JP2001203136A - 光案内装置 - Google Patents

光案内装置

Info

Publication number
JP2001203136A
JP2001203136A JP2000009690A JP2000009690A JP2001203136A JP 2001203136 A JP2001203136 A JP 2001203136A JP 2000009690 A JP2000009690 A JP 2000009690A JP 2000009690 A JP2000009690 A JP 2000009690A JP 2001203136 A JP2001203136 A JP 2001203136A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
guide device
light guide
optical system
reflecting surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000009690A
Other languages
English (en)
Inventor
Jacobsen Bruce
ジェイコブセン ブルース
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2000009690A priority Critical patent/JP2001203136A/ja
Publication of JP2001203136A publication Critical patent/JP2001203136A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、光源と光学系との間に配置され、
前記光源側から前記光学系の物体面側に向けて出射され
た光によってその光学系の視野内の各位置を順に照明す
る光案内装置に関し、光路長の変化および振幅の損失を
抑えること、視野が円弧状である場合の干渉計測に好適
な光案内装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 光源と光学系との間に配置され、前記光
源側から前記光学系の物体面側に向けて出射された光に
よってその光学系の視野内の各位置を順に照明する光案
内装置であって、光源側からの入射光を前記視野に導く
単数または複数の反射面と、前記反射面を有し、かつ前
記反射面における前記入射光の入射位置からその入射光
の光路に平行な方向に延ばした直線の周りに回動可能な
回動部材とを備えたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光源と光学系との
間に配置され、前記光源側から前記光学系の物体面側に
向けて出射された光によってその光学系の視野内の各位
置を順に照明する光案内装置に関する。
【0002】
【従来の技術】フォトリソグラフィーの技術では、原版
に形成された微細なパターンを正確に基板上に転写する
ことが望まれる。現在、高度な技術の1つに、照明光に
遠紫外領域やX線領域の短波長光(波長:13nm近
傍)を使用し、投影光学系としてリング視野を有した投
影光学系を使用したものが提案されている。ここで、リ
ング視野を有した投影光学系とは、例えば、特開昭63
−163319号公報に記載される光学系のように、そ
の転写領域を、輪帯状の視野(リング視野という。その
サイズは一般に径方向が数mm、周方向が数10°であ
る。)とするよう設計された投影光学系である。
【0003】このように高度な技術に使用される投影光
学系の光学特性は、多くの場合干渉計測によって予め調
べられる。図7(1)(2)に示すように、この干渉計
測では、投影光学系(被検光学系71)に理想的波面の
光を通過させるために、その物体面7aに被検光学系7
1の分解能よりも十分に小さいピンホール72a(また
は73a)を有した点像形成用パターン72(または7
3)を配置して、そのピンホール上に光を照射する。
【0004】光源側からの入射光がピンホール72a
(または73a)上に集光されると、そのピンホール7
2a(または73a)の裏側には、波面がほぼ球面形状
となった回折光が生起する。そして、その回折光が被検
光学系71を透過して生じた光(被検光)と所定波面形
状の参照光とを不図示の光学系によって干渉させ、それ
ら光の干渉縞パターンから、被検光学系71の光学特性
を調べる。
【0005】ここで、干渉計測では、被検光学系71の
視野7b内の各位置についてこの測定を行うために、光
の照射位置を移動させる必要がある。例えば、視野7b
内に複数のピンホール72aを配置した点像形成用パタ
ーン72を使用する場合(図7(1))には、入射光の
光路を各ピンホールの位置にまで移動させる必要があ
り、また、単一のピンホール73aを配置した点像形成
用パターン73を使用する場合(図7(2))には、そ
の点像形成用パターン73と共に入射光の光路を別の視
野位置にまで移動させる必要がある。
【0006】何れの場合にも、光の照射位置を2次元的
に移動させるために、物体面7aと光源との間には、図
8に示すような光案内装置80が使用される。この光案
内装置80には、光源側から順に、2つのミラー81、
82が取り付けられている。このうちミラー81は、光
源からの入射光光路を90゜変化させる反射面81aを
有しており、ミラー82は、そのミラー81にて反射し
た光の光路をさらに別の方向へ90゜変化させて、被検
光学系の物体面7aに垂直に入射する光路へと光を導く
反射面82aを有している。
【0007】このうち、ミラー81が取り付けられてい
るのは、光源からの入射光光路と平行な方向に移動可能
な外ステージ83であり、一方、ミラー82が取り付け
られているのは、その外ステージ83と共に移動可能で
ありかつミラー81、82間の光路と平行な方向に移動
可能な内ステージ84である。このような入れ子構造を
した光案内装置80によれば、2つのステージ83、8
4それぞれの位置を設定するだけで、その入射角度を保
ったまま、物体面7aにおける光の照射位置を自在に変
更することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、一般に、投
影光学系の光学特性の測定では、露光時と同じ条件を設
定するべく、露光時と同じ波長の光が使用される。した
がって、上記したように短波長光が使用される投影光学
系の測定では、当然に短波長光が使用される。しかしな
がら、上記の光案内装置80のミラー81とミラー82
の反射面に、この短波長光に対する十分な反射率を設定
することは、非常に困難である。
【0009】なぜなら、先ず、2つのミラー81、82
の反射面81a、82aには、何れも入射角45゜の光
を反射するために多層膜コーティングが施される。この
多層膜コーティングは本来的に、入射光の振動方向がそ
の反射面の垂直方向に近いほど光の振幅損失を大きく
し、入射光の振動方向がその反射面の水平方向に近いほ
ど光の振幅損失を小さくするという性質を有する。
【0010】そして、この光案内装置80では、光の偏
光角が2つのミラー81、82の間で90゜回転する。
この結果、仮に入射光の偏光方向を調整して一方のミラ
ーについて高い反射率を維持できたとしても、その場合
には必ず他方のミラーでの反射率は十分に得られないこ
ととなる。このような振幅の損失は、適正な測定を行う
ためには解決すべき問題である。
【0011】また、この光案内装置80では、2つのス
テージ83、84の移動方向と光路との関係から、物体
面7aにおける照明位置を変更する際に、光路長の変化
を伴う。このため、照明位置を変更する毎に、焦点調節
(適正な波面の回折光を得るべく光源からの光を物体面
7a上に集光させる動作)が必要となるので、各回の干
渉計測の処理が煩雑化する。
【0012】本発明は、このような従来の問題に鑑みて
なされたもので、光学系の視野内の各位置を光源からの
光によって順に照明する場合に生じる光路長の変化およ
び振幅の損失を抑えることのできる光案内装置を提供す
ることを目的とする。本発明はまた、光学系がリング視
野を有している場合など、その視野が円弧状である場合
の干渉計測に好適な光案内装置を提供することを目的と
する。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の光案内
装置は、光源と光学系との間に配置され、前記光源側か
ら前記光学系の物体面側に向けて出射された光によって
その光学系の視野内の各位置を順に照明する光案内装置
であって、光源側からの入射光を前記視野に導く単数ま
たは複数の反射面と、前記反射面を有し、かつ前記反射
面における前記入射光の入射位置からその入射光の光路
に平行な方向に延ばした直線の周りに回動可能な回動部
材とを備えたことを特徴とする。
【0014】このように回動部材に配置された反射面
は、その回動部材の回動と共に入射光光路の周りに回動
する。したがってこの反射面における入射光の入反射角
は一定に保たれ、反射面から視野に向かう光路は、前記
直線からの傾斜角を一定に保ったままその直線の周りを
回動する。したがって、光学系の視野の周方向各位置を
照明することができる。
【0015】しかも、この構成では、回動部材における
反射面の配置箇所およびその配置角度などによって光の
反射角を比較的自由に選択できるので、反射角を適切に
設定して光の振幅損失を抑えることも可能である。請求
項2に記載の光案内装置は、請求項1に記載の光案内装
置において、前記光学系は、前記物体面が前記直線と垂
直に交わるよう配置されていることを特徴とする。
【0016】この場合、前記回動によって物体面と光路
との位置関係は変化しないので、視野の周方向各位置を
照明する際にも、その視野における光の入射角度と光路
長とは、一定に保たれる。請求項3に記載の光案内装置
は、請求項2に記載の光案内装置において、前記反射面
は、前記入射光を反射させることによりその光路を傾斜
させる第1反射面と、その第1反射面にて反射した反射
光を前記視野の方向へ反射させる第2反射面とを有し、
前記第1反射面または前記第2反射面は、そこへ入射す
る光の光路と平行な方向へ移動可能な状態で前記回動部
材に固定されていることを特徴とする。
【0017】このようにして第1反射面または第2反射
面がその角度を保ったまま入射光路に平行な方向に移動
すると、第2反射面光から出射される光の光路は、前記
直線からの傾斜角を一定に保ったまま、その直線からの
距離を変化させる。しかもこの方向の移動によれば、全
体の光路長は一定に保たれる。したがって、視野におけ
る光の入射角度と光路長とを変化させることなく、その
視野の径方向各位置を照明することができる。
【0018】請求項4に記載の光案内装置は、請求項2
に記載の光案内装置において、前記反射面は、前記入射
光を反射させることによりその光路を傾斜させる第1反
射面と、その第1反射面にて反射した反射光を前記視野
の方向へ反射させる第2反射面とを有し、前記第1反射
面と前記第2反射面の双方は、そこへ入射する光の入反
射角の大きさを変化させる方向に回動可能な状態で前記
回動部材に固定されていることを特徴とする。
【0019】このようにして第1反射面と第2反射面と
を共に傾斜させると、第2反射面から出射される光の光
路について、前記直線からの傾斜角を一定に保ったま
ま、その直線からの距離を変化させることができる。し
かもこの方向の傾斜によれば、全体の光路長を一定に保
つこともできる。したがって、視野における光の入射角
度と光路長とを変化させることなく、その視野の径方向
各位置を照明することができる。
【0020】請求項5に記載の光案内装置は、請求項2
〜請求項4の何れか1項に記載の光案内装置において、
前記物体面には、前記視野内において前記回動部材の回
動の径方向に並ぶ複数のピンホールを有した点像形成用
パターンが配置され、前記点像形成用パターンは、前記
回動部材に固定されていることを特徴とする。この点像
形成用パターンは回動部材と共に回動可能であるので、
光路の移動に応じて径方向に並ぶピンホール配列を周方
向に適宜移動させることができる。したがって、照明位
置とピンホール位置とを一致させて、光学系の視野の径
方向だけでなく周方向の各位置に回折光を発生させるこ
とができる。
【0021】ここで、このようにピンホールを一列に並
べただけの点像形成用パターンは、ピンホールを視野内
全面に並べた点像形成用パターンよりも小型化され、し
かもその形成が容易である。すなわち、単純化された点
像形成用パターンを用いるにも拘わらず、その専用の移
動ステージも設けることなく光学系の視野の各位置に回
折光を発生させることができる。
【0022】請求項6に記載の光案内装置は、請求項2
〜請求項4の何れか1項に記載の光案内装置において、
前記物体面には、前記視野内に単数のピンホールを有し
た点像形成用パターンが配置され、前記点像形成用パタ
ーンは、前記物体面内を移動可能に形成されていること
を特徴とする。この場合、点像形成用パターンを移動さ
せて単一ピンホールを光学系の視野の各位置に移動させ
ることができる。この際、前記回動量や移動量や傾斜量
と、その点像形成用パターンの移動量とを対応させてピ
ンホール位置と光の照明位置とを一致させれば、光学系
の視野の各位置に回折光を発生せることができる。
【0023】請求項7に記載の光案内装置は、請求項2
〜請求項6に記載の光案内装置において、前記光学系
は、被検光学系であって、前記視野がリング視野となっ
た光学系であり、かつそのリング視野の曲率中心が前記
直線上に位置するよう配置されていることを特徴とす
る。このように視野がリング視野である場合にその曲率
中心と回動中心とが一致していれば、回動部材の回動に
よって、その視野内の周方向の全ての位置を確実に照明
できる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明に係
る実施形態を説明する。 <第1実施形態>先ず、本発明に係る第1実施形態を、
図1に基づいて説明する。本第1実施形態は、請求項
1、請求項2、請求項3、請求項7に対応する。
【0025】図1は、第1実施形態における光案内装置
を示す図である。図1に示す光案内装置10は、図8に
示す従来の光案内装置80と同様に、光源と被検光学系
の物体面7aとの間に配置され、光源から出射された光
によってその被検光学系の視野7bを走査するものであ
る。
【0026】但し、本実施形態では、光源から光案内装
置10に入射する入射光光路P0と、被検光学系(不図
示)との位置関係については、その入射光光路P0が被
検光学系の物体面7aに垂直な直線L上にあり、しかも
被検光学系の視野7bがリング視野である場合には、そ
の曲率中心Oがその直線L上にあるような位置関係とす
る。以下では、視野7bがリング視野であるとして説明
する。
【0027】このような光源と被検光学系との間に配置
される光案内装置10は、光源側から順に、第1ミラー
11、第2ミラー12を配置している。なお、これらミ
ラーの反射面11a、12a(第1反射面、第2反射面
に対応する)の形状は、必要に応じて曲面であっても平
面であってもよい。また、所謂ミラーと同等の機能を付
加することができるのであれば如何なる部材を用いても
よい。
【0028】第1ミラー11は、直線L上に配置され、
その角度は、その反射面11aにおける反射光の光路P
1が直線Lから所定角だけ傾くように予め調整されてい
る。第2ミラー12は、その反射光を再び反射させるべ
く光路P1上に配置され、その角度は、その反射面12
aから射出した光の光路P2がリング視野7b内に向か
うよう予め調整されている(実際の計測時には、リング
視野7b内に配置されるピンホール(例えば、図7
(1)符号7a)の位置に向かうよう調整される。)。
【0029】なお、図1では、光路P0、P1、P2
は、何れも直線Lを含む同一の平面内にある。また、光
路P2が物体面7aに垂直であるか否かは問われない。
そして、これらの第1ミラー11および第2ミラー12
は、前記直線Lの周りに回動可能なシリンダ13(回動
部材に対応する)にアーム17等を介して固定されてい
る。
【0030】このシリンダ13は、例えば次のような回
動機構によって回動する。すなわち、図1に示すよう
に、シリンダ13を前記直線Lの周りに回動可能な状態
で支持すると共に光源および被検光学系と同一のベース
(不図示)に固定されている支持部15aと、回転体1
5bを介してシリンダ13に直線L周りの回転力を与え
るモータ15cと、シリンダ13の回動角度を(ロータ
リーエンコーダ15d等により)監視しつつモータ15
cを駆動する制御部15e等を備えた移動機構16であ
る。
【0031】さらに、第1実施形態では、第2ミラー1
2は、例えば次のような移動機構によって光路P1に平
行な方向に移動可能である。すなわち、図1に示すよう
に、第2ミラー12とシリンダ13との間に介設され、
かつ光路P1に平行な方向に伸縮可能なアクチュエータ
16aと、そのアクチュエータ16aを駆動制御する制
御部16eとを備えた移動機構16である。
【0032】以上の構成の光案内装置10では、回動機
構15が動作すると、シリンダ13が図中符号18Aで
示す矢印の方向に回動し、これに伴い第1ミラー11お
よび第2ミラー12が回動する。このとき、光路P0の
周りに回動する反射面11aでは、入射光の入射角が何
ら変化しない。したがって、光路P1は、直線Lからの
傾斜角を一定に保ったまま、その直線Lの周りを回動す
る。
【0033】また、このとき第1ミラー11の反射面1
1aと第2ミラー12の反射面12aとの位置関係は変
化しないので、このように光路P1が回転しようとも、
その光路P1を通過した光は確実に反射面12aの同じ
位置に同じ角度で入射する。このとき、第2ミラーの反
射面12aにて反射した光の光路P2は、直線Lからの
傾斜角を一定に保ったまま、その直線Lの周りを回動す
る。
【0034】したがって、リング視野7bの周方向各位
置(図中符号18B)は、入射角一定の光によって照明
される。一方、以上の構成の光案内装置10では、移動
機構16が動作すると、第2ミラー12がその角度を保
ったまま光路P1に平行な方向(図中符号19Aで示す
方向)に移動するので、反射面12aにおける光の入射
角度は変化せず、その反射位置のみが19Aの方向に移
動する。
【0035】このとき、光路P2は、直線Lからの傾斜
角を一定に保ったまま、直線Lからの距離を変化させ
る。したがって、リング視野7bの径方向各位置(図中
符号19B)は、入射角一定の光によって照明される。
以上説明したように、光案内装置10によれば、従来の
光案内装置80とは異なる構成であるにも拘わらず、リ
ング視野7b内の各位置を適切に照明することができ
る。
【0036】しかも、上記構成では、従来の光案内装置
80と異なり光路の傾斜角に対する自由度が高いので、
第1ミラー11および第2ミラーの反射角を45°以外
の値に設定することによって光の振幅損失を抑えること
ができる。例えば、この値を約87°に設定して光路P
1の傾斜角を十分に小さくすれば、上述した振幅損失は
確実に抑えられる。
【0037】また、上記構成における各ミラー11、1
2の移動方向と各光路の方向との関係によれば、上記の
動作中に光路長P0、P1、P2の合計は変化しない。
以上の結果、第1実施形態では、被検光学系のリング視
野の各位置を照明する際に、光路長の変化および振幅損
失を共に抑えることができる。 <第2実施形態>次に、本発明に係る第2実施形態を、
図2に基づいて説明する。本第2実施形態は、請求項
1、請求項2、請求項3、請求項7に対応する。
【0038】図2は、第2実施形態における光案内装置
を示す図である。図2において、図1に示すものと同じ
ものについては同一の符号を付して示し、ここではその
説明を省略する。
【0039】図2に示す光案内装置20は、第1実施形
態の光案内装置10において、第2ミラー12を移動さ
せる移動機構16に代えて、第1ミラー11を光路P0
に平行な方向に移動させる移動機構が備えられたものに
等しい。この移動機構は、例えば、図2に示すように、
第1ミラー11とシリンダ13との間に介設され、かつ
光路P0に平行な方向に伸縮可能なアクチュエータ26
aと、そのアクチュエータ26aを駆動制御する制御部
26eとを備えた移動機構26である。
【0040】光案内装置20では、この移動機構26が
動作すると、第1ミラー11がその角度を保ったまま光
路P0に平行な方向(図中符号29Aで示す方向)に移
動するので、反射面11aにおける光の入射角度は変化
せず、光の反射位置のみが29Aの方向に移動する。こ
のとき、光路P1は、直線Lからの傾斜角を一定に保っ
たまま29Aの方向に平行移動するので、反射面12a
における光の入射角度についても変化が生じることな
く、その反射位置のみが29Aの方向に移動する。した
がって、光路P2は、直線Lからの傾斜角を一定に保っ
たまま、直線Lからの距離を変化させる。
【0041】したがって、リング視野7bの径方向各位
置(図中符号19B)は、入射角一定の光によって照明
される。しかも、上記構成では、第1実施形態と同様に
第1ミラー11および第2ミラーの反射角を45°以外
の値に設定することによって光の振幅損失を抑えること
ができると共に、光路長P0、P1、P2の合計を不変
とすることができる。
【0042】したがって、第2実施形態では、リング視
野の径方向各位置を照明するための手段が異なるもの
の、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。な
お、本第2実施形態においては、第2ミラー12の反射
面12aは、少なくとも、第1ミラー11の移動距離が
リング視野7bの径方向の長さに対応する範囲内である
ときには、反射面11aにて反射した光を確実に反射で
きるような大きさに設計される。
【0043】<第3実施形態>次に、本発明に係る第3
実施形態を、図3に基づいて説明する。本第3実施形態
は、請求項1、請求項2、請求項4、請求項7に対応す
る。図3は、第3実施形態における光案内装置を示す図
である。図3において、図1や図2に示すものと同じも
のについては同一の符号を付して示し、ここではその説
明を省略する。
【0044】図2に示す光案内装置30は、第1実施形
態の光案内装置10において、移動機構16に代えて、
シリンダ13に対する第1ミラー11および第2ミラー
12の角度を傾斜させる傾斜機構が備えられたものに等
しい。この傾斜機構は、例えば、図3に示すように、第
1ミラー11を、反射面11aにおける光の入射位置か
ら光路P0および光路P1を含む平面の垂直方向に延ば
した直線の周りに回動可能に支持する回転軸36bと、
その回転軸36bとシリンダ13との間に介設されその
回転軸36bを介して第1ミラー11に前記直線周りの
回転力を与えるモータ36aと、第2ミラー12を、反
射面12aにおける光の入射位置から光路P1および光
路P2を含む平面の垂直方向に延ばした直線の周りに回
動可能に支持する回転軸37bと、その回転軸37bと
シリンダ13との間に介設されその回転軸37bを介し
て第2ミラー12に前記直線周りの回転力を与えるモー
タ37aと、モータ36aおよびモータ37aを駆動制
御する制御部36eとを備えた傾斜機構36である。
【0045】このうち、制御部36eは、第1ミラー1
1および第2ミラー12の角度変化によって生じる、光
路P2の傾斜角度(直線Lを基準とする傾斜角度)の変
化を抑える制御も行う。この制御は、例えば、物体面7
aにおける光の入射角度を直接監視することによって
も、第1ミラー11の角度変化量とそれに適した第2ミ
ラー12の角度変化量とを対応づけて記憶しておくこと
によっても実現可能である。
【0046】光案内装置30では、この傾斜機構36が
動作すると、第1ミラー11の角度が図中符号39Aで
示す方向に変化するので、光路P1の傾斜角度は変化す
る。このとき、第2ミラー12の角度も図中符号39
A’で示す方向に変化しているが、制御部36eによる
上記制御の結果、光路P2は、直線Lからの傾斜角を一
定に保ったまま、直線Lからの距離を変化させることと
なる。
【0047】したがって、リング視野7bの径方向各位
置(図中符号19B)は、入射角一定の光によって照明
される。しかも、上記構成では、第1実施形態と同様に
第1ミラー11および第2ミラーの反射角を45°以外
の値に設定することによって光の振幅損失を抑えること
ができると共に、光路長P0、P1、P2の合計を不変
とすることができる。
【0048】したがって、第3実施形態では、径方向に
光走査するための手段が異なるものの、第1実施形態や
第2実施形態と同様の効果を得ることができる。なお、
本第3実施形態においては、第2ミラー12の反射面1
2aは、少なくとも、第1ミラー11の角度変化がリン
グ視野7bの径方向の長さに対応する範囲内であるとき
には、反射面11aにて反射した光を確実に反射できる
ような大きさに設計される。
【0049】<第4実施形態>次に、本発明に係る第4
実施形態を、図4に基づいて説明する。本第4実施形態
は、請求項1、請求項2、請求項3、請求項4、請求項
6、請求項7に対応する。図4は、第4実施形態を説明
する図である。
【0050】図4において、図1、図2、図3に示すも
のと同じものについては同一の符号を付して示し、ここ
ではその説明を省略する。第4実施形態は、上記説明し
た光案内装置10、20、30の干渉計測への適用例で
ある(なお、図4において、各光案内装置10、20、
30の構成の細部は省略してある)。
【0051】図4に示すように、被検光学系の物体面7
aには、単一のピンホール41aを有した点像形成用パ
ターン41が配置される。そして、その点像形成用パタ
ーン41はピンホールステージ42に載置される。ま
た、ピンホールステージ42は、物体面7aに平行な面
内にあり互いに直交する2軸方向(例えば図中符号42
Aで示す方向)に移動可能なステージである。
【0052】上記したように光案内装置10、20、3
0は、光源からの光によって被検光学系のリング視野の
各位置を照明することができる。本実施形態において
は、ピンホールステージ42を駆動してピンホール41
aについても被検光学系の視野の各位置に移動させる。
この際、光案内装置10、20、30内の制御部とピン
ホールステージ42の制御部(不図示)とを連動させる
などして、ピンホール41a位置と光の照明位置とを一
致させる。
【0053】この結果、被検光学系の視野の各位置に、
理想的波面の光を生じさせることができる。したがっ
て、本実施形態によれば、各光案内装置10、20、3
0を、単一ピンホールの点像形成用パターン41を用い
る干渉計測に、確実に適用することができる。
【0054】なお、ここで使用されるピンホールステー
ジ42は、試料や基板などを2次元移動させる際に一般
に用いられているものである。 <第5実施形態>次に、本発明に係る第5実施形態を、
図5に基づいて説明する。本第5実施形態は、請求項
1、請求項2、請求項3、請求項4、請求項5、請求項
7に対応する。
【0055】図5は、第5実施形態を説明する図であ
る。図5において、図1、図2、図3、図4に示すもの
と同じものについては同一の符号を付して示し、ここで
はその説明を省略する。第5実施形態は、上記説明した
光案内装置10、20、30の干渉計測への適用例であ
る(なお、図5において、各光案内装置10、20、3
0の構成の細部は省略してある)。
【0056】図5に示すように、被検光学系の物体面7
aには、複数のピンホール51aを一列に配置した点像
形成用パターン51が置かれる。そして、その点像形成
用パターン51はシリンダ13に固定される。また、こ
の点像形成用パターン51の固定位置は、光案内装置1
0、20、30のミラー12にて反射した光の光路P2
上とされ、複数のピンホール51aの配置方向は、光案
内装置10、20、30の回動の径方向(すなわちリン
グ視野の径方向)に一致しているとする。
【0057】ここで、この点像形成用パターン51はそ
のピンホール51aをリング視野の一部にしか有してい
ない。しかも、リング視野の全体に対向させるべく専用
の移動ステージに載置されてもいない。しかし、上記構
成では、点像形成用パターン51はシリンダ13と共に
回動可能であるので、径方向に並ぶピンホール51aの
配列をリング視野の周方向に適宜移動させることができ
る。すなわち、照明位置とピンホール位置とを一致させ
て、被検光学系のリング視野の各位置に理想的波面の光
を生じさせることができる。
【0058】そして、このようにピンホール51aを一
列に並べただけの点像形成用パターン51は、ピンホー
ル51aをリング視野内全面に並べた点像形成用パター
ンよりも小型化され、しかもその形成が容易である。し
たがって、本実施形態によれば、従来と異なる構成の各
光案内装置10、20、30を確実に干渉計測に適用す
ることができると共に、単純化された点像形成用パター
ン51を用いるにも拘わらず、その専用の移動ステージ
も設けることなく干渉計測を実現させることができる。
【0059】<その他>なお、上記各実施形態では、第
1ミラー11および第2ミラー12の角度が45°以外
の値に設定されているが、使用される光の種類などによ
ってその反射角に対する制約がない場合には、45°に
設定してもよいことはいうまでもない。また、物体面7
aへの入射角度が変化することを許容する場合には、図
3に示す光案内装置30において、反射面11a、12
aの一方のみを傾斜可能とした光案内装置を使用でき
る。
【0060】また、光の照射位置の移動方向が、前記し
た周方向(図1〜図3中符号18B)のみに限定される
場合には、図5において、点像形成用パターン51に代
えて単一ピンホールの点像形成用パターン41をシリン
ダ13に固定してもよい。また、上記各実施形態におけ
る光案内装置10、20、30では、図6(1)に示す
ように反射面の数が2つ(反射面11aおよび反射面1
2a)とされているが、各反射面が同一の回動部材(例
えば上記シリンダ13)に固定されているのであれば、
図6(2)や(3)に示すように反射面の数は3つ以上
の複数としても単数としてもよい。何れの場合も、それ
ら各反射面の位置関係は一定に保たれるので、リング視
野7bの周方向各位置を、入射角が一定の光によって照
明することができる。
【0061】また、図1、図2、図3、図4、図5で
は、回動部材として円筒状のシリンダ13を示したが、
回動部材の形状については、各ミラーを上記した所定の
状態で支持しつつ所定の方向に回動させることが可能で
あれば、如何なる形状であってもよい。また、本発明
は、光の反射角に対する制約が厳しいフォトリソグラフ
ィー用の投影光学系、特にリング視野を有した投影光学
系の干渉計測に最適であるが、計測の対象を視野内の輪
帯状の領域(中心対称性のある領域)とするのであれ
ば、如何なる視野形状の光学系の干渉計測にも好適であ
る。その他、照明位置を円弧状に移動させる必要のある
計測であれば、光学系の干渉計測以外の如何なる計測に
も本発明は有効である。
【0062】また、上記移動機構16、26、および傾
斜機構36によれば、光案内装置の部品配置などを含む
機械的制約が許す限りは、リング視野7b内のみならず
物体面7aの如何なる位置をも照明することができる。
したがって、本発明は、2次元的に照明位置を移動させ
る必要のある計測であれば、如何なる計測にも適用可能
である。また、フォトリソグラフィー等の照明装置とし
ても適用可能である。
【0063】
【発明の効果】上述したように本発明では、光学系の視
野内の各位置を光源からの光によって順に照明する場合
に生じる光路長の変化および振幅の損失を抑えることが
できる。また、光学系がリング視野を有している場合な
ど、その視野が円弧状である場合の干渉計測に好適な光
案内装置が実現する。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態における光案内装置を示す図であ
る。
【図2】第2実施形態における光案内装置を示す図であ
る。
【図3】第3実施形態における光案内装置を示す図であ
る。
【図4】第4実施形態を説明する図である。
【図5】第5実施形態を説明する図である。
【図6】本発明に係るその他の光案内装置を説明する図
である。
【図7】干渉計測を説明する図である。
【図8】従来の光案内装置を示す図である。
【符号の説明】
10,20,30 光案内装置 11 第1ミラー 12 第2ミラー 11a,12a 反射面 13 シリンダ 15 回動機構 16,26 移動機構 17 アーム 36 傾斜機構 41,51,72,73 点像形成用パターン 41a,51a,72a,73a ピンホール 42 ピンホールステージ 71 被検光学系

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と光学系との間に配置され、前記光
    源側から前記光学系の物体面側に向けて出射された光に
    よってその光学系の視野内の各位置を順に照明する光案
    内装置であって、 前記光源側からの入射光を前記視野に導く単数または複
    数の反射面と、 前記反射面を有し、かつ前記反射面における前記入射光
    の入射位置からその入射光の光路に平行な方向に延ばし
    た直線の周りに回動可能な回動部材とを備えたことを特
    徴とする光案内装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の光案内装置において、 前記光学系は、 前記物体面が前記直線と垂直に交わるよう配置されてい
    ることを特徴とする光案内装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の光案内装置において、 前記反射面は、 前記入射光を反射させることによりその光路を傾斜させ
    る第1反射面と、その第1反射面にて反射した反射光を
    前記視野の方向へ反射させる第2反射面とを有し、 前記第1反射面または前記第2反射面は、 そこへ入射する光の光路と平行な方向へ移動可能な状態
    で前記回動部材に固定されていることを特徴とする光案
    内装置。
  4. 【請求項4】 請求項2に記載の光案内装置において、 前記反射面は、 前記入射光を反射させることによりその光路を傾斜させ
    る第1反射面と、その第1反射面にて反射した反射光を
    前記視野の方向へ反射させる第2反射面とを有し、 前記第1反射面と前記第2反射面の双方は、 そこへ入射する光の入反射角の大きさを変化させる方向
    に回動可能な状態で前記回動部材に固定されていること
    を特徴とする光案内装置。
  5. 【請求項5】 請求項2〜請求項4の何れか1項に記載
    の光案内装置において、 前記物体面には、 前記視野内において前記回動部材の回動の径方向に並ぶ
    複数のピンホールを有した点像形成用パターンが配置さ
    れ、 前記点像形成用パターンは、前記回動部材に固定されて
    いることを特徴とする光案内装置。
  6. 【請求項6】 請求項2〜請求項4の何れか1項に記載
    の光案内装置において、 前記物体面には、 前記視野内に単数のピンホールを有した点像形成用パタ
    ーンが配置され、 前記点像形成用パターンは、前記物体面内を移動可能に
    形成されていることを特徴とする光案内装置。
  7. 【請求項7】 請求項2〜請求項6の何れか1項に記載
    の光案内装置において、 前記光学系は、 前記視野がリング視野となった光学系であり、かつその
    リング視野の曲率中心が前記直線上に位置するよう配置
    されていることを特徴とする光案内装置。
JP2000009690A 2000-01-19 2000-01-19 光案内装置 Pending JP2001203136A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000009690A JP2001203136A (ja) 2000-01-19 2000-01-19 光案内装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000009690A JP2001203136A (ja) 2000-01-19 2000-01-19 光案内装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001203136A true JP2001203136A (ja) 2001-07-27

Family

ID=18537804

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000009690A Pending JP2001203136A (ja) 2000-01-19 2000-01-19 光案内装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001203136A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011228698A (ja) * 2010-03-17 2011-11-10 Carl Zeiss Smt Gmbh 投影リソグラフィ用の照明光学系
JP2015515140A (ja) * 2012-04-16 2015-05-21 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011228698A (ja) * 2010-03-17 2011-11-10 Carl Zeiss Smt Gmbh 投影リソグラフィ用の照明光学系
JP2015515140A (ja) * 2012-04-16 2015-05-21 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系
US9817317B2 (en) 2012-04-16 2017-11-14 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical system of a microlithographic projection exposure apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4844568A (en) Scanning type projection exposure system
JP4332486B2 (ja) 時間を節約する高さ測定を用いた、基板にマスク・パターンを繰り返し投影する方法および装置
US9063336B2 (en) Optical element having a plurality of reflective facet elements
JP5406623B2 (ja) 計測装置、露光装置及びデバイスの製造方法
JP5837693B2 (ja) リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
JP2015145990A (ja) 露光装置
JP5706403B2 (ja) リソグラフィ装置および方法
US10041836B2 (en) Polarization measuring device, lithography apparatus, measuring arrangement, and method for polarization measurement
JPH09298142A (ja) X線縮小露光装置、及び該装置により製造された半導体素子
JP4146673B2 (ja) 露光方法及び装置
JP2001203136A (ja) 光案内装置
US8314941B2 (en) Cartesian coordinate measurement for rotating system
JP2000294500A (ja) 周辺露光装置及び方法
JP4044442B2 (ja) サンプルの鏡面反射率測定
JP2001296206A (ja) 複屈折測定装置及び複屈折測定方法
JPWO2005091343A1 (ja) ミラー、位置合わせ方法、光学ユニットの製造方法及び光学ユニット、並びに露光装置
JP4064676B2 (ja) 露光装置及び露光方法
JP2022534626A (ja) 反射率計、分光光度計又はエリプソメータシステムを用いたサンプルマッピングに適用したθ‐θサンプル位置決めステージ
JP2006216784A (ja) 波面収差測定装置用光源装置、波面収差測定装置及び極端紫外線露光装置
JP2749937B2 (ja) 露光装置
JPH03283420A (ja) 微細パターン転写方法およびその装置
JPH0566114A (ja) 透明物体の厚み測定装置
JP2891737B2 (ja) 反射装置及び転写装置
JPH02155252A (ja) ウェハ位置決め装置
JP2004245643A (ja) 欠陥検査装置