JP2001184631A - 磁気ディスク及びその製造方法、及び磁気ディスク装置 - Google Patents

磁気ディスク及びその製造方法、及び磁気ディスク装置

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JP2001184631A
JP2001184631A JP37161699A JP37161699A JP2001184631A JP 2001184631 A JP2001184631 A JP 2001184631A JP 37161699 A JP37161699 A JP 37161699A JP 37161699 A JP37161699 A JP 37161699A JP 2001184631 A JP2001184631 A JP 2001184631A
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magnetic disk
servo signal
servo
film
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Hiroto Takeshita
弘人 竹下
Wataru Yamagishi
亙 山岸
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明はハードディスクドライブ用磁気ディ
スクに関し、書き込まれたサーボ信号の磁化の安定性の
向上を図ることを課題とする。 【解決手段】 データ領域26毎の設けてあるサーボ領
域27は、Tb20Fe80合金膜24で構成してある。Tb20Fe
80合金膜24は、フェリ磁性体であり、磁化容易軸28
はディスク面25に対して垂直の向きである構成であ
り、書き込まれたサーボ信号は安定に保持される。デー
タ領域26は、Co66Cr24Pt8Ta2合金膜23により構成し
てある

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスクに係
り、特に、ハードディスクドライブ用磁気ディスクに関
する。情報化社会において、ハードディスクドライブは
情報記憶装置の中心的役割を担っている。ハードディス
クドライブは、磁気ディスクとヘッドキャリッジとを有
する構成である。現在、ハードディスクドライブにおい
ては、記録容量を大きくすることが求められている。ハ
ードディスクドライブの記録容量を大きくするには、磁
気ディスクの磁気膜の磁気特性を向上させる他に、磁気
ディスクのトラック密度を高めることが必要である。磁
気ディスクのトラック密度を高めるには、記録再生を行
なう磁気ヘッドの磁気ディスク上の位置決めが高精度に
行なわれるようにすることが前提条件となる。
【0002】磁気ヘッドの位置決めは、磁気ディスクの
サーボ信号書き込み領域に書き込まれている、アドレス
パターンとサーボパターン等よりなるサーボ信号に基づ
いて行なわれている。磁気ヘッドの位置決めが高精度に
行なわれるためには、ヘッドキャリッジについては、
剛性が高くて共振の影響を受けにくい構成であること、
磁気ディスクについては、サーボ信号が高品質のもの
であること、及び書き込んだサーボ信号が安定に維持さ
れるものであることが要求される。
【0003】
【従来の技術】図1は従来のハードディスクドライブ用
磁気ディスク10を示す。この磁気ディスク10は、ガ
ラス基板11の上面に、Cr製の下地膜12、Co66Cr24Pt
8Ta2合金膜13、カーボン製の保護膜14が積層されて
いる構成である。磁気ディスク10は、データを記録す
るデータ領域15が周方向上複数に分割されて設けてあ
り、且つ、各データ領域15毎にサーボ信号が書き込ま
れたサーボ領域16を有する。
【0004】サーボ領域16も、データ領域15と同じ
くCo66Cr24Pt8Ta2合金膜13である。サーボ信号は、記
録用薄膜磁気ヘッドを有するサーボトラックライタ(図
示せず)を使用して書き込まれている。図2は、サーボ
領域16のCo66Cr24Pt8Ta2合金膜13に書き込まれてい
るサーボ信号のパターンの一例を示す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明者は、上記の磁
気ディスク10のサーボ信号の記録状態の安定性につい
て実験を行なった。一般にハードディスクドライブで
は、動作時の内部の温度は0〜70℃である。サーボ信
号の記録状態を不安定とする所謂熱ゆらぎは、温度が高
い程影響が大きい。そこで、実験は環境温度を70℃に
設定して行なった。
【0006】先ず、磁気ディスク10を70℃の環境に
放置して、サーボ領域16のCo66Cr24Pt8Ta2合金膜13
の磁化の経時変化を見てみた。磁化は、図6中、線IIで
示すように変化した。10時間経過後、磁化は放置開始
時に比べて6.2%減少していることが分かった。一般
にハードディスクドライブ用磁気ディスクは、データを
書き込んでから10年後の信号強度が書き込み時の90
%以上であることが必要である。しかし、磁化が上記の
よう減少すると、10年後には信号強度が書き込み時の
90%より小さくなってしまい、好ましくない。
【0007】また、磁気抵抗効果ヘッドを用いて磁気デ
ィスク10を再生して、磁気ディスク10のサーボ信号
のS/N比の経時変化を見てみた。図7に示すように、
サーボ信号を書き込んだ直後では、サーボ信号のS/N
比は26.2dBであった。磁気ディスク10を70℃の
環境に1000時間放置した後では、サーボ信号のS/
N比は22.9dBと、書き込んだ直後から、3dBも劣化
してしまっている。
【0008】よって、従来の磁気ディスク10は、サー
ボ信号の記録状態の安定性が十分ではなかった。また、
一般的に、より高密度な情報を記録再生できるようにす
るためには、媒体のデータ記録用磁性膜の結晶粒サイズ
を小さくして記録再生特性(S/N)を向上させなけれ
ばならない。ところが、結晶粒サイズを小さくしていく
と、記録情報が時間の経過とともに失われてしまうとい
う、いわゆる熱ゆらぎ磁化緩和が問題となってくる。こ
の問題を回避するために、媒体上に記録されたデータ情
報をある所定の時間経過ごとに消去し、再度同じ情報を
書き込むという、いわゆるリフレッシュ方式が、特開平
10−255202号公報及び特開平10−25520
9号公報において提案されている。
【0009】予め記録されていたデータ情報を同じ場所
に書き直すためには、磁気ヘッドは高い精度で位置決め
されなければならない。しかし、磁気ヘッドの位置決め
に必要なサーボ信号もデータ信号が記録してある記録膜
と同じ記録膜に書き込まれているため、サーボ信号はデ
ータ信号と同様に時間の経過と共に減衰し、サーボ信号
の品質は劣化していき、ついには所要の位置決め精度を
満足できなくなってしまう。この対策として、サーボ信
号もデータ信号と同じくリフレッシュすることが考えら
れる。しかし、上記の通り、サーボ信号を書き込むため
には、磁気ディスクをドライブから取り外してドライブ
とは別の装置であるサーボトラックライタにセットし
て、正確に位置決めを行なう必要があるため、ドライブ
単体が製品としてユーザの手に渡った状況でサーボ信号
をリフレッシュすることは基本的に困難である。
【0010】そこで、本発明は、上記課題を解決した磁
気ディスク及びその製造方法、及び磁気ディスク装置を
提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、円周
方向に沿って、第1の磁性膜と、前記第1の磁性膜とは
異なる磁性膜であって、前記第1の磁性膜より磁化の熱
的安定性の高い第2の磁性膜が交互にもうけられてなる
構成としたものである。この構成によって、第2の磁性
膜にサーボ信号を書き込こんだ場合に、サーボ信号が従
来に比べて安定に維持されるサーボ信号書き込み済みの
磁気ディスクを実現できる。よって、書き込まれている
サーボ信号が従来に比べて安定に維持されているため、
この磁気ディスクは、記録されているデータを所定時間
毎に消去して、再度同じデータを書き込む、所謂リフレ
ッシュ(再書き込み)を、安定に行なうことが出来る。
【0012】また、書き込まれているサーボ信号が従来
に比べて安定に維持されるため、磁性膜が磁区を有しな
い構成のものである場合には、磁化容易軸を同じ向きと
される領域を、熱揺らぎ等の問題を起こす虞れなく体積
が小さいものに出来る。また、磁性膜が磁区を有する構
成のものである場合には、単磁区粒子をを熱揺らぎ等の
問題を起こす虞れなく体積が小さいものに出来る。これ
によって、サーボ信号をより高密度に記録することが出
来る。よって、サーボをより高精度に行なうことが出来
るようになり、トラックを狭くして情報を高密度に記録
する将来的な傾向に対応することが可能となる。
【0013】請求項2の発明は、請求項1の磁気ディス
クにおいて、前記第1の磁性膜にデータが記録され、前
記第2の磁性膜にサーボ信号が記録される構成としたも
のである。この構成によって、書き込まれたサーボ信号
について、10年後に、書き込み時の信号強度の90%
以上の信号強度が保証される。
【0014】請求項3の発明は、サーボ信号書き込み済
みの磁気ディスクと、記録再生用磁気ヘッドとを有し、
該サーボ信号書き込み済みの磁気ディスクが、データを
記録するデータ記録領域と磁気ヘッド位置決め用のサー
ボ信号が書き込まれたサーボ信号書き込み済み領域とを
有し、該サーボ信号書き込み済み領域を、データ記録領
域を構成する磁性膜とは異なる磁性膜であって、データ
記録領域を構成する磁性膜より磁化の熱的安定性の高い
磁性膜で構成したものである。
【0015】書き込まれているサーボ信号が従来に比べ
て安定に維持されているため、この磁気ディスクは、記
録されているデータを所定時間毎に消去して、再度同じ
データを書き込む、所謂リフレッシュ(再書き込み)
を、安定に行なうことが出来る。請求項4の発明は、デ
ィスク基板の全面に、第1の磁性膜を形成し、第1の磁
性膜を部分的に除去し、第1の磁性膜が除去された部分
を埋めるように、第1の磁性膜より磁化の熱的安定性の
高い第2の磁性膜を形成するようにしたものである。
【0016】この構成によって、サーボ信号を第2の磁
性膜に書き込んだ場合に、書き込んだサーボ信号を従来
に比べて安定に維持することが可能である磁気ディスク
を製造することが可能となる。
【0017】
【発明の実施の形態】〔第1実施例〕図3(A),
(B)は本発明の第1実施例になるハードディスクドラ
イブ用磁気ディスク20を示す。この磁気ディスク20
は、ガラス基板21の上面に、厚さが20nmのCr製の
下地膜12、厚さが15nmのCo66Cr24Pt8Ta2合金膜2
3及び同じく厚さが15nmのTb20Fe80合金膜24、及
び、厚さが10nmのカーボン製の保護膜25が積層さ
れている構成である。磁気ディスク20は、データを記
録するデータ領域26が周方向上複数に分割されて設け
てあり、且つ、各データ領域26毎にサーボ信号が書き
込まれたサーボ領域27を有する。なお、符号20X
は、データ領域26にサーボ信号がまだ書き込まれてい
ないサーボ信号未記録の磁気ディスクである。
【0018】データ領域26は、Co66Cr24Pt8Ta2合金膜
23により構成してある。このCo66Cr24Pt8Ta2合金膜2
3は、強磁性体であり、磁化容易軸はディスク面25と
平行である。サーボ領域27は、Tb20Fe80合金膜24に
より構成してある。Tb20Fe80合金膜24は、アモルファ
ス状態であり、図4に示す磁気−温度特性を有するフェ
リ磁性体であり、垂直磁化材料であり、図3(C)に示
すように、磁化容易軸28はディスク面25に対して垂
直の向きであり、磁区を有しない構成である。図4中、
線Xは保磁力を示し、線XIはトータル磁化を示す。Tb
20Fe80合金膜24はキュリー点Tcが例えば130℃で
あり、補償点Tcompが例えば−70℃である。キュリー
点Tcは70℃以上であり、補償点Tcompは0℃以下で
ある。
【0019】サーボ領域27は、Tb20Fe80合金膜24が
複数の層よりなる構成であってもよい。図3(B)に示
すように、データ領域26の表面26aとサーボ領域2
7の表面27aとの段差sは、5nm以下である。サー
ボ領域27には、サーボ信号が図3(B)に示すように
書き込まれている。サーボ信号の書き込みは後述するよ
うに特殊な光磁気ヘッドをサーボトラックライタ(図示
せず)を使用して行なわれる。図5は、サーボ領域16
の磁性膜13に書き込まれているサーボ信号のパターン
の一例を示す。
【0020】図8(A),(B)は図3(A)の磁気デ
ィスク20が組み込まれているハードディスクドライブ
30を示す。ハードディスクドライブ30は、ハウジン
グ31の内部に、例えば2枚の磁気ディスク20と、電
磁駆動されるアクチュエータ32と、アクチュエータ3
2によって回動されるアーム33と、アーム33の先端
のヘッドアセンブリ34とを有する構成である。ヘッド
アセンブリ34は、その先端にヘッドスライダ35を有
する。磁気ディスク20が高速回転され、アクチュエー
タ32が駆動されてアーム33が往復回動され、ヘッド
スライダ35が磁気ディスク20の半径方向に移動さ
れ、サーボ領域16の磁性膜13に書き込まれているサ
ーボ信号を再生して位置決めされ、所定のトラックにア
クセスされて、データ領域26に情報の書き込み及び読
み出しが行なわれる。
【0021】(サーボ信号未記録の磁気ディスク20X
の製造方法)次に、サーボ信号未記録の磁気ディスク2
0Xの製造方法について説明する。図9(A)乃至
(G)はサーボ信号未記録の磁気ディスク20Xの第1
の製造方法を示す。先ず、図9(A)に示すように、ガ
ラス基板21の上面の全面に、直流スパッタリング法に
よってスパッタリングを行なって、、最初に、Cr製の下
地膜(図示せず)、次いで、Co66Cr24Pt8Ta2合金膜23
を形成し、フォトレジスト40を塗布し、フォトリソグ
ラフィによってパターニングを行なう。Crのスパッタリ
ングは、堆積速度:5nm/s、Arガス圧:5mTo
rr、基板加熱温度:200℃の条件で行なう。Co66Cr
24Pt8Ta2合金のスパッタリングは、堆積速度:3nm/
s、Arガス圧:5mTorr、基板加熱温度:200
℃の条件で行なう。フォトリソグラフィは、フォトレジ
スト30の厚さ:1μm、パターニング:密着露光の条
件で行なう。
【0022】次いで、同図(B)に示すように、イオン
ミリングを行い、Co66Cr24Pt8Ta2合金膜23のうちサー
ボ領域となる個所をガラス基板21面までエッチングし
て掘り込む。イオンミリングは、出力:0.2kW、A
rガス圧:2mTorrの条件で行なう。次いで、同図
(C)に示すように、直流スパッタリング法によってス
パッタリングを行なって、最初に、Cr製の下地膜(図示
せず)、次いで、Tb20Fe80合金膜24を形成して、サー
ボ領域にTb20Fe80合金膜24をCo66Cr24Pt8Ta2合金膜2
3より若干厚めに埋め込む。Crのスパッタリングは上記
と同じ条件で行なう。Tb20Fe80合金のスパッタリング
は、堆積速度:3nm/s、Arガス圧:5mTor
r、基板加熱無しの条件で行なう。
【0023】次いで、同図(D)に示すように、リフト
オフを行なって、フォトレジスト40を除去する。リフ
トオフは、アセトン内での10分間の超音波洗浄を3回
行い、且つ、イソプロピルアルコール内での10分間の
超音波洗浄を1回行なうことによってなされる。次い
で、同図(E)に示すように、磁気ディスクのCo66Cr24
Pt8Ta2合金膜23とTb20Fe80合金膜24側を研磨盤41
でもって研磨して、Co66Cr24Pt8Ta2合金膜23とTb20Fe
80合金膜24とを平坦化する。同図(F)は平坦化され
た磁気ディスクを示す。
【0024】最後に、同図(G)に示すように、直流ス
パッタリング法によってカーボンのスパッタリングを行
なって、平坦化された磁気ディスクの上面にカーボン膜
25を形成する。カーボンのスパッタリングは、堆積速
度:2nm/s、Arガス圧:5mTorr、基板加熱
無しの条件で行なう。これによって、サーボ信号未記録
の磁気ディスク20Xが完成する。スパッタリングを上
記の条件で行なうことによって、Tb20Fe80合金膜24は
緻密な構造となっている。
【0025】図10(A)乃至(G)は第2の製造方法
を示す。図10(A)に示す工程は図9(A)と同じ工
程であり、図10(B)に示す工程は図9(B)と同じ
工程である。次いで、図10(C)に示すように、リフ
トオフを行なって、フォトレジスト40を除去する。
【0026】次いで、同(D)に示すように、スパッタ
リングを行なって、最初に、Cr製の下地膜(図示せ
ず)、次いで、Tb20Fe80合金膜24を形成して、サーボ
領域にTb20Fe80合金膜24をCo66Cr24Pt8Ta2合金膜23
より厚めに埋め込む。次いで、同図(E)に示すよう
に、磁気ディスクのTb20Fe80合金膜24側を研磨盤31
でもって研磨して、Co66Cr24Pt8Ta2合金膜23とTb20Fe
80合金膜24とを平坦化する。同図(F)は平坦化され
た磁気ディスクを示す。
【0027】最後に、同図(G)に示すように、カーボ
ンのスパッタリングを行なって、平坦化された磁気ディ
スクの上面にカーボン膜25を形成する。各スパッタリ
ングの条件及びリフトオフの条件等は、第1の製造方法
の場合と同じである。これによって、サーボ信号未記録
の磁気ディスク20Xが完成する。
【0028】(磁気ディスク20Xへのサーボ信号の書
き込み)次に、上記のように製造されたサーボ信号未記
録の磁気ディスク20Xのサーボ領域27のTb20Fe80合
金膜24にサーボ信号を書き込むことについて説明す
る。図11はサーボ信号書き込み装置50を示す。サー
ボ信号書き込み装置50は、磁気ディスク20Xを高速
回転させるスピンドルモータ51と、高速回転する磁気
ディスク20Xに対して浮上するスライダ装置52と、
スライダ装置52を磁気ディスク20Xの半径方向に移
動させるアクチュエータ53と、レーザ54と、光変調
器56と、コントローラ57とを有する。光変調器56
は、レーザ54よりのレーザ光55を変調させて、変調
レーザ光58をスライダ装置52に導入させる。コント
ローラ57はスライダ装置52のリードヘッド63から
の出力信号を供給されて、アクチュエータ53及び光変
調器56を制御する。また、光ファイバを光変調器56
とスライダ装置52との間に設けて、光変調器56で変
調レーザ光58を光ファイバによってガイドさせてスラ
イダ装置52に導くようにしてもよい。
【0029】スライダ装置52は、図12に拡大して示
すように、スライダ本体60に、半球状のソリッドイマ
ージョンレンズ61、プリフォーカスレンズ62、磁気
抵抗効果ヘッド63、磁界発生用コイル64を有する構
成である。スライダ本体60は、中央に縦向きの貫通開
口60aが形成してある。プリフォーカスレンズ62
は、貫通開口60aの上側の個所に設けてあり、ソリッ
ドイマージョンレンズ61は、平面61aが下側を向い
た姿勢で且つスライダ本体60の下面60bと一致され
て設けてある。近接場光を用いるべく、スライダ本体6
0の磁気ディスク20Xに対する浮上量fは100〜1
50nm程度とされる。変調レーザ光58は、プリフォ
ーカスレンズ62でもって集光され、更には、ソリッド
イマージョンレンズ61でもって更に集光される。集光
される光のうちの近接場光は磁気ディスク20XのTb20
Fe80合金膜24に、(1/n)×(λ/NA)で表され
る小さい径のスポット65が形成される。nはソリッド
イマージョンレンズ61の屈折率、λは変調レーザ光5
8の波長、NAはソリッドイマージョンレンズ61の開
口数である。
【0030】磁界発生用コイル64は、スライダ本体6
0の下面60bに、ソリッドイマージョンレンズ61を
囲んで設けてあり、磁気ディスク20Xにディスク面に
垂直の方向の磁場を発生する。磁気抵抗効果ヘッド63
は、スライダ本体60のうち磁気ディスク20Xに対す
る走査方向上、先頭側の側面60cに設けてある。
【0031】なお、上記の半球状のソリッドイマージョ
ンレンズ61に代えて、超半球状のソリッドイマージョ
ンレンズを設けた構成としてもよい。この場合には、λ
/n2 で表される小さい径のスポットが形成される。例
えば、屈折率n=2のソリッドイマージョンレンズで、
波長λ=400nmの青色レーザ光を使用すれば、スポ
ットの径は僅かに100nmである。
【0032】磁気ディスク20Xのサーボ領域27のTb
20Fe80合金膜24にサーボ信号を書き込む動作は、光磁
気記録方式に従って、図13に示すように行なわれる。
先ず、図13(A)に示すように、磁気ディスク20X
をサーボ信号書き込み装置50のスピンドルモータ51
に取り付けて回転させ、スライダ装置52が磁気ディス
ク20Xの上面に対して、100〜150nm程度浮上
した状態とする。また、磁界発生用コイル64に通電し
て、上記のスポット65が形成される場所に、磁力線の
向きが図13(A)中、上向きとなる外部磁場70を形
成する。また、光変調器56の変調度を零とし、レーザ
光58をプリフォーカスレンズ62及びソリッドイマー
ジョンレンズ61を通して磁気ディスク20XのCo66Cr
24Pt8Ta2合金膜23とTb20Fe80合金膜24とに集光させ
る。この状態で、スライダ装置52を磁気ディスク20
Xの半径方向にシークさせて、磁気ディスク20Xの全
面をDCイレーズする。
【0033】DCイレーズされると、磁気ディスク20
Xは、同図(B),(C)に示すように、全部のサーボ
領域27のTb20Fe80合金膜24が、全面に亘って、磁化
容易軸28が上向きに揃った状態、即ち、全部のサーボ
領域27のTb20Fe80合金膜24の全面がディスク面25
に対して垂直の方向に磁化された状態となる。データ領
域26を構成するCo66Cr24Pt8Ta2合金膜23は磁化容易
軸がディスク面と同じ方向であるため、上記の外部磁場
70が作用しても磁化されない。
【0034】次いで、同図(D),(E)に示すよう
に、スライダ装置52を磁気ディスク20Xの半径方向
にシークさせて、磁気抵抗効果ヘッド63によって、サ
ーボ領域27の位置を割り出す。磁気抵抗効果ヘッド6
3は、同図(E)に示すように、データ領域26を相対
的に走査している間は出力が零であり、データ領域26
を相対的に走査している間はパルス71を発生する。よ
って、磁気抵抗効果ヘッド63から出力されるパルス7
1の位置に基づいて、磁気ディスク20Xのサーボ領域
27の位置を割り出すことが可能となる。
【0035】次いで、サーボ信号を書き込む。即ち、同
図(F),(G)に示すように、磁界発生用コイル64
に前記と逆の向きに通電して、上記のスポット65が形
成される場所に、磁力線の向きが下向きとなる外部磁場
72を形成する。磁気抵抗効果ヘッド63から出力され
るパルス71の立ち上がりタイミングに合わせて光変調
器56を規則的に所定時間変調動作させる。所定時間
は、レーザ光58がサーボ領域27を相対的に横切るに
要する時間である。これによって、スライダ装置52が
サーボ領域27を相対的に走査する都度、変調されたレ
ーザ光58がスライダ装置52に断続的に送られ、変調
されたレーザ光58は、プリフォーカスレンズ62及び
ソリッドイマージョンレンズ61を通して集光されて、
磁気ディスク20Xのうちサーボ領域27を選択して相
対的に横切るように走査する。
【0036】同図(G)に示すように、変調されたレー
ザ光58のスポット65が形成された部分73が加熱さ
れてキュリー温度にまで上昇され、外部磁場72の作用
でこの部分73の磁化容易軸28が、同図(G)に示す
ように、符号28aで示すように下向きに反転される。
上記の部分73は、スポット65の個所を通りすぎると
温度が低下し、磁化容易軸28aは下向きの状態に固定
される。この動作が繰り返し行なわれて、一つのサーボ
領域27に、例えば、図5に示すパターンのサーボ信号
が書き込まれる。
【0037】以上によって、ハードディスクドライブ用
磁気ディスク20が完成する。(磁気ディスク20及び
ハードディスクドライブ30の特性)次に、上記のハー
ドディスクドライブ用磁気ディスク20及びハードディ
スクドライブ30の特性について説明する。 サーボ信号の磁化の経時変化について 本発明者は、上記の磁気ディスク20のサーボ信号の記
録状態の安定性等について、前記と同様の条件で、実験
を行なった。
【0038】先ず、磁気ディスク20を70℃の環境に
放置して、サーボ領域27のTb20Fe80合金膜24の磁化
の経時変化を見てみた。磁化は、図6中、線Iで示すよ
うに変化した。10時間経過後、磁化の放置開始時に比
べての減少は僅か0.6%に留まっている。0.6%減
は、従来のCo66Cr24Pt8Ta2合金膜13に書き込まれたサ
ーボ信号の磁化の経時変化の6.2%減に比べて1/1
0と小さく、Tb20Fe80合金膜24に書き込まれたサーボ
信号の磁化の安定性は非常に高い。
【0039】一般にハードディスクドライブ用磁気ディ
スクは、データを書き込んでから10年後の信号強度が
書き込み時の90%以上であることが必要である。磁化
の減少の程度が上記のように小さいと、10年後におい
ても信号強度は書き込み時の90%より十分に大きく、
問題は起きない。 サーボ信号のS/N比の経時変化について 磁気抵抗効果ヘッドを用いて磁気ディスク20を再生し
て、磁気ディスク10のサーボ信号のS/N比の経時変
化を見てみた。図7に示すように、サーボ信号を書き込
んだ直後では、サーボ信号のS/N比は31.5dBであ
った。磁気ディスク20を70℃の環境に1000時間
放置した後では、サーボ信号のS/N比は31.3dBで
あった。劣化の量は、僅か0.2dBである。0.2dB
は、従来のCo66Cr24Pt8Ta2合金膜13を使用した場合の
劣化の量3dBに比べて、1/15と小さく、サーボ信号
の記録状態の安定度は高い。
【0040】 サーボ信号のパターンの緻密性及びク
リア性について 磁化容易軸の方向を変えられる部分の最小の領域は、レ
ーザ光58のスポット65が形成された部分73であ
る。プリフォーカスレンズ62及びソリッドイマージョ
ンレンズ61を使用し、且つ近接場光を用いているた
め、上記の部分73は径dが数100nmと極く小さく
なる。よって、サーボ信号は緻密に書き込まれ、サーボ
信号のパターンは、図5に示すように、図2に示すサー
ボ信号のパターンに比べて縁の部分がクリアとなってい
る。
【0041】このため、サーボ信号を書き込んだ直後で
は、サーボ信号のS/N比は31.5dBであり、従来の
場合の26.2dBに比べて、5dBも高くなっている。 サーボの精度について サーボ信号のS/N比が31.5dBと高いため、図8に
示すハードディスクドライブ30において、ヘッドスラ
イダ35の位置決めは従来に比べて精度良く行なわれ
る。
【0042】 記録容量について ヘッドスライダ35の位置決めは従来に比べて精度良く
行なわれるため、磁気ディスク20は従来に比べてトラ
ックピッチが狭くされ、単位インチ当たりのトラック数
が増やされて、従来に比べて、大きい記録容量を有す
る。 使用温度範囲について 図4に示すように、Tb20Fe80合金膜24はキュリー点T
cが例えば130℃であり、補償点Tcompが例えば−7
0℃である。キュリー点Tcは70℃以上であり、補償
点Tcompは0℃以下である。一般にハードディスクドラ
イブでは、動作時の内部の温度は0〜70℃であり、ハ
ードディスクドライブが通常の条件の下で使用されてい
る限りは、サーボ信号は正常に維持され、正常に読み取
られる。
【0043】 データのリフレッシュについて 図8のハードディスクドライブ30において、データ領
域26のCo66Cr24Pt8Ta2合金膜23に記録されているデ
ータを長い時間安定に保持する手法として、所定時間経
過毎に、記録されているデータを消去し、再度同じデー
タを記録する、所謂リフレッシュ方式がある。上記のよ
うにサーボ信号の記録状態の安定度が高いため、リフレ
ッシュ方式が安定に行なわれる。
【0044】 ヘッドスライダ35の浮上耐久性につ
いて 本発明者は、サーボ領域とデータ領域との表面段差の異
なる磁気ディスクのサンプルを用意し、図14(A)に
示す装置80を使用して、表面段差とヘッドスライダ3
5の浮上耐久性との関係を実験で確かめた。表面段差
は、前記の図9中のイオンミリングの掘り込み量を変え
ることで変化させた。図14(A)中、81はアコース
ティックエミッション(AE)センサであり、ヘッドス
ライダ35の支持部に張り付けてある。このAEセンサ
81の出力が、アンプ82及びフィルタ83を通して出
力される。サンプルの磁気ディスク90をモータ84に
セットして高速で回転させ、ヘッドスライダ35の位置
での周速度を10m/sとし、ヘッドスライダ35の磁
気ディスク90に対する浮上量を20nmとし、AEセ
ンサ81の出力を観察する。ヘッドクラッシュが発生し
たことは、AEセンサ81の出力から分かる。
【0045】図14(B)が実験の結果である。表面段
差が1.9nmの磁気ディスクでは、ヘッドスライダ3
5が磁気ディスクと顕著に接触することが、1000時
間以上起きなかった。表面段差が4.7nmの磁気ディ
スクでも、ヘッドスライダ35が磁気ディスクと顕著に
接触することが、1000時間以上起きなかった。表面
段差が15nmの磁気ディスクの場合には、段差の部分
がヘッドスライダ35に当たって、ヘッドスライダ35
を磁気ディスクから浮上させることが困難であった。表
面段差が8.2nmの磁気ディスクの場合には、浮上は
したものの、浮上開始から3時間程度経過した時点で、
磁気ディスクがヘッドスライダ35と顕著に接触してヘ
ッドクラッシュが発生した。
【0046】上記磁気ディスク20は、データ領域26
の表面26aとサーボ領域27の表面27aとの段差s
が5nm以下であるため、ヘッドクラッシュは1000
時間以上発生せず、優れた浮上耐久性を有する。 〔第2実施例〕図15は、は本発明の第2実施例になる
ハードディスクドライブ用磁気ディスク20Aを示す。
この磁気ディスク20Aは、前記の磁気ディスク20と
はサーボ領域27の膜が相違する。
【0047】サーボ領域27は、SmCo膜90であ
り、サーボ信号が書き込まれている。SmCo膜90
は、遷移金属と重希土類元素との化合物であり、磁区を
有する構成であり、磁化容易軸は磁気ディスク20Aの
面方向であり、室温で4kOe以上の高い保磁力を有す
るサーボ信号の書き込みは、レーザと面方向の磁場を発
生させる磁気ヘッドを備えたサーボ信号書き込み装置を
使用して行なう。即ち、レーザ光をSmCo合金膜90
に照射して加熱して、保磁力を下げ、磁気ヘッドによっ
て面方向の磁場を作用させることによって行なわれる。
SmCo合金膜90の保磁力は高いため、書き込まれた
サーボ信号は安定に保持される。
【0048】なお、SmCo膜90に代えて、NdFe
膜を使用してもよく、同様の効果を有する。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明
は、円周方向に沿って、第1の磁性膜と、前記第1の磁
性膜とは異なる磁性膜であって、前記第1の磁性膜より
磁化の熱的安定性の高い第2の磁性膜が交互にもうけら
れてなる構成としたものであるため、以下の効果を有す
る。
【0050】 第2の磁性膜にサーボ信号を書き込こ
んだ場合に、書き込まれているサーボ信号が従来に比べ
て安定に維持されるサーボ信号書き込み済みの磁気ディ
スクを実現できる。よって、書き込まれているサーボ信
号が従来に比べて安定に維持されているため、この磁気
ディスクは、記録されているデータを所定時間毎に消去
して、再度同じデータを書き込む、所謂リフレッシュ
(再書き込み)を、安定に行なうことが出来る。
【0051】 第2の磁性膜にサーボ信号を書き込こ
んだ場合に、書き込まれているサーボ信号が従来に比べ
て安定に維持されるため、磁性膜が磁区を有しない構成
のものである場合には、磁化容易軸を同じ向きとされる
領域を、熱揺らぎ等の問題を起こす虞れなく体積が小さ
いものに出来る。また、磁性膜が磁区を有する構成のも
のである場合には、単磁区粒子をを熱揺らぎ等の問題を
起こす虞れなく体積が小さいものに出来る。これによっ
て、サーボ信号をより高密度に記録することが出来る。
よって、サーボをより高精度に行なうことが出来るよう
になり、トラックを狭くして情報を高密度に記録する将
来的な傾向に対応することが可能となる。
【0052】請求項2の発明は、請求項1の磁気ディス
クにおいて;上記サーボ信号書き込み済み領域を構成す
る磁性膜は、熱的安定性が、70℃の環境に10時間放
置した場合において、サーボ信号書き込み時からの磁化
の減少が4.2%以下である特性を有するものとしたも
のであるため、書き込まれたサーボ信号について、10
年後に、書き込み時の信号強度の90%以上の信号強度
を保証することが出来る。
【0053】請求項3の発明は、サーボ信号書き込み済
みの磁気ディスクと;記録再生用磁気ヘッドとを有し;
該サーボ信号書き込み済みの磁気ディスクが、データを
記録するデータ記録領域と磁気ヘッド位置決め用のサー
ボ信号が書き込まれたサーボ信号書き込み済み領域とを
有し、該サーボ信号書き込み済み領域を、データ記録領
域を構成する磁性膜とは異なる磁性膜であって、データ
記録領域を構成する磁性膜より磁化の熱的安定性の高い
磁性膜で構成したものであるため、書き込まれているサ
ーボ信号が従来に比べて安定に維持されているため、こ
の磁気ディスクは、記録されているデータを所定時間毎
に消去して、再度同じデータを書き込む、所謂リフレッ
シュ(再書き込み)を、安定に行なうことが出来る。
【0054】請求項4の発明は、ディスク基板の全面
に、第1の磁性膜を形成し、第1の磁性膜を部分的に除
去し、第1の磁性膜が除去された部分を埋めるように、
第1の磁性膜より磁化の熱的安定性の高い第2の磁性膜
を形成するようにしたものである。この構成によって、
サーボ信号を第2の磁性膜に書き込んだ場合に、書き込
んだサーボ信号を従来に比べて安定に維持することが可
能である磁気ディスクを製造することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の磁気ディスクを示す図である。
【図2】サーボ信号の記録パターンの1例を示す図であ
る。
【図3】本発明の第1実施例になる磁気ディスクを示す
図である。
【図4】Tb20Fe80合金膜の磁気−温度特性を示す図であ
る。
【図5】サーボ信号の記録パターンの1例を示す図であ
る。
【図6】サーボ領域の合金膜に書き込まれたサーボ信号
の磁化の経時変化を示す図である。
【図7】サーボ領域の合金膜に書き込まれたサーボ信号
のS/Nの経時変化を示す図である。
【図8】図3の磁気ディスクが組み込まれたハードディ
スクドライブを示す図である。
【図9】図3の磁気ディスクの第1の製造方法を示す図
である。
【図10】図3の磁気ディスクの第2の製造方法を示す
図である。
【図11】サーボ信号書き込み装置を示す図である。
【図12】図11中のスライダ装置を拡大して示す図で
ある。
【図13】サーボ信号の書き込みを説明する図である。
【図14】ヘッドスライダの浮上耐久性を説明する図で
ある。
【図15】本発明の第2実施例になる磁気ディスクを示
す図である。
【符号の説明】
20、20A ハードディスクドライブ用磁気ディスク 20X サーボ信号未記録の磁気ディスク 26 データ領域 27 サーボ領域 23 Co66Cr24Pt8Ta2合金膜 24 Tb20Fe80合金膜 50 サーボ信号書き込み装置 52 スライダ装置 54 レーザ 56 光変調器 61 半球状のソリッドイマージョンレンズ 62 プリフォーカスレンズ 63 磁気抵抗効果ヘッド 64 磁界発生用コイル 90 SmCo膜

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 円周方向に沿って、第1の磁性膜と、前
    記第1の磁性膜とは異なる磁性膜であって、前記第1の
    磁性膜より磁化の熱的安定性の高い第2の磁性膜が交互
    にもうけられてなることを特徴とする磁気ディスク。
  2. 【請求項2】 前記第1の磁性膜にデータが記録され、
    前記第2の磁性膜にサーボ信号が記録されることを特徴
    とする請求項1に記載の磁気ディスク。
  3. 【請求項3】 サーボ信号書き込み済みの磁気ディスク
    と、 記録再生用磁気ヘッドとを有し、 該サーボ信号書き込み済みの磁気ディスクが、データを
    記録するデータ記録領域と磁気ヘッド位置決め用のサー
    ボ信号が書き込まれたサーボ信号書き込み済み領域とを
    有し、該サーボ信号書き込み済み領域を、データ記録領
    域を構成する磁性膜とは異なる磁性膜であって、データ
    記録領域を構成する磁性膜より磁化の熱的安定性の高い
    磁性膜で構成した磁気ディスク装置。
  4. 【請求項4】 ディスク基板の全面に、第1の磁性膜を
    形成し、 第1の磁性膜を部分的に除去し、 第1の磁性膜が除去された部分を埋めるように、第1の
    磁性膜より磁化の熱的安定性の高い第2の磁性膜を形成
    するようにした磁気ディスクを製造する方法。
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