JP2001264065A - 振動子の製造方法および振動型ジャイロスコープの製造方法 - Google Patents

振動子の製造方法および振動型ジャイロスコープの製造方法

Info

Publication number
JP2001264065A
JP2001264065A JP2000073440A JP2000073440A JP2001264065A JP 2001264065 A JP2001264065 A JP 2001264065A JP 2000073440 A JP2000073440 A JP 2000073440A JP 2000073440 A JP2000073440 A JP 2000073440A JP 2001264065 A JP2001264065 A JP 2001264065A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vibrator
substrate
manufacturing
film
gold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000073440A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuichi Iwata
雄一 岩田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Priority to JP2000073440A priority Critical patent/JP2001264065A/ja
Publication of JP2001264065A publication Critical patent/JP2001264065A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Gyroscopes (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】水晶からなる基板をウエットエッチングするこ
とによって振動子を製造するのに際して、振動子の表面
におけるピットの発生を防止する。 【解決手段】水晶からなる基板1と、基板1の表面の一
部を被覆する、金、タングステン、モリブデンおよびこ
れらの合金からなる群より選択された金属からなる金属
メッキ被膜4A、4Bとを備えており、金属メッキ被膜
が振動子17の外形に合わせてパターニングされている
被加工体をウエットエッチングに供する。これによって
基板1のうちメッキ被膜4A、4Bによって被覆されて
いない領域3に貫通孔を形成し、振動子17を成形す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、振動子の製造方法
および振動型ジャイロスコープの製造方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】最近、自動車の車体回転速度フィードバ
ック式の車両制御方法に用いる回転速度センサーに、振
動型ジャイロスコープを使用することが検討されてい
る。こうしたシステムにおいては、操舵輪の方向自身
は、ハンドルの回転角度によって検出する。これと同時
に、実際に車体が回転している回転速度を振動ジャイロ
スコープによって検出する。そして、操舵輪の方向と実
際の車体の回転速度を比較して差を求め、この差に基づ
いて車輪トルク、操舵角に補正を加えることによって、
安定した車体制御を実現する。
【0003】特開平11−257968号公報において
は、振動子の駆動振動片、検出振動片上に、振動片の振
動のQ値を調節するためのQ値調整膜を形成することを
開示した。この膜は、好ましくは金膜、金とクロムとの
多層膜、銀膜、銀とクロムとの多層膜などが好ましいと
記載されている。また、クロム等からなる下地層と、下
地層上の金メッキ膜からなるQ値調整膜が記載されてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、特に水晶から
なる振動子をウエットエッチングによって成形する場合
には、得られた振動子の表面にピットが発生しているこ
とがあり、歩留り低下の原因となっていた。ピットと
は、径10−40ミクロン程度の小さい凹部である。こ
うしたピットの生成状況は一定しておらず、製造時の偶
然にかなり左右されるようであり、生成防止が難しかっ
た。ピット防止方法としては、一般的には、次の方法が
ある。 (1)基板洗浄を徹底的に行うことによって、ウエット
エッチング前にパーティクル数を減少させておく。 (2)基板を取り扱う際にパーティクルが付着しないよ
うに、周囲環境等に気をつける。 (3)エッチング時間を短くすることによって、エッチ
ャントがマスクの下地と接触する可能性を低下させる。
【0005】しかし、これらの方法を試みても、必ずし
も満足のいく結果は得られなかった。しかも、(1)
(2)のような方法では、特別な洗浄力の強い洗浄液が
必要になったり、特別な無塵設備や器具が必要になった
りするので、コストの多大な上昇要因となり、好ましく
ない。
【0006】本発明の課題は、水晶からなる基板をウエ
ットエッチングすることによって振動子を製造するのに
際して、振動子の表面におけるピットの発生を防止する
ことである。
【0007】また、本発明の課題は、水晶からなる振動
子と、この振動子の一部を被覆する金属メッキ被膜とを
備えている振動型ジャイロスコープを製造するのに際し
て、振動子の表面におけるピットの発生を防止すること
である。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、水晶からなる
振動子を製造する方法であって、水晶からなる基板と、
この基板の表面の一部を被覆する、金、タングステン、
モリブデンおよびこれらの合金からなる群より選択され
た金属からなる金属メッキ被膜とを備えており、金属メ
ッキ被膜が振動子の外形に合わせてパターニングされて
いる被加工体をウエットエッチングに供し、これによっ
て基板のうちメッキ被膜によって被覆されていない領域
に貫通孔を形成し、振動子を成形することを特徴とす
る。
【0009】また、本発明は、水晶からなる振動子と、
この振動子の一部を被覆する金属メッキ被膜とを備えて
いる振動型ジャイロスコープを製造する方法であって、
水晶からなる基板と、この基板の表面の一部を被覆す
る、金、タングステン、モリブデンおよびこれらの合金
からなる群より選択された金属からなる金属メッキ被膜
とを備えており、金属メッキ被膜が振動子の外形に合わ
せてパターニングされている被加工体をウエットエッチ
ングに供し、これによって基板のうちメッキ被膜によっ
て被覆されていない領域に貫通孔を形成し、振動子を成
形することを特徴とする。
【0010】本発明者は、前述したような振動型ジャイ
ロスコープの成形プロセスについて詳細に検討を加えた
結果、特定金属からなる金属メッキ被膜を振動子の外形
に合わせてパターニングした状態で、基板をウエットエ
ッチングに供することで、ピットの発生を著しく低減で
きることを発見し、本発明に到達した。
【0011】本発明者は、最初に振動子の成形プロセス
の全体を詳細に検討した。このプロセスを説明する。最
初に図3を参照しつつ、本発明によって成形可能な振動
子17について説明する。
【0012】振動子17は、基部14を備えている。基
部14は、振動子の重心GO(振動子が振動していない
ときの重心)を中心として四回対称の略正方形をなして
いる。基部14の中央部分に支持孔16が形成されてお
り、支持孔16の中に重心GOが位置している。
【0013】基部14の周縁部14aから細長い支持部
13が重心GOから径方向へと向かって突出しており、
各支持部13の長手方向に直交する方向に向かって,一
対の駆動振動片11A、11B、11C、11Dが延び
ている。12は、各駆動振動片と各支持部との連結部分
である。13aは支持部の付け根であり、13bは支持
部の先端部分である。基部14の周縁部14aから、細
長い検出振動片15A、15Bがそれぞれ、GOから見
て径方向と向かって突出している。
【0014】図3の段階では、振動子17は基板本体1
8へと連結一体化されており、基板1を形成している。
基板本体18と振動子17との間には、貫通孔5が形成
されている。振動子17が、基板本体18と、割断片1
9を通して例えば4箇所において接続されている。
【0015】各割断片19と振動子との間には割断部2
0があり、各割断片19と基板本体18との間にも割断
部20がある。割断片19を押圧することによって、2
つの割断部20を同時に割断させ、振動子を割断片19
および本体18から切り離す。
【0016】ここで、例えば各駆動振動片11A−11
Dの先端領域には、それぞれQ値調整膜7が形成されて
いる。本発明者は、図4,図5に示すような手順に従っ
て、振動子17とQ値調整膜7との成形を行っていた
(図4、図5に示す断面は、図3における矢印断面に相
当している。
【0017】まず、基板1を洗浄し、次いで基板1の表
面の全体にわたってマスク用の金膜を形成し、この金膜
上にレジスト層を形成し、金膜をエッチングし、次いで
レジスト層を除去することで、図4(a)に示すマスク
24A、24Bを形成する。次いで、図4(b)に示す
ように、レジスト層28を形成し、開口29を設ける。
次いで、図4(c)に示すように、開口29内に電解メ
ッキ法によって金メッキ膜23を形成し、レジスト層2
8を除去し、ウエットエッチング用の被加工体21を得
る。次いで、図4(d)に示すように、被加工体21を
ウエットエッチングに供し、マスク24A、24Bの開
口3下に貫通孔5を形成し、振動子17の外形を成形す
る。
【0018】次いで、図5(a)に示すように、Q値調
整膜7の部分をマスク剥離から保護するために、レジス
トからなる保護膜27によって金メッキ膜23および金
膜24Bの一部を覆う。この状態で振動子をウエットエ
ッチングし、図5(b)に示すように金膜2Aおよび金
膜2Bの露出部分を取り除く。そして保護膜27を除去
する。
【0019】この方法では、金膜24Aと24Bとを、
水晶をウエットエッチングして貫通孔5を形成し、振動
子の外形輪郭を基板から切り出すたのめマスクとして使
用している。しかし、得られた振動子中にはエッチング
ピットが多数発見されることがあった。
【0020】これに対して、ウエットエッチングに対す
る耐性を有する金属からなるメッキ膜それ自体を、水晶
をウエットエッチングするためのマスクとして使用すれ
ば、振動子中にエッチングピットが生成しないことを発
見した。
【0021】本発明者の知る限り、従来は、水晶のウエ
ットエッチングの際のマスクを工夫することによって、
エッチングピットを防止するという発想はなかった。例
えば時計用の音叉型振動子も、水晶のウエットエッチン
グによって成形されているのだが、この場合にはウエハ
ーが薄い(0.15mm程度)ので、ウエットエッチン
グ時間が短く、このためにエッチングピットが重大な問
題となりにくかったために、検討がなされてこなかった
ものと思われる。これに対し、振動型ジャイロスコープ
用の振動子は、通常0.3mm程度の厚さがあり、この
ためにエッチング時間が比較的に長く、エッチングピッ
トが多大な問題となり得る。
【0022】金属メッキ被膜の材質は、金、タングステ
ン、モリブデン、またはこれらの合金である。これら
は、水晶をウエットエッチングする際にエッチャントに
よって腐食を受けにくい。この中でも金および金合金が
特に好ましい。
【0023】好ましくは、メッキ被膜と基板との間に、
金、クロム、チタンおよびこれらの合金からなる群より
選ばれた金属からなる下地層を形成する。こうした下地
層は、2層以上設けることができる。特に好ましくは、
下地層の少なくとも基板と接触する部分がクロムまたは
チタンからなる。
【0024】好ましくは、基板を、ふっ酸を含有する水
溶液に接触させることによって振動子をウエットエッチ
ングする。
【0025】以下、本発明の好適な実施形態について、
図1−図2を参照しつつ述べる。
【0026】最初に、水晶基板(ウエハー)を準備す
る。基板はZ板、X板であってよい。次いで、基板の表
面をエッチングすることによって、表面の加工変質層を
除去する。
【0027】次いで、基板を洗浄することによって、パ
ーティクルを減らす。この際の洗浄液としては、アルカ
リ系洗剤、超純水、イソプロピルアルコール(ELグレ
ード)などがある。特に、本発明の方法を採用した場合
には、エッチングピットの発生確率が減る。従って、洗
浄液のグレードを落とし、コストを削減しても、振動子
のウエットエッチングの際の歩留りが落ちない。
【0028】次に、図1(a)に示すように、基板1の
表面に下地層2A、2Bを形成する。この下地層もウエ
ットエッチングの際にマスクとして機能するものである
ので、エッチャントに対して耐性の材質を選択する必要
がある。ふっ酸系水溶液を使用する場合には、金が好ま
しい。この場合には、金と水晶との密着性を向上させる
ために、金層を成膜する前にクロム膜を成膜することが
好ましい。下地層の成膜装置としては、蒸着機あるいは
スパッタ機を使用できる。
【0029】ここで、図4、図5に示したように金膜を
マスクとして使用する場合には、エッチャントに対する
耐性を付与するために、金膜の厚さを5000〜600
0オングストロームとする必要があった。しかし、本発
明では、後述するように、下地層2B上の金属メッキ被
膜をもマスクとして使用するので、金膜の厚さを小さく
しても差し支えない。このため、金膜の厚さを500−
3000オングストロームとすることができる。この厚
さは、1000−2000オングストロームが特に好ま
しい。クロム膜の厚さは、200〜1000オングスト
ロームが好ましい。また、この実施形態において、金の
代わりにタングステン、モリブデンを使用した場合も同
様であり、クロムの代わりにチタンを使用した場合も同
様である。
【0030】下地層2A、2Bの形成方法は限定されな
い。例えば、基板1の全面にわたってクロム膜と金膜と
を成膜した後、金膜の上にレジストを塗布し、露光して
パターニングし、レジストの一部を開口させ、次いでレ
ジストの開口部分で金膜とクロム膜とを順番にウエット
エッチングすることによって、開口3を形成できる。レ
ジストとしては、ポジレジストを使用できる。露光時に
はコンタクトアライナーを使用する。また、いわゆるリ
フトオフ法を利用してもよい。
【0031】次に、図1(b)に示すように、下地層2
A、2Bの上に金属メッキ被膜4A、4Bを形成し、ウ
エットエッチング用の被加工体20を得る。メッキ時の
温度は40−80℃が好ましい。メッキ被膜の厚さは、
エッチングピッチの減少として観点からは2μm以上が
好ましく、3μm以上が更に好ましい。また、メッキ被
膜の膜厚の上限は特に限定されないが、本例のようにメ
ッキ被膜をQ値調整膜として使用する場合には、5μm
以下とすることが好ましい。メッキ被膜4A、4Bの間
隙には、メッキ被覆されていない領域22が形成されて
いる。
【0032】次いで、図1(c)に示すように、被加工
体20をウエットエッチングし、所定パターンの貫通孔
5を形成する。ウエットエッチングの際の条件は特に限
定されない。エッチャントは、ふっ酸を含有しているこ
とが好ましく、ふっ酸水溶液か、あるいはふっ酸とふっ
化アンモニウムとを任意の割合で混合した水溶液が好ま
しい。エッチャントの濃度は40重量%以下が好まし
く、エッチャントの温度は、40℃〜80℃が好まし
い。特に、本発明においては、エッチングピットの発生
確率が減るので、より激しい条件でのエッチングが可能
になる。
【0033】次いで、図2(a)に示すように、金属メ
ッキ被膜4A、4B上にレジストを塗布し、露光してパ
ターニングし、レジスト膜6を残す。レジストとして
は、ポジレジストを使用できる。露光時にはコンタクト
アライナーを使用する。
【0034】次いで、図2(b)に示すように、金属メ
ッキ被膜4A、下地層2Aと、メッキ被膜4Bの一部お
よび下地層2Bの一部をウエットエッチングし、Q値調
整膜7を残す。金属メッキ被膜や下地層のエッチング方
法は公知である。例えば、金用エッチャントとしては、
よう素とよう化カリウムの水溶液が好ましく、クロム用
エッチャントとしては、硝酸第二セリウムアンモニウム
と過塩素酸の水溶液が好ましい。
【0035】次いで、振動子17の上に、電極を構成す
る金属の膜を形成する。この膜は、スパッタ機や蒸着装
置によって形成できる。次いで、フォトリソパターニン
グ技術を用いて金属膜をエッチングし、所望の形状の電
極を形成する。
【0036】
【実施例】図1−図3を参照しつつ説明した前述の方法
に従って、振動子を作製した。具体的には、厚さ0.3
mmの水晶のZ板のウエハーに、スパッタ法によって、
所定位置に、厚さ200オングストロームのクロム膜
と、厚さ1000オングストロームの金膜とを順番に形
成した。ウエハーの両面にレジストをコーティングし
た。
【0037】このウエハーを、ヨウ素とヨウ化カリウム
との水溶液に浸漬し、余分な金膜をエッチングによって
除去し、更に硝酸セリウムアンモニウムと過塩素酸との
水溶液にウエハーを浸漬し、余分なクロム膜をエッチン
グして除去し、図1(a)の下地層2A、2Bを形成し
た。
【0038】下地層2A、2B上に、非シアン系メッキ
液を使用し、温度60℃、電流値0.1A程度で金メッ
キ膜4A、4Bを形成した(図1(b))。メッキ膜の
厚さは3−5μmとした。
【0039】次いで、ふっ酸とアンモニウムとの混合水
溶液によってウエハーをエッチングし、図1(c)の状
態とした。次いで、レジスト膜6を形成し(図2
(a))、よう素とよう化カリウムとの水溶液によって
金をエッチングし、硝酸第二セリウムアンモニウムと過
塩素酸との水溶液によってクロムをエッチングした(図
2(b))。
【0040】こうして得られた振動子の表面のエッチン
グピットを、工具顕微鏡あるいは金属顕微鏡を使用し、
50−200の倍率によって観察した。
【0041】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、水
晶からなる基板をウエットエッチングすることによって
振動子を製造するのに際して、振動子の表面におけるピ
ットの発生を防止できる。また、水晶からなる振動子
と、この振動子の一部を被覆する金属メッキ被膜とを備
えている振動型ジャイロスコープを製造するのに際し
て、振動子の表面におけるピットの発生を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は下地層2A、2Bが形成された基板1
を示しており、(b)は、更に金属メッキ被膜4A、4
Bが形成された基板1を示しており、(c)は、貫通孔
5が形成された基板を示している。
【図2】(a)は、金属メッキ膜4B上に形成されたレ
ジスト6を示しており、(b)は、振動子17上に形成
されたQ値調整膜7を示している。
【図3】振動子17が連結された基板1を示している。
【図4】(a)は、基板1上に形成されたマスク2A、
2Bを示しており、(b)は、基板の表面を被覆するレ
ジスト28を示しており、(c)は、マスク2B上に形
成された金属メッキ被膜23を示しており、(d)は、
基板に形成された貫通孔5を示している。
【図5】(a)は、金属メッキ被膜23を被覆する保護
膜27を示しており、(b)は、振動子17上に形成さ
れたQ値調整膜7を示している。
【符号の説明】
1 基板 2A、2B 下地層 3 開口 4A、4B 金属メッキ被膜 5 貫通孔
6 レジスト 7 Q値調整膜 17 振動子 20、2
1 ウエットエッチング用の被加工体 22 金
属メッキ被膜によって被覆されていない領域 23 金属メッキ被膜 27 保護膜 2
9 レジスト28の開口

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】水晶からなる振動子を製造する方法であっ
    て、 水晶からなる基板と、この基板の表面の一部を被覆す
    る、金、タングステン、モリブデンおよびこれらの合金
    からなる群より選択された金属からなる金属メッキ被膜
    とを備えており、前記金属メッキ被膜が前記振動子の外
    形に合わせてパターニングされている被加工体をウエッ
    トエッチングに供し、これによって前記基板のうち前記
    メッキ被膜によって被覆されていない領域に貫通孔を形
    成し、前記振動子を成形することを特徴とする、振動子
    の製造方法。
  2. 【請求項2】前記メッキ被膜と前記基板との間に、金、
    クロム、チタンおよびこれらの合金からなる群より選ば
    れた金属からなる下地層が形成されていることを特徴と
    する、請求項1記載の振動子の製造方法。
  3. 【請求項3】前記基板を、ふっ酸を含有する水溶液に接
    触させることによって前記振動子をウエットエッチング
    することを特徴とする、請求項1または2記載の振動子
    の製造方法。
  4. 【請求項4】水晶からなる振動子と、この振動子の一部
    を被覆する金属メッキ被膜とを備えている振動型ジャイ
    ロスコープを製造する方法であって、水晶からなる基板
    と、この基板の表面の一部を被覆する、金、タングステ
    ン、モリブデンおよびこれらの合金からなる群より選択
    された金属からなる金属メッキ被膜とを備えており、前
    記金属メッキ被膜が前記振動子の外形に合わせてパター
    ニングされている被加工体をウエットエッチングに供
    し、これによって前記基板のうち前記メッキ被膜によっ
    て被覆されていない領域に貫通孔を形成し、前記振動子
    を成形することを特徴とする、振動型ジャイロスコープ
    の製造方法。
  5. 【請求項5】前記メッキ被膜と前記基板との間に、金、
    クロム、チタンおよびこれらの合金からなる群より選ば
    れた金属からなる下地層が形成されていることを特徴と
    する、請求項4記載の振動型ジャイロスコープの製造方
    法。
  6. 【請求項6】前記基板を、ふっ酸を含有する水溶液に接
    触させることによって前記振動子をウエットエッチング
    することを特徴とする、請求項4または5記載の振動型
    ジャイロスコープの製造方法。
  7. 【請求項7】前記振動子をウエットエッチングによって
    成形した後に、前記金属メッキ被膜をパターニングする
    ことによって、前記振動子の質量を調節するための質量
    調節膜を形成することを特徴とする、請求項4−6のい
    ずれか一つの請求項に記載の振動型ジャイロスコープの
    製造方法。
  8. 【請求項8】前記振動子が屈曲振動片を備えており、前
    記質量調節膜が、前記屈曲振動片の屈曲振動のQ値を調
    整するためのQ値調整膜であることを特徴とする、請求
    項7記載の振動型ジャイロスコープの製造方法。
JP2000073440A 2000-03-16 2000-03-16 振動子の製造方法および振動型ジャイロスコープの製造方法 Pending JP2001264065A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000073440A JP2001264065A (ja) 2000-03-16 2000-03-16 振動子の製造方法および振動型ジャイロスコープの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000073440A JP2001264065A (ja) 2000-03-16 2000-03-16 振動子の製造方法および振動型ジャイロスコープの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001264065A true JP2001264065A (ja) 2001-09-26

Family

ID=18591681

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000073440A Pending JP2001264065A (ja) 2000-03-16 2000-03-16 振動子の製造方法および振動型ジャイロスコープの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001264065A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005233701A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Ngk Insulators Ltd 振動子部品および振動子の支持構造

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005233701A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Ngk Insulators Ltd 振動子部品および振動子の支持構造

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100397860B1 (ko) 반응성이온에칭법및그장치
JP3266109B2 (ja) 電子デバイスの作製方法
WO2006030900A1 (ja) 振動子の製造方法
JP2001264065A (ja) 振動子の製造方法および振動型ジャイロスコープの製造方法
EP3571711B1 (en) Sacrificial layer for platinum patterning
US4421593A (en) Reverse etching of chromium
JP2006214779A (ja) 振動体の製造方法
JP2004289217A (ja) 振動片の製造方法、振動片および振動子
CN113452335A (zh) 一种石英晶体谐振器的加工方法及装置
KR100579511B1 (ko) 금속배선 형성을 위한 에천트 및 이를 이용한 금속배선 형성방법
US5183533A (en) Method for etching chromium film formed on substrate
JP4403487B2 (ja) 電極を備える振動子の製造方法
JP2937537B2 (ja) パターン形成方法
JPH05291256A (ja) 薄膜導体パターンの製造方法
JP2899542B2 (ja) 転写マスクの製造方法
JPS62149138A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2633088B2 (ja) スタンパの製造方法
JPS646449B2 (ja)
JP2875553B2 (ja) 酸化還元反応発生の防止方法およびそれに使用する処理装置
JPH09162161A (ja) 金属パターンの製造方法
JP2531373B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH08307036A (ja) 回路のパターニング方法
JP3532972B2 (ja) 化合物半導体装置の製造方法
JPH04130810A (ja) Atカット水晶振動片の製造方法
JPH04150026A (ja) 半導体装置の製造方法