JP2001191193A - レーザ装置 - Google Patents
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Abstract
用いられた場合に、光路調整やファイバー入射部の調整
が簡便に短時間に実施でき、また、正確且つ客観的な調
整を行うことができる、レーザ装置を得ること。 【解決手段】 レーザ装置において、レーザビーム8を
出射するレーザ共振器2と、レーザ共振器2からビーム
伝送光路系を通じて伝送されたレーザビーム8を入射さ
れ被加工物まで伝送する光ファイバー23と、光ファイ
バー23から出射されたレーザビーム8のビームパター
ンのうち周辺部に生じる円環状パターンの部分のレーザ
ビーム出力を測定する測定・調整治具44と、測定・調
整治具44からの出力に基き光ファイバー23へのレー
ザビーム23の入射を調整するファイバー入射部22と
を備えたもの。
Description
にそのファイバー調整に関するものである。
ザ装置の場合について説明する。図10は、従来の固体
レーザ装置の発振器ヘッドおよびレーザビーム光路を示
す概略構成図である。1は発振器ヘッド、2は共振器、
3は部分反射ミラー、4は全反射ミラー、5は励起光
源、6は励起媒体である固体素子、7は励起光源5と固
体素子6を内蔵するキャビティ(箱)、8は共振器2か
ら出射したレーザビーム、9は拡大レンズ、10はコリ
メートレンズ、11はビームシャッタ、12は反射ミラ
ー、14はダンパー、20は集光レンズ、21はファイ
バーホルダ、22は集光レンズ20およびファイバーホ
ルダ21を有するファイバー入射部、23は光ファイバ
ー、24は加工ヘッド、25a,25bは加工レンズで
ある。
において、励起光源5の励起光により固体素子6が励起
され、固体素子6を挟むように設けられた部分反射鏡3
と全反射鏡4によりレーザ発振する。共振器2から出射
したレーザビーム8は拡大レンズ9を通過することによ
り広げられ、コリメートレンズ10を通過することによ
り平行ビームとなり、平行化されたレーザビームはファ
イバー入射部22に入射する。
22との間にはビームシャッタ11が設けられており、
レーザ発振器外へレーザビーム8を出射させたくないと
きには、レーザビーム8を遮断できるようになってい
る。ビームシャッタ11はレーザビーム8を反射する反
射ミラー12とレーザビーム8を吸収し熱に変換するダ
ンパー14とからなっている。反射ミラー12は移動可
能な構造になっており、位置Aに反射ミラー12がある
ときにはレーザビーム8はビームシャッタ11を通過す
るが、位置Bに反射ミラー12があるときにはレーザビ
ーム8は反射ミラー12で反射され、ダンパー14に至
る。ダンパー14の表面はレーザービーム吸収体で構成
されており、レーザービーム8のエネルギーを熱に変換
する。図には示さないがダンパー14は吸収した熱量の
放出のため水冷されている。
れたレーザビーム8はファイバー入射部22内の集光レ
ンズ20により集光され、ファイバーホルダー21によ
り保持された光ファイバー23の端面23iに入射し光
ファイバー23内を伝搬する。
レーザービーム8の焦点の光軸方向位置を光ファイバー
入射端23iに一致させるため光軸方向に調整のため移
動可能に、ファイバーホルダー21は前記焦点の位置に
光ファイバー入射端23iの面の中心を合わせるために
光軸に垂直な方向に調整のため移動可能に構成されてい
る。
ム8は加工ヘッド24に接続された光ファイバー23の
出射端23oから出射する。加工ヘッド24に導かれた
レーザビーム8は集光レンズ25aと25bとにより集
光され、加工等に利用される。
バー23の出射端23oから出射したレーザビーム8の
特性を見て実施する。
は発振出力を変えるために励起光源5の光量を変化させ
るが、このことは固体素子6に与える熱エネルギーを変
化させ、ひいては固体素子6自身の光学的熱ひずみが変
化することになる。具体的には固体素子6は周辺から冷
却されるために中心部の温度が周辺部の温度よりも高く
なり、固体素子6が顕著に凸レンズのような性質を持つ
が、この凸レンズの強さの度合いが変化することにな
る。この種の固体レーザ発振器においては、共振器2内
にある固体素子6のレンズとしての特性が変化するの
で、励起光源5の強さ、すなわちレーザビーム8の出力
を変更すると共振器2から出射するレーザビーム8の伝
搬の特性が変化してしまい、結果的にファイバー入射部
22の最適調整値が変化してしまう。
際加工に使用する出力相当、例えば定格出力500W出
力のレーザ発振器において500Wで加工する場合には
500W、のレーザ発振をさせる必要がある。そうでな
いと調整時と実加工時でのレーザビーム8の伝搬特性が
大きく変わってしまい、調整そのものの信頼性が損なわ
れるからである。
出力である加工出力のレーザビーム8で実施することに
なるが、ファイバー入射部22の調整が大きく最適位置
からずれている場合にいきなり高出力のレーザビーム8
をファイバー入射部22に入射すると、光ファイバー2
3その他に損傷を与える可能性があるため、光ファイバ
ー23その他に損傷を与えないような低出力でファイバ
ー入射部22の調整を実施し、徐々に出力を上げながら
ファイバー入射部22の調整を繰り返し、最終的に実際
の加工出力での調整実施して調整終了する。
レーザ装置を示す。図10の固体レーザ装置と異なるの
は、ビームシャッタ部の構成である。図11のものにお
いて、30はビーム吸収体、31は反射ミラーである。
反射ミラー31は若干、例えば0.2%程度の通過特性
を有し、入射したレーザビーム8の大部分は反射させる
が一部の出力を通過させるような構成となっている。通
過したレーザビーム8はビーム吸収体30に吸収される
ようになっている。ビーム吸収体30はレーザビーム遮
蔽器の役割を果たしている。ビーム吸収体30は反射ミ
ラー31の背面から取り外し可能なように装着されてお
り、必要に応じて反射ミラー31を通過したレーザビー
ム8をファイバー入射部22に入射できるような構成と
なっている。
説明する。図11に示した発振器において、光路の調整
を実施する際にはビームシャッタを閉の状態、すなわち
反射ミラー31をBの位置とし、ビーム吸収体30を取
り外した後、レーザ発振器を実加工時と同等の出力、例
えば500Wで発振させる。すると、反射ミラー31で
反射されたレーザビーム8はダンパー14で吸収され、
反射ミラー31を通過した小出力、この例では500W
×0.2%=1W、のレーザービームが発振器出口すな
わち集光レンズ20から出射する。このとき、固体素子
6への入力は実加工時と同等となっているので固体素子
6の光学的熱ひずみが実加工時と同等となっており、従
って共振器から出射するレーザビーム8の伝搬特性は実
加工時と同等のものとなっている。
ザビーム8の伝搬特性は実加工時と同等のものとなって
いる。しかも反射ミラー31を通過したレーザビーム8
の出力は小出力となっているため、全く未調整の状態で
光ファイバー23の入射端23iに入射させても光ファ
イバー23等を損傷させる恐れがない。
の調整を実施すれば、はじめから固体素子6の光学的熱
ひずみに関して実加工時と等しい状態で行なえることに
なり、図10に示した装置のように、まず光ファイバー
23等を焼損しないような小出力でまず大まかな調整を
実施した後徐々に調整出力を上げながら複数回の調整を
繰り返し、最終的に実加工出力で本調整するといった煩
雑な調整を実施する必要がなく、簡単に短時間でファイ
バー入射部22の調整を実施することができる。
レーザ装置においては、上述の固体素子自身の光学的熱
ひずみの影響は、ほぼ問題とはならない。なお、調整作
業終了後はビーム吸収体30を元通りに装着しておく。
体レーザ装置において、従来は、GI型の光ファイバー
を用いる場合が多かった。しかし、最近ではGI型の光
ファイバーに代わってSI型の光ファイバーを用いる場
合が増えつつある。SI型の光ファイバーは、GI型の
光ファイバーと比べて対光強度を2桁程度上げられると
いう長所があるため、近年のレーザ装置の高出力化に伴
ない、需要が増しているものである。
ーのコアとクラッドの境界で屈折率がステップ状に変化
するようなファイバーの場合は、ファイバー入射端にお
いて、ファイバーのコア内にレーザビームが全て入射し
た場合は、全入射ビームがコア内を伝送する。多くの場
合、ファイバー入射端における入射ビーム径はコア径の
90%以下程度となっており、全入射ビームがコアの範
囲内に入射可能な寸法となっている。一方、ファイバー
入射端において、光軸がずれる等によりレーザビームの
一部がファイバーのコア内に入りきらない場合は、ファ
イバー内をクラッド伝搬する。
場合、ファイバー入射部22を調整する際には、上述の
クラッド伝搬の有無を判断しつつ調整する。即ち、ファ
イバー出射後のレーザビームの強度分布を確認しつつ調
整実施する。レーザビームの強度分布の確認は、図12
に示したように、ファイバー出射端23oから適度な距
離Lだけ離れた位置に、例えばレーザパワーメータ40
を設置し、ファイバー出射後のレーザビームをレーザパ
ワーメータ40に照射し、レーザパワーメータ40上の
ビームパターンを不可視レーザビームを可視化する装置
であるIRスコープ等で観察して実施する。
ーンを図13に示す。全入射レーザビームがコア内を伝
搬している場合は図13aに示すように、円状のパター
ン50aとなる。一方、調整不良でクラッド伝搬が発生
した場合は図13bに示すように、中心の円状のパター
ン50aの明るさ、すなわちビーム強度が小さくなり、
円状のパターン50aの外周に円環状のパターン50b
が出現し、二重丸パターンとなる。二重丸パターンは最
適調整値からいずれの方向に調整ズレが生じても発生す
る。
出射後のビームパターンが図13aに示したような円状
のパターンになるように前記ファイバー入射部22の調
整を実施する。調整時の出力における最適調整値は、二
重丸パターンが出現する調整値(一方向に対して2点)
の中間にある。
り、従来のレーザ発振器においては、SI型の光ファイ
バーが用いられた場合、メンテナンス時等においてファ
イバー入射部を調整する場合、適当な測定・調整手段等
が無く、ファイバー出射後の実ビームの目視による判断
に基づき調整するため、徐々に出力を上昇させながらの
繰り返し調整が必要で時間がかかる。また、最適調整値
を目視判断で実施するには熟練が必要であった。
になされたものであり、光ファイバーとしてSI型の光
ファイバーが用いられた場合に、光路調整やファイバー
入射部の調整が簡便に短時間に実施でき、また、正確且
つ客観的な調整を行うことができる、レーザ装置を得る
ものである。
置は、レーザビームを出射するレーザ共振器と、このレ
ーザ共振器からビーム伝送光路系を通じて伝送された前
記レーザビームを入射され被加工物まで伝送する光ファ
イバーと、この光ファイバーから出射されたレーザビー
ムのビームパターンのうち周辺部に生じる円環状パター
ンの部分のレーザビーム出力を測定するレーザビーム出
力測定手段と、このレーザビーム出力測定手段からの出
力に基き前記光ファイバーへの前記レーザビームの入射
を調整するファイバー入射調整手段とを備えたものであ
る。
ザビームのビームパターンのうち周辺部に生じる円環状
パターンの部分を通過させるような開口部を有するアパ
ーチャ部材と前記開口部を通過したレーザビームのレー
ザビーム出力を測定するパワーメータとを設けたもので
ある。
れる光ファイバーのNA値に対応した位置に設けたもの
である。
ザビームのビームパターンのうち周辺部に生じる円環状
パターンの部分を通過させるような第1の開口部を有す
る第1のアパーチャ部材と、ビームパターンのうち中心
部に生じる円状パターンの部分を通過させる第2の開口
部を有する第2のアパーチャ部材と、前記第1又は第2
の開口部を通過したレーザビームのレーザビーム出力を
測定するパワーメータとを設けたものである。
のアパーチャ部材と第2のアパーチャ部材とを保持部材
ごと交換可能な構造としたものである。
ザビームのビームパターンのうち周辺部に生じる円環状
パターンの部分を通過させるような第1の開口部とビー
ムパターンのうち中心部に生じる円状パターンの部分を
通過させる第2の開口部とを有し前記第1及び第2の開
口部を排他的に切換えて用いるアパーチャ部材と、前記
第1又は第2の開口部を通過したレーザビームのレーザ
ビーム出力を測定するパワーメータとを設けたものであ
る。
実施の形態によるレーザ発振器を図1及び図2を用いて
説明する。図1はこの発明の第1の実施の形態による固
体レーザ装置を示す概略構成図であり、図2は調整治具
の概略構成図である。
装置と異なるのは、光ファイバー23の出射端23oの
部分の構成であり、この部分について説明する。他の部
分は図11の装置と同様である。図1において、符号1
〜10,14,20〜23,23i,23o,30,3
1は、図11の装置のものと同一または相当であるた
め、説明を省略する。
定手段としての測定・調整治具である。ファイバー入射
調整手段としてのファイバー入射部22すなわち可動式
の集光レンズ20及びファイバーホルダ21の位置調整
を行う場合に、測定・調整治具44がファイバー出射端
23oに接続される。図1,図2に示した測定・調整治
具44において、51はアパーチャ、52はパワーメー
タ、53は表示部である。
た場合にファイバー入射部22を調整するための、上述
のクラッド伝搬の有無を判断し調整するためのアパーチ
ャを示す。図2におけるアパーチャ51aはレーザビー
ム測定位置に設置され、その開口部はアパーチャ位置に
おいて、クラッド伝搬が発生した場合に発生する二重丸
パターンの外側のリング状のレーザービームが通過する
ような位置に設定されており、アパーチャ51aの開口
部を通過したレーザビームの出力をパワーメータ52で
測定し、表示部53に表示される。
て、光ファイバーの出射端23oから出射したレーザビ
ームは図に示したように広がりながら伝搬する。ファイ
バ調整不良によりクラッド伝搬が発生した場合には、二
重丸パターンの外側のリング状のレーザービーム出力が
高くなりアパーチャ51a内を通過するレーザビームの
割合が大きくなってパワーメータ52の検出値が大きく
なる。調整が良好になるほどアパーチャ51a内を通過
するレーザビームの割合が相対的に小さくなり、パワー
メータ52の検出値が小さくなる。
パワーメータ52が検出した出力値との関係を示す。図
3に示されるように、パワーメータ52の検出値が最小
になる位置にファイバー入射部22を調整することによ
り、ファイバー入射部22を良好な状態に調整すること
ができる。なお、パワーメータ52はレーザビーム出力
を電気信号に変換可能であり、従って本実施の形態によ
る装置の場合、ファイバー入射部22の調整状態を電気
信号としてモニターするものである。
のアパーチャを備えた測定・調整治具を示す。図2に示
した測定・調整治具と異なり、アパーチャ51bの開口
部はレーザビームの中心に設けられ、その内径はアパー
チャ位置におけるレーザービーム径より小さく設定され
ており、該開口部を通過したレーザビームの出力をパワ
ーメータ52で測定する。ここで、ファイバー入射部2
2の調整が不良になりクラッド伝搬が発生した場合に
は,アパーチャ51bの開口部を通過するレーザビーム
の割合が小さくなりパワーメータ52の検出値が小さく
なる。ファイバー入射部22の調整が良好な場合はアパ
ーチャ51bの開口部を通過するレーザビームの割合が
相対的に大きくなり、パワーメータ52の検出値が大き
くなる。
ーメータが検出した出力値との関係を示す。図5に示さ
れるように、パワーメータ52の検出値が最大になるよ
うにファイバー入射部を調整することにより、ファイバ
ー入射部を良好な状態に調整できる。なおパワーメータ
はレーザビーム出力を電気信号に変換可能であり、本実
施の形態の場合、ファイバー入射部22の調整状態を電
気信号としてモニターするものである。
る調整方法はクラッド伝搬が発生するまでパワーメータ
52の出力値がほとんど変化せず、最適値の検出が難し
い。従ってファイバー入射部22の調整は、図2に示し
た測定・調整治具による調整方法を実施する前段階とし
てクラッド伝搬が発生しない位置に調整する粗調に適す
るものである。
対して、図2に示した測定・調整治具による調整は最適
値への調整がより容易なものであるが、図3に示したよ
うに大きく最適調整位置からずれた場合は、パワーメー
タ52の出力値が小さくなるため調整不能に陥る可能性
がある。従って、図2と図4の測定・調整治具による調
整を併せて実施することにより短時間で且つ、より正確
な調整が可能である。
その開口部はアパーチャ位置において、クラッド伝搬が
発生した場合に発生する二重丸パターンの外側のリング
状のレーザービームが通過するような位置に設定する
が、上述の二重丸パターンの外側のリングは、ファイバ
ーのNAで定められた位置に現れる。例えばNA=0.
2のファイバを使用した場合は、前記リングは広がり半
角tanθ=0.2の位置に発生する。従って、アパー
チャ51aは上記NAの位置に対応した位置に設置する
のが最良であり、そのように構成されている。
施の形態による調整治具の概略構成図である。図6に示
した調整治具44において、アパーチャは着脱可能なト
レイに固定されており、上述の実施の形態で説明したア
パーチャ51aとアパーチャ51bとがトレイ55a及
び55bごと交換することにより簡便に交換可能なよう
に構成されている。このように構成することにより、フ
ァイバー入射部22の2段階の調整、すなわちアパーチ
ャ51aによる粗調とアパーチャ51bによる最適値調
整とが、簡単に実施できる。
ものは、アパーチャ51を差し替え可能なように構成し
たが、図7に示すように、ひとつのアパーチャ51cの
開口部部分を,アパーチャ51aに対応するレーザビー
ム中心位置a及びクラッド伝搬が発生した場合に発生す
る二重丸パターンの外側のリング状のレーザービームが
通過するアパーチャ51bに対応する位置bに切換え可
能なように構成しても良い。開口部の可変構造は、例え
ばネジ60により前記の位置aおよびbの位置にアパー
チャの開口部61を移動させるようにしてもよい。
8を用いて説明する。アパーチャ51aは2ヶ所のブリ
ッジ62により外周部とつながった形の略リング状の開
口部61aを有している。この略リング状の開口部61
aにより、ほぼ全周にわたってクラッド伝搬発生時に生
じるリング状のレーザビームを検出でき、感度の良い調
整が可能である。なお、図8ではブリッジ62は2ヶ所
のものについて説明したが、リング状に近い開口部が得
られればブリッジの数は何カ所でもよく、同様の効果が
得られる。
入射部22との間に設けられたビームシャッタ11には
レーザビーム8の大部分を反射し、一部を通過する反射
ミラー31が設けられているが、反射ミラー31をレー
ザビーム8が通過する際に図9に示したようなレーザビ
ーム光路の平行ズレが発生する。平行ズレ量は反射ミラ
ー31へのレーザビーム8の入射角が大きくなると共に
大きくなる。平行ズレ量が大きくなると、反射ミラー3
1を介さずに直接集光レンズ20まで達する実ビームの
場合とのズレも大きくなり、反射ミラー31を通過した
レーザビーム8で調整した調整位置とのズレも大きくな
る。実用上、反射ミラー31へのレーザビーム8の入射
角が15deg以下であれば実質的に調整は問題なく行
え、平行ズレは実用上問題ない範囲内にあることが確認
できた。
が、あまり入射角を小さくし過ぎると今度はダンパーを
含めた装置全体な必要スペースが大きくなり実用性が損
なわれる。従って反射ミラーへのレーザビームの入射角
が8deg以上15deg以下となるように構成するの
が実用的である。
ば、光ファイバーとしてSI型の光ファイバーが用いら
れた場合に、レーザ発振器のファイバー入射部の調整作
業が簡便に実施可能で、且つ、調整を行う個々の作業者
の熟練度に拠ることなく正確かつ客観的な調整を行うこ
とができる、メンテナンス性の良好なレーザ装置を得ら
れる、という効果を奏する。
ザ装置を示す概略構成図。
整治具を示す概略構成図。
ー入射部の調整位置とパワーメータの指示値との関係を
示した図。
・調整治具を示す概略構成図。
ー入射部の調整位置とパワーメータの指示値との関係を
示した図。
整治具を示す概略構成図。
整治具を示す概略構成図。
成図。
図。
出射後のビームの強度分布確認方法を示す説明図。
た図。
Claims (6)
- 【請求項1】 レーザビームを出射するレーザ共振器
と、このレーザ共振器からビーム伝送光路系を通じて伝
送された前記レーザビームを入射され被加工物まで伝送
する光ファイバーと、この光ファイバーから出射された
レーザビームのビームパターンのうち周辺部に生じる円
環状パターンの部分のレーザビーム出力を測定するレー
ザビーム出力測定手段と、このレーザビーム出力測定手
段からの出力に基き前記光ファイバーへの前記レーザビ
ームの入射を調整するファイバー入射調整手段と、を備
えたものであることを特徴とするレーザ装置。 - 【請求項2】 レーザビーム出力測定手段は、レーザビ
ームのビームパターンのうち周辺部に生じる円環状パタ
ーンの部分を通過させるような開口部を有するアパーチ
ャ部材と前記開口部を通過したレーザビームのレーザビ
ーム出力を測定するパワーメータとを設けたものである
ことを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。 - 【請求項3】 アパーチャ部材の開口部は、使用される
光ファイバーのNA値に対応した位置に設けたことを特
徴とする請求項2に記載のレーザ装置。 - 【請求項4】 レーザビーム出力測定手段は、レーザビ
ームのビームパターンのうち周辺部に生じる円環状パタ
ーンの部分を通過させるような第1の開口部を有する第
1のアパーチャ部材と、ビームパターンのうち中心部に
生じる円状パターンの部分を通過させる第2の開口部を
有する第2のアパーチャ部材と、前記第1又は第2の開
口部を通過したレーザビームのレーザビーム出力を測定
するパワーメータとを設けたものであることを特徴とす
る請求項1に記載のレーザ装置。 - 【請求項5】 レーザビーム出力測定手段は、第1のア
パーチャ部材と第2のアパーチャ部材とを保持部材ごと
交換可能な構造としたことを特徴とする請求項4に記載
のレーザ装置。 - 【請求項6】 レーザビーム出力測定手段は、レーザビ
ームのビームパターンのうち周辺部に生じる円環状パタ
ーンの部分を通過させるような第1の開口部とビームパ
ターンのうち中心部に生じる円状パターンの部分を通過
させる第2の開口部とを有し前記第1及び第2の開口部
を排他的に切換えて用いるアパーチャ部材と、前記第1
又は第2の開口部を通過したレーザビームのレーザビー
ム出力を測定するパワーメータとを設けたものであるこ
とを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。
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