JP2001133520A - 基板保持機構および回路基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路基板に対するストレスの軽減を図りつ
つ、その反りを矯正可能な基板保持機構を提供する。 【解決手段】 ほぼ直立状態の回路基板Ｐにおける下端
部および上端部をそれぞれ挟持する下端部挟持手段１３
ａおよび上端部挟持手段１３ｂを備えた回路基板検査装
置用の基板保持機構２であって、回路基板Ｐの左端部お
よび右端部を所定位置でそれぞれ挟持する左端部挟持手
段１４ａおよび右端部挟持手段１４ｂを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、検査対象の回路基
板を直立させた状態で検査位置に保持する基板保持機
構、および、その基板保持機構を備え所定の電気的検査
を実行可能に構成された回路基板検査装置に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】この種の基板保持機構を備えた回路基板
検査装置として、出願人は、図９に示す回路基板検査装
置５１を既に開発している。この回路基板検査装置５１
は、検査対象の回路基板Ｐ（図１０参照）を直立させた
状態で検査位置に保持する基板保持機構５２と、基板保
持機構５２によって保持された回路基板Ｐに対して所定
の電気的検査を実行する図外の基板検査部とを備えて構
成されている。この場合、基板検査部は、回路基板Ｐの
表面Ｐａおよび裏面Ｐｂに接触可能に配設された１対の
検査用プローブと、回路基板Ｐの表面Ｐａまたは裏面Ｐ
ｂに沿って両検査用プローブを移動させるプローブ移動
機構と、検査用プローブの移動制御、検査用信号の入出
力、および回路基板Ｐの良否判別などを実行する制御部
（いずれも図示せず）とを備えている。

【０００３】一方、基板保持機構５２は、鉛直方向に立
設されたフレームＦ（図１０参照）に互いに平行となる
ように立設状態で固定されたレール６１ａ，６１ｂと、
回路基板Ｐの下端部を挟持可能に構成されレール６１
ａ，６１ｂに固定された基板挟持部６３ａと、基板挟持
部６３ａに対向配置されて回路基板Ｐの上端部を挟持可
能に構成され、上下方向（矢印Ｙ１，Ｙ２方向）に移動
可能にレール６１ａ，６１ｂに取り付けられた基板挟持
部６３ｂと、基板挟持部６３ｂを上下方向に移動させる
移動機構６６とを備えている。また、図１０に示すよう
に、基板挟持部６３ａは、レール６１ａ，６１ｂ（同図
はレール６１ｂのみを図示している）に固定されたベー
ス部７１ａを備えると共に、ベース部７１ａにスライド
可能に取り付けられたスライダ７２ａと、スライダ７２
ａに固定されたエアシリンダ７２ｂと、エアシリンダ７
２ｂのロッドの先端部に固定されてロッドの伸縮に応じ
て矢印Ｚ１，Ｚ２の向き（回路基板Ｐの表面に対して垂
直方向の向き）で移動させられる挟持板７３とをそれぞ
れ２組備えている。一方、基板挟持部６３ｂは、レール
６１ａ，６１ｂに固定されたベース部７１ｂを備えるほ
か、基板挟持部６３ａの構成要素と同一の構成要素を備
えている。

【０００４】移動機構６６は、図９に示すように、モー
タＭ２と、モータＭ２の回転軸に軸着されたプーリ３５
ａと、互いに並行となるように配設されたスプラインシ
ャフト３７ａ，３７ｂと、タイミングベルト３６ａでプ
ーリ３５ａに連結されると共にスプラインシャフト３７
ａに軸着されたプーリ３５ｂと、スプラインシャフト３
７ａに軸着されたプーリ３５ｃ，３５ｅと、スプライン
シャフト３７ｂに軸着されると共にタイミングベルト３
６ｂ，３６ｃでプーリ３５ｃ，３５ｅにそれぞれ連結さ
れたプーリ３５ｄ，３５ｆとを備えて構成されている。
この場合、基板挟持部６３ｂのベース部７１ｂは、金具
３８，３８でタイミングベルト３６ｂ，３６ｃに固定さ
れている。したがって、モータＭ２の回転時には、プー
リ３５ａが回転し、これに伴い、プーリ３５ｂが回転さ
せられて、スプラインシャフト３７ａと共にプーリ３５
ｃ，３５ｅが回転させられる。この結果、タイミングベ
ルト３６ｂ，３６ｃが回動させられるため、ベース部７
１ｂがレール６１ａ，６１ｂに沿って上下方向に移動す
る。

【０００５】次いで、回路基板Ｐに対する検査時には、
まず、モータＭ２を駆動して基板挟持部６３ｂを上動さ
せると共に、両基板挟持部６３ａ，６３ｂの各エアシリ
ンダ７２ｂのロッドを伸張させることにより、各挟持板
７３とベース部７１ａ（または７１ｂ）とを離間させ
る。次に、図１０に示すように、回路基板Ｐの下端部を
基板挟持部６３ａにおけるベース部７１ａおよび挟持板
７３の間に挿入した後に、基板挟持部６３ｂを下動させ
ることにより、図１１に示すように、基板挟持部６３ｂ
におけるベース部７１ｂおよび挟持板７３間に回路基板
Ｐの上端部を挿入する。次いで、各エアシリンダ７２ｂ
の各ロッドを引き込むことにより、各挟持板７３を矢印
Ｚ２の向き（基板面側の向き）で移動させ、ベース部７
１ａ，７１ｂと挟持板７３，７３・・とで回路基板Ｐの
下端部および上端部を挟持する。この状態で、モータＭ
２を駆動して基板挟持部６３ｂを上動させると、図１２
に示すように、矢印Ｙ１，Ｙ２の向き（上下方向の向
き）で回路基板Ｐが引き伸ばされ、これにより、反りが
矯正されて回路基板Ｐがほぼ平坦状態となる。この後、
回路基板Ｐの表面Ｐａおよび裏面Ｐｂに検査用プローブ
をそれぞれ接触させて所定の電気的検査を実行すること
により、回路基板Ｐの良否を判別する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、この回路基
板検査装置５１における基板保持機構５２には、以下の
改善すべき点がある。すなわち、基板保持機構５２で
は、回路基板Ｐの下端部および上端部を基板挟持部６３
ａ，６３ｂによって挟持させた状態で、基板挟持部６３
ｂを上動させることにより、回路基板Ｐの反りを矯正し
ている。しかし、この際に、回路基板Ｐの上下端部にス
トレスが集中する結果、その上下端部が破損するおそれ
がある。また、基板挟持部６３ａ，６３ｂによって挟持
可能な回路基板Ｐの上下端部面積が導体パターンによっ
て制限されるため、基板挟持部６３ａ，６３ｂの挟持力
を強力にするのは技術的に困難となる結果、比較的小面
積で厚手の回路基板Ｐの反りを矯正するのが困難とな
る。このため、これらの点を改善すべきとの要請があ
る。

【０００７】本発明は、かかる改善すべき点に鑑みてな
されたものであり、回路基板に対するストレスの軽減を
図りつつ、その反りを矯正可能な基板保持機構、および
その基板保持機構を備えた回路基板検査装置を提供する
ことを主目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく請
求項１記載の基板保持機構は、ほぼ直立状態の回路基板
における下端部および上端部をそれぞれ挟持する下端部
挟持手段および上端部挟持手段を備えた回路基板検査装
置用の基板保持機構であって、回路基板の左端部および
右端部を所定位置でそれぞれ挟持する左端部挟持手段お
よび右端部挟持手段を備えていることを特徴とする。

【０００９】請求項２記載の基板保持機構は、請求項１
記載の基板保持機構において、下端部挟持手段および上
端部挟持手段の少なくとも一方を上下動させる第１上下
動機構を備え、第１上下動機構を駆動して下端部挟持手
段および上端部挟持手段を互いに離間させることにより
回路基板を上下方向に伸張させた状態で検査位置に保持
することを特徴とする。

【００１０】請求項３記載の基板保持機構は、請求項２
記載の基板保持機構において、回路基板の左右端部に沿
って左端部挟持手段および右端部挟持手段をそれぞれ上
下動させ、かつ第１上下動機構によって下端部挟持手段
および上端部挟持手段が回路基板の下端部および上端部
を挟持可能な位置に移動させられたときに左端部挟持手
段および右端部挟持手段を回路基板の上下方向のほぼ中
央部に移動させる第２上下動機構を備えていることを特
徴とする。

【００１１】請求項４記載の基板保持機構は、請求項１
から３のいずれかに記載の基板保持機構において、左端
部挟持手段および右端部挟持手段の少なくとも一方を左
右動移動させる左右動機構を備え、左右動機構を駆動し
て左端部挟持手段および右端部挟持手段を互いに離間さ
せることにより回路基板を左右方向に伸張させた状態で
検査位置に保持することを特徴とする。

【００１２】請求項５記載の基板保持機構は、請求項１
から４のいずれかに記載の基板保持機構において、左端
部挟持手段および右端部挟持手段は、回路基板の一面に
当接可能なベース部と、待避位置から挟持位置の間で移
動可能に構成され挟持位置で回路基板の他面に当接させ
られてベース部と相俟って回路基板を挟持する挟持板
と、挟持板を両位置の間で移動させる挟持用移動手段と
をそれぞれ備えていることを特徴とする。

【００１３】請求項６記載の回路基板検査装置は、請求
項１から５のいずれかに記載の基板保持機構を備え、基
板保持機構によって検査位置に保持される回路基板に対
して所定の電気的検査を実行可能に構成されていること
を特徴とする。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係る基板保持機構を備えた回路基板検査装置の好適
な発明の実施の形態について説明する。なお、出願人が
既に開発している回路基板検査装置５１および基板保持
機構５２の構成要素と機能が共通する構成要素について
は、同一の符号を付して重複した説明を省略する。

【００１５】最初に、回路基板検査装置１の構成につい
て、図１〜４を参照して説明する。

【００１６】回路基板検査装置１は、図１に示すよう
に、直立状態の回路基板Ｐの反りを矯正しつつ所定の検
査位置に保持する基板保持機構２と、プローブ移動機構
３ａ，３ｂによって所定のプロービング位置に移動させ
られて回路基板Ｐの表面Ｐａおよび裏面Ｐｂに接触させ
られる検査用プローブ４ａ，４ｂと、基板保持機構２に
対する駆動制御、プローブ移動機構３ａ，３ｂの移動制
御、および回路基板Ｐの良否判別処理などを実行する制
御部５とを備えている。

【００１７】基板保持機構２は、図２に示すように、フ
レームＦ（図３参照）に互いに並行となるように固定さ
れたレール１１ａ，１１ｂと、矢印Ｘ１，Ｘ２の向き
（左右方向の向き）でスライド可能にレール１１ａ，１
１ｂに取り付けられたレール１２ａ，１２ｂと、本発明
における下端部側挟持手段に相当する下側挟持部１３ａ
と、本発明における上端部側挟持手段に相当する上側挟
持部１３ｂと、本発明における左端部側挟持手段に相当
する左側挟持部１４ａと、本発明における右端部側挟持
手段に相当する右側挟持部１４ｂと、移動機構１５〜１
７と、エア供給用のエアポンプＡＰ（図１参照）とを備
えている。

【００１８】下側挟持部１３ａは、図３に示すように、
レール１２ａ，１２ｂに固定されてレール１１ａの延設
方向に沿って長尺に形成されたベース部２１ａと、ベー
ス部２１ａに固定されたエアシリンダ２２と、エアシリ
ンダ２２のロッドの先端部に固定されてロッドの伸縮に
応じて矢印Ｚ１，Ｚ２の向き（回路基板Ｐの表面に対し
て垂直方向の向き）で移動させられる挟持板２３とを備
えている。一方、上側挟持部１３ｂは、同図に示すよう
に、矢印Ｙ１，Ｙ２の向き（上下方向の向き）でスライ
ド可能にレール１２ａ，１２ｂに固定されてレール１１
ｂの延設方向に沿って長尺に形成されたベース部２１ｂ
と、ベース部２１ｂに固定されたエアシリンダ２２と、
エアシリンダ２２のロッドの先端部に固定されてロッド
の伸縮に応じて回路基板Ｐの表面に対して垂直方向の向
きで移動させられる挟持板２３とを備えている。

【００１９】左側挟持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂ
は、図２に示すように、それぞれレール１２ａ，１２ｂ
に取り付けられて下側挟持部１３ａおよび上側挟持部１
３ｂの中間部位に配置される。また、両挟持部１４ａ，
１４ｂは、図４に示すように（同図では左側挟持部１４
ａのみを示している）、レール１２ａ，１２ｂに上下方
向にスライド可能に取り付けられて回路基板Ｐの裏面Ｐ
ｂに面的接触するベース部２５と、矢印Ｘ１，Ｘ２の向
き（左右方向の向き）でスライド可能にベース部２５に
取り付けられたスライダ２６と、本発明における挟持用
移動手段に相当しスライダ２６を左右方向に移動させる
エアシリンダ２７と、矢印Ｚ１，Ｚ２の向きで移動可能
にエアシリンダ２９のロッドの先端に取り付けられた挟
持板２８と、挟持板２８を移動させるエアシリンダ２９
とをそれぞれ備えている。この場合、左側挟持部１４ａ
および右側挟持部１４ｂのベース部２５，２５、下側挟
持部１３ａのベース部２１ａ、および上側挟持部１３ｂ
のベース部２１ｂは、その表面が面一となるように配置
され、ベース部２５，２５，２１ａ，２１ｂの各々の表
面が回路基板Ｐの裏面Ｐｂに面的に接触する。

【００２０】移動機構１５は、本発明における左右動機
構に相当し、図２に示すように、モータＭ１と、モータ
Ｍ１の回転軸に軸着されたプーリ３１ａと、タイミング
ベルト３２ａ，３２ｂでプーリ３１ａにそれぞれ連結さ
れたプーリ３１ｂ，３１ｃと、タイミングベルト３２ｃ
でプーリ３１ｃに連結されたプーリ３１ｄとを備えてい
る。この場合、タイミングベルト３２ａ，３２ｃには、
金具３３，３３によってレール１２ａ，１２ｂが固定さ
れている。したがって、モータＭ１の回転時には、タイ
ミングベルト３２ａ，３２ｃが回動することにより、レ
ール１２ａ，１２ｂが左右方向の向きで、かつ互いに逆
方向にレール１１ａ，１１ｂ上をスライドする。これに
より、レール１２ａ，１２ｂに取り付けられた左側挟持
部１４ａおよび右側挟持部１４が、互いに接近または離
間させられることにより、回路基板Ｐの基板幅に応じた
所定位置に移動する。

【００２１】移動機構１６は、本発明における第１上下
動機構に相当し、モータＭ２、プーリ３５ａ〜３５ｆ、
タイミングベルト３６ａ〜３６ｃおよびスプラインシャ
フト３７ａ，３７ｂを備えている。この場合、タイミン
グベルト３６ｂ，３６ｃには、金具３８，３８で上側挟
持部１３ｂのベース部２１ｂが固定されている。したが
って、モータＭ２の回転時には、プーリ３５ａが回転
し、これに伴い、プーリ３５ｂが回転させられ、これに
より、スプラインシャフト３７ａと共にプーリ３５ｃ，
３５ｅが回転させられて、上側挟持部１３ｂがレール１
２ａ，１２ｂに沿って上下方向に移動する。この結果、
上側挟持部１３ｂが下側挟持部１３ａに対して接近また
は離間させられる。

【００２２】移動機構１７は、本発明における第２上下
動機構に相当し、スプラインシャフト３７ａに軸着され
たプーリ３５ｇ，３５ｉと、タイミングベルト３６ｄ，
３６ｅでプーリ３５ｇ，３５ｉにそれぞれ連結されると
共にスプラインシャフト３７ｂに軸着されたプーリ３５
ｈ，３５ｊとを備えている。この場合、プーリ３５ｇ〜
３５ｊは、その直径が移動機構１６のプーリ３５ｃ〜３
５ｆの直径に対して１／２に形成されている。さらに、
タイミングベルト３６ｄ，３６ｅには、金具３９，３９
で左側挟持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂのベース部
２５，２５が固定されている。したがって、モータＭ２
の回転時には、プーリ３５ａが回転し、これに伴い、プ
ーリ３５ｇ，３５ｉが回転させられ、これにより、タイ
ミングベルト３６ｄ，３６ｅが移動機構１６のタイミン
グベルト３６ｂ，３６ｃに対して１／２の速度で回動さ
せられ、左側挟持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂがレ
ール１２ａ，１２ｂに沿って上下方向に移動する。な
お、両挟持部１４ａ，１４ｂの上方での待機位置は、上
側挟持部１３ｂが上方の待機位置で待機している際の両
挟持部１３ａ，１３ｂ間のほぼ中央に規定されている。

【００２３】次に、回路基板検査装置１による回路基板
Ｐの検査について、各図を参照して説明する。

【００２４】まず、制御部５は、モータＭ１を駆動して
レール１２ａ，１２ｂを互いに離間させることにより、
左側挟持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂを検査対象の
回路基板Ｐの基板幅に応じた待機位置に移動させる。同
時に、制御部５は、エアポンプＡＰを駆動制御すること
により、図５（ａ）に示すように、左側挟持部１４ａの
エアシリンダ２７のロッドを引き込んでスライダ２６を
左方向にスライドさせることにより挟持板２８を待避位
置に移動させ、同時に、右側挟持部１４ｂのエアシリン
ダ２７のロッドを引き込んでスライダ２６を右方向にス
ライドさせることにより挟持板２８を待避位置に移動さ
せる。次に、図６に示すように、下側挟持部１３ａのベ
ース部２１ａおよび挟持板２３の間に回路基板Ｐを直立
状態で装着する。この際には、左側挟持部１４ａ，１４
ｂの各挟持板２８が待避位置に待避しているため、回路
基板Ｐを容易に装着することができる。次いで、制御部
５は、モータＭ２を駆動することにより、左側挟持部１
４ａ、右側挟持部１４ｂおよび上側挟持部１３ｂを矢印
Ｙ２の向き（下向き）で移動させて回路基板Ｐの基板長
に応じた挟持位置に移動させる。

【００２５】この際には、移動機構１７のタイミングベ
ルト３６ｄ，３６ｅが、移動機構１６のタイミングベル
ト３６ｂ，３６ｅの回転速度に対して１／２の速度で回
転させられるため、上側挟持部１３ｂの下動移動量に対
して左側挟持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂの下動移
動量が１／２となる。したがって、左側挟持部１４ａお
よび右側挟持部１４ｂは、常に下側挟持部１３ａおよび
上側挟持部１３ｂ間のほぼ中央位置に配置される。挟持
部１３ｂ，１４ａ，１４ｂが挟持位置にそれぞれ配置さ
れた際には、図７に示すように、下側挟持部１３ａ、上
側挟持部１３ｂ、左側挟持部１４ａおよび右側挟持部１
４ｂが、回路基板Ｐにおける下端部、上端部、左端部お
よび右端部を挟持可能な状態となる。

【００２６】次いで、制御部５は、エアポンプＡＰを駆
動制御することにより、左側挟持部１４ａおよび右側挟
持部１４ｂのエアシリンダ２７，２７を伸張させてスラ
イダ２６，２６を回路基板Ｐ側に移動させることによ
り、図５（ｂ）に示すように、挟持板２８，２８が、回
路基板Ｐの左端部および右端部をそれぞれ挟持可能な挟
持位置に移動する。

【００２７】次に、制御部５は、エアポンプＡＰを駆動
制御することにより、下側挟持部１３ａおよび上側挟持
部１３ｂのエアシリンダ２２，２２のロッドと、左側挟
持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂのエアシリンダ２
９，２９のロッドとを引き込ませる。これにより、図８
に示すように、回路基板Ｐの上下端部および左右端部
が、両挟持部１３ｂ，１３ａおよび両挟持部１４ａ，１
４ｂによってそれぞれ挟持される。この際には、回路基
板Ｐにおける上下方向の中央部が両挟持部１４ａ，１４
ｂによって挟持されるため、回路基板Ｐにストレスを与
えることなく、基板面に対して上下方向に対する反りを
最も効率的に矯正することができる。

【００２８】続いて、制御部５は、モータＭ２を回転し
て移動機構１６，１７を駆動することにより、上側挟持
部１３ｂ、左側挟持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂ
を、それぞれ上方、左側および右側に僅かに移動させ
る。この際には、上側挟持部１３ｂが、回路基板Ｐを上
方に引き伸ばすことにより、回路基板Ｐの上下方向に対
する反りをさらに矯正し、かつ、左側挟持部１４ａおよ
び右側挟持部１４ｂが、回路基板Ｐを左右方向に引き伸
ばすことにより、回路基板Ｐの上下方向および左右方向
に対する反りをさらに矯正する。これにより、回路基板
Ｐは、その反りが確実に矯正されて平坦状態で検査位置
に保持される。この後、制御部５が、プローブ移動機構
３ａ，３ｂを駆動制御して回路基板Ｐの表面Ｐａおよび
裏面Ｐｂに検査用プローブ４ａ，４ｂをそれぞれ接触さ
せた後、検査用信号を入出力して所定の電気的検査を実
行する。これにより、回路基板Ｐの良否が判別される。
この場合、回路基板Ｐの表面Ｐａおよび裏面Ｐｂに検査
用プローブ４ａ，４ｂを確実に接触させることができる
結果、その回路基板Ｐに対する電気的検査を高精度で行
うことができると共に、回路基板Ｐに当接する際の検査
用プローブ４ａ，４ｂの破損を防止することができる。

【００２９】このように、この回路基板検査装置１で
は、下側挟持部１３ａ、上側挟持部１３ｂ、左側挟持部
１４ａおよび右側挟持部１４ｂによって回路基板Ｐの下
端部、上端部、左端部および右端部を挟持した状態で上
下方向および左右方向の四方向に向けて引き伸ばすこと
により、回路基板Ｐに与えるストレスを分散しつつ、よ
り確実に矯正することができる。このため、回路基板Ｐ
の下端部および上端部を挟持して上下方向に引き伸ばし
ている回路基板検査装置５１と比較して、回路基板Ｐに
与えるストレスを低減することができ、しかも、その反
り量を確実に低減することができる。また、この基板保
持機構２では、挟持板２３を左右方向に対して長目に形
成したことにより、下側挟持部１３ａおよび上側挟持部
１３ｂで回路基板Ｐを挟持するだけで、回路基板検査装
置５１と比較して、回路基板Ｐに与えるストレスを低減
しつつ、その反り量を低減することができる。

【００３０】なお、本発明は、上記した本発明の実施の
形態に示した構成に限定されない。例えば、本発明の実
施の形態では、上側挟持部１３ｂ、左側挟持部１４ａお
よび右側挟持部１４ｂが回路基板Ｐを引き伸ばす例につ
いて説明したが、これに限らず、すべての挟持部１３
ａ，１３ｂ，１４ａ，１４ｂが回路基板Ｐを挟持するの
みで引き伸ばさない構成を採用することもできる。ま
た、左側挟持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂのいずれ
か一方または双方のみが引き伸ばす構成、下側挟持部１
３ａおよび上側挟持部１３ｂのいずれか一方または双方
のみが引き伸ばす構成、および、すべての挟持部１３
ａ，１３ｂ，１４ａ，１４ｂが引き伸ばす構成を採用す
ることもできる。また、本発明の実施の形態では、エア
シリンダやモータ駆動によって回路基板Ｐの挟持および
反りの矯正を行う構成例について説明したが、本発明に
おける基板保持機構の構成はこれに限定されず、油圧機
構などを初めとして各種の構成を採用することができ
る。

【００３１】

【発明の効果】以上のように、請求項１記載の基板保持
機構によれば、左端部挟持手段および右端部挟持手段が
回路基板の左端部および右端部を所定位置でそれぞれ挟
持することにより、挟持手段の挟持力を格別に強力にす
ることなく、回路基板に対するストレスを低減しつつ、
その反りを矯正することができる。

【００３２】また、請求項２記載の基板保持機構によれ
ば、第１上下動機構が下端部挟持手段および上端部挟持
手段を互いに離間させて回路基板を上下方向に伸張させ
た状態で検査位置に保持することにより、回路基板の反
りをさらに矯正することができる。

【００３３】さらに、請求項３記載の基板保持機構によ
れば、第１上下動機構によって下端部挟持手段および上
端部挟持手段が回路基板を挟持可能な位置に移動させら
れたときに第２上下動機構が左端部挟持手段および右端
部挟持手段を回路基板の上下方向のほぼ中央部に移動さ
せることにより、回路基板における上下方向の中央部が
左端部挟持手段および右端部挟持手段によって挟持され
るため、回路基板にストレスを与えることなく、基板面
に対して上下方向に対する反りを最も効率的に矯正する
ことができる。

【００３４】また、請求項４記載の基板保持機構によれ
ば、左右動機構が左端部挟持手段および右端部挟持手段
を互いに離間させて回路基板を左右方向に伸張させるこ
とにより、さらに確実に回路基板の反りを矯正すること
ができる。

【００３５】また、請求項５記載の基板保持機構によれ
ば、挟持用移動手段が挟持板を待避位置と挟持位置との
間で移動させることにより、回路基板を基板保持機構に
容易に装着することができる。

【００３６】加えて、請求項６記載の回路基板検査装置
によれば、回路基板における上下左右の各端部を基板保
持機構における各挟持手段によって挟持した状態で所定
の電気的検査を実行することにより、例えば、検査用プ
ローブや検査用電極を用いた回路基板検査装置では、回
路基板の表面および裏面に検査用プローブや検査用電極
を確実に接触させることができる結果、その回路基板に
対する電気的検査を高精度で行うことができると共に、
検査用プローブや検査用電極などの破損を防止すること
もできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る回路基板検査装置１
の構成を示す構成概念図である。

【図２】本発明の実施の形態に係る基板保持機構２の正
面図である。

【図３】図２におけるＡ−Ａ線断面図である。

【図４】左側挟持部１４ａの構成を示す側面断面図であ
る。

【図５】（ａ）は挟持板２８が待避位置に移動させられ
た状態の左側挟持部１４ａの側面断面図、（ｂ）は挟持
板２８が挟持位置に移動させられた状態の左側挟持部１
４ａの側面断面図である。

【図６】下側挟持部１３ａにおけるベース部２１ａおよ
び挟持板２３間に回路基板Ｐの下端部が挿入された状態
の側面断面図である。

【図７】上側挟持部１３ｂ、左側挟持部１４ａおよび右
側挟持部１４ｂを挟持位置に移動させた状態の側面断面
図である。

【図８】下側挟持部１３ａ、上側挟持部１３ｂ、左側挟
持部１４ａおよび右側挟持部１４ｂが回路基板Ｐの上下
左右の各端部を挟持した状態の側面断面図である。

【図９】出願人が既に開発している回路基板検査装置５
１における基板保持機構５２の正面図である。

【図１０】図９におけるＢ−Ｂ線断面図である。

【図１１】基板挟持部６３ｂを挟持位置に移動させた状
態の側面断面図である。

【図１２】基板挟持部６３ａ，６３ｂが回路基板Ｐの下
端部および上端部を挟持した状態の側面断面図である。

【符号の説明】

１ 回路基板検査装置 ２ 基板保持機構 １３ａ 下側挟持部 １３ｂ 上側挟持部 １４ａ 左側挟持部 １４ｂ 右側挟持部 １５ 移動機構 １６ 移動機構 １７ 移動機構 ２５ ベース部 ２６ スライダ ２７ エアシリンダ ２８ 挟持板 ２９ エアシリンダ Ｐ 回路基板

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ほぼ直立状態の回路基板における下端部
   および上端部をそれぞれ挟持する下端部挟持手段および
   上端部挟持手段を備えた回路基板検査装置用の基板保持
   機構であって、 前記回路基板の左端部および右端部を所定位置でそれぞ
   れ挟持する左端部挟持手段および右端部挟持手段を備え
   ていることを特徴とする基板保持機構。
2. 【請求項２】 前記下端部挟持手段および前記上端部挟
   持手段の少なくとも一方を上下動させる第１上下動機構
   を備え、前記第１上下動機構を駆動して前記下端部挟持
   手段および前記上端部挟持手段を互いに離間させること
   により前記回路基板を上下方向に伸張させた状態で検査
   位置に保持することを特徴とする請求項１記載の基板保
   持機構。
3. 【請求項３】 前記回路基板の前記左右端部に沿って前
   記左端部挟持手段および前記右端部挟持手段をそれぞれ
   上下動させ、かつ前記第１上下動機構によって前記下端
   部挟持手段および前記上端部挟持手段が前記回路基板の
   前記下端部および前記上端部を挟持可能な位置に移動さ
   せられたときに前記左端部挟持手段および前記右端部挟
   持手段を当該回路基板の上下方向のほぼ中央部に移動さ
   せる第２上下動機構を備えていることを特徴とする請求
   項２記載の基板保持機構。
4. 【請求項４】 前記左端部挟持手段および前記右端部挟
   持手段の少なくとも一方を左右動移動させる左右動機構
   を備え、当該左右動機構を駆動して前記左端部挟持手段
   および前記右端部挟持手段を互いに離間させることによ
   り前記回路基板を左右方向に伸張させた状態で前記検査
   位置に保持することを特徴とする請求項１から３のいず
   れかに記載の基板保持機構。
5. 【請求項５】 前記左端部挟持手段および前記右端部挟
   持手段は、前記回路基板の一面に当接可能なベース部
   と、待避位置から挟持位置の間で移動可能に構成され当
   該挟持位置で前記回路基板の他面に当接させられて前記
   ベース部と相俟って当該回路基板を挟持する挟持板と、
   当該挟持板を前記両位置の間で移動させる挟持用移動手
   段とをそれぞれ備えていることを特徴とする請求項１か
   ら４のいずれかに記載の基板保持機構。
6. 【請求項６】 請求項１から５のいずれかに記載の基板
   保持機構を備え、当該基板保持機構によって前記検査位
   置に保持される前記回路基板に対して所定の電気的検査
   を実行可能に構成されていることを特徴とする回路基板
   検査装置。