JP2001125430A - 感光体の特性評価装置 - Google Patents
感光体の特性評価装置Info
- Publication number
- JP2001125430A JP2001125430A JP30178999A JP30178999A JP2001125430A JP 2001125430 A JP2001125430 A JP 2001125430A JP 30178999 A JP30178999 A JP 30178999A JP 30178999 A JP30178999 A JP 30178999A JP 2001125430 A JP2001125430 A JP 2001125430A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoconductor
- exposure
- photoreceptor
- charging
- timing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Discharging, Photosensitive Material Shape In Electrophotography (AREA)
- Cleaning In Electrography (AREA)
- Electrostatic Charge, Transfer And Separation In Electrography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】デジタル用感光体の特性を評価するときに、レ
ーザ露光後の表面電位データの先端部と終端部に現れる
鋭いひげ（露光されていない部分）をなくし、感光体の
特性を精度良く計測する。 【解決手段】感光体１の特性を評価する前に、あらかじ
め帯電装置２で感光体１表面を露光したときの帯電幅を
計測し、計測した帯電幅と感光体１の線速から露光装置
３をオン−オフするタイミングの補正時間を演算し、感
光体１の特性を評価するときに、演算した補正時間によ
り露光装置３をオン−オフするタイミングを補正する。
ーザ露光後の表面電位データの先端部と終端部に現れる
鋭いひげ（露光されていない部分）をなくし、感光体の
特性を精度良く計測する。 【解決手段】感光体１の特性を評価する前に、あらかじ
め帯電装置２で感光体１表面を露光したときの帯電幅を
計測し、計測した帯電幅と感光体１の線速から露光装置
３をオン−オフするタイミングの補正時間を演算し、感
光体１の特性を評価するときに、演算した補正時間によ
り露光装置３をオン−オフするタイミングを補正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、デジタル電子写
真プロセスに使用される感光体の特性評価装置に関する
ものである。
真プロセスに使用される感光体の特性評価装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】電子写真プロセスに使用する感光体特性
の評価、特に感度特性の測定方法としては各種方法が採
用されている。第１の測定方法は感光体を１０００ｒ．
ｐ．ｍ以上の高速回転させた状態で感光体の表面を帯電
し、所定の時間あるいは所定の表面電位になったところ
で帯電をオフし、その後、帯電した感光体の表面に光を
照射して所定の時間あるいは所定の表面電位になるまで
露光する。この露光により感光体が所定の表面電位にな
るまで減衰に要した時間と露光する照度の積を計算して
得た露光量を感光体の感度としている。
の評価、特に感度特性の測定方法としては各種方法が採
用されている。第１の測定方法は感光体を１０００ｒ．
ｐ．ｍ以上の高速回転させた状態で感光体の表面を帯電
し、所定の時間あるいは所定の表面電位になったところ
で帯電をオフし、その後、帯電した感光体の表面に光を
照射して所定の時間あるいは所定の表面電位になるまで
露光する。この露光により感光体が所定の表面電位にな
るまで減衰に要した時間と露光する照度の積を計算して
得た露光量を感光体の感度としている。
【０００３】第２の測定方法は、電子写真学会標準の白
色感光度測定法のダイナミック測定法に示すように、感
光体を１００ｒ．ｐ．ｍ以下の低速で回転させた状態
で、あらかじめ所定の表面電位になるよう調節された帯
電条件で感光体の表面を帯電し、感光体表面の帯電部分
が露光部を通り過ぎてゆくとき、あらかじめ定められた
照度でスリット光を照射して露光を行ない、露光部を通
り過ぎた後、所定の位置又は時間における表面電位を測
定し、測定した表面電位の値を感光体の感度としてい
る。
色感光度測定法のダイナミック測定法に示すように、感
光体を１００ｒ．ｐ．ｍ以下の低速で回転させた状態
で、あらかじめ所定の表面電位になるよう調節された帯
電条件で感光体の表面を帯電し、感光体表面の帯電部分
が露光部を通り過ぎてゆくとき、あらかじめ定められた
照度でスリット光を照射して露光を行ない、露光部を通
り過ぎた後、所定の位置又は時間における表面電位を測
定し、測定した表面電位の値を感光体の感度としてい
る。
【０００４】第３の測定方法は、電子写真学会標準の白
色感光度測定法のスタティック測定法に示すように、感
光体を１００ｒ．ｐ．ｍ以下の低速で回転させた状態
で、あらかじめ所定の表面電位になるように調節された
帯電条件で感光体の表面を帯電し、感光体表面の帯電部
分が露光部にきたときに感光体の回転を停止させ、あら
かじめ定めた照度の光をあらかじめ決められた時間だけ
照射し、表面電位の変化を表面電位計で測定し、所定の
表面電位減衰に要した露光量を感光体の感度としてい
る。
色感光度測定法のスタティック測定法に示すように、感
光体を１００ｒ．ｐ．ｍ以下の低速で回転させた状態
で、あらかじめ所定の表面電位になるように調節された
帯電条件で感光体の表面を帯電し、感光体表面の帯電部
分が露光部にきたときに感光体の回転を停止させ、あら
かじめ定めた照度の光をあらかじめ決められた時間だけ
照射し、表面電位の変化を表面電位計で測定し、所定の
表面電位減衰に要した露光量を感光体の感度としてい
る。
【０００５】これらの方法は一般的によく知られている
方法であるが、もともと結像光学系の複写機の電子写真
プロセスに対応して考えられた方法であって、現在主流
のデジタル電子写真プロセスでは、従来のプロセスに対
して感光体に当てられる光のパワーは６〜７乗のオーダ
で強くなっており、照射時間は逆に６〜７乗のオーダで
短くなっており、従来の測定方法ではデジタル電子写真
プロセスにおける感光体の特性を予測できないことが判
ってきた。
方法であるが、もともと結像光学系の複写機の電子写真
プロセスに対応して考えられた方法であって、現在主流
のデジタル電子写真プロセスでは、従来のプロセスに対
して感光体に当てられる光のパワーは６〜７乗のオーダ
で強くなっており、照射時間は逆に６〜７乗のオーダで
短くなっており、従来の測定方法ではデジタル電子写真
プロセスにおける感光体の特性を予測できないことが判
ってきた。
【０００６】レーザ書込みの露光装置を使用するデジタ
ル用マシンに搭載される感光体の感度特性の評価でマシ
ン内における特性を予測するためには、実マシンで感光
体に施されるのと同じ条件の尺度（スケール）で光照射
して評価するのが望ましい。このために露光光学系とし
て実マシンと同じ方式のレーザ書込み装置を利用すると
良い。そこで特性評価装置として、感光体の周囲に帯電
装置と帯電後の電位を測定する表面電位計とレーザ書込
みを行なう露光装置とレーザ露光後の表面電位を測定す
る表面電位計及び除電装置を必要最小限のプロセス装置
として配置する。これらの装置のオン−オフのタイミン
グは不要な光照射によって感光体が疲労するのを防ぐた
め実マシンに似たタイミングで制御する。すなわち、感
光体が回転し、帯電装置がオンしたときから感光体の中
心からみて帯電装置と露光装置のレーザビーム入射位置
とが形成する角度をθ2度、感光体の外径をＤ、感光体
の線速をＶとすると、露光装置をオンするタイミング
は、πＤ（θ2／３６０）／Ｖ時間後であるのが普通で
ある。このレーザ書込み光学系による露光がオンしたと
きからあらかじめ定められた時間が経過したときに露光
がオフになる。この露光時間は実マシンではプリントあ
るいは複写される用紙の送り方向のサイズを線速で割っ
た時間を基準に決められる。この時間は帯電器がオン−
オフしている時間とも同じである。
ル用マシンに搭載される感光体の感度特性の評価でマシ
ン内における特性を予測するためには、実マシンで感光
体に施されるのと同じ条件の尺度（スケール）で光照射
して評価するのが望ましい。このために露光光学系とし
て実マシンと同じ方式のレーザ書込み装置を利用すると
良い。そこで特性評価装置として、感光体の周囲に帯電
装置と帯電後の電位を測定する表面電位計とレーザ書込
みを行なう露光装置とレーザ露光後の表面電位を測定す
る表面電位計及び除電装置を必要最小限のプロセス装置
として配置する。これらの装置のオン−オフのタイミン
グは不要な光照射によって感光体が疲労するのを防ぐた
め実マシンに似たタイミングで制御する。すなわち、感
光体が回転し、帯電装置がオンしたときから感光体の中
心からみて帯電装置と露光装置のレーザビーム入射位置
とが形成する角度をθ2度、感光体の外径をＤ、感光体
の線速をＶとすると、露光装置をオンするタイミング
は、πＤ（θ2／３６０）／Ｖ時間後であるのが普通で
ある。このレーザ書込み光学系による露光がオンしたと
きからあらかじめ定められた時間が経過したときに露光
がオフになる。この露光時間は実マシンではプリントあ
るいは複写される用紙の送り方向のサイズを線速で割っ
た時間を基準に決められる。この時間は帯電器がオン−
オフしている時間とも同じである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらレーザ書
込みの露光を受けた後の表面電位計の計測データには帯
電エリアの先端部と終端部に鋭いひげのような突起（露
光されていない部分）がでてしまう。感光体の特性評価
装置では上記計測を繰り返すが、集録したデータの自動
解析で、この鋭いひげのような突起が障害になることあ
る。この問題の原因は帯電装置の開口幅に起因し、帯電
開始時と帯電終了時に感光体表面の帯電部分に広がりが
生じるためであり、露光されない部分が発生してしまう
ためと判明し、この問題を防ぐためにレーザ書込みオン
のタイミングとオフのタイミングを調整すれば良いこと
を見出した。
込みの露光を受けた後の表面電位計の計測データには帯
電エリアの先端部と終端部に鋭いひげのような突起（露
光されていない部分）がでてしまう。感光体の特性評価
装置では上記計測を繰り返すが、集録したデータの自動
解析で、この鋭いひげのような突起が障害になることあ
る。この問題の原因は帯電装置の開口幅に起因し、帯電
開始時と帯電終了時に感光体表面の帯電部分に広がりが
生じるためであり、露光されない部分が発生してしまう
ためと判明し、この問題を防ぐためにレーザ書込みオン
のタイミングとオフのタイミングを調整すれば良いこと
を見出した。
【０００８】デジタル電子写真プロセスを採用したマシ
ンのなかには、帯電時間がレーザ露光時間より短く設定
されたものがあるが、一通りの固定した条件設定であ
り、感光体の小径ドラムから大径ドラムまでに対応する
特性評価装置ではドラムサイズはもとより帯電器のサイ
ズも変わるため、柔軟なレーザ露光のオン−オフタイミ
ングの調整機構が望まれる。
ンのなかには、帯電時間がレーザ露光時間より短く設定
されたものがあるが、一通りの固定した条件設定であ
り、感光体の小径ドラムから大径ドラムまでに対応する
特性評価装置ではドラムサイズはもとより帯電器のサイ
ズも変わるため、柔軟なレーザ露光のオン−オフタイミ
ングの調整機構が望まれる。
【０００９】この発明はかかる要望に対応するためにな
されたものであり、実マシンと同様なタイミングでプロ
セス装置をオン−オフしてデジタル用感光体の特性を評
価するときに、レーザ書込みのオン−オフのタイミング
時間を調整することにより、レーザ露光後の表面電位デ
ータの先端部と終端部に現れる鋭いひげ（露光されてい
ない部分）をなくすようにした感光体の特性評価装置を
提供することを目的とするものである。
されたものであり、実マシンと同様なタイミングでプロ
セス装置をオン−オフしてデジタル用感光体の特性を評
価するときに、レーザ書込みのオン−オフのタイミング
時間を調整することにより、レーザ露光後の表面電位デ
ータの先端部と終端部に現れる鋭いひげ（露光されてい
ない部分）をなくすようにした感光体の特性評価装置を
提供することを目的とするものである。
【００１０】また、感光体表面の帯電幅に基づきレーザ
書込みのオン−オフのタイミング時間を調整したり、感
光体の大きさや帯電器の開口サイズ及び種類が変わって
も間違いなくレーザ書込みのオン−オフのタイミング時
間を調整して感光体の特性を精度良く計測する特性評価
装置を提供することを目的とする。
書込みのオン−オフのタイミング時間を調整したり、感
光体の大きさや帯電器の開口サイズ及び種類が変わって
も間違いなくレーザ書込みのオン−オフのタイミング時
間を調整して感光体の特性を精度良く計測する特性評価
装置を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明に係る感光体の
特性評価装置は、被検査体である感光体の装着部の周囲
に順に配置された帯電装置と露光装置と除電装置を有
し、帯電装置と露光装置の間に第１の表面電位計が配置
され、露光装置と除電装置の間に第２の表面電位計が配
置された感光体の特性評価装置において、感光体の特性
を評価する前に、あらかじめ帯電装置で感光体表面を露
光したときの帯電幅を計測し、計測した帯電幅と感光体
の線速から露光装置をオン−オフするタイミングの補正
時間を演算し、感光体の特性を評価するときに、演算し
た補正時間により露光装置をオン−オフするタイミング
を補正することを特徴とする。
特性評価装置は、被検査体である感光体の装着部の周囲
に順に配置された帯電装置と露光装置と除電装置を有
し、帯電装置と露光装置の間に第１の表面電位計が配置
され、露光装置と除電装置の間に第２の表面電位計が配
置された感光体の特性評価装置において、感光体の特性
を評価する前に、あらかじめ帯電装置で感光体表面を露
光したときの帯電幅を計測し、計測した帯電幅と感光体
の線速から露光装置をオン−オフするタイミングの補正
時間を演算し、感光体の特性を評価するときに、演算し
た補正時間により露光装置をオン−オフするタイミング
を補正することを特徴とする。
【００１２】この発明に係る感光体の第２の特性評価装
置は、被検査体である感光体の装着部の周囲に順に配置
された帯電装置と露光装置と除電装置を有し、帯電装置
と露光装置の間に第１の表面電位計が配置され、露光装
置と除電装置の間に第２の表面電位計が配置された感光
体の特性評価装置において、感光体を静止させた状態で
帯電装置をオン−オフして感光体表面を帯電させた後、
感光体を所定の線速で回転させ、第１の表面電位計で測
定した感光体表面の変化と感光体の線速から感光体表面
に形成された帯電幅を演算し、演算した帯電幅と感光体
の線速から露光装置をオン−オフするタイミングの補正
時間を演算し、演算した補正時間により露光装置をオン
−オフするタイミングを補正することを特徴とする。
置は、被検査体である感光体の装着部の周囲に順に配置
された帯電装置と露光装置と除電装置を有し、帯電装置
と露光装置の間に第１の表面電位計が配置され、露光装
置と除電装置の間に第２の表面電位計が配置された感光
体の特性評価装置において、感光体を静止させた状態で
帯電装置をオン−オフして感光体表面を帯電させた後、
感光体を所定の線速で回転させ、第１の表面電位計で測
定した感光体表面の変化と感光体の線速から感光体表面
に形成された帯電幅を演算し、演算した帯電幅と感光体
の線速から露光装置をオン−オフするタイミングの補正
時間を演算し、演算した補正時間により露光装置をオン
−オフするタイミングを補正することを特徴とする。
【００１３】上記補正時間を、感光体を静止させた状態
で帯電装置で帯電したときに感光体表面に形成された帯
電幅の１／２を感光体の特性を評価するときの感光体の
線速で除算して算出する。
で帯電装置で帯電したときに感光体表面に形成された帯
電幅の１／２を感光体の特性を評価するときの感光体の
線速で除算して算出する。
【００１４】この発明に係る感光体の他の特性評価装置
は、被検査体である感光体の装着部の周囲に順に配置さ
れた帯電装置と露光装置と除電装置を有し、帯電装置と
露光装置の間に第１の表面電位計が配置され、露光装置
と除電装置の間に第２の表面電位計が配置された感光体
の特性評価装置において、感光体を所定の線速で回転さ
せながら帯電装置により感光体の表面を帯電し、感光体
の表面にこの時から形成された帯電部の先端を第１の表
面電位計で検出した時間と、帯電装置と第１の表面電位
計と露光装置の感光体の周方向に対する配置位置と感光
体の外径及び感光体の線速とで定まる時間とから露光装
置をオン−オフするタイミングの補正時間を演算し、演
算した補正時間により露光装置をオン−オフするタイミ
ングを補正することを特徴とする。
は、被検査体である感光体の装着部の周囲に順に配置さ
れた帯電装置と露光装置と除電装置を有し、帯電装置と
露光装置の間に第１の表面電位計が配置され、露光装置
と除電装置の間に第２の表面電位計が配置された感光体
の特性評価装置において、感光体を所定の線速で回転さ
せながら帯電装置により感光体の表面を帯電し、感光体
の表面にこの時から形成された帯電部の先端を第１の表
面電位計で検出した時間と、帯電装置と第１の表面電位
計と露光装置の感光体の周方向に対する配置位置と感光
体の外径及び感光体の線速とで定まる時間とから露光装
置をオン−オフするタイミングの補正時間を演算し、演
算した補正時間により露光装置をオン−オフするタイミ
ングを補正することを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】この発明の感光体の特性評価装置
は、被測定物である感光体の装着部の周囲に帯電装置と
露光装置と除電装置が配置され、帯電装置と露光装置の
間に第１の表面電位計が配置され、露光装置と除電装置
の間に第２の表面電位計が配置されている。感光体は駆
動機構部に回転自在に保持されている。帯電装置と除電
装置及び第１の表面電位計と第２の表面電位計は、感光
体の周方向と径方向と長手方向とに移動できるように共
通の架台に取り付けられている。露光装置はレーザ書込
装置からなり、感光体の径方向と長手方向に可動でき、
感光体の径方向には感光体表面とレーザ書込系のｆθレ
ンズの焦点距離だけ間隔がとられるように決められる。
は、被測定物である感光体の装着部の周囲に帯電装置と
露光装置と除電装置が配置され、帯電装置と露光装置の
間に第１の表面電位計が配置され、露光装置と除電装置
の間に第２の表面電位計が配置されている。感光体は駆
動機構部に回転自在に保持されている。帯電装置と除電
装置及び第１の表面電位計と第２の表面電位計は、感光
体の周方向と径方向と長手方向とに移動できるように共
通の架台に取り付けられている。露光装置はレーザ書込
装置からなり、感光体の径方向と長手方向に可動でき、
感光体の径方向には感光体表面とレーザ書込系のｆθレ
ンズの焦点距離だけ間隔がとられるように決められる。
【００１６】制御部には、入力部とタイミング設定部と
コントローラと評価部及び出力部を有する。入力部は検
査する感光体の外径Ｄと感光体の線速Ｖと、露光装置の
レーザスキャン副走査方向の解像度と、帯電装置で帯電
する帯電時間と、露光装置のレーザ露光時間と、感光体
の中心に対する露光装置の位置を基準にした除電装置の
感光体の周方向における配置角度と、帯電装置の感光体
の周方向における配置角度と、第１の表面電位計の感光
体の周方向における配置角度及び第２の表面電位計の感
光体の周方向における配置角度等の情報を入力する。タ
イミング設定部は入力部から入力した各種情報と第１の
表面電位計から入力した感光体の表面電位から帯電装置
のオン−オフのタイミングと露光装置の露光のオン−オ
フのタイミングを設定する。コントローラは入力部から
入力した各種情報により感光体を回転駆動するとともに
帯電装置と露光装置及び除電装置の動作を制御し、入力
部から入力した各種情報と第１の表面電位計と第２の表
面電位計から入力した感光体の表面電位を評価部に送
る。評価部は送られた各種情報と感光体の表面電位と露
光量を感光体の感度として評価し出力部を介して表示装
置やプリンタに出力する。
コントローラと評価部及び出力部を有する。入力部は検
査する感光体の外径Ｄと感光体の線速Ｖと、露光装置の
レーザスキャン副走査方向の解像度と、帯電装置で帯電
する帯電時間と、露光装置のレーザ露光時間と、感光体
の中心に対する露光装置の位置を基準にした除電装置の
感光体の周方向における配置角度と、帯電装置の感光体
の周方向における配置角度と、第１の表面電位計の感光
体の周方向における配置角度及び第２の表面電位計の感
光体の周方向における配置角度等の情報を入力する。タ
イミング設定部は入力部から入力した各種情報と第１の
表面電位計から入力した感光体の表面電位から帯電装置
のオン−オフのタイミングと露光装置の露光のオン−オ
フのタイミングを設定する。コントローラは入力部から
入力した各種情報により感光体を回転駆動するとともに
帯電装置と露光装置及び除電装置の動作を制御し、入力
部から入力した各種情報と第１の表面電位計と第２の表
面電位計から入力した感光体の表面電位を評価部に送
る。評価部は送られた各種情報と感光体の表面電位と露
光量を感光体の感度として評価し出力部を介して表示装
置やプリンタに出力する。
【００１７】感光体の感度を測定するときに、タイミン
グ設定部は除電装置をオンにしてから帯電装置をオンに
するまでのタイミングを、入力部から入力した感光体の
外径Ｄと線速Ｖと除電装置の感光体の周方向における配
置角度と帯電装置の感光体の周方向における配置角度と
から設定し、帯電装置をオンにしたときの帯電開始点が
露光装置のレーザ書込み位置に到達するまでのタイミン
グを、感光体の外径Ｄと線速Ｖと帯電装置の感光体の周
方向における配置角度とから設定し、帯電装置の帯電時
間と露光装置のレーザ露光時間は紙送りサイズで指定す
る。さらに、露光装置のタイミングとレーザ露光時間を
補正する補正時間を設定する。この補正時間は、あらか
じめ感光体を静止させた状態で帯電装置を短時間オン−
オフして感光体の表面を帯電して、感光体の表面に帯電
部を形成する。その後、感光体を所定の線速で回転さ
せ、第１の表面電位計で感光体の帯電部の電位を計測す
る。タイミング設定部は第１の表面電位計で計測してい
る帯電電位と感光体の線速から感光体の帯電部の帯電幅
を算出し、算出した帯電幅を感光体の線速で除算して補
正時間を演算する。この補正時間を紙送りサイズで定ま
るレーザ露光時間の前後に加えて、露光装置のオン−オ
フの補正タイミングを設定する。
グ設定部は除電装置をオンにしてから帯電装置をオンに
するまでのタイミングを、入力部から入力した感光体の
外径Ｄと線速Ｖと除電装置の感光体の周方向における配
置角度と帯電装置の感光体の周方向における配置角度と
から設定し、帯電装置をオンにしたときの帯電開始点が
露光装置のレーザ書込み位置に到達するまでのタイミン
グを、感光体の外径Ｄと線速Ｖと帯電装置の感光体の周
方向における配置角度とから設定し、帯電装置の帯電時
間と露光装置のレーザ露光時間は紙送りサイズで指定す
る。さらに、露光装置のタイミングとレーザ露光時間を
補正する補正時間を設定する。この補正時間は、あらか
じめ感光体を静止させた状態で帯電装置を短時間オン−
オフして感光体の表面を帯電して、感光体の表面に帯電
部を形成する。その後、感光体を所定の線速で回転さ
せ、第１の表面電位計で感光体の帯電部の電位を計測す
る。タイミング設定部は第１の表面電位計で計測してい
る帯電電位と感光体の線速から感光体の帯電部の帯電幅
を算出し、算出した帯電幅を感光体の線速で除算して補
正時間を演算する。この補正時間を紙送りサイズで定ま
るレーザ露光時間の前後に加えて、露光装置のオン−オ
フの補正タイミングを設定する。
【００１８】このようにタイミング設定部で露光のオン
−オフの補正タイミングを設定することにより、帯電装
置により帯電した感光体の帯電部の先端（帯電開始時、
帯電装置がワイヤであればワイヤ直下位置）がレーザ書
込み位置に到達する時間より早く露光をオンにすること
ができるとともに感光体の帯電部の終端（帯電終了時、
帯電装置がワイヤであればワイヤ直下位置）がレーザ書
込み位置を通り過ぎた時間より遅く露光をオフにするこ
とができ、感光体の帯電部に露光されていなく、第２の
表面電位計の計測データに鋭いひげのような突起が現れ
ることを防ぐことができる。
−オフの補正タイミングを設定することにより、帯電装
置により帯電した感光体の帯電部の先端（帯電開始時、
帯電装置がワイヤであればワイヤ直下位置）がレーザ書
込み位置に到達する時間より早く露光をオンにすること
ができるとともに感光体の帯電部の終端（帯電終了時、
帯電装置がワイヤであればワイヤ直下位置）がレーザ書
込み位置を通り過ぎた時間より遅く露光をオフにするこ
とができ、感光体の帯電部に露光されていなく、第２の
表面電位計の計測データに鋭いひげのような突起が現れ
ることを防ぐことができる。
【００１９】
【実施例】図１はこの発明の一実施例の構成図である。
図に示すように、感光体の特性評価装置は、被測定物で
ある感光体１の装着部の周囲に帯電装置２と露光装置３
と除電装置４が配置され、帯電装置２と露光装置３の間
に第１の表面電位計５が配置され、露光装置３と除電装
置４の間に第２の表面電位計６が配置されている。感光
体１は駆動機構部に回転自在に保持されている。帯電装
置２と除電装置４及び第１の表面電位計５と第２の表面
電位計６は、感光体１の周方向と径方向と長手方向とに
移動できるように共通の架台に取り付けられている。露
光装置３はレーザ書込装置からなり、感光体１の径方向
と長手方向に可動でき、感光体１の径方向には感光体１
表面とレーザ書込系のｆθレンズの焦点距離だけ間隔が
とられるように決められる。
図に示すように、感光体の特性評価装置は、被測定物で
ある感光体１の装着部の周囲に帯電装置２と露光装置３
と除電装置４が配置され、帯電装置２と露光装置３の間
に第１の表面電位計５が配置され、露光装置３と除電装
置４の間に第２の表面電位計６が配置されている。感光
体１は駆動機構部に回転自在に保持されている。帯電装
置２と除電装置４及び第１の表面電位計５と第２の表面
電位計６は、感光体１の周方向と径方向と長手方向とに
移動できるように共通の架台に取り付けられている。露
光装置３はレーザ書込装置からなり、感光体１の径方向
と長手方向に可動でき、感光体１の径方向には感光体１
表面とレーザ書込系のｆθレンズの焦点距離だけ間隔が
とられるように決められる。
【００２０】露光装置３のレーザ書込系のｆθレンズの
焦点距離ｆ１は実際に使用する複写機等（以下、実マシ
ンという）のレーザスキャン書込系のｆθレンズの焦点
距離ｆ２と近いもの、例えば、実マシンのレーザスキャ
ン書込系のｆθレンズの焦点距離ｆ２との比率ｆ２／ｆ
１が「１」、好ましくは０．７５〜１．３３の範囲にな
っている。これは感光体１上の１点が露光される時間に
ついて、実マシンに対する差を極力小さくするためであ
る。
焦点距離ｆ１は実際に使用する複写機等（以下、実マシ
ンという）のレーザスキャン書込系のｆθレンズの焦点
距離ｆ２と近いもの、例えば、実マシンのレーザスキャ
ン書込系のｆθレンズの焦点距離ｆ２との比率ｆ２／ｆ
１が「１」、好ましくは０．７５〜１．３３の範囲にな
っている。これは感光体１上の１点が露光される時間に
ついて、実マシンに対する差を極力小さくするためであ
る。
【００２１】特性評価装置の制御部には、図２のブロッ
ク図に示すように、入力部８とタイミング設定部９とコ
ントローラ１０と評価部１１及び出力部１２を有する。
入力部８は検査する感光体１の外径Ｄと感光体１の線速
Ｖと、露光装置３のレーザスキャン副走査方向の解像度
と、帯電装置２で帯電する帯電時間Ｔchと、露光装置３
のレーザ露光時間Ｔexpと、感光体１の中心に対する露
光装置３の位置を基準にした除電装置４の感光体１の周
方向における配置角度θ1と、帯電装置２の感光体１の
周方向における配置角度θ2と、第１の表面電位計５の
感光体１の周方向における配置角度θ3及び第２の表面
電位計６の感光体１の周方向における配置角度θ4等の
情報を入力する。ここで各配置角度θ1〜θ4の単位は
「度」で入力される。タイミング設定部９は入力部８か
ら入力した各種情報と第１の表面電位計５から入力した
感光体１の表面電位から帯電装置２のオン−オフのタイ
ミングと露光装置３の露光のオン−オフのタイミングを
設定する。コントローラ１０は入力部８から入力した各
種情報により感光体１を回転駆動するとともに帯電装置
２と露光装置３及び除電装置４の動作を制御し、入力部
８から入力した各種情報と第１の表面電位計５と第２の
表面電位計６から入力した感光体１の表面電位を評価部
１１に送る。評価部１１は送られた各種情報と感光体１
の表面電位と露光量を感光体１の感度として評価し出力
部１２を介して表示装置やプリンタに出力する。
ク図に示すように、入力部８とタイミング設定部９とコ
ントローラ１０と評価部１１及び出力部１２を有する。
入力部８は検査する感光体１の外径Ｄと感光体１の線速
Ｖと、露光装置３のレーザスキャン副走査方向の解像度
と、帯電装置２で帯電する帯電時間Ｔchと、露光装置３
のレーザ露光時間Ｔexpと、感光体１の中心に対する露
光装置３の位置を基準にした除電装置４の感光体１の周
方向における配置角度θ1と、帯電装置２の感光体１の
周方向における配置角度θ2と、第１の表面電位計５の
感光体１の周方向における配置角度θ3及び第２の表面
電位計６の感光体１の周方向における配置角度θ4等の
情報を入力する。ここで各配置角度θ1〜θ4の単位は
「度」で入力される。タイミング設定部９は入力部８か
ら入力した各種情報と第１の表面電位計５から入力した
感光体１の表面電位から帯電装置２のオン−オフのタイ
ミングと露光装置３の露光のオン−オフのタイミングを
設定する。コントローラ１０は入力部８から入力した各
種情報により感光体１を回転駆動するとともに帯電装置
２と露光装置３及び除電装置４の動作を制御し、入力部
８から入力した各種情報と第１の表面電位計５と第２の
表面電位計６から入力した感光体１の表面電位を評価部
１１に送る。評価部１１は送られた各種情報と感光体１
の表面電位と露光量を感光体１の感度として評価し出力
部１２を介して表示装置やプリンタに出力する。
【００２２】上記のように構成された特性評価装置にお
いて感光体１の感度を測定するときは、図３のタイムチ
ャートに示すように、露光装置３のポリゴンミラーを回
転するとともに感光体１を一定の回転速度で回転させな
がら、除電装置４で感光体１の表面を除電し、帯電装置
２で感光体１の表面を所定の表面電位になるように帯電
し、帯電した感光体１に露光装置３でレーザ光を照射す
る。この帯電したときの感光体１の表面電位を第１の表
面電位計５で測定し、露光後の感光体１の表面電位を第
２の表面電位計６で測定し、一方、電位減衰に要した露
光量（到達エネルギ）Ｅを、 Ｅ＝（レーザの露光パワー×有効走査期間率）／（有効
書込み幅×線速） で計算し、計算した露光量と測定された露光後の電位あ
るいは露光前後の電位変化量との関係を感光体１の感度
とする。この処理を感光体１に照射される露光パワーを
換えて所定回数繰返す。
いて感光体１の感度を測定するときは、図３のタイムチ
ャートに示すように、露光装置３のポリゴンミラーを回
転するとともに感光体１を一定の回転速度で回転させな
がら、除電装置４で感光体１の表面を除電し、帯電装置
２で感光体１の表面を所定の表面電位になるように帯電
し、帯電した感光体１に露光装置３でレーザ光を照射す
る。この帯電したときの感光体１の表面電位を第１の表
面電位計５で測定し、露光後の感光体１の表面電位を第
２の表面電位計６で測定し、一方、電位減衰に要した露
光量（到達エネルギ）Ｅを、 Ｅ＝（レーザの露光パワー×有効走査期間率）／（有効
書込み幅×線速） で計算し、計算した露光量と測定された露光後の電位あ
るいは露光前後の電位変化量との関係を感光体１の感度
とする。この処理を感光体１に照射される露光パワーを
換えて所定回数繰返す。
【００２３】この感光体１の感度を測定するときに、タ
イミング設定部９は除電装置４をオンにしてから帯電装
置２をオンにするまでのタイミングＴ１を、入力部８か
ら入力した感光体１の外径Ｄと線速Ｖと除電装置４の感
光体１の周方向における配置角度θ1と帯電装置２の感
光体１の周方向における配置角度θ2とから、 Ｔ１＝πＤ〔（θ1−θ2）／３６０〕／Ｖ で設定し、帯電装置２をオンにしたときの帯電開始点、
すなわち帯電装置２がワイヤーを使用しているときはワ
イヤー直下の位置、帯電装置２がローラであるときはロ
ーラと感光体１の接触している部分の中央位置、帯電装
置２が針電極であるときは針直下の位置が露光装置３の
レーザ書込み位置に到達するまでのタイミングＴ２を、
感光体１の外径Ｄと線速Ｖと帯電装置２の感光体１の周
方向における配置角度θ2とから、 Ｔ２＝πＤ（θ2／３６０）／Ｖ で設定し、帯電装置２の帯電時間Ｔchと露光装置３のレ
ーザ露光時間Ｔexpは紙送りサイズ／線速で指定する。
さらに、露光装置３のタイミングＴ２とレーザ露光時間
Ｔexpを補正する補正時間ΔＴを設定する。そして帯電
装置２をオンにしたときから時間（Ｔ２−ΔＴ）が経過
したときに露光装置３の露光をオンにし、露光装置３の
露光をオンにしてから時間（Ｔexp＋２ΔＴ）が経過し
たときに露光装置３の露光をオフにするように、露光の
オン−オフのタイミングを設定する。
イミング設定部９は除電装置４をオンにしてから帯電装
置２をオンにするまでのタイミングＴ１を、入力部８か
ら入力した感光体１の外径Ｄと線速Ｖと除電装置４の感
光体１の周方向における配置角度θ1と帯電装置２の感
光体１の周方向における配置角度θ2とから、 Ｔ１＝πＤ〔（θ1−θ2）／３６０〕／Ｖ で設定し、帯電装置２をオンにしたときの帯電開始点、
すなわち帯電装置２がワイヤーを使用しているときはワ
イヤー直下の位置、帯電装置２がローラであるときはロ
ーラと感光体１の接触している部分の中央位置、帯電装
置２が針電極であるときは針直下の位置が露光装置３の
レーザ書込み位置に到達するまでのタイミングＴ２を、
感光体１の外径Ｄと線速Ｖと帯電装置２の感光体１の周
方向における配置角度θ2とから、 Ｔ２＝πＤ（θ2／３６０）／Ｖ で設定し、帯電装置２の帯電時間Ｔchと露光装置３のレ
ーザ露光時間Ｔexpは紙送りサイズ／線速で指定する。
さらに、露光装置３のタイミングＴ２とレーザ露光時間
Ｔexpを補正する補正時間ΔＴを設定する。そして帯電
装置２をオンにしたときから時間（Ｔ２−ΔＴ）が経過
したときに露光装置３の露光をオンにし、露光装置３の
露光をオンにしてから時間（Ｔexp＋２ΔＴ）が経過し
たときに露光装置３の露光をオフにするように、露光の
オン−オフのタイミングを設定する。
【００２４】このようにタイミング設定部９で露光のオ
ン−オフのタイミングを設定することにより、帯電装置
２により帯電した感光体１の帯電部の先端（帯電開始
時、帯電装置がワイヤであればワイヤ直下位置）がレー
ザ書込み位置に到達する時間より早く露光をオンにする
ことができるとともに感光体１の帯電部の終端（帯電終
了時、帯電装置がワイヤであればワイヤ直下位置）がレ
ーザ書込み位置を通り過ぎた時間より遅く露光をオフに
することができ、感光体１の帯電部に露光されていな
く、第２の表面電位計６の計測データに鋭いひげのよう
な突起が現れることを防ぐことができ、感光体１の感度
を安定して測定することができる。
ン−オフのタイミングを設定することにより、帯電装置
２により帯電した感光体１の帯電部の先端（帯電開始
時、帯電装置がワイヤであればワイヤ直下位置）がレー
ザ書込み位置に到達する時間より早く露光をオンにする
ことができるとともに感光体１の帯電部の終端（帯電終
了時、帯電装置がワイヤであればワイヤ直下位置）がレ
ーザ書込み位置を通り過ぎた時間より遅く露光をオフに
することができ、感光体１の帯電部に露光されていな
く、第２の表面電位計６の計測データに鋭いひげのよう
な突起が現れることを防ぐことができ、感光体１の感度
を安定して測定することができる。
【００２５】このタイミング設定部９で露光装置３の露
光をオン−オフするタイミングの補正時間ΔＴを設定す
るときの一例を説明する。あらかじめ感光体１を静止さ
せた状態で帯電装置２を短時間オン−オフして、図４に
示すように、感光体１の表面に帯電部１３を形成し、そ
の後、感光体１を所定の線速で回転させ、形成した帯電
部１３の帯電幅Ｗを表面電位計で測定しておく。この帯
電幅Ｗを異なる外径Ｄの感光体１毎に行ない、感光体１
の外径Ｄと関連つけて入力部８から入力しておく。そし
て感光体１の特性評価を開始するときに、タイミング設
定部９で入力された感光体１の外径Ｄから帯電幅Ｗを読
み出し、読み出した帯電幅Ｗと入力された感光体１の線
速Ｖから補正時間ΔＴを、ΔＴ＝（Ｗ／２）／Ｖで演算
すれば良い。
光をオン−オフするタイミングの補正時間ΔＴを設定す
るときの一例を説明する。あらかじめ感光体１を静止さ
せた状態で帯電装置２を短時間オン−オフして、図４に
示すように、感光体１の表面に帯電部１３を形成し、そ
の後、感光体１を所定の線速で回転させ、形成した帯電
部１３の帯電幅Ｗを表面電位計で測定しておく。この帯
電幅Ｗを異なる外径Ｄの感光体１毎に行ない、感光体１
の外径Ｄと関連つけて入力部８から入力しておく。そし
て感光体１の特性評価を開始するときに、タイミング設
定部９で入力された感光体１の外径Ｄから帯電幅Ｗを読
み出し、読み出した帯電幅Ｗと入力された感光体１の線
速Ｖから補正時間ΔＴを、ΔＴ＝（Ｗ／２）／Ｖで演算
すれば良い。
【００２６】次ぎにタイミング設定部９で露光装置３の
露光をオン−オフするタイミングの補正時間ΔＴを設定
するときの第２の例を説明する。まず、図４に示すよう
に、感光体１を静止させた状態で帯電装置２を短時間オ
ン−オフして感光体１の帯電電位を１００Ｖから１００
０Ｖ程度にする。なお、極性は感光体１の極性による。
この帯電により感光体１の表面に帯電幅Ｗの帯電部１３
が形成される。その後、感光体１を所定の線速Ｖで回転
させ、第１の表面電位計５で感光体１の帯電部１３の電
位を計測する。タイミング設定部９は第１の表面電位計
５で計測している帯電電位と感光体１の線速Ｖから感光
体１の帯電部１３の帯電幅Ｗを算出し、算出した帯電幅
Ｗから補正時間ΔＴを、ΔＴ＝（Ｗ／２）／Ｖで演算す
る。この作業を感光体１の特性評価開始前に実行し、露
光装置３の露光をオンするタイミング（Ｔ２−ΔＴ）と
オフするタイミング（Ｔexp＋２ΔＴ）を設定する。そ
の後、コントローラ１０はタイミング設定部９で設定さ
れたタイミングに基づいて感光体１の特性評価の一連の
プログラムを実行する。このようにして補正時間ΔＴを
演算して露光のオン−オフのタイミングを設定すること
により、帯電装置２により帯電した感光体１の帯電部の
先端がレーザ書込み位置に到達する時間より早く、ある
いはほぼ同時に露光をオンにすることができるとともに
感光体１の帯電部の終端がレーザ書込み位置を通り過ぎ
た時間より遅く、あるいはほぼ同時に露光をオフにする
ことができる。
露光をオン−オフするタイミングの補正時間ΔＴを設定
するときの第２の例を説明する。まず、図４に示すよう
に、感光体１を静止させた状態で帯電装置２を短時間オ
ン−オフして感光体１の帯電電位を１００Ｖから１００
０Ｖ程度にする。なお、極性は感光体１の極性による。
この帯電により感光体１の表面に帯電幅Ｗの帯電部１３
が形成される。その後、感光体１を所定の線速Ｖで回転
させ、第１の表面電位計５で感光体１の帯電部１３の電
位を計測する。タイミング設定部９は第１の表面電位計
５で計測している帯電電位と感光体１の線速Ｖから感光
体１の帯電部１３の帯電幅Ｗを算出し、算出した帯電幅
Ｗから補正時間ΔＴを、ΔＴ＝（Ｗ／２）／Ｖで演算す
る。この作業を感光体１の特性評価開始前に実行し、露
光装置３の露光をオンするタイミング（Ｔ２−ΔＴ）と
オフするタイミング（Ｔexp＋２ΔＴ）を設定する。そ
の後、コントローラ１０はタイミング設定部９で設定さ
れたタイミングに基づいて感光体１の特性評価の一連の
プログラムを実行する。このようにして補正時間ΔＴを
演算して露光のオン−オフのタイミングを設定すること
により、帯電装置２により帯電した感光体１の帯電部の
先端がレーザ書込み位置に到達する時間より早く、ある
いはほぼ同時に露光をオンにすることができるとともに
感光体１の帯電部の終端がレーザ書込み位置を通り過ぎ
た時間より遅く、あるいはほぼ同時に露光をオフにする
ことができる。
【００２７】また、露光装置３の露光をオン−オフする
タイミングの補正時間ΔＴを設定する第３の例は、感光
体１を所定の線速Ｖで回転させながら帯電装置２をオン
−オフにして感光体１の表面を帯電する。この時から感
光体１表面に形成された帯電部１３の先端が第１の表面
電位計５で検出されるまでの時間Ｔｎを計測する。そし
て感光体１の外径Ｄと帯電装置２の感光体１の周方向に
おける配置角度θ2と第１の表面電位計５の感光体１の
周方向における配置角度θ3と感光体１の線速Ｖで定ま
る時間Ｔ23＝πＤ〔（θ2−θ3）／３６０〕／Ｖと時間
Ｔｎとの差から補正時間ΔＴをΔＴ＝（Ｔ23−Ｔｎ）で
演算する。この作業を感光体１の特性評価開始前に実行
し、露光装置３の露光をオンするタイミング（Ｔ２−Δ
Ｔ）とオフするタイミング（Ｔexp＋２ΔＴ）を設定す
る。その後、コントローラ１０はタイミング設定部９で
設定されたタイミングに基づいて感光体１の特性評価の
一連のプログラムを実行する。このようにして異なる外
径Ｄの感光体１の特性を評価する場合や帯電装置２の開
口サイズが変わっても、露光装置３の露光をオン−オフ
するタイミングを適正に設定することができ、感光体１
の感度を安定して測定することができる。
タイミングの補正時間ΔＴを設定する第３の例は、感光
体１を所定の線速Ｖで回転させながら帯電装置２をオン
−オフにして感光体１の表面を帯電する。この時から感
光体１表面に形成された帯電部１３の先端が第１の表面
電位計５で検出されるまでの時間Ｔｎを計測する。そし
て感光体１の外径Ｄと帯電装置２の感光体１の周方向に
おける配置角度θ2と第１の表面電位計５の感光体１の
周方向における配置角度θ3と感光体１の線速Ｖで定ま
る時間Ｔ23＝πＤ〔（θ2−θ3）／３６０〕／Ｖと時間
Ｔｎとの差から補正時間ΔＴをΔＴ＝（Ｔ23−Ｔｎ）で
演算する。この作業を感光体１の特性評価開始前に実行
し、露光装置３の露光をオンするタイミング（Ｔ２−Δ
Ｔ）とオフするタイミング（Ｔexp＋２ΔＴ）を設定す
る。その後、コントローラ１０はタイミング設定部９で
設定されたタイミングに基づいて感光体１の特性評価の
一連のプログラムを実行する。このようにして異なる外
径Ｄの感光体１の特性を評価する場合や帯電装置２の開
口サイズが変わっても、露光装置３の露光をオン−オフ
するタイミングを適正に設定することができ、感光体１
の感度を安定して測定することができる。
【００２８】〔具体例１〕 例えば感光体周方向に２０
ｍｍの幅を有し、６０μｍの外径を有する線に高圧を印
加してコロナ放電によりスコロトロン方式で、グリッド
電圧が±１５００Ｖまで印加可能な帯電装置２を使用し
て外径Ｄ＝６０ｍｍで長さＬ＝３４０ｍｍの感光体１を
静止した状態で帯電したときの帯電幅Ｗを調べた結果１
６ｍｍであった。そこであらかじめ帯電幅Ｗ＝２４ｍｍ
と、帯電幅Ｗ＝２１ｍｍと、帯電幅Ｗ＝１６ｍｍと、帯
電幅Ｗ＝０ｍｍ及び感光体１の線速Ｖ＝１８０ｍｍ／ｓ
を入力して、補正時間ΔＴを演算して露光装置３の露光
をオンするタイミング（Ｔ２−ΔＴ）とオフするタイミ
ング（Ｔexp＋２ΔＴ）を設定した。この設定したタイ
ミングで感光体１の特性評価の一連のプログラムを実行
して、露光後の感光体１の表面電位を第２の表面電位計
６で計測した結果を下記表１に示す。
ｍｍの幅を有し、６０μｍの外径を有する線に高圧を印
加してコロナ放電によりスコロトロン方式で、グリッド
電圧が±１５００Ｖまで印加可能な帯電装置２を使用し
て外径Ｄ＝６０ｍｍで長さＬ＝３４０ｍｍの感光体１を
静止した状態で帯電したときの帯電幅Ｗを調べた結果１
６ｍｍであった。そこであらかじめ帯電幅Ｗ＝２４ｍｍ
と、帯電幅Ｗ＝２１ｍｍと、帯電幅Ｗ＝１６ｍｍと、帯
電幅Ｗ＝０ｍｍ及び感光体１の線速Ｖ＝１８０ｍｍ／ｓ
を入力して、補正時間ΔＴを演算して露光装置３の露光
をオンするタイミング（Ｔ２−ΔＴ）とオフするタイミ
ング（Ｔexp＋２ΔＴ）を設定した。この設定したタイ
ミングで感光体１の特性評価の一連のプログラムを実行
して、露光後の感光体１の表面電位を第２の表面電位計
６で計測した結果を下記表１に示す。
【００２９】
【表１】
【００３０】上記表１において、評価結果の○印は第２
の表面電位計６の計測データに鋭いひげのような突起が
現れず、感光体１の感度を安定して測定することができ
た場合を示し、×印は第２の表面電位計６の計測データ
に鋭いひげのような突起が現れ、感光体１の感度を安定
して測定できなかった場合を示す。表１に示すように、
帯電幅Ｗ＝１６ｍｍで補正時間ΔＴ＝０．０４４秒以上
の場合には感光体１の感度を安定して測定することがで
きた。
の表面電位計６の計測データに鋭いひげのような突起が
現れず、感光体１の感度を安定して測定することができ
た場合を示し、×印は第２の表面電位計６の計測データ
に鋭いひげのような突起が現れ、感光体１の感度を安定
して測定できなかった場合を示す。表１に示すように、
帯電幅Ｗ＝１６ｍｍで補正時間ΔＴ＝０．０４４秒以上
の場合には感光体１の感度を安定して測定することがで
きた。
【００３１】〔具体例２〕 具体例１と同じ帯電装置を
使用し、外径Ｄ＝３０ｍｍで長さＬ＝３４０ｍｍの感光
体１を線速は９３ｍｍで回転しながら感光体１の表面を
帯電した。この感光体１表面に形成された帯電部１３の
先端が第１の表面電位計５で検出されるまでの時間Ｔｎ
を計測して感光体１の外径Ｄと帯電装置２の感光体１の
周方向における配置角度θ2と第１の表面電位計５の感
光体１の周方向における配置角度θ3と感光体１の線速
Ｖで定まる時間Ｔ23＝πＤ〔（θ2−θ3）／３６０〕／
Ｖと時間Ｔｎとの差から補正時間ΔＴを調べた結果、補
正時間ΔＴは、ΔＴ＝０．０９６秒であった。そこで補
正時間ΔＴ＝０．９７秒と、ΔＴ＝０．９１秒及びΔＴ
＝０．０５９秒をそれぞれ設定して露光装置３の露光を
オンするタイミング（Ｔ２−ΔＴ）とオフするタイミン
グ（Ｔexp＋２ΔＴ）を設定した。この設定したタイミ
ングで感光体１の特性評価の一連のプログラムを実行し
て、露光後の感光体１の表面電位を第２の表面電位計６
で計測した結果を下記表２に示す。下記表２において、
帯電幅Ｗは補正時間に対応する帯電幅を示す。
使用し、外径Ｄ＝３０ｍｍで長さＬ＝３４０ｍｍの感光
体１を線速は９３ｍｍで回転しながら感光体１の表面を
帯電した。この感光体１表面に形成された帯電部１３の
先端が第１の表面電位計５で検出されるまでの時間Ｔｎ
を計測して感光体１の外径Ｄと帯電装置２の感光体１の
周方向における配置角度θ2と第１の表面電位計５の感
光体１の周方向における配置角度θ3と感光体１の線速
Ｖで定まる時間Ｔ23＝πＤ〔（θ2−θ3）／３６０〕／
Ｖと時間Ｔｎとの差から補正時間ΔＴを調べた結果、補
正時間ΔＴは、ΔＴ＝０．０９６秒であった。そこで補
正時間ΔＴ＝０．９７秒と、ΔＴ＝０．９１秒及びΔＴ
＝０．０５９秒をそれぞれ設定して露光装置３の露光を
オンするタイミング（Ｔ２−ΔＴ）とオフするタイミン
グ（Ｔexp＋２ΔＴ）を設定した。この設定したタイミ
ングで感光体１の特性評価の一連のプログラムを実行し
て、露光後の感光体１の表面電位を第２の表面電位計６
で計測した結果を下記表２に示す。下記表２において、
帯電幅Ｗは補正時間に対応する帯電幅を示す。
【００３２】
【表２】
【００３３】上記表２において、評価結果の○印は第２
の表面電位計６の計測データに鋭いひげのような突起が
現れず、感光体１の感度を安定して測定することができ
た場合を示し、×印は第２の表面電位計６の計測データ
に鋭いひげのような突起が現れ、感光体１の感度を安定
して測定できなかった場合を示す。表２に示すように、
補正時間ΔＴを０．０９７秒に設定した場合には感光体
１の感度を安定して測定することができたが、補正時間
ΔＴが０．０９１秒と０．５９秒の場合には第２の表面
電位計６の計測データに鋭いひげのような突起が現れ、
感光体１の感度を安定して測定できなかった。
の表面電位計６の計測データに鋭いひげのような突起が
現れず、感光体１の感度を安定して測定することができ
た場合を示し、×印は第２の表面電位計６の計測データ
に鋭いひげのような突起が現れ、感光体１の感度を安定
して測定できなかった場合を示す。表２に示すように、
補正時間ΔＴを０．０９７秒に設定した場合には感光体
１の感度を安定して測定することができたが、補正時間
ΔＴが０．０９１秒と０．５９秒の場合には第２の表面
電位計６の計測データに鋭いひげのような突起が現れ、
感光体１の感度を安定して測定できなかった。
【００３４】この具体例２において補正時間ΔＴを０．
０９７秒に設定した場合と、補正時間ΔＴを０．０９１
秒に設定した場合に、同一レーザパワーでＡ４横送り
（２１０ｍｍ）サイズのレーザ書込みを５回繰り返し、
その後、露光装置３のレーザパワーを変えて同じくＡ４
横送りサイズのレーザ書込みを５回繰り返すことを交互
に繰り返して第２の表面電位計６で感光体１の表面電位
を測定して評価したデータを図５に示す。図５におい
て、縦軸は露光後の感光体１表面電位（−極性）、横軸
はデータサンプリングの数（インデックス）を示してい
る。図５（ａ）に示すように、補正時間ΔＴを０．０９
７秒に設定した場合には第２の表面電位計６の計測デー
タに鋭いひげのような突起が現れず、感光体１の感度を
安定して測定することができたが、（ｂ）に示すよう
に、補正時間ΔＴを０．０９１秒とした場合には第２の
表面電位計６の計測データに鋭いひげのような突起が現
れ、感光体１の感度を安定して測定することができなか
った。これは帯電装置２で感光体１の表面を帯電したと
きに、ある幅を持って帯電することに原因がある。この
帯電幅Ｗは同じ帯電装置２を使用しても感光体１の外径
Ｄが異なると相違する。そこで感光体１の特性評価の開
始に先立って帯電幅Ｗを計測し、これにより特性評価の
タイミング条件を設定することにより安定した感光体１
の特性評価を行なうことができる。
０９７秒に設定した場合と、補正時間ΔＴを０．０９１
秒に設定した場合に、同一レーザパワーでＡ４横送り
（２１０ｍｍ）サイズのレーザ書込みを５回繰り返し、
その後、露光装置３のレーザパワーを変えて同じくＡ４
横送りサイズのレーザ書込みを５回繰り返すことを交互
に繰り返して第２の表面電位計６で感光体１の表面電位
を測定して評価したデータを図５に示す。図５におい
て、縦軸は露光後の感光体１表面電位（−極性）、横軸
はデータサンプリングの数（インデックス）を示してい
る。図５（ａ）に示すように、補正時間ΔＴを０．０９
７秒に設定した場合には第２の表面電位計６の計測デー
タに鋭いひげのような突起が現れず、感光体１の感度を
安定して測定することができたが、（ｂ）に示すよう
に、補正時間ΔＴを０．０９１秒とした場合には第２の
表面電位計６の計測データに鋭いひげのような突起が現
れ、感光体１の感度を安定して測定することができなか
った。これは帯電装置２で感光体１の表面を帯電したと
きに、ある幅を持って帯電することに原因がある。この
帯電幅Ｗは同じ帯電装置２を使用しても感光体１の外径
Ｄが異なると相違する。そこで感光体１の特性評価の開
始に先立って帯電幅Ｗを計測し、これにより特性評価の
タイミング条件を設定することにより安定した感光体１
の特性評価を行なうことができる。
【００３５】
【発明の効果】この発明は以上説明したように、感光体
の特性を評価する前に、あらかじめ帯電装置で感光体表
面を露光したときの帯電幅を計測し、計測した帯電幅と
感光体の線速から露光装置をオン−オフするタイミング
の補正時間を演算し、感光体の特性を評価するときに、
演算した補正時間により露光装置をオン−オフするタイ
ミングを補正するようにしたから、帯電装置により帯電
した感光体の帯電部の先端がレーザ書込み位置に到達す
る時間より早く、あるいはほぼ同時に露光をオンにする
ことができるとともに感光体の帯電部の終端がレーザ書
込み位置を通り過ぎた時間より遅く、あるいはほぼ同時
に露光をオフにすることができ、感光体の帯電部に露光
されていなく第２の表面電位計の計測データに鋭いひげ
のような突起が現れることを防ぐことができ、感光体の
感度を安定して測定することができる。
の特性を評価する前に、あらかじめ帯電装置で感光体表
面を露光したときの帯電幅を計測し、計測した帯電幅と
感光体の線速から露光装置をオン−オフするタイミング
の補正時間を演算し、感光体の特性を評価するときに、
演算した補正時間により露光装置をオン−オフするタイ
ミングを補正するようにしたから、帯電装置により帯電
した感光体の帯電部の先端がレーザ書込み位置に到達す
る時間より早く、あるいはほぼ同時に露光をオンにする
ことができるとともに感光体の帯電部の終端がレーザ書
込み位置を通り過ぎた時間より遅く、あるいはほぼ同時
に露光をオフにすることができ、感光体の帯電部に露光
されていなく第２の表面電位計の計測データに鋭いひげ
のような突起が現れることを防ぐことができ、感光体の
感度を安定して測定することができる。
【００３６】また、感光体を静止させた状態で帯電装置
をオン−オフして感光体表面を帯電させた後、感光体を
所定の線速で回転させ、第１の表面電位計で測定した感
光体表面の変化と感光体の線速から感光体表面に形成さ
れた帯電幅を演算し、演算した帯電幅と感光体の線速か
ら露光装置をオン−オフするタイミングの補正時間を演
算し、演算した補正時間により露光装置をオン−オフす
るタイミングを補正することにより、露光装置をオン−
オフするタイミングを自動的に補正することができ、感
光体の特性評価を効率的に行なうことができる。
をオン−オフして感光体表面を帯電させた後、感光体を
所定の線速で回転させ、第１の表面電位計で測定した感
光体表面の変化と感光体の線速から感光体表面に形成さ
れた帯電幅を演算し、演算した帯電幅と感光体の線速か
ら露光装置をオン−オフするタイミングの補正時間を演
算し、演算した補正時間により露光装置をオン−オフす
るタイミングを補正することにより、露光装置をオン−
オフするタイミングを自動的に補正することができ、感
光体の特性評価を効率的に行なうことができる。
【００３７】また、露光装置をオン−オフするタイミン
グの補正時間を、感光体を静止させた状態で帯電装置で
帯電したときに感光体表面に形成された帯電幅の１／２
を感光体の特性を評価するときの感光体の線速で除算し
て算出することにより、感光体の帯電部を確実に露光し
て、第２の表面電位計の計測データに鋭いひげのような
突起が現れることを確実に防ぐことができる。
グの補正時間を、感光体を静止させた状態で帯電装置で
帯電したときに感光体表面に形成された帯電幅の１／２
を感光体の特性を評価するときの感光体の線速で除算し
て算出することにより、感光体の帯電部を確実に露光し
て、第２の表面電位計の計測データに鋭いひげのような
突起が現れることを確実に防ぐことができる。
【００３８】さらに、感光体を所定の線速で回転させな
がら帯電装置により感光体の表面を帯電し、感光体の表
面にこの時から形成された帯電部の先端を第１の表面電
位計で検出した時間と、帯電装置と第１の表面電位計と
露光装置の感光体の周方向に対する配置位置と感光体の
外径及び感光体の線速とで定まる時間とから露光装置を
オン−オフするタイミングの補正時間を演算し、演算し
た補正時間により露光装置をオン−オフするタイミング
を補正することにより、異なる外径の感光体の特性を評
価する場合や帯電装置の開口サイズが変わっても、露光
装置の露光をオン−オフするタイミングを適正に設定す
ることができ、感光体の感度を安定して測定することが
できる。
がら帯電装置により感光体の表面を帯電し、感光体の表
面にこの時から形成された帯電部の先端を第１の表面電
位計で検出した時間と、帯電装置と第１の表面電位計と
露光装置の感光体の周方向に対する配置位置と感光体の
外径及び感光体の線速とで定まる時間とから露光装置を
オン−オフするタイミングの補正時間を演算し、演算し
た補正時間により露光装置をオン−オフするタイミング
を補正することにより、異なる外径の感光体の特性を評
価する場合や帯電装置の開口サイズが変わっても、露光
装置の露光をオン−オフするタイミングを適正に設定す
ることができ、感光体の感度を安定して測定することが
できる。
【図１】この発明の実施例の構成図である。
【図２】上記実施例の制御部の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図３】上記実施例の動作を示すタイムチャートであ
る。
る。
【図４】感光体の帯電部を示す配置図である。
【図５】感光体の露光後の表面電位の測定結果を示す特
性図である。
性図である。
１；感光体、２；帯電装置、３；露光装置、４；除電装
置、５；第１の表面電位計、６；第２の表面電位計、
７；制御部、８；入力部、９；タイミング設定部、１
０；コントローラ、１１；評価部、１２；出力部、１
３；帯電部。
置、５；第１の表面電位計、６；第２の表面電位計、
７；制御部、８；入力部、９；タイミング設定部、１
０；コントローラ、１１；評価部、１２；出力部、１
３；帯電部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H003 BB07 BB11 CC01 CC05 DD08 DD11 2H027 DA02 DA06 DA07 DA22 DA23 DE10 EC03 ED02 ED03 ED04 EE02 2H034 FA07 2H035 AA01 AB06
Claims (4)
- 【請求項１】 被検査体である感光体の装着部の周囲に
順に配置された帯電装置と露光装置と除電装置を有し、
帯電装置と露光装置の間に第１の表面電位計が配置さ
れ、露光装置と除電装置の間に第２の表面電位計が配置
された感光体の特性評価装置において、 感光体の特性を評価する前に、あらかじめ帯電装置で感
光体表面を露光したときの帯電幅を計測し、計測した帯
電幅と感光体の線速から露光装置をオン−オフするタイ
ミングの補正時間を演算し、感光体の特性を評価すると
きに、演算した補正時間により露光装置をオン−オフす
るタイミングを補正することを特徴とする感光体の特性
評価装置。 - 【請求項２】 被検査体である感光体の装着部の周囲に
順に配置された帯電装置と露光装置と除電装置を有し、
帯電装置と露光装置の間に第１の表面電位計が配置さ
れ、露光装置と除電装置の間に第２の表面電位計が配置
された感光体の特性評価装置において、 感光体を静止させた状態で帯電装置をオン−オフして感
光体表面を帯電させた後、感光体を所定の線速で回転さ
せ、第１の表面電位計で測定した感光体表面の変化と感
光体の線速から感光体表面に形成された帯電幅を演算
し、演算した帯電幅と感光体の線速から露光装置をオン
−オフするタイミングの補正時間を演算し、演算した補
正時間により露光装置をオン−オフするタイミングを補
正することを特徴とする感光体の特性評価装置。 - 【請求項３】 上記補正時間を、感光体を静止させた状
態で帯電装置で帯電したときに感光体表面に形成された
帯電幅の１／２を感光体の特性を評価するときの感光体
の線速で除算して算出する請求項１又は２記載の感光体
の特性評価装置。 - 【請求項４】 被検査体である感光体の装着部の周囲に
順に配置された帯電装置と露光装置と除電装置を有し、
帯電装置と露光装置の間に第１の表面電位計が配置さ
れ、露光装置と除電装置の間に第２の表面電位計が配置
された感光体の特性評価装置において、 感光体を所定の線速で回転させながら帯電装置により感
光体の表面を帯電し、感光体の表面にこの時から形成さ
れた帯電部の先端を第１の表面電位計で検出した時間
と、帯電装置と第１の表面電位計と露光装置の感光体の
周方向に対する配置位置と感光体の外径及び感光体の線
速とで定まる時間とから露光装置をオン−オフするタイ
ミングの補正時間を演算し、演算した補正時間により露
光装置をオン−オフするタイミングを補正することを特
徴とする感光体の特性評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30178999A JP3717728B2 (ja) | 1999-10-25 | 1999-10-25 | 感光体の特性評価装置の露光タイミング補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30178999A JP3717728B2 (ja) | 1999-10-25 | 1999-10-25 | 感光体の特性評価装置の露光タイミング補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001125430A true JP2001125430A (ja) | 2001-05-11 |
| JP3717728B2 JP3717728B2 (ja) | 2005-11-16 |
Family
ID=17901206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30178999A Expired - Fee Related JP3717728B2 (ja) | 1999-10-25 | 1999-10-25 | 感光体の特性評価装置の露光タイミング補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3717728B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007155974A (ja) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Ricoh Co Ltd | 感光体の微小領域電位の測定方法及び感光体の微小領域電位の測定装置 |
| JP2008129372A (ja) * | 2006-11-22 | 2008-06-05 | Ricoh Co Ltd | 感光体ドラム特性評価装置 |
| JP2009026742A (ja) * | 2007-06-20 | 2009-02-05 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子ビーム装置及びその制御方法 |
| JP2014145930A (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-14 | Ricoh Co Ltd | 潜像担持体の特性評価装置及び特性評価方法 |
| JP2017009865A (ja) * | 2015-06-24 | 2017-01-12 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置 |
-
1999
- 1999-10-25 JP JP30178999A patent/JP3717728B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007155974A (ja) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Ricoh Co Ltd | 感光体の微小領域電位の測定方法及び感光体の微小領域電位の測定装置 |
| JP2008129372A (ja) * | 2006-11-22 | 2008-06-05 | Ricoh Co Ltd | 感光体ドラム特性評価装置 |
| JP2009026742A (ja) * | 2007-06-20 | 2009-02-05 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子ビーム装置及びその制御方法 |
| JP2014145930A (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-14 | Ricoh Co Ltd | 潜像担持体の特性評価装置及び特性評価方法 |
| JP2017009865A (ja) * | 2015-06-24 | 2017-01-12 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3717728B2 (ja) | 2005-11-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2918045B2 (ja) | 画像濃度制御装置 | |
| JP5366408B2 (ja) | チャージャ設定の能動的な制御のための、帯電ニーの質量ベース検出 | |
| JPH08171260A (ja) | 電子写真装置 | |
| EP1134625B1 (en) | Image forming apparatus | |
| JP2001125430A (ja) | 感光体の特性評価装置 | |
| JPH06314011A (ja) | 画像形成プロセス条件の制御方法及び制御装置 | |
| DE69414426T2 (de) | Prozesssteuervorrichtung eines elektrophotographischen Gerätes | |
| JPH04274463A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2004013027A (ja) | 画像形成装置 | |
| US6208820B1 (en) | Electrophotographic apparatus having pre-exposure means | |
| JPS61254961A (ja) | カラ−画像形成装置 | |
| JP2002341630A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP4773601B2 (ja) | 感光体上の低速走査線位置を制御する方法 | |
| JP2003094718A (ja) | 電子写真装置 | |
| US20190187583A1 (en) | Image forming apparatus | |
| JP2002258587A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPH0229761A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPS63136071A (ja) | 除電光の光量制御方法 | |
| WO1988007728A1 (en) | Focusing for optical print heads | |
| JP2985234B2 (ja) | 電子写真画像形成装置 | |
| JPS6363067A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP3060534B2 (ja) | 電子写真装置の画像品質検出装置及び検出方法 | |
| JP2003149955A (ja) | 画像形成装置および画像形成方法 | |
| JPS592058A (ja) | 電子写真複写機の画像濃度制御のためのパタ−ン作像方法 | |
| JPH0266583A (ja) | 静電式画像形成装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040322 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050617 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050621 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050810 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050830 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050831 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080909 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090909 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090909 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100909 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110909 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120909 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130909 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |