが、上述したようなマーキング用ランプを
使用する場合には、パレット１１の外装自体を変化させ
ないので、パレット１１を容易に再利用することができ
る。

【００３０】また、表示手段４および報知手段４３に代
えて、またはこれらと共に、本発明に係る電子部品検査
機１は、不良率が一定値を超えたパレット１１には電子
部品２の供給を止めることを前記電子部品供給機７に指
示する指示手段４４を備えていることが好ましい。

【００３１】このような指示手段４４を備えた検査機１
においては、検査者が検査機１の近くにいない場合や、
検査者が不在であるために、交換が必要なパレット１１
を早急に交換できず、検査機１の運転を続けなければな
らない場合であっても、電子部品供給機７は、不良化に
より交換が必要なパレット１１には電子部品２を供給し
ないため、本来、良品である電子部品２が、交換が必要
なパレット１１に保持されたために検査手段１３により
不良と判断された結果、歩留まりが低下することを防止
することできる。なお、パレット１１は多数直列に配列
されているために、数個のパレット１１に電子部品２を
供給しなかったとしても、歩留まりに大きな影響はな
い。

【００３２】また、本発明に係る検査機１は外装ケース
１４を有し、この外装ケース１４の内部にチェーン１
２、検査手段１３等が収納されていることが一般的であ
る。そのため、実際にパレット１１を交換する際には、
各パレット１１に固有のＩＤが表記されている場合に
は、検査者は一旦チェーン１２を周回駆動させるモータ
ー（図示せず）を停止した後、手動でチェーン１２を回
し、パレット１１が外装ケース１４から露出していると
いったような、パレット１１の交換が可能な位置１５を
通過するパレット１１に表記されたＩＤを逐一見てい
き、交換が必要なパレット１１が外装ケース１４から露
出している位置までチェーン１２を周回駆動させてもよ
いが、このような手間を省くため、チェーン１２を自動
的に周回駆動させて、例えば外装ケース１４から露出し
ている位置といったような、パレット１１の交換が可能
な位置１５まで交換が必要なパレット１１を移動させる
ことが好ましい。具体的には、例えば、チェーン１２の
周回駆動を停止させた後に、交換が必要なパレット１１
のＩＤをキーボード等の入力手段から入力すると、交換
が必要なパレット１１が外装ケース１４から露出してい
る個所までチェーン１２が周回駆動するようになってい
ることが好ましい。この場合、各パレット１１にインク
等で実際に固有のＩＤを表記する手間も省くことができ
る。

【００３３】すなわち、図２に示すように、パレット位
置検出手段（図示せず）が、交換が必要なパレット１１
の現在位置を検出すると共に、当該パレット１１を外装
ケース１４から露出している個所まで移動させるために
必要な移動量をチェーン１２の駆動手段に送信する。こ
れにより、チェーン１２が外装ケース１４内に備えられ
ていても、検査機１の使用後に交換が必要になったパレ
ット１１を交換する際には、入力手段から交換したいパ
レット１１のＩＤを入力するだけで、当該パレット１１
が交換可能な位置１５まで自動的に移動するので、極め
てパレット１１を容易に交換できる。

【００３４】また、キーボードなどの入力手段に代え
て、所定のボタンを押すと、パレット位置検出手段（図
示せず）が、上述したように算出された不良率が一定値
を越えて交換が必要なパレット１１が外装ケース１４か
ら露出している個所まで移動するようにチェーン１２を
周回駆動させるようにしてもよい。なお、パレットの交
換が可能な位置の他の例としては、外装ケース１４に開
閉可能な扉を設け、パレット１１の交換が必要になった
際にその扉の近くまで当該パレット１１を移動させるよ
うにしてもよい。

【００３５】なお、図１においては、無端状チェーン１
２として、多数のパレット１１を連結して構成されるい
わゆるベルトコンベア（無限擦動）を例にとって説明し
たが、パレット１１は必ずしも互いに連結されている必
要はなく、無端状（チェーン状）に直列に並べられてい
ればよい。また、図１においては、電子部品供給機７は
検査機１に内蔵されるように描かれているが、電子部品
供給機７は検査機１の外部に設けられていても良い。

【００３６】

【発明の効果】本発明により、不良化により交換が必要
なパレット１１が存在する場合には、検査者にそのよう
なパレット１１が存在することを知らせることができる
だけでなく、どのパレット１１を交換すべきかも知らせ
ることができる。したがって、検査者は交換が必要なパ
レット１１をすぐに交換することができるため、不良化
したパレット１１自体を使いつづけることによる電子部
品２の歩留まりの著しい悪化を抑制することができる電
子部品検査機が提供される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電子部品検査機１の構成を示す図

【図２】従来の電子部品検査機１の構成を示す図

【符号の説明】

１：電子部品検査機 １１：パレット １２：チェーン １３：検査手段 １４：外装ケース １５：パレット１１の交換が可能な位置 ２：電子部品 ２１：端子 ３：記録手段 ４：表示手段 ４１：読み出し手段 ４２：算出手段 ４３：報知手段 ４４：指示手段 ５：良品ボックス ６：不良品ボックス ７：電子部品供給機

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子部品供給機（７）から供給された電
   子部品（２）の端子（２１）を保持するパレット（１
   １）が多数直列に配列されてなり、周回駆動する無端状
   チェーン（１２）と、 前記パレット（１１）に保持された電子部品（２）が良
   品であるかどうかを検査する検査手段（１３）と、 を備え、 前記検査手段（１３）により良品と判断された電子部品
   （２）を保持するパレット（１１）が前記電子部品
   （２）の保持を解除する場所と、前記検査手段（１３）
   により不良品と判断された電子部品（２）を保持するパ
   レット（１１）が前記電子部品（２）の保持を解除する
   場所とが異なる電子部品検査機（１）であって、 各パレット（１１）が保持した電子部品（２）の検査結
   果を各パレット（１１）毎に蓄積する記録手段（３）
   と、 前記記録手段（３）に蓄積された各パレット（１１）毎
   の検査結果を表示する表示手段（４）とを有することを
   特徴とする、電子部品検査機。
2. 【請求項２】 前記記録手段（３）から、所定の少なく
   とも１つのパレット（１１）について、当該パレット
   （１１）に保持された電子部品（２）が不良品であった
   総不良数と、当該パレット（１１）に保持されて前記検
   査手段（１３）により検査された全電子部品の数とを読
   み出す読み出し手段（４１）と、 前記総不良数を前記全電子部品の数により除して不良率
   を算出する算出手段（４２）と、 前記不良率が一定値を超える場合に、当該パレット（１
   １）自体が不良であることを報知する報知手段（４３）
   とを備えた、請求項１に記載の電子部品検査機。
3. 【請求項３】 前記報知手段（４３）が、当該パレット
   （１１）自体が不良であることを表示する表示手段
   （４）である、請求項２に記載の電子部品検査機。
4. 【請求項４】 電子部品供給機（７）から供給された電
   子部品（２）の端子（２１）を保持するパレット（１
   １）が多数直列に配列されてなり、周回駆動する無端状
   チェーン（１２）と、 前記パレット（１１）に保持された電子部品（２）を検
   査する検査手段（１３）と、を備え、 前記検査手段（１３）により良品と判断された電子部品
   （２）を保持するパレット（１１）が前記電子部品
   （２）の保持を解除する場所と、前記検査手段（１３）
   により不良品と判断された電子部品（２）を保持するパ
   レット（１１）が前記電子部品（２）の保持を解除する
   場所とが異なる電子部品検査機（１）であって、 各パレット（１１）が保持した電子部品（２）の検査結
   果を各パレット（１１）毎に蓄積する記録手段（３）
   と、 前記記録手段（３）から、所定の少なくとも１つのパレ
   ット（１１）について、当該パレット（１１）に保持さ
   れた電子部品（２）が不良品であった総不良数と、当該
   パレット（１１）に保持されて前記検査手段（１３）に
   より検査された全電子部品の数とを読み出す読み出し手
   段（４１）と、 前記総不良数を前記全電子部品の数により除して不良率
   を算出する算出手段（４２）と、 前記不良率が一定値を超える場合に、当該パレット（１
   １）自体が不良であることを報知する報知手段（４３）
   とを備えたことを特徴とする、電子部品検査機。
5. 【請求項５】 前記報知手段（４３）が、前記当該パレ
   ット（１１）にマーキングを行うマーキング手段であ
   る、請求項２４に記載の電子部品検査機。
6. 【請求項６】 前記各パレット（１１）がマーキング用
   ランプを有し、前記マーキング手段が前記当該パレット
   のマーキング用ランプを点灯させる、請求項５に記載の
   電子部品検査機。
7. 【請求項７】 電子部品供給機（７）から供給された電
   子部品（２）の端子（２１）を保持するパレット（１
   １）が多数直列に配列されてなり、周回駆動する無端状
   チェーン（１２）と、 前記パレット（１１）に保持された電子部品（２）を検
   査する検査手段（１３）と、を備え、 前記検査手段（１３）により良品と判断された電子部品
   （２）を保持するパレット（１１）が前記電子部品
   （２）の保持を解除する場所と、前記検査手段（１３）
   により不良品と判断された電子部品（２）を保持するパ
   レット（１１）が前記電子部品（２）の保持を解除する
   場所とが異なる電子部品検査機（１）であって、 各パレット（１１）が保持した電子部品（２）の検査結
   果を各パレット（１１）毎に蓄積する記録手段（３）
   と、 前記記録手段（３）から、所定の少なくとも１つのパレ
   ット（１１）について、当該パレット（１１）に保持さ
   れた電子部品（２）が不良品であった総不良数と、当該
   パレット（１１）に保持されて前記検査手段（１３）に
   より検査された全電子部品の数とを読み出す読み出し手
   段（４１）と、 前記総不良数を前記全電子部品の数により除して不良率
   を算出する算出手段（４２）と、 前記不良率が一定値を超えたパレットには電子部品の供
   給を止めることを前記電子部品供給機に指示する指示手
   段（４４）とを備えたことを特徴とする、電子部品検査
   機。
8. 【請求項８】 前記無端状チェーン（１２）が外装ケー
   ス（１４）内に収納されており、交換しようとするパレ
   ット（１１）の現在位置を検出すると共に、前記交換し
   ようとするパレット（１１）を外部から交換可能な位置
   までまで移動させるために必要な移動量をチェーン（１
   ２）の駆動手段に送信するパレット位置検出手段を備え
   た、請求項１から７までのいずれかに記載の電子部品検
   査機。