JP2001255295A - ガス検知方法及び装置 - Google Patents
ガス検知方法及び装置Info
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Abstract
度によらず安定させられるガス検知方法および装置を提
供すること。 【解決手段】 ガス検知素子10を設け、そのガス検知
素子10を通電加熱して劣化要因を除去するためのパー
ジ電圧をパルス印加した後、待機時間経過後に、ガス検
知素子10に被検知ガスを検知するための検知電圧をパ
ルス印加する通電制御機構2を設け、ガス検知素子10
に被検知ガスが接触してそのガス検知素子10の抵抗値
が変化したときに、その抵抗値の変化に基づく電気信号
を受け、警報装置7に警報出力を発する出力部3を備え
た回路部4に接続する。ガス検知素子10の周囲の温度
を測定するサーミスタ51を設け、サーミスタ51の温
度出力情報を基に, 通電制御機構2が参照する待機時間
を可変に設定する待機時間設定機構6を、回路部4に設
けて設定変更可能に構成してある。
Description
を主成分とするガス感応部を設けられ、被検知ガスと接
触状態に配置されるガス検知素子を、そのガス検知素子
の劣化要因を除去するためのパージ電圧をパルス印加し
て通電加熱した後、設定時間経過後に、前記ガス検知素
子に出力を得るための検知電圧をパルス印加したときの
出力から被検知ガスを検知する技術に関する。
合、検知対象ガス中の被検知ガスは、前記ガス検知素子
に接触して、前記ガス感応部において前記金属酸化物半
導体により酸化される。その酸化反応に伴う電子の授受
に伴い前記ガス検知素子の抵抗値が定量的に変化する。
そのため、前記ガス検知素子を備えたガス検知装置は、
前記抵抗値の変化に基づく出力値からその検知対象ガス
中の被検知ガスの濃度を求めることが出来るものであ
る。このとき、前記感応層に被検知ガスが接触したとき
に、電圧が印加されている場合にのみ、前記被検知ガス
は、前記感応層を構成する酸化物半導体により触媒作用
を受け、酸化される。そのため、前記パージ電圧印加
後、前記検知電圧印加までの期間は、前記感応層に対し
て被検知ガスが吸着し、前記検知電圧印加時にその吸着
したガスが急激に反応を開始し、前記感応層に抵抗の変
化を与えるため、出力が得られる。(図8(a)参照)
反応の速度は前記ガス検知素子の周囲(雰囲気)温度に
依存するため、反応に伴う抵抗値の変化量に基づく出力
値も温度依存性を有することになる。すると、雰囲気温
度によって同じ被検知ガス濃度の検知対象ガスに対して
異なる出力値が得られることになり、正確な濃度測定が
困難になる場合が考えられる。
値の変動を、補正するために、雰囲気温度をサーミスタ
等の温度測定手段により求め、標準温度における標準出
力と、各雰囲気温度における出力との出力との関係をあ
らかじめ求めておき、前記温度測定手段による温度出力
と前記ガス出力比から測定出力を較正し、より正確な濃
度測定を行うことが考えられている。
標準出力との出力比から測定出力を較正しようとする場
合、得られた測定出力自体が小さな値になると、出力比
は大きくなり、前記測定出力の小さな揺らぎ(誤差)も
大きく増幅されることになり、濃度測定値の安定性、信
頼性が十分であるとはいえなかった。たとえば、雰囲気
温度がー10℃に達するような低温条件下でガス検知を
行うと、ガス検知素子からの出力がほとんどなく、被検
知ガスによる前記ガス検知素子の抵抗値変化に基づく出
力としての被検知ガスの含まれていない標準ガスとの出
力差(感度出力)がほとんどなく、感度出力の揺らぎが
被検知ガスの濃度として換算される場合に増幅されて大
きな誤差となって表れることになっていた。
に対応する出力を、雰囲気温度によらず安定させられる
ガス検知方法および装置を提供することにある。
検知素子のガス検知出力が、被検知ガスとの接触によ
り、時間とともに次第に上昇し、十分な時間の経過とと
もに飽和に達する傾向がある点を、上述の観点に基づき
考慮すると、前記標準ガスに対する感度出力が雰囲気温
度によっても変動しなくなる条件下で被検知ガスを検出
すれば、前記雰囲気温度によらず前記感度比を較正する
ことなく取り扱えるために、前記揺らぎによる誤差が増
幅されるのを避けられるのではないかと考え、本発明に
想到した。
ガス感応部を設けられ、被検知ガスと接触状態に配置さ
れるガス検知素子を、そのガス検知素子の劣化要因を除
去するためのパージ電圧をパルス印加して通電加熱した
後、所定の待機時間経過後に、前記ガス検知素子に出力
を得るための検知電圧をパルス印加したときの出力から
被検知ガスを検知するガス検知方法であって、前記ガス
検知素子の周囲温度に基づき、前記待機時間を可変に設
定する点にあり、前記ガス検知素子が所定濃度の被検知
ガスを検知させたときに、所定出力値を出力するまでの
時間の温度依存性に基づき、前記設定時間が設定される
ことが好ましい。
ば、金属酸化物半導体を主成分とするガス感応部を設け
られ、被検知ガスと接触状態に配置されるガス検知素子
を、そのガス検知素子の劣化要因を除去するためのパー
ジ電圧をパルス印加して通電加熱した後、所定の待機時
間経過後に、前記ガス検知素子にパルス電圧を印加した
ときの出力から被検知ガスを検知すると、前記パージ電
圧を印加してガス検知素子が加熱された際に、前記ガス
検知素子に油分等の付着した付着物が焼失させられると
ともに、前記感応層の表面への付着水の量などの表面状
態が一定の環境に整えられる。そのため、前記パージ電
圧印加後の前記感応層は、ほぼ一定のガス反応性を示
し、その反応に基づく安定した出力を得ることができ
る。ここで、前記触媒反応は、反応速度が温度に依存し
て変化するため、その出力値も温度に依存して変化す
る。そのため、前記待機時間を一定にそろえた条件下
で、種々の温度条件下における出力を調べると、一定濃
度の被検知ガスを含有する基準となる検知対象ガス(標
準ガス)に対しても出力は温度が低下して反応速度が低
くなるにつれ低下する。この一方、前記温度条件を一定
にそろえた条件下で前記待機時間を種々変化させると、
前記被検知ガスの前記感応層への吸着量は変化するた
め、前記標準ガスに対する出力は上昇する。そこで、前
記ガス検知素子の雰囲気温度に基づき、前記待機時間を
可変に設定してあれば、低温条件では前記待機時間を長
く設定するとともに、高温条件下では前記待機時間を短
く設定することができるので、前記標準ガスに対する出
力を、温度条件によらず、一定に保つことが出来る。そ
のため、待機時間を可変に設定し、雰囲気温度によらず
標準ガスに対する出力を一定に保つことが出来る条件下
において、検知対象ガス中の被検知ガスを検知すれば、
その検知出力は、いずれの温度条件下においても、前記
検知対象ガスの出力を基準にして同一較正条件下の換算
により濃度に変換することのできるものとして与えられ
るのである。そのため、出力の揺らぎなどによる誤差を
較正条件により増幅させてしまうことの少ない、安定出
力が得られる条件で被検知ガス出力を得ることが出来
る。従って、揺らぎの少ない、安定した濃度測定に寄与
することが出来るのである。
特徴構成は、金属酸化物半導体を主成分とするガス感応
部を設けたガス検知素子を、被検知ガスと接触状態に配
設し、そのガス検知素子を通電加熱して劣化要因を除去
するためのパージ電圧をパルス印加した後、待機時間経
過後に、前記ガス検知素子に被検知ガスを検知するため
の検知電圧をパルス印加する通電制御機構を設けたガス
検知装置であって、前記ガス検知素子の周囲温度に基づ
き、前記待機時間を可変に設定する待機時間設定機構を
設けてある点にあり、前記ガス検知素子の周囲温度を測
定する温度測定機構を設け、前記待機時間設定機構が、
前記温度測定機構からの温度出力情報に基づき前記待機
時間を設定可能に構成してあることが好ましい。 〔作用効果2〕つまり、上述の構成によれば、金属酸化
物半導体を主成分とするガス感応部を設けたガス検知素
子を、被検知ガスと接触状態に配設し、そのガス検知素
子を通電加熱して劣化要因を除去するためのパージ電圧
をパルス印加した後、待機時間経過後に、前記ガス検知
素子に被検知ガスを検知するためのパルス電圧を印加す
る通電制御機構を設けてあれば、前記パージ電圧を印加
したガス検知素子が加熱された際に、前記ガス検知素子
に油分等の付着した付着物が焼失させられるとともに、
前記感応層の表面への付着水の量などの表面状態が一定
の環境に整えられる。そのため、前記パージ電圧印加後
の前記感応層は、ほぼ一定のガス反応性を示し、その反
応に基づく安定した出力を得ることができる。その後待
機時間経過後に、前記ガス検知素子に被検知ガスを検知
するための検知電圧をパルス印加すると、前述の作用効
果1に述べたように、前記待機時間の間に前記検知対象
ガス中の被検知ガス濃度に応じて前記ガス検知素子に吸
着した被検知ガスの量に対応する出力が得られる。この
とき、前記待機時間を可変に設定する待機時間設定機構
を設けて有れば、前記ガス検知素子の雰囲気温度に従っ
て、前記待機時間を設定することによって、雰囲気温度
によらず標準ガスに対する出力を一定に保つことが出来
る条件を設定することが出来る。このような条件下で検
知対象ガス中の被検知ガスを検知すれば、その検知出力
は、いずれの温度条件下においても、前記検知対象ガス
の出力を基準にして同一較正条件下の換算により濃度に
変換することのできるものとして与えられる。そのた
め、出力の揺らぎなどによる誤差を較正条件により増幅
させてしまうことの少ない、安定出力が得られる条件で
被検知ガス出力を得ることが出来る。従って、揺らぎの
少ない、安定した濃度測定に寄与することが出来るので
ある。
に基づいて説明する。本発明のガス検知装置は、図1に
示すように、金属酸化物半導体を主成分とする感応層1
1を設けたガス検知素子10を、被検知ガスと接触状態
に配設してあるガス検知部1を設け、そのガス検知素子
1を通電加熱して劣化要因を除去するためのパージ電圧
をパルス印加した後、待機時間経過後に、前記ガス検知
素子に被検知ガスを検知するための検知電圧をパルス印
加する通電制御機構2を設けるとともに、前記ガス検知
素子1に被検知ガスが接触してそのガス検知素子10の
抵抗値が変化したときに、その抵抗値の変化に基づく電
気信号を受け、警報装置7に警報出力を発する出力部3
を備えた回路部4に接続してある。
10の周囲の温度を測定するための温度測定機構5とし
て、たとえばサーミスタ51を設けるとともに、前記回
路部4には、前記通電制御機構2が参照する前記待機時
間を前記サーミスタ51の温度出力情報を基に所定の出
力が得られるように可変に設定する待機時間設定機構6
を設けて、前記通電制御機構2が前記ガス検知素子10
にパージ電圧、検知電圧を印加するタイミングを前記ガ
ス検知素子10の雰囲気温度に従って自動的に設定変更
可能に構成してある。
に示すように雰囲気温度の変化に伴なって待機時間が変
更されつつ、ガス検知されるため較正なしに一定の出力
を得ることが出来るようになっている。
ム、白金−パラジウム合金等の貴金属線12に酸化ス
ズ、酸化インジウム等の金属酸化物を主成分とする金属
酸化物半導体を塗布、乾燥後焼結成型してある感応層1
1を備えた、いわゆる熱線型半導体式ガス検知素子を用
いることができる。
熱線型半導体式のものに限らず、基板型などの形態であ
ってもよい。また、出力部についても、警報出力を発す
るものに替え、測定濃度値をデジタル表示するものであ
っても良いし、これらの複合的な出力であっても良い。
さらに、温度測定機構にも、前記ガス検知素子の雰囲気
温度を測る機能を有していれば、サーミスタに限らず種
々のものを適用できる。
感応層に酸化インジウム半導体を用いるとともに、その
感応層の表面部にパラジウム触媒を添加してある一酸化
炭素検知用の熱線型半導体式ガス検知素子(図2参照)
を用い、種々の温度条件下での100ppm及び500
ppmの一酸化炭素ガス(空気中)に対する出力電圧
(センサ出力)の応答性を図3に示す。これらのグラフ
から前記待機時間として各温度ごとに所定出力を示す経
過時間を求められることがわかる。これらのグラフを基
に、200ppmの一酸化炭素ガスに対して約150m
vのセンサ出力を示す待機時間を各温度において求めた
ところ表1のようになり、従来待機時間として一律に1
5秒としていた場合に比べ、実測値がほぼ一定に維持さ
れていることがわかった。尚、このときガス検知素子に
はパージ電圧を2.0Vかけた後待機時間経過後1ms
ガス検知電圧を印加し、出力を得ている。この待機時間
の設定により一酸化炭素ガス濃度出力(CO感度)の濃
度依存性を求めたところ、図4のようになった。図4よ
り、各温度においてCO感度は、ほぼ共通の曲線を描く
出力を示すために、較正する事なしに、安定して一酸化
炭素ガス濃度が求められることがわかる。
化インジウムから酸化スズに替え、同様にして雰囲気温
度によらず一定の出力を与える待機時間を求めたとこ
ろ、表2のようになり、また、表2の待機時間に基づ
き、一酸化炭素ガス濃度出力(CO感度)の濃度依存性
を求めたところ、図5のようになった。図5より、各温
度においてCO感度は、ほぼ共通の曲線を描く出力を示
すために、較正する事なしに、安定して一酸化炭素ガス
濃度が求められることがわかる。
導体式ガス検知素子(図7参照)についても雰囲気温度
と待機時間との関係について調べたところ、表3のよう
になり、表3の待機時間に基づき、一酸化炭素ガス濃度
出力(CO感度)の濃度依存性を求めたところ、図6の
ようになった。図6より、各温度においてCO感度は、
ほぼ共通の曲線を描く出力を示すために、較正する事な
しに、安定して一酸化炭素ガス濃度が求められることが
わかる。
温度測定機構の測定温度に従って、所定出力を出力する
までの温度依存性に基づいて設定される構成にしてあれ
ば、雰囲気温度の変化によらず安定した出力を維持する
ことができることがわかる。
(a)は、一酸化炭素濃度100ppm、(b)は、一
酸化炭素濃度500ppmの場合を示す
づくガス感度の濃度依存性を示すグラフ(a)は、従来
のもの、(b)は、本発明によるものを示す
づくガス感度の濃度依存性を示すグラフ(a)は、従来
のもの、(b)は、本発明によるものを示す
づくガス感度の濃度依存性を示すグラフ(a)は、従来
のもの、(b)は、本発明によるものを示す
答出力との関係を示す図(a)は従来のもの、(b)
は、本発明によるものを示す
Claims (4)
- 【請求項1】 金属酸化物半導体を主成分とするガス感
応部を設けられ、被検知ガスと接触状態に配置されるガ
ス検知素子を、そのガス検知素子の劣化要因を除去する
ためのパージ電圧をパルス印加して通電加熱した後、所
定の待機時間経過後に、前記ガス検知素子に出力を得る
ための検知電圧をパルス印加したときの出力から被検知
ガスを検知するガス検知方法であって、 前記ガス検知素子の周囲温度に基づき、前記待機時間を
可変に設定するガス検知方法。 - 【請求項2】 前記ガス検知素子が所定濃度の被検知ガ
スを検知させたときに、所定出力値を出力するまでの時
間の温度依存性に基づき、前記設定時間が設定される請
求項1に記載のガス検知方法。 - 【請求項3】 金属酸化物半導体を主成分とするガス感
応部を設けたガス検知素子を、被検知ガスと接触状態に
配設し、そのガス検知素子を通電加熱して劣化要因を除
去するためのパージ電圧をパルス印加した後、待機時間
経過後に、前記ガス検知素子に被検知ガスを検知するた
めの検知電圧をパルス印加する通電制御機構を設けたガ
ス検知装置であって、 前記ガス検知素子の周囲温度に基づき、前記待機時間を
可変に設定する待機時間設定機構を設けてあるガス検知
装置。 - 【請求項4】 前記ガス検知素子の周囲温度を測定する
温度測定機構を設け、前記待機時間設定機構が、前記温
度測定機構からの温度出力情報に基づき前記待機時間を
設定可能に構成してある請求項3に記載のガス検知素
子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000064769A JP4197823B2 (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | ガス検知方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000064769A JP4197823B2 (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | ガス検知方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001255295A true JP2001255295A (ja) | 2001-09-21 |
JP4197823B2 JP4197823B2 (ja) | 2008-12-17 |
Family
ID=18584417
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000064769A Expired - Lifetime JP4197823B2 (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | ガス検知方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4197823B2 (ja) |
-
2000
- 2000-03-09 JP JP2000064769A patent/JP4197823B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4197823B2 (ja) | 2008-12-17 |
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