JP2001244760A - レベルシフト回路および集積回路 - Google Patents

レベルシフト回路および集積回路

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JP2001244760A JP2000056772A JP2000056772A JP2001244760A JP 2001244760 A JP2001244760 A JP 2001244760A JP 2000056772 A JP2000056772 A JP 2000056772A JP 2000056772 A JP2000056772 A JP 2000056772A JP 2001244760 A JP2001244760 A JP 2001244760A
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文昭 長尾
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健志 大塚
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源電圧範囲を超える入力電圧を電源電圧範
囲内の電圧にシフトして出力することができるととも
に、入力電圧より低い電源電圧用の製造プロセスを用い
て製造することができるレベルシフト回路を提供する。 【解決手段】 演算増幅器1の反転入力端子と出力端子
との間に抵抗R2を接続し、反転入力端子と外部端子N
1との間に抵抗R1を接続し、外部端子N1と接地端子
との間にNMOSトランジスタQ1を接続する。演算増
幅器1の動作時には、非反転入力端子に印加される電圧
を電源電圧Vint以下に保持するとともに、外部端子
N1から電源電圧Vintより高い入力電圧Vinを抵
抗R1を介して反転入力端子に印加し、電源電圧Vin
t以下の出力電圧Voutにシフトさせ、演算増幅器1
のスタンバイ時には、スタンバイ信号STによりNMO
SトランジスタQ1をオンし、外部端子N1を接地す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入力電圧をシフト
して出力するレベルシフト回路およびこのレベルシフト
回路を用いた集積回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体製造技術の微細化に伴い、
LSI(大規模集積回路)の低電圧化が進み、多くのL
SIが3V系になりつつある。一方、アナログ系の回路
を中心に5V系のLSIやデバイスが多数存在する。こ
のようなアナログ系の回路を含むシステムでは、レベル
シフト回路により5V系の信号を3V系の信号にシフト
して使用している。
【0003】図8は、5V系の回路と3V系の回路とが
混在する従来の回路の構成を示すブロック部である。図
8に示す回路は、レベルシフト回路201および3.3
V耐圧回路202を備える。
【0004】レベルシフト回路201は、5Vの耐圧で
設計された回路であり、電源V201から5Vの電源電
圧Vexを供給されて動作する。3.3V耐圧回路20
2は、3.3Vの耐圧で設計された回路であり、電源V
202から3.3Vの電源電圧Vintを供給されて動
作する。
【0005】レベルシフト回路201は、外部端子N2
01から5V系の入力電圧Vin(Vin<Vex)を
受け、3V系の出力電圧Vin2(Vin2<Vin
t)にシフトし、3.3V耐圧回路202へ出力する。
3.3V耐圧回路は、3V系の出力電圧Vin2を受
け、所定の動作を行う。
【0006】図9は、図8に示す回路を1チップ化した
集積回路の構成を示すブロック部である。図9に示す集
積回路は、レベルシフト回路201および3.3V耐圧
回路202を備える。
【0007】図9に示す集積回路200において、図8
に示す各回路を1チップ化した場合、レベルシフト回路
201は、5V耐圧を達成するため、例えば0.5μm
ルールにより設計され、3.3V耐圧回路202は、
3.3V耐圧を達成するため、例えば0.35μmルー
ルにより設計されて製造される。
【0008】このように、5V系の入力電圧Vinを3
V系の出力電圧Vin2にシフトするレベル変換回路2
01を3V系の出力電圧Vin2を処理する3.3V耐
圧回路202とともに1チップ化する場合、レベルシフ
ト回路201の耐圧を確保するため、それぞれ異なる耐
圧が必要となり、複雑なプロセスが用いられる。
【0009】図10は、図8に示す回路を1チップ化し
た他の集積回路の構成を示すブロック部である。図10
に示す集積回路200aと図9に示す集積回路200と
で異なる点は、外部端子N201とレベルシフト回路2
01との間に、Pチャネル型MOS電界効果トランジス
タ(以下、PMOSトランジスタという)Q201およ
びNチャネル型MOS電界効果トランジスタ(以下、N
MOSトランジスタという)Q202から構成される保
護回路が付加された点であり、その他の点は、図9に示
す集積回路200と同様である。
【0010】外部端子N201は、ダイオード接続され
たPMOSトランジスタQ201を介して電源V203
に接続され、ダイオード接続されたNMOSトランジス
タQ202を介して接地されている。PMOSトランジ
スタQ201およびNMOSトランジスタQ202は、
サージ電圧が外部端子N201に印加された場合、サー
ジ電圧を電源V203または接地端子に逃がすことによ
り静電破壊からレベルシフト回路201を保護する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、図8に
示すレベルシフト回路201では、5V系の入力電圧V
inに耐えるため、電源および製造プロセスとして5V
系のものを使用する必要があり、3.3V耐圧回路20
2に使用される3V系の電源および製造プロセスを用い
ることはできない。
【0012】このため、図9に示す集積回路200で
は、5V耐圧および3V耐圧の2つの耐圧を実現する複
雑なプロセスを用いる必要があり、集積回路のプロセス
コストが増大する。また、5V系の製造プロセスにより
製造される回路は、プロセス的に一世代遅い回路であ
り、3V系の製造プロセスにより製造されたレベルシフ
ト回路より動作速度が遅くなる。
【0013】また、図10に示す保護回路では、外部か
らサージ電圧が印加された場合、5V系の製造プロセス
により製造されたレベルシフト回路を保護することはで
きるが、3V系の製造プロセスにより製造されたレベル
シフト回路では、5V系の入力電圧がPMOSトランジ
スタQ201を介して3V系の電源に印加され、3V耐
圧で製造されたレベルシフト回路を保護することはでき
ない。
【0014】本発明の目的は、電源電圧範囲を超える入
力電圧を電源電圧範囲内の電圧にシフトして出力するこ
とができるとともに、入力電圧より低い電源電圧用の製
造プロセスを用いて製造することができるレベルシフト
回路を提供することである。
【0015】本発明の他の目的は、電源電圧範囲を超え
る入力電圧を電源電圧範囲内の電圧にシフトして出力す
ることができるとともに、高速に動作することができる
レベルシフト回路を提供することである。
【0016】本発明のさらに他の目的は、プロセスコス
トを低減できるとともに、より高速に動作することがで
きる集積回路を提供することである。
【0017】本発明のさらに他の目的は、より高速に動
作することができる集積回路を提供することである。
【0018】本発明のさらに他の目的は、外部から印加
されるサージ電圧による静電破壊から入力電圧より低い
電源電圧用の耐圧で製造されたレベルシフト回路を保護
することができる集積回路を提供することである。
【0019】
【課題を解決するための手段および発明の効果】(1)
第1の発明 第1の発明に係るレベルシフト回路は、入力電圧をシフ
トして出力するレベルシフト回路であって、レベルシフ
ト回路の動作時に、入力端子からレベルシフト回路の電
源電圧範囲を超えた入力電圧が印加され、レベルシフト
回路の動作によりレベルシフト回路内部の入力トランジ
スタが入力電圧に耐える動作条件に設定され、レベルシ
フト回路のスタンバイ時に、入力トランジスタに印加さ
れる電圧が電源電圧範囲内に保持されるものである。
【0020】本発明に係るレベルシフト回路では、動作
時に入力端子から電源電圧範囲を超えた入力電圧が印加
され、レベルシフト回路の動作により内部の入力トラン
ジスタが入力電圧に耐える動作条件に設定される。した
がって、レベルシフト回路の動作状態においては、電源
電圧範囲を超える入力電圧を電源電圧範囲内の出力電圧
にシフトして出力することができる。
【0021】また、レベルシフト回路のスタンバイ時に
は、入力トランジスタに印加される電圧が電源電圧範囲
内に保持されているので、レベルシフト回路に必要とさ
れる耐圧は、入力電圧ではなく、入力電圧より低い電源
電圧となる。したがって、より低い電源電圧用の製造プ
ロセスを用いてレベルシフト回路を製造することができ
る。
【0022】この結果、電源電圧範囲を超える入力電圧
を電源電圧範囲内の電圧にシフトして出力することがで
きるとともに、入力電圧より低い電源電圧用の製造プロ
セスを用いてレベルシフト回路を製造することができ
る。
【0023】(2)第2の発明 第2の発明に係るレベルシフト回路は、入力電圧をシフ
トして出力するレベルシフト回路であって、演算増幅器
の反転入力端子に第1の抵抗が接続され、反転入力端子
と演算増幅器の出力端子との間に負帰還ループを構成す
る第2の抵抗が接続され、演算増幅器の非反転入力端子
に印加される電圧が演算増幅器の電源電圧範囲内に保持
され、演算増幅器の動作時に、電源電圧範囲を超えた入
力電圧が第1の抵抗を介して反転入力端子に印加され、
電源電圧範囲内の出力電圧にシフトされて出力端子から
出力され、演算増幅器のスタンバイ時に、反転入力端子
に印加される電圧が電源電圧範囲内に保持されるもので
ある。
【0024】本発明に係るレベルシフト回路では、演算
増幅器の反転入力端子に第1の抵抗が接続されるととも
に、反転入力端子と出力端子との間に負帰還ループを構
成する第2の抵抗が接続され、非反転入力端子に印加さ
れる電圧が電源電圧範囲内に保持される。
【0025】この演算増幅器の動作時には、電源電圧範
囲を超える入力電圧が第1の抵抗を介して反転入力端子
に印加され、電源電圧範囲内の出力電圧にシフトされ
る。このとき、反転入力端子は、非反転入力端子に仮想
接地され、反転入力端子の電圧は、非反転入力端子に印
加される電圧と同様に電源電圧範囲内に保持される。し
たがって、入力電圧として電源電圧範囲を超える電圧が
印加されても、動作時に演算増幅器に印加される電圧は
すべて電源電圧範囲内になり、電源電圧範囲を超える入
力電圧を電源電圧範囲内の電圧にシフトして出力するこ
とができる。
【0026】また、演算増幅器のスタンバイ時に、反転
入力端子に印加される電圧が電源電圧範囲内に保持され
ているので、この場合も、演算増幅器に印加される電圧
はすべて電源電圧範囲内になる。これにより、動作時お
よびスタンバイ時ともに、演算増幅器に印加される電圧
はすべて電源電圧範囲内になり、演算増幅器に必要とさ
れる耐圧は、入力電圧ではなく、入力電圧より低い電源
電圧になる。したがって、より低い電源電圧用の製造プ
ロセスを用いてレベルシフト回路を製造することができ
る。
【0027】この結果、電源電圧範囲を超える入力電圧
を電源電圧範囲内の電圧にシフトして出力することがで
きるとともに、入力電圧より低い電源電圧用の製造プロ
セスを用いてレベルシフト回路を製造することができ
る。
【0028】(3)第3の発明 第3の発明に係るレベルシフト回路は、第2の発明に係
るレベルシフト回路の構成において、一端が接地され、
他端が反転入力端子または第1の抵抗を介して反転入力
端子に接続され、演算増幅器のスタンバイ時にオンする
トランジスタを備えるものである。
【0029】この場合、演算増幅器のスタンバイ時にト
ランジスタがオンし、反転入力端子を接地することがで
きるので、演算増幅器のスタンバイ時に、反転入力端子
に印加される電圧を電源電圧範囲内に保持することがで
きる。
【0030】(4)第4の発明 第4の発明に係るレベルシフト回路は、第2または第3
の発明に係るレベルシフト回路の構成において、一端に
入力電圧を受け、他端が第1の抵抗に接続され、演算増
幅器のスタンバイ時に入力電圧が第1の抵抗に印加され
るのを遮断するスイッチをさらに備えるものである。
【0031】この場合、スイッチの耐圧が入力電圧とな
るため、スイッチには入力電圧より低い電源電圧用の製
造プロセスを用いることはできないが、スイッチを除く
部分は、入力電圧より低い電源電圧用の耐圧で製造する
ことができるため、レベルシフト回路の動作が高速とな
る。したがって、電源電圧範囲を超える入力電圧を電源
電圧範囲内の電圧にシフトして出力することができると
ともに、高速に動作することができる。
【0032】また、演算増幅器のスタンバイ時にスイッ
チにより入力電圧を遮断することができるので、演算増
幅器のスタンバイ時に、反転入力端子に電源電圧より高
い入力電圧が印加されることを防止することができ、よ
り確実に反転入力端子に印加される電圧を電源電圧範囲
内に保持することができる。
【0033】(5)第5の発明 第5の発明に係る集積回路は、第1〜第4のいずれかの
発明に係るレベルシフト回路と、レベルシフト回路の電
源電圧により動作する動作回路とを1チップ化したもの
である。
【0034】本発明に係る集積回路では、電源電圧より
高い入力電圧を電源電圧以下の電圧にシフトして出力す
ることができるとともに、電源電圧用の製造プロセスを
用いて製造することができる第1〜第3のいずれかの発
明に係るレベルシフト回路と、レベルシフト回路の電源
電圧により動作する動作回路とを1チップ化しているの
で、入力電圧より低い電源電圧用の製造プロセスを用い
てレベルシフト回路および動作回路を1チップ化するこ
とができ、プロセスコストを低減できるとともに、より
高速に動作することができる。
【0035】また、第4の発明に係るレベルシフト回路
と動作回路とを1チップ化した場合は、レベルシフト回
路の動作が高速となり、集積回路の動作をより高速化す
ることができる。
【0036】(6)第6の発明 第6の発明に係る集積回路は、第5の発明に係る集積回
路の構成において、入力電圧が印加される外部端子とレ
ベルシフト回路との間に保護回路が設けられ、保護回路
は、レベルシフト回路の電源電圧を供給する電源から切
り離されているものである。
【0037】この場合、入力電圧が印加される外部端子
とレベルシフト回路との間に保護回路が設けられ、保護
回路はレベルシフト回路の電源電圧を供給する電源から
切り離されているので、電源電圧より高い入力電圧が保
護回路を介してレベルシフト回路の電源に印加されるこ
とがなく、外部から印加されるサージ電圧による静電破
壊から入力電圧より低い電源電圧用の耐圧で製造された
レベルシフト回路を保護することができる。
【0038】(7)第7の発明 第7の発明に係る集積回路は、第6の発明に係る集積回
路の構成において、保護回路は、一端が外部端子に接続
され、他端が接地され、ダイオード接続されたトランジ
スタである。
【0039】この場合、保護回路として機能するトラン
ジスタがレベルシフト回路の電源に接続されていないの
で、電源電圧より高い入力電圧がトランジスタを介して
レベルシフト回路の電源に印加されることがない。した
がって、トランジスタのみを用いた簡略な構成により、
外部から印加されるサージ電圧による静電破壊から入力
電圧より低い電源電圧用の耐圧で製造されたレベルシフ
ト回路を保護することができる。
【0040】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の第1の実施の形
態によるレベルシフト回路の構成を示す回路図である。
図1に示すレベルシフト回路は、抵抗R1,R2、NM
OSトランジスタQ1および演算増幅器1を含む。
【0041】抵抗R1の一端は、入力電圧Vinを受け
る端子N1に接続され、他端は演算増幅器1の反転入力
端子に接続される。NMOSトランジスタQ1の一端は
端子N1に接続され、他端は接地され、そのゲートは端
子N2に接続される。演算増幅器1の非反転入力端子は
シフト電圧Vrefを受ける端子N4に接続される。シ
フト電圧Vrefは、接地電位以上かつ電源電圧Vin
t以下の範囲内の所定レベルの電圧である。演算増幅器
1の反転入力端子と出力端子との間には負帰還ループを
構成する抵抗R2が接続される。抵抗R1,R2の抵抗
値は同じ値である。
【0042】演算増幅器1には、電源V1から電源電圧
Vintが供給されるとともに、演算増幅器1をスタン
バイ状態にするためのスタンバイ信号STが端子N5を
介して入力される。例えば、演算増幅器1が差動増幅回
路から構成される場合、スタンバイ信号STは、差動増
幅回路の定電流源となるトランジスタのゲートを接地す
るための信号であり、スタンバイ信号STとして1が入
力されると、定電流源がオフされ、演算増幅器1はスタ
ンバイ状態となり、スタンバイ信号STとして0が入力
されると、定電流源がオンされ、演算増幅器1は動作状
態となる。スタンバイ信号STは、端子N2にも入力さ
れる。
【0043】まず、スタンバイ信号STとして0が入力
され、演算増幅器1が動作状態にある場合、端子N1か
ら入力電圧Vinが抵抗R1を介して反転入力端子に入
力され、入力電圧Vinがシフト電圧Vrefによりシ
フトされ、電源電圧Vint以下の出力電圧Voutが
端子N6から出力される。例えば、入力電圧Vinとし
て5V系の入力電圧である4.2Vの電圧が入力される
と、シフト電圧Vrefが2.8Vの場合、出力電圧V
outは3V系の電圧である1.4Vの電圧となる。
【0044】ここで、演算増幅器1では抵抗R2により
負帰還ループが構成されているため、反転入力端子は、
非反転入力端子に仮想接地される。したがって、反転入
力端子の電圧は、端子N4から入力されるシフト電圧V
refと同じ電圧に保持され、電源電圧Vint以下に
保持される。
【0045】この結果、入力電圧Vinとして電源電圧
Vintより高い電圧が印加されても、動作時に演算増
幅器1に印加される電圧はすべて電源電圧Vint以下
になり、電源電圧Vintより高い入力電圧Vinを電
源電圧Vint以下の出力電圧Voutにシフトして出
力することができる。
【0046】次に、スタンバイ信号STとして1が入力
され、演算増幅器1がスタンバイ状態にある場合、反転
入力端子は非反転入力端子に仮想接地されない。このと
き、電源電圧Vintより高い入力電圧Vinが端子N
1から抵抗R1を介して反転入力端子に入力されると、
演算増幅器1の耐圧以上の電圧が印加されることにな
り、演算増幅器1が破損する危険性がある。
【0047】しかしながら、図1に示すレベルシフト回
路では、スタンバイ信号STによりNMOSトランジス
タQ1がオンし、端子N1が接地される。この結果、反
転入力端子に印加される電圧は電源電圧Vint以下に
保持され、この場合も、演算増幅器1に印加される電圧
は、すべて電源電圧Vint以下になる。
【0048】このように、図1に示すレベルシフト回路
では、電源電圧Vintより高い入力電圧Vinが入力
されても、動作時およびスタンバイ時ともに、演算増幅
器1に印加される電圧はすべて電源電圧Vint以下と
なり、演算増幅器1に必要とされる耐圧は、入力電圧V
inではなく、入力電圧Vinより低い電源電圧Vin
tになる。したがって、電源電圧Vintより高い入力
電圧Vinではなく、より低い電源電圧Vint用の製
造プロセスを用いてレベルシフト回路を製造することが
できる。
【0049】この結果、図1に示すレベルシフト回路で
は、電源電圧Vintより高い入力電圧Vinを電源電
圧Vint以下の電圧にシフトして出力することができ
るとともに、入力電圧Vinより低い電源電圧Vint
用の製造プロセスを用いて製造することができる。
【0050】また、上記のように、レベルシフト回路の
耐圧をより低くすることができるので、演算増幅器1を
構成する入力トランジスタのゲート酸化膜を厚くする必
要がなく、微細化プロセスを用いてトランジスタのチャ
ネル長も短くすることができ、より高速に動作させるこ
とができる。
【0051】なお、上記の例以外に、レベルシフト回路
の動作によりレベルシフト回路内部の入力トランジスタ
が入力電圧に耐える動作条件に設定し、レベルシフト回
路のスタンバイ時に入力トランジスタに印加される電圧
が電源電圧範囲内に保持されるようにしてもよい。
【0052】図2は、本発明の第2の実施の形態による
レベルシフト回路の構成を示す回路図である。図2に示
すレベルシフト回路と図1に示すレベルシフト回路とで
異なる点は、端子N1と抵抗R1との間にスイッチSW
が付加された点であり、その他の点は、図1に示すレベ
ルシフト回路と同様であるので同一部分には同一符号を
付し、以下詳細な説明を省略する。
【0053】図2に示すスイッチSWは、NMOSトラ
ンジスタQ2、PMOSトランジスタQ3およびインバ
ータI1を含む。
【0054】NMOSトランジスタQ2およびPMOS
トランジスタQ3は、端子N1とノードN7との間に接
続され、NMOSトランジスタQ1のゲートにはインバ
ータI1を介してスタンバイ信号STが入力され、PM
OSトランジスタQ3のゲートにはスタンバイ信号ST
が入力され、CMOS(Complementary Metal OxideSem
iconductor )スイッチが構成されている。
【0055】なお、NMOSトランジスタQ2およびP
MOSトランジスタQ3は、入力電圧Vinを確実に遮
断するため、演算増幅器1の電源電圧Vintより高い
入力電圧Vin用の高耐圧のトランジスタであり、NM
OSトランジスタQ2およびPMOSトランジスタQ3
に入力されるスタンバイ信号STは、高耐圧のトランジ
スタを確実にオン/オフするため、他のスタンバイ信号
STより高電圧の信号である。
【0056】まず、スタンバイ信号STとして0が入力
されると、スイッチSWがオンし、端子N1から入力電
圧Vinが抵抗R1を介して反転入力端子に入力され、
以降図1に示すレベルシフト回路と同様に動作する。一
方、スタンバイ信号STとして1が入力されると、スイ
ッチSWがオフし、入力電圧Vinは抵抗R1を介して
反転入力端子に入力されず、また、図1に示すレベルシ
フト回路と同様にNMOSトランジスタQ1によりノー
ドN1が接地される。
【0057】このように、図2に示すレベルシフト回路
では、図1に示すレベルシフト回路と同様の効果を得る
ことができるとともに、スタンバイ信号STに応じて入
力信号をハイインピーダンスにするとともにノードN7
を接地することにより、より確実にスタンバイ状態にお
いてレベルシフト回路の耐圧以上の電圧が印加されない
ようにしている。
【0058】図3は、本発明の第3の実施の形態による
レベルシフト回路の構成を示す回路図である。図3に示
すレベルシフト回路と図1に示すレベルシフト回路とで
異なる点は、NMOSトランジスタQ1が演算増幅器1
の反転入力端子に接続される点であり、その他の点は図
1に示すレベルシフト回路と同様であるので同一部分に
は同一符号を付し、以下詳細な説明を省略する。
【0059】図3に示すレベルシフト回路では、NMO
SトランジスタQ1の一端が演算増幅器1の反転入力端
子に接続され、他端は接地され、そのゲートはスタンバ
イ信号STを受ける端子N2に接続される。
【0060】この場合、スタンバイ信号STとして0が
入力され、演算増幅器1が動作状態にある場合、第1の
実施の形態と同様に動作し、スタンバイ信号STとして
1が入力され、演算増幅器1がスタンバイ状態にある場
合、NMOSトランジスタQ1がオンし、ノードN3が
接地される。このとき、端子N1から入力される入力電
圧Vinは抵抗R1による抵抗ドロップにより低下し、
簡略な構成で、より確実に反転入力端子に印加される電
圧を電源電圧Vint以下に保持することができる。
【0061】図4は、本発明のレベルシフト回路と3.
3V耐圧回路とを1チップ化した集積回路の構成を示す
ブロック図である。図4に示す集積回路10は、NMO
SトランジスタQ4、レベルシフト回路11、3.3V
耐圧回路12を備える。
【0062】NMOSトランジスタQ4はダイオード接
続され、その一端が外部端子N11に接続され、他端が
接地される。レベルシフト回路11および3.3V耐圧
回路12は、3.3Vの耐圧で設計された回路であり、
3.3V耐圧プロセス、例えば0.35μmプロセスに
より製造され、電源V11,V12から3.3Vの電源
電圧Vintを供給されて動作する。なお、レベルシフ
ト回路11は、図1または図3に示すレベルシフト回路
と同様に構成されている。
【0063】レベルシフト回路11は、外部端子N11
から5V系の入力電圧Vinを受け、3V系の出力電圧
Vin2(Vin2<Vint)にシフトし、3.3V
耐圧回路12へ出力する。3.3V耐圧回路12は、3
V系の出力電圧Vin2を受け、所定の動作を行う。
【0064】NMOSトランジスタQ4は、サージ電圧
が外部端子N11に印加された場合、サージ電圧を接地
端子に逃がすことにより静電破壊からレベルシフト回路
11を保護する。このとき、外部端子N11は、NMO
SトランジスタQ4を介して接地端子にのみ接続され、
電源電圧Vintより高い電源電圧を供給する電源と接
続されていない。
【0065】したがって、電源電圧Vintより高いサ
ージ電圧が外部端子N11に印加されても、NMOSト
ランジスタQ4を介してレベルシフト回路11の電源V
11に印加されることがなく、外部から印加されるサー
ジ電圧による静電破壊から入力電圧Vinより低い電源
電圧Vint用の製造プロセスを用いて製造されたレベ
ルシフト回路11を保護することができる。
【0066】上記のように、図4に示す集積回路10で
は、レベルシフト回路11の電源電圧および耐圧を3.
3V耐圧回路12と同一にすることができ、レベルシフ
ト回路11および3.3V耐圧回路12を3V系の製造
プロセスを用いて1チップ化することができ、プロセス
コストを低減することができる。また、3V系の製造プ
ロセスを用いているので、5V系の製造プロセスと比較
してより微細な加工を行うことができ、集積回路10の
チップ面積を低減することができるとともに、より高速
に動作する集積回路を実現することができる。
【0067】なお、レベルシフト回路11に図2に示す
レベルシフト回路を用いた場合は、レベルシフト回路の
動作が高速となり、集積回路の動作をより高速化するこ
とができる。
【0068】図5は、本発明のレベルシフト回路を用い
たCD−ROM(Compact Disc Read Only Memory)用
のRF(Radio Frequency)アンプのトラッキング系の
信号処理部の構成を示す回路図である。
【0069】なお、図5では、非点収差法を用いたフォ
ーカスサーボを行うために中心部に設けられた4分割光
検出部と、3ビーム法によるトラッキングサーボを行う
ために4分割光検出部の両側に設けられた2つの光検出
部とからなる光検出部を用いた光ピックアップから出力
される各信号を処理するCD−ROMドライブ用のRF
アンプのうち、トラッキングサーボを行うためにトラッ
キングサーボ用の一方の光検出部からのトラッキング信
号Eから他方の光検出部のトラッキング信号Fを減算し
てトラッキングエラー信号TEを出力する部分を示して
いる。
【0070】図5に示すRFアンプは、NMOSトラン
ジスタQ11,Q12、抵抗T11〜T23、演算増幅
器11〜18、可変抵抗回路VT11〜VT15、コン
デンサC11,C12および可変コンデンサVC11を
含む。
【0071】抵抗T11の一端は、端子N11に接続さ
れ、一方の光検出部からトラッキング信号Eを受ける。
演算増幅器11の反転入力端子は抵抗T11の他端に接
続され、非反転入力端子はシフト電圧VREF1を受け
る端子N13に接続され、反転入力端子と出力端子との
間には抵抗T13が接続される。NMOSトランジスタ
Q11の一端が演算増幅器11の反転入力端子に接続さ
れ、他端は接地され、そのゲートは演算増幅器11をス
タンバイ状態にするためのスタンバイ信号STを受ける
端子N41に接続される。なお、演算増幅器11には、
図3に示す演算増幅器1と同様に、3V系の電源電圧が
供給されるとともに、スタンバイ信号STが入力される
が、図示を省略している。
【0072】これにより、図3に示すレベルシフト回路
と同様の構成を有するレベルシフト回路が構成され、動
作時に、端子N11から入力されるトラッキング信号E
がシフト電圧VREF1により5V系の信号から3V系
の信号にシフトされ、スタンバイ時に、演算増幅器11
の反転入力端子の電圧が演算増幅器11の電源電圧以下
に保持される。
【0073】演算増幅器11の出力端子と演算増幅器1
3の反転入力端子との間には可変抵抗回路VT11が接
続され、演算増幅器13の非反転入力端子は所定の基準
電圧を受け、演算増幅器13の反転入力端子と出力端子
との間には抵抗T15が接続される。可変抵抗回路VT
11は、4種類の抵抗値を設定することができる。
【0074】これにより、プログラマブルゲインアンプ
が構成され、プログラマブルゲインアンプの増幅率とし
て、0dB、6dB、14dB、20dBの増幅率を設
定することができる。したがって、図5に示すRFアン
プでは、増幅率を6dB切り替えることにより300m
Vおよび600mVの信号を出力する2種類の光ピック
アップに対応することができるとともに、増幅率を14
dB切り替えることによりCD−RW(Compact Disc R
ewritable )ドライブ用の光ピックアップにも対応する
ことができる。
【0075】演算増幅器13の出力端子と演算増幅器1
5の反転入力端子との間には抵抗T17が接続され、演
算増幅器15の非反転入力端子は所定の基準電圧を受
け、演算増幅器15の反転入力端子と出力端子との間に
は可変抵抗回路VT13が接続されている。可変抵抗回
路VT13は、8ビットの制御信号に応じて抵抗値を2
56段階切り替えることができる。これにより、バラン
ス回路が構成され、8ビットの制御信号に応じて0dB
〜6dBの範囲を256段階で切り替えることができ
る。
【0076】抵抗T12の一端は、端子N12に接続さ
れ、他方の光検出部からトラッキング信号Fを受ける。
演算増幅器12の反転入力端子は抵抗T12の他端に接
続され、非反転入力端子はシフト電圧VREF1を受け
る端子N13に接続され、反転入力端子と出力端子との
間には抵抗T14が接続される。NMOSトランジスタ
Q12の一端が演算増幅器12の反転入力端子に接続さ
れ、他端は接地され、そのゲートは演算増幅器12をス
タンバイ状態にするためのスタンバイ信号STを受ける
端子N42に接続される。なお、演算増幅器12には、
図3に示す演算増幅器1と同様に、3V系の電源電圧が
供給されるとともに、スタンバイ信号STが入力される
が、図示を省略している。
【0077】これにより、図3に示すレベルシフト回路
と同様の構成を有するレベルシフト回路が構成され、動
作時に、端子N12から入力されるトラッキング信号F
がシフト電圧VREF1により5V系の信号から3V系
の信号にシフトされ、スタンバイ時に、演算増幅器12
の反転入力端子の電圧が演算増幅器12の電源電圧以下
に保持される。
【0078】演算増幅器12の出力端子と演算増幅器1
4の反転入力端子との間には可変抵抗回路VT12が接
続され、演算増幅器14の非反転入力端子は所定の基準
電圧を受け、演算増幅器14の反転入力端子と出力端子
との間には抵抗T16が接続される。可変抵抗回路VT
12は、可変抵抗回路VT11と同様に構成され、可変
抵抗回路VT12の抵抗値として4種類の抵抗値が設定
できる。これにより、プログラマブルゲインアンプが構
成され、プログラマブルゲインアンプの増幅率として、
0dB、6dB、14dB、20dBの増幅率を設定す
ることができる。
【0079】演算増幅器14の出力端子と演算増幅器1
6の反転入力端子との間には抵抗T18が接続され、演
算増幅器16の非反転入力端子は外部から設定可能な基
準電圧VDA2を受ける端子N25に接続され、演算増
幅器16の反転入力端子と出力端子との間には可変抵抗
回路VT14が接続されている。可変抵抗回路VT14
は、可変抵抗回路VT13と同様に構成され、8ビット
の制御信号に応じて抵抗値を256段階切り替えること
ができる。これにより、バランス回路が構成され、8ビ
ットの制御信号に応じて0dB〜6dBの範囲を256
段階で切り替えることができる。
【0080】演算増幅器15の出力端子と演算増幅器1
7の非反転入力端子との間には抵抗T19が接続され、
演算増幅器17の反転入力端子と非反転出力端子との間
にはコンデンサC11および抵抗T21が接続され、演
算増幅器16の出力端子と演算増幅器17の非反転入力
端子との間には抵抗T20が接続され、演算増幅器17
の非反転入力端子と反転出力端子との間には抵抗T22
およびコンデンサC12が接続され、演算増幅器17の
反転出力端子は所定の基準電圧を受ける。これにより、
減算回路が構成され、演算増幅器16の出力から演算増
幅器15の出力を減算した信号が演算増幅器17の非反
転出力端子から出力される。
【0081】演算増幅器17の非反転出力端子と演算増
幅器18の反転入力端子との間には可変抵抗回路VT1
5が接続され、演算増幅器18の非反転入力端子は所定
の基準電圧を受け、演算増幅器18の反転入力端子と出
力端子との間には可変コンデンサVC11および抵抗T
23が接続される。
【0082】可変抵抗回路VT15は、4ビットの制御
信号に応じて抵抗値を16段階切り替えることができ
る。また、可変コンデンサVC11は、その容量として
2種類の容量を設定することができるように構成されて
いる。
【0083】これにより、プログラマブルゲインアンプ
が構成され、4ビットの制御信号に応じて−6dB〜6
dBの範囲を16段階で切り替えることができるととも
に、2種類の周波数特性を設定することができる。
【0084】上記の構成により、一方の光検出部のトラ
ッキング信号Eは、レベルシフト回路として機能する演
算増幅器11により5V系の信号から3V系の信号にシ
フトされ、プログラマブルゲインアンプとして機能する
演算増幅器13により0dB、6dB、14dB、20
dBのいずれかの増幅率により増幅され、バランス回路
として機能する演算増幅器15により0dB〜6dBの
範囲で256段階のいずれかのレベルでバランス調整さ
れ、他方の光検出部の出力信号Fも上記と同様に処理さ
れる。
【0085】このようにして、レベル等が調整された出
力信号E,Fは、減算回路として機能する演算増幅器1
7により減算され、最後に、演算増幅器18により−6
dBから6dBの範囲で16段階のいずれかの増幅率で
増幅され、トラッキングエラー信号TEが出力される。
【0086】また、図示を省略したフォーカス系の信号
処理部も上記と同様に構成され、4分割光検出部の出力
信号A,B,C,Dを用いて(A+C)−(B+D)を
演算し、フォーカスエラー信号FEが出力される。
【0087】上記のように、図5に示すRFアンプで
は、レベルシフト回路を他の回路とともに3V系の製造
プロセスを用いて集積化することができ、プロセスコス
トを低減することができる。また、3V系の製造プロセ
スを用いているので、5V系の製造プロセスと比較して
より微細な加工を行うことができ、RFアンプの回路面
積を低減することができるとともに、より高速に動作す
るRFアンプを実現することができる。
【0088】図6は、図5に示すRFアンプを含むCD
−ROMドライブ用半導体集積回路の構成を示すブロッ
ク図である。
【0089】図6に示す半導体集積回路100は、RF
アンプ101、DSP(Digital Signal Processor)1
02、DAC(Digital Analog Converter)103、サ
ーボ回路104、マイコン(マイクロコンピュータ)1
05、エラー訂正回路106およびDRAM(Dynamic
Random Access Memory)107を含む。
【0090】半導体集積回路100は、RFアンプ10
1、DSP102、DAC103、サーボ回路104、
マイコン105、エラー訂正回路106およびDRAM
107をCMOSプロセスにより集積化して1チップ化
したCMOS集積回路である。なお、DRAM107
は、コスト的な観点から、別チップとし、RFアンプ1
01、DSP102、DAC103、サーボ回路10
4、マイコン105およびエラー訂正回路106をCM
OS集積回路として1チップ化し、これらを同一パッケ
ージ内に封止するようにしてもよい。
【0091】光ピックアップ110によりCD−ROM
ディスク上に記録されたデータがRF信号に変換され、
RFアンプ101へ出力される。RFアンプ101は、
図5に示すRFアンプと同様に構成され、入力されたR
F信号から上記の処理によりフォーカスエラー信号、ト
ラッキングエラー信号および再生信号(EFM(Eight
to Fourteen Modulation)信号)等を生成し、DSP1
02へ出力する。
【0092】DSP102およびサーボ回路104は、
フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号等
から光ピックアップ110を制御するための制御信号を
作成し、駆動回路120へ出力する。駆動回路120
は、入力された制御信号に応じて光ピックアップ110
内のアクチュエータを駆動し、良好なRF信号を再生す
るように光ピックアップ110が制御される。
【0093】エラー訂正回路106は、DRAM107
を用いて再生データのエラー訂正を行い、音声信号を再
生する場合はDAC103により再生データをアナログ
信号へ変換して出力する。
【0094】マイコン240は、ドライブ全体の動作を
制御するシステムコントローラとして機能し、必要に応
じてDSP102等とデータ等を送受信し、CD−RO
Mドライブの種々の動作が実行される。
【0095】上記のように、図6に示す半導体集積回路
100では、3V系の製造プロセスを用いて製造可能な
RFアンプ101を用いることにより、他のブロックを
含めてCMOSプロセスにより1チップ化することがで
き、小型でかつ高速なCD−ROM用の1チップCMO
S集積回路を実現することができる。
【0096】なお、上記の説明では、CD−ROMドラ
イブの回路を例に説明したが、本発明のレベルシフト回
路が適用される集積回路は、この例に特に限定されず、
種々の集積回路に同様に適用することができ、同様の効
果を得ることができる。
【0097】図7は、本発明によるレベルシフト回路、
3.3V耐圧回路および2.5V耐圧回路を1チップ化
した集積回路の構成を示すブロック図である。図7に示
す集積回路20は、3.3V耐圧回路21、レベルシフ
ト回路22および2.5V耐圧回路23を備える。集積
回路20は、同一集積回路内で電源電圧が異なる回路間
のインタフェースを取った例を示すものである。
【0098】3.3V耐圧回路21は、3.3Vの耐圧
で設計された回路であり、電源V21から3.3Vの電
圧Vint1を供給されて動作する。レベルシフト回路
22および2.5V耐圧回路23は、2.5Vの耐圧で
設計された回路であり、電源V22,V23から2.5
Vの電圧Vint2を供給されて動作する。なお、レベ
ルシフト回路11は、電源電圧が2.5Vに変更され、
3V系の入力電圧を2V系の出力電圧にシフトする点を
除き、図1〜図3に示すレベルシフト回路と同様の構成
される。
【0099】3.3V耐圧回路21は、外部端子N21
から3V系の入力電圧Vin1(Vin1<Vint
1)を受け、所定の動作を行い、3V系の出力電圧Vo
ut1をレベルシフト回路22へ出力する。レベルシフ
ト回路22は、3V系の出力電圧Vout1を2V系の
出力電圧Vin2(Vin2<Vint2)にシフト
し、2.5V耐圧回路23へ出力する。2.5V耐圧回
路23は、2V系の出力電圧Vin2を受け、所定の動
作を行う。
【0100】このように、本発明のレベルシフト回路
は、同一集積回路内で電源電圧が異なる回路間のインタ
フェースを取る場合にも用いることができる。この場
合、レベルシフト回路22および2.5V耐圧回路23
をより微細な0.25μmルールにより設計して製造す
ることができ、レベルシフト回路22および2.5V耐
圧回路23を小面積化することができるとともに高速化
することができる。
【0101】なお、本発明のレベルシフト回路は、5V
系の信号を3V系の信号にシフトするもの等に特に限定
されず、他の電圧からより低い電圧へシフトする場合に
も同様に適用することができ、同様の効果を得ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態によるレベルシフト
回路の構成を示す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態によるレベルシフト
回路の構成を示す回路図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態によるレベルシフト
回路の構成を示す回路図である。
【図4】本発明のレベルシフト回路と3.3V耐圧回路
とを1チップ化した集積回路の構成を示すブロック図で
ある。
【図5】本発明のレベルシフト回路を用いたCD−RO
M用のRFアンプのトラッキング系の信号処理部の構成
を示す回路図である。
【図6】図5に示すRFアンプを含むCD−ROMドラ
イブ用半導体集積回路の構成を示すブロック図である。
【図7】本発明によるレベルシフト回路、3.3V耐圧
回路および2.5V耐圧回路を1チップ化した集積回路
の構成を示すブロック図である。
【図8】5V系の回路と3V系の回路とが混在する従来
の回路の構成を示すブロック部である。
【図9】図8に示す回路を1チップ化した集積回路の構
成を示すブロック部である。
【図10】図8に示す回路を1チップ化した他の集積回
路の構成を示すブロック部である。
【符号の説明】
1,11,12 演算増幅器 R1,R2,T11〜T14 抵抗 Q1,Q2,Q4,Q11,Q12 NMOSトランジ
スタ Q3 PMOSトランジスタ SW スイッチ 10,20 集積回路 11,22 レベルシフト回路 12,21 3.3V耐圧回路 23 2.5V耐圧回路 100 半導体集積回路 101 RFアンプ 102 DSP 103 DAC 104 サーボ回路 105 マイコン 106 エラー訂正回路 107 DRAM
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大塚 健志 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 5J056 AA11 AA33 BB02 BB43 BB57 BB59 CC00 CC01 CC21 DD13 DD27 DD29 EE07 FF06 FF07 FF08 GG06 5J090 AA01 AA47 AA53 CA65 CA87 DN02 FA17 HA10 HA17 HA19 HA25 HA26 HA29 HA30 HA39 KA04 KA18 KA33 MA13 MN01 TA01 5J091 AA01 AA47 AA53 CA65 CA87 FA17 HA10 HA17 HA19 HA25 HA26 HA29 HA30 HA39 KA04 KA18 KA33 MA13 TA01

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力電圧をシフトして出力するレベルシ
    フト回路であって、 前記レベルシフト回路の動作時に、入力端子から前記レ
    ベルシフト回路の電源電圧範囲を超えた入力電圧が印加
    され、前記レベルシフト回路の動作により前記レベルシ
    フト回路内部の入力トランジスタが前記入力電圧に耐え
    る動作条件に設定され、前記レベルシフト回路のスタン
    バイ時に、前記入力トランジスタに印加される電圧が前
    記電源電圧範囲内に保持されることを特徴とするレベル
    シフト回路。
  2. 【請求項2】 入力電圧をシフトして出力するレベルシ
    フト回路であって、 演算増幅器の反転入力端子に第1の抵抗が接続され、前
    記反転入力端子と前記演算増幅器の出力端子との間に負
    帰還ループを構成する第2の抵抗が接続され、前記演算
    増幅器の非反転入力端子に印加される電圧が前記演算増
    幅器の電源電圧範囲内に保持され、前記演算増幅器の動
    作時に、前記電源電圧範囲を超えた入力電圧が前記第1
    の抵抗を介して前記反転入力端子に印加され、前記電源
    電圧範囲内の出力電圧にシフトされて前記出力端子から
    出力され、前記演算増幅器のスタンバイ時に、前記反転
    入力端子に印加される電圧が前記電源電圧範囲内に保持
    されることを特徴とするレベルシフト回路。
  3. 【請求項3】 一端が接地され、他端が前記反転入力端
    子または前記第1の抵抗を介して前記反転入力端子に接
    続され、前記演算増幅器のスタンバイ時にオンするトラ
    ンジスタを備える請求項2記載のレベルシフト回路。
  4. 【請求項4】 一端に前記入力電圧を受け、他端が前記
    第1の抵抗に接続され、前記演算増幅器のスタンバイ時
    に前記入力電圧が前記第1の抵抗に印加されるのを遮断
    するスイッチをさらに備えることを特徴とする請求項2
    または3記載のレベルシフト回路。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載のレベル
    シフト回路と、前記レベルシフト回路の電源電圧により
    動作する動作回路とを1チップ化したことを特徴とする
    集積回路。
  6. 【請求項6】 入力電圧が印加される外部端子と前記レ
    ベルシフト回路との間に保護回路が設けられ、前記保護
    回路は、前記レベルシフト回路の電源電圧を供給する電
    源から切り離されていることを特徴とする請求項5記載
    の集積回路。
  7. 【請求項7】 前記保護回路は、一端が前記外部端子に
    接続され、他端が接地され、ダイオード接続されたトラ
    ンジスタであることを特徴とする請求項6載の集積回
    路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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