JPH0888155A - 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム - Google Patents

局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム

Info

Publication number
JPH0888155A
JPH0888155A JP22511494A JP22511494A JPH0888155A JP H0888155 A JPH0888155 A JP H0888155A JP 22511494 A JP22511494 A JP 22511494A JP 22511494 A JP22511494 A JP 22511494A JP H0888155 A JPH0888155 A JP H0888155A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
clean room
loading
filter
clean
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP22511494A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3697275B2 (ja
Inventor
Yoshiaki Kashiwase
芳昭 柏瀬
Kazutomo Isono
一智 磯野
Shigeo Honda
重夫 本田
Kazuhiro Iijima
一浩 飯島
Hiroyuki Nakajima
啓之 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kogyosha Co Ltd
Original Assignee
Asahi Kogyosha Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogyosha Co Ltd filed Critical Asahi Kogyosha Co Ltd
Priority to JP22511494A priority Critical patent/JP3697275B2/ja
Publication of JPH0888155A publication Critical patent/JPH0888155A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3697275B2 publication Critical patent/JP3697275B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Ventilation (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 全室清浄化されたクリーンルーム内の製造装
置内の超清浄化が達成できる局所クリーン化におけるイ
ンターフェイスボックス及びそのクリーンルームを提供
する。 【構成】 クリーンルーム内に設置される製造装置21
に接続され、その製造装置21へウエハカセット23を
出入するための局所クリーン化におけるインターフェイ
スボックスにおいて、上記製造装置21の搬出入口22
に接続されるボックス本体30内に半導体ウエハカセッ
ト23の搬出入室31を形成し、ボックス本体30の前
面に、半導体ウエハカセット23を搬出入室31に出入
れするための開閉扉32を設け、該搬出入室31上部の
ボックス本体30内に、送風機33とケミカルフィルタ
34とULPAフィルタ35とを設け、さらに搬出入室
31の下部のボックス本体30に、搬出入室31の超清
浄空気をクリーンルーム床下チャンバ19に排気する排
気系37を設けたことを特徴とする局所クリーン化にお
けるインターフェイスボックスである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、クリーンルーム内に設
置した製造装置内を超清浄度に保つための局所クリーン
化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーン
ルームに関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造用クリーンルームへの清浄度
に対する要求はますます厳しくなっているが、ギガビッ
ト世代においても現在の全面垂直層流方式を中心とした
クリーンルームを採用した場合、そのイニシャルコスト
とランニングコストが膨大になると予想されている。ま
た歩留まり向上のためには、クリーンルームの循環空気
の清浄度よりも、ウエハの表面汚染をいかにして防止す
るかに着目する必要があるといわれている。さらに、微
粒子汚染だけでなく、空気中のガス、イオンなどの分子
汚染の対策も必要である。
【0003】これらの観点から、将来のクリーンルーム
では清浄空間の局所化が必要とされ、米国においては、
SMIF(Standard Mechanical InterFace )に代表さ
れる”ミニエンバイロメント”の開発が行われてきてお
り、日本でも、大見忠弘等により”クローズド・マニフ
ァクチャリング・システム”(Break through for scie
ntific semiconductor manufacturing in 2001-A propo
sal from Tohoku Univer-sity,REARIZE INC. No.71,Ma
y,1992 )の概念が発表されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、現在の
半導体の量産工場においては、歩留まり向上のために製
造装置の改良とメンテナンスが頻繁に実施されているの
で、これらのシステムの採用は、ほとんど行われていな
い。そこで、量産向上の実状に見合った新しいコンセプ
トの清浄空間の局所化を構築することが必要である。
【0005】本発明者らは、次世代の半導体(64〜2
56MB)クリーンルーム用に、ウエハ処理領域と人を
隔離する密閉された空間に高清浄度(微粒子及びガス対
策)空気を供給し、かつ、個別の製造装置に対応可能で
全体のランニングコストの低下が可能な局所クリーン化
システムを開発してきた。
【0006】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、全室清浄化されたクリーンルーム内の製造装置内の
超清浄化が達成できる局所クリーン化におけるインター
フェイスボックス及びそのクリーンルームを提供するも
のである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1の発明は、クリーンルーム内に設置される製
造装置に接続され、その製造装置へ処理材を出入するた
めの局所クリーン化におけるインターフェイスボックス
において、上記製造装置の搬出入口に接続されるボック
ス本体内に処理材の搬出入室を形成し、ボックス本体の
前面に、処理材を搬出入室に出入れするための開閉扉を
設け、該搬出入室上部のボックス本体内に、送風機とケ
ミカルフィルタとULPAフィルタとを設け、さらに搬
出入室の下部のボックス本体に、搬出入室の超清浄空気
をクリーンルーム床下チャンバに排気する排気系を設け
たことを特徴とする局所クリーン化におけるインターフ
ェイスボックスである。
【0008】請求項2の発明は、搬出入室上部のボック
ス本体内には、クリーンルーム内の清浄空気を吸引する
送風機が配置され、その吹出口と搬出入室間にケミカル
フィルタとULPAフィルタが吹出流路を仕切るように
配置される請求項1記載の局所クリーン化におけるイン
ターフェイスボックスである。
【0009】請求項3の発明は、ボックス本体の上面の
吸込口に、ケミカルフィルタが設けられ、搬出入室上部
のボックス本体内に、上記ケミカルフィルタを通してク
リーンルーム内の清浄空気を吸引すると共にULPAフ
ィルタを介して清浄化するフィルタ付き送風機ユニット
が配置される請求項1記載の局所クリーン化におけるイ
ンターフェイスボックスである。
【0010】請求項4の発明は、搬出入室には、処理材
を載置すると共に超清浄空気を排気系に排気するための
多孔板からなる載置台を有する請求項1記載の局所クリ
ーン化におけるインターフェイスボックスである。
【0011】請求項5の発明は、載置台下方のボックス
本体が前後に仕切られ、その前室に排気系が形成される
請求項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイ
スボックスである。
【0012】請求項6の発明は、排気系には、搬出入室
内の圧力をクリーンルームに対して僅かに高い圧力に保
って排気するための微差圧ダンパを有する請求項1記載
の局所クリーン化におけるインターフェイスボックスで
ある。
【0013】請求項7の発明は、全面垂直層流で清浄空
気が循環されるクリーンルーム空間と、そのクリーンル
ーム空間の床上に配置される各種製造装置と、クリーン
ルーム空間の床下の床下チャンバーに配置され、各種製
造装置内の空気を吸引と共に外部に排気する真空ポンプ
を含む排気手段と、上記各種製造装置に接続され、処理
材を搬出入する搬出入室を有すると共に上部に、フィル
タ付き送風機ユニットとケミカルフィルタとULPAフ
ィルタとが配置された超清浄空気供給手段を有し、下部
に搬出入室内の超清浄空気を上記床下チャンバーに排気
する排気系を有するインターフェイスボックスとを備え
たことを特徴とする局所クリーン化におけるクリーンル
ームである。
【0014】
【作用】上記構成によれば、ボックス本体内の処理材の
搬出入室に、送風機とケミカルフィルタとULPAフィ
ルタにより超清浄空気を流すことで、クリーンルーム循
環空気から製造装置への分子汚染防止と処理材収納時の
分子汚染を防止できる。
【0015】従って、このインターフェイスボックス
を、製造装置の処理材の搬入口や搬出口にそれぞれ接続
したり搬出入口が同じであればその搬出入口に接続する
ことで、クリーンルーム内で製造装置の局所超清浄化が
達成できる。
【0016】請求項2によれば、ULPAフィルタと送
風機とをユニット化し、その吸込口にケミカルフィルタ
を設けることで、ケミカルフィルタのフィルタ面積を自
在に設定できる。
【0017】請求項5によれば、ボックス本体下部の前
室に排気系を形成することで、搬出入室内を流れる超清
浄空気を前後に二分し、前方の超清浄空気流では処理材
の出入れの際のエアカーテンとして、また後方では、製
造装置内の清浄度の保持として作用させることで、クリ
ーンルームと製造装置との分離が確実となる。
【0018】請求項6によれば、排気系に微差圧ダンパ
を設けることで、搬出入室内の超清浄空気の流れを最適
化できる。
【0019】請求項7によれば、インターフェイスボッ
クス内からの超清浄空気を床下チャンバーに直接排気す
ることで、製造装置の配置が変更になってもその配置に
応じて自在にインターフェイスボックスを接続すること
ができる。
【0020】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。
【0021】先ず、図3により本発明におけるクリーン
ルームの全体構成を説明する。
【0022】図3において、10は、建屋11内に形成
されるクリーンルーム空間で、建屋11内に設けたアク
セスフロア12上に側壁13で周囲が囲まれ、その上部
に天井壁14が設けられて区画形成される。この天井壁
14にはフィルタ付き送風機ユニット(FFU)15が
整列されて設けられる。
【0023】このクリーンルーム空間10には、フィル
タ付き送風機ユニット15から清浄空気が吹き出され、
クリーンルーム空間10を層流状態で流れて下方のアク
セスフロア12を介して床下チャンバ19に流入し、側
壁13の周囲のドライコイル16で空調されて、側壁1
3外周の循環流路17を通って天井チャンバ18に流入
し、再度フィルタ付き送風機ユニット15に吸引されて
クリーンルーム空間10に循環される。
【0024】床下チャンバー19には、床下チャンバ1
9内に外部空気を導入する外気ダクト19Aが配置さ
れ、また床下チャンバ19内の空気を、付属機器20
で、排気ダクト20Aを介して建屋11の外部に排気で
きるようになっている。
【0025】このクリーンルーム空間10内には、半導
体ウエハや液晶基板などの処理材の洗浄処理やCVDに
よる成膜を行う製造装置21等が多数配置され、その製
造装置21の搬出入口22に、処理材としての半導体ウ
エハカセット23を搬出入するための本発明のインター
フェイスボックス24が接続される。なお、この処理材
として液晶を製造するための基板であってもよい。
【0026】床下チャンバ19には、製造装置21内を
高真空に保つための真空ポンプ25やダクト26,27
からなる排気手段28が配置される。
【0027】このインターフェイスボックス24を図1
により詳細に説明する。
【0028】先ず、クリーンルーム空間10の上部の天
井壁14には、ULPAフィルタ29が設けられている
が、このULPAフィルタ29は、送風機と別個でも送
風機ユニット15と一体に設けてもよい。
【0029】クリーンルーム空間10のアクセスフロア
12上には製造装置21が配置され、そのアクセスフロ
ア12の下部の床下チャンバ19には、製造装置21内
を排気するための排気ダクト26が接続される。
【0030】この製造装置21の搬出入口22に接続さ
れるインターフェイスボックス24は、製造装置21の
搬出入口22に接続されるボックス本体30からなり、
そのボックス本体30内に、半導体ウエハカセット23
を一時保管する搬出入室31が形成される。
【0031】ボックス本体30の前面には、半導体ウエ
ハカセット23を搬出入室31に出入れするための上下
移動自在な開閉扉32が設けられ、その搬出入室31の
上部のボックス本体30内に、その上部より送風機33
とケミカルフィルタ34とULPAフィルタ35とが順
に設けられる。
【0032】搬出入室31には、半導体ウエハカセット
23を複数載置する多孔板からなる載置台36を有し、
その載置台36の下方のボックス本体30には、搬出入
室31から載置台36を通過した超清浄空気を床下チャ
ンバ19に排気する排気系37が設けられる。
【0033】この排気系37は、例えば載置台36の下
方のボックス本体30を前後に二つに仕切り、その前方
に形成し、載置台36を通過した超清浄空気を図示の矢
印38に示すようにアクセスフロア12を介して床下チ
ャンバ19に排気するように形成される。
【0034】次に本実施例の作用を述べる。
【0035】図1において、天井チャンバ18内の循環
空気流は、ULPAフィルタ29により超清浄化され、
図示の矢印39に示すようにクリーンルーム空間10内
に流入し、垂直層流となってアクセスフロア12より床
下チャンバ19内に流れる。
【0036】このクリーンルーム空間10は、各種製造
装置や機器などにより分子レベルの汚染が有り、この分
子汚染物質が製造装置21内に流入し、半導体ウエハに
分子レベルの汚染質として付着しやすい。
【0037】この際、製造装置21には、インターフェ
イスボックス24が接続され、半導体ウエハカセット2
3の出入れの際に、一旦インターフェイスボックス24
の搬出入室31に収納し、クリーンルーム空間10と遮
断した状態で、搬出入室31内の半導体ウエハカセット
23を搬出入口22を通して製造装置21内に自動又は
手動操作で搬出入することで分子汚染を防止できる。
【0038】すなわち、インターフェイスボックス24
の搬出入室31には、送風機33によりクリーンルーム
空間10内の清浄空気が吸引され、ケミカルフィルタ3
4にて、吸引清浄空気中の炭化水素系やアルカリ性ガ
ス、酸性ガスが吸着除去され、次にULPAフィルタ3
5で、サブミクロン以下の微粒子が除去され、図示の矢
印で示したように超清浄空気が搬出入室31に流入し、
常時は載置台36を通して排気系37により床下チャン
バ19に流れている(例えば、流速約0.2m/se
c)。従って、カセット23の出入れで、開閉扉32を
開閉しても、この矢印で示した超清浄空気の流れがエア
カーテンとなり、クリーンルーム空間10の空気が製造
装置21側に流入することが防止される。
【0039】またこの搬出入室31内の圧力は、クリー
ンルーム空間10の空気圧力よりやや高く維持され、ま
た超清浄空気はボックス本体30の前部の排気系37を
通って下部の床下チャンバ19に流れると共に一部は搬
出入口22を通って製造装置21に流れる空気に二分さ
れ、その前方の空気流でエアカーテンを構成するため前
方の超清浄空気流ではカセットの出入れの際のエアカー
テンとして、また後方では、製造装置内の清浄度の保持
として作用させることで、クリーンルームと製造装置と
の分離が確実となる。
【0040】図3は、本発明の他の実施例を示したもの
である。
【0041】この図2において、クリーンルームは、図
3で説明したように、フィルタ付き送風機ユニット15
で、床下チャンバ19内の空気を循環流路17を通って
天井チャンバ18に循環するようになし、フィルタ付き
送風機ユニット15に設けたULPAフィルタ(図示せ
ず)より超清浄空気をクリーンルーム空間10に流すよ
うに構成される。
【0042】インターフェイスボックス24は、ボック
ス本体30の上面の吸込口に、ケミカルフィルタ34が
設けられ、搬出入室31上部のボックス本体30内に
は、ケミカルフィルタ34を通してクリーンルーム内の
清浄空気を吸引すると共にULPAフィルタ35を介し
て清浄化するフィルタ付き送風機ユニット40が配置さ
れ、また載置台36の下部のボックス本体30には、排
気系37として、搬出入室31内の圧力をクリーンルー
ム空間の圧力に対して僅かに高い圧力に保って排気する
ための微差圧ダンパ41を設けたものである。
【0043】この図2の例においては、ケミカルフィル
タ34がボックス本体30の上面の吸込口に取り付ける
ことができるため、フィルタ面積を自在に設定でき、ま
た排気系37として微差圧ダンパ41を設けることで、
クリーンルーム空間10と搬出入室31との差圧が良好
に調整でき、図1で説明した超清浄空気流の制御が確実
に行える。
【0044】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、ボックス
本体内の処理材の搬出入室に、送風機とケミカルフィル
タとULPAフィルタにより超清浄空気を流すことで、
クリーンルーム循環空気から製造装置への分子汚染防止
と処理材収納時の分子汚染を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す概略図である。
【図2】図1の他の実施例を示す概略図である。
【図3】本発明の他の実施例を示す正面図である。
【符号の説明】
10 クリーンルーム空間 21 製造装置 23 半導体ウエハカセット(処理材) 30 ボックス本体 31 搬出入室 32 開閉扉 33 送風機 34 ケミカルフィルタ 35 ULPAフィルタ 37 排気系
フロントページの続き (72)発明者 飯島 一浩 千葉県習志野市東習志野6−17−16 株式 会社朝日工業社技術研究所内 (72)発明者 中島 啓之 千葉県習志野市東習志野6−17−16 株式 会社朝日工業社技術研究所内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クリーンルーム内に設置される製造装置
    に接続され、その製造装置へ処理材を出入するための局
    所クリーン化におけるインターフェイスボックスにおい
    て、上記製造装置の搬出入口に接続されるボックス本体
    内に処理材の搬出入室を形成し、ボックス本体の前面
    に、処理材を搬出入室に出入れするための開閉扉を設
    け、該搬出入室上部のボックス本体内に、送風機とケミ
    カルフィルタとULPAフィルタとを設け、さらに搬出
    入室の下部のボックス本体に、搬出入室の超清浄空気を
    クリーンルーム床下チャンバに排気する排気系を設けた
    ことを特徴とする局所クリーン化におけるインターフェ
    イスボックス。
  2. 【請求項2】 搬出入室上部のボックス本体内には、ク
    リーンルーム内の清浄空気を吸引する送風機が配置さ
    れ、その吹出口と搬出入室間にケミカルフィルタとUL
    PAフィルタが吹出流路を仕切るように配置される請求
    項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボ
    ックス。
  3. 【請求項3】 ボックス本体の上面の吸込口に、ケミカ
    ルフィルタが設けられ、搬出入室上部のボックス本体内
    に、上記ケミカルフィルタを通してクリーンルーム内の
    清浄空気を吸引すると共にULPAフィルタを介して清
    浄化するフィルタ付き送風機ユニットが配置される請求
    項1記載の局所クリーン化におけるインターフェイスボ
    ックス。
  4. 【請求項4】 搬出入室には、処理材を載置すると共に
    超清浄空気を排気系に排気するための多孔板からなる載
    置台を有する請求項1記載の局所クリーン化におけるイ
    ンターフェイスボックス。
  5. 【請求項5】 載置台下方のボックス本体が前後に仕切
    られ、その前室に排気系が形成される請求項1記載の局
    所クリーン化におけるインターフェイスボックス。
  6. 【請求項6】 排気系には、搬出入室内の圧力をクリー
    ンルームに対して僅かに高い圧力に保って排気するため
    の微差圧ダンパを有する請求項1記載の局所クリーン化
    におけるインターフェイスボックス。
  7. 【請求項7】 全面垂直層流で清浄空気が循環されるク
    リーンルーム空間と、そのクリーンルーム空間の床上に
    配置される各種製造装置と、クリーンルーム空間の床下
    の床下チャンバーに配置され、各種製造装置内の空気を
    吸引と共に外部に排気する真空ポンプを含む排気手段
    と、上記各種製造装置に接続され、処理材を搬出入する
    搬出入室を有すると共に上部に、フィルタ付き送風機ユ
    ニットとケミカルフィルタとULPAフィルタとが配置
    された超清浄空気供給手段を有し、下部に搬出入室内の
    超清浄空気を上記床下チャンバーに排気する排気系を有
    するインターフェイスボックスとを備えたことを特徴と
    する局所クリーン化におけるクリーンルーム。
JP22511494A 1994-09-20 1994-09-20 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム Expired - Fee Related JP3697275B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22511494A JP3697275B2 (ja) 1994-09-20 1994-09-20 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22511494A JP3697275B2 (ja) 1994-09-20 1994-09-20 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0888155A true JPH0888155A (ja) 1996-04-02
JP3697275B2 JP3697275B2 (ja) 2005-09-21

Family

ID=16824198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22511494A Expired - Fee Related JP3697275B2 (ja) 1994-09-20 1994-09-20 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3697275B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6123617A (en) * 1998-11-02 2000-09-26 Seh-America, Inc. Clean room air filtering system
US6284020B1 (en) 1997-12-02 2001-09-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of maintaining cleanliness of substrates and box for accommodating substrates
JP2003289043A (ja) * 2002-03-28 2003-10-10 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置
EP1804300A1 (en) * 2004-09-09 2007-07-04 National University Corporation Hokkaido University Function element, storage element, magnetic recording element, solar cell, photoelectric conversion element, light emitting element, catalyst reaction device, and clean unit
JP2008045782A (ja) * 2006-08-11 2008-02-28 Denso Corp クリーンルーム用局所排気装置
JP2009257680A (ja) * 2008-04-17 2009-11-05 Denso Corp 作業設備および作業設備における局所クリーンルーム
JP2013065654A (ja) * 2011-09-16 2013-04-11 Asahi Glass Co Ltd Euvl用反射型マスクおよびeuvl用マスクブランクスの製造装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6284020B1 (en) 1997-12-02 2001-09-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of maintaining cleanliness of substrates and box for accommodating substrates
US6123617A (en) * 1998-11-02 2000-09-26 Seh-America, Inc. Clean room air filtering system
JP2003289043A (ja) * 2002-03-28 2003-10-10 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置
EP1804300A1 (en) * 2004-09-09 2007-07-04 National University Corporation Hokkaido University Function element, storage element, magnetic recording element, solar cell, photoelectric conversion element, light emitting element, catalyst reaction device, and clean unit
EP1804300A4 (en) * 2004-09-09 2011-10-19 Univ Hokkaido Nat Univ Corp FUNCTIONAL ELEMENT, MEMORY ELEMENT, MAGNETIC RECORDING ELEMENT, SOLAR CELL, PHOTOELECTRIC CONVERTER ELEMENT, LIGHT ELEMENT, CATALYST REACTION EQUIPMENT AND CLEANING UNIT
JP2008045782A (ja) * 2006-08-11 2008-02-28 Denso Corp クリーンルーム用局所排気装置
JP2009257680A (ja) * 2008-04-17 2009-11-05 Denso Corp 作業設備および作業設備における局所クリーンルーム
JP4525789B2 (ja) * 2008-04-17 2010-08-18 株式会社デンソー 作業設備および作業設備における局所クリーンルーム
JP2013065654A (ja) * 2011-09-16 2013-04-11 Asahi Glass Co Ltd Euvl用反射型マスクおよびeuvl用マスクブランクスの製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3697275B2 (ja) 2005-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3425592B2 (ja) 処理装置
US10930536B2 (en) Workpiece stocker with circular configuration
US7635244B2 (en) Sheet-like electronic component clean transfer device and sheet-like electronic component manufacturing system
JP4632612B2 (ja) 制御された小環境を有するウエハの大気圧搬送モジュール、大気圧搬送モジュールを作成するための方法
JP4414910B2 (ja) 半導体製造装置及び半導体製造方法
US5261935A (en) Clean air apparatus
US5219464A (en) Clean air apparatus
JP4346175B2 (ja) マイクロエレクトロニクス素子製造システムおよびマイクロエレクトロニクス素子の製造方法
US6543981B1 (en) Apparatus and method for creating an ultra-clean mini-environment through localized air flow augmentation
US8794896B2 (en) Vacuum processing apparatus and zonal airflow generating unit
JP4606348B2 (ja) 基板処理装置及び基板搬送方法並びに記憶媒体
JP2007095856A (ja) 真空処理装置
JPH0888155A (ja) 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム
JP5456804B2 (ja) 搬送容器
JPH06302487A (ja) 半導体製造用エアフイルタ装置
JPH1097962A (ja) 処理装置及び処理システム
JP2003031451A (ja) 半導体製造装置
JP4000174B2 (ja) 処理システム
JP2001153416A (ja) ファンフィルターユニット、このファンフィルターユニットを用いたミニエンバイロメント、及びこのミニエンバイロメントを備えたクリーンルーム
JP4131378B2 (ja) 薄板状電子部品搬送装置及び薄板状電子製品製造設備
JP2003017376A (ja) 半導体製造装置および半導体製造方法
JP2000091399A (ja) 半導体製造装置
JP4273812B2 (ja) クリーンルーム
TW202348936A (zh) 氣體供給裝置、基板處理裝置及基板搬送裝置
JP2912687B2 (ja) フィルタ装置及び縦型熱処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040824

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041025

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050607

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050704

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090708

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100708

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110708

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110708

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120708

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130708

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees