JP2001217579A - 換気装置、換気方法、及び半導体製造装置 - Google Patents

換気装置、換気方法、及び半導体製造装置

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JP2001217579A
JP2001217579A JP2000024233A JP2000024233A JP2001217579A JP 2001217579 A JP2001217579 A JP 2001217579A JP 2000024233 A JP2000024233 A JP 2000024233A JP 2000024233 A JP2000024233 A JP 2000024233A JP 2001217579 A JP2001217579 A JP 2001217579A
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洋一 島内
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Abstract

(57)【要約】 本発明は、クリーンルーム内に設置される半導体製造装
置や半導体検査装置などの電気機器から発生する熱を、
クリーンルーム外へ排出する換気装置に関し、クリーン
ルームの空調システムに負荷を与えずに、電気機器で生
じる熱をクリーンルームの外部へ排熱することを目的と
し、クリーンルームに設置されると共に発熱源となる電
気機器を備えた半導体製造装置に接続し、該電気機器で
発生する熱を排出するためにクリーンルーム外の空気を
該半導体製造装置へ導く導気手段と、該導気手段により
導かれて該電気機器の熱と熱交換された空気をクリーン
ルームの外に排出する排気手段とを備えるよう構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、換気装置に係り、
特に、クリーンルーム内に設置される半導体製造装置や
半導体検査装置などの電気機器から発生する熱を、クリ
ーンルーム外へ排出する換気装置に関する。
【0002】半導体集積回路は、半導体基板上への酸化
膜の堆積、不純物注入、熱処理、配線金属被着、レジス
トパターニング、エッチングなどの、一連の半導体プロ
セスを経由して形成されることが一般的である。また、
半導体集積回路に形成されるトランジスタやダイオード
などの寸法は非常に小さい。このため、空気中に浮遊し
ている塵(パーティクル)が半導体基板上に付着して影
を作ると、設計通りのパターン形成ができず、回路機能
を発揮できなくなる。そのような問題を避けるため、通
常、半導体製造工程は、周囲環境を無塵状態に近づけた
クリーンルームの内部にて行われる。
【0003】更に、クリーンルーム内の空気は、半導体
製造装置の製造精度を確保するために、温度と湿度にお
いても所望の範囲となるよう厳密に管理される必要があ
る。
【0004】半導体製造装置は電気を動力源としてお
り、装置が稼働し出すと、その消費電力で内部の温度が
上昇する。現在の半導体製造装置では、この温度上昇を
抑制するために、十分排熱できる量の空気の流れを装置
内部に発生させることのできる換気装置が必要とされて
いる。
【0005】
【従来の技術】図6は従来の熱排気装置の構成を示す図
である。5はクリーンルームであり、6はクリーンルー
ム5の床である。また、8はフリーアクセス床である。
10は半導体製造装置であり、フリーアクセス床8の上
に設置されている。図では2台の半導体製造装置がある
場合を示している。1は電気機器であり、半導体製造装
置10の内部に収納されている。7は床下空間であり、
フリーアクセス床8とクリーンルーム床6の間の空間
で、図示しない電気配線、給排水配管、プロセスガス配
管、真空配管などを収納している。9は付帯機器室であ
り、クリーンルーム床6の下にあり、図示しない真空ポ
ンプなどの動力機器が収納されている。20は排気ダク
トであり、半導体製造装置10の内部の空気を引き出す
ために設けられている。3は集合排気ダクトであり、1
つ或いは複数の排気ダクト20と接続されている。4は
排気ファンであり、集合排気ダクト3の空気を屋外の大
気中に放出するものである。なお、図中の矢印は空気の
流れを示している。
【0006】クリーンルーム内部に設置されている半導
体製造装置10において、内部に収納された電気機器1
は、電気を動力源とし、電気炉の加熱制御をしたり、半
導体基板の搬送、電気的試験などの制御を行うものであ
る。そして電気機器1で消費される電力のほとんどは熱
に変換されることになる。しかしながら発生した熱をそ
のままクリーンルームに放出すると、クリーンルーム内
の温度に影響が生じるため、クリーンルームの空調シス
テムへの負荷が大きくなる。そこで、クリーンルーム内
の空気を半導体製造装置10の筐体に設けられた吸気用
の穴から取り込み、電気機器1周辺を流れる気流を作
り、電気機器1で発生した熱と熱交換せしめ、排気ダク
ト20へ排出する。そしてそれぞれの半導体製造装置1
0に繋がった複数の排気ダクト20の空気を集める集合
排気ダクト3を経由して、排気ファン4によりクリーン
ルーム5内の空気を大気中に放出する。同時にこの排気
ファン4の排気量に見合った新しい空気が、外気から取
込まれる。取り込まれた空気はフィルタで塵を除かれ、
温度及び湿度調整された後に、クリーンルーム空調シス
テムの空気循環に投入される。このようにして、パーテ
ィクルの数、温度、湿度などが一定の範囲内で制御さ
れ、クリーンルームの環境は維持されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来のクリーンルーム
の空調システムでは、電気機器で発生する熱は、クリー
ンルーム内の空気とともに大気中に排出する方式のた
め、排出した空気量に見合った新しい空気を外部から導
入する空調処理が必要であった。
【0008】仮に、半導体製品増産のために半導体製造
装置を増設しようとすると、電気機器で発生する熱量の
増加をカバーできるように、クリーンルームの空調処理
能力および熱排気能力の増強が必要となる。
【0009】更に、最近の半導体基板の大口径化に伴う
半導体製造装置自体の大型化により、電気機器で発生す
る熱自体も増加し、上述と同様に空調処理能力および熱
排気能力の増強が必要となる。
【0010】本発明は、クリーンルームの空調システム
に負荷を与えずに、電気機器で生じる熱をクリーンルー
ムの外部へ排熱することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明による換気装置
は、クリーンルームに設置された半導体製造装置におい
て、半導体製造装置の電気機器で発生する熱を排出する
ために、クリーンルーム外の空気を電気機器へ導く導気
手段と、導気手段により導かれ電気機器の熱により暖め
られた空気をクリーンルームの外に排出する排気手段と
を備えるようにする。
【0012】本発明者らは、半導体製造装置の増設又は
大型化等に伴って空調処理能力や熱排気能力の増強が必
要となるのは、クリーンルーム内に設置される半導体製
造装置の電気機器で生じる熱をクリーンルームの空気を
使って熱交換し、外気に排出しているからだという点に
着目した。
【0013】本発明では、電気機器で生じる熱をクリー
ンルーム内の空気の流れとは独立したクリーンルーム外
の空気の流れを作って排出するため、クリーンルームの
空調システムに負荷を与えない。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は本発明の原理構成を示す図
である。図では2台の半導体製造装置がクリーンルーム
内に設置されている場合を示している。図中、図6のも
のと同じものは同一の符号にて示しており、22は換気
ファン、23は導気ダクトである。換気ファン22は本
発明の換気装置における空気の流れを生じるためのもの
であり、クリーンルームの外へ向けた空気の流れを作っ
ている。導気ダクト23は半導体製造装置10へクリー
ンルーム外の空気を導くダクトである。なお、図中の矢
印は空気の流れを示している。
【0015】電気機器1で生じた熱は、導気ダクト23
を経由して供給されるクリーンルーム外の空気と熱交換
する。熱交換して暖められた空気は、換気ファン22に
より排気ダクト20を経由して再びクリーンルーム外へ
排出される。この時使われるクリーンルーム外の空気と
は、例えば付帯機器室の空気のことであり、付帯機器室
では、クリーンルームの空調ほど厳密に温度及び湿度の
調整はしていないが、除湿及び粗い温度調整を行う、低
コスト版の空調パッケージが用いられる。すなわち本発
明では、電気機器1の周辺の暖められた空気の流れが、
クリーンルーム内の空気と独立している。従って、本発
明では、電気機器1で生じる熱が、クリーンルームにお
ける空調システムに対して及ぼす影響を最小限に抑制す
ることができる。また、一般的にクリーンルームは与圧
されていることが多い。このような場合、本換気経路に
おいて、クリーンルーム5との完全な密閉性は不要とな
る。クリーンルーム内の気圧の方が高いため、小さな隙
間ならば、本換気用の空気がクリーンルームへ流れ込む
ことは無い。逆に、クリーンルームの空気が本換気経路
に漏れ出す量は、クリーンルームの空調システムが扱う
量に較べると無視できる。
【0016】図2は本発明の第1の実施例を示す斜視図
である。
【0017】図2において、20は排気ダクト、21は
排気ダンパー、22は換気ファン、23は導気ダクト、
24は導気ダンパー、25は導気箱、26は導気フィル
タであり、これらによって換気装置が構成されている。
10は半導体製造装置、11は空調パッケージ、8はフ
リーアクセス床、6はクリーンルームの床である。9は
付帯機器室であり、半導体製造装置10を真空排気する
ための図示しない真空ポンプなどの動力機器が設置され
ている。
【0018】本実施例では付帯機器室9がクリーンルー
ム5の床下にある場合を説明している。クリーンルーム
の床6の上方にはフリーアクセス床8がある。フリーア
クセス床8はスノコ状の床であり、半導体製造装置10
はこのフリーアクセス床8の上に設置される。フリーア
クセス床8とクリーンルームの床6の間には床下空間7
がある。床下空間7には、図示しない電気配線、給排水
配管、プロセスガス配管、真空配管などが設置されてい
る。
【0019】導気箱25はクリーンルームの床6の任意
の位置に固定され、付帯機器室9からの空気の導入口と
なる。導気箱25には導入する空気のパーティクルを除
去するための導気フィルタ26(例えば、ヘパフィルタ
など)が収納されている。半導体製造装置10と導気箱
25とは導気ダクト23によって接続されており、その
途中には導気ダンパー24が設けられている。導気ダク
ト23と導気ダンパー24の接続に際して、床下空間の
配管・配線などを避けるため、導気ダクト23は曲げ及
び伸縮自在な構造(例えば、塩化ビニール製フレキシブ
ルダクトなど)である。付帯機器室9から導入された空
気は電気機器で発生した熱と熱交換して暖まり、排気ダ
クト20と風量調整可能な排気ダンパー21を経由し
て、クリーンルームの床6の任意の位置に固定された換
気ファン22により付帯機器室9へ排気される。半導体
製造装置10と排気ダンパー21との接続のため、導気
ダクト23と同様に排気ダクト20も曲げ及び伸縮自在
な構造である。クリーンルーム内には、上述したような
半導体製造装置が複数台隣接して配置され、個々に導気
系及び排気系が接続されている。なお本実施例では、個
々の半導体製造装置は付帯機器室と直接ダクトで繋がれ
ている。そのため、集合排気ダクトや大型の排気ファン
を必要としない。
【0020】換気ファン22から排出された暖まった空
気は、付帯機器室9に拡散し、付帯機器室の室温を変化
させようとする。空調パッケージ11は付帯機器室9の
空調機であり、クリーンルームで使われる空調機に比べ
空気の処理量が少なく、除湿機能はあるが湿度制御を厳
しく行わないために、安価なものが適用可能である。こ
の空調パッケージ11を用いて、付帯機器室9の室温変
化を抑えて所望の温度に制御する。
【0021】ところで半導体製造装置10をメンテナン
スする場合、換気装置も止めることになる。その際に
は、導気ダンパー24及び排気ダンパー21を閉じるこ
とにより、付帯機器室9とクリーンルーム5とを物理的
に分離することが可能である。なお、通常の運用時に
は、電気機器1の発熱量の大小によって、導気及び排気
ダンパーの開閉度合いを変えることにより、排熱のため
の適正風量を得る。
【0022】従来の半導体製造装置ではクリーンルーム
の空気を吸い込んで、電気機器で生じる熱を排熱してい
たが、本発明では、導気系、半導体製造装置、排気系の
経路でクリーンルーム外の空気を流して排熱するため、
クリーンルームの空調システムに対して負荷とはならな
い。また、従来のクリーンルームの排気システム(大口
径の排気ダクト及び大容量の排気ファンを備えたもの)
に比べ簡便にクリーンルーム外部に排気することができ
る。本発明の換気装置は、半導体製造装置の配置レイア
ウト、設置台数の増加、大型化などの変更にも容易に対
応可能である。
【0023】図3は半導体製造装置の例を示す斜視図で
あり、熱処理装置の具体例を示している。
【0024】図2のものと同様、半導体製造装置10
は、フリーアクセス床8の上に設置されている。15は
ロードポートで、熱処理前のウェハーをウェハーカセッ
トに収納し、処理後のウェハーを元の位置へ戻すもので
ある。16はセットアップ部であり、ロードポート15
からウェハーを一枚づつ取り出し、石英製のボート上に
セットアップし、又、熱処理後のウェハーをウェハーカ
セットに戻すものである。17は炉体であり、セットア
ップ部16で装填されたウェハーに対して熱処理を施す
ものである。又、1は電気機器であり、炉体の温度調
整、熱処理時間、ウェハー搬送などの制御回路や電源な
どで構成されており、発熱源となっている。
【0025】そして、図示していない床下の付帯機器室
9から導気ダクト23を経由して空気を吸気し、電気機
器1が設置された半導体製造装置10の筐体内へ送風す
る。送風された空気は、電気機器周辺を流れる間に発生
した熱と熱交換して暖まり、排気ダクト20を経由して
床下の付帯機器室9へ排気される。
【0026】従来の熱処理装置ではクリーンルームの空
気を吸い込んで、電気機器で生じる熱を排熱していた
が、本実施例では導気ダクト、熱処理装置と排気ダクト
を流れるクリーンルーム外の空気の流れで排熱するた
め、クリーンルームの空調システムに対して負荷とはな
らない。
【0027】ところで最近のクリーンルームでは空調さ
れた空気は天井から床下空間へ流れる所謂ダウンフロー
が主流である。しかし、従来は天井裏に空調機を備え、
天井から空調された空気を吐き出すタイプが多数を占め
ていた。図4は従来型のクリーンルームを想定した本発
明の第2の実施例を示す斜視図であり、付帯機器室9が
クリーンルーム5の天井裏にある場合を示している。
【0028】この場合、導気フィルタ26を内蔵した導
気箱25は、クリーンルーム天井裏の付帯機器室の床に
設けられることになる。導気箱25と半導体製造装置1
0とは、導気ダクト23により天井を貫通して接続され
ており、その途中には導気ダンパー24が設けられてい
る。電気機器で発生した熱と熱交換した空気は排気ダク
ト20、クリーンルームの天井を貫通する排気ダンパー
21、付帯機器室の床に設置された換気ファン22を経
由して付帯機器室へ排気される。排出された空気は付帯
機器室に備えられた空調パッケージ11で冷やされ、所
望の温度の空気に戻される。
【0029】本実施例においても、電気機器における発
熱に対して、クリーンルームの空調された空気とは独立
した天井裏の付帯機器室の空気で排熱しているため、ク
リーンルームの空調システムには負荷を与えない。
【0030】図5は本発明の第3の実施例を示す構成図
であり、直接外気を取り込んで電気機器の排熱を行う場
合を示している。この構成は、付帯機器室で空調された
空気をできるだけ使用しない、更に低コスト化を目的と
した換気装置である。図中、図2と同じものは同じ符号
にて示しており、18は半導体製造装置の内部に設けた
装置内温度計、19は外気温度計である。
【0031】本実施例では外気を直接半導体製造装置1
0へ導く導気系が第1の実施例で示した付帯機器室9か
ら導かれる導気系と合流されている。外気または付帯機
器室の空気を半導体製造装置10へ導き、その取り込ま
れた空気は電気機器周辺で熱交換されて暖まって、排気
ダクト20、排気ダンパー21、換気ファン22を経由
して外気に放出される。
【0032】外気を取り込む場合、装置内部で結露を生
じないことが重要である。結露は空気の露点よりも低温
の物体表面に水滴として水蒸気が凝縮するものである。
従って、結露を装置内部で生じないようにするには、外
気の露点温度がクリーンルームの内部温度以上の場合
に、外気を取り込まないようにすることが必要である。
露点温度を求めるには温度及び湿度を測定しなければな
らないが、より簡便な方法としては、外気温度計19の
指示値が装置内温度計18の指示値より低い場合に外気
の導入すれば、温度測定だけで外気導入の可否を判断で
きる。
【0033】本実施例によれば、年間の半分近い期間、
外気による冷却が可能で、付帯機器室の空調負荷を軽減
できる。
【0034】付記 本発明は以下の特徴を有する。 (付記1) クリーンルームに設置されると共に、発熱
源となる電気機器を備えた半導体製造装置に接続し、該
電気機器で発生する熱を排出するために、クリーンルー
ム外の空気を該半導体製造装置へ導く導気手段と、該導
気手段により導かれて該電気機器の熱と熱交換された空
気をクリーンルームの外に排出する排気手段とを備えた
ことを特徴とする換気装置。(請求項1) (付記2) 前記クリーンルームは床下または天井裏に
付帯機器室を備えてなり、前記導気手段及び排気手段は
該付帯機器室に接続されることを特徴とする付記1記載
の換気装置。 (付記3) 前記導気手段は、前記半導体製造装置に供
給される空気中に含まれる塵を除去する導気フィルタを
収納した導気箱と、該供給される空気の流量を制御する
導気ダンパーと、該供給される空気を導く導気ダクトと
を有し、前記排気手段は該半導体製造装置から排出され
る空気を導く排気ダクトと、該排出される空気の流量を
制御する排気ダンパーと、排気ファンとを有することを
特徴とする付記1及び2記載の換気装置。 (付記4) クリーンルームに設置されると共に、発熱
源となる電気機器を備えた半導体製造装置に対し、該電
気機器で発生する熱を排出するために、クリーンルーム
外の空気を該半導体製造装置へ導くと共に、該電気機器
の熱と熱交換された該空気をクリーンルームの外に排出
することを特徴とする換気方法。(請求項2) (付記5) 前記空気を前記半導体製造装置へ導くか、
或いは該空気を該クリーンルームの外へと排出するため
の換気経路における気圧を、該クリーンルームにおける
気圧よりも低くすることを特徴とする付記4記載の換気
方法。 (付記6) 発熱源となる電気機器を内蔵した半導体製
造装置において、該半導体製造装置の筐体に空気の導入
口と排気口とを設け、該電気機器から放出された熱を、
該導入口を介して供給された前記空気により熱交換し、
該空気を該排出口を介して排出することを特徴とする半
導体製造装置。(請求項3)
【0035】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、半
導体製造装置の電気機器における発生熱をクリーンルー
ムの空調空気と独立して排出しているので、クリーンル
ームの空調負荷に及ぼす影響を抑制することができる。
また、従来例のようにクリーンルームの排気システム
(排気ダクト及び排気ファン)に比べ簡便にクリーンル
ーム外部に排気することができる。
【0036】また、増産のための半導体製造装置設置台
数の増加や大口径半導体基板処理のための装置の大型化
などによる発熱量の増加に対しても、空調システムとは
独立して排熱しているため、クリーンルームの空調シス
テムの大きな変更無く対処可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の原理構成を示す図
【図2】 本発明の第1の実施例を示す斜視図
【図3】 半導体製造装置の例を示す斜視図
【図4】 本発明の第2の実施例を示す斜視図
【図5】 本発明の第3の実施例を示す構成図
【図6】 従来の換気装置の構成を示す図
【符号の説明】
1 電気機器 3 集合排気ダクト 4 排気ファン 5 クリーンルーム 6 クリーンルーム床 7 床下空間 8 フリーアクセス床 9 付帯機器室 10 半導体製造装置 11 空調パッケージ 15 ロードポート 16 ウェハーセットアップ部 17 炉体 18 装置内温度計 19 外気温度計 20 排気ダクト 21 排気ダンパー 22 換気ファン 23 導気ダクト 24 導気ダンパー 25 導気箱 26 導気フィルタ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クリーンルームに設置されると共に、発
    熱源となる電気機器を備えた半導体製造装置に接続し、 該電気機器で発生する熱を排出するために、クリーンル
    ーム外の空気を該半導体製造装置へ導く導気手段と、該
    導気手段により導かれて該電気機器の熱と熱交換された
    空気をクリーンルームの外に排出する排気手段とを備え
    たことを特徴とする換気装置。
  2. 【請求項2】 クリーンルームに設置されると共に、発
    熱源となる電気機器を備えた半導体製造装置に対し、 該電気機器で発生する熱を排出するために、クリーンル
    ーム外の空気を該半導体製造装置へ導くと共に、該電気
    機器の熱と熱交換された該空気をクリーンルームの外に
    排出することを特徴とする換気方法。
  3. 【請求項3】 発熱源となる電気機器を内蔵した半導体
    製造装置において、該半導体製造装置の筐体に空気の導
    入口と排気口とを設け、該電気機器から放出された熱
    を、該導入口を介して供給された前記空気により熱交換
    し、該空気を該排出口を介して排出することを特徴とす
    る半導体製造装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011022808A (ja) * 2009-07-16 2011-02-03 Nec Corp 冷却装置及びその冷却方法

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