JP2001252267A - スキャン条件設定方法およびｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
スキャン条件設定方法およびｘ線ｃｔ装置Info
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- JP2001252267A JP2001252267A JP2000064103A JP2000064103A JP2001252267A JP 2001252267 A JP2001252267 A JP 2001252267A JP 2000064103 A JP2000064103 A JP 2000064103A JP 2000064103 A JP2000064103 A JP 2000064103A JP 2001252267 A JP2001252267 A JP 2001252267A
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- 238000004140 cleaning Methods 0.000 abstract 1
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
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- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 撮影時間要求またはスループット要求を満た
しつつ、Ｘ線管球の高出力使用を抑制する。 【解決手段】 撮影する部位を予備スキャンして取得し
た予備データに基づいて算出したＸ線量を満足するスキ
ャン時間およびＸ線管電流の組合せのうちで撮影時間
（スループット）要求を満たしうる最も長いスキャン時
間およびＸ線管電流の組合せをスキャン条件として設定
する。 【効果】 スキャン時間に「最短時間」を設定した場合
に比べてＸ線管の発熱が小さくなり、クーリングのため
のスキャン停止が少なくなる。従って、スキャン時間に
「最短時間」を設定したためにかえって撮影時間が長く
なってしまう（スループットが下がってしまう）といっ
たことが防止される。
しつつ、Ｘ線管球の高出力使用を抑制する。 【解決手段】 撮影する部位を予備スキャンして取得し
た予備データに基づいて算出したＸ線量を満足するスキ
ャン時間およびＸ線管電流の組合せのうちで撮影時間
（スループット）要求を満たしうる最も長いスキャン時
間およびＸ線管電流の組合せをスキャン条件として設定
する。 【効果】 スキャン時間に「最短時間」を設定した場合
に比べてＸ線管の発熱が小さくなり、クーリングのため
のスキャン停止が少なくなる。従って、スキャン時間に
「最短時間」を設定したためにかえって撮影時間が長く
なってしまう（スループットが下がってしまう）といっ
たことが防止される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、スキャン条件設定
方法およびＸ線ＣＴ（Computed Tomography）装置に関
し、さらに詳しくは、撮影時間要求またはスループット
要求を満たしつつ、Ｘ線管球の高出力使用を抑制するこ
とが出来るスキャン条件設定方法およびＸ線ＣＴ装置に
関する。
方法およびＸ線ＣＴ（Computed Tomography）装置に関
し、さらに詳しくは、撮影時間要求またはスループット
要求を満たしつつ、Ｘ線管球の高出力使用を抑制するこ
とが出来るスキャン条件設定方法およびＸ線ＣＴ装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】図９は、従来のＸ線ＣＴ装置におけるス
キャン条件設定処理のフロー図である。ステップＳ１で
は、被検体をスカウトスキャンし、予備データを取得す
る。ステップＳ２では、プロトコルを自動設定するか手
動設定するかを操作者に選択させる。操作者が、自動設
定を選択したらステップＳ３へ進み、手動設定を選択し
たらステップＳ８へ進む。
キャン条件設定処理のフロー図である。ステップＳ１で
は、被検体をスカウトスキャンし、予備データを取得す
る。ステップＳ２では、プロトコルを自動設定するか手
動設定するかを操作者に選択させる。操作者が、自動設
定を選択したらステップＳ３へ進み、手動設定を選択し
たらステップＳ８へ進む。
【０００３】ステップＳ３では、ｋＶ，スキャンタイ
プ，ＩＱ，スライス厚，ＦＯＶ（Field Of View）を操
作者に選択させる。ステップＳ４では、前記予備データ
に基づいて各スライスをＣＴ撮影するために必要なＸ線
量を計算する。
プ，ＩＱ，スライス厚，ＦＯＶ（Field Of View）を操
作者に選択させる。ステップＳ４では、前記予備データ
に基づいて各スライスをＣＴ撮影するために必要なＸ線
量を計算する。
【０００４】ステップＳ６では、スキャン時間（Ｘ線管
または検出器の１回転当たりの時間）を操作者に設定さ
せる。ステップＳ７では、各スライスのＸ線量をスキャ
ン時間で除算して、Ｘ線管電流を計算する。そして、ス
テップＳ９へ進む。
または検出器の１回転当たりの時間）を操作者に設定さ
せる。ステップＳ７では、各スライスのＸ線量をスキャ
ン時間で除算して、Ｘ線管電流を計算する。そして、ス
テップＳ９へ進む。
【０００５】ステップＳ８では、ｋＶ，スキャンタイ
プ，ＩＱ，スライス厚，ＦＯＶ（Field Of View），ス
キャン時間，Ｘ線管電流などを操作者に設定させる。そ
して、ステップＳ９へ進む。
プ，ＩＱ，スライス厚，ＦＯＶ（Field Of View），ス
キャン時間，Ｘ線管電流などを操作者に設定させる。そ
して、ステップＳ９へ進む。
【０００６】ステップＳ９では、設定されたプロトコル
を表示する。ステップＳ１０では、操作者がプロトコル
を承認したら処理を終了し、承認しなかったら前記ステ
ップＳ８に戻る。
を表示する。ステップＳ１０では、操作者がプロトコル
を承認したら処理を終了し、承認しなかったら前記ステ
ップＳ８に戻る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のスキャン条
件設定処理のステップＳ５でスキャン時間を設定する
際、操作者は、「最短時間」を選択することが多い。こ
れは、「できるだけ撮影時間（１回のスキャンの所要時
間）を短くしたい。又は、できるだけスループット（１
人に対するスキャンの所要時間）を上げたい。」という
心理的な要因によるものである。しかし、スキャン時間
に「最短時間」を設定すると、Ｘ線管電流が大きくな
り、Ｘ線管のターゲットの発熱が放熱能力を大幅に越
え、クーリングのために頻繁にスキャン停止するように
なる。このため、例えば１日単位で観ると、スキャン時
間に「最短時間」を設定しなかった場合よりも、かえっ
て撮影時間が長くなってしまう、又は、スループットが
下がってしまう問題点がある。そこで、本発明の目的
は、撮影時間要求またはスループット要求を満たしつ
つ、Ｘ線管球の高出力使用を抑制することが出来るスキ
ャン条件設定方法およびＸ線ＣＴ装置を提供することに
ある。
件設定処理のステップＳ５でスキャン時間を設定する
際、操作者は、「最短時間」を選択することが多い。こ
れは、「できるだけ撮影時間（１回のスキャンの所要時
間）を短くしたい。又は、できるだけスループット（１
人に対するスキャンの所要時間）を上げたい。」という
心理的な要因によるものである。しかし、スキャン時間
に「最短時間」を設定すると、Ｘ線管電流が大きくな
り、Ｘ線管のターゲットの発熱が放熱能力を大幅に越
え、クーリングのために頻繁にスキャン停止するように
なる。このため、例えば１日単位で観ると、スキャン時
間に「最短時間」を設定しなかった場合よりも、かえっ
て撮影時間が長くなってしまう、又は、スループットが
下がってしまう問題点がある。そこで、本発明の目的
は、撮影時間要求またはスループット要求を満たしつ
つ、Ｘ線管球の高出力使用を抑制することが出来るスキ
ャン条件設定方法およびＸ線ＣＴ装置を提供することに
ある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、撮影する部位を予備スキャンして予備データを取得
し、その予備データに基づいてＸ線量を算出し、そのＸ
線量を満足するスキャン時間およびＸ線管電流の組合せ
のうちで撮影時間要求またはスループット要求を満たし
うる最も長いスキャン時間およびＸ線管電流の組合せを
スキャン条件として設定することを特徴とするＸ線ＣＴ
装置のスキャン条件設定方法を提供する。上記第１の観
点によるスキャン条件設定方法では、必要なＸ線量を満
足するスキャン時間およびＸ線管電流の組合せのうち
で、撮影時間要求またはスループット要求を満たしうる
最も長いスキャン時間を設定するので、それに対応して
Ｘ線管電流は小さくなる。よって、Ｘ線管のターゲット
の発熱が放熱能力を大幅に越えることがなくなり、クー
リングのためのスキャン停止が少なくなる。従って、ス
キャン時間に「最短時間」を設定したためにかえって撮
影時間が長くなってしまう又はスループットが下がって
しまう、といったことが防止される。
は、撮影する部位を予備スキャンして予備データを取得
し、その予備データに基づいてＸ線量を算出し、そのＸ
線量を満足するスキャン時間およびＸ線管電流の組合せ
のうちで撮影時間要求またはスループット要求を満たし
うる最も長いスキャン時間およびＸ線管電流の組合せを
スキャン条件として設定することを特徴とするＸ線ＣＴ
装置のスキャン条件設定方法を提供する。上記第１の観
点によるスキャン条件設定方法では、必要なＸ線量を満
足するスキャン時間およびＸ線管電流の組合せのうち
で、撮影時間要求またはスループット要求を満たしうる
最も長いスキャン時間を設定するので、それに対応して
Ｘ線管電流は小さくなる。よって、Ｘ線管のターゲット
の発熱が放熱能力を大幅に越えることがなくなり、クー
リングのためのスキャン停止が少なくなる。従って、ス
キャン時間に「最短時間」を設定したためにかえって撮
影時間が長くなってしまう又はスループットが下がって
しまう、といったことが防止される。
【０００９】第２の観点では、本発明は、Ｘ線管または
検出器の少なくとも一方を回転させると共にそれらＸ線
管または検出器に対して被検体を相対的に直線移動しな
がらデータを収集しうるＸ線ＣＴ装置において、撮影す
る部位を予備スキャンして予備データを取得する予備デ
ータ取得手段と、その予備データに基づいてＸ線量を算
出するＸ線量算出手段と、前記Ｘ線量を満足するスキャ
ン時間およびＸ線管電流の組合せのうちで撮影時間要求
またはスループット要求を満たしうる最も長いスキャン
時間およびＸ線管電流の組合せを設定するスキャン時間
・Ｘ線管電流設定手段とを具備したことを特徴とするＸ
線ＣＴ装置を提供する。上記第２の観点によるＸ線ＣＴ
装置では、上記第１の観点のスキャン条件設定方法を好
適に実施できる。
検出器の少なくとも一方を回転させると共にそれらＸ線
管または検出器に対して被検体を相対的に直線移動しな
がらデータを収集しうるＸ線ＣＴ装置において、撮影す
る部位を予備スキャンして予備データを取得する予備デ
ータ取得手段と、その予備データに基づいてＸ線量を算
出するＸ線量算出手段と、前記Ｘ線量を満足するスキャ
ン時間およびＸ線管電流の組合せのうちで撮影時間要求
またはスループット要求を満たしうる最も長いスキャン
時間およびＸ線管電流の組合せを設定するスキャン時間
・Ｘ線管電流設定手段とを具備したことを特徴とするＸ
線ＣＴ装置を提供する。上記第２の観点によるＸ線ＣＴ
装置では、上記第１の観点のスキャン条件設定方法を好
適に実施できる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施の形態により
本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発
明が限定されるものではない。
本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発
明が限定されるものではない。
【００１１】図１は、本発明の一実施形態に係るＸ線Ｃ
Ｔ装置のブロック図である。このＸ線ＣＴ装置１００
は、操作コンソール１と、撮影テーブル１０と、走査ガ
ントリ２０とを具備している。
Ｔ装置のブロック図である。このＸ線ＣＴ装置１００
は、操作コンソール１と、撮影テーブル１０と、走査ガ
ントリ２０とを具備している。
【００１２】前記操作コンソール１は、操作者の指示入
力や情報入力などを受け付ける入力装置２と、スキャン
条件設定処理やスキャン処理や画像再構成処理などを実
行する中央処理装置３と、制御信号などを前記撮影テー
ブル１０や前記走査ガントリ２０とやり取りする制御イ
ンタフェース４と、走査ガントリ２０で取得したデータ
を収集するデータ収集バッファ５と、前記データから再
構成したＸ線画像を表示するＣＲＴ６と、プログラムや
データやＸ線画像を記憶する記憶装置７とを具備してい
る。
力や情報入力などを受け付ける入力装置２と、スキャン
条件設定処理やスキャン処理や画像再構成処理などを実
行する中央処理装置３と、制御信号などを前記撮影テー
ブル１０や前記走査ガントリ２０とやり取りする制御イ
ンタフェース４と、走査ガントリ２０で取得したデータ
を収集するデータ収集バッファ５と、前記データから再
構成したＸ線画像を表示するＣＲＴ６と、プログラムや
データやＸ線画像を記憶する記憶装置７とを具備してい
る。
【００１３】前記テーブル装置１０は、被検体を乗せて
前記走査ガントリ２０のボア（中空洞部）に入れ出しす
るクレードル１２を具備している。このクレードル１２
は、テーブル装置１０に内蔵するモータで駆動される。
前記走査ガントリ２０のボア（中空洞部）に入れ出しす
るクレードル１２を具備している。このクレードル１２
は、テーブル装置１０に内蔵するモータで駆動される。
【００１４】前記走査ガントリ２０は、Ｘ線管２１と、
Ｘ線コントローラ２２と、コリメータ２３と、Ｘ線検出
器２４と、ＤＡＳ２５と、被検体の体軸の回りにＸ線管
２１などを回転させる回転コントローラ２６とを具備し
ている。
Ｘ線コントローラ２２と、コリメータ２３と、Ｘ線検出
器２４と、ＤＡＳ２５と、被検体の体軸の回りにＸ線管
２１などを回転させる回転コントローラ２６とを具備し
ている。
【００１５】図２は、上記Ｘ線ＣＴ装置１００における
スキャン条件設定処理のフロー図である。ステップＳ１
では、被検体をスカウトスキャンし、予備データを取得
する。ステップＳ２では、プロトコルを自動設定するか
手動設定するかを操作者に選択させる。操作者が、自動
設定を選択したらステップＳ３へ進み、手動設定を選択
したらステップＳ８へ進む。
スキャン条件設定処理のフロー図である。ステップＳ１
では、被検体をスカウトスキャンし、予備データを取得
する。ステップＳ２では、プロトコルを自動設定するか
手動設定するかを操作者に選択させる。操作者が、自動
設定を選択したらステップＳ３へ進み、手動設定を選択
したらステップＳ８へ進む。
【００１６】ステップＳ３では、ｋＶ，スキャンタイ
プ，ＩＱ，スライス厚，ＦＯＶを操作者に選択させる。
ステップＳ４では、前記予備データに基づいて各スライ
スをＣＴ撮影するために必要なＸ線量を計算する。ステ
ップＳ５では、スキャン時間を手動設定するか最適化す
るかを操作者に選択させる。操作者が、手動設定を選択
したらステップＳ６へ進み、最適化を選択したらステッ
プＳ２０へ進む。
プ，ＩＱ，スライス厚，ＦＯＶを操作者に選択させる。
ステップＳ４では、前記予備データに基づいて各スライ
スをＣＴ撮影するために必要なＸ線量を計算する。ステ
ップＳ５では、スキャン時間を手動設定するか最適化す
るかを操作者に選択させる。操作者が、手動設定を選択
したらステップＳ６へ進み、最適化を選択したらステッ
プＳ２０へ進む。
【００１７】ステップＳ６では、スキャン時間を操作者
に設定させる。ステップＳ７では、各スライスのＸ線量
をスキャン時間で除算して、Ｘ線管電流を計算する。そ
して、ステップＳ９へ進む。
に設定させる。ステップＳ７では、各スライスのＸ線量
をスキャン時間で除算して、Ｘ線管電流を計算する。そ
して、ステップＳ９へ進む。
【００１８】ステップＳ８では、ｋＶ，スキャンタイ
プ，ＩＱ，スライス厚，ＦＯＶ，スキャン時間，Ｘ線管
電流などを操作者に設定させる。そして、ステップＳ９
へ進む。
プ，ＩＱ，スライス厚，ＦＯＶ，スキャン時間，Ｘ線管
電流などを操作者に設定させる。そして、ステップＳ９
へ進む。
【００１９】ステップＳ９では、設定されたプロトコル
を表示する。ステップＳ１０では、操作者がプロトコル
を承認したら処理を終了し、承認しなかったら前記ステ
ップＳ８に戻る。
を表示する。ステップＳ１０では、操作者がプロトコル
を承認したら処理を終了し、承認しなかったら前記ステ
ップＳ８に戻る。
【００２０】ステップＳ２０では、図３に示すスキャン
時間最適化処理を実行し、各スライスをＣＴ撮影するた
めのＸ線量を満足するスキャン時間およびＸ線管電流の
組合せのうちで撮影時間要求またはスループット要求を
満たしうる最も長いスキャン時間およびＸ線管電流の組
合せを、スキャン時間およびＸ線管電流として設定す
る。そして、前記ステップＳ８へ進む。
時間最適化処理を実行し、各スライスをＣＴ撮影するた
めのＸ線量を満足するスキャン時間およびＸ線管電流の
組合せのうちで撮影時間要求またはスループット要求を
満たしうる最も長いスキャン時間およびＸ線管電流の組
合せを、スキャン時間およびＸ線管電流として設定す
る。そして、前記ステップＳ８へ進む。
【００２１】図３は、前記スキャン時間最適化処理のフ
ロー図である。ステップＳ２１では、全てのスライスの
スキャン時間を「最短時間」に設定する。例えば０.５
秒〜２.０秒まで０.５秒単位で選択可能なら、０.５秒
を設定する。
ロー図である。ステップＳ２１では、全てのスライスの
スキャン時間を「最短時間」に設定する。例えば０.５
秒〜２.０秒まで０.５秒単位で選択可能なら、０.５秒
を設定する。
【００２２】ステップＳ２２では、各スライスのＸ線管
電流を計算する。例えば、図４に示すように各スライス
のＸ線量が前記ステップＳ１で計算されており、全ての
スライスのスキャン時間が０.５秒に設定されているな
ら、図５に示すように各スライスのＸ線管電流が計算さ
れる。ステップＳ２３では、設定したスキャン時間と計
算したＸ線管電流とを記憶する。
電流を計算する。例えば、図４に示すように各スライス
のＸ線量が前記ステップＳ１で計算されており、全ての
スライスのスキャン時間が０.５秒に設定されているな
ら、図５に示すように各スライスのＸ線管電流が計算さ
れる。ステップＳ２３では、設定したスキャン時間と計
算したＸ線管電流とを記憶する。
【００２３】ステップＳ２４では、Ｘ線管電流の最も大
きいスライスのスキャン時間を１単位だけ長くする。例
えば、図５の電流値を記憶しているなら、スライス番号
「２」または「３」のスライスのＸ線管電流「４００」
が最も大きいので、番号の若いスライス番号「２」のス
キャン時間「０.５」を「１.０」に変更する。
きいスライスのスキャン時間を１単位だけ長くする。例
えば、図５の電流値を記憶しているなら、スライス番号
「２」または「３」のスライスのＸ線管電流「４００」
が最も大きいので、番号の若いスライス番号「２」のス
キャン時間「０.５」を「１.０」に変更する。
【００２４】ステップＳ２５では、撮影時間要求を満足
するか判定し、満足すれば前記ステップＳ２２に戻り、
満足しなければステップＳ２６へ進む。例えば、撮影時
間要求が「全スライスを４秒以内に撮影すること」であ
れば、図５のスライス番号「２」のスキャン時間「０.
５」を「１.０」に変更しても、撮影時間は「２.５（＝
０.５＋１.０＋０.５＋０.５）」秒なので、撮影時間要
求を満足する。よって、前記ステップＳ２２に戻る。な
お、撮影時間要求の代わりに、スループット要求を用い
て判定してもよい。スループット要求としては、例えば
「被検体１人当たりの所要時間が５分」といったもので
ある。撮影時間要求やスループット要求は、病院などで
の運用実績を基に自動設定するか、又は、手動で予め設
定しておく。
するか判定し、満足すれば前記ステップＳ２２に戻り、
満足しなければステップＳ２６へ進む。例えば、撮影時
間要求が「全スライスを４秒以内に撮影すること」であ
れば、図５のスライス番号「２」のスキャン時間「０.
５」を「１.０」に変更しても、撮影時間は「２.５（＝
０.５＋１.０＋０.５＋０.５）」秒なので、撮影時間要
求を満足する。よって、前記ステップＳ２２に戻る。な
お、撮影時間要求の代わりに、スループット要求を用い
て判定してもよい。スループット要求としては、例えば
「被検体１人当たりの所要時間が５分」といったもので
ある。撮影時間要求やスループット要求は、病院などで
の運用実績を基に自動設定するか、又は、手動で予め設
定しておく。
【００２５】図５のスライス番号「２」のスキャン時間
「０.５」を「１.０」に変更した後で戻ったステップＳ
２２では、図６に示すように各スライスのＸ線管電流が
計算される。そして、ステップＳ２３で記憶が更新され
る。続いて、ステップＳ２４では、図６の電流値を記憶
しているから、スライス番号「３」のスライスのＸ線管
電流「４００」が最も大きいので、スライス番号「３」
のスキャン時間「０.５」を「１.０」に変更する。これ
でも撮影時間要求を満足するので、再び前記ステップＳ
２２に戻る。
「０.５」を「１.０」に変更した後で戻ったステップＳ
２２では、図６に示すように各スライスのＸ線管電流が
計算される。そして、ステップＳ２３で記憶が更新され
る。続いて、ステップＳ２４では、図６の電流値を記憶
しているから、スライス番号「３」のスライスのＸ線管
電流「４００」が最も大きいので、スライス番号「３」
のスキャン時間「０.５」を「１.０」に変更する。これ
でも撮影時間要求を満足するので、再び前記ステップＳ
２２に戻る。
【００２６】図６のスライス番号「３」のスキャン時間
「０.５」を「１.０」に変更した後で戻ったステップＳ
２２では、図７に示すように各スライスのＸ線管電流が
計算される。そして、ステップＳ２３で記憶が更新され
る。続いて、ステップＳ２４では、図７の電流値を記憶
しているから、スライス番号「１」または「４」のスラ
イスのＸ線管電流「２００」が最も大きいので、番号の
若いスライス番号「１」のスキャン時間「０.５」を
「１.０」に変更する。これでも撮影時間要求を満足す
るので、再び前記ステップＳ２２に戻る。
「０.５」を「１.０」に変更した後で戻ったステップＳ
２２では、図７に示すように各スライスのＸ線管電流が
計算される。そして、ステップＳ２３で記憶が更新され
る。続いて、ステップＳ２４では、図７の電流値を記憶
しているから、スライス番号「１」または「４」のスラ
イスのＸ線管電流「２００」が最も大きいので、番号の
若いスライス番号「１」のスキャン時間「０.５」を
「１.０」に変更する。これでも撮影時間要求を満足す
るので、再び前記ステップＳ２２に戻る。
【００２７】図７のスライス番号「１」のスキャン時間
「０.５」を「１.０」に変更した後で戻ったステップＳ
２２では、スライス番号「１」のＸ線管電流が「１０
０」になる。そして、ステップＳ２３で記憶が更新され
る。続いて、ステップＳ２４では、スライス番号「４」
のスライスのＸ線管電流「２００」が最も大きいので、
スライス番号「４」のスキャン時間「０.５」を「１.
０」に変更する。すると、撮影時間は「４.０（＝１.０
＋１.０＋１.０＋１.０）」秒なので、撮影時間要求を
満足する。よって、再び前記ステップＳ２２に戻る。
「０.５」を「１.０」に変更した後で戻ったステップＳ
２２では、スライス番号「１」のＸ線管電流が「１０
０」になる。そして、ステップＳ２３で記憶が更新され
る。続いて、ステップＳ２４では、スライス番号「４」
のスライスのＸ線管電流「２００」が最も大きいので、
スライス番号「４」のスキャン時間「０.５」を「１.
０」に変更する。すると、撮影時間は「４.０（＝１.０
＋１.０＋１.０＋１.０）」秒なので、撮影時間要求を
満足する。よって、再び前記ステップＳ２２に戻る。
【００２８】スライス番号「４」のスキャン時間「０.
５」を「１.０」に変更した後で戻ったステップＳ２２
では、図８に示すように各スライスのＸ線管電流が計算
される。そして、ステップＳ２３で記憶が更新される。
続いて、ステップＳ２４では、スライス番号「２」また
は「３」のスライスのＸ線管電流「２００」が最も大き
いので、番号の若いスライス番号「２」のスキャン時間
「１.０」を「１.５」に変更する。すると、撮影時間は
「４.５（＝１.０＋１.５＋１.０＋１.０）」秒なの
で、撮影時間要求を満足しなくなる。よって、ステップ
Ｓ２６へ進む。
５」を「１.０」に変更した後で戻ったステップＳ２２
では、図８に示すように各スライスのＸ線管電流が計算
される。そして、ステップＳ２３で記憶が更新される。
続いて、ステップＳ２４では、スライス番号「２」また
は「３」のスライスのＸ線管電流「２００」が最も大き
いので、番号の若いスライス番号「２」のスキャン時間
「１.０」を「１.５」に変更する。すると、撮影時間は
「４.５（＝１.０＋１.５＋１.０＋１.０）」秒なの
で、撮影時間要求を満足しなくなる。よって、ステップ
Ｓ２６へ進む。
【００２９】ステップＳ２６では、記憶していたスキャ
ン時間とＸ線管電流を設定し、スキャン時間最適化処理
を終了する。
ン時間とＸ線管電流を設定し、スキャン時間最適化処理
を終了する。
【００３０】以上のＸ線ＣＴ装置１００によれば、必要
なＸ線量を満足するスキャン時間およびＸ線管電流の組
合せのうちで、撮影時間（スループット）要求を満たし
うる最も長いスキャン時間を設定するので、それに対応
してＸ線管電流は小さくなる。よって、スキャン時間に
「最短時間」を設定した場合に比べて、Ｘ線管２１の発
熱が小さくなり、クーリングのためのスキャン停止が少
なくなる。従って、スキャン時間に「最短時間」を設定
したためにかえって撮影時間が長くなってしまう（スル
ープットが下がってしまう）といったことが防止され
る。
なＸ線量を満足するスキャン時間およびＸ線管電流の組
合せのうちで、撮影時間（スループット）要求を満たし
うる最も長いスキャン時間を設定するので、それに対応
してＸ線管電流は小さくなる。よって、スキャン時間に
「最短時間」を設定した場合に比べて、Ｘ線管２１の発
熱が小さくなり、クーリングのためのスキャン停止が少
なくなる。従って、スキャン時間に「最短時間」を設定
したためにかえって撮影時間が長くなってしまう（スル
ープットが下がってしまう）といったことが防止され
る。
【００３１】
【発明の効果】本発明のスキャン条件設定方法およびＸ
線ＣＴ装置によれば、撮影時間要求またはスループット
要求を満たしつつ、Ｘ線管球の高出力使用を抑制するこ
とが出来る。
線ＣＴ装置によれば、撮影時間要求またはスループット
要求を満たしつつ、Ｘ線管球の高出力使用を抑制するこ
とが出来る。
【図１】本発明の一実施形態に係るＸ線ＣＴ装置のブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】図１のＸ線ＣＴ装置によるスキャン条件設定処
理の動作を示すフロー図である。
理の動作を示すフロー図である。
【図３】図１のＸ線ＣＴ装置によるスキャン時間最適化
処理の動作を示すフロー図である。
処理の動作を示すフロー図である。
【図４】算出された各スライスのＸ線量を示す図表であ
る。
る。
【図５】各スライスに「最短時間」を設定した場合のＸ
線管電流を示す図表である。
線管電流を示す図表である。
【図６】スライス番号「２」のスライスのスキャン時間
を長くした場合のＸ線管電流を示す図表である。
を長くした場合のＸ線管電流を示す図表である。
【図７】スライス番号「３」のスライスのスキャン時間
を長くした場合のＸ線管電流を示す図表である。
を長くした場合のＸ線管電流を示す図表である。
【図８】最適に設定された各スライスのスキャン時間を
示す図表である。
示す図表である。
【図９】従来のＸ線ＣＴ装置によるスキャン条件設定処
理の動作を示すフロー図である。
理の動作を示すフロー図である。
１ 操作コンソール ２ 入力装置 ３ 中央処理装置 ４ 制御インタフェース ５ データ収集バッファ ６ ＣＲＴ ７ 記憶装置 １０ 撮影テーブル １２ クレードル ２０ 走査ガントリ ２４ Ｘ線検出器 １００ Ｘ線ＣＴ装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 4C092 AA01 AB11 AB13 AC17 CC02 CC11 CD03 CD04 CE01 CF06 CF25 4C093 AA22 BA03 BA10 CA18 CA31 FA18 FA52 FA59
Claims (2)
- 【請求項１】 撮影する部位を予備スキャンして予備デ
ータを取得し、その予備データに基づいてＸ線量を算出
し、そのＸ線量を満足するスキャン時間およびＸ線管電
流の組合せのうちで撮影時間要求またはスループット要
求を満たしうる最も長いスキャン時間およびＸ線管電流
の組合せをスキャン条件として設定することを特徴とす
るＸ線ＣＴ装置のスキャン条件設定方法。 - 【請求項２】 Ｘ線管または検出器の少なくとも一方を
回転させると共にそれらＸ線管または検出器に対して被
検体を相対的に直線移動しながらデータを収集しうるＸ
線ＣＴ装置において、 撮影する部位を予備スキャンして予備データを取得する
予備データ取得手段と、その予備データに基づいてＸ線
量を算出するＸ線量算出手段と、前記Ｘ線量を満足する
スキャン時間およびＸ線管電流の組合せのうちで撮影時
間要求またはスループット要求を満たしうる最も長いス
キャン時間およびＸ線管電流の組合せを設定するスキャ
ン時間・Ｘ線管電流設定手段とを具備したことを特徴と
するＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000064103A JP4498525B2 (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | スキャン条件設定方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000064103A JP4498525B2 (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | スキャン条件設定方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001252267A true JP2001252267A (ja) | 2001-09-18 |
| JP4498525B2 JP4498525B2 (ja) | 2010-07-07 |
Family
ID=18583857
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000064103A Expired - Fee Related JP4498525B2 (ja) | 2000-03-08 | 2000-03-08 | スキャン条件設定方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4498525B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009131564A (ja) * | 2007-12-03 | 2009-06-18 | Aloka Co Ltd | Ｘ線測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62152435A (ja) * | 1985-12-25 | 1987-07-07 | 横河メディカルシステム株式会社 | 自動較正機能を備えたｘ線断層撮影装置 |
| JPH04122246A (ja) * | 1990-09-14 | 1992-04-22 | Toshiba Corp | Ｃｔ装置 |
-
2000
- 2000-03-08 JP JP2000064103A patent/JP4498525B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| JPS62152435A (ja) * | 1985-12-25 | 1987-07-07 | 横河メディカルシステム株式会社 | 自動較正機能を備えたｘ線断層撮影装置 |
| JPH04122246A (ja) * | 1990-09-14 | 1992-04-22 | Toshiba Corp | Ｃｔ装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009131564A (ja) * | 2007-12-03 | 2009-06-18 | Aloka Co Ltd | Ｘ線測定装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4498525B2 (ja) | 2010-07-07 |
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