JP2001202147A - 電源回路及びこれを有する半導体集積回路 - Google Patents

電源回路及びこれを有する半導体集積回路

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JP2001202147A JP2000011309A JP2000011309A JP2001202147A JP 2001202147 A JP2001202147 A JP 2001202147A JP 2000011309 A JP2000011309 A JP 2000011309A JP 2000011309 A JP2000011309 A JP 2000011309A JP 2001202147 A JP2001202147 A JP 2001202147A
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variable resistor
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Masayoshi Kinoshita
雅善 木下
Jun Kajiwara
準 梶原
Shiro Sakiyama
史朗 崎山
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体集積回路内に備える内部演算処理回路
の最低動作電源電圧の特性に合致した電源電圧を生成で
きる電源回路を提供する。 【解決手段】 電源回路内の基準電圧回路4は、バンド
ギャップレファリンス回路を基礎とした回路であって、
フィードバック回路59内の差動増幅回路33の−端子
には、ヒューズ30付きの抵抗R2a、R2b、R2c
が並列接続される。端子Aとグランドとの間には、第2
の可変抵抗VR4と電圧調整回路8とが直列接続され
る。前記第2の可変抵抗VR4の抵抗値を調整すると、
基準電圧(基準電圧回路4の出力電圧)の温度特性を変
更できる。第2の可変抵抗VR4は、前記第1の可変抵
抗VR2の抵抗値の変更に伴う前記基準電圧の絶対値を
調整する。前記電圧調整回路8は、プロセスばらつきに
伴う基準電圧の絶対値の変化を調整する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、絶対電圧や温度に
対して任意の特性の電源電圧を発生させる電源回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路の電源は、従来、温度や
製造上の特性ばらつき等、あらゆる条件が変動しても、
内部の演算処理回路が確実に動くように、常に一定の電
圧が用いられている。しかし、内部演算処理回路が動作
する最低電源電圧の特性は、例えば、図10に示すよう
に、従来の電源よりも小さい電圧値で且つ温度に対して
正の特性を持つ。そこで、半導体集積回路の電源電圧
を、内部演算処理回路が動作する最低電圧の絶対電圧や
温度特性に合わせると、各温度に対して最低の電源電圧
で内部演算処理回路が動作することになるので、半導体
集積回路の低消費電力化を図ることができる。
【0003】電源電圧を降圧する回路には、リニアレギ
ュレータやスイッチングレギュレータが知られている。
これ等は共に、基準電圧回路と出力回路とから構成され
ていて、前者の基準電圧回路により基準電圧を作成し、
後者の出力回路により大電流を流せるように出力インピ
ーダンスを小さくする動作を行う。
【0004】前記リニアレギュレータの回路例を図11
に、スイッチングレギュレータの回路例を図12に示
す。図11のリニアレギュレータは、基準電圧回路4
と、演算増幅回路50と、出力トランジスタ51と、2
個の抵抗R10、R11とにより構成される。基準電圧
回路4が生成する基準電圧Vrと、出力端子oの電圧V
2を2個の抵抗R10、R11で分割した電圧V2’の
電位とが等しくなるように、演算増幅回路50が出力ト
ランジスタ51のゲート電圧を制御することにより、降
圧を行う。
【0005】一方、図12のスイッチングレギュレータ
は、基準電圧回路4と、演算増幅器50と、p型出力ト
ランジスタ54及びn型出力トランジスタ55と、2個
の抵抗R10、R11、LC回路を構成するコイル56
及びコンデンサ57により、構成される。このスイッチ
ングレギュレータは、基準電圧Vrと、出力端子oの電
圧V2を2個の抵抗R10、R11で分割した電圧V
2’の電位とが等しくなるように、p型出力トランジス
タ54とn型出力トランジスタ55のオン比が制御され
て、PWM波形を前記LC回路で平滑化して、出力端子
oの電圧(第2の電源)を生成する動作を行う。
【0006】従って、前記リニアレギュレータ及びスイ
ッチングレギュレータ共に第2の電源電圧V2は、以下
の式で表される。
【0007】 V2=Vr*(R10+R11)/R11 (式1) 例えば、基準電圧Vrが1V、第2の電源電圧を2.5
Vになるようにするには、抵抗R10、R11の比を、
R10:R11=3:2になるようにすればよい。ここ
で、式1より、第2の電源電圧V2の絶対値は、基準電
圧Vrの絶対値と抵抗R10、R11とによって定ま
り、第2の電源電圧V2の温度特性は基準電圧Vrの温
度特性によって定まることが判る。そのため、半導体集
積回路の低消費電力化を図るためには、第2の電源が内
部演算回路の最低動作電源電圧に合うように、基準電圧
Vrの絶対電源電圧や温度特性を設定すればよいことが
判る。
【0008】前記基準電圧回路4としては、例えば「ア
ナログ集積回路設計技術、上巻、p276、培風館発
行」等に記載されるように、バンドギャップリファレン
ス回路が知られている。このバンドギャップリファレン
ス回路の構成例を図13に示す。同図のバンドギャップ
リファレンス回路は、2個のダイオード41、42と、
3個の抵抗R1、R2、R3と、端子Bと端子Dの電位
が等しくなるように出力端子Aの電圧を調節するフィー
ドバック回路59とにより、構成される。
【0009】前記出力端子Aの電圧VAは、以下の式で
表される。
【0010】 VA=Vd+α・T α=k・q・R1/R2 ・ln(Is2/Is1・R1/R3)(式2) ここで、Vdはダイオード42の端子間電圧、kはボル
ツマン定数、qは電子の電荷量、Is1、Is2は、各
々、ダイオード42、41の飽和電流、Tは絶対温度で
ある。ダイオード42の端子間電圧Vdは、通常、温度
に対して小さくなる特性を持つが、αの値、即ち、R1
/R2、Is2/Is1、R1/R3の比を変更するこ
とにより、出力端子Aの電圧VAの温度に対する特性を
フラット、又は正や負にすることが可能となる。
【0011】従って、基準電圧回路4にバンドギャップ
リファレンス回路を用いると、温度に対して正や負の特
性を持った第2の電源を作ることが可能となる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、バンド
ギャップリファレンス回路は、半導体の製造プロセスの
ばらつきにより、出力電圧やその温度特性がLSI毎に
一定とならずに、ばらついてしまう。例えば、電源回路
を図14の太線の特性になるように設計しても、プロセ
スばらつきにより、絶対電圧値と温度傾きとが大きくな
ると図中aの特性になり、絶対電圧値が大で温度傾きが
小になると図中bの特性に、絶対電圧値が小で温度傾き
が大になると図中cの特性に、絶対電圧値が小で温度傾
きが小になると図中dの特性になり、その結果、第2の
電源の電圧特性は斜線に示すような期待値になる。これ
等のばらつきが生じる原因は、前記式2において、ダイ
オード42の端子間電圧Vdの絶対電圧や温度特性のば
らつき、抵抗比精度R1/R2、R1/R3のばらつ
き、飽和電流比精度Is2/Is1のばらつきに起因す
る。これ等のばらつきが存在すると、動作保証のため
に、電源電圧の絶対電圧にマージンが必要となり、その
結果、半導体集積回路の低消費電力化の効果が低減され
てしまうという欠点がある。
【0013】また、内部演算処理回路は、種々のアプリ
ケーション向けLSI毎に、最低動作電源電圧の絶対値
や温度特性が異なって、図15に示すように、初期特性
に対して特性eに、又は特性fになったりする。このた
め、従来では、LSIの品種毎に、電源電圧特性をフィ
ッティングさせた電源回路が必要となって、複数の電源
回路を設計しなければならない欠点があった。
【0014】本発明はかかる点に鑑み、その目的は、生
成する電源電圧の絶対電圧や温度特性を自由に設定でき
る電源回路を提供し、その電源回路を内蔵した半導体集
積回路の低消費電力化や、電源回路の設計コストの削減
に効果を上げることにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
め、本発明では、電源回路内に、絶対電圧の調整回路
や、温度に対する出力電圧の傾きの調整回路を設けるこ
ととする。
【0016】即ち、請求項1記載の発明の電源回路は、
第1の電源電圧を第2の電源電圧に変換する機能を有す
る電源回路であって、基準電圧回路及び出力回路により
構成され、前記基準電圧回路は、温度に対する基準電圧
回路の出力電圧傾きを調整する傾き調整手段と、基準電
圧回路の絶対出力電圧を調整する電圧調整手段とを備え
ることを特徴とする。
【0017】請求項2記載の発明は、前記請求項1記載
の電源回路において、前記基準電圧回路は、カソード端
子がグランド端子に接続された第1及び第2のダイオー
ドと、前記第1のダイオードのアノード端子と第1端子
とに接続された第1の抵抗と、前記第2のダイオードの
アノード端子と第2端子とに接続された第1の可変抵抗
と、前記第1端子と前記第2端子とに接続された第2の
抵抗と、前記第1のダイオードのアノード端子の電位と
前記第2端子の電位とが等しくなるように前記第1端子
の電圧を制御するフィードバック回路と、前記第1端子
とグランド端子とに接続され、前記第1端子の電圧を減
圧した任意の基準電圧を出力する電圧調整回路とを備
え、前記第1の可変抵抗は、抵抗と切断要素とが直列に
接続された切断要素付き抵抗を複数個並列に接続された
構成であることを特徴とする。
【0018】請求項3記載の発明は、前記請求項2記載
の電源回路において、前記第1の可変抵抗において、並
列に接続された複数個の抵抗の抵抗値の比は、2の階乗
の関係にあることを特徴とする。
【0019】請求項4記載の発明は、前記請求項1、2
又は3記載の電源回路において、前記第1の可変抵抗に
おいて、切断要素はヒューズから成ることを特徴とす
る。
【0020】請求項5記載の発明は、前記請求項2記載
の電源回路において、前記第1の可変抵抗において、切
断要素はトランジスタから成ることを特徴とする。
【0021】請求項6記載の発明は、前記請求項2、
3、4又は5記載の電源回路において、前記基準電圧回
路は、前記第1端子と前記電圧調整回路との間に配置さ
れる第2の可変抵抗を備え、前記第2の可変抵抗は、抵
抗と切断要素とが並列に接続された切断要素付き抵抗を
複数個直列に接続されて成ることを特徴とする。
【0022】請求項7記載の発明は、前記請求項6記載
の電源回路において、前記第2の可変抵抗において、直
列に接続された複数個の抵抗の抵抗値の比は、2の階乗
の関係にあることを特徴とする。
【0023】請求項8記載の発明は、前記請求項5記載
の電源回路において、前記基準電圧回路は、前記第1端
子と前記電圧調整回路との間に配置される第2の可変抵
抗を備え、前記第2の可変抵抗は、抵抗とトランジスタ
とが並列に接続されたトランジスタ付き抵抗を、前記第
1の可変抵抗を構成する抵抗の数と同数直列に接続され
て成り、前記第1の可変抵抗を構成する抵抗の抵抗値の
小さい順と前記第2の可変抵抗を構成する抵抗の抵抗値
の大きい順とを互いにペアとして、これ等ペアのトラン
ジスタのゲート端子は共通化されていることを特徴とす
る。
【0024】請求項9記載の発明の半導体集積回路は、
請求項1、2、3、4、5、6、7又は8記載の電源回
路と、所定の演算処理を行う内部演算処理回路とを備え
たことを特徴とする。
【0025】以上により、請求項1ないし請求項9記載
の発明では、基準電圧回路には、温度に対する出力電圧
の傾き調整手段と、絶対出力電圧の調整手段とが備えら
れるので、電源回路の絶対電圧や温度特性を自由に設定
できる。従って、この電源回路を内蔵した半導体集積回
路では、この半導体集積回路の内部に備える演算処理回
路が動作可能な最低電源電圧特性に合致する電源電圧特
性を得ることができ、この半導体集積回路の低消費電力
化が可能である。
【0026】特に、請求項5記載の発明の電源回路で
は、切断要素がトランジスタにより構成されているの
で、電源電圧を必要に応じて繰り返し再調整することが
できる。特に、半導体集積回路内部の演算処理回路がア
クティブ状態とスリープ状態とで最低動作電源電圧特性
が異なる場合には、この各状態に応じて適切な最低動作
電源電圧特性に切り換えることができるので、より一層
に低消費電力化が可能である。
【0027】また、請求項8記載の発明の電源回路で
は、第1の可変抵抗を構成する複数個の抵抗と、第2の
可変抵抗を構成する複数個の抵抗との間で、抵抗ペアが
持つ切断要素(トランジスタ)のゲート端子を共通に制
御できるので、その制御線の本数を減らすことができ
る。
【0028】
【発明の実施の形態】(第1の実施の形態)以下、本発
明の第1の実施の形態の電源回路について図面を参照し
ながら説明する。
【0029】図1は本実施の形態の電源回路を備えた半
導体集積回路の内部構成を示す図である。
【0030】同図において、半導体集積回路1内には、
所定の演算処理を行う内部演算処理回路2と、電源回路
3とが内蔵される。前記電源回路3は、基準電圧回路4
と出力回路5とにより構成され、基準電圧回路4内には
温度傾き調整回路7と絶対電圧調整回路6とが内蔵され
る。
【0031】半導体集積回路1の電源回路3には、第1
の電源電圧10が供給される。この電源回路3は、前記
第1の電源電圧10を第2の電源電圧12に変換し、こ
の第2の電源電圧12を内部演算処理回路2に電源電圧
として与える機能を有する。前記電源回路3の基準電圧
回路4において、温度傾き調整回路(傾き調整手段)7
は、基準電圧回路4の出力電圧である基準電圧11の温
度特性を調整し、絶対電圧調整回路(電圧調整手段)6
は前記基準電圧11の絶対出力電圧を調整する。出力回
路5は、出力の低インピーダンス化を行って、基準電圧
11を電源電圧として用いて電流を流した場合の電圧ド
ロップを防止している。従って、出力回路5からは、任
意の絶対電圧値や任意の温度傾きを持った第2の電源電
圧12が得られる。その結果、第1の電源電圧10をそ
のまま内部演算処理回路2に与えた場合よりも、この処
理回路2が動作する最低動作電源電圧に合致する電圧特
性の第2の電源電圧12を生成できて、低消費電力化を
実現することが可能になる。
【0032】尚、第2の電源電圧12の絶対電圧値の調
整は、基準電圧回路3内で調整するだけでなく、図2に
示すように、出力回路5内に絶対電圧調整回路6を内蔵
しても、任意の絶対電圧値や任意の温度傾きの第2の電
源電圧を生成する機能を実現できる。また、絶対電圧調
整回路6は、基準電圧回路4内と出力回路5内の双方に
内蔵してもよい。
【0033】図3は前記電源回路3の内部構成の詳細を
示す。同図において、電源回路は、既述の通り、基準電
圧回路4と出力回路5とから構成される電源回路であっ
て、基準電圧回路4としては、図13に示すバンドギャ
ップリファレンス回路を基礎とする。即ち、第1及び第
2のダイオード42、41は、カソード端子がグランド
端子に接続される。第1の抵抗R3は、前記第1のダイ
オード42のアノード端子と第1端子Aとに接続され、
第2の抵抗R1は前記第1端子Aと第2端子Bとに接続
される。更に、図13と比較して判るように、図13に
おける抵抗R2が可変抵抗(第1の可変抵抗)VR2に
変更される。この第1の可変抵抗VR2は、抵抗R2
a、R2b、R2cに各々フューズ(切断要素)30が
直列に接続された直列ヒューズ付き抵抗が複数個(同図
では3個)並列に接続されて構成される。この第1の可
変抵抗VR2は、前記第2のダイオード41のアノード
端子と前記第2端子Bとに接続される。フィードバック
回路59は、2個のp型トランジスタ31、31とn型
トランジスタ32と差動増幅回路33とにより構成され
ていて、前記第1のダイオード42のアノード端子の電
位と前記第2端子Bの電位とが等しくなるように前記第
1端子Aの電圧を制御する機能を持つ。更に、第1端子
Aとグランド端子の間には、電圧調整回路8が挿入追加
される。この電圧調整回路8は、前記第1端子Aの電圧
を減圧した任意の基準電圧を出力する機能を持つ。
【0034】従って、各々の直列ヒューズ付き抵抗R2
a、R2b、R2cのヒューズ30を切断する、又は切
断しないかの選択により、前記式2中の抵抗R2の抵抗
値を可変に変更できるので、基準電圧11の温度特性を
任意に変更できるようになる。例えば、図3のように並
列数を3個にすると、可変VR2の抵抗値は7種類の値
を取り得るようになる。特に、3個の並列抵抗の関係
を、R2a=R、R2b=2R、R2c=4Rと2の階
乗の関係に設定すると、第1の可変抵抗VR2の取り得
る値は、4R/1、4R/2、4R/3、・・・4R/
7と反比例の関係になり、式2から基準電圧VAの温度
傾きを等間隔に調整できる。
【0035】前記電圧調整回路8は、端子Aの電圧VA
とグランドとの間の電圧から任意の電圧を取り出す機能
を果たす。電圧調整回路8の具体例を図4に示す。同図
では、端子Aとグランド端子との間に複数個の抵抗25
を挿入し、これ等抵抗25の各接続点と基準電圧出力端
子Vrとの間に各々スイッチ34を挿入し、何れか1個
のスイッチのみをオンにして、任意の電圧を基準電圧出
力端子Vrから取り出す。更に、電圧調整回路8の他の
具体例を図5に示す。同図の電圧調整回路8’では、端
子Aとグランド端子との間に抵抗25と可変抵抗26と
を挿入し、抵抗25と可変抵抗26との接続端子を基準
電圧出力端子Vrとし、可変抵抗26の抵抗値を変更す
ることにより、任意の電圧を基準電圧出力端子Vrから
取り出す。
【0036】このように、図3の構成を取ることによ
り、任意の温度特性や絶対電圧の電源電圧を出力できる
電源回路を実現することができる。従って、この電源回
路を内蔵した半導体集積回路は、より少ない消費電力で
動作を行うことが可能となる。
【0037】(第2の実施の形態)以下、本発明の第2
の実施の形態の電源回路を備えた半導体集積回路の構成
を図6を参照しながら説明する。
【0038】図6は、前記第1の実施の形態の半導体集
積回路内に備える図3の基準電圧回路4において、第1
端子Aと電圧調整回路8との間に第2の可変抵抗VR4
を挿入した構成をとる。この構成は、電圧調整回路8に
おいて、電圧調整の精度(即ち、最小調整電圧)を保ち
ながら回路規模を小さくするのに効果がある。以下、詳
述する。
【0039】前記第1の実施の形態の基準電圧回路4
(図3)では、第1の可変抵抗VR2の変更による基準
電圧VAの絶対値の変化と、ダイオード42の端子間電
圧Vd、抵抗比精度(R1/R2、R1/R3)、ダイ
オード飽和電流比精度(Is2/Is1)のプロセスば
らつき等による基準電圧VAの絶対値の変化とが、電圧
調整回路8のみによって所望の電圧に調整された。この
とき、電圧調整回路8は、第1の可変抵抗VR2の変更
と、プロセスばらつきとの両方の要因による絶対電圧の
変動を調整する必要があり、従って、広範囲の電圧から
所望の電圧に調整する必要がある。そのため、例えば、
図4の電圧調整回路8では、電圧の調整精度を良くしよ
うとすれば、端子Aとグランド間の電圧分割数が非常に
多くなり、基準電圧回路8の回路規模が大きくなってし
まう欠点が生じる。一方、回路規模を小さくしようとす
ると、電圧分割数を少なくする必要があり、絶対電圧の
精度良い微調整が困難になる欠点が生じる。
【0040】本実施の形態では、第1の可変抵抗VR2
の変更による電圧調整と、プロセスばらつきによる電圧
調整とを、異なった回路で行う回路構成を採用すること
により、電圧調整回路8の回路規模を小さくする。
【0041】一般的に、第1の可変抵抗VR2の変更に
よる基準電圧VAの絶対電圧の変化は大きく、プロセス
ばらつきによる絶対電圧の変化は小さい。そこで、図6
の基準電圧回路4では、端子Aと電圧調整回路8との間
に第2の可変抵抗VR4を挿入し、この第2の可変抵抗
VR4を用いて第1の可変抵抗VR2の変更による電圧
変動を補正することにより、電圧調整回路8では変動の
小さなプロセスばらつきを補正するだけで良いようにす
る。
【0042】前記第2の可変抵抗VR4は、前記第1の
可変抵抗VR2を構成する抵抗の数、即ち3個の抵抗R
4a、R4b、R4cを有し、これ等3個の抵抗に各々
ヒューズ(切断要素)30が並列に切断され、このヒュ
ーズ付き抵抗R4a、R4b、R4cが直列に接続され
て構成される。前記第2の可変抵抗VR4による電圧の
補正方法は、温度傾きが大きく(即ち、第1の可変抵抗
VR2が小さく)なったとき、基準電圧VAの電圧が大
きくなるので、第2の可変抵抗VR4の抵抗値を大きく
して電圧降下量を大きくし、逆に、温度傾きが小さく
(即ち、第1の可変抵抗VR2が大きく)なったときに
は、基準電圧VAの電圧が小さくなるので、第2の可変
抵抗VR4の抵抗値を小さくして電圧降下量を小さくす
る。このように、第1の可変抵抗VR2による基準電圧
Vrの変動を第2の可変抵抗VR4によってキャンセリ
ングさせる構成が本実施の形態である。
【0043】本回路を式で説明すると、以下のようにな
る。
【0044】可変抵抗VR2により、式2におけるαの
値が任意に変更できるので、端子Aの電位VAは任意の
温度特性をとることができる。しかし、第1の可変抵抗
VR2の抵抗値を変更すると、端子Aの電位VAの絶対
電圧が変動する。いま、第1の可変抵抗VR2の初期抵
抗値をR2x、電圧調整後の抵抗値をR2yとすると、
端子Aの電位VAの変動幅ΔVAは、以下のようにな
る。
【0045】 ΔVA=β・(1/R2y−1/R2x) β=k・q・R1 ・ln(Is2/Is1・R1/R3) (式3) そこで、この端子Aの電位VAの絶対電圧の変動を第2
の可変抵抗VR4によってキャンセルする構成が本方式
であり、第2の可変抵抗VR4の抵抗値を以下の微小値
ΔR4だけ変動されればよい。
【0046】 ΔR4=ΔVA/Ir =β・(1/R2y−1/R2x)/Ir (式4) 但し、Irは第2の可変抵抗VR4に流れる電流であ
る。Irはほぼ一定の電流であって、図5において基準
電圧をVr、抵抗25の抵抗値をRrとすれば、次式5
で表される。
【0047】 Ir=Vr/Rr (式5) 式4を見れば判るように、第2の可変抵抗VR4の抵抗
値は、第1の可変抵抗VR2によって一意に求まること
が判る。従って、第1の可変抵抗VR2の抵抗値の変化
量から、式4によって第2の可変抵抗VR4の抵抗値を
決定すればよい。
【0048】特に、本実施の形態において、第1の可変
対抗VR2の並列抵抗R2a、R2b、R2cの抵抗値
を2の階乗の抵抗値の構成にし、更に、第2の可変抵抗
VR4の直列抵抗R4a、R4b、R4cの抵抗値を2
の階乗の抵抗値に設定すれば、第1の可変抵抗VR2に
よる基準電圧Vrの変動を第2の可変抵抗VR4によっ
て容易にキャンセルできる。具体的に説明すると、次の
通りである。即ち、図6において、第1の可変対抗VR
2の並列抵抗R2a、R2b、R2cにおいて、R2a
=R、R2b=2R、R2c=4Rとすると、ヒューズ
を切断する組み合わせによって、VR2=4R/7、4
R/6、・・4R/1の7通りの抵抗値をとり得る。こ
のとき、基準電圧VAは、式2より、VA=Vd+7
γ、Vd+6γ、・・Vd+γとなる。但し、γ=k・
qT・R1/(4R)・ln(Is2/Is1・R1/
R3)である。このとき、第1の可変抵抗VR2の抵抗
値を変更したことによる基準電圧VAの変動幅は、ΔV
A=γ、2γ、・・6γとなる。この変動幅を第2の可
変抵抗VR4によってキャンセルするためには、式4よ
り、ΔVR4=γ/Ir、2γ/Ir、・・6γ/Ir
とすればよいので、R4a=γ/Ir、R4b=2γ/
Ir、R4c=4γ/Irの抵抗値を持つ抵抗で構成す
ればよい。つまり、第2の可変抵抗VR4の直列抵抗R
4a、R4b、R4cの抵抗値の比は2の階乗となる。
【0049】ヒューズを切断していない図6の状態(V
R2=4R/7、VR4=7γ/Ir)から、例えば、
図7に示すように、第1の可変抵抗VR2のヒューズを
2本切断して、VR2=R2b=2Rとした場合には、
第2の可変抵抗VR4のヒューズを2本切断して、VR
4=R4b=2γ/Irとすればよい。第1の可変抵抗
VR2による基準電圧VAの降下幅はΔVA=(Vd+
7γ)−(Vd+2γ)=5γ、第2の可変抵抗VR4
による電圧降下量の減少幅は、ΔR4*Ir=(7γ/
Irー2γ/Ir)*Ir=5γであって、ΔVA=Δ
R4*Irとなるので、第1の可変抵抗VR2による基
準電圧VAの変動を第2の可変抵抗VR4によってキャ
ンセルできる。
【0050】このような本実施の形態の構成により、電
圧調整の精度(即ち、最小調整電圧)を保ちながら、電
圧調整回路8の回路規模が小さい電源回路を実現でき
る。従って、この電源回路を備えた半導体集積回路のレ
イアウト面積を小さくすることができる。
【0051】(第3の実施の形態)次に、本発明の第3
の実施の形態の電源回路を備えた半導体集積回路につい
て、図8を参照しながら説明する。
【0052】図8の半導体集積回路は、図6において第
1の可変抵抗VR2の3個の切断要素としてヒューズ3
0、30、30を使用したのに対して、切断要素として
トランジスタ34a、34b、34cに置換採用し、第
2の可変抵抗VR4の3個のヒューズ30、30、30
をトランジスタ35a、35b、35cに置換した構成
をとる。前記図6においては、ヒューズ30を切断、非
切断して温度特性や絶対電圧を調整し、任意を電源電圧
を生成するが、ヒューズを切断するためには、トリマー
装置を用いて物理的に切断する必要がある。物理的に切
断すると、電源電圧の再調整を行うことが不可能にな
る。そこで、ヒューズ30をトランジスタ34a〜34
c、35a〜35cに置換し、これ等トランジスタのゲ
ート端子を制御することにより、トランジスタをオン・
オフし、ヒューズと同等の機能を得たものである。これ
等トランジスタのオン・オフの制御は、LSI外部から
の制御や内部マイコン、不揮発性メモリなどによって行
うことができる。
【0053】従って、図8の半導体集積回路では、トラ
ンジスタ34a〜34c、35a〜35cのオン・オフ
制御により、温度特性や絶対電圧を必要に応じて繰り返
し調整できる。例えば、内部演算処理回路2は、演算量
が多いアクティブ状態と、演算量が少ないスリープ状態
とで最低動作電源電圧の特性が違うことが多いので、内
部演算処理回路2の状態に応じて前記トランジスタ制御
により最低動作電源特性を変化させれば、更に低消費電
力化を実現することが可能となる。
【0054】加えて、式4より、第1の可変抵抗VR2
と第2の可変抵抗VR4とは一意の関係にあるので、ト
ランジスタ34a〜34c、35a〜35cのゲート端
子を第1の可変抵抗VR2と第2の可変抵抗VR4とで
共通化することができるので、これ等トランジスタ34
a〜34c、35a〜35cの制御線の本数をヒューズ
30の本数より少なくできる。例えば、図8において、
本実施の形態と同じように、R2a=R、R2b=2
R、R2c=4R、R4a=γ/Ir、R4b=2γ/
Ir、R4c=4γ/Irの抵抗値の抵抗で構成する
と、第1の可変抵抗VR2を構成する抵抗の抵抗値の小
さい順と、第2の可変抵抗VR4を構成する抵抗の抵抗
値の大きい順とを互いにペアとして、抵抗R2aと抵抗
R4c、抵抗R2bと抵抗R4b、抵抗R2cと抵抗R
4aの各トランジスタのゲート端子を共通化することが
可能となる。従って、ヒューズ30が図6では6本必要
であるのに対し、本実施の形態の図8では、対応する抵
抗R2a、R4cのトランジスタ34a、35cの両ゲ
ート端子を共通の制御線S1で制御し、対応する抵抗R
2b、R4bのトランジスタ34b、35bの両ゲート
端子を共通の制御線S2で制御し、対応する抵抗R2
c、R4aのトランジスタ34c、35aの両ゲート端
子を共通の制御線S3で制御すれば良く、これ等制御線
の本数を半減できる。
【0055】このように、図8の半導体集積回路によれ
ば、ヒューズを用いずに任意の温度特性や絶対電圧を出
力できる電源回路を実現することができ、この電源回路
を内蔵した半導体集積回路はより一層に少ない消費電力
で所望の動作を行うことが可能となる。
【0056】尚、以上で説明した第1、第2及び第3の
実施の形態においては、共に、ダイオード41、42
を、ゲートとドレインが共通化されたトランジスタダイ
オードに置換できる。例えば、第2の実施の形態の図6
の構成において、ダイオード41、42を、図9に示す
ようにトランジスタダイオード43、44に置換するこ
とができる。
【0057】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1ないし請
求項9記載の発明によれば、電源回路において生成する
電源電圧の絶対電圧や温度特性を自由に設定できるよう
に構成したので、この電源回路を内蔵した半導体集積回
路において、内部に備える演算処理回路の動作可能な最
低電源電圧特性に合致する電源電圧特性を得ることがで
き、半導体集積回路の低消費電力化が可能である。
【0058】特に、請求項5記載の発明の電源回路によ
れば、切断要素をトランジスタで構成し、電源電圧を必
要に応じて繰り返し再調整できるので、半導体集積回路
内部の演算処理回路の各種状態に応じて最低動作電源電
圧特性を切り換えることができ、より一層に低消費電力
化が可能である。
【0059】また、請求項8記載の発明の電源回路によ
れば、抵抗ペアの切断要素(トランジスタ)のゲート端
子を共通に制御できるので、その制御線の本数を減らす
ことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の電源回路を内蔵し
た半導体集積回路の構成を示す図である。
【図2】同実施の形態の他の構成を示す図である。
【図3】同実施の形態の電源回路の内部構成を示す図で
ある。
【図4】同実施の形態の電源回路に備える電圧調整回路
の内部構成を示す図である。
【図5】同電圧調整回路の他の構成例を示す図である。
【図6】本発明の第2の実施の形態の電源回路の構成を
示す図である。
【図7】同実施の形態の電源回路の電圧特性の調整の様
子の説明図である。
【図8】本発明の第3の実施の形態の電源回路の構成を
示す図である。
【図9】本発明の第2の実施の形態の電源回路の他の構
成を示す図である。
【図10】最低動作電源電圧特性に対する従来の電源電
圧特性及び目標とする電源電圧特性を示す図である。
【図11】リニアレギュレータ回路の構成を示す図であ
る。
【図12】スイッチングレギュレータの構成を示す図で
ある。
【図13】従来のバンドギャップリファレンス回路の構
成を示す図である。
【図14】電源回路の出力電圧(第2の電源の電源電
圧)の温度特性のばらつきを示す図である。
【図15】LSI毎の最低動作電源電圧の温度特性を表
す図である。
【符号の説明】
1 半導体集積回路 2 内部演算処理回路 3 電源回路 4 基準電圧回路 5 出力回路 6 絶対電圧調整回路(電圧
調整手段) 7 温度傾き調整回路(傾き
調整手段) 8 電圧調整回路 10 第1の電源電圧 11 基準電圧 12 第2の電源電圧(出力電
圧) R1、R3 抵抗 VR2 第1の可変抵抗 VR4 第2の可変抵抗 R2a、R2b、R2c 切断要素付き抵抗 R4a、R4b、R4c 切断要素付き抵抗 25 抵抗 30 ヒューズ(切断要素) 34 スイッチ 34a、34b、34c35a、35b、35c ト
ランジスタ(切断要素) 33 差動増幅回路 34 スイッチ S1、S2、S3 制御線 41、42 ダイオード 43、44 トランジスタダイオード フィードバック回路 A 第1端子 B 第2端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 崎山 史朗 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5F038 AV15 AV17 BB01 BB05 BB07 BB08 DF01 DF08 DF14 EZ20 5H420 NB02 NB22 NB25 NB37 NC03 NC17 NC31 NE23 NE26

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の電源電圧を第2の電源電圧に変換
    する機能を有する電源回路であって、 基準電圧回路及び出力回路により構成され、 前記基準電圧回路は、 温度に対する基準電圧回路の出力電圧傾きを調整する傾
    き調整手段と、 基準電圧回路の絶対出力電圧を調整する電圧調整手段と
    を備えることを特徴とする電源回路。
  2. 【請求項2】 前記基準電圧回路は、 カソード端子がグランド端子に接続された第1及び第2
    のダイオードと、 前記第1のダイオードのアノード端子と第1端子とに接
    続された第1の抵抗と、 前記第2のダイオードのアノード端子と第2端子とに接
    続された第1の可変抵抗と、 前記第1端子と前記第2端子とに接続された第2の抵抗
    と、 前記第1のダイオードのアノード端子の電位と前記第2
    端子の電位とが等しくなるように前記第1端子の電圧を
    制御するフィードバック回路と、 前記第1端子とグランド端子とに接続され、前記第1端
    子の電圧を減圧した任意の基準電圧を出力する電圧調整
    回路とを備え、 前記第1の可変抵抗は、抵抗と切断要素とが直列に接続
    された切断要素付き抵抗を複数個並列に接続された構成
    であることを特徴とする請求項1記載の電源回路。
  3. 【請求項3】 前記第1の可変抵抗において、 並列に接続された複数個の抵抗の抵抗値の比は、2の階
    乗の関係にあることを特徴とする請求項2記載の電源回
    路。
  4. 【請求項4】 前記第1の可変抵抗において、 切断要素はヒューズから成ることを特徴とする請求項
    1、2又は3記載の電源回路。
  5. 【請求項5】 前記第1の可変抵抗において、 切断要素はトランジスタから成ることを特徴とする請求
    項2記載の電源回路。
  6. 【請求項6】 前記基準電圧回路は、 前記第1端子と前記電圧調整回路との間に配置される第
    2の可変抵抗を備え、 前記第2の可変抵抗は、 抵抗と切断要素とが並列に接続された切断要素付き抵抗
    を複数個直列に接続されて成ることを特徴とする請求項
    2、3、4又は5記載の電源回路。
  7. 【請求項7】 前記第2の可変抵抗において、 直列に接続された複数個の抵抗の抵抗値の比は、2の階
    乗の関係にあることを特徴とする請求項6記載の電源回
    路。
  8. 【請求項8】 前記基準電圧回路は、 前記第1端子と前記電圧調整回路との間に配置される第
    2の可変抵抗を備え、 前記第2の可変抵抗は、 抵抗とトランジスタとが並列に接続されたトランジスタ
    付き抵抗を、前記第1の可変抵抗を構成する抵抗の数と
    同数直列に接続されて成り、 前記第1の可変抵抗を構成する抵抗の抵抗値の小さい順
    と前記第2の可変抵抗を構成する抵抗の抵抗値の大きい
    順とを互いにペアとして、これ等ペアのトランジスタの
    ゲート端子は共通化されていることを特徴とする請求項
    5記載の電源回路。
  9. 【請求項9】 請求項1、2、3、4、5、6、7又は
    8記載の電源回路と、 所定の演算処理を行う内部演算処理回路とを備えたこと
    を特徴とする半導体集積回路。
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