JP2001175829A - 非接触式データキャリアおよびicチップ - Google Patents
非接触式データキャリアおよびicチップInfo
- Publication number
- JP2001175829A JP2001175829A JP2000135022A JP2000135022A JP2001175829A JP 2001175829 A JP2001175829 A JP 2001175829A JP 2000135022 A JP2000135022 A JP 2000135022A JP 2000135022 A JP2000135022 A JP 2000135022A JP 2001175829 A JP2001175829 A JP 2001175829A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- antenna coil
- bumps
- data carrier
- pair
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/11—Manufacturing methods
- H01L2224/113—Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector
- H01L2224/1133—Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector in solid form
- H01L2224/1134—Stud bumping, i.e. using a wire-bonding apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/16227—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/8119—Arrangement of the bump connectors prior to mounting
- H01L2224/81191—Arrangement of the bump connectors prior to mounting wherein the bump connectors are disposed only on the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/818—Bonding techniques
- H01L2224/81897—Mechanical interlocking, e.g. anchoring, hook and loop-type fastening or the like
- H01L2224/81898—Press-fitting, i.e. pushing the parts together and fastening by friction, e.g. by compression of one part against the other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/819—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector with the bump connector not providing any mechanical bonding
- H01L2224/81901—Pressing the bump connector against the bonding areas by means of another connector
- H01L2224/81903—Pressing the bump connector against the bonding areas by means of another connector by means of a layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
- H01L2224/83192—Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Credit Cards Or The Like (AREA)
Abstract
の間の導通を確実に図ることができる非接触式ICキャ
リアおよびデータキャリアを提供する。 【解決手段】 非接触式ICキャリアは、樹脂基材11
と、樹脂基材11の略全域に設けられた金属製アンテナ
コイル13と、アンテナコイル13に複数のバンプ22
を介して接続されたデータキャリア20とを備えてい
る。データキャリア20の各バンプ22は、データキャ
リア20のデータキャリア本体20a側に配置された基
部22aと、基部22aに肩部22cを介して連結され
た突起部22bとを有している。各バンプ22は突起部
22bをアンテナコイル13に突き刺すことにより、ア
ンテナコイル13に接続されている。
Description
Cチップとを有する非接触式データキャリア、およびこ
れに用いるICチップに係り、とりわけアンテナコイル
とICチップとの間の導通を確実に図ることができる非
接触式データキャリアおよびICチップに関する。
を有する非接触式データキャリアが物流システムにおい
て用いられている。このような非接触式データキャリア
は、例えば製品の包装箱あるいは製品自体に貼付されて
使用される。
材と、樹脂基材上に設けられた金属製、例えばアルミ製
アンテナコイルと、アンテナコイルに接続されたICチ
ップとを備えている。
から電磁波が発せられると、アンテナコイルに誘導電流
が発生し、ICチップを作動させるようになっている。
アは、上述のように樹脂基材上に設けられた金属製アン
テナコイルと、このアンテナコイルに接続されたICチ
ップとを備えている。またICチップはアンテナコイル
に接触するバンプを有し、接着剤を介してアンテナコイ
ルに固定される。
て低コストであるが、表面にアルミ酸化膜が生じるため
アンテナコイルとバンプとの導通が妨げられることがあ
る。またアルミ酸化膜の生成を抑えるためにアンテナコ
イル表面に更に導通材料からなるメッキ層を設けること
も考えられるが、メッキ層を形成するためのメッキ工程
が必要となり、製造工程が煩雑でコストアップとなる。
ものであり、製造工程を簡略化することができるととも
に、低価格なアルミを用いてもアンテナコイルとICチ
ップとの間の導通を確実に図ることができる非接触式デ
ータキャリアおよびICチップを提供することを目的と
する。
上に設けられたアンテナコイルと、ICチップ本体と、
アンテナコイルに接続される複数のバンプを有するIC
チップとを備え、ICチップの各バンプは、アンテナコ
イルに突き刺し接続される突起部を有することを特徴と
する非接触式データキャリアである。
ンテナコイルと、ICチップ本体と、アンテナコイルに
接続される複数のバンプを有するICチップとを備え、
ICチップはアンテナコイルに絶縁性接着剤を介して固
定されていることを特徴とする非接触式データキャリア
である。
式データキャリアに用いられるICチップにおいて、I
Cチップ本体と、ICチップ本体に接続された複数のバ
ンプとを備え、各バンプはアンテナコイルに突き刺し接
続される突起部を有することを特徴とするICチップで
ある。
ンテナコイルと、ICチップ本体と、アンテナコイルに
接続される複数のバンプを有するICチップとを備え、
ICチップ本体は平面矩形状をなすとともに、少なくと
も一対のバンプはICチップ本体の対角線上の一対の対
向端部に配置され、ICチップ本体下方のアンテナコイ
ルは、一対のバンプが配置された対角線に略直交して延
びていることを特徴とする非接触式データキャリアであ
る。
その突起部をアンテナコイルに突き刺すことによりアン
テナコイルに接続される。
て説明する。図1乃至図4は本発明による非接触式デー
タキャリアおよびICチップを示す図である。
ードおよびICタグ等の非接触式データキャリア10
は、PET製の樹脂基材11と、樹脂基材11上の略全
域にフォトレジスト層(図示せず)を用いてエッチング
により形成されたアルミ製の金属製アンテナコイル13
と、アンテナコイル13に接続されたICチップ20と
を備えている。
ャリア10は、例えば製品の包装箱あるいは製品自体に
貼付されて使用さるものであり、図示しない物流システ
ムの読取機からの電磁波によりICチップ20が作動
し、ICチップ20からの情報が読取機側へ送られるよ
うになっている。
3により説明する。図1および図3に示すようにICチ
ップ20は、ICチップ本体20aと、ICチップ本体
20aの下面に設けられた回路配線21と、この回路配
線21を覆うパーシベーション膜24とを有しており、
ICチップ20の回路配線21にはアルミ製アンテナコ
イル13に接続される金属製バンプ22が設けられてい
る。
ており(図4参照)、このうち一対のバンプ22は導通
用バンプとなってアンテナコイル13に接続され、他の
バンプ22はアンテナコイル13に接続されることなく
ICチップ20を支持する支持用バンプとなっている。
持バンプの合計3個のバンプ22によりICチップ20
をアンテナコイル13上で支持することにより、3点で
ICチップ20をぐらつくことなく安定して支持するこ
とができる。
(d)に示すようにコイル状に形成され、一対の端部3
3a、33b(図6)を有している。ICチップ20は
一対の導通用バンプ22、22をアンテナコイル13の
一対の端部33a、33bに接続させてアンテナコイル
13上に搭載され、また、ICチップ20は全体として
アンテナコイル13に絶縁性接着剤14を介して接着さ
れている。さらにアンテナコイル13とICチップ20
は、樹脂製の保護層18により覆われている。
り、図2(a)(b)に示すように、ICチップ本体2
0a側に位置する基部22aと、基部22aに肩部22
cを介して連結された突起部22bとを有している。突
起部22bは基部22aにより保持されるとともに、ア
ンテナコイル13に突き刺して接続される。
その表面にアルミ酸化膜13aが形成されるが、バンプ
22の突起部22bは少なくともアルミ酸化膜13aを
貫通してアンテナコイル13に接続されるようになって
いる。このため導通性が低下したアルミ酸化膜13aに
よりバンプ22とアンテナコイル13との導通が妨げら
れることはない(図1および図3)。
に、バンプ22の突起部22bはアンテナコイル13を
突き刺し易いように先端に向ってテーパ状となってお
り、また肩部22cはアンテナコイル13のアルミ酸化
膜13a上に当接する。このため肩部22cにより、バ
ンプ22をアルミ酸化膜13a上に安定して固定するこ
とができる。
成してもよく(図2(a))、突起部22bを1段に形
成してもよい(図2(b))。
ングにより金属ワイヤをICチップ本体20aに押付け
た後、直ちに引き上げワイヤを破断させることにより形
成することができる。
る。樹脂基材11はPET製となっており、その厚みは
38μmとなっている。基材11としては、PETの
他、ポリプロピレン(PP)、ポリエチレン、ABS、
スチレン、ポリイミド、ガラスエポキシ、PETG、ポ
リカーボネート、紙、PVC、またはアクリルを用いて
もよい。
μmとなっており、通常アルミ酸化膜13aは500オ
ングストローム程度の厚さを有する。このためバンプ2
2としては基部22aの高さは10μm〜100μm、
突起部22bの高さは50μm〜150μmであること
が好ましい。
シ、アクリル、シアノアクレート、またはウレタン製と
なっている。
法について、図4(a)(b)(c)(d)により説明
する。
ハ30上に回路配線21、バンプ22およびパーシベー
ション膜24が形成される。次に図4(b)に示すよう
に半導体ウェハ30から個々のICチップ20が切り出
される。他方、樹脂基材が予め準備され、この樹脂基材
11上にフォトレジスト層を用いたエッチング法により
アンテナコイル13が形成される(図4(c))。この
場合、また樹脂基材11上には、ICチップ20をアン
テナコイル13に圧着させる際の強度補強を図るととも
に樹脂基材11の収縮を防止するため、ICチップ20
近傍にアンテナコイル13と同一材料により形成された
補強部26、27が設けられている。なお、アンテナコ
イル13の一対の端部33a、33bは、アンテナコイ
ル13の内側と外側に各々配置されている(図6)。
a、33bに、接着剤塗布機31により絶縁性接着剤1
4が塗布され、アンテナコイル13の一対の端部33
a、33b上にICチップ20がバンプ22を下方に向
けて配置して搭載される。
Cチップ20の上面に圧着機32が押付けられ、この圧
着機32によりアンテナコイル13にICチップ20が
圧着される。この場合、ICチップ20のバンプ22の
突起部22bがアンテナコイル13のアルミ酸化膜13
aを突き刺し貫通し、肩部22cがアルミ酸化膜13a
上に当接する。このため肩部22cによりバンプ22を
アルミ酸化膜13a上に安定して固定することができ
る。
チップ20を搭載し固定した後、アンテナコイル13お
よびICチップ20上に、アンテナコイル13とICチ
ップ20を覆って保護する保護層18が設けられる。
11上にアンテナコイル13を直接形成した例を示した
が、これに限らず図5に示すように、樹脂基材11上に
アンテナコイル13をヒートシール層12を介して接着
して設けてもよい。また図5に示すように、ICチップ
20のバンプ22の突起部22aがアンテナコイル13
を完全に貫通して樹脂基材11まで達するようにしても
よい。バンプ22の突起部22aがアンテナコイル13
を完全に貫通することにより、バンプ22とアンテナコ
イル13とをより確実に接続することができる。
を設けた例を示したが、3個以上、例えば4個または5
個設けてもよい。
チップ本体20aは平面矩形状をなしており、ICチッ
プ本体20aの対角線L上の一対の対向する端部に一対
のバンプ22が配置されている。ICチップ本体20a
の下方にアンテナコイル13が延びており、このアンテ
ナコイル13は一対のバンプ22を連結する対角線Lに
略直交して延び、各バンプ22,22はアンテナコイル
13の一対の端部33a,33bに接続されている。
れた一対のバンプ22をICチップ本体20aの対角線
L上に配置するとともに、ICチップ本体20a下方の
アンテナコイル13を一対のバンプを連結する対角線L
に略直交させることにより、内側のアンテナコイル13
と外側のアンテナコイル13との間の距離を大きくとる
ことができる。
いて説明する。
各部の形状が異なるのみであり、他は図1乃至図6に示
す第1の実施の形態と略同一である。
す第1の実施の形態と同一部分には同一符号を付して詳
細な説明は省略する。
タキャリア10は矩形状の基材11と、基材11上に設
けられた略矩形状のアンテナコイル13とを備えてい
る。
33bを有し、この一対の端部33a、33bにICチ
ップ20のバンプ22、22が接続される。また一対の
端部33a、33bは互いに接近し、一対の端部33
a、33b間の距離は対応するバンプ22、22間の距
離に一致している。このため一対の端部33a、33b
にICチップ20のバンプ22、22を直接接続するこ
とができる。
のアンテナコイル13にICチップ20を実装する方法
について説明する。
上にアルミ製アンテナコイル13がエッチングにより形
成される。この場合、アンテナコイル13上にアルミ酸
化膜13aが形成される。なおアンテナコイル13をエ
ッチングではなく、印刷により形成してもよい。
剤14が塗布される(図7(b))。この絶縁性接着剤
14はフィラー14aを有し、フィラー14aの最大粒
径は後述するバンプ22の高さより小さくなっている。
また絶縁性接着剤14は、例えば1〜100Pa・S
(250℃)の粘度を有するペースト状接着剤となって
いる。このような絶縁性接着剤14としては、具体的に
熱硬化型のエポキシ系樹脂が考えられる。
20のバンプ22、22をアンテナコイル13の一対の
端部33a、33bに接続した状態でICチップ20が
絶縁性接着剤14によりアンテナコイル13に固定され
る。
突起部22bを有しているため、この突起部22bがア
ルミ酸化膜13aを突き刺し貫通し、突起部22bがア
ンテナコイル13の一対の一端部33a、33b内へ確
実に進入することができる。
0の回路配線21およびパーシベーション膜24は、便
宜的に取除いて示されている。
て突起部22bを有するものを示したが、バンプ22と
アンテナコイル13とが接続される限り、突起部22b
を有しない通常のバンプ22、22を用いてもよい。
プバンプはその突起部をアンテナコイルに突き刺すこと
によりアンテナコイルに接続されるので、アンテナコイ
ル表面に酸化膜が形成されていても、バンプとアンテナ
コイルとの間の導通を確実に行なうことができる。この
ため導通の良い精度の良好な非接触式データキャリアを
提供することができる。
実施の形態を示す側断面図。
図。
す図。
図。
実施の形態におけるICチップの実装方法を示す図。
Claims (11)
- 【請求項1】基材と、 基材上に設けられたアンテナコイルと、 ICチップ本体と、アンテナコイルに接続される複数の
バンプを有するICチップとを備え、 ICチップの各バンプは、アンテナコイルに突き刺し接
続される突起部を有することを特徴とする非接触式デー
タキャリア。 - 【請求項2】ICチップの各バンプは、ICチップ本体
側に位置する基部を有し、基部は肩部を介して突起部を
保持することを特徴とする請求項1記載の非接触式デー
タキャリア。 - 【請求項3】ICチップには3個のバンプが設けられて
おり、このうち一対のバンプは導通用バンプとなり、他
のバンプは支持用バンプとなることを特徴とする請求項
1または2のいずれか記載の非接触式データキャリア。 - 【請求項4】アンテナコイルとICチップとの間に絶縁
性接着剤が設けられていることを特徴とする請求項1乃
至3のいずれか記載の非接触式データキャリア。 - 【請求項5】ICチップの各バンプの突起部は、アンテ
ナコイルを貫通して基材まで達することを特徴とする請
求項1乃至4のいずれか記載の非接触式データキャリ
ア。 - 【請求項6】基材と、 基材上に設けられたアンテナコイルと、 ICチップ本体と、アンテナコイルに接続される複数の
バンプを有するICチップとを備え、 ICチップはアンテナコイルに絶縁性接着剤を介して固
定されていることを特徴とする非接触式データキャリ
ア。 - 【請求項7】アンテナコイルはバンプに接続される一対
の端部を有し、この一対の端部間の距離は対応するバン
プ間の距離に一致することを特徴とする請求項6記載の
データキャリア。 - 【請求項8】アンテナコイルを有する非接触式データキ
ャリアに用いられるICチップにおいて、 ICチップ本体と、 ICチップ本体に接続された複数のバンプとを備え、 各バンプはアンテナコイルに突き刺し接続される突起部
を有することを特徴とするICチップ。 - 【請求項9】各バンプはICチップ本体側に位置する基
部を有し、基部は肩部を介して突起部を保持することを
特徴とする請求項8記載のICチップ。 - 【請求項10】ICチップには3個のバンプが設けられ
ており、このうち一対のバンプは導通用バンプとなり、
他のバンプは支持用バンプとなることを特徴とする請求
項8または9のいずれか記載のICチップ。 - 【請求項11】基材と、 基材上に設けられたアンテナコイルと、 ICチップ本体と、アンテナコイルに接続される複数の
バンプを有するICチップとを備え、 ICチップ本体は平面矩形状をなすとともに、少なくと
も一対のバンプはICチップ本体の対角線上の一対の対
向端部に配置され、 ICチップ本体下方のアンテナコイルは、一対のバンプ
が配置された対角線に略直交して延びていることを特徴
とする非接触式データキャリア。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000135022A JP2001175829A (ja) | 1999-10-08 | 2000-05-08 | 非接触式データキャリアおよびicチップ |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28848199 | 1999-10-08 | ||
JP11-288481 | 1999-10-08 | ||
JP2000135022A JP2001175829A (ja) | 1999-10-08 | 2000-05-08 | 非接触式データキャリアおよびicチップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001175829A true JP2001175829A (ja) | 2001-06-29 |
Family
ID=26557199
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000135022A Pending JP2001175829A (ja) | 1999-10-08 | 2000-05-08 | 非接触式データキャリアおよびicチップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001175829A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005251176A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-09-15 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Idラベル、idタグ及びidカード |
JP2006252050A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Icカードモジュール |
JP2007012965A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Nec Tokin Corp | Icチップの実装方法 |
WO2007125841A1 (en) * | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and electronic appliance having the semiconductor device |
JP2007318114A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-12-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置及び半導体装置の作製方法、並びに当該半導体装置を有する電子機器 |
CN100359682C (zh) * | 2001-09-18 | 2008-01-02 | 纳格雷德股份有限公司 | 电子标签及其制造方法 |
JP2008515178A (ja) * | 2004-09-24 | 2008-05-08 | オベルトゥル カード システムズ ソシエテ アノニム | 好ましくは軟質の支持体上に電子コンポーネントを組立てる方法及びかくして得られたパスポートといった電子物品 |
JP2009503651A (ja) * | 2005-07-19 | 2009-01-29 | チエツクポイント システムズ, インコーポレーテツド | パレット及びカートンのためのrfidタグ並びにそれを添付するシステム |
JP2012089750A (ja) * | 2010-10-21 | 2012-05-10 | Hitachi Chem Co Ltd | 半導体封止充てん用熱硬化性樹脂組成物及び半導体装置 |
JP2020063067A (ja) * | 2018-10-17 | 2020-04-23 | 王子ホールディングス株式会社 | 包装材へのicタグの取付方法 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06232205A (ja) * | 1992-12-11 | 1994-08-19 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の実装方法と半導体装置 |
JPH0789280A (ja) * | 1993-09-28 | 1995-04-04 | Toppan Printing Co Ltd | Icモジュール |
JPH08186152A (ja) * | 1994-12-28 | 1996-07-16 | Sony Corp | 電極装置及びその形成方法 |
JPH0927516A (ja) * | 1995-07-12 | 1997-01-28 | Nippondenso Co Ltd | 電子部品の接続構造 |
WO1998024057A1 (fr) * | 1996-11-29 | 1998-06-04 | Schlumberger Systemes | Carte a memoire du type sans contact |
JPH10233413A (ja) * | 1997-02-21 | 1998-09-02 | Nec Kansai Ltd | 半導体装置およびその製造方法並びに配線基板 |
JPH1111058A (ja) * | 1997-06-23 | 1999-01-19 | Rohm Co Ltd | Icモジュールおよびこれを用いたicカード |
JPH1153501A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-02-26 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 非接触タグにおけるicチップ電極接続構造 |
JPH11134461A (ja) * | 1997-10-29 | 1999-05-21 | Rohm Co Ltd | Icカード用モジュールおよびこれを内蔵したicカード |
WO1999046728A1 (fr) * | 1998-03-09 | 1999-09-16 | Gemplus | Procede de fabrication de cartes sans contact |
JP2000114314A (ja) * | 1998-09-29 | 2000-04-21 | Hitachi Ltd | 半導体素子実装構造体およびその製造方法並びにicカード |
-
2000
- 2000-05-08 JP JP2000135022A patent/JP2001175829A/ja active Pending
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06232205A (ja) * | 1992-12-11 | 1994-08-19 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の実装方法と半導体装置 |
JPH0789280A (ja) * | 1993-09-28 | 1995-04-04 | Toppan Printing Co Ltd | Icモジュール |
JPH08186152A (ja) * | 1994-12-28 | 1996-07-16 | Sony Corp | 電極装置及びその形成方法 |
JPH0927516A (ja) * | 1995-07-12 | 1997-01-28 | Nippondenso Co Ltd | 電子部品の接続構造 |
WO1998024057A1 (fr) * | 1996-11-29 | 1998-06-04 | Schlumberger Systemes | Carte a memoire du type sans contact |
JPH10233413A (ja) * | 1997-02-21 | 1998-09-02 | Nec Kansai Ltd | 半導体装置およびその製造方法並びに配線基板 |
JPH1111058A (ja) * | 1997-06-23 | 1999-01-19 | Rohm Co Ltd | Icモジュールおよびこれを用いたicカード |
JPH1153501A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-02-26 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 非接触タグにおけるicチップ電極接続構造 |
JPH11134461A (ja) * | 1997-10-29 | 1999-05-21 | Rohm Co Ltd | Icカード用モジュールおよびこれを内蔵したicカード |
WO1999046728A1 (fr) * | 1998-03-09 | 1999-09-16 | Gemplus | Procede de fabrication de cartes sans contact |
JP2000114314A (ja) * | 1998-09-29 | 2000-04-21 | Hitachi Ltd | 半導体素子実装構造体およびその製造方法並びにicカード |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100359682C (zh) * | 2001-09-18 | 2008-01-02 | 纳格雷德股份有限公司 | 电子标签及其制造方法 |
JP2005251176A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-09-15 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Idラベル、idタグ及びidカード |
JP2008515178A (ja) * | 2004-09-24 | 2008-05-08 | オベルトゥル カード システムズ ソシエテ アノニム | 好ましくは軟質の支持体上に電子コンポーネントを組立てる方法及びかくして得られたパスポートといった電子物品 |
JP2006252050A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Icカードモジュール |
JP2007012965A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Nec Tokin Corp | Icチップの実装方法 |
JP2009503651A (ja) * | 2005-07-19 | 2009-01-29 | チエツクポイント システムズ, インコーポレーテツド | パレット及びカートンのためのrfidタグ並びにそれを添付するシステム |
WO2007125841A1 (en) * | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and electronic appliance having the semiconductor device |
JP2007318114A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-12-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置及び半導体装置の作製方法、並びに当該半導体装置を有する電子機器 |
US8378484B2 (en) | 2006-04-27 | 2013-02-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and electronic appliance having the semiconductor device |
TWI490925B (zh) * | 2006-04-27 | 2015-07-01 | Semiconductor Energy Lab | 半導體裝置,製造半導體裝置之方法及具有半導體裝置之電子器具 |
JP2012089750A (ja) * | 2010-10-21 | 2012-05-10 | Hitachi Chem Co Ltd | 半導体封止充てん用熱硬化性樹脂組成物及び半導体装置 |
US9431314B2 (en) | 2010-10-21 | 2016-08-30 | Hitachi Chemical Company, Ltd | Thermosetting resin composition for sealing packing of semiconductor, and semiconductor device |
TWI559471B (zh) * | 2010-10-21 | 2016-11-21 | 日立化成股份有限公司 | 半導體密封填充用熱硬化性樹脂組成物及半導體裝置 |
JP2020063067A (ja) * | 2018-10-17 | 2020-04-23 | 王子ホールディングス株式会社 | 包装材へのicタグの取付方法 |
JP7180268B2 (ja) | 2018-10-17 | 2022-11-30 | 王子ホールディングス株式会社 | 包装材へのicタグの取付方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7823322B2 (en) | Silicon chip having inclined contact pads and electronic module comprising such a chip | |
EP0928016B1 (en) | Process for manufacturing semiconductor wafer, semiconductor chip, and ic card | |
US5729053A (en) | Apparatus and method for flat circuit assembly | |
EP2492846B1 (en) | RFID tag, wireless charging antenna part, method of manufacturing the same, and mold | |
US11222861B2 (en) | Dual-interface IC card module | |
US10366320B2 (en) | Dual-interface IC card | |
JP2001015679A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPH11328352A (ja) | アンテナとicチップとの接続構造、及びicカード | |
KR100455748B1 (ko) | 비접촉식 데이터 캐리어 및 집적회로칩 | |
US7298265B2 (en) | RFID tag and method of manufacturing the same | |
US6566163B1 (en) | Method for making a contactless card with antenna connected with soldered wires | |
JP2001175829A (ja) | 非接触式データキャリアおよびicチップ | |
TWI662480B (zh) | 用於製造晶片卡模組之方法及晶片卡 | |
WO2009147547A1 (en) | Electronic device and method of manufacturing an electronic device | |
CN107111779B (zh) | 包括互连区的单面电子模块的制造方法 | |
JP2000242753A (ja) | 非接触データキャリア | |
EP3079105B1 (en) | Dual-interface ic card components and method for manufacturing the dual-interface ic card components | |
JP4521954B2 (ja) | Icモジュールの製造方法 | |
JP2006013555A (ja) | 半導体装置 | |
JP4163832B2 (ja) | 非接触式データキャリアおよびその製造方法 | |
JP2726648B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP4529216B2 (ja) | Icカード及びその製造方法 | |
JP2000293650A (ja) | 非接触式icカード用モジュール及び非接触式icカード | |
JPH04294556A (ja) | Tab用フィルムキャリア | |
JPH07228083A (ja) | Icカード用モジュールおよびicカード用モジュールの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070323 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100106 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100119 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100319 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100528 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100628 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100827 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101018 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110304 |