JP2001208522A - 距離画像生成装置および距離画像生成方法、並びにプログラム提供媒体 - Google Patents
距離画像生成装置および距離画像生成方法、並びにプログラム提供媒体Info
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Abstract
ルージョン領域の判別を可能として高精度な距離画像を
生成可能とする。 【解決手段】 計測対象に対して異なる視線方向に配置
したカメラの撮り込み画像の対応付け処理により距離デ
ータを求めるステレオ法において、カメラ2側に配置し
た投光手段の照射画像をカメラ1(基準カメラ)で撮り
込む。この投光パターン照射画像、あるいは投光パター
ン照射画像と投光パターン非照射画像に基づいて照射領
域を求め、これを可測領域として識別する。画像間対応
付け、距離画像生成は可測領域について実行されオクル
ージョン領域における誤った距離データが距離画像に含
まれず高精度な距離画像が得られる。
Description
を求め、距離画像を生成する距離画像生成装置および距
離画像生成方法、並びにプログラム提供媒体に関する。
特に三次元空間上で、ある距離範囲に存在する物体を複
数の異なる位置から撮影した画像を用いて被写体表面の
三次元形状を計測して距離画像を生成するステレオ画像
法において好適な距離画像生成装置および距離画像生成
方法、並びにプログラム提供媒体に関する。
て、大きく分けて能動的手法(アクティブ手法)と受動
的手法(パッシブ手法)がある。能動的手法としては、
光を投射して、その光が反射して帰ってくるまでの時間
を測定することで各計測対象物体までの距離を求める方
法や、計測対象にスリット状のパターン光をあてて計測
対象に投影されたパターン光の形状を調べることによっ
て三次元形状を計測する光切断法といった方法がある。
三角測量の原理を利用したステレオ法であり、これは2
台以上のカメラを使って、その画像間での各画素の対応
点を見つけることで、その位置関係(視差)を求め、計
測対象までの距離を計測する方法である。
明する。ステレオ法は複数のカメラを用いて2つ以上の
視点(異なる視線方向)から同一対象物を撮影して得ら
れる複数の画像における画素同士を対応づけることで計
測対象物の三次元空間における位置を求めようとするも
のである。例えば基準カメラと検出カメラにより異なる
視点から同一対象物を撮影して、それぞれの画像内の計
測対象物の距離を三角測量の原理により測定する。
ある。基準カメラ(Camera1)と検出カメラ(C
amera 2)は異なる視点から同一対象物を撮影す
る。基準カメラによって撮影された画像中の「mb」と
いうポイントの奥行きを求めることを考える。
「mb」に見える物体は、異なる視点から同一物体を撮
影している検出カメラによって撮影された画像におい
て、「m1」、「m2」、「m3」のようにある直線上
に展開されることになる。この直線をエピポーラライン
(Epipolar line)Lpと呼ぶ。
置は、検出カメラによる画像中では「エピポーラ・ライ
ン」と呼ばれる直線上に現れる。撮像対象となる点P
(P1,P2,P3を含む直線上に存在する点)は、基
準カメラの視線上に存在する限り、奥行きすなわち基準
カメラとの距離の大小に拘らず、基準画像上では同じ観
察点「mb」に現れる。これに対し、検出カメラによる
撮影画像上における点Pは、エピポーラ・ライン上に基
準カメラと観察点Pとの距離の大小に応じた位置にあら
われる。
メラ画像中における観察点「mb」の対応を図解してい
る。同図に示すように、観察点Pの位置がP1,P2,
P3へと変化するに従って、検出カメラ画像中の観察点
は「m1」、「m2」、「m3」へとシフトする。
「mb」をエピポーラ・ライン上で探索することによ
り、点Pの距離を同定することができる。これが「ステ
レオ画像法」の基本的原理である。このような方法で画
面上のすべての画素についての三次元情報を取得する。
取得した三次元情報は画素ごとに対応した画素属性デー
タとして使用することが可能となる。
と1台の検出カメラとを用いた構成としたが、検出カメ
ラを複数用いたマルチベースラインステレオ(Mult
iBaseline Stereo)法によって評価値
を求めて、該評価値に基づいて画素ごとの三次元情報を
取得するように構成してもよい。マルチベースラインス
テレオ画像法は、1つの基準カメラと複数の検出カメラ
によって撮影される画像を用い、複数の検出カメラ画像
それぞれについて基準カメラ画像との相関を表す評価値
を求め、それぞれの評価値を加算し、その加算値を最終
的な評価値とするものである。このマルチベースライン
ステレオ画像法の詳細は、例えば「複数の基線長を利用
したステレオマッチング」、電子情報通信学会論文誌D
−11Vol.J75−D−II No.8 pp.1
317−1327 1992年8月、に記載されてい
る。
ラを用いて2つ以上の視点(異なる視線方向)から同一
対象物を撮影して得られる複数の画像における画素同士
を対応づけること、すなわち「対応点付け(マッチン
グ)」を実施することで計測対象物の三次元空間におけ
る位置を求めようとするものである。
け」の手法は、Pixel−basedマッチング、A
rea−basedマッチングとFeature−ba
sedマッチングに大別される。Pixel−base
dマッチングとは、一方の画像における点の対応を、他
方の画像でそのまま探索する方法である(C.Lawr
ence Zitnick and Jon A. W
ebb: Multi−baseline Stere
o Using Surface Extractio
n, Technical Report, CMU−
CS−96−196, (1996)参照)。
方の画像における点の対応を、他方の画像で探す時、そ
の点の周りの局所的な画像パターンを用いて探索する方
法である(奥富、金出: 複数の基線長を利用したステ
レオマッチング、電子情報通信学会論文誌D−II、V
ol.J75−D−II, No.8, pp.131
7−1327, (1992)、横山、三輪、芦ヶ原、
小柳津、林、後: Stereo Camera Sy
stem and Its Application、
SRF’97、(1997)、金出、木村: ビデオ
レート・ステレオマシン、日本ロボット学会誌、Vo
l.13, No.3, pp.322〜326,
(1995)、金出、蚊野、木村、川村、吉田、織田:
ビデオレートステレオマシンの開発、日本ロボット学
会誌、Vol.15, No.2,pp.261〜26
7, (1997)、山口、高地、井口: 適応ウィン
ドウ法を用いた石像計測のためのステレオ対応付け、人
文科学とコンピュータ、Vol.32, No.10,
pp.55〜60, (1996)、横矢: 最近の
信号処理総合特集号 コンピュータビジョンの最近の話
題、システム/制御/情報、Vol.38, No.
8, pp.436〜441, (1994)参照)。
は、画像から濃淡エッジなどの特徴を抽出し、画像間の
特徴だけを用いて対応付けを行う方法である(H.H.
Baker and T.O.Binford: De
pth from edgeand intensit
y based stereo, In Proc.
IJCAI’81, (1981)、石山、角保、河
井、植芝、富田: セグメントベーストステレオにおけ
る対応候補探索、信学技報、Vol.96,No.13
6, (1997)、W.E.L.Grimson:
Computational experiments
with a feature based ste
reo algorithm, IEEE Tran
s. PAMI, Vol.7, No.1, pp.
17〜34, (1985))。
うになる。 (1)Pixel−basedマッチングとArea−
basedマッチングは各々の画素に対して、対応点を
探索するので、求められた距離画像は密である。一方、
Feature−basedマッチングは、特徴点だけ
に対して、対応付けを行うので、得られた距離画像は疎
である。
は、一種の相関演算を行うため、Pixel−base
dマッチングとFeature−basedマッチング
に比べて、計算コストがかかるが、アルゴリズムの高速
化によって、必ずしも解決できない問題ではない。
は、画素間の対応付けだけを行うため、計算速度がかな
り速いが、左右カメラ間の特性の違いによって、画素間
の濃淡値を用いる対応付けが容易ではない。
の3次元形状(または奥行き)を画素毎に求めるための
手法としてArea−basedマッチングは有効であ
り、よく使われている。
によるステレオ視の対応点の求め方について図2を用い
て説明する。図2(a)は、基準カメラの観測画像であ
り、図2(b)は検出カメラによる観測画像である。基
準カメラによる観測画像上の点mbの周辺の小領域Wを
テンプレートとして、検出カメラ画像のエピポーラライ
ン上の数点における画像相関値を求める。この図に示す
例の場合は、距離分解能はm1〜m6の6点で、この距
離番号1〜6が例えば撮影した基準カメラから1m、2
m、3m、4m、5m、6mの距離に対応しているとす
る。
を用いて求める評価値を用いることができる。なお、以
下に示す式中のI(x)は基準カメラで撮影した基準画
像における輝度値、I’(x’)は検出カメラで撮影し
た検出カメラ画像の輝度値を示している。
の6点での評価値中、最も低いところを対応点とする。
これを示したのが図2の下段のグラフである。図2に示
す例の場合は、m3の位置、すなわちカメラから3mの
位置を距離データとする。なお、さらにサンプリングデ
ータ間の補間処理を実行してサンプルデータ以外の部分
において最も低い点を求めることも可能である。この補
間処理を行なった場合、図2のグラフのm3とm4の間
にある点が最小の評価値であり、この場合、計測対象は
カメラから約3.3mの距離であるとされる。なお、エ
ピポーラライン、およびエピポーラライン上の位置と物
体との距離との関係は、予めキャリブレーションによっ
て求めておく。例えば基準カメラ画像上のすべての画素
に対して、各距離に応じた検出カメラ画像上の対応点の
座標をテーブルにして保持しておく。
画像とのマッチング処理を各測定点の画素について繰り
返し実行することにより、全ての画素に対する三次元形
状データを得ることができる。
は、基準カメラ画像と検出カメラ画像から全ての画素の
対応付け処理を正確に行なうことは困難である。これ
は、ステレオ法は上述したように2つ以上のカメラを用
いて異なる視点から計測対象画像を撮り込む構成である
ので、一方のカメラで観察されている計測対象の領域
が、他方のカメラでは観察されない領域となる場合があ
るからである。この領域をオクルージョン領域という。
このオクルージョンの発生はステレオ法を用いた距離計
測における問題点である。
象に凹凸がある場合に顕著に表れる。このオクルージョ
ンの発生メカニズムについて図3を用いて説明する。
ステレオ法により算出しようとする場合、計測対象30
1に対して異なる方向から、基準カメラ302と検出カ
メラ303を用いて像を撮り込む。図3下段に示す
(a)が基準カメラ302で撮り込んだ計測対象の画像
である。(b)は、検出カメラ303で撮り込んだ計測
対象の画像である。
したように基準カメラ画像と検出カメラ画像の2つの画
像について画像間対応付け処理を実行する。具体的に
は、図3(a)に示す基準カメラ画像の各画素につい
て、(b)に示す検出カメラ画像の対応点を探索するこ
とになる。図3(a)、(b)から理解されるように、
計測対象の面A、Bは、両画像において観察されてい
る。しかし、面Cは、図3(a)の基準カメラ画像では
観察されているが、図3(b)の検出カメラ画像には観
察されていない。このように、ステレオ法では計測対象
を異なる視点から観察するために、一方のカメラでは観
察されている面が他方のカメラでは観察されない領域が
発生する。この領域がオクルージョン領域であり、この
オクルージョン領域では、画像間の対応付け処理が正確
に行なえない。
は、先に図2を用いて説明したように、画像間の相関が
最大になる点を探索して、その点を対応点とする処理で
あるので、基準カメラ画像に実際に対応する点が検出画
像上に存在しない場合であっても、相関の最大点を対応
点として処理することになる。従って、オクルージョン
領域においては誤った対応点に基づく視差データが生成
され、結果として誤った距離画像が出力されることにな
る。
てなされたものであり、上述のようなオクルージョン領
域での誤った画像間対応付け処理および誤った距離画像
の生成を回避する構成を提供する。すなわち、基準カメ
ラで撮り込まれた画像上において、対応付け処理が可能
な領域(可測領域)と対応付けが不可能な領域(測定不
可領域:オクルージョン領域)とを識別して、誤った距
離画像の生成を回避することを可能とした距離画像生成
装置および距離画像生成方法、並びにプログラム提供媒
体を提供するものである。
酌してなされたものであり、その第1の側面は、計測対
象を異なる方向から撮影した画像を用いて計測対象の三
次元形状を求め、距離画像を生成する距離画像生成装置
であり、前記計測対象の画像を撮り込む第1カメラと、
前記第1カメラと異なる方向から前記計測対象の画像を
撮り込む第2カメラと、前記第2カメラと同軸または近
傍位置に配置され、前記計測対象に光を照射する投光手
段と、前記投光手段により光照射がなされた計測対象を
前記第1カメラによって撮り込んだ光照射基準画像に基
づいて、距離データの算出可能な可測領域を抽出する可
測領域抽出手段と、前記第1カメラによって撮り込まれ
た第1画像と、前記第2カメラによって撮り込まれた第
2画像との画像間対応付け処理により視差データを生成
して、該視差データに基づいて前記可測領域抽出手段の
抽出した可測領域のみの距離画像を出力する距離画像生
成手段とを有することを特徴とする距離画像生成装置に
ある。
施態様において、前記可測領域抽出手段は、前記計測対
象の前記投光手段による光照射領域と、光非照射領域と
を前記光照射基準画像に基づいて判別し、光照射領域を
可測領域として抽出する構成であることを特徴とする。
施態様において、前記可測領域抽出手段は、前記投光手
段により光照射がなされた計測対象を前記第1カメラに
よって撮り込んだ光照射基準画像と、前記投光手段によ
り光照射がなされていない計測対象を前記第1カメラに
よって撮り込んだ光非照射基準画像との両画像に基づい
て、距離データの算出可能な可測領域を抽出する構成を
有することを特徴とする。
施態様において、前記可測領域抽出手段は、前記光照射
基準画像の輝度値を示す画素値のヒストグラムを生成し
て、前記ヒストグラムの最大値に対応する最多画素値を
有する画素と、その近傍であって、かつ前記最多画素値
に対して差が予め定めた閾値以下である画素値を有する
画素の領域を可測領域に属さない領域であると判定する
構成を有することを特徴とする。
施態様において、前記可測領域抽出手段は、前記光照射
基準画像の輝度値を示す画素値と、前記投光手段により
光照射がなされていない計測対象を前記第1カメラによ
って撮り込んだ光非照射基準画像の輝度値を示す画素値
との2つの画素値の差を示す差分画像のヒストグラムを
生成して、前記ヒストグラムの最大値に対応する最多画
素値を有する画素と、その近傍であって、かつ前記最多
画素値に対して差が予め定めた閾値以下である画素値を
有する画素の領域を可測領域に属さない領域であると判
定する構成を有することを特徴とする。
施態様において、前記投光手段の照射する光は、ランダ
ムパターンからなるパターン光であり、前記距離画像生
成手段は、前記第1カメラによって撮り込まれたパター
ン光の付与された第1画像と、前記第2カメラによって
撮り込まれたパターン光の付与された第2画像に基づい
て距離画像を生成する構成を有することを特徴とする。
施態様において、前記距離画像生成手段は、前記カメラ
1の撮り込み画像と、前記カメラ2の撮り込み画像の2
つの画像間の対応付けを実行する画像間対応付け手段を
有し、前記画像間対応付け手段は、前記可測領域抽出手
段の抽出した可測領域のみの画素に関する画像間対応付
け処理を実行する構成を有することを特徴とする。
を異なる方向から撮影した画像を用いて計測対象の三次
元形状を求め距離画像を生成する距離画像生成方法であ
り、計測対象の画像を第1カメラと、前記第1カメラと
異なる方向に配置した第2カメラによって同時に撮り込
む画像撮り込みステップであり、前記第2カメラと同軸
または近傍位置に配置された投光手段により光照射がな
された前記計測対象の像を撮り込む画像撮り込みステッ
プと、前記第1カメラによって撮り込んだ光照射基準画
像に基づいて、距離データの算出可能な可測領域を抽出
する可測領域抽出ステップと、前記第1カメラによって
撮り込まれた第1画像と、前記第2カメラによって撮り
込まれた第2画像との画像間対応付け処理により視差デ
ータを生成して、該視差データに基づいて前記可測領域
抽出手段の抽出した可測領域のみの距離画像を出力する
距離画像生成ステップとを有することを特徴とする距離
画像生成方法にある。
施態様において、前記可測領域抽出ステップは、前記計
測対象の前記投光手段による光照射領域と、光非照射領
域とを前記光照射基準画像に基づいて判別し、光照射領
域を可測領域として抽出することを特徴とする。
施態様において、前記可測領域抽出ステップは、前記投
光手段により光照射がなされた計測対象を前記第1カメ
ラによって撮り込んだ光照射基準画像と、前記投光手段
により光照射がなされていない計測対象を前記第1カメ
ラによって撮り込んだ光非照射基準画像との両画像に基
づいて、距離データの算出可能な可測領域を抽出するこ
とを特徴とする。
施態様において、前記可測領域抽出ステップは、前記光
照射基準画像の輝度値を示す画素値のヒストグラムを生
成して、前記ヒストグラムの最大値に対応する最多画素
値を有する画素と、その近傍であって、かつ前記最多画
素値に対して差が予め定めた閾値以下である画素値を有
する画素の領域を可測領域に属さない領域であると判定
することを特徴とする。
施態様において、前記可測領域抽出ステップは、前記光
照射基準画像の輝度値を示す画素値と、前記投光手段に
より光照射がなされていない計測対象を前記第1カメラ
によって撮り込んだ光非照射基準画像の輝度値を示す画
素値との2つの画素値の差を示す差分画像のヒストグラ
ムを生成して、前記ヒストグラムの最大値に対応する最
多画素値を有する画素と、その近傍であって、かつ前記
最多画素値に対して差が予め定めた閾値以下である画素
値を有する画素の領域を可測領域に属さない領域である
と判定することを特徴とする。
施態様において、前記投光手段の照射する光は、ランダ
ムパターンからなるパターン光であり、前記距離画像生
成ステップは、前記第1カメラによって撮り込まれたパ
ターン光の付与された第1画像と、前記第2カメラによ
って撮り込まれたパターン光の付与された第2画像に基
づいて距離画像を生成することを特徴とする。
施態様において、前記距離画像生成ステップは、前記カ
メラ1の撮り込み画像と、前記カメラ2の撮り込み画像
の2つの画像間の対応付けを実行する画像間対応付けス
テップを有し、前記画像間対応付けステップは、前記可
測領域抽出ステップにおいて抽出された可測領域のみの
画素に関する画像間対応付け処理を実行することを特徴
とする。
を異なる方向から撮影した画像を用いて計測対象の三次
元形状を求め距離画像を生成する距離画像生成処理をコ
ンピュータ・システム上で実行せしめるコンピュータ・
プログラムを提供するプログラム提供媒体であって、前
記コンピュータ・プログラムは、計測対象の画像を第1
カメラと、前記第1カメラと異なる方向に配置した第2
カメラによって同時に撮り込む画像撮り込みステップで
あり、前記第2カメラと同軸または近傍位置に配置され
た投光手段により光照射がなされた前記計測対象の像を
撮り込む画像撮り込みステップと、前記第1カメラによ
って撮り込んだ光照射基準画像に基づいて、距離データ
の算出可能な可測領域を抽出する可測領域抽出ステップ
と、前記第1カメラによって撮り込まれた第1画像と、
前記第2カメラによって撮り込まれた第2画像との画像
間対応付け処理により視差データを生成して、該視差デ
ータに基づいて前記可測領域抽出手段の抽出した可測領
域のみの距離画像を出力する距離画像生成ステップとを
有することを特徴とするプログラム提供媒体にある。
媒体は、例えば、様々なプログラム・コードを実行可能
な汎用コンピュータ・システムに対して、コンピュータ
・プログラムをコンピュータ可読な形式で提供する媒体
である。媒体は、CDやFD、MOなどの記憶媒体、あ
るいは、ネットワークなどの伝送媒体など、その形態は
特に限定されない。
ュータ・システム上で所定のコンピュータ・プログラム
の機能を実現するための、コンピュータ・プログラムと
提供媒体との構造上又は機能上の協働的関係を定義した
ものである。換言すれば、該提供媒体を介してコンピュ
ータ・プログラムをコンピュータ・システムにインスト
ールすることによって、コンピュータ・システム上では
協働的作用が発揮され、本発明の他の側面と同様の作用
効果を得ることができるのである。
後述する本発明の実施例や添付する図面に基づくより詳
細な説明によって明らかになるであろう。
成装置の構成ブロック図を示す。図4は、画像パターン
の投光によって計測対象の三次元形状または距離画像の
計測を行なう装置である。例えば二値または濃淡のラン
ダム点群によって構成されるランダムテクスチャからな
るパターンを生成し、これをカメラ2と同軸の投光器に
よって計測対象に投光する。計測対象にランダムパター
ンを投光することにより、計測対象が白い壁や人間の顔
などの特徴(濃淡、形状、色等)のほとんどない対象で
ある場合も、パターン付き画像を用いた画像間対応付け
処理が可能になり、画像間のマッチング処理がより正確
に実行できる。
て説明する。距離画像生成装置は、先に説明したステレ
オ法を適用して計測対象の三次元形状を計測するもので
あり、立体形状を持つ、例えば人の顔等の被計測対象物
に対して角度の異なる位置に配置した2つのカメラ、い
わゆる基準カメラ(カメラ1,401)と検出カメラ
(カメラ2,402)を用いて画像を撮り込み、これら
2つのカメラの撮影する画像に基づいて図1で説明した
ステレオ法に基づいて被計測対象物の表面形状を計測す
るものである。
ダムパターンは、カメラ2,402と同軸、または近傍
に構成された投光手段によって照射される。この投光パ
ターンは一様乱数や正規乱数に基づく非周期的投光パタ
ーンである。投光されるパターンは例えば非周期投光パ
ターンであり、例えばドットのサイズ、線の長さ、太
さ、位置、濃度等に周期性を持たないパターンである。
に形成され、スライドを介して光照射することによって
計測対象に対してパターンを投影する。あるいは、透過
型液晶表示素子等を用いて動的にランダムパターンを生
成して、これを投影してもよい。計測対象400の表面
に形成された非周期パターンを計測対象とともに撮像す
ることにより、距離画像生成時の基準カメラと検出カメ
ラの撮像データの対応付けを容易にすることができる。
にランダムテクスチャ投光パターンを照射するのは、計
測対象が例えば壁、人の顔等のように表面の各部を区別
する特徴が少なく、基準カメラ画像と検出カメラ画像の
画像間対応付けが困難である場合に、撮影画像にランダ
ムパターンを付与して画像間対応付け処理を実行しやす
くするためのものである。従って、計測対象が十分特徴
的なものである場合は、必ずしもパターン照射が必要と
なるものではない。
には、パターン光を用いることが必須となるものではな
く、例えば、パターンの無い光、例えばフラッシュ光を
検出カメラ(カメラ2,402)側から投光してもよ
い。すなわち、距離計測用の基準カメラ(カメラ1,4
01)と検出カメラの双方において、検出カメラ側から
の投光領域を基準カメラ画像に基づいて判定し、この領
域を距離検出可能な領域、すなわち測定可能領域として
抽出するものである。従って、基準カメラ画像に基づい
て検出カメラ側からの投光領域、すなわち光照射領域が
検出されればよく、パターンが必須となるものではな
い。従って、計測対象が十分特徴的なものである場合
は、パターンを伴わない光照射とすることも可能であ
る。ただし以下に説明する実施例では、より一般的な例
としてパターン光を計測対象400に投光した例につい
て説明する。
401とカメラ2,402は、計測対象400に対して
異なる視線方向に配置されて、各視線方向からランダム
パターンの投影された計測対象400を撮影する。各カ
メラによって撮影される画像は、同期したタイミングで
撮り込まれる。カメラ1,401、カメラ2,402か
ら撮り込まれる画像は、この例ではランダムパターンの
付加された画像であり、距離画像の生成、すなわち画像
間対応付け処理が高精度に実行可能な画像である。カメ
ラ1,401、カメラ2,402から撮り込まれた画像
は、それぞれA/D変換器を介してフレームメモリ1
a,403,フレームメモリ2a,404に格納され
る。
画像データは、可測領域抽出手段405に出力され、可
測領域抽出手段405において、基準カメラ画像中の距
離画像検出可能な領域、いわゆる可測領域が抽出され
る。この可測領域は、基準カメラ画像領域の中で、カメ
ラ2,402によっても撮り込まれていると判定される
画像領域である。この可測領域抽出手段405における
可測領域抽出方法については、後段で詳細に説明する。
た可測領域データは、カメラ1,401によって撮り込
まれた画像データとともに、画像対応付け手段406に
出力される。なお、図中では、可測領域抽出手段405
と、画像対応付け手段406は説明のために別構成とし
て示してあるが、画像対応付け手段406が可測領域抽
出手段405の機能、すなわちカメラ1,401の撮り
込み画像に基づく可測領域抽出処理を併せて実行する構
成であってもよい。
ムメモリ2a,404に格納されたカメラ2,402の
撮り込み画像を入力し、可測領域抽出手段405の抽出
した可測領域について画像間の対応付け処理を実行す
る。画像対応付け手段406は、カメラ1,401の撮
影した画像の各画素に対するカメラ2,402の撮影し
た検出画像の画素の対応付け処理を行ない、基準画像に
対する検出画像の視差データを距離画像生成手段407
に出力する。
出手段405の抽出した可測領域にある画素についての
み前述の対応点探索を行なう構成してもよいが、あるい
は、カメラ1,401の撮り込み画像全体について、画
像間対応付け処理を行なって、その後、可測領域にある
データのみを取り出す構成としてもよい。
手段406における画像間対応付け処理によって得られ
る視差データに基づいて距離画像を生成する。なお、距
離画像とは、各画素に、その画素が示す計測対象表面の
カメラ座標系を基準とした距離情報が保持された画像で
ある。例えば距離に応じた濃淡データを画素毎に割り当
てた画像である。なお、可測領域の抽出処理を距離画像
生成後において行なう構成としてもよい。距離画像の生
成は各画像の補正値等を設定したキャリブレーションパ
ラメータを用いて行われる。距離画像生成手段407の
生成した距離画像は画像メモリ408を介して出力手段
409に出力される。
る処理、およびブロック間データ転送制御等は、図示し
ない制御手段によって制御され、所定のメモリ、例えば
RAM,ROM等の半導体メモリ、磁気ディスク、光デ
ィスク等の記憶媒体に記録された制御プログラムによっ
て制御することができる。また、図示しない入力手段に
よってユーザがコマンド、パラメータ等を入力して各制
御態様を変更することが可能である。
の抽出処理構成を説明する図を示す。図5において計測
対象501は、2つの異なる方向からカメラ1,50
2、カメラ2,503によって撮影される。カメラ2,
503はランダムパターン504を計測対象に投影する
投光手段を撮影手段としてのカメラと同軸に有してい
る。カメラ2,503は同じレンズを介して画像を撮影
する第1の機能と、パターン光を照射する第2の機能を
実行可能な構成を有する。すなわち、レンズを通してパ
ターン光を計測対象501に結像させる系と、レンズを
通して外部から入射された光が撮像面に結像される系の
光学中心、すなわちレンズによって集光される点が一致
している。
撮影カメラとを同軸構成とした例を図6に示す。投光パ
ターン603を計測対象601に投影する例えばスライ
ドプロジェクタによって構成される投光手段602と、
計測対象の像を撮り込むカメラ604とを各々の光軸が
直角に交わるように配置し、その光軸の交点:Oにハー
フミラー605を配置する。ハーフミラー605で反射
された投光手段602の光軸をカメラ604の光軸と一
致させ、交点:Oから投光手段602の光学中心までの
距離と、すなわち交点:Oからカメラ604の光学中心
までの距離とを同じに設定、すなわち投光手段602と
カメラ604の光学中心を一致させる。
ターン光)611は、ハーフミラー605を介して反射
され、計測対象601に投影される。照射光(パターン
光)を投影された計測対象601の像は、ハーフミラー
605を介してカメラ604によって撮り込まれる。な
お、図6は、ハーフミラーを用いた例を示しているが、
本発明の距離画像生成装置では、同軸、あるいは近傍に
おいて投光および撮像が可能な構成であればよい。
続ける。カメラ1,502によって撮り込まれた画像は
可測領域抽出部505において、パターン光照射部分と
非照射部分を識別する処理によって可測領域が抽出され
る。さらに、画像間対応付け及び距離画像生成部506
において、可測領域についての距離画像が生成される。
によって撮り込まれた画像(a)と、カメラ2,503
によって撮り込まれた画像(b)を示している。この例
の場合、図5(a)のグレー部分:Cが(b)のカメラ
2,503の撮影画像には含まれない領域となる。この
領域がオクルージョン領域であり、測定不可能領域であ
る。可測領域抽出部505は、図5(a)の基準カメラ
画像から可測領域としてAの面とBの面を抽出する。可
測領域抽出方法については、図8乃至図11を用いて後
段で説明する。
手段と、計測対象の像を撮り込むカメラとを同軸構成と
した例を説明したが、これらの2つの手段を同軸にする
ことなく、それぞれの手段を近接した位置に配置する構
成としても、ほぼ同様の効果を得ることができる。この
構成例を図7に示す。
03に隣接して投光パターン504を投光するための投
光手段511が配置される。カメラ2,503と投光手
段511は同軸構成ではないが、それぞれの手段は近接
して配置されており、カメラ1,501によって撮り込
まれる画像中の投光パターン照射部は、ほぼカメラ2に
よって撮り込まれる画像部分に一致することになる。こ
のように投光パターン投光手段と、像を撮り込むカメラ
とを近接して配置する構成としても同様の効果が得られ
る。
距離画像生成装置における処理フロー、特に可測領域抽
出手段における可測領域抽出処理の詳細を説明する。
において、投影パターン付き基準画像のみから距離検出
可能領域、すなわち可測領域を抽出する構成例を説明す
るフローであり、図10、図11は、投影パターン付き
基準画像と、投影パターンを付けない基準画像との両画
像から可測領域を抽出する構成例を説明するフローであ
る。
4の構成図に基づいて説明する。図8のステップS80
1は、パターン光を照射するステップであり、図4にお
けるカメラ2,402と同軸または近傍の照射手段から
計測対象400に対してランダムパターンを照射する。
01と、カメラ2,402は、計測対象400について
の投影パターン付き画像を撮影し、それぞれフレーム・
メモリ403,404に格納する。ここで、計測対象4
00において投影パターンの照射された部分は、明るく
明瞭な領域となり、照射光の到達しない部分は、暗い領
域となる。
手段405は、フレーム・メモリ403に格納されたカ
メラ1,401の撮影した投影パターン付き画像に基づ
いて可測領域の抽出処理を実行する。このステップS8
03の可測領域抽出処理についての詳細を図9のフロー
を用いて説明する。
401の撮影したパターン付き画像は、基準画像G11
とする。図9のステップS901において、可測領域抽
出手段405は、基準画像G11を構成する画素値のヒ
ストグラムH(k)を生成する。ステップS902にお
いて、可測領域抽出手段405は、ヒストグラムH
(k)を最大とする(最も出現頻度が高い)画素値をK
bとする。
手段405は、ラベリング未処理画素数rを0に初期化
する。また、可測領域抽出手段405は、内蔵する座標
記憶用バッファx[r],y[r]を初期化する。ステ
ップS904において、可測領域抽出手段405は、基
準画像G11の中で画素値Kbを有する画素を1つ検出
し、その座標を注目画素の座標(i,j)に代入する。
手段405は、基準画像G11の注目画素の画素値g
(i,j)を取得する。ステップS906において、可
測領域抽出手段405は、注目画素に隣接する8つの画
素のうちの1つの画素値g(i+m,J+n)(m,n
=−1,0,1)を取得する。
手段405は、注目する画素(座標(i,j))にラベ
ルL0が付与されているか否かを判定し、さらに注目す
る画素の画素値g(i,j)と、隣接する画素の画素値
g(i+m,j+n)の差の絶対値が所定の閾値(例え
ば2)よりも小さいか否かを判定する。注目する画素に
ラベルL0が付与されておらず、かつ隣接する画素の画
素値g(i+m,j+n)と画素値g(i,j)との差
の絶対値が所定の値よりも小さいと判定された場合、ス
テップS908に進む。
手段405は、ラベリング未処理画素数rを1だけイン
クリメントし、隣接する画素のx座標(=i+m)を座
標記憶用バッファx[r]に記録し、y座標(=j+
n)を座標記憶用バッファy[r]に記録する。
手段405は、注目する画素に隣接する8つ全ての画素
に対してステップS906、S907の処理を施したか
否かを判定し、隣接する画素にステップS906,S9
07の処理を施していないものが存在すると判定した場
合、ステップS906に戻り、それ以降の処理を繰り返
す。その後、ステップS909で隣接する8つの画素に
ステップS906,S907の処理を施したと判定され
た場合、ステップS910に進む。
手段405は、注目画素(座標(i,j))にラベルL
0を付与する。ここで、ラベルL0は最も出現頻度が高
い画素値を有する画素、すなわち、背景領域と、カメラ
2と同軸または近傍に配置された投光手段からの光が照
射されない部分に対応する画素に付与されることとな
る。投光手段からの光が照射されない部分は、オクルー
ジョン領域に対応する、従って、ラベルL0の付与され
た領域を距離計測不可能な領域として判別することで、
可測領域を抽出することができる。
手段405は、ラベリング未処理画素数rが0であるか
否かを判定し、ラベリング未処理画素数rが0ではない
と判定した場合、ステップS912に進む。
手段405は、座標記憶用バッファx[r]に記録され
ている値を注目画素のx座標とし、座標記憶用バッファ
y[r]に記録されている値を注目画素のy座標とす
る。これにより、先ほどまでの注目画素に隣接し、かつ
画素値がほぼ等しい画素が新たな注目画素とされる。そ
の後、可測領域抽出手段405は、ラベリング未処理画
素数rを1だけデクリメントして、ステップS905に
戻る。
処理が、ステップS911においてラベリング未処理画
素数rが0であると判定されるまで、繰り返され、ステ
ップS911において、ラベリング未処理画素数rが0
であると判定された場合、ステップS913に進む。ス
テップS913において、可測領域抽出手段405は、
基準画像G11の中でラベルL0が付与されていない画
素からなる領域であって、かつ最も大きい領域を可測領
域として抽出する。
ラ1,401の撮影したパターン付き画像である基準画
像G11に基づいて、可測領域が抽出される。図9で示
す可測領域抽出処理は、カメラ2,402方向からの投
光パターン照射領域と、非照射領域とを、各々の画素値
の差異に基づいて識別し、この識別処理により抽出され
た投光パターン照射領域を可測領域として求める処理で
ある。
メラ2,402と同軸、あるいは近傍から投光される投
光パターンはランダム投光パターンであっても、パター
ンを持たない光であってもよい。すなわちカメラ2,4
02側からの投光領域と非投光領域がカメラ1,401
の撮影した基準画像(G11)において、その画素値に
基づいて判別可能であればよい。
画像間対応付け手段406は、可測領域抽出手段405
の抽出した可測領域のみについて、カメラ1,401
と、カメラ2,402が撮影した投影パターン付き画像
の対応付け処理を実行する。
手段407は、画像間対応付け手段406における対応
付け処理の結果に基づいて、予め格納された視差と距離
との対応テーブルを使用して各画素の距離データを導出
し、各画素毎に距離データを対応付けた距離画像を出力
する。
は、カメラ2,402と同軸または近傍から投光照射さ
れた計測対象画像に基づいて、計測対象の投光領域と非
投光領域とを区別し、投光領域を距離データを算出可能
な可測領域として抽出し、画像間対応付け手段406に
おいて可測領域についてのみ画像間対応付け処理を実行
するように構成したので、画像間対応付けが不可能な領
域を予め排除して画像間対応付け処理を実行することが
できるので、正確な距離画像を得ることが可能となる。
ーン付き基準画像と、投影パターンを付けない基準画像
との両画像から距離検出可能領域を抽出する処理態様を
説明する。
光を照射するステップであり、図4におけるカメラ2,
402と同軸または近傍の照射手段から計測対象400
に対してランダムパターンを照射する。
401と、カメラ2,402は、計測対象400につい
ての投影パターン付き画像を撮影し、それぞれフレーム
・メモリ403,404に格納する。カメラ1,401
の撮影した計測対象400についての投影パターン付き
画像をG11とし、カメラ2,402の撮影した計測対
象400についての投影パターン付き画像をG12とす
る。ここで、計測対象400において投影パターンの照
射された部分は、明るく明瞭な領域となり、照射光の到
達しない部分は、暗い領域となる。
ン光の照射を停止し、ステップS1004において、投
影パターンのないカメラ1,401による撮影画像を撮
り込み、フレーム・メモリ403に格納する。この投影
パターンの付与されていないカメラ1,401による撮
影画像をG21とする。
出手段405は、フレーム・メモリ403に格納された
カメラ1,401の撮影した投影パターン付き画像G1
1と、投影パターン無しの基準画像G21とに基づいて
可測領域の抽出処理を実行する。このステップS100
5の可測領域抽出処理についての詳細を図11のフロー
を用いて説明する。
測領域抽出手段405は、パラメータにより変動する強
調関数T[g]を用いて基準画像G11の画素値を強調
し、例えば計測対象400における投光パターンが照射
された領域の明るさ(画素値)を強調した強調画像T
[G11]を生成する。ステップS1102において、
可測領域抽出手段405は、強調画像T[G11]とパ
ターンなしの基準画像G21の対応画素の画素値の差分
を示す差分画像Eを生成する。ステップS1103にお
いて、可測領域抽出手段405は、差分画像Eを構成す
る画素の画素値の総和SUM_E(現SUM_Eとす
る)を算出する。
出手段405は、記憶しているSUM_Eと現SUM_
Eとを比較して小さい方のSUM_Eと、対応する強調
関数T[g]を記憶する。なお、1回目のステップS1
104の処理においては、現SUM_Eが記憶される。
[g]について説明する。強調関数T[g]としては、
次式(1)に示す第1の例、または次式(2)に示す第
2の例が用いられる。
の画素値の最大値である。gk、TkおよびTmax
は、パラメータであり、パラメータが変更されることに
より強調関数T[g]が変動する。
の画素値の最大値である。gk、TkおよびTmax
は、パラメータであり、パラメータが変更されることに
より強調関数T[g]が変動する。
ける。ステップS1105において、可測領域抽出手段
405は、変動可能な範囲のすべての強調関数T[g]
を、ステップS1101の処理で適用したか否か(強調
関数T[g]のパラメータを十分に変化させたか否か)
を判定し、全ての強調関数T[g]を適用していないと
判定した場合、ステップS1106に進む。ステップS
1106において、可測領域抽出手段405は、強調関
数T[g]のパラメータを所定の量だけ変化させて強調
関数T[g]を変動させた後、ステップS1101に戻
る。
実行され、ステップS1105において、すべての強調
関数T[g]が適用された場合、ステップS1107に
進む。なお、ステップS1101乃至S1106の処理
が繰り返される間のステップS1104の処理により、
差分画像Eを構成する画素の画素値の総和SUM_Eの
最小値と、それに対応する強調関数Tmin[g]が記
憶されることになる。
出手段405は、強調関数Tmin[g]に対応する差
分画像Eの画素値のヒストグラムを生成する。ステップ
S1108において、可測領域抽出手段405は、ステ
ップS1107において生成したヒストグラムを用い、
図9のステップS902乃至S913の処理と同様にし
て、差分画像Eの中の可測領域を抽出する。
メラ1,401の撮影したパターン付き画像である基準
画像G11と、カメラ1,401の撮影したパターンな
し画像である基準画像G21とに基づいて、可測領域が
抽出される。図11で示す可測領域抽出処理は、カメラ
2,402方向からの投光パターン照射領域と、非照射
領域とを、カメラ1,401の撮影したパターン付き基
準画像G11とパターンなし基準画像G21各々の画素
値の差異に基づいて識別し、この識別処理により抽出さ
れた投光パターン照射領域を可測領域として求める処理
である。
メラ2,402と同軸、あるいは近傍から投光される投
光パターンはランダム投光パターンであっても、パター
ンを持たない光であってもよい。すなわちカメラ2,4
02側からの投光領域と非投光領域がカメラ1,401
の撮影した2つの基準画像(G11、G21)の画素値
に基づいて判別可能であればよい。
て、画像間対応付け手段406は、可測領域抽出手段4
05の抽出した可測領域のみについて、カメラ1,40
1と、カメラ2,402が撮影した投影パターン付き画
像の対応付け処理を実行する。
成手段407は、画像間対応付け手段406における対
応付け処理の結果に基づいて、予め格納された視差と距
離との対応テーブルを使用して各画素の距離データを導
出し、各画素毎に距離データを対応付けた距離画像を出
力する。
軸または近傍から投光照射された計測対象画像に基づい
て、計測対象の投光領域と非投光領域とを区別し、投光
領域を距離データを算出可能な可測領域として抽出し、
画像間対応付け手段406において可測領域についての
み画像間対応付け処理を実行するように構成したので、
画像間対応付けが不可能な領域を予め排除して画像間対
応付け処理を実行することができるので、正確な距離画
像を得ることが可能となる。
よび距離画像生成方法では、2つの異なる位置からの計
測対象撮影画像に基づく画像間対応付けを実行して距離
画像を求める構成において、基準カメラの撮影した投光
パターン照射画像、あるいは投光パターン照射画像と投
光パターン非照射画像に基づいて投光パターン照射領域
を求め、この領域を画像間対応付けの可能な領域、すな
わち可測領域として設定し、距離画像を求めて出力する
構成としたものである。
行なうカメラを2台として、2つの投光パターン画像か
ら距離画像を求める構成について説明したが、さらに3
台以上のカメラを用いたマルチベースラインステレオシ
ステムにおいて本発明を適用することも可能である。ま
た、前述したように、パターンを持たない光照射によっ
て照射領域を求めて、これを可測領域としてもよい。
明について詳解してきた。しかしながら、本発明の要旨
を逸脱しない範囲で当業者が該実施例の修正や代用を成
し得ることは自明である。すなわち、例示という形態で
本発明を開示してきたのであり、限定的に解釈されるべ
きではない。また、上述の実施例を適宜組み合わせて構
成したものも、本発明の範囲に含まれるものであり、本
発明の要旨を判断するためには、冒頭に記載した特許請
求の範囲の欄を参酌すべきである。
像生成装置および距離画像生成方法によれば、カメラ2
(検出カメラ)側に配置した投光手段の照射画像をカメ
ラ1(基準カメラ)で撮り込み、基準カメラの撮影した
投光パターン照射画像、あるいは投光パターン照射画像
と投光パターン非照射画像に基づいて投光パターン照射
領域を求め、これを画像間対応付けの可能な領域、すな
わち可測領域として設定し、距離画像を求めて出力する
構成としたので、画像間の対応付けが困難な領域、いわ
ゆるオクルージョン領域を排除して距離画像を生成する
ことが可能となり、誤った距離データを持った距離画像
の生成を回避できる。
距離画像生成方法によれば、画像間の対応付けが困難な
領域、いわゆるオクルージョン領域を排除して距離画像
を生成する構成したので、画像間対応付け処理および距
離画像生成処理においてオクルージョン領域を除いた可
測領域についてのみの処理が可能となり処理量、計算量
の削減が達成される。
として適用可能なステレオ法について説明した図であ
る。
われる画像間対応付け処理について説明する図である。
クルージョン領域の発生について説明する図である。
る。
とした本発明の距離画像生成装置の構成例と計測対象の
可測領域の具体例を説明する図である。
投光手段とを同軸構成とした例を説明する図である。
置した構成とした本発明の距離画像生成装置の構成例と
計測対象の可測領域の具体例を説明する図である。
成処理フロー(例1)を示す図である。
出処理フロー(例1)を示す図である。
生成処理フロー(例2)を示す図である。
抽出処理フロー(例2)を示す図である。
Claims (15)
- 【請求項1】計測対象を異なる方向から撮影した画像を
用いて計測対象の三次元形状を求め、距離画像を生成す
る距離画像生成装置であり、 前記計測対象の画像を撮り込む第1カメラと、 前記第1カメラと異なる方向から前記計測対象の画像を
撮り込む第2カメラと、 前記第2カメラと同軸または近傍位置に配置され、前記
計測対象に光を照射する投光手段と、 前記投光手段により光照射がなされた計測対象を前記第
1カメラによって撮り込んだ光照射基準画像に基づい
て、距離データの算出可能な可測領域を抽出する可測領
域抽出手段と、 前記第1カメラによって撮り込まれた第1画像と、前記
第2カメラによって撮り込まれた第2画像との画像間対
応付け処理により視差データを生成して、該視差データ
に基づいて前記可測領域抽出手段の抽出した可測領域の
みの距離画像を出力する距離画像生成手段とを有するこ
とを特徴とする距離画像生成装置。 - 【請求項2】前記可測領域抽出手段は、 前記計測対象の前記投光手段による光照射領域と、光非
照射領域とを前記光照射基準画像に基づいて判別し、光
照射領域を可測領域として抽出する構成であることを特
徴とする請求項1に記載の距離画像生成装置。 - 【請求項3】前記可測領域抽出手段は、 前記投光手段により光照射がなされた計測対象を前記第
1カメラによって撮り込んだ光照射基準画像と、 前記投光手段により光照射がなされていない計測対象を
前記第1カメラによって撮り込んだ光非照射基準画像と
の両画像に基づいて、距離データの算出可能な可測領域
を抽出する構成を有することを特徴とする請求項1に記
載の距離画像生成装置。 - 【請求項4】前記可測領域抽出手段は、 前記光照射基準画像の輝度値を示す画素値のヒストグラ
ムを生成して、前記ヒストグラムの最大値に対応する最
多画素値を有する画素と、その近傍であって、かつ前記
最多画素値に対して差が予め定めた閾値以下である画素
値を有する画素の領域を可測領域に属さない領域である
と判定する構成を有することを特徴とする請求項1に記
載の距離画像生成装置。 - 【請求項5】前記可測領域抽出手段は、 前記光照射基準画像の輝度値を示す画素値と、 前記投光手段により光照射がなされていない計測対象を
前記第1カメラによって撮り込んだ光非照射基準画像の
輝度値を示す画素値との2つの画素値の差を示す差分画
像のヒストグラムを生成して、前記ヒストグラムの最大
値に対応する最多画素値を有する画素と、その近傍であ
って、かつ前記最多画素値に対して差が予め定めた閾値
以下である画素値を有する画素の領域を可測領域に属さ
ない領域であると判定する構成を有することを特徴とす
る請求項1に記載の距離画像生成装置。 - 【請求項6】前記投光手段の照射する光は、ランダムパ
ターンからなるパターン光であり、前記距離画像生成手
段は、 前記第1カメラによって撮り込まれたパターン光の付与
された第1画像と、前記第2カメラによって撮り込まれ
たパターン光の付与された第2画像に基づいて距離画像
を生成する構成を有することを特徴とする請求項1に記
載の距離画像生成装置。 - 【請求項7】前記距離画像生成手段は、前記カメラ1の
撮り込み画像と、前記カメラ2の撮り込み画像の2つの
画像間の対応付けを実行する画像間対応付け手段を有
し、 前記画像間対応付け手段は、 前記可測領域抽出手段の抽出した可測領域のみの画素に
関する画像間対応付け処理を実行する構成を有すること
を特徴とする請求項1に記載の距離画像生成装置。 - 【請求項8】計測対象を異なる方向から撮影した画像を
用いて計測対象の三次元形状を求め距離画像を生成する
距離画像生成方法であり、 計測対象の画像を第1カメラと、前記第1カメラと異な
る方向に配置した第2カメラによって同時に撮り込む画
像撮り込みステップであり、前記第2カメラと同軸また
は近傍位置に配置された投光手段により光照射がなされ
た前記計測対象の像を撮り込む画像撮り込みステップ
と、 前記第1カメラによって撮り込んだ光照射基準画像に基
づいて、距離データの算出可能な可測領域を抽出する可
測領域抽出ステップと、 前記第1カメラによって撮り込まれた第1画像と、前記
第2カメラによって撮り込まれた第2画像との画像間対
応付け処理により視差データを生成して、該視差データ
に基づいて前記可測領域抽出手段の抽出した可測領域の
みの距離画像を出力する距離画像生成ステップとを有す
ることを特徴とする距離画像生成方法。 - 【請求項9】前記可測領域抽出ステップは、 前記計測対象の前記投光手段による光照射領域と、光非
照射領域とを前記光照射基準画像に基づいて判別し、光
照射領域を可測領域として抽出することを特徴とする請
求項8に記載の距離画像生成方法。 - 【請求項10】前記可測領域抽出ステップは、 前記投光手段により光照射がなされた計測対象を前記第
1カメラによって撮り込んだ光照射基準画像と、 前記投光手段により光照射がなされていない計測対象を
前記第1カメラによって撮り込んだ光非照射基準画像と
の両画像に基づいて、距離データの算出可能な可測領域
を抽出することを特徴とする請求項8に記載の距離画像
生成方法。 - 【請求項11】前記可測領域抽出ステップは、 前記光照射基準画像の輝度値を示す画素値のヒストグラ
ムを生成して、前記ヒストグラムの最大値に対応する最
多画素値を有する画素と、その近傍であって、かつ前記
最多画素値に対して差が予め定めた閾値以下である画素
値を有する画素の領域を可測領域に属さない領域である
と判定することを特徴とする請求項8に記載の距離画像
生成方法。 - 【請求項12】前記可測領域抽出ステップは、 前記光照射基準画像の輝度値を示す画素値と、 前記投光手段により光照射がなされていない計測対象を
前記第1カメラによって撮り込んだ光非照射基準画像の
輝度値を示す画素値との2つの画素値の差を示す差分画
像のヒストグラムを生成して、前記ヒストグラムの最大
値に対応する最多画素値を有する画素と、その近傍であ
って、かつ前記最多画素値に対して差が予め定めた閾値
以下である画素値を有する画素の領域を可測領域に属さ
ない領域であると判定することを特徴とする請求項8に
記載の距離画像生成方法。 - 【請求項13】前記投光手段の照射する光は、ランダム
パターンからなるパターン光であり、 前記距離画像生成ステップは、 前記第1カメラによって撮り込まれたパターン光の付与
された第1画像と、前記第2カメラによって撮り込まれ
たパターン光の付与された第2画像に基づいて距離画像
を生成することを特徴とする請求項8に記載の距離画像
生成方法。 - 【請求項14】前記距離画像生成ステップは、 前記カメラ1の撮り込み画像と、前記カメラ2の撮り込
み画像の2つの画像間の対応付けを実行する画像間対応
付けステップを有し、 前記画像間対応付けステップは、 前記可測領域抽出ステップにおいて抽出された可測領域
のみの画素に関する画像間対応付け処理を実行すること
を特徴とする請求項8に記載の距離画像生成方法。 - 【請求項15】計測対象を異なる方向から撮影した画像
を用いて計測対象の三次元形状を求め距離画像を生成す
る距離画像生成処理をコンピュータ・システム上で実行
せしめるコンピュータ・プログラムを提供するプログラ
ム提供媒体であって、前記コンピュータ・プログラム
は、 計測対象の画像を第1カメラと、前記第1カメラと異な
る方向に配置した第2カメラによって同時に撮り込む画
像撮り込みステップであり、前記第2カメラと同軸また
は近傍位置に配置された投光手段により光照射がなされ
た前記計測対象の像を撮り込む画像撮り込みステップ
と、 前記第1カメラによって撮り込んだ光照射基準画像に基
づいて、距離データの算出可能な可測領域を抽出する可
測領域抽出ステップと、 前記第1カメラによって撮り込まれた第1画像と、前記
第2カメラによって撮り込まれた第2画像との画像間対
応付け処理により視差データを生成して、該視差データ
に基づいて前記可測領域抽出手段の抽出した可測領域の
みの距離画像を出力する距離画像生成ステップとを有す
ることを特徴とするプログラム提供媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000017893A JP4337203B2 (ja) | 2000-01-24 | 2000-01-24 | 距離画像生成装置および距離画像生成方法、並びにプログラム提供媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001208522A true JP2001208522A (ja) | 2001-08-03 |
JP4337203B2 JP4337203B2 (ja) | 2009-09-30 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4337203B2 (ja) |
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JP4337203B2 (ja) | 2009-09-30 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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