JP2001250292A

JP2001250292A - 記憶装置及び記録媒体

Info

Publication number: JP2001250292A
Application number: JP2000060286A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Enami; 裕幸枝並; Tetsuo Hosokawa; 哲夫細川
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2000-03-06
Filing date: 2000-03-06
Publication date: 2001-09-14

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明は記憶装置及び記録媒体に関し、位相補
正板の位相角を変えてＤＣインバランス量、若しくはＩ
Ｄクロストーク量を測定することで、複屈折が最適とな
る位相角を見つけ、その最適位相角の位相補正板によ
り、装置の複屈折のバラツキ、媒体の製造ロット毎のバ
ラツキによらず、常に最適なリード性能が得られるよう
にする。【解決手段】媒体６からの反射光の位相を任意に変化さ
せる位相補正手段（位相補正板群２０、モータ１５等を
含む）により、媒体６からの反射光の位相角を変えなが
らＭＯ信号を取り出し、ＤＣインバランス量、若しくは
ＩＤクロストーク量を測定する測定手段と、測定したデ
ータを基に最適位相角を探し媒体からのリード時に最適
な位相角を使用して最適リード性能が得られるように制
御を行う手段を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光源から発
したレーザ光を通過させて媒体の記録面に焦点を合わ
せ、該媒体にレーザビームを照射すると共に、媒体から
の反射光を通過させ分離することで、ディテクタを介し
てＭＯ信号を取り出す光学系を有する光学ヘッド部と、
媒体に対し磁界を印加し、前記光学ヘッド部を介してレ
ーザビームを照射することで、媒体に対するライト／リ
ード制御を行う制御部を備えた光磁気ディスク装置等の
記憶装置及び記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】以下、図に基づいて従来例を説明する。

【０００３】§１：光磁気ディスク装置の光学系の説明図１１は光磁気ディスク装置の光学系概略図である。ま
た、図１２は処理説明図（その１）であり、Ａ図は位相
の説明図（、、は各ベクトル図）である。光磁気
ディスク装置の光学ヘッド部の光学系には、レーザ光源
（例えば、半導体レーザ）１と、コリメータレンズ２
と、ビームスプリッタ３と、立上ミラー４と、対物レン
ズ５と、ビームスプリッタ７と、波長板８と、偏光ビー
ムスプリッタ９と、ディテクタ１０、１１と、プリアン
プ１２等を備えている。

【０００４】そして、前記光学ヘッド部の光学系を使用
し、媒体６に対してレーザ光源１からのレーザ光を照射
すると共に、前記レーザ光を照射後、媒体６から反射し
た反射光を取り出すようになっている。媒体６からデー
タをリードする場合、レーザ光源１から発したレーザ光
は、コリメータレンズ２を透過し、偏光面が揃えられ、
ビームスプリッタ３を通り、立上ミラー４により、媒体
６へと向かう。

【０００５】その後、レーザ光は対物レンズ５を通り媒
体６へ向かうが、この対物レンズ５は、媒体６に向かっ
た光を媒体６の記録面上に焦点を結ばせる働きをする。
この場合、媒体６の磁場によりカー効果で偏光面が変え
られた光は、対物レンズ５→立上ミラー４→ビームスプ
リッタ３を通り、ビームスプリッタ７へと向かう。

【０００６】ビームスプリッタ７では、トラック／フォ
ーカス制御を行うためのサーボ系の光学系と、媒体６に
書かれた信号を読み取る光学系へと２つに分かれ、媒体
６に書かれた信号を読み取る光学系では、波長板８によ
り、光の偏光面を＋４５°回転させて（詳細は後述す
る）、偏光ビームスプリッタ９で光を分割する。

【０００７】ディテクタ１０、１１では、その２つの光
を電気信号に変える。その電気信号をプリアンプ１２で
差動増幅すると、ＭＯ（Magneto Optics）信号が読み取
れる。そして、ＭＯ信号を復調することでリードデータ
が得られる。

【０００８】なお、前記「光の偏光面を＋４５°回転さ
せて」の部分は、次の通りである。図１２のＡ図の、
、において、それぞれ、縦軸は縦波（「Ｓ波」とい
う）、横軸は横波（「Ｐ波」という）を示す。

【０００９】前記のように、レーザ光源１から発せられ
たレーザ光は、コリメータレンズ２で位相が揃えられる
ことで、完全な横波（Ｐ波）となる。これはベクトルで
示すと、図１２のＡ図のに示したようになる（図の矢
印がベクトル）。そして、媒体６に記録された信号は、
媒体６上に磁界の向きで記録されており、レーザ光は、
図１２のＡ図のに示したように、媒体６の磁界に影響
され（カー効果）、位相が回転（ＭＯの場合、約３°回
転）する。

【００１０】そして、図１２のＡ図の図に示したよう
に、波長板８で位相を＋４５°回転させ、偏光ビームス
プリッタ９でＰ波、Ｓ波の各成分に分けて、「１」、
「０」の判別をする（ＭＯの場合）。

【００１１】§２：媒体とＺＣＡＶの説明図１２のＢ図はＺＣＡＶの説明図であり、は媒体平面
図、は媒体の一部拡大図である。ＺＣＡＶ（Zoned Co
nstant Angular Velocity ）は、媒体を内側と外側の２
つのゾーンに分割して、媒体の１周当たり内側には２セ
クタ、外側には３セクタ分のセクタを作ることで、内側
と外側の記憶密度を近づけ、記憶容量を増やす方法であ
る。なお、ＺＣＡＶでは、ＣＬＶ（Constant Linear Ve
locity）と同様に、回転速度を一定にした場合、内側と
外側では、データの記録再生周波数が異なるため、内周
と外周では、転送速度が変わる。

【００１２】前記ＺＣＡＶの場合、各ゾーンの線速度を
一定にするため、図１２のＢ図に示したように、物理セ
クタが０の位置以外、隣接ＩＤが一致する箇所はない。
よって、例えば、ｎゾーンのｎ＋１ゾーンのぎりぎりの
位置（媒体６の半径方向の中心部寄り）をリードした場
合、ｎ＋１ゾーンのＩＤが見えてしまう。

【００１３】ＩＤは、記録された情報と違って、ピット
（溝）で構成されており、記録された情報より電圧レベ
ルとして高いレベルである。逆に、ｎ＋１ゾーンのｎゾ
ーン側をリードすると、ｎゾーンのＩＤにより電圧変動
が発生する。この現象を「ＩＤクロストーク」と呼ぶ。
なお、このＩＤクロストークは、ＳＭ（セクタマー
ク）、ＩＤ（番地情報）、ＶＦＯ、その他、媒体情報等
の隣接トラックの溝情報による影響である。

【００１４】§３：特性の説明図１３は処理説明図（その２）であり、Ａ図はＩＤクロ
ストークのエンベロープ、Ｂ図はＡＣインバランスのエ
ンベロープを示す。また、図１４は処理説明図（その
３）であり、Ａ図はＤＣインバランスのエンベロープ、
Ｂ図は位相補正板と、ＤＣインバランス量、ＡＣインバ
ランス量、ＩＤクロストーク量の相関例を示す図であ
る。なお、ライトパターン（Write パターン）は、いず
れの図も２Ｔ連続（詳細は後述する）の場合である。

【００１５】前記ＺＣＡＶでは、ＩＤが隣接ゾーンと一
致しないため、ゾーン境界では、図１３のＡ図のよう
に、ＩＤクロストークが見られる。この場合、ＩＤクロ
ストーク量は、「ＩＤクロストーク量＝変動量／ＭＯ振
幅」の式で表される。また、各セクタには、図１３のＢ
図に示したように、ＭＯ振幅の乱れが発生し、ＡＣイン
バランスと呼ばれている。この場合、ＡＣインバランス
量は、「ＡＣインバランス量＝変動量／ＭＯ振幅」の式
で表される。

【００１６】１周ＭＯ波形（媒体６のトラック１周分を
リードした際に得られるＭＯ信号の波形）では、図１４
のＡ図に示したように、１周の波形乱れが発生し、ＤＣ
インバランスと呼ばれており、ＤＣインバランス量は、
ＤＣインバランス量＝変動量／ＭＯ振幅」の式で表され
る。このＩＤクロストーク、ＡＣインバランス、ＤＣイ
ンバランスは、媒体の複屈折による影響によるものであ
り、この数値が大きいとリード性能に影響する。なお、
ＩＤクロストーク量、ＡＣインバランス量、ＤＣインバ
ランス量は、前記のように、それぞれの電圧を、ＭＯ振
幅で割ったもの（前記の式を参照）と規定する。

【００１７】§４：その他の説明 (1) ：「Write パターン２Ｔ連続」の説明図１５は処理説明図（その４）であり、Ａ図は説明図
１、Ｂ図は説明図２、Ｃ図は説明図３を示す。最近のＭ
Ｏではエッジ変調を用いている。このため、図１５のＡ
図に示したように、エッジ部分で「１」、その他の部分
で「０」となる信号を用いる。この信号を、ＭＯの場
合、「１バイ７」で復調している。

【００１８】前記「１」又は「０」が、読み取り周波数
の２周期分に相当する信号であり、ＭＯの場合、２Ｔ〜
８Ｔ（Ｔ：周期）まである。つまり、最高周波の信号で
ある。なぜ、それがベストかというと、「ランダムな信
号」、「低周波の信号」は、インバランス、ＩＤクロス
トークのような電圧変動が見え難いためである。なお、
２Ｔ信号の電圧レベルと８Ｔの電圧レベルは、２倍以上
８Ｔ信号が大きい。

【００１９】(2) ：媒体の複屈折と、装置の複屈折の説
明複屈折は、材料により、方向によって屈折率が違うこと
により発生する。媒体の場合、主に、使用されている素
材はポリカーボネートであるが、複屈折の出易い素材で
あることが知られている。装置の場合、レンズやスプリ
ッタの材質により複屈折が発生する。装置の場合、素材
的に複屈折の小さいものを使用しているが、多段にレン
ズやスプリッタを透過するため、最終的には複屈折が大
きくなることがある。

【００２０】複屈折について説明すると、図１５のＣ図
に示すように、ＭＯで使用する光は、理想的には直線偏
向であり、図１５のＣ図ののようなベクトル（図の矢
印で示された部分がベクトル）で表される。これに対し
ｘ方向（進相軸）よりｙ方向（遅相軸）が数度遅れる材
質を透過すると、図１５のＣ図ののように、楕円偏向
となってしまう。この現象を複屈折と呼んでいる。

【００２１】(3) ：その他の従来例の説明その他の従来例として、位相補正板を回転させ、再生光
の進相軸と補正板の遅相軸を合わせ位相補正を行う方法
（特開平８−２２１８３８号公報参照）や、ソレイユ・
バビネ板により位相補正を行う方法（特開平８−２９７
８８３号公報参照）も知られている。

【００２２】

【発明が解決しようとする課題】前記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。

【００２３】(1) ：ところで、従来は、ＩＤクロストー
ク、ＡＣインバランス、ＤＣインバランスを抑制するた
め、装置の複屈折を測定し、複屈折がキャンセルされる
ように位相補正板を光路に入れて複屈折を抑制すること
しかしていなかった。しかしながら、装置の光学系の特
性バラツキだけでなく、媒体６のロットのバラツキと内
周、外周などの面内バラツキが存在するため、最適な複
屈折の改善にはならなかった。

【００２４】(2) ：図１４のＢ図は、図２のビームスプ
リッタ３、７に位相補正板の位相角を変えてプロットし
た例である。このグラフのように、位相補正板の位相角
を変えてＩＤクロストーク量、ＤＣインバランス量が最
小となる点、つまり、最適位相角、複屈折を最適に抑制
する位相補正板の位相角を見つけることは可能である。
しかし、ＡＣインバランスの場合、変化量が小さく最適
点を見つけるには適さない。

【００２５】(3) ：また、装置自体には、複屈折を測定
する機能を取り付けることは非常に難しい。更に、隣接
トラックデータからの漏れ込みであるクロストークによ
り位相角を制御する方法も考えられているが、クロスト
ークを測定するためには測定トラック以外にも隣接トラ
ックに信号を書かなければならず複雑になってしまう。
また、ＭＯ振幅、Ｃ／Ｎ（キャリア信号対ノイズ比）に
より位相角を制御する方法も考えられているが、この方
法は、Ｃ／Ｎが複屈折以外の膜の組成、媒体のＴＩＬＴ
などの影響を受けてしまい現実的ではない。

【００２６】(4) ：前記位相補正板を回転させ、再生光
の進相軸と補正板の遅相軸を合わせ位相補正を行う方法
（特開平８−２２１８３８号公報参照）では、再生光と
位相補正板の位相角の選択が難しい。更に、ソレイユ・
バビネ板により位相補正を行う方法（特開平８−２９７
８８３号公報参照）では、高価で大型化を招いてしまう
ため、現実的ではない。

【００２７】そこで、本発明では、このような従来の課
題を解決し、装置自体にＤＣインバランス量やＩＤクロ
ストーク量を測定する機能を持たせると共に、位相補正
板の位相角を変える機能を持たせることにより、位相補
正板の位相角を変えてＤＣインバランス量、若しくはＩ
Ｄクロストーク量を測定することで、複屈折が最適とな
る位相角を見つけ、その最適位相角の位相補正板によ
り、装置の複屈折のバラツキ、媒体の製造ロット毎のバ
ラツキによらず、常に最適なリード性能が得られるよう
にすることを目的としたものである。

【００２８】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。図１において、１はレーザ光源、３、７はビ
ームスプリッタ、９は偏光ビームスプリッタ、１０、１
１はディテクタ、１２はプリアンプ、１５はモータ、１
９は遮蔽板、２０は位相補正板群、２７はＣＰＵ、２８
はメモリ、２９はライト部、３０はリード部、３２はＤ
Ｃインバランス／ＩＤクロストーク測定回路、３７はＶ
ＣＭ／ＡＧＣドライバ、３８はＳＰモータドライバ、４
０は位相補正用モータドライバ、４１はコントローラ、
２４はホストを示す。本発明は前記の目的を達成するた
め、次のように構成した。

【００２９】(1) ：レーザ光源１から発したレーザ光を
通過させて媒体６の記録面に焦点を合わせ、該媒体６に
レーザ光を照射すると共に、媒体６からの反射光を通過
させ分離することで、ディテクタ１０、１１を介してＭ
Ｏ（ＭＯ：Magneto Optical）信号を取り出す光学系
（ビームスプリッタ３、７、立上ミラー４、偏光ビーム
スプリッタ９、ディテクタ１０、１１等）を有する光学
ヘッド部と、媒体６に磁界を印加し、前記光学ヘッド部
を介してレーザ光を照射することで、媒体６に対するラ
イト／リード制御を行う制御部を備えた記憶装置におい
て、媒体６からの反射光の位相角を任意に変化させる位
相補正手段を備えると共に、前記位相補正手段により、
媒体６からの反射光の位相角を変えながらＭＯ信号を取
り出し、前記ＭＯ信号からＤＣインバランス量を測定す
るＤＣインバランス測定手段、及び前記ＭＯ信号からＩ
Ｄクロストーク量を測定するＩＤクロストーク測定手段
の内、少なくとも、いずれか一方を含む測定手段と、前
記測定したデータを基に最適位相角を探し、媒体６から
のリード時に最適な位相角を使用して最適リード性能が
得られるように制御を行う位相角制御手段を備えてい
る。

【００３０】(2) ：前記(1) の記憶装置において、前記
位相補正手段は、位相角の異なる位相補正板を複数連結
した位相補正板群２０と、前記位相補正板群２０を駆動
し任意の位置へ移動させて位置決めすることで、光路上
に位置する位相補正板の位相角を任意に変化させる位相
補正板用駆動手段（モータ１５、位置決めセンサ、ベル
ト、位相補正用モータドライバ４０等）を備えている。

【００３１】(3) ：前記(1) の記憶装置において、ホス
ト２４からの診断コマンドに基づいて、前記ＤＣインバ
ランス測定手段及びＩＤクロストーク測定手段を起動し
て測定を行ない、測定結果のＤＣインバランス量及びＩ
Ｄクロストーク量をホスト２４に通知する測定制御手段
（ＣＰＵ２７、コントローラ４１等）を備えている。

【００３２】(4) ：前記(1) の記憶装置において、前記
ＤＣインバランス測定手段は、光学ヘッド部を所定のゾ
ーンのトラックへ移動させる第１の制御手段と、位相補
正板群２０を移動させて光路上の位相補正板を初期位置
に停止させ、前記所定のゾーンのトラック１周分にテス
ト信号を全面書き込んだ後、前記位相補正板を移動させ
て光路上の位相補正板を第１の位相角の位置で停止さ
せ、前記書き込んだ１周分のデータを読み出し、ＤＣイ
ンバランスの上限値、下限値を取り込み、演算して変動
量と振幅量を求め、これらの値からＤＣインバランス量
を算出してメモリ２８に格納する第２の制御手段と、前
記ゾーンを固定したまま、前記位相補正板を全ての位相
角の位置に順次移動させながら、前記第２の制御手段で
書き込んだ１周分のデータを読み出し、ＤＣインバラン
スの上限値、下限値を取り込み、演算して変動量と振幅
量を求め、これらの値からＤＣインバランス量を算出し
てメモリ２８に格納する第３の制御手段と、前記全ての
位相角について前記第３の制御手段の処理が終了した
ら、前記ゾーンを順次移動させながら、全てのゾーンに
ついて、各ゾーン毎に、前記第１〜第３の制御手段の処
理を行わせる第４の制御手段と、前記第４の制御手段
で、全てのゾーンについて処理が終了したら、各ゾーン
のＤＣインバランス量が最小となる位相補正板の位相角
を最適位相角として探し、メモリ２８に格納する第５の
制御手段を備えている。

【００３３】(5) ：前記(1) の記憶装置において、ＩＤ
クロストーク測定手段は、前記位相補正板群２０を初期
位置で停止させた状態で、媒体６の所定のゾーンのトラ
ック１周分を全面消去する第１の制御手段と、前記１周
分を全面消去後、測定するセクタを最初に測定するセク
タに設定し、位相補正板群２０を移動させて最初の測定
位相角の位置に合わせて停止させる第２の制御手段と、
前記測定するセクタを読み出し、そのデータからＩＤク
ロストークの上限値、下限値を取り込み、演算して変動
量を求め、メモリ２８に格納する第３の制御手段と、前
記測定するセクタにテスト信号を書き込み、これを読み
出すことで、ＭＯ信号の振幅の上限値、下限値を取り込
み、演算して振幅量を求め、メモリ２８に格納する第４
の制御手段と、前記位相角、セクタ、ゾーンの全ての組
み合わせについて処理が終了するまで、前記第１〜第４
の制御手段の処理を続行させる第５の制御手段と、全て
の位相角、セクタ、ゾーンの組み合わせについて前記処
理が終了したら、各ゾーンに対しての各セクタで最小と
なる位相補正板の位相角を最適位相角として求め、か
つ、各ゾーン毎にセクタの最適位相角の平均値を求めて
メモリ２８に格納する第６の制御手段を備えている。

【００３４】(6) ：記憶装置に、位相補正手段により、
媒体６からの反射光の位相角を変えながらＭＯ信号を取
り出し、前記ＭＯ信号からＤＣインバランス量を測定す
るＤＣインバランス測定手段、及び前記ＭＯ信号からＩ
Ｄクロストーク量を測定するＩＤクロストーク測定手段
の内、少なくとも、いずれか一方を含む測定手段と、前
記測定したデータを基に最適位相角を探し、媒体６から
のリード時に最適な位相角を使用して最適リード性能が
得られるように制御を行う位相角制御手段の機能を実現
するためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り
可能な記録媒体。

【００３５】（作用）前記構成に基づく本発明の作用
を、図１に基づいて説明する。

【００３６】(a) ：前記(1) では、位相補正手段は、媒
体６からの反射光の位相を任意に変化させ、ＤＣインバ
ランス測定手段は、媒体６からの反射光の位相角を変え
ながらＭＯ信号を取り出し、前記ＭＯ信号からＤＣイン
バランス量を測定し、ＩＤクロストーク測定手段は、媒
体６からの反射光の位相角を変えながらＭＯ信号を取り
出し、前記ＭＯ信号からＩＤクロストーク量を測定す
る。

【００３７】そして、位相角制御手段は、前記測定した
データを基に最適位相角を探し、媒体６からのリード時
に最適な位相角を使用して最適リード性能が得られるよ
うに制御を行う。

【００３８】このように、位相角を変えながらＤＣイン
バランス量を測定して最適な位相角を探し、この最適な
位相角をリード時に使用することで、常に、最適なリー
ド性能を得ることができる。この場合、装置自体の光学
系の複屈折、媒体の複屈折のバラツキによらず最適なリ
ード性能が得られる。また、媒体６の各ゾーン毎に最適
化しているので、媒体６の半径方向での複屈折の変化に
追従できる。

【００３９】また、位相角を変えながらＩＤクロストー
ク量を測定して最適な位相角を探し、この最適な位相角
をリード時に使用することで、常に、最適なリード性能
を得ることができる。この場合、装置自体の光学系の複
屈折、媒体の複屈折のバラツキによらず最適なリード性
能が得られる。また、媒体６の各ゾーン毎、セクタの平
均をとり、最適化しているので、媒体６の半径方向だけ
でなく、円周方向の複屈折の変化に追従できる。

【００４０】更に、前記複屈折をキャンセルする機能を
持っているため、複屈折の影響が大きく使用できなかっ
た内外周で、複屈折の影響がなくリードできるため、記
憶容量の拡大が期待できる。

【００４１】(b) ：前記(2) では、位相補正板用駆動手
段は、位相角の異なる位相補正板を複数連結した位相補
正板群２０と、前記位相補正板群２０を駆動し任意の位
置へ移動させて位置決めすることで、光路上に位置する
位相補正板の位相角を任意に変化させる。

【００４２】このようにすれば、簡単に光路上に位置す
る位相補正板の位相角を任意に変化させることができ
る。従って、前記ＤＣインバランス量やＩＤクロストー
ク量の測定が簡単に行なえる。

【００４３】(c) ：前記(3) では、測定制御手段は、ホ
スト２４からの診断コマンドに基づいて、ＤＣインバラ
ンス測定手段及びＩＤクロストーク測定手段を起動して
測定を行ない、測定結果のＤＣインバランス量及びＩＤ
クロストーク量をホスト２４に通知する。

【００４４】このようにすれば、記憶装置（例えば、光
磁気ディスク装置）の製造工程において、装置完成体の
状態で、ＤＣインバランス量、及びＩＤクロストーク量
の測定が可能となり、光学系の複屈折の悪い装置を振る
い落とすことができる。また、媒体製造工程において
も、該記憶装置を使用することで、ＤＣインバランス量
やＩＤクロストーク量が測定可能となり、光学系の複屈
折の悪い装置を振るい落とすことができる。更に、障害
解析の場合も、複屈折による影響かそうでないかが判断
でき、複屈折障害が、装置側に起因するのか、媒体側に
起因するのかが判別できる。

【００４５】(d) ：前記(4) では、ＤＣインバランス測
定手段の第１の制御手段は光学ヘッド部を所定のゾーン
のトラックへ移動させ、第２の制御手段は位相補正板群
２０を移動させて光路上の位相補正板を初期位置に停止
させ、前記所定のゾーンのトラック１周分にテスト信号
を全面書き込んだ後、前記位相補正板を移動させて光路
上の位相補正板を第１の位相角の位置で停止させ、前記
書き込んだ１周分のデータを読み出し、ＤＣインバラン
スの上限値、下限値を取り込み、演算して変動量と振幅
量を求め、これらの値からＤＣインバランス量を算出し
てメモリ２８に格納する。

【００４６】第３の制御手段は前記ゾーンを固定したま
ま、前記位相補正板を全ての位相角の位置に順次移動さ
せながら、第２の制御手段で書き込んだ１周分のデータ
を読み出し、ＤＣインバランスの上限値、下限値を取り
込み、演算して変動量と振幅量を求め、これらの値から
ＤＣインバランス量を算出してメモリ２８に格納する。

【００４７】第４の制御手段は前記全ての位相角につい
て前記第３の制御手段の処理が終了したら、前記ゾーン
を順次移動させながら、全てのゾーンについて、各ゾー
ン毎に、第１〜第３の制御手段の処理を行わせ、第５の
制御手段と、前記第４の制御手段で、全てのゾーンにつ
いて処理が終了したら、各ゾーンのＤＣインバランス量
が最小となる位相補正板の位相角を最適位相角として探
し、メモリ２８に格納する。

【００４８】このように、位相角を変えながらＤＣイン
バランス量を測定することができる。その結果、測定し
たデータから最適な位相角を探し、この最適な位相角を
リード時に使用することで、常に、最適なリード性能を
得ることができる。

【００４９】(e) ：前記(5) では、ＩＤクロストーク測
定手段の第１の制御手段は位相補正板群を初期位置で停
止させた状態で、媒体６の所定のゾーンのトラック１周
分を全面消去する。第２の制御手段は前記１周分を全面
消去後、測定するセクタを最初に測定するセクタに設定
し、位相補正板群２０を移動させて最初の測定位相角の
位置に合わせて停止させる。

【００５０】第３の制御手段は前記測定するセクタを読
み出し、そのデータからＩＤクロストークの上限値、下
限値を取り込み、演算して変動量を求め、メモリ２８に
格納する。第４の制御手段は前記測定するセクタにテス
ト信号を書き込み、これを読み出すことで、ＭＯ信号の
振幅の上限値、下限値を取り込み、演算して振幅量を求
め、メモリ２８に格納する。

【００５１】第５の制御手段は前記位相角、セクタ、ゾ
ーンの全ての組み合わせについて処理が終了するまで、
前記第１〜第４の制御手段の処理を続行させる。そし
て、第６の制御手段は、全ての位相角、セクタ、ゾーン
の組み合わせについて前記処理が終了したら、各ゾーン
に対しての各セクタで最小となる位相補正板の位相角を
最適位相角として求め、かつ、各ゾーン毎にセクタの最
適位相角の平均値を求めてメモリ２８に格納する。

【００５２】このようにすれば、位相角を変えながらＩ
Ｄクロストーク量を測定することができる。その結果、
測定したデータから最適な位相角を探し、この最適な位
相角をリード時に使用することで、常に、最適なリード
性能を得ることができる。

【００５３】(f) ：前記(6) では、記憶装置が記録媒体
に記録されているプログラムを読み出して実行すること
により、媒体６からの反射光の位相角を変えながらＭＯ
信号を取り出し、前記ＭＯ信号からＤＣインバランス量
を測定する手順と、媒体６からの反射光の位相角を変え
ながらＭＯ信号を取り出し、前記ＭＯ信号からＩＤクロ
ストーク量を測定する手順と、前記測定したデータを基
に最適位相角を探し、媒体からのリード時に最適な位相
角を使用して最適リード性能が得られるように制御を行
う手順とを実行する。

【００５４】このように、位相角を変えながらＤＣイン
バランス量を測定して最適な位相角を探し、この最適な
位相角をリード時に使用することで、常に、最適なリー
ド性能を得ることができる。この場合、装置自体の光学
系の複屈折、媒体の複屈折のバラツキによらず最適なリ
ード性能が得られる。また、媒体６の各ゾーン毎に最適
化しているので、媒体６の半径方向での複屈折の変化に
追従できる。

【００５５】また、位相角を変えながらＩＤクロストー
ク量を測定して最適な位相角を探し、この最適な位相角
をリード時に使用することで、常に、最適なリード性能
を得ることができる。この場合、装置自体の光学系の複
屈折、媒体の複屈折のバラツキによらず最適なリード性
能が得られる。また、媒体６の各ゾーン毎、セクタの平
均をとり、最適化しているので、媒体６の半径方向だけ
でなく、円周方向の複屈折の変化に追従できる。

【００５６】更に、前記複屈折をキャンセルする機能を
持っているため、複屈折の影響が大きく使用できなかっ
た内外周で、複屈折の影響がなくリードできるため、記
憶容量の拡大が期待できる。

【００５７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。なお、以下の例は、光磁気
ディスク装置の例（前記記憶装置の具体例）であり、媒
体の記録方式としてＺＣＡＶ方式を採用した例である。

【００５８】§１：本実施の形態の概要の説明本実施の形態は、光磁気ディスク装置自体に、ＤＣイン
バランス量及びＩＤクロストーク量の内、少なくとも、
いずれか一方（両方でも良い）を測定する機能を持た
せ、かつ、光学ヘッド部内の光路上の位相補正板の位相
角を任意に変える機能を持たせることにより、光路上の
位相補正板の位相角を変えてＤＣインバランス量及びＩ
Ｄクロストーク量を測定し、複屈折が最適となる位相角
を見つけ、その最適位相角の位相補正板を用いることに
より、装置の複屈折のバラツキ、媒体の製造ロット毎の
バラツキによらず、常に最適なリード性能が得られるよ
うにしたものである。

【００５９】なお、従来の課題を解決するのに、隣接ト
ラックからの漏れ込みであるクロストークにより位相角
を制御する方法も考えられるが、クロストークを測定す
るためには、測定トラック以外にも隣接トラックに信号
を書かなければならず処理が複雑になってしまう。ま
た、ＭＯ振幅、Ｃ／Ｎ（キャリア信号対ノイズ比）によ
り位相角を制御する方法も考えられるが、Ｃ／Ｎが複屈
折以外の膜の組成、媒体のＴＩＬＴなどの影響を受けて
しまい現実的ではない。

【００６０】その点、ＤＣインバランス量やＩＤクロス
トーク量では、測定トラックに信号を書き込むだけで測
定可能であるため、処理が容易であり、かつ、複屈折と
の相関があり正確である。従って、本発明では、ＩＤク
ロストーク、ＤＣインバランスの振幅の変化があり、Ｔ
ＩＬＴなどのＭＯ振幅の変動をキャンセルするためにＤ
Ｃインバランス量とＩＤクロストーク量を用いる。

【００６１】また、媒体の素材の位置により複屈折は変
化する。例えば、ポリカーボネート樹脂を素材とした媒
体は複屈折は大きいが、ＡＰＳ系樹脂は複屈折が小さ
い。更に、媒体の成形条件により、内外周の複屈折が急
激に変化し悪くなることが知られている。よって、最適
な位相角の位相板を各ゾーン毎に設定すれば、媒体素材
による複屈折による影響がキャンセルされ、素材による
影響が少なくなる。

【００６２】また、複屈折の増加により使用出来なかっ
た内外周での影響が少なくなり、記憶容量の増加が期待
できる。ところで、最近の光磁気ディスク媒体では、各
ゾーンにライトエリアが設けられており、各ゾーンの詳
細な設定が可能となっていて、環境も整っており、実
際、テストライトエリアに信号を書き込み、ライトパワ
ー、リードパワー、磁界の設定を行っている。

【００６３】§２：光磁気ディスク装置の光学系の説明
・・・図２参照図２は光学系の説明図であり、Ａ図は光学系の構成図、
Ｂ図は位相補正板群の拡大図である。図２のＡ図に示し
たように、光磁気ディスク装置の光学ヘッド部を構成す
る光学系には、レーザ光源（例えば、半導体レーザ）１
と、コリメータレンズ２と、ビームスプリッタ３と、立
上ミラー４と、対物レンズ５と、ビームスプリッタ７
と、波長板８と、偏光ビームスプリッタ９と、ディテク
タ１０、１１と、プリアンプ１２等を備えている。

【００６４】そして、前記光学系を有する光学ヘッド部
を使用し、媒体６に対してレーザ光源１からのレーザビ
ームを照射すると共に、前記レーザビーム照射後、該媒
体６から反射した反射光を取り出すようになっている。
前記媒体６からデータをリードする場合、レーザ光源１
から発したレーザ光は、コリメータレンズ２を透過した
際、偏光面が揃えられ、ビームスプリッタ３を通り、立
上ミラー４により、媒体６へと向かう。

【００６５】その後、レーザ光は対物レンズ５を通り媒
体６へ向かうが、この対物レンズ５は、媒体６に向かっ
た光を媒体６の面で焦点を結ばせる働きをする。この場
合、媒体６の磁場によりカー効果で偏光面が変えられた
光は、対物レンズ５→立上ミラー４→ビームスプリッタ
３を通り、ビームスプリッタ７に向かう。

【００６６】ビームスプリッタ７では、トラック／フォ
ーカス制御を行うためのサーボ系の光学系と、媒体６に
書かれた信号を読み取る光学系へと、２つに分かれ、媒
体６に書かれた信号を読み取る光学系では、波長板８に
より、光の偏光面を＋４５°回転させて（詳細は後述す
る）、偏光ビームスプリッタ９で、光を分割する。

【００６７】ディテクタ１０、１１では、その２つの光
を電気信号に変える。その電気信号をプリアンプ１２で
差動増幅すると、ＭＯ（Magneto Optics）の信号が読み
取れる。そして、ＭＯ信号を復調してリードデータが得
られる。

【００６８】このような光学系において、ビームスプリ
ッタ３からビームスプリッタ７へ向かう光路上（媒体６
からの反射光の光路上）に、位相補正板群２０を設け、
該位相補正板群２０に取り付けたベルト１７とモータ１
５とリム１６により、位相補正板群２０を移動可能に構
成したものである。また、位置決めセンサ１８と遮蔽板
１９は、位相補正板群２０の位置を把握するために設け
たものである。

【００６９】この場合、位相補正板群２０と、該位相補
正板群２０の片端に取り付けられた遮蔽板１９はベルト
１７に固定されていて、モータ１５の回転により移動で
きるようになっている。また、位置決めセンサ１８は前
記ベルト１７とは分離されていて、発光部と受光部から
なり、前記発光部と受光部の間に、遮蔽板１９が通過で
きるようになっている。

【００７０】そして、前記発光部と受光部の間に、遮蔽
板１９が入っていなければ、発光部からの光が受光部で
受光され、前記発光部と受光部の間に、遮蔽板１９が挿
入されていれば、発光部からの光が遮蔽板１９で遮蔽さ
れ、受光部で受光されない。このような状態は、受光部
が光信号を電気信号に変換し、この電気信号を光磁気デ
ィスクの制御部へ送っていて、該制御部で認識できるよ
うになっている。

【００７１】前記位相補正板群２０は、図２のＢ図に示
したように、位相補正板の角度を変えたものを複数連結
したものであり、モータ１５を回転することにより、光
路上に位置する位相補正板の位相が変えられるようにな
っている。この場合、前記位相補正板群２０の各位相補
正板は、図の縦方向が進相軸、横方向が遅相軸となって
いる。

【００７２】そして、図の左側から右方向へ向けて、各
位相補正板の位相角は、＋１０度、＋９度、＋８度・・
・０度、−１度、−２度・・・−１０度の順に並んでい
る。従って、この位相補正板群２０を任意の位置へ移動
させれば、光路上に配置された位相補正板の位相角が任
意に変えられる。

【００７３】 §３：光磁気ディスク装置の説明・・・図３参照図３は光磁気ディスク装置のブロック図である。光磁気
ディスク装置には、ホスト２４との間のＳＣＳＩインタ
ーフェイス制御を行うＳＣＳＩインターフェイス部（Ｓ
ＣＳＩ−Ｉ／Ｆ）２５と、ＯＤＣ（光磁気ディスクコン
トローラ）とＳＣＳＩの制御を行うための制御手段を含
むＯＤＣ−ＳＣＳＩコントローラ２６と、装置全体の制
御を行うＣＰＵ２７と、ＣＰＵ２７等がアクセスするメ
モリ２８と、媒体６にデータを書き込む際の制御を行う
ライト部２９と、媒体６からデータを読み出す際の制御
を行うリード部３０と、各種ドライバを駆動制御するＤ
ＳＰコントローラ３１と、ＤＣインバランス測定回路及
びＩＤクロストーク測定回路を含むＤＣインバランス／
ＩＤクロストーク測定回路３２と、光学ヘッド部３５
と、プリアンプ及びサーボＡＧＣを含むプリアンプ／サ
ーボＡＧＣ３６と、ＶＣＭ（ボイスコイルモータ）及び
ＡＧＣ（自動ゲインコントローラ）をドライブするＶＣ
Ｍ／ＡＧＣドライバ３７と、スピンドルモータを駆動す
るＳＰモータドライバ３８と、媒体（光磁気ディスク）
６のロード及びイジェクト制御を行うロード／イジェク
トドライバ３９と、モータ１５を駆動する位相補正用モ
ータドライバ４０等を備えている。

【００７４】そして、光磁気ディスク装置の運用時に
は、ＳＣＳＩケーブルを介して前記ＳＣＳＩ−Ｉ／Ｆ２
５とホスト２４が接続される。この光磁気ディスク装置
において、ＤＣインバランス測定回路及びＩＤクロスト
ーク測定回路で測定を行う場合、先ず、ホスト２４が光
磁気ディスク装置に対して診断コマンドを発行する。

【００７５】そして、前記診断コマンドは、ＳＣＳＩ−
Ｉ／Ｆ２５、ＯＤＣ−ＳＣＳＩコントローラ２６を介し
てＣＰＵ２７が受領し、該ＣＰＵ２７が前記診断コマン
ドを解析し、その結果によりＤＣインバランス／ＩＤク
ロストーク測定回路３２を起動し制御する。

【００７６】このようにして、ＤＣインバランス／ＩＤ
クロストーク測定回路３２により測定したＤＣインバラ
ンス量及びＩＤクロストーク量は、ＣＰＵ２７の制御に
よりメモリ２８に格納され、その後、ＣＰＵ２７は前記
ＤＣインバランス量及びＩＤクロストーク量をホスト２
４に通知する。

【００７７】また、ＣＰＵ２７の指示に基づき、ＤＳＰ
コントローラ３１からの制御信号により位相補正用モー
タドライバ４０が動作し、この位相補正用モータドライ
バ４０により位相補正板群２０を駆動するモータ１５が
駆動される。そして、モータ１５の回転により、位相補
正板群２０がベルト１７を介して移動され、位置決めセ
ンサ１８からの検出信号を基に、光路上の位相補正板を
位置決めするようになっている。

【００７８】この場合、前記位置決めセンサ１８の検出
信号は、図示しない経路で、前記ＤＳＰコントローラ３
１へ送られるようになっており、ＤＳＰコントローラ３
１では、この位置決めセンサ１８からの検出信号を基
に、モータ１５の駆動制御を行ない、位相補正板群２０
の停止制御を行うようになっている。

【００７９】§４：光磁気ディスク装置におけるＤＣイ
ンバランス測定回路の説明・・・図４参照 (1) ：構成の説明図４はＤＣインバランス測定回路のブロック図である。
前記ＤＣインバランス／ＩＤクロストーク測定回路３２
内には、図４に示した構成のＤＣインバランス測定回路
が含まれている。

【００８０】このＤＣインバランス測定回路には、ＭＯ
信号の低域成分を通過させるローパスフィルタ５１と、
ローパスフィルタ５１を通過した信号のピーク値を保持
するピークホールド回路５２と、ピークホールド回路５
２で保持されたアナログ信号をディジタル信号に変換す
るＡ／Ｄコンバータ５３と、Ａ／Ｄコンバータ５３でデ
ィジタル化された信号（ディジタルデータ）をラッチす
るデータラッチ回路５４と、ローパスフィルタ５１を通
過した信号を反転させる反転回路５５と、反転回路５５
で反転（波形の＋側と−側が反転）された信号のピーク
値を保持するピークホールド回路５６と、ピークホール
ド回路５６で保持されたアナログ信号をディジタル信号
に変換するＡ／Ｄコンバータ５７と、Ａ／Ｄコンバータ
５７でディジタル化されたデータをラッチするデータラ
ッチ回路５８と、物理トラックスタート信号を所定時間
遅延させるディレイ回路５９と、チップセレクトを行う
チップセレクト回路６０と、ＭＯ信号の高域成分を通過
させるハイパスフィルタ６１と、ハイパスフィルタ６１
を通過した信号のピーク値を高速で保持する高速ピーク
ホールド回路６２と、高速ピークホールド回路６２で保
持されたアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／
Ｄコンバータ６３と、Ａ／Ｄコンバータ６３でディジタ
ル化された信号（ディジタルデータ）をラッチするデー
タラッチ回路６４と、ハイパスフィルタ６１を通過した
信号を反転させる反転回路６５と、反転回路６５で反転
された信号のピーク値を高速で保持する高速ピークホー
ルド回路６６と、高速ピークホールド回路６６で保持さ
れているアナログ信号をディジタル化するＡ／Ｄコンバ
ータ６７と、Ａ／Ｄコンバータ６７で変換されたディジ
タルデータをラッチするデータラッチ回路６８と、ＭＯ
ゲート信号により作動するタイマ回路６９を備えてい
る。

【００８１】そして、このＤＣインバランス測定回路
は、データバスを介して前記ＣＰＵ２７とメモリ２８に
接続されている。また、前記ＣＰＵ２７とチップセレク
ト回路６０、ＣＰＵ２７とメモリ２８との間は、それぞ
れアドレスバスを介して接続されている。

【００８２】前記回路において、ＭＯ信号は図２のプリ
アンプ１２から出力される信号であり、ＭＯゲート信
号、及び物理トラックスタート信号はＤＳＰコントロー
ラ３１から出力される信号である。

【００８３】(2) ：動作の説明前記光学ヘッド部から取り出したＭＯ信号は、ローパス
フィルタ５１で高周波ノイズとＭＯの信号成分を除去さ
れ、ピークホールド回路５２により、ＤＣインバランス
の最大電圧がホールドされ、Ａ／Ｄコンバータ５３によ
りディジタルデータに変換された後、データラッチ回路
５４で最大電圧のディジタル値がラッチされる。

【００８４】また、前記ローパスフィルタ５１を通過し
た信号は、反転回路５５によりＤＣインバランスの波形
が反転される。これも同様にして、ピークホールド回路
５６によりＤＣインバランスの最大電圧がホールドさ
れ、Ａ／Ｄコンバータ５７によりディジタル値に変換さ
れた後、データラッチ回路５８に、ＤＣインバランスの
最小値の符号の反対にした値がラッチされる。従って、
最大値と最小値の符号を反対にした値を加算すれば、Ｄ
Ｃインバランスの変動量は算出できる。

【００８５】なお、ピークホールド回路５２、５６は、
物理トラックのスタート信号でクリアされるが、データ
ラッチされる前にクリアされるのを防ぐために、物理ト
ラックのスタート信号をディレイ回路５９で遅延した
後、ピークホールド回路５２、５６をクリア（図のＣＬ
Ｒはクリア信号）している。

【００８６】この場合、ＣＰＵ２７は、当然、光磁気デ
ィスク装置に使用されているものであるが、ここでの役
目は、前記データラッチ回路５４、５８にラッチされた
データを取り出して演算し、メモリ２８にＤＣインバラ
ンス変動量、ＭＯ振幅、ＤＣインバランス量を格納する
ことである。なお、チップセレクト回路６０は、ＣＰＵ
２７が指定したアドレスに対して、正常にデータをやり
取りする目的で設けられており、チップセレクト信号
（ＣＳ）により、データラッチ回路５４、５８、６４、
６８のいずれかがセレクトされるようになっている。

【００８７】一方、ＭＯ振幅の方は、次の通りである。
前記光学ヘッド部から取り出したＭＯ信号はハイパスフ
ィルタ６１によりＭＯ信号のＡＣ成分を除去し、高速ピ
ークホールド回路６２で、２Ｔ信号の最大電圧がホール
ドされる。その後、Ａ／Ｄコンバータ６３によりディジ
タルデータに変換され、データラッチ回路６４で最大電
圧のディジタル値がラッチされる。また、ハイパスフィ
ルタ６１を通過した信号は、反転回路６５によりＭＯの
波形を反転する。

【００８８】これも同様にして、高速ピークホールド回
路６２、Ａ／Ｄコンバータ６３、データラッチ回路６４
に、ＭＯ振幅の最小値の符号を反対にした値が入る。従
って、最大値と最小値の符号を反対にした値を加算すれ
ば、ＭＯ振幅量は算出できる。

【００８９】また、ＭＯゲート信号は、セクタリード中
のＭＯ振幅が出ている時を指示する信号であり、タイマ
回路６９で、高速ピークホールド回路６２、６６をクリ
アし、ＭＯ振幅２Ｔの２〜３サイクル分にデータラッチ
回路６４、６８でデータをラッチする。

【００９０】§５：光磁気ディスク装置におけるＩＤク
ロストーク測定回路の説明・・・図５参照 (1) ：構成の説明図５はＩＤクロストーク測定回路のブロック図である。
前記ＤＣインバランス／ＩＤクロストーク測定回路３２
内には、図５に示した構成のＩＤクロストーク測定回路
が含まれている。

【００９１】このＩＤクロストーク測定回路には、ＭＯ
信号の低域成分を通過させるローパスフィルタ７１と、
ローパスフィルタ７１を通過した信号のピーク値を高速
で保持する高速ピークホールド回路７２と、高速ピーク
ホールド回路７２で保持されたアナログ信号をディジタ
ルデータに変換するＡ／Ｄコンバータ７３と、Ａ／Ｄコ
ンバータ７３で変換されたディジタルデータをラッチす
るデータラッチ回路７４と、ローパスフィルタ７１を通
過した信号を反転させる反転回路７５と、反転回路７５
で反転された信号のピーク値を高速で保持する高速ピー
クホールド回路７６と、高速ピークホールド回路７６で
保持されているアナログ信号をディジタルデータに変換
するＡ／Ｄコンバータ７７と、Ａ／Ｄコンバータ７７で
変換されたディジタルデータをラッチするデータラッチ
回路７８と、ＭＯゲート信号で起動されるスタートタイ
マ回路７９及びエンドタイマ回路８０と、チップセレク
トを行うためのチップセレクト回路８１と、ＭＯ信号の
高域成分を通過させるハイパスフィルタ８２と、ハイパ
スフィルタ８２を通過した信号のピーク値を高速で保持
する高速ピークホールド回路８３と、高速ピークホール
ド回路８３で保持されているアナログ信号をディジタル
データに変換するＡ／Ｄコンバータ８４と、Ａ／Ｄコン
バータ８４で変換されたディジタルデータをラッチする
データラッチ回路８５と、ハイパスフィルタ８２を通過
した信号を反転させる反転回路８６と、反転回路８６で
反転された信号のピーク値を高速で保持する高速ピーク
ホールド回路８７と、高速ピークホールド回路８７で保
持されているアナログ信号をディジタルデータに変換す
るＡ／Ｄコンバータ８８と、Ａ／Ｄコンバータ８８で変
換されたディジタルデータをラッチするデータラッチ回
路８９と、ＭＯゲート信号で起動されるタイマ回路９０
を備えている。

【００９２】そして、このＩＤクロストーク測定回路
は、データバスを介して前記ＣＰＵ２７とメモリ２８に
接続されている。また、前記ＣＰＵ２７とチップセレク
ト回路８１、ＣＰＵ２７とメモリ２８との間は、それぞ
れアドレスバスを介して接続されている。

【００９３】前記回路において、ＭＯ信号は図２のプリ
アンプ１２から出力される信号であり、ＭＯゲート信
号、及び物理トラックスタート信号はＤＳＰコントロー
ラ３１から出力される信号である。

【００９４】(2) ：動作の説明ＩＤクロストーク測定回路で測定を行う場合、先ず、光
学ヘッド部をゾーン０のテストトラックへ移動させ、位
置決めセンサ１８が遮蔽板１９を検出するまで、位相補
正板群２０を移動させた位置で停止させ、媒体６のゾー
ン０のテストトラック１周分を全面消去する。

【００９５】この時、前記消去された媒体６の前記テス
トトラックから読み出したＭＯ信号（この場合は、ＩＤ
クロストーク信号）は、ローパスフィルタ７１で高周波
ノイズを除去する。その後、高速ピークホールド回路７
２によりＩＤクロストークの最大電圧がホールドされ、
Ａ／Ｄコンバータ７３でディジタルデータに変換され、
データラッチ回路７４で最大電圧のディジタルデータ
（ディジタル値）がラッチされる。

【００９６】一方、ローパスフィルタ７１を通過したＭ
Ｏ信号（この場合は、ＩＤクロストークの信号）は、反
転回路７５で波形が反転され、高速ピークホールド回路
７６、Ａ／Ｄコンバータ７７、データラッチ回路７８に
より、データラッチ回路７８にＩＤクロストークの最小
値の符号を反転した値がラッチされる。従って、前記ラ
ッチされた最大値と、最小値の符号を反対にした値を加
算すれば、ＩＤクロストークの変動量が算出できる。

【００９７】ところで、高速ピークホールド回路７２、
７６は、各ゾーン、セクタによりＩＤクロストークが出
る位置が変化するので、ＩＤクロストークが始まり、終
わる時間を予めメモリ２８にマップとして格納してお
き、測定前に、スタートタイマ回路７９、エンドタイマ
回路８０に、前記メモリ２８から読み出した値を設定
し、高速ピークホールド回路７２、７６のクリア時間
（図のＣＬＲはクリア）、データラッチ回路７４、７８
の格納（ロード）時間（図のＬＤはロード）を設定す
る。

【００９８】ＣＰＵ２７のここでの役目は、次のような
ものである。すなわち、ＣＰＵ２７は、データラッチ回
路７４、７８にラッチされたデータを取り出して演算
し、メモリ２８にＩＤクロストーク変動量、ＭＯ振幅、
ＩＤクロストーク量を格納する。なお、チップセレクト
回路８１は、ＣＰＵ２７が指定したアドレスに対して、
正常にデータがやり取りする目的で設けられており、チ
ップセレクト信号（ＣＳ）により、データラッチ回路７
４、７８、８５、８９のいずれかがセレクトされるよう
になっている。

【００９９】かたや、ＭＯ振幅の方は、ハイパスフィル
タ８２では、ＭＯ信号のＡＣ成分が除去され、高速ピー
クホールド回路８３で、２Ｔ信号の最大電圧が保持さ
れ、Ａ／Ｄコンバータ８４でディジタル値に変換され、
データラッチ回路８５で最大電圧のディジタル値がラッ
チされる。

【０１００】また、ハイパスフィルタ８２を通過した信
号は、反転回路８６によりＤＣインバランスの波形が反
転される。これも同様に、高速ピークホールド回路８
７、Ａ／Ｄコンバータ８８、データラッチ回路８９に、
ＭＯ振幅の最小値の符号を反対にした値がラッチされ
る。従って、前記ラッチされた最大値と、最小値の符号
を反対にした値を加算すれば、ＭＯ振幅量が算出でき
る。セクタＭＯ信号は、セクタリード中のＭＯ振幅２Ｔ
の２〜３サイクル分、データラッチ回路８５、８９にデ
ータがラッチされる。

【０１０１】§６：フローチャートによるＤＣインバラ
ンス測定処理の説明・・・図６、図７参照図６はＤＣインバランス測定処理フローチャート（その
１）、図７はＤＣインバランス測定処理フローチャート
（その２）である。以下、図６、図７に基づいてＤＣイ
ンバランス測定処理を説明する。なお、Ｓ１〜Ｓ１５は
各処理ステップを示す。

【０１０２】先ず、光学ヘッド部を媒体６のゾーン０の
テストトラックへ移動させる（Ｓ１）。そして、位相補
正板群２０を駆動するためのモータ１５を回転させ（Ｓ
２）、位置決めセンサ１８が遮蔽板１９を検出したかど
うかを判断する（Ｓ３）。その結果、位置決めセンサ１
８が遮蔽板１９を検出しなければ、Ｓ２の処理へ移行
し、位置決めセンサ１８が遮蔽板１９を検出したら、モ
ータ１５を停止させる（Ｓ４）。

【０１０３】次に、前記テストトラック１周分に２Ｔ信
号を全面書き込みし（Ｓ５）、その後、モータ１５を回
転させて位相補正板群２０を移動させ、最初の測定位相
角の位置に合わせて停止させる（Ｓ６）。この状態で、
前記２Ｔ信号を全面書き込みした１周をリードし（Ｓ
７）、ＣＰＵ２７がＤＣインバランスの上限値、下限値
を取り込み、演算し、変動量をメモリ２８に格納する
（Ｓ８）。

【０１０４】次に、ＣＰＵ２７がＭＯ振幅の上限値、下
限値を取り込み、演算し、振幅量を求めてメモリ２８に
格納する（Ｓ９）。そして、ＣＰＵ２７がメモリ２８よ
り、ＤＣインバランス変動量とＭＯ振幅を読み取り、Ｄ
Ｃインバランス量を算出し、メモリ２８に格納する（Ｓ
１０）。そして、全ての位相角が測定完了したかどうか
を判断し（Ｓ１１）、全ての位相角が測定完了しなけれ
ば、位相補正板群駆動用のモータ１５を回転し、次に測
定する位相角に合わせて停止し（Ｓ１２）、Ｓ７の処理
へ移行する。

【０１０５】このようにして、Ｓ１１の処理で、全ての
位相角の測定が完了したと判断したら、全てのゾーンが
測定完了かどうかを判断する（Ｓ１３）。その結果、全
てのゾーンが測定完了していなければ、次に測定するゾ
ーンに移動し（Ｓ１４）、Ｓ２の処理へ移行する。

【０１０６】以上のようにして処理を行い、Ｓ１３の処
理で、全てのゾーンの測定完了と判断した場合は、ＣＰ
Ｕ２７は、各ゾーンのＤＣインバランス量が最小となる
位相補正板の位相角を、メモリ２８上に最適位相角とし
てＭＡＰに展開し（Ｓ１５）、この処理を終了する。

【０１０７】§７：フローチャートによるＩＤクロスト
ーク測定処理の説明・・・図８、図９参照図８はＩＤクロストーク測定処理フローチャート（その
１）、図９はＩＤクロストーク測定処理フローチャート
（その２）である。以下、図８、図９に基づいてＩＤク
ロストーク測定処理を説明する。なお、Ｓ２１〜Ｓ４０
は各処理ステップを示す。

【０１０８】先ず、光学ヘッド部を媒体６のゾーン０の
テストトラックへ移動させ（Ｓ２１）、モータ１５を回
転させる（Ｓ２２）。そして、位置決めセンサ１８が遮
蔽板１９を検出したかどうかを判断し（Ｓ２３）、位置
決めセンサ１８が遮蔽板１９を検出しなければ、Ｓ２２
の処理へ移行する。このようにして処理を行い、位置決
めセンサ１８が遮蔽板１９を検出したら、モータ１５を
停止させ（Ｓ２４）、テストトラック１周分を全面消去
する（Ｓ２５）。

【０１０９】次に、測定するセクタを最初に測定するセ
クタとして設定し（Ｓ２６）、モータ１５を回転させ、
位相補正板群２０を移動させて、位相補正板を最初の測
定位相角の位置に合わせて停止させる（Ｓ２７）。そし
て、ＣＰＵ２７が、指定のゾーン、セクタに対するＩＤ
クロストークの位置の入ったメモリ２８（予め、メモリ
２８に情報を入れておく）より、データを取り出し、ス
タートタイマ回路７９、エンドタイマ回路８０に値をセ
ットする（Ｓ２８）。

【０１１０】次に、前記測定するセクタをリードし（Ｓ
２９）、ＣＰＵ２７がＩＤクロストークの上限値、下限
値を取り込み、演算し、変動量をメモリ２８に格納する
（Ｓ３０）。そして、前記測定するセクタに、２Ｔ信号
を書き込んで、読み出し（ライト／リードし）（Ｓ３
１）、ＣＰＵ２７がＭＯ振幅の上限値、下限値を取り込
み、演算し、振幅量をメモリ２８に格納する（Ｓ３
２）。

【０１１１】そして、全ての位相角が測定完了かどうか
を判断し（Ｓ３３）、全ての位相角が測定完了でなけれ
ば、モータ１５を回転して位相補正板群２０を移動さ
せ、位相補正板を、次に測定する位相角に合わせて停止
させ（Ｓ３４）、Ｓ２８の処理へ移行する。このように
して処理を行い、Ｓ３３の処理で、全ての位相角が測定
完了したと判断した場合には、全セクタ測定完了かどう
かを判断し（Ｓ３５）、全セクタ測定完了でなければ、
測定するセクタを、次に測定するセクタに設定し（Ｓ３
６）、Ｓ２７の処理へ移行する。

【０１１２】また、Ｓ３５の処理で、全セクタ測定完了
と判断した場合には、全てのゾーンが測定完了かどうか
を判断し（Ｓ３７）、全てのゾーンが測定完了していな
ければ、次に測定するゾーンに移動して（Ｓ３８）、Ｓ
２２の処理へ移行する。また、Ｓ３７の処理で、全ての
ゾーンが測定完了したと判断した場合には、ＣＰＵ２７
は、各ゾーンに対しての各セクタで最小となる位相補正
板の位相角をメモリ２８上に最適位相角としてＭＡＰに
展開する（Ｓ３９）。次に、ＣＰＵ２７は、各ゾーン毎
に、セクタの最適位相角の平均値をメモリ２８上にＭＡ
Ｐとして展開し（Ｓ４０）、この処理を終了する。

【０１１３】§８：記録媒体とプログラムの説明前記光磁気ディスク装置は、例えば、媒体６からの反射
光の位相角を変えながらＭＯ信号を取り出し、前記ＭＯ
信号からＤＣインバランス量を測定する手順と、媒体か
らの反射光の位相角を変えながらＭＯ信号を取り出し、
前記ＭＯ信号からＩＤクロストーク量を測定する手順
と、前記測定したデータを基に最適位相角を探し、媒体
からのリード時に最適な位相角を使用して最適リード性
能が得られるように制御を行う手順を実行する。

【０１１４】この場合、例えば、光磁気ディスク装置に
不揮発性メモリを設けておき、この不揮発性メモリに前
記各手順を実行させるためのプログラムを格納してお
く。そして、ＣＰＵ２７が前記不揮発性メモリのプログ
ラムを読み出して実行することにより、前記手順を行
う。

【０１１５】しかし、本発明はこのような例に限らず、
次のようにしても実施可能である。すなわち、ホスト２
４のハードディスク装置に、前記各手順を実行させるた
めのプログラムを格納しておき、このプログラムをホス
ト２４が読み出して、光磁気ディスク装置へ送り、光磁
気ディスク装置のメモリ２８に格納する。そして、ＣＰ
Ｕ２７が前記メモリ２８のプログラムを読み出して実行
することにより、前記手順を実行する。

【０１１６】また、前記ホスト２４のハードディスク装
置に格納するプログラムは、次のようにして記録（記
憶）することも可能である。

【０１１７】：リムーバブルディスクに格納されてい
るプログラム（他の装置で作成したプログラムデータ）
を、ホスト２４に設けたリムーバブルディスクドライブ
により読み取り、ハードディスク装置の記録媒体（ハー
ドディスク）に格納する。なお、前記リムーバブルディ
スクには、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、その他の光
ディスク等が含まれる。

【０１１８】：ＬＡＮ等の通信回線を介して他の装置
から伝送されたデータを前記ホスト２４で受信し、その
データをハードディスク装置の記録媒体（ハードディス
ク）に格納する。

【０１１９】§９：その他の説明図１０は処理説明図であり、Ａ図は測定データ１、Ｂ図
は測定データ２、Ｃ図は測定データ３を示す。図１０の
Ａ、Ｂ、Ｃ図において、縦軸は測定値、横軸は位相角を
示す。

【０１２０】媒体６からのリード時のＤＣインバランス
量、又はＩＤクロストーク量の測定により得られたゾー
ン毎の最適位相角のＭＡＰ（メモリ２８に格納したマッ
プ）により、リードするゾーンに応じて位相補正板の位
相角を最適位相角に設定すれば、ＤＣインバランス量、
ＩＤクロストーク量、ＡＣインバランス量が少なく、複
屈折の影響が少ないリード条件が得られる。

【０１２１】また、光磁気ディスク装置では、ホスト２
４からの診断コマンドを受信し、その診断コマンドに基
づいてＤＣインバランス量又はＩＤクロストーク量を測
定し、測定後のＤＣインバランス量やＩＤクロストーク
量をゾーン毎にホスト２４へ送信する。このようにすれ
ば、ホスト２４側において、複屈折障害発生時に、装置
の複屈折の影響なのか、或いは媒体６の複屈折の影響な
のかが判別し易くなる。

【０１２２】その理由を図１０に基づいて説明する。な
お、前記診断コマンドは、従来装置にも使用されてお
り、装置を使用してのエラーレイト算出等、装置の良否
判定に使用されている。

【０１２３】図１０において、縦軸は測定値、横軸は位
相角を示す。例えば、図１０のＡ図に示すように、測定
値の曲線が底上がりしている場合、ゾーンにより底上が
りしている時は、媒体６がそのゾーンで複屈折障害を発
生していると判断される。また、均一に底上がりしてい
る場合は、標準的な複屈折の媒体６を測定して、装置側
に問題があるのか、媒体側に問題があるのかが判断でき
る。

【０１２４】また、図１０のＢ図、Ｃ図に示すように、
位相角がずれている場合、ゾーンによりずれていれば、
媒体６がそのゾーンで複屈折障害が発生していると判断
される。更に、均一にずれている場合は、標準的な複屈
折の媒体６を測定して、装置側に問題があるのか、媒体
側に問題があるのかが判断できる。

【０１２５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。

【０１２６】(1) ：請求項１では、位相補正手段によ
り、媒体からの反射光の位相を任意に変化させる。そし
て、ＤＣインバランス量測定手段は媒体からの反射光の
位相角を変えながらＭＯ信号を取り出し、前記ＭＯ信号
からＤＣインバランス量を測定し、ＩＤクロストーク量
測定手段は媒体からの反射光の位相角を変えながらＭＯ
信号を取り出し、前記ＭＯ信号からＩＤクロストーク量
を測定する。

【０１２７】そして、位相角制御手段は前記測定したデ
ータを基に最適位相角を探し、媒体からのリード時に最
適な位相角を使用して最適リード性能が得られるように
制御を行う。

【０１２８】このように、位相角を変えながらＤＣイン
バランス量を測定して最適な位相角を探し、この最適な
位相角をリード時に使用することで、常に、最適なリー
ド性能を得ることができる。この場合、装置自体の光学
系の複屈折、媒体の複屈折のバラツキによらず最適なリ
ード性能が得られる。また、媒体の各ゾーン毎に最適化
しているので、媒体の半径方向での複屈折の変化に追従
できる。

【０１２９】また、位相角を変えながらＩＤクロストー
ク量を測定して最適な位相角を探し、この最適な位相角
をリード時に使用することで、常に、最適なリード性能
を得ることができる。この場合、装置自体の光学系の複
屈折、媒体の複屈折のバラツキによらず最適なリード性
能が得られる。また、媒体の各ゾーン毎、セクタの平均
をとり、最適化しているので、媒体の半径方向だけでな
く、円周方向の複屈折の変化に追従できる。

【０１３０】更に、前記複屈折をキャンセルする機能を
持っているため、複屈折の影響が大きく使用できなかっ
た内外周で、複屈折の影響がなくリードできるため、記
憶容量の拡大が期待できる。

【０１３１】(2) ：請求項２では、位相補正板用駆動手
段は位相角の異なる位相補正板を複数連結した位相補正
板群と、前記位相補正板群を駆動し任意の位置へ移動さ
せて位置決めすることで、光路上に位置する位相補正板
の位相角を任意に変化させる。

【０１３２】このようにすれば、簡単に光路上に位置す
る位相補正板の位相角を任意に変化させることができ
る。従って、前記ＤＣインバランス量やＩＤクロストー
ク量の測定が簡単に行なえる。

【０１３３】(3) ：請求項３では、測定制御手段はホス
トからの診断コマンドに基づいて、ＤＣインバランス測
定手段或いはＩＤクロストーク測定手段を起動して測定
を行ない、測定結果のＤＣインバランス量及びＩＤクロ
ストーク量をホストに通知する。

【０１３４】このようにすれば、記憶装置の製造工程に
おいて、装置完成体の状態で、ＤＣインバランス量、及
びＩＤクロストーク量の測定が可能となり、光学系の複
屈折の悪い装置を振るい落とすことができる。また、媒
体製造工程においても、該記憶装置を使用することで、
ＤＣインバランス量やＩＤクロストーク量が測定可能と
なり、光学系の複屈折の悪い装置を振るい落とすことが
できる。

【０１３５】更に、障害解析の場合も、複屈折による影
響かそうでないかが判断でき、複屈折障害が、装置側に
起因するのか、媒体側に起因するのかが判別できる。

【０１３６】(4) ：請求項４では、ＤＣインバランス測
定手段の第１の制御手段は光学ヘッド部を所定のゾーン
のトラックへ移動させる。第２の制御手段は位相補正板
群を移動させて位相補正板を初期位置に停止させ、前記
所定のゾーンのトラック１周分にテスト信号を全面書き
込んだ後、位相補正板を第１の位相角の位置で停止さ
せ、前記書き込んだ１周分のデータを読み出し、ＤＣイ
ンバランスの上限値、下限値を取り込み、演算して変動
量と振幅量を求め、これらの値からＤＣインバランス量
を算出してメモリに格納する。

【０１３７】第３の制御手段は前記ゾーンを固定したま
ま、前記位相補正板を全ての位相角の位置に順次移動さ
せながら、第２の制御手段で書き込んだ１周分のデータ
を読み出し、ＤＣインバランスの上限値、下限値を取り
込み、演算して変動量と振幅量を求め、これらの値から
ＤＣインバランス量を算出してメモリに格納する。

【０１３８】第４の制御手段は前記全ての位相角につい
て第３の制御手段の処理が終了したら、前記ゾーンを順
次移動させながら、全てのゾーンについて、各ゾーン毎
に、第１〜第３の制御手段の処理を行わせる。第５の制
御手段は第４の制御手段で、全てのゾーンについて処理
が終了したら、各ゾーンのＤＣインバランス量が最小と
なる位相補正板の位相角を最適位相角として探し、メモ
リに格納する。

【０１３９】このように、位相角を変えながらＤＣイン
バランス量を測定することができる。その結果、測定し
たデータから最適な位相角を探し、この最適な位相角を
リード時に使用することで、常に、最適なリード性能を
得ることができる。

【０１４０】(5) ：請求項５では、ＩＤクロストーク測
定手段の第１の制御手段は位相補正板群を初期位置で停
止させた状態で、媒体の所定のゾーンのトラック１周分
を全面消去する。第２の制御手段は前記１周分を全面消
去後、測定するセクタを最初に測定するセクタに設定
し、位相補正板群を移動させて最初の測定位相角の位置
に合わせて停止させる。

【０１４１】第３の制御手段は前記測定するセクタを読
み出し、そのデータからＩＤクロストークの上限値、下
限値を取り込み、演算して変動量を求め、メモリに格納
する。第４の制御手段は前記測定するセクタにテスト信
号を書き込み、これを読み出すことで、ＭＯ信号の振幅
の上限値、下限値を取り込み、演算して振幅量を求め、
メモリに格納する。

【０１４２】第５の制御手段は前記位相角、セクタ、ゾ
ーンの全ての組み合わせについて処理が終了するまで、
第１〜第４の制御手段の処理を続行させる。そして、第
６の制御手段は全ての位相角、セクタ、ゾーンの組み合
わせについて前記処理が終了したら、各ゾーンに対して
の各セクタで最小となる位相補正板の位相角を最適位相
角として求め、かつ、各ゾーン毎にセクタの最適位相角
の平均値を求めてメモリに格納する。

【０１４３】このようにすれば、位相角を変えながらＩ
Ｄクロストーク量を測定することができる。その結果、
測定したデータから最適な位相角を探し、この最適な位
相角をリード時に使用することで、常に、最適なリード
性能を得ることができる。

【０１４４】(6) ：請求項６では、記憶装置が記録媒体
に記録されているプログラムを読み出して実行すること
により、媒体からの反射光の位相角を変えながらＭＯ信
号を取り出し、前記ＭＯ信号からＤＣインバランス量を
測定する手順と、媒体からの反射光の位相角を変えなが
らＭＯ信号を取り出し、前記ＭＯ信号からＩＤクロスト
ーク量を測定する手順と、前記測定したデータを基に最
適位相角を探し、媒体からのリード時に最適な位相角を
使用して最適リード性能が得られるように制御を行う手
順とを実行する。

【０１４５】このように、位相角を変えながらＤＣイン
バランス量を測定して最適な位相角を探し、この最適な
位相角をリード時に使用することで、常に、最適なリー
ド性能を得ることができる。この場合、装置自体の光学
系の複屈折、媒体の複屈折のバラツキによらず最適なリ
ード性能が得られる。また、媒体の各ゾーン毎に最適化
しているので、媒体の半径方向での複屈折の変化に追従
できる。

【０１４６】また、位相角を変えながらＩＤクロストー
ク量を測定して最適な位相角を探し、この最適な位相角
をリード時に使用することで、常に、最適なリード性能
を得ることができる。この場合、装置自体の光学系の複
屈折、媒体の複屈折のバラツキによらず最適なリード性
能が得られる。また、媒体の各ゾーン毎、セクタの平均
をとり、最適化しているので、媒体の半径方向だけでな
く、円周方向の複屈折の変化に追従できる。

【０１４７】更に、前記複屈折をキャンセルする機能を
持っているため、複屈折の影響が大きく使用できなかっ
た内外周で、複屈折の影響がなくリードできるため、記
憶容量の拡大が期待できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】本発明の実施の形態における光学系の説明図で
ある。

【図３】本発明の実施の形態における光磁気ディスク装
置のブロック図である。

【図４】本発明の実施の形態におけるＤＣインバランス
測定回路のブロック図である。

【図５】本発明の実施の形態におけるＩＤクロストーク
測定回路のブロック図である。

【図６】本発明の実施の形態におけるＤＣインバランス
測定処理フローチャート（その１）である。

【図７】本発明の実施の形態におけるＤＣインバランス
測定処理フローチャート（その２）である。

【図８】本発明の実施の形態におけるＩＤクロストーク
測定処理フローチャート（その１）である。

【図９】本発明の実施の形態におけるＩＤクロストーク
測定処理フローチャート（その２）である。

【図１０】本発明の実施の形態における処理説明図であ
る。

【図１１】従来の光磁気ディスク装置の光学系概略図で
ある。

【図１２】従来の処理説明図（その１）である。

【図１３】従来の処理説明図（その２）である。

【図１４】従来の処理説明図（その３）である。

【図１５】従来の処理説明図（その４）である。

【符号の説明】

１レーザ光源２コリメータレンズ３、７ビームスプリッタ４立上ミラー５対物レンズ６媒体８波長板９偏光ビームスプリッタ１０、１１ディテクタ（検出器）１２プリアンプ１５モータ１６リム１７ベルト１８位置決めセンサ１９遮蔽板２０位相補正板群２４ホスト（ホストコンピュータ）２５ＳＣＳＩ−Ｉ／Ｆ（ＳＣＳＩインターフェイス
部）２６ＯＤＣ−ＳＣＳＩ−コントローラ２７ＣＰＵ（中央演算処理装置）２８メモリ２９ライト部３０リード部３１ＤＳＰコントローラ３２ＤＣインバランス／ＩＤクロストーク測定回路３５光学ヘッド部３６プリアンプ／サーボＡＧＣ３７ＶＣＭ／ＡＧＣドライバ３８ＳＰモータドライバ３９ロード／イジェクト／ドライバ４０位相補正用モータドライバ５１、７１ローパスフィルタ５２、５６ピークホールド回路５３、５７、６３、６７、７３、７７、８４、８８Ａ
／Ｄコンバータ（アナログ／ディジタル変換器）５４、５８、６４、６８、７４、７８、８５、８９デ
ータラッチ回路５５、６５、７５、８６反転回路５９ディレイ回路（遅延回路）６０、８１チップセレクト回路６１、８２ハイパスフィルタ６２、６６、７２、７６、８３、８７高速ピークホー
ルド回路６９、９０タイマ回路７９スタートタイマ回路８０エンドタイマ回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】レーザ光源から発したレーザ光を通過させ
て媒体の記録面に焦点を合わせ、該媒体にレーザ光を照
射すると共に、媒体からの反射光を通過させ分離するこ
とで、ディテクタを介してＭＯ信号を取り出す光学系を
有する光学ヘッド部と、媒体に磁界を印加し、前記光学ヘッド部を介してレーザ
光を照射することで、媒体に対するライト／リード制御
を行う制御部を備えた記憶装置において、前記媒体からの反射光の位相角を任意に変化させる位相
補正手段を備えると共に、前記位相補正手段により、媒体からの反射光の位相角を
変えながらＭＯ信号を取り出し、前記ＭＯ信号からＤＣ
インバランス量を測定するＤＣインバランス測定手段、
及び前記ＭＯ信号からＩＤクロストーク量を測定するＩ
Ｄクロストーク測定手段の内、少なくとも、いずれか一
方を含む測定手段と、前記測定したデータを基に最適位相角を探し、媒体から
のリード時に最適な位相角を使用して最適リード性能が
得られるように制御を行う位相角制御手段を備えている
ことを特徴とする記憶装置。
【請求項２】前記位相補正手段は、位相角の異なる位相補正板を複数連結した位相補正板群
と、前記位相補正板群を駆動し任意の位置へ移動させて位置
決めすることで、光路上に位置する位相補正板の位相角
を任意に変化させる位相補正板用駆動手段を備えている
ことを特徴とした請求項１記載の記憶装置。
【請求項３】ホストからの診断コマンドに基づいて、前
記ＤＣインバランス測定手段及びＩＤクロストーク測定
手段を起動して測定を行い、測定結果のＤＣインバラン
ス量及びＩＤクロストーク量をホストに通知する測定制
御手段を備えていることを特徴とする請求項１記載の記
憶装置。
【請求項４】前記ＤＣインバランス測定手段は、光学ヘッド部を所定のゾーンのトラックへ移動させる第
１の制御手段と、位相補正板群を移動させて光路上の位相補正板を初期位
置に停止させ、前記所定のゾーンのトラック１周分にテ
スト信号を全面に書き込んだ後、前記位相補正板を移動
させて光路上の位相補正板を第１の位相角の位置で停止
させ、前記書き込んだ１周分のデータを読み出し、ＤＣ
インバランスの上限値、下限値を取り込み、演算して変
動量と振幅量を求め、これらの値からＤＣインバランス
量を算出してメモリに格納する第２の制御手段と、前記ゾーンを固定したまま、前記位相補正板を全ての位
相角の位置に順次移動させながら、前記第２の制御手段
で書き込んだ１周分のデータを読み出し、ＤＣインバラ
ンスの上限値、下限値を取り込み、演算して変動量と振
幅量を求め、これらの値からＤＣインバランス量を算出
してメモリに格納する第３の制御手段と、前記全ての位相角について前記第３の制御手段の処理が
終了したら、前記ゾーンを順次移動させながら、全ての
ゾーンについて、各ゾーン毎に、前記第１〜第３の制御
手段の処理を行わせる第４の制御手段と、前記第４の制御手段で、全てのゾーンについて処理が終
了したら、各ゾーンのＤＣインバランス量が最小となる
位相補正板の位相角を最適位相角として探し、メモリに
格納する第５の制御手段を備えていることを特徴とする
請求項１記載の記憶装置。
【請求項５】前記ＩＤクロストーク測定手段は、前記位相補正板群を初期位置で停止させた状態で、媒体
の所定のゾーンのトラック１周分を全面消去する第１の
制御手段と、前記１周分を全面消去後、測定するセクタを最初に測定
するセクタに設定し、位相補正板群を移動させて最初の
測定位相角の位置に合わせて停止させる第２の制御手段
と、前記測定するセクタを読み出し、そのデータからＩＤク
ロストークの上限値、下限値を取り込み、演算して変動
量を求め、メモリに格納する第３の制御手段と、前記測定するセクタにテスト信号を書き込み、これを読
み出すことで、ＭＯ信号の振幅の上限値、下限値を取り
込み、演算して振幅量を求め、メモリに格納する第４の
制御手段と、前記位相角、セクタ、ゾーンの全ての組み合わせについ
て処理が終了するまで、前記第１〜第４の制御手段の処
理を続行させる第５の制御手段と、全ての位相角、セクタ、ゾーンの組み合わせについて前
記処理が終了したら、各ゾーンに対しての各セクタで最
小となる位相補正板の位相角を最適位相角として求め、
かつ、各ゾーン毎にセクタの最適位相角の平均値を求め
てメモリに格納する第６の制御手段を備えていることを
特徴とする請求項１記載の記憶装置。
【請求項６】記憶装置に、位相補正手段により、媒体からの反射光の位相角を変え
ながらＭＯ信号を取り出し、前記ＭＯ信号からＤＣイン
バランス量を測定するＤＣインバランス測定手段、及び
前記ＭＯ信号からＩＤクロストーク量を測定するＩＤク
ロストーク測定手段の内、少なくとも、いずれか一方を
含む測定手段と、前記測定したデータを基に最適位相角を探し、媒体から
のリード時に最適な位相角を使用して最適リード性能が
得られるように制御を行う位相角制御手段の機能を実現
するためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り
可能な記録媒体。