JP2001184018A - 電子機器の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法 - Google Patents
電子機器の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法Info
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- JP2001184018A JP2001184018A JP36717699A JP36717699A JP2001184018A JP 2001184018 A JP2001184018 A JP 2001184018A JP 36717699 A JP36717699 A JP 36717699A JP 36717699 A JP36717699 A JP 36717699A JP 2001184018 A JP2001184018 A JP 2001184018A
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- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＸＧＡと呼ばれる高解像度の表示をテストす
る場合、データのクロック周波数が６５ＭＨｚと非常に
高速になるため、安価で尚且つ高解像度の表示まで自動
でかつ確実に判定できる汎用の表示信号自動判定装置を
提供することである。 【解決手段】 上記課題を解決するために、電子機器と
ＬＣＤを接続するＬＶＤＳ信号を取り出し、ＬＶＤＳ信
号をＳＲＡＭからなる記憶部へ書き込むタイミングを生
成するタイミング生成回路と、前記記憶部に格納された
内容と、予め登録されている表示パターンデータとを比
較する比較部とからなり、表示データに埋め込まれた表
示パターンのＩＤ番号と一致する、表示パターンとして
中速または低速の記憶部に登録した内容とを比較するこ
とにより信号を比較し回路が正常に動作しているかどう
かを自動で評価する。
る場合、データのクロック周波数が６５ＭＨｚと非常に
高速になるため、安価で尚且つ高解像度の表示まで自動
でかつ確実に判定できる汎用の表示信号自動判定装置を
提供することである。 【解決手段】 上記課題を解決するために、電子機器と
ＬＣＤを接続するＬＶＤＳ信号を取り出し、ＬＶＤＳ信
号をＳＲＡＭからなる記憶部へ書き込むタイミングを生
成するタイミング生成回路と、前記記憶部に格納された
内容と、予め登録されている表示パターンデータとを比
較する比較部とからなり、表示データに埋め込まれた表
示パターンのＩＤ番号と一致する、表示パターンとして
中速または低速の記憶部に登録した内容とを比較するこ
とにより信号を比較し回路が正常に動作しているかどう
かを自動で評価する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＬＣＤへ表示する
ためのデジタル信号を出力する電子機器の基板の検査工
程において、電子機器からＬＣＤへの表示信号を、人手
を介して目視検査することなく自動的に判定を行うもの
である。
ためのデジタル信号を出力する電子機器の基板の検査工
程において、電子機器からＬＣＤへの表示信号を、人手
を介して目視検査することなく自動的に判定を行うもの
である。
【０００２】
【従来の技術】マトリックス駆動の液晶ディスプレイ
（以下ＬＣＤ）を備えた電子機器を製造・検査する工程
において、その電子機器の回路が正常に動作しているか
どうかの判定に、電子機器の出力信号をＬＣＤに表示、
その表示した画像を作業者が目視により正常に動作して
いるか否かを確認していた。
（以下ＬＣＤ）を備えた電子機器を製造・検査する工程
において、その電子機器の回路が正常に動作しているか
どうかの判定に、電子機器の出力信号をＬＣＤに表示、
その表示した画像を作業者が目視により正常に動作して
いるか否かを確認していた。
【０００３】また、目視による検査を自動化するため
に、電子機器にはＣＲＴへの出力信号端子を備える場合
が多々あるため、ＣＲＴ表示のためのＲＧＢ映像信号を
検知して、映像信号の振幅やタイミングから電子機器が
正常に動作しているかどうかを検出する方法もある。Ｒ
ＧＢ映像信号は数十ＭＨｚ前後のアナログ信号であり、
検査治具で信号を検出するためには、Ａ／Ｄコンバータ
を用いて映像信号を一旦数値データに変換する必要があ
った。ところが、Ａ／Ｄコンバータを動作させるための
タイミングは数十ＭＨｚ前後と周波数が高く、高速の信
号に正確に同期をとるにはＰＬＬなどよる複雑なタイミ
ング生成回路が必要であり、かつノイズなどの影響をう
けて誤動作し易いという課題があった。
に、電子機器にはＣＲＴへの出力信号端子を備える場合
が多々あるため、ＣＲＴ表示のためのＲＧＢ映像信号を
検知して、映像信号の振幅やタイミングから電子機器が
正常に動作しているかどうかを検出する方法もある。Ｒ
ＧＢ映像信号は数十ＭＨｚ前後のアナログ信号であり、
検査治具で信号を検出するためには、Ａ／Ｄコンバータ
を用いて映像信号を一旦数値データに変換する必要があ
った。ところが、Ａ／Ｄコンバータを動作させるための
タイミングは数十ＭＨｚ前後と周波数が高く、高速の信
号に正確に同期をとるにはＰＬＬなどよる複雑なタイミ
ング生成回路が必要であり、かつノイズなどの影響をう
けて誤動作し易いという課題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】昨今はノートパソコン
においてもＸＧＡと呼ばれる高解像度の表示が行われる
ようになってきた。ＸＧＡタイプの表示においては電子
機器からＬＣＤへ転送するデータのクロック周波数が６
５ＭＨｚと非常に高速になるため、信号を確実に転送す
るためＬＶＤＳと呼ばれる高速でかつ振幅の小さいデジ
タル信号を用いることが主流となってきている。
においてもＸＧＡと呼ばれる高解像度の表示が行われる
ようになってきた。ＸＧＡタイプの表示においては電子
機器からＬＣＤへ転送するデータのクロック周波数が６
５ＭＨｚと非常に高速になるため、信号を確実に転送す
るためＬＶＤＳと呼ばれる高速でかつ振幅の小さいデジ
タル信号を用いることが主流となってきている。
【０００５】ＬＶＤＳで送られる信号にはデータに加え
てクロック信号もあるため、表示のための信号から簡単
な制御回路を用いるだけで、メモリーにデータを取り込
むことが可能となり、高価でかつ複雑な機能を必要とす
るＡ／Ｄコンバータやタイミング生成回路が不要とな
り、自動で電子機器の表示回路を検査することが可能と
なる。
てクロック信号もあるため、表示のための信号から簡単
な制御回路を用いるだけで、メモリーにデータを取り込
むことが可能となり、高価でかつ複雑な機能を必要とす
るＡ／Ｄコンバータやタイミング生成回路が不要とな
り、自動で電子機器の表示回路を検査することが可能と
なる。
【０００６】また、表示する画像データはデジタル信号
で処理されるため、データの欠落がおこらないため、画
像データの一部に表示パターンなどの検査にかかる情報
を盛り込むことが可能となる。
で処理されるため、データの欠落がおこらないため、画
像データの一部に表示パターンなどの検査にかかる情報
を盛り込むことが可能となる。
【０００７】本発明の目的は、安価で尚且つ高解像度の
表示まで自動でかつ確実に判定できる汎用の表示信号自
動判定装置を提供することである。
表示まで自動でかつ確実に判定できる汎用の表示信号自
動判定装置を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、電子機器とＬＣＤを接続するＬＶＤＳ信号を取り出
し、ＬＶＤＳ信号をＳＲＡＭからなる記憶部へ書き込む
タイミングを生成するタイミング生成回路と、前記記憶
部に格納された内容と、予め登録されている表示パター
ンデータとを比較する比較部とからなり、タイミング生
成部が発生するアドレスに従い高速のＳＲＡＭへ記憶
し、高速のＳＲＡＭに記憶した内容と予め表示パターン
として中速または低速の記憶部に登録した内容と比較す
ることにより信号を比較し回路が正常に動作しているか
どうかを評価する。
に、電子機器とＬＣＤを接続するＬＶＤＳ信号を取り出
し、ＬＶＤＳ信号をＳＲＡＭからなる記憶部へ書き込む
タイミングを生成するタイミング生成回路と、前記記憶
部に格納された内容と、予め登録されている表示パター
ンデータとを比較する比較部とからなり、タイミング生
成部が発生するアドレスに従い高速のＳＲＡＭへ記憶
し、高速のＳＲＡＭに記憶した内容と予め表示パターン
として中速または低速の記憶部に登録した内容と比較す
ることにより信号を比較し回路が正常に動作しているか
どうかを評価する。
【０００９】また、本発明においては電子機器が出力す
る信号の一部に表示パターンを識別するためのコードを
埋め込むことにより、そのコードと一致する参照データ
と低速の記憶部に格納してある表示データから選択し
て、高速の記憶部に取り込んだデータと比較することに
より、検査治具に特別な操作を行なうことなく、複数の
表示パターンを用いて検査することができ、１枚の検査
治具で基本的な表示パターンを全て判定でき、検査治具
（基板）を安価に提供することができる。
る信号の一部に表示パターンを識別するためのコードを
埋め込むことにより、そのコードと一致する参照データ
と低速の記憶部に格納してある表示データから選択し
て、高速の記憶部に取り込んだデータと比較することに
より、検査治具に特別な操作を行なうことなく、複数の
表示パターンを用いて検査することができ、１枚の検査
治具で基本的な表示パターンを全て判定でき、検査治具
（基板）を安価に提供することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、液晶表示のためのＬＶＤＳ信号出力を備えた電子機
器と、前記電子機器が出力する液晶表示のための信号を
一旦蓄える第一の記憶部と、前記電子機器が出力する液
晶表示のための信号を前記第一の記憶部に格納するため
のタイミングとアドレスを発生するタイミング生成部
と、前記電子機器が正常に表示した場合の表示パターン
に一致するデータを格納する第二の記憶部と、前記第一
の記憶部の内容と前記第二の記憶部の内容を比較する比
較部と、前記比較部が一致あるいは不一致を検出した結
果を出力する判定部と、前記判定部の結果を表示する表
示部を備えたことを特徴とする電子機器の表示機能の自
動判定システムおよび自動判定方法であり、電子機器の
検査を目視に頼ることなく検査治具により判定できるた
め、検査時間の短縮と目視による検査漏れを防ぐことが
可能となる。
は、液晶表示のためのＬＶＤＳ信号出力を備えた電子機
器と、前記電子機器が出力する液晶表示のための信号を
一旦蓄える第一の記憶部と、前記電子機器が出力する液
晶表示のための信号を前記第一の記憶部に格納するため
のタイミングとアドレスを発生するタイミング生成部
と、前記電子機器が正常に表示した場合の表示パターン
に一致するデータを格納する第二の記憶部と、前記第一
の記憶部の内容と前記第二の記憶部の内容を比較する比
較部と、前記比較部が一致あるいは不一致を検出した結
果を出力する判定部と、前記判定部の結果を表示する表
示部を備えたことを特徴とする電子機器の表示機能の自
動判定システムおよび自動判定方法であり、電子機器の
検査を目視に頼ることなく検査治具により判定できるた
め、検査時間の短縮と目視による検査漏れを防ぐことが
可能となる。
【００１１】請求項２に記載の発明は、液晶表示のため
のＬＶＤＳ信号出力を備えた電子機器と、前記電子機器
が出力する液晶表示のための信号を一旦蓄える第一の記
憶部と、前記電子機器が出力する液晶表示のための信号
を前記第一の記憶部に格納するためのタイミングとアド
レスを発生するタイミング生成部と、前記電子機器が正
常に表示した場合の表示パターンに一致するデータを格
納する第二の記憶部と、前記第一の記憶部の内容と前記
第二の記憶部の内容を比較する比較部と、前記比較部が
一致あるいは不一致を検出した結果を出力する判定部
と、前記判定部の結果を前記電子機器に伝達するインタ
ーフェース部とを備え、前記判定部の結果に基づき前記
電子機器のテスト結果を記録することを特徴とする表示
機能の自動判定システムおよび自動判定方法であり、検
査結果を被検査の電子機器にフィードバックするため、
液晶表示を含む電子機器の検査全体を全自動化できると
いう作用を有する。
のＬＶＤＳ信号出力を備えた電子機器と、前記電子機器
が出力する液晶表示のための信号を一旦蓄える第一の記
憶部と、前記電子機器が出力する液晶表示のための信号
を前記第一の記憶部に格納するためのタイミングとアド
レスを発生するタイミング生成部と、前記電子機器が正
常に表示した場合の表示パターンに一致するデータを格
納する第二の記憶部と、前記第一の記憶部の内容と前記
第二の記憶部の内容を比較する比較部と、前記比較部が
一致あるいは不一致を検出した結果を出力する判定部
と、前記判定部の結果を前記電子機器に伝達するインタ
ーフェース部とを備え、前記判定部の結果に基づき前記
電子機器のテスト結果を記録することを特徴とする表示
機能の自動判定システムおよび自動判定方法であり、検
査結果を被検査の電子機器にフィードバックするため、
液晶表示を含む電子機器の検査全体を全自動化できると
いう作用を有する。
【００１２】請求項３に記載の発明は、前記表示パター
ンの一部は表示する表示パターンを特定する表示パター
ン番号データであり、前記表示パターン番号データが一
致する表示パターンを前記第二の記憶部に格納された一
つまたは複数の表示パターンより選択して、前記比較部
により比較することを特徴とする請求項１または２に記
載の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法で
あり、複数の表示パターンを手動で切替えたり、被検査
機器と検査治具の間で特別なやりとりをすることなく、
複数の表示パターンを利用できるという作用を有する。
ンの一部は表示する表示パターンを特定する表示パター
ン番号データであり、前記表示パターン番号データが一
致する表示パターンを前記第二の記憶部に格納された一
つまたは複数の表示パターンより選択して、前記比較部
により比較することを特徴とする請求項１または２に記
載の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法で
あり、複数の表示パターンを手動で切替えたり、被検査
機器と検査治具の間で特別なやりとりをすることなく、
複数の表示パターンを利用できるという作用を有する。
【００１３】請求項４に記載の発明は、前記表示パター
ンの一部は表示する表示パターンを第二の記憶部に格納
を指示する符号であり、前記符号が表示パターンを予め
定めた格納符号と一致した場合は、前記表示パターンを
第一の記憶部より前記第二の記憶部に転送することを特
徴とする請求項１に記載の表示機能の自動判定システム
および自動判定方法であり、新しい表示パターンを特別
なインターフェースを用いることなく表示のための信号
を用いて更新できるという作用を有する。
ンの一部は表示する表示パターンを第二の記憶部に格納
を指示する符号であり、前記符号が表示パターンを予め
定めた格納符号と一致した場合は、前記表示パターンを
第一の記憶部より前記第二の記憶部に転送することを特
徴とする請求項１に記載の表示機能の自動判定システム
および自動判定方法であり、新しい表示パターンを特別
なインターフェースを用いることなく表示のための信号
を用いて更新できるという作用を有する。
【００１４】請求項７に記載の発明は、液晶表示のため
のＬＶＤＳ信号出力を備えた電子機器と、前記電子機器
が出力する液晶表示のための信号を一旦蓄える第一の記
憶部と、前記電子機器が出力する液晶表示のための信号
を前記第一の記憶部に格納するためのタイミングとアド
レスを発生するタイミング生成部と、前記電子機器が正
常に表示した場合の表示パターンに一致するデータを格
納する第二の記憶部と、前記第一の記憶部の内容と前記
第二の記憶部の内容を比較する比較部と、前記比較部が
一致あるいは不一致を検出した結果を出力する判定部
と、前記判定部の結果を表示する表示部とを備え、前記
液晶表示に表示する画像データより前記第一の記憶部に
記憶する画像データが桁または行方向に大きく、液晶表
示領域を越える領域のデータに表示パターンを埋め込む
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子
機器の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法
であり、表示領域以外の信号を使って表示パターンの番
号を送出するため、全画面の表示パターンを検査したう
えでかつ自動で表示パターンの番号を検出できるという
作用を有する。
のＬＶＤＳ信号出力を備えた電子機器と、前記電子機器
が出力する液晶表示のための信号を一旦蓄える第一の記
憶部と、前記電子機器が出力する液晶表示のための信号
を前記第一の記憶部に格納するためのタイミングとアド
レスを発生するタイミング生成部と、前記電子機器が正
常に表示した場合の表示パターンに一致するデータを格
納する第二の記憶部と、前記第一の記憶部の内容と前記
第二の記憶部の内容を比較する比較部と、前記比較部が
一致あるいは不一致を検出した結果を出力する判定部
と、前記判定部の結果を表示する表示部とを備え、前記
液晶表示に表示する画像データより前記第一の記憶部に
記憶する画像データが桁または行方向に大きく、液晶表
示領域を越える領域のデータに表示パターンを埋め込む
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子
機器の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法
であり、表示領域以外の信号を使って表示パターンの番
号を送出するため、全画面の表示パターンを検査したう
えでかつ自動で表示パターンの番号を検出できるという
作用を有する。
【００１５】以下、本発明の実施の形態について、図１
から図４を用いて説明する。
から図４を用いて説明する。
【００１６】（実施の形態１）図１は本発明の一実施の
形態における電子機器の表示機能自動判定システムのブ
ロックダイアグラムである。
形態における電子機器の表示機能自動判定システムのブ
ロックダイアグラムである。
【００１７】１１はパーソナルコンピュータなどの被検
査電子機器であり液晶表示のためのＬＶＤＳインターフ
ェース１を備える。１２は本発明の自動判定システムの
主な回路を搭載した自動判定基板、２は被検査電子機器
とのインターフェースであるＬＶＤＳインターフェー
ス、３はＬＶＤＳインターフェース２の信号に含まれる
同期信号やクロック信号より高速のＳＲＡＭのアドレス
と書き込みタイミングを発生するアドレス生成回路、６
はＬＶＤＳインターフェースを介して送られてきた表示
データを格納する高速ＳＲＡＭ、８は参照する表示デー
タを格納している中速ＳＲＡＭである。７は制御回路で
あり高速ＳＲＡＭ６と中速ＳＲＡＭ８の内容を呼出す機
能も備える。９は判定回路であり高速ＳＲＡＭ６と中速
ＳＲＡＭ８の内容を比較し一致あるいは不一致の結果を
判定表示１０にて表示する。
査電子機器であり液晶表示のためのＬＶＤＳインターフ
ェース１を備える。１２は本発明の自動判定システムの
主な回路を搭載した自動判定基板、２は被検査電子機器
とのインターフェースであるＬＶＤＳインターフェー
ス、３はＬＶＤＳインターフェース２の信号に含まれる
同期信号やクロック信号より高速のＳＲＡＭのアドレス
と書き込みタイミングを発生するアドレス生成回路、６
はＬＶＤＳインターフェースを介して送られてきた表示
データを格納する高速ＳＲＡＭ、８は参照する表示デー
タを格納している中速ＳＲＡＭである。７は制御回路で
あり高速ＳＲＡＭ６と中速ＳＲＡＭ８の内容を呼出す機
能も備える。９は判定回路であり高速ＳＲＡＭ６と中速
ＳＲＡＭ８の内容を比較し一致あるいは不一致の結果を
判定表示１０にて表示する。
【００１８】図２に本発明の表示データの一例を示す。
【００１９】液晶表示のためのデータは被検査電子機器
に内蔵される表示回路を用いて生成する。一般的にはＶ
ＧＡコントローラと呼ばれる制御用の半導体とＶＲＡＭ
と呼ばれるメモリーとを用いるか、ＶＲＡＭを内蔵した
ＶＧＡコントローラを用いていた。ＶＧＡコントローラ
が扱うデータは、ＸＧＡと呼ばれる高解像度の表示では
１０２４ｘ７６８画素あり、各画素はＲＧＢ各６ビット
からなる。
に内蔵される表示回路を用いて生成する。一般的にはＶ
ＧＡコントローラと呼ばれる制御用の半導体とＶＲＡＭ
と呼ばれるメモリーとを用いるか、ＶＲＡＭを内蔵した
ＶＧＡコントローラを用いていた。ＶＧＡコントローラ
が扱うデータは、ＸＧＡと呼ばれる高解像度の表示では
１０２４ｘ７６８画素あり、各画素はＲＧＢ各６ビット
からなる。
【００２０】被検査電子機器が出力するＬＶＤＳ信号は
自動判定基板１２のＬＶＤＳインターフェースに入力さ
れる。この信号のＨＳＹＮＣ，ＶＳＹＮＣ信号によりア
ドレス生成回路３でアドレスを作る。例えば、ＶＳＹＮ
Ｃを検出するとカウンタをリセットし、ＨＳＹＮＣの後
１０２４まで、ドットクロックによりインクリメントさ
せる。また次のＨＳＹＮＣの後インクリメントすること
によりアドレスを作ることができる。このアドレスを高
速ＳＲＡＭ６のアドレスに入力し、ＬＶＤＳインターフ
ェース２のデータに相当する部分をデータに接続し、ク
ロックに同期して書き込みを行なうことにより被検査電
子機器１１が出力したデータを高速ＳＲＡＭ６に保存す
ることができる。
自動判定基板１２のＬＶＤＳインターフェースに入力さ
れる。この信号のＨＳＹＮＣ，ＶＳＹＮＣ信号によりア
ドレス生成回路３でアドレスを作る。例えば、ＶＳＹＮ
Ｃを検出するとカウンタをリセットし、ＨＳＹＮＣの後
１０２４まで、ドットクロックによりインクリメントさ
せる。また次のＨＳＹＮＣの後インクリメントすること
によりアドレスを作ることができる。このアドレスを高
速ＳＲＡＭ６のアドレスに入力し、ＬＶＤＳインターフ
ェース２のデータに相当する部分をデータに接続し、ク
ロックに同期して書き込みを行なうことにより被検査電
子機器１１が出力したデータを高速ＳＲＡＭ６に保存す
ることができる。
【００２１】次に制御回路７は高速ＳＲＡＭ６のアドレ
ス０（最初のアドレス）に書き込まれたデータを読み出
す。アドレス０はＲＧＢ各６ビットの１８ビットからな
り、この一部を、例えばＲＧＢ各２ビットを割り当てる
と６ビットすなわち６４通りの表示パターンを指定する
ことができる。これを用いて、例えば白ベタの場合は表
示パターン１、黒ベタの場合は表示パターン２、市松模
様の場合は表示パターン３などと示すことにより表示パ
ターンを指定できる。
ス０（最初のアドレス）に書き込まれたデータを読み出
す。アドレス０はＲＧＢ各６ビットの１８ビットからな
り、この一部を、例えばＲＧＢ各２ビットを割り当てる
と６ビットすなわち６４通りの表示パターンを指定する
ことができる。これを用いて、例えば白ベタの場合は表
示パターン１、黒ベタの場合は表示パターン２、市松模
様の場合は表示パターン３などと示すことにより表示パ
ターンを指定できる。
【００２２】制御回路７はここで読み出した表示パター
ンのＩＤ番号を基に中速ＳＲＡＭ８に格納されている表
示パターンのＩＤが一致するものを選択する。選択した
表示パターンのアドレスを中速ＳＲＡＭ８に、同じ画素
位置に相当するアドレスを高速ＳＲＡＭ６に与えてデー
タを読み出す。高速ＳＲＡＭ６および中速ＳＲＡＭ８か
ら読み出されたデータは判定回路９により一致するかど
うかをチェックし、その結果を判定表示１０に表示す
る。また、表示結果はリアルタイムで表示するだけでな
く不一致があった場合は不一致を保持して表示すること
が望ましい。
ンのＩＤ番号を基に中速ＳＲＡＭ８に格納されている表
示パターンのＩＤが一致するものを選択する。選択した
表示パターンのアドレスを中速ＳＲＡＭ８に、同じ画素
位置に相当するアドレスを高速ＳＲＡＭ６に与えてデー
タを読み出す。高速ＳＲＡＭ６および中速ＳＲＡＭ８か
ら読み出されたデータは判定回路９により一致するかど
うかをチェックし、その結果を判定表示１０に表示す
る。また、表示結果はリアルタイムで表示するだけでな
く不一致があった場合は不一致を保持して表示すること
が望ましい。
【００２３】これにより、複数の表示パターンを用いて
検査する場合も、電子機器１１から表示を行なうだけで
自動判定基板１２内で比較を行ない結果を表示すること
が可能となる。また、エラー表示の際は単に表示に不一
致があったことを表示するだけでなく、７ＳＥＧ表示を
用いてＨ−ＰＯＳＩＴＩＯＮとＶ−ＰＯＳＩＴＩＯＮに
分けて表示位置が解るよう表示することが望ましい。ま
た基準データと実測データーの表示方法は、一度に同時
に表示しても良いし、ＳＷにて表示を切り替えて確認し
ても良い。
検査する場合も、電子機器１１から表示を行なうだけで
自動判定基板１２内で比較を行ない結果を表示すること
が可能となる。また、エラー表示の際は単に表示に不一
致があったことを表示するだけでなく、７ＳＥＧ表示を
用いてＨ−ＰＯＳＩＴＩＯＮとＶ−ＰＯＳＩＴＩＯＮに
分けて表示位置が解るよう表示することが望ましい。ま
た基準データと実測データーの表示方法は、一度に同時
に表示しても良いし、ＳＷにて表示を切り替えて確認し
ても良い。
【００２４】ここで使う一画素は表示パターンに使うた
め通常のテストを行なうことはできないためここの画素
に不具合があっても見落とす心配があるが、ＸＧＡでの
１画素分は液晶の点欠陥のレベルから比べても十分低い
ため、たとえ見落としたとしても実使用面では十分に支
障のないレベルにある。
め通常のテストを行なうことはできないためここの画素
に不具合があっても見落とす心配があるが、ＸＧＡでの
１画素分は液晶の点欠陥のレベルから比べても十分低い
ため、たとえ見落としたとしても実使用面では十分に支
障のないレベルにある。
【００２５】参照するデータを中速ＳＲＡＭ８に格納す
る方法で説明したが、ＳＲＡＭに限定する必要はなくハ
ードディスクドライブなどと半導体メモリを組み合わせ
ることにより記憶可能な容量が増大するため複雑な表示
パターンもテストすることが可能となる。
る方法で説明したが、ＳＲＡＭに限定する必要はなくハ
ードディスクドライブなどと半導体メモリを組み合わせ
ることにより記憶可能な容量が増大するため複雑な表示
パターンもテストすることが可能となる。
【００２６】（実施の形態２）図３は本発明の第二の実
施の形態における電子機器の表示機能自動判定システム
のブロックダイアグラムである。
施の形態における電子機器の表示機能自動判定システム
のブロックダイアグラムである。
【００２７】１４はパーソナルコンピュータなどの被検
査電子機器であり液晶表示のためのＬＶＤＳインターフ
ェースを備える。１５は本発明の自動判定システムの主
な回路を搭載した自動判定基板、２は被検査電子機器と
のインターフェースであるＬＶＤＳインターフェース、
３はＬＶＤＳインターフェース２の信号に含まれる同期
信号やクロック信号より高速のＳＲＡＭのアドレスと書
きこみタイミングを発生するアドレス生成回路、６はＬ
ＶＤＳインターフェースを介して送られてきた表示デー
タを格納する高速ＳＲＡＭ、８は参照する表示データを
格納している中速ＳＲＡＭである。７は制御回路であり
高速ＳＲＡＭ６と中速ＳＲＡＭ８の内容を呼出す機能も
備える。１９は判定回路であり高速ＳＲＡＭ６と中速Ｓ
ＲＡＭ８の内容を比較し一致あるいは不一致の結果を外
部インターフェース２０に出力する。外部インターフェ
ース２０は電子機器１４のキーボードインターフェース
１３に接続されている。
査電子機器であり液晶表示のためのＬＶＤＳインターフ
ェースを備える。１５は本発明の自動判定システムの主
な回路を搭載した自動判定基板、２は被検査電子機器と
のインターフェースであるＬＶＤＳインターフェース、
３はＬＶＤＳインターフェース２の信号に含まれる同期
信号やクロック信号より高速のＳＲＡＭのアドレスと書
きこみタイミングを発生するアドレス生成回路、６はＬ
ＶＤＳインターフェースを介して送られてきた表示デー
タを格納する高速ＳＲＡＭ、８は参照する表示データを
格納している中速ＳＲＡＭである。７は制御回路であり
高速ＳＲＡＭ６と中速ＳＲＡＭ８の内容を呼出す機能も
備える。１９は判定回路であり高速ＳＲＡＭ６と中速Ｓ
ＲＡＭ８の内容を比較し一致あるいは不一致の結果を外
部インターフェース２０に出力する。外部インターフェ
ース２０は電子機器１４のキーボードインターフェース
１３に接続されている。
【００２８】電子機器がＬＶＤＳ信号を出力して判定回
路１９で比較するまでは実施の形態１と同様であるので
省略する。
路１９で比較するまでは実施の形態１と同様であるので
省略する。
【００２９】判定回路１９の比較判定結果は外部インタ
ーフェース２０を介して、電子機器１４へフィードバッ
クする。電子機器１４のインターフェースとしては例え
ばキーボードインターフェースを用いることができる。
判定結果がＧＯＯＤを示す場合は、電子機器が次の検査
に移れるよう、ハード的に外部キーボードの“Ｙ”キー
をワンショットで送出するようにする。また判定結果が
ＮＧの場合も同様に、外部キーボードの“Ｎ”キーをワ
ンショットで送出するようにする。これにより従来、目
視で行なっていた検査をそのまま用いて自動で実施でき
る利点がある。
ーフェース２０を介して、電子機器１４へフィードバッ
クする。電子機器１４のインターフェースとしては例え
ばキーボードインターフェースを用いることができる。
判定結果がＧＯＯＤを示す場合は、電子機器が次の検査
に移れるよう、ハード的に外部キーボードの“Ｙ”キー
をワンショットで送出するようにする。また判定結果が
ＮＧの場合も同様に、外部キーボードの“Ｎ”キーをワ
ンショットで送出するようにする。これにより従来、目
視で行なっていた検査をそのまま用いて自動で実施でき
る利点がある。
【００３０】ＮＧの場合は、更にインターフェース１３
を介して、不一致を発生したＸ軸・Ｙ軸のアドレスに相
当する信号と本来書き込まれるべき基準データー及び実
際に自動判定基板が検出した実測データを電子機器１４
へ送りこむことにより、より詳しい検査結果を残すこと
ができる。
を介して、不一致を発生したＸ軸・Ｙ軸のアドレスに相
当する信号と本来書き込まれるべき基準データー及び実
際に自動判定基板が検出した実測データを電子機器１４
へ送りこむことにより、より詳しい検査結果を残すこと
ができる。
【００３１】即ち、ＮＧの個所およびデータの値を、電
子機器１４に読み込ませ、内部に記録する。表示部の後
の工程で、記録されている結果を確認することで、合否
の振り分けを行うことにより、電子機器自身に合否の記
録を残すことができるため、後工程への漏れはない。
子機器１４に読み込ませ、内部に記録する。表示部の後
の工程で、記録されている結果を確認することで、合否
の振り分けを行うことにより、電子機器自身に合否の記
録を残すことができるため、後工程への漏れはない。
【００３２】このような、フローにすることにより、検
査の全自動化対応が可能となる。
査の全自動化対応が可能となる。
【００３３】（実施の形態３）実施の形態１および２に
おいて、表示パターンを予め中速ＳＲＡＭ８または１８
に記憶しておくことで説明したが、電子機器の表示機能
自動判定システムを起動する際や、新しい表示パターン
を追加する際に上記ＬＶＤＳ信号を用いて、新たな表示
パターンをダウンロードする方法について説明する。
おいて、表示パターンを予め中速ＳＲＡＭ８または１８
に記憶しておくことで説明したが、電子機器の表示機能
自動判定システムを起動する際や、新しい表示パターン
を追加する際に上記ＬＶＤＳ信号を用いて、新たな表示
パターンをダウンロードする方法について説明する。
【００３４】被検査電子機器が出力するＬＶＤＳ信号は
判定基板１２のＬＶＤＳインターフェースに入力され
る。この信号のＨＳＹＮＣ，ＶＳＹＮＣ信号によりアド
レス生成回路３でアドレスを作る。例えば、ＶＳＹＮＣ
を検出するとカウンタをリセットし、ＨＳＹＮＣの後１
０２４まで、ドットクロックによりインクリメントさせ
る。また次のＨＳＹＮＣの後インクリメントすることに
よりアドレスを作ることができる。このアドレスを高速
ＳＲＡＭ６のアドレスに入力し、ＬＶＤＳインターフェ
ース２のデータに相当する部分をデータに接続し、クロ
ックに同期して書きこみを行なうことにより被検査電子
機器１１が出力したデータを高速ＳＲＡＭ６に保存する
ことができる。
判定基板１２のＬＶＤＳインターフェースに入力され
る。この信号のＨＳＹＮＣ，ＶＳＹＮＣ信号によりアド
レス生成回路３でアドレスを作る。例えば、ＶＳＹＮＣ
を検出するとカウンタをリセットし、ＨＳＹＮＣの後１
０２４まで、ドットクロックによりインクリメントさせ
る。また次のＨＳＹＮＣの後インクリメントすることに
よりアドレスを作ることができる。このアドレスを高速
ＳＲＡＭ６のアドレスに入力し、ＬＶＤＳインターフェ
ース２のデータに相当する部分をデータに接続し、クロ
ックに同期して書きこみを行なうことにより被検査電子
機器１１が出力したデータを高速ＳＲＡＭ６に保存する
ことができる。
【００３５】次に制御回路７は高速ＳＲＡＭ６のアドレ
ス０（最初のアドレス）に書き込まれたデータを読み出
す。アドレス０はＲＧＢ各６ビットの１８ビットからな
り、この一部を用いて表示パターンの書き込みと表示パ
ターンのＩＤ番号を指示する。表示パターンにＲＧＢ各
２ビットを割り当てると６ビットすなわち６４通りの表
示パターンを指定することができる。これに１ビット加
えて書き込みビットとすることにより表示パターンの書
き込みを指定できる。
ス０（最初のアドレス）に書き込まれたデータを読み出
す。アドレス０はＲＧＢ各６ビットの１８ビットからな
り、この一部を用いて表示パターンの書き込みと表示パ
ターンのＩＤ番号を指示する。表示パターンにＲＧＢ各
２ビットを割り当てると６ビットすなわち６４通りの表
示パターンを指定することができる。これに１ビット加
えて書き込みビットとすることにより表示パターンの書
き込みを指定できる。
【００３６】制御回路７はここで読み出した表示パター
ンのＩＤ番号を基に高速ＳＲＡＭ６に書き込まれている
内容を読み出して、中速ＳＲＡＭ８に書き込む。このと
き最初の画素分の情報も書き込むことにより表示パター
ンのＩＤ番号も記憶できる。これにより、特別な書き込
みの治具やインターフェースを備えなくても新しい表示
パターンを登録することができる。
ンのＩＤ番号を基に高速ＳＲＡＭ６に書き込まれている
内容を読み出して、中速ＳＲＡＭ８に書き込む。このと
き最初の画素分の情報も書き込むことにより表示パター
ンのＩＤ番号も記憶できる。これにより、特別な書き込
みの治具やインターフェースを備えなくても新しい表示
パターンを登録することができる。
【００３７】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、ＸＧＡと
いった高解像度の液晶表示を行なう電子機器の画像制御
回路の動作を自動で検査する治具が安価に作成でき、か
つ精度良い検査が実現できる。
いった高解像度の液晶表示を行なう電子機器の画像制御
回路の動作を自動で検査する治具が安価に作成でき、か
つ精度良い検査が実現できる。
【００３８】加えて、表示パターンを複数個使い分ける
場合も、特別な信号制御が不要であり、電子機器の機種
毎に検査治具を作る必要が無くなるため、汎用の検査治
具を用いて電子機器の検査が可能となり、検査治具のコ
ストと検査工数の削減が可能となる。
場合も、特別な信号制御が不要であり、電子機器の機種
毎に検査治具を作る必要が無くなるため、汎用の検査治
具を用いて電子機器の検査が可能となり、検査治具のコ
ストと検査工数の削減が可能となる。
【図１】本発明の一実施の形態における電子機器の表示
機能の自動判定システムのブロック図
機能の自動判定システムのブロック図
【図２】（ａ）本発明の一実施の形態における表示デー
タの配列を示す構成図 （ｂ）本発明の一実施の形態における画素当たりのビッ
トを示す図
タの配列を示す構成図 （ｂ）本発明の一実施の形態における画素当たりのビッ
トを示す図
【図３】本発明の第二の実施の形態における電子機器の
表示機能の自動判定システムのブロック図
表示機能の自動判定システムのブロック図
１ ＬＶＤＳインターフェース（電子機器側） ２ ＬＶＤＳインターフェース（自動判定基板側） ３ アドレス生成回路 ６ 高速ＳＲＡＭ ７ 制御回路 ８ 中速ＳＲＡＭ ９、１９ 判定回路 １０ 判定表示 １１、１４ 電子機器 １２、１５ 自動判定基板 １３ キーボードインターフェース ２０ 外部インターフェース
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5C006 AA22 AF03 AF04 AF53 BB11 BF02 BF14 BF16 BF22 EB01 EC01 5C061 BB05 CC05 5C080 AA10 BB05 CC03 DD15 JJ01 JJ02 JJ05 5G435 AA19 BB12 KK10 LL06
Claims (7)
- 【請求項１】 液晶表示のためのＬＶＤＳ信号出力を備
えた電子機器と、前記電子機器が出力する液晶表示のた
めの信号を一旦蓄える第一の記憶部と、前記電子機器が
出力する液晶表示のための信号を前記第一の記憶部に格
納するためのタイミングとアドレスを発生するタイミン
グ生成部と、前記電子機器が正常に表示した場合の表示
パターンに一致するデータを格納する第二の記憶部と、
前記第一の記憶部の内容と前記第二の記憶部の内容を比
較する比較部と、前記比較部が一致あるいは不一致を検
出した結果を出力する判定部と、前記判定部の結果を表
示する表示部を備えたことを特徴とする電子機器の表示
機能の自動判定システムおよび自動判定方法。 - 【請求項２】 液晶表示のためのＬＶＤＳ信号出力を備
えた電子機器と、前記電子機器が出力する液晶表示のた
めの信号を一旦蓄える第一の記憶部と、前記電子機器が
出力する液晶表示のための信号を前記第一の記憶部に格
納するためのタイミングとアドレスを発生するタイミン
グ生成部と、前記電子機器が正常に表示した場合の表示
パターンに一致するデータを格納する第二の記憶部と、
前記第一の記憶部の内容と前記第二の記憶部の内容を比
較する比較部と、前記比較部が一致あるいは不一致を検
出した結果を出力する判定部と、前記判定部の結果を前
記電子機器に伝達するインターフェース部とを備え、前
記判定部の結果に基づき前記電子機器のテスト結果を記
録することを特徴とする表示機能の自動判定システムお
よび自動判定方法。 - 【請求項３】 前記表示パターンの一部は表示する表示
パターンを特定する表示パターン番号データであり、前
記表示パターン番号データが一致する表示パターンを前
記第二の記憶部に格納された一つまたは複数の表示パタ
ーンより選択して、前記比較部により比較することを特
徴とする請求項１または２に記載の表示機能の自動判定
システムおよび自動判定方法。 - 【請求項４】 前記表示パターンの一部は表示する表示
パターンを第二の記憶部に格納を指示する符号であり、
前記符号が表示パターンを予め定めた格納符号と一致し
た場合は、前記表示パターンを第一の記憶部より前記第
二の記憶部に転送することを特徴とする請求項１に記載
の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法。 - 【請求項５】 一つまたは複数の表示パターンを格納す
る第二の記憶部と、電子機器との信号を送受するインタ
ーフェース部とを備え、前記インターフェース部より表
示パターンを前記第二の記憶部に転送することを特徴と
する請求項３に記載の表示機能の自動判定システムおよ
び自動判定方法。 - 【請求項６】 前記タイミング生成回路がデジタルカウ
ンタで構成されていることを特徴とする請求項１または
請求項２に記載の表示機能の自動判定システムおよび自
動判定方法。 - 【請求項７】 液晶表示のためのＬＶＤＳ信号出力を備
えた電子機器と、前記電子機器が出力する液晶表示のた
めの信号を一旦蓄える第一の記憶部と、前記電子機器が
出力する液晶表示のための信号を前記第一の記憶部に格
納するためのタイミングとアドレスを発生するタイミン
グ生成部と、前記電子機器が正常に表示した場合の表示
パターンに一致するデータを格納する第二の記憶部と、
前記第一の記憶部の内容と前記第二の記憶部の内容を比
較する比較部と、前記比較部が一致あるいは不一致を検
出した結果を出力する判定部と、前記判定部の結果を表
示する表示部とを備え、前記液晶表示に表示する画像デ
ータより前記第一の記憶部に記憶する画像データが桁ま
たは行方向に大きく、液晶表示領域を越える領域のデー
タに表示パターンを埋め込むことを特徴とする請求項１
または請求項２に記載の電子機器の表示機能の自動判定
システムおよび自動判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36717699A JP2001184018A (ja) | 1999-12-24 | 1999-12-24 | 電子機器の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36717699A JP2001184018A (ja) | 1999-12-24 | 1999-12-24 | 電子機器の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001184018A true JP2001184018A (ja) | 2001-07-06 |
Family
ID=18488664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP36717699A Pending JP2001184018A (ja) | 1999-12-24 | 1999-12-24 | 電子機器の表示機能の自動判定システムおよび自動判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001184018A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003233333A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-08-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | パッシブマトリクス型表示装置 |
| FR2857206A1 (fr) * | 2003-07-03 | 2005-01-07 | Logiways France | Procede et systeme de test de l'aptitude d'un appareil a produire sans defaut un signal video et/ou audio, et support d'enregistrement contenant des instructions pour la mise en oeuvre du procede |
| JP2007101691A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujitsu Ltd | 判定装置及び判定方法 |
| KR100768780B1 (ko) | 2006-10-02 | 2007-10-19 | (주)나이시스 | 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치 |
| CN103377962A (zh) * | 2012-04-27 | 2013-10-30 | 辉达公司 | 一种低压差分信号测试系统和方法 |
| KR101773190B1 (ko) | 2010-12-13 | 2017-08-30 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 |
| WO2018003669A1 (ja) * | 2016-06-27 | 2018-01-04 | ローム株式会社 | タイミングコントローラ、それを用いた電子機器、車載用ディスプレイ装置、医療用ディスプレイ装置 |
| US12126842B2 (en) | 2016-06-27 | 2024-10-22 | Rohm Co., Ltd | Semiconductor apparatus for image transmission |
-
1999
- 1999-12-24 JP JP36717699A patent/JP2001184018A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003233333A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-08-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | パッシブマトリクス型表示装置 |
| FR2857206A1 (fr) * | 2003-07-03 | 2005-01-07 | Logiways France | Procede et systeme de test de l'aptitude d'un appareil a produire sans defaut un signal video et/ou audio, et support d'enregistrement contenant des instructions pour la mise en oeuvre du procede |
| WO2005006778A1 (fr) * | 2003-07-03 | 2005-01-20 | Logiways France | Procede et systeme de test de l'aptitude d'un appareil a produire sans defaut un signal video/et ou audio, et support d'enregistrement contenant des instructions pour la mise en oeuvre du procede |
| JP2007101691A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujitsu Ltd | 判定装置及び判定方法 |
| US7702703B2 (en) | 2005-09-30 | 2010-04-20 | Fujitsu Limited | Determination apparatus and determination method |
| KR100768780B1 (ko) | 2006-10-02 | 2007-10-19 | (주)나이시스 | 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치 |
| KR101773190B1 (ko) | 2010-12-13 | 2017-08-30 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 |
| CN103377962A (zh) * | 2012-04-27 | 2013-10-30 | 辉达公司 | 一种低压差分信号测试系统和方法 |
| WO2018003669A1 (ja) * | 2016-06-27 | 2018-01-04 | ローム株式会社 | タイミングコントローラ、それを用いた電子機器、車載用ディスプレイ装置、医療用ディスプレイ装置 |
| JPWO2018003669A1 (ja) * | 2016-06-27 | 2019-02-28 | ローム株式会社 | タイミングコントローラ、それを用いた電子機器、車載用ディスプレイ装置、医療用ディスプレイ装置 |
| US11659211B2 (en) | 2016-06-27 | 2023-05-23 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor apparatus for image transmission |
| US12126842B2 (en) | 2016-06-27 | 2024-10-22 | Rohm Co., Ltd | Semiconductor apparatus for image transmission |
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