JP2001194130A - 光ファイバ端面研磨角測定装置 - Google Patents
光ファイバ端面研磨角測定装置Info
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- JP2001194130A JP2001194130A JP2000001313A JP2000001313A JP2001194130A JP 2001194130 A JP2001194130 A JP 2001194130A JP 2000001313 A JP2000001313 A JP 2000001313A JP 2000001313 A JP2000001313 A JP 2000001313A JP 2001194130 A JP2001194130 A JP 2001194130A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 斜め研磨された偏波面保持光ファイバの端面
の研磨角度θと、その端面における最大傾斜軸と偏波主
軸とのなす角度θY を測定可能とする。 【解決手段】 Ｚ軸回りに回転する回転機構を備えたＸ
ＹＺ３軸ステージ２１に、光軸をＺ軸方向として取り付
けたファイバ１４の端面をＺ軸方向から顕微鏡２２で観
察する。顕微鏡２２に取り付けたカメラ２３の画像をも
とに回転機構を回転制御して端面の偏波主軸をＸ軸もし
くはＹ軸に合わせた後、ステージ２１を移動制御して端
面上の３点に順次焦点を合わせる。ステージ２１の移動
量から３点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を求め、それら座標から平
面の式を算出し、その式から上記２つの角度θ，θY を
求める。演算及びステージ２１の制御には例えばパーソ
ナルコンピュータ２５を用いる。
の研磨角度θと、その端面における最大傾斜軸と偏波主
軸とのなす角度θY を測定可能とする。 【解決手段】 Ｚ軸回りに回転する回転機構を備えたＸ
ＹＺ３軸ステージ２１に、光軸をＺ軸方向として取り付
けたファイバ１４の端面をＺ軸方向から顕微鏡２２で観
察する。顕微鏡２２に取り付けたカメラ２３の画像をも
とに回転機構を回転制御して端面の偏波主軸をＸ軸もし
くはＹ軸に合わせた後、ステージ２１を移動制御して端
面上の３点に順次焦点を合わせる。ステージ２１の移動
量から３点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を求め、それら座標から平
面の式を算出し、その式から上記２つの角度θ，θY を
求める。演算及びステージ２１の制御には例えばパーソ
ナルコンピュータ２５を用いる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は斜め研磨された光
ファイバの端面の研磨角度を測定する装置に関し、特に
偏波面保存光ファイバ（ＰＭＦ）においてその研磨角度
と、研磨面における最大傾斜軸と偏波主軸とのなす角度
とを同時に測定することができる測定装置に関する。
ファイバの端面の研磨角度を測定する装置に関し、特に
偏波面保存光ファイバ（ＰＭＦ）においてその研磨角度
と、研磨面における最大傾斜軸と偏波主軸とのなす角度
とを同時に測定することができる測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば光ファイバピグテール付の半導体
レーザ（ＬＤ）モジュールや光変調器モジュール等の光
モジュールにおいては、光ファイバピグテールの先端
（モジュール側の一端）を斜め研磨することが一般に行
われており、これにより光ファイバ端面での光反射を防
止するものとなっている。
レーザ（ＬＤ）モジュールや光変調器モジュール等の光
モジュールにおいては、光ファイバピグテールの先端
（モジュール側の一端）を斜め研磨することが一般に行
われており、これにより光ファイバ端面での光反射を防
止するものとなっている。
【０００３】図２はこのように斜め研磨された光ファイ
バピグテールの一端部を示したものであり、光ファイバ
１１はこの例ではフェルール１２に挿通保持されてお
り、このフェルール１２の先端が角度θで斜め研磨され
て、光ファイバ１１の端面が研磨角度（傾斜角度）θを
なすものとされている。
バピグテールの一端部を示したものであり、光ファイバ
１１はこの例ではフェルール１２に挿通保持されてお
り、このフェルール１２の先端が角度θで斜め研磨され
て、光ファイバ１１の端面が研磨角度（傾斜角度）θを
なすものとされている。
【０００４】研磨角度θの検査はフェルール１２を図
中、矢印１３で示したように、その光軸に対して垂直な
方向から顕微鏡で観察し、フェルール１２をその軸回り
に回転させて斜め研磨された端面が観察方向と、つまり
矢印１３方向と平行になるようにすることによって行わ
れ、この時の顕微鏡のモニタ画像から研磨角度θを測定
し、検査していた。
中、矢印１３で示したように、その光軸に対して垂直な
方向から顕微鏡で観察し、フェルール１２をその軸回り
に回転させて斜め研磨された端面が観察方向と、つまり
矢印１３方向と平行になるようにすることによって行わ
れ、この時の顕微鏡のモニタ画像から研磨角度θを測定
し、検査していた。
【０００５】従来においては、光ファイバ１１がシング
ルモードファイバ（ＳＭＦ）の場合のみならず、例えば
偏波面保存光ファイバの場合においても上述のようにし
て研磨角度θを測定することにより、研磨品質の検査が
行われていた。
ルモードファイバ（ＳＭＦ）の場合のみならず、例えば
偏波面保存光ファイバの場合においても上述のようにし
て研磨角度θを測定することにより、研磨品質の検査が
行われていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光ファイバ
がシングルモードファイバの場合には、その端面の斜め
研磨において、光接続性能上、光軸に対する研磨角度θ
だけが問題であるため、上述のようにして研磨角度θを
検査することによって、品質保証を行うことができるも
のの、光ファイバが偏波面保存光ファイバの場合には以
下のような状況が生じ、品質上、問題が生じるものとな
っていた。
がシングルモードファイバの場合には、その端面の斜め
研磨において、光接続性能上、光軸に対する研磨角度θ
だけが問題であるため、上述のようにして研磨角度θを
検査することによって、品質保証を行うことができるも
のの、光ファイバが偏波面保存光ファイバの場合には以
下のような状況が生じ、品質上、問題が生じるものとな
っていた。
【０００７】即ち、斜め研磨された端面において、その
傾斜面の最大傾斜軸と偏波主軸とにずれがあり、最大傾
斜軸が偏波主軸に対して傾いていると、例えば出射ファ
イバの場合、楕円形をなす出射光のモードフィールドの
楕円の長短軸も傾いてしまうことになる。
傾斜面の最大傾斜軸と偏波主軸とにずれがあり、最大傾
斜軸が偏波主軸に対して傾いていると、例えば出射ファ
イバの場合、楕円形をなす出射光のモードフィールドの
楕円の長短軸も傾いてしまうことになる。
【０００８】図３は偏波面保存光ファイバとしてＰＡＮ
ＤＡファイバを例にこの様子を示したものであり、図３
ＡはＰＡＮＤＡファイバ１４の斜め研磨された端面を示
し、図３Ｂはその出射光のモードフィールドを示す。
ＤＡファイバを例にこの様子を示したものであり、図３
ＡはＰＡＮＤＡファイバ１４の斜め研磨された端面を示
し、図３Ｂはその出射光のモードフィールドを示す。
【０００９】ＰＡＮＤＡファイバ１４は断面円形の応力
付与部１５がコア１６を挟んで両側に配置されたもので
あって、これらは顕微鏡で観察することができ、コア１
６と２つの応力付与部１５とを貫く直線の方向（この例
ではＹ軸）が光の伝搬速度の相対的に遅い偏波面の方
向、即ちスロー軸であって通常光伝送の主軸として用い
られる。なお、偏波主軸は通常スロー軸とされるが、ス
ロー軸と直交するファースト軸（この例ではＸ軸）を主
軸として用いる場合もある。
付与部１５がコア１６を挟んで両側に配置されたもので
あって、これらは顕微鏡で観察することができ、コア１
６と２つの応力付与部１５とを貫く直線の方向（この例
ではＹ軸）が光の伝搬速度の相対的に遅い偏波面の方
向、即ちスロー軸であって通常光伝送の主軸として用い
られる。なお、偏波主軸は通常スロー軸とされるが、ス
ロー軸と直交するファースト軸（この例ではＸ軸）を主
軸として用いる場合もある。
【００１０】図３Ａにおける破線は最大傾斜軸１７を示
したものであって、スロー軸（Ｙ軸）に対し、角度θY
傾いたものとなっており、これによりモードフィールド
も図３Ｂに示したようにθY 傾いたものとなる。このよ
うな傾きθY が存在していると、光接続において、例え
ば偏波主軸を合わせて接続した場合には接続損失が増大
するものとなり、一方損失を抑えようとするとクロスト
ークの悪化を招くことになる。
したものであって、スロー軸（Ｙ軸）に対し、角度θY
傾いたものとなっており、これによりモードフィールド
も図３Ｂに示したようにθY 傾いたものとなる。このよ
うな傾きθY が存在していると、光接続において、例え
ば偏波主軸を合わせて接続した場合には接続損失が増大
するものとなり、一方損失を抑えようとするとクロスト
ークの悪化を招くことになる。
【００１１】従って、偏波面保存光ファイバにおいては
斜め研磨された研磨角度θと共に、偏波主軸に対する最
大傾斜軸のずれの有無を検査することが必要となる。
斜め研磨された研磨角度θと共に、偏波主軸に対する最
大傾斜軸のずれの有無を検査することが必要となる。
【００１２】この発明の目的は以上のような状況に鑑
み、斜め研磨された偏波面保存光ファイバの端面の研磨
角度と、その端面における最大傾斜軸と偏波主軸とのな
す角度を同時に測定することができるようにした測定装
置を提供することにある。
み、斜め研磨された偏波面保存光ファイバの端面の研磨
角度と、その端面における最大傾斜軸と偏波主軸とのな
す角度を同時に測定することができるようにした測定装
置を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】この発明によれば、偏波
面保存光ファイバの端面の研磨角度とその端面における
最大傾斜軸と偏波主軸とのなす角度を測定する装置は、
Ｚ軸回りに回転する回転機構を備えたＸＹＺ３軸ステー
ジと、そのステージに光軸がＺ軸方向とされて取り付け
られた光ファイバの端面をＺ軸方向から観察する顕微鏡
と、その顕微鏡に取り付けられたカメラと、そのカメラ
の画像をもとに上記回転機構を回転制御して上記端面の
偏波主軸をＸ軸もしくはＹ軸に合わせた後、ステージを
移動制御して上記端面上の一直線上にない３点に順次顕
微鏡の焦点を合わせる手段と、ステージの移動量から上
記３点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を求め、それら座標から上記端
面のなす平面の式を算出して、その平面の式から上記端
面の研磨角度とその端面における最大傾斜軸と偏波主軸
とのなす角度を求める手段とを具備するものとされる。
面保存光ファイバの端面の研磨角度とその端面における
最大傾斜軸と偏波主軸とのなす角度を測定する装置は、
Ｚ軸回りに回転する回転機構を備えたＸＹＺ３軸ステー
ジと、そのステージに光軸がＺ軸方向とされて取り付け
られた光ファイバの端面をＺ軸方向から観察する顕微鏡
と、その顕微鏡に取り付けられたカメラと、そのカメラ
の画像をもとに上記回転機構を回転制御して上記端面の
偏波主軸をＸ軸もしくはＹ軸に合わせた後、ステージを
移動制御して上記端面上の一直線上にない３点に順次顕
微鏡の焦点を合わせる手段と、ステージの移動量から上
記３点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を求め、それら座標から上記端
面のなす平面の式を算出して、その平面の式から上記端
面の研磨角度とその端面における最大傾斜軸と偏波主軸
とのなす角度を求める手段とを具備するものとされる。
【００１４】
【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を図面を参
照して実施例により説明する。
照して実施例により説明する。
【００１５】図１はこの発明の一実施例の構成を模式的
に示したものである。ステージ２１はＺ軸回りに回転す
る回転機構を備えたＸＹＺ３軸ステージとされ、このス
テージ２１に端面が斜め研磨された偏波面保存光ファイ
バが保持される。この例では偏波面保存光ファイバとし
てＰＡＮＤＡファイバ１４を有する光ファイバピグテー
ルの、図２と同様の構成とされた一端部がステージ２１
に取り付けられたものとなっており、フェルール１２に
保持されたＰＡＮＤＡファイバ１４はその光軸がＺ軸方
向とされている。
に示したものである。ステージ２１はＺ軸回りに回転す
る回転機構を備えたＸＹＺ３軸ステージとされ、このス
テージ２１に端面が斜め研磨された偏波面保存光ファイ
バが保持される。この例では偏波面保存光ファイバとし
てＰＡＮＤＡファイバ１４を有する光ファイバピグテー
ルの、図２と同様の構成とされた一端部がステージ２１
に取り付けられたものとなっており、フェルール１２に
保持されたＰＡＮＤＡファイバ１４はその光軸がＺ軸方
向とされている。
【００１６】顕微鏡２２はステージ２１の上方に位置さ
れ、フェルール１２の端面に位置するＰＡＮＤＡファイ
バ１４の端面をＺ軸方向から観察できるものとされる。
れ、フェルール１２の端面に位置するＰＡＮＤＡファイ
バ１４の端面をＺ軸方向から観察できるものとされる。
【００１７】顕微鏡２２にはカメラ２３が取り付けられ
ており、カメラ２３で写し出された画像はこの例では画
像処理装置２４で処理されてパーソナルコンピュータ２
５に入力されるものとなっている。なお、画像処理装置
２４にはモニタ２６が接続されており、カメラ２３によ
る観察画像がその画面に表示される。
ており、カメラ２３で写し出された画像はこの例では画
像処理装置２４で処理されてパーソナルコンピュータ２
５に入力されるものとなっている。なお、画像処理装置
２４にはモニタ２６が接続されており、カメラ２３によ
る観察画像がその画面に表示される。
【００１８】パーソナルコンピュータ（以下、ＰＣと記
す）２５は所定の手順に従って画像処理装置２４から画
像データを取り込み、ステージ２１の回転及びＸＹＺ３
軸のアクチュエータ２１ａを駆動制御し、かつステージ
２１の移動量読取器２１ｂから移動量を取り込んで所要
の演算を実行するもので、その演算によってファイバ端
面の研磨角度と、その端面における最大傾斜軸と偏波主
軸とのなす角度を算出する。以下、この図１に示した測
定装置による測定手順の詳細について説明する。
す）２５は所定の手順に従って画像処理装置２４から画
像データを取り込み、ステージ２１の回転及びＸＹＺ３
軸のアクチュエータ２１ａを駆動制御し、かつステージ
２１の移動量読取器２１ｂから移動量を取り込んで所要
の演算を実行するもので、その演算によってファイバ端
面の研磨角度と、その端面における最大傾斜軸と偏波主
軸とのなす角度を算出する。以下、この図１に示した測
定装置による測定手順の詳細について説明する。
【００１９】今、ＰＡＮＤＡファイバ１４の端面が図３
Ａに示したように斜め研磨されており、かつその軸回り
に任意の角度位置で、つまり偏波主軸がＸ，Ｙ軸とずれ
た状態でステージ２１に保持されているとする。ＰＣ２
５はステージ２１のアクチュエータ２１ａを駆動制御し
て、ＰＡＮＤＡファイバ１４の端面を顕微鏡２２によっ
て観察できるようにステージ２１を移動させ、画像処理
装置２４からの画像データをもとにステージ２１の回転
機構を回転させてファイバ端面の偏波主軸をＸ軸もしく
はＹ軸に合わせる。ここではスロー軸をＹ軸に合わせる
ようにし、つまり図３Ａに示した座標配置になるように
する。
Ａに示したように斜め研磨されており、かつその軸回り
に任意の角度位置で、つまり偏波主軸がＸ，Ｙ軸とずれ
た状態でステージ２１に保持されているとする。ＰＣ２
５はステージ２１のアクチュエータ２１ａを駆動制御し
て、ＰＡＮＤＡファイバ１４の端面を顕微鏡２２によっ
て観察できるようにステージ２１を移動させ、画像処理
装置２４からの画像データをもとにステージ２１の回転
機構を回転させてファイバ端面の偏波主軸をＸ軸もしく
はＹ軸に合わせる。ここではスロー軸をＹ軸に合わせる
ようにし、つまり図３Ａに示した座標配置になるように
する。
【００２０】次に、ＰＣ２５はアクチュエータ２１ａを
駆動制御してステージ２１を移動させ、画像データをも
とにファイバ端面上の任意の３点に順次顕微鏡２２の焦
点を正確に合わせる。３点はなるべく互いに離れ、一直
線上にないクラッド上の３点を選ぶことが望ましく、実
際にはファイバ径に対応して予め３点の位置を定めてお
き、それらの点においてそれぞれ焦点合わせを行う。
駆動制御してステージ２１を移動させ、画像データをも
とにファイバ端面上の任意の３点に順次顕微鏡２２の焦
点を正確に合わせる。３点はなるべく互いに離れ、一直
線上にないクラッド上の３点を選ぶことが望ましく、実
際にはファイバ径に対応して予め３点の位置を定めてお
き、それらの点においてそれぞれ焦点合わせを行う。
【００２１】上記のような操作により、ＰＣ２５は読取
器２１ｂから各点に対応するステージ２１の移動量を取
得し、その移動量から各点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を決定す
る。これら３点の座標を（Ｘ1 ，Ｙ1 ，Ｚ1 ），
（Ｘ2 ，Ｙ2 ，Ｚ2 ），（Ｘ3 ，Ｙ3，Ｚ3 ）とする
と、この３点を通る平面の式、つまりファイバ端面のな
す平面の式、 ａＸ＋ｂＹ＋ｃＺ＝１ （ａ，ｂ，ｃ：定数） を求めることができる。ＰＣ２５は３元連立方程式を解
くことによってａ，ｂ，ｃを算出し、上記式を決定す
る。
器２１ｂから各点に対応するステージ２１の移動量を取
得し、その移動量から各点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を決定す
る。これら３点の座標を（Ｘ1 ，Ｙ1 ，Ｚ1 ），
（Ｘ2 ，Ｙ2 ，Ｚ2 ），（Ｘ3 ，Ｙ3，Ｚ3 ）とする
と、この３点を通る平面の式、つまりファイバ端面のな
す平面の式、 ａＸ＋ｂＹ＋ｃＺ＝１ （ａ，ｂ，ｃ：定数） を求めることができる。ＰＣ２５は３元連立方程式を解
くことによってａ，ｂ，ｃを算出し、上記式を決定す
る。
【００２２】算出された平面の式から、その面のＺ＝０
面となす角度と、Ｘ軸もしくはＹ軸となす角度を求める
ことができ、これらがそれぞれ斜め研磨されたファイバ
端面の研磨角度θと、その端面における最大傾斜軸１７
と偏波主軸（スロー軸）とのなす角度θY に相当するも
のとなる。
面となす角度と、Ｘ軸もしくはＹ軸となす角度を求める
ことができ、これらがそれぞれ斜め研磨されたファイバ
端面の研磨角度θと、その端面における最大傾斜軸１７
と偏波主軸（スロー軸）とのなす角度θY に相当するも
のとなる。
【００２３】このように、この例によればファイバ端面
の研磨角度と、その端面における最大傾斜軸の偏波主軸
に対するずれ（傾き）を同時に測定することができる。
の研磨角度と、その端面における最大傾斜軸の偏波主軸
に対するずれ（傾き）を同時に測定することができる。
【００２４】なお、上述した例ではＰＡＮＤＡファイバ
を例として説明しているが、ＰＡＮＤＡファイバに限ら
ず、偏波主軸を顕微鏡観察によって認識できる全ての偏
波面保存光ファイバに、この測定装置を用いることがで
きる。
を例として説明しているが、ＰＡＮＤＡファイバに限ら
ず、偏波主軸を顕微鏡観察によって認識できる全ての偏
波面保存光ファイバに、この測定装置を用いることがで
きる。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
斜め研磨された偏波面保存光ファイバの端面の研磨角度
の測定と同時に、その端面における最大傾斜軸と偏波主
軸とのなす角度（ずれ）を簡易に測定することができ
る。
斜め研磨された偏波面保存光ファイバの端面の研磨角度
の測定と同時に、その端面における最大傾斜軸と偏波主
軸とのなす角度（ずれ）を簡易に測定することができ
る。
【００２６】従って、この測定装置を使用してファイバ
端面の研磨角の検査を行えば接続損失が少なく、かつク
ロストークの少ない光接続を実現できるものとなり、例
えば光ファイバピグテール付の光モジュール等におい
て、その性能向上に寄与するものとなる。
端面の研磨角の検査を行えば接続損失が少なく、かつク
ロストークの少ない光接続を実現できるものとなり、例
えば光ファイバピグテール付の光モジュール等におい
て、その性能向上に寄与するものとなる。
【図１】この発明の一実施例の構成を説明するための
図。
図。
【図２】光ファイバピグテールの先端部を示す図、Ａは
側面図、Ｂは正面図。
側面図、Ｂは正面図。
【図３】Ａは偏波面保存光ファイバの斜め研磨された端
面において最大傾斜軸と偏波主軸とがずれている様子を
示す図、ＢはＡを出射ファイバとした場合の出射光のモ
ードフィールドを示す図。
面において最大傾斜軸と偏波主軸とがずれている様子を
示す図、ＢはＡを出射ファイバとした場合の出射光のモ
ードフィールドを示す図。
Claims (1)
- 【請求項１】 偏波面保存光ファイバの端面の研磨角度
とその端面における最大傾斜軸と偏波主軸とのなす角度
を測定する装置であって、 Ｚ軸回りに回転する回転機構を備えたＸＹＺ３軸ステー
ジと、 そのステージに光軸がＺ軸方向とされて取り付けられた
上記光ファイバの端面をＺ軸方向から観察する顕微鏡
と、 その顕微鏡に取り付けられたカメラと、 そのカメラの画像をもとに上記回転機構を回転制御して
上記端面の偏波主軸をＸ軸もしくはＹ軸に合わせた後、
上記ステージを移動制御して上記端面上の一直線上にな
い３点に順次上記顕微鏡の焦点を合わせる手段と、 上記ステージの移動量から上記３点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を
求め、それら座標から上記端面のなす平面の式を算出し
て、その平面の式から上記端面の研磨角度とその端面に
おける最大傾斜軸と偏波主軸とのなす角度を求める手段
とよりなることを特徴とする光ファイバ端面研磨角測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000001313A JP2001194130A (ja) | 2000-01-07 | 2000-01-07 | 光ファイバ端面研磨角測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000001313A JP2001194130A (ja) | 2000-01-07 | 2000-01-07 | 光ファイバ端面研磨角測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001194130A true JP2001194130A (ja) | 2001-07-19 |
Family
ID=18530552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000001313A Withdrawn JP2001194130A (ja) | 2000-01-07 | 2000-01-07 | 光ファイバ端面研磨角測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001194130A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008155327A (ja) * | 2006-12-25 | 2008-07-10 | Daishowa Seiki Co Ltd | 角度測定治具及び角度測定方法 |
| CN104567737A (zh) * | 2014-12-24 | 2015-04-29 | 浙江大学 | 一种熊猫型保偏光纤端面定轴方法 |
| CN105806297A (zh) * | 2016-05-24 | 2016-07-27 | 吉林大学 | 三轴向角度测量装置 |
| CN106767554A (zh) * | 2016-11-22 | 2017-05-31 | 深圳新飞通光电子技术有限公司 | 保偏光纤轴向、光纤轴线与研磨方向之间夹角的测量方法 |
| JP2018163072A (ja) * | 2017-03-27 | 2018-10-18 | アンリツ株式会社 | 光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 |
| CN108801177A (zh) * | 2018-06-15 | 2018-11-13 | 湖南品胜生物技术有限公司 | 一种用于显微系统自动调节垂直度的方法及其校准玻片 |
| CN109186951A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-01-11 | 吴美珍 | 一种检测前梳理模组和光纤器件测试设备 |
| CN109186952A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-01-11 | 吴美珍 | 一种光纤器件测试设备 |
| CN109186950A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-01-11 | 吴美珍 | 擦纸机构和检测前梳理模组和光纤器件测试设备 |
| CN109513621A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-03-26 | 吴美珍 | 光纤器件上下料模组和光纤器件测试设备 |
-
2000
- 2000-01-07 JP JP2000001313A patent/JP2001194130A/ja not_active Withdrawn
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008155327A (ja) * | 2006-12-25 | 2008-07-10 | Daishowa Seiki Co Ltd | 角度測定治具及び角度測定方法 |
| CN104567737A (zh) * | 2014-12-24 | 2015-04-29 | 浙江大学 | 一种熊猫型保偏光纤端面定轴方法 |
| CN105806297A (zh) * | 2016-05-24 | 2016-07-27 | 吉林大学 | 三轴向角度测量装置 |
| CN106767554A (zh) * | 2016-11-22 | 2017-05-31 | 深圳新飞通光电子技术有限公司 | 保偏光纤轴向、光纤轴线与研磨方向之间夹角的测量方法 |
| CN106767554B (zh) * | 2016-11-22 | 2019-03-05 | 深圳新飞通光电子技术有限公司 | 保偏光纤轴向、光纤轴线与研磨方向之间夹角的测量方法 |
| JP2018163072A (ja) * | 2017-03-27 | 2018-10-18 | アンリツ株式会社 | 光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 |
| CN108801177A (zh) * | 2018-06-15 | 2018-11-13 | 湖南品胜生物技术有限公司 | 一种用于显微系统自动调节垂直度的方法及其校准玻片 |
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