JP2001100415A - ポジ型感光性樹脂組成物及びそれを用いた半導体装置 - Google Patents

ポジ型感光性樹脂組成物及びそれを用いた半導体装置

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JP2001100415A
JP2001100415A JP27541499A JP27541499A JP2001100415A JP 2001100415 A JP2001100415 A JP 2001100415A JP 27541499 A JP27541499 A JP 27541499A JP 27541499 A JP27541499 A JP 27541499A JP 2001100415 A JP2001100415 A JP 2001100415A
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photosensitive resin
resin composition
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Hiroaki Makabe
裕明 真壁
Takashi Hirano
孝 平野
Toshio Banba
敏夫 番場
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高感度で高残膜率のパターンを得ることがで
きるポジ型感光性樹脂を提供する。 【解決手段】 ポリアミド(A)100重量部と、感光
材(B)1〜50重量部と、一般式(2)で表されるフ
ェノール化合物(C)1〜40重量部とからなるポジ型
感光性樹脂組成物である。 【化28】

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高感度で高残膜率
のパターンを得ることができるポジ型感光性樹脂組成物
に関するものであり、それを用いて製作した半導体装置
である。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子の表面保護膜、層間絶
縁膜には、耐熱性が優れ又卓越した電気特性、機械特性
等を有するポリイミド樹脂が用いられているが、近年半
導体素子の高集積化、大型化、パッケージの薄型化、小
型化、半田リフローによる表面実装への移行等により耐
熱サイクル性、耐熱ショック性等の著しい向上の要求が
あり、更に高性能の樹脂が必要とされるようになってき
た。
【0003】一方、ポリイミド樹脂自身に感光性を付与
する技術が最近注目を集めてきており、例えば下記式
(3)に示される感光性ポリイミド樹脂が挙げられる。
【化6】
【0004】これを用いるとパターン作成工程の一部が
簡略化でき、工程短縮および歩留まり向上の効果はある
が、現像の際にN−メチル−2−ピロリドン等の溶剤が
必要となるため、安全性、取扱い性に問題がある。そこ
で最近、アルカリ水溶液で現像ができるポジ型の感光性
樹脂が開発されている。例えば、特公平1−46862
号公報においてはベース樹脂であるポリベンゾオキサゾ
ール前駆体と感光材であるジアゾキノン化合物より構成
されるポジ型感光性樹脂が開示されている。これは高い
耐熱性、優れた電気特性、微細加工性を有し、ウェハー
コート用のみならず層間絶縁用樹脂としての可能性も有
している。このポジ型の感光性樹脂の現像メカニズム
は、未露光部のジアゾキノン化合物はアルカリ水溶液に
不溶であるが、露光することによりジアゾキノン化合物
が化学変化を起こし、アルカリ水溶液に可溶となる。こ
の露光部と未露光部との溶解性の差を利用し、露光部を
溶解除去することにより未露光部のみの塗膜パターンの
作成が可能となるものである。
【0005】これら感光性樹脂を実際に使用する場合、
特に重要となるのは感光性樹脂の感度である。低感度で
あると、露光時間が長くなりスループットが低下する。
そこで感光性樹脂の感度を向上させようとして、例えば
ベース樹脂の分子量を小さくすると、現像時に未露光部
の膜減りが大きくなるために、必要とされる膜厚が得ら
れなかったり、パターン形状が崩れるといった問題が生
じる。この様なことから、上記特性を満足しながら高感
度である感光性樹脂の開発が強く望まれている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、高感度で高
残膜率のパターンを得ることができるポジ型感光性樹脂
組成物を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、一般式(1)
で示されるポリアミド(A)100重量部と、感光材
(B)1〜50重量部と、一般式(2)で表されるフェ
ノール化合物(C)1〜40重量部とからなるポジ型感
光性樹脂組成物である。さらに上記のポジ型感光性樹脂
組成物を用いて製作した半導体装置である。
【0008】
【化7】
【0009】
【化8】
【0010】
【発明の実施の形態】式(1)のポリアミドは、Xの構
造を有するビスアミノフェノールとYの構造を有するジ
カルボン酸と、更にEの構造を有する酸無水物からな
り、このポリアミドを約300〜400℃で加熱すると
脱水閉環し、ポリベンゾオキサゾールという耐熱性樹脂
に変化する。
【0011】本発明の式(1)のポリアミドのXは、例
えば、
【化9】 等であるがこれらに限定されるものではない。
【0012】これら中で特に好ましいものとしては、
【化10】 より選ばれるものである。
【0013】又式(1)のYは、例えば、
【化11】 等であるがこれらに限定されるものではない。
【0014】これらの中で特に好ましいものとしては、
【化12】 より選ばれるものである。
【0015】又式(1)のEは、例えば、
【化13】 等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。
【0016】この中で特に好ましいものとしては、
【化14】 より選ばれるものである。
【0017】本発明はYの構造を有するジカルボン酸誘
導体とXの構造を有するビスアミノフェノールを反応さ
せてポリアミドを合成した後、式(1)のEに示すアル
ケニル基又はアルキニル基を少なくとも1個有する酸無
水物を用いて末端のアミノ基をキャップするものであ
る。
【0018】更に、式(1)のZは、例えば
【化15】
【0019】等であるがこれらに限定されるものではな
い。
【0020】式(1)のZは、例えば、シリコンウェハ
ーのような基板に対して、特に優れた密着性が必要な場
合に用いるが、その使用割合bは最大40モル%までで
ある。40モル%を越えると樹脂の溶解性が極めて低下
し、現像残り(スカム)が発生し、パターン加工ができ
ない。なお、これらX、Y、E、Zの使用にあたって
は、それぞれ1種類であっても2種類以上の混合物であ
っても構わない。
【0021】本発明で用いる感光材(B)は、ポリフェ
ノール化合物の、1,2−ナフトキノン−2−ジアジド
−5−スルホン酸エステル化合物又は1,2−ナフトキ
ノン−2−ジアジド−4−スルホン酸エステル化合物で
ある。
【0022】本発明で用いる感光材(B)の例として下
記のものが挙げられるが、これらに限定されるものでは
ない。
【化16】
【0023】
【化17】
【0024】
【化18】
【0025】また、本発明で用いる感光材(B)のポリ
アミド(A)への配合量は、ポリアミド100重量部に
対して1〜50重量部である。配合量が1重量部未満だ
と樹脂のパターニング性が不良となり、逆に50重量部
を越えると感度が大幅に低下するために好ましくない。
【0026】本発明のポジ型感光性樹脂組成物には、必
要により感光特性を高めるためにジヒドロピリジン誘導
体を加えることができる。ジヒドロピリジン誘導体とし
ては、例えば、2,6−ジメチル−3,5−ジアセチル
−4−(2′−ニトロフェニル)−1,4−ジヒドロピ
リジン、4−(2′−ニトロフェニル)−2,6−ジメ
チル−3,5−ジカルボエトキシ−1,4−ジヒドロピ
リジン、4−(2′,4′−ジニトロフェニル)−2,
6−ジメチル−3,5−ジカルボメトキシ−1,4−ジ
ヒドロピリジン等を挙げることができる。
【0027】本発明のポジ型感光性樹脂組成物は、感度
向上を目的とする場合、一般式(2)で示されるフェノ
ール化合物を含有させることが重要である。
【0028】
【化19】
【0029】フェノール化合物類をポジ型レジスト組成
物に添加する技術としては、例えば、特開平3−200
251号公報、特開平3−200252号公報、特開平
3−200253号公報、特開平3−200254号公
報、特開平4−1650号公報、特開平4−11260
号公報、特開平4−12356号公報、特開平4−12
357号公報に示されている。しかし、これらに示され
ているようなフェノール化合物は、本発明におけるポリ
アミドをベース樹脂としたポジ型感光性樹脂に用いても
感度向上の効果は小さい。しかし、本発明における一般
式(2)で表されるフェノール化合物を用いた場合、露
光部における溶解速度が増して感度が向上する。また分
子量を小さくして感度を上げた場合に見られるような未
露光部の膜減りも非常に小さい。
【0030】一般式(2)に示されるフェノール化合物
としては下記のものを挙げることが出来るがこれらに限
定されない。
【0031】
【化20】
【0032】また本発明におけるポジ型感光性樹脂組成
物は、必要により更に下記のフェノール化合物を併用す
ることも可能である。
【0033】
【化21】
【0034】
【化22】
【0035】
【化23】
【0036】
【化24】
【0037】フェノール化合物(C)の添加量は、一般
式(1)で示されるポリアミド100重量部に対して1
〜40重量部が好ましい。更に好まし範囲としては5〜
32重量部である。フェノール化合物の添加量が40重
量部より多いと、現像時に著しい残膜率の低下が起こっ
たり、硬化時の重量減少や膜減り量が大きくなり実用性
に欠ける。添加量が1重量部未満では、現像時における
感度が低下する。
【0038】本発明におけるポジ型感光性樹脂組成物に
は、必要によりレベリング剤、シランカップリング剤等
の添加剤を添加することができる。本発明においてはこ
れらの成分を溶剤に溶解し、ワニス状にして使用する。
溶剤としては、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチ
ロラクトン、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチル
スルホキシド、ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレ
ングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコール
モノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチ
ルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル
アセテート、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、メ
チル−1,3−ブチレングリコールアセテート、1,3
−ブチレングリコール−3−モノメチルエーテル、ピル
ビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メチル−3−メトキ
シプロピオネート等が挙げられ、単独でも混合して用い
てもよい。
【0039】本発明のポジ型感光性樹脂組成物の使用方
法は、まず該組成物を適当な支持体、例えば、シリコン
ウェハー、セラミック基板、アルミ基板等に塗布する。
塗布方法としては、スピンナーを用いた回転塗布、スプ
レーコーターを用いた噴霧塗布、浸漬、印刷、ロールコ
ーティング等がある。次に、60〜130℃でプリベー
クして塗膜を乾燥後、所望のパターン形状に化学線を照
射する。化学線としては、X線、電子線、紫外線、可視
光線等が使用できるが、200〜500nmの波長のも
のが好ましい。
【0040】次に照射部を現像液で溶解除去することに
よりレリーフパターンを得る。現像液としては、水酸化
ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸
ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア水等の
無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピルアミン等
の第1アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルア
ミン等の第2アミン類、トリエチルアミン、メチルジエ
チルアミン等の第3アミン類、ジメチルエタノールアミ
ン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン類、テ
トラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルア
ンモニウムヒドロキシド等の第4級アンモニウム塩等の
アルカリ類の水溶液、及びこれにメタノール、エタノー
ルのごときアルコール類等の水溶性有機溶媒や界面活性
剤を適当量添加した水溶液を好適に使用することができ
る。現像方法としては、スプレー、パドル、浸漬、超音
波等の方式が可能である。
【0041】次に、現像によって形成したレリーフパタ
ーンをリンスする。リンス液としては、蒸留水を使用す
る。次に加熱処理を行い、オキサゾール環を形成し、耐
熱性に富む最終パターンを得る。本発明によるポジ型感
光性樹脂組成物は、半導体用途のみならず、多層回路の
層間絶縁やフレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダ
ーレジスト膜や液晶配向膜等としても有用である。特に
本発明による樹脂組成物を半導体用途に用いた場合、特
性が優れ、信頼性が高く、生産性の良い半導体装置を得
ることが出来る。半導体装置を制作する方法は従来の方
法を用いることができる。
【0042】
【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
る。 《実施例1》 *ポリアミドの合成 テレフタル酸0.9モルとイソフタル酸0.1モルと1
−ヒドロキシ−1,2,3−ベンゾトリアゾール2モル
とを反応させて得られたジカルボン酸誘導体360.4
g(0.9モル)とヘキサフルオロ−2,2−ビス(3
−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン366.
3g(1モル)とを温度計、攪拌機、原料投入口、乾燥
窒素ガス導入管を備えた4つ口のセパラブルフラスコに
入れ、N−メチル−2−ピロリドン3000gを加えて
溶解させた。その後オイルバスを用いて75℃にて12
時間反応させた。
【0043】次にN−メチル−2−ピロリドン500g
に溶解させた5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸
無水物32.8g(0.2モル)を加え、更に12時間
攪拌して反応を終了した。反応混合物をろ過した後、反
応混合物を水/メタノール=3/1の溶液に投入、沈殿
物を濾集し水で充分洗浄した後、真空下で乾燥し、一般
式(1)で示され、Xが下記式X−1、Yが下記式Y−
1及びY−2の混合物で、a=100、b=0からなる
目的のポリアミド(A−1)を得た。
【0044】*ポジ型感光性樹脂組成物の作製 合成したポリアミド(A−1)100g、下記式(Q−
1)の構造を有する感光材20g、下記式(P−1)の
構造を有するフェノール化合物15gをN−メチル−2
−ピロリドン200gに溶解した後、0.2μmのテフ
ロンフィルターで濾過し感光性樹脂組成物を得た。
【0045】*特性評価 このポジ型感光性樹脂組成物をシリコンウェハー上にス
ピンコーターを用いて塗布した後、ホットプレートにて
120℃で4分乾燥し、膜厚約6μmの塗膜を得た。こ
の塗膜に凸版印刷(株)製マスク(テストチャートN
o.1:幅0.88〜50μmの残しパターンおよび抜
きパターンが描かれている)を通して高圧水銀灯を用い
て、フィルターより取り出した365nmの紫外光線を
露光量を変化させて照射した。次に1.4%のテトラメ
チルアンモニウムヒドロキシド水溶液に50秒浸漬する
ことによって露光部を溶解除去した後、純水で30秒間
リンスした。その結果、露光量190mJ/cm2で照
射した部分よりパターンが成形されていることが確認で
きた。(感度は180mJ/cm2)。この時の残膜率
(現像後の膜厚/現像前の膜厚×100)は89.7
%、解像度は4μmと非常に高い値を示した。
【0046】《実施例2》実施例1におけるフェノール
化合物(P−1)を(P−2)に替えて、更に該成分の
添加量を表1の様に変えた他は実施例1と同様の評価を
行った。 《実施例3》実施例2におけるフェノール化合物(P−
2)の添加量を30gにして、更に該成分の添加量を表
1の様に変えた他は実施例1と同様の評価を行った。 《実施例4》実施例1におけるフェノール化合物(P−
1)の添加量を8gにして、更に各成分の添加量を表1
の様に変えた他は実施例1と同様の評価を行った。
【0047】《実施例5》実施例1におけるポリアミド
の合成において、テレフタル酸0.9モルとイソフタル
酸0.1モルの代わりに、ジフェニルエーテル−4,
4’−ジカルボン酸1モルに替えて、一般式(1)で示
され、Xが下記式X−1、Yが下記式Y−3で、a=1
00、b=0からなるポリアミド(A−2)を合成し、
更に各成分の添加量を表1の様に変えた他は実施例1と
同様の評価を行った。 《実施例6》実施例5におけるポリアミドの合成におい
て、ヘキサフルオロ−2,2−ビス(3−アミノ−4−
ヒドロキシフェニル)プロパン1モルの代わりに、3,
3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシジフェニルス
ルホン1モルを用いて、一般式(1)で示され、Xが下
記式X−2、Yが下記式Y−3で、a=100、b=0
からなるポリアミド(A−3)を合成した。更に、フェ
ノール化合物(P−1)を(P−2)に替え、更に各成
分の添加量を表1の様に変えた他は実施例1と同様の評
価を行った。
【0048】《比較例1》実施例1におけるフェノール
化合物(P−1)を(P−3)に替え、更に各成分の添
加量を表1の様に変えた他は実施例1と同様の評価を行
った。 《比較例2》実施例1におけるフェノール化合物(P−
1)を(P−4)に替え、実施例1と同様の評価を行っ
た。 《比較例3》実施例5におけるフェノール化合物の添加
量を0gに減らし、更に各成分の添加量を表1の様に変
えた他は実施例1と同様の評価を行った。 《比較例4》実施例5におけるフェノール化合物の添加
量を50gに増やし、更に各成分の添加量を表1の様に
変えた他は実施例1と同様の評価を行った。
【0049】
【化25】
【0050】
【化26】
【0051】
【化27】
【0052】実施例1〜6、比較例1〜4の評価結果を
表1に示す。
【表1】
【0053】
【発明の効果】本発明のポジ型感光性樹脂組成物は、耐
熱性が優れ、卓越した電気特性、機械特性等を有し、近
年の半導体素子の高集積化、大型化、パッケージの薄型
化、小型化、半田リフローによる表面実装への移行等に
対応した耐熱サイクル性、耐熱ショック性に優れた、高
性能の樹脂組成物である。また、この樹脂組成物を半導
体素子に用いることにより特性が優れ、信頼性が高く、
生産性の良い半導体装置を得ることが出来る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H025 AA01 AA10 AB16 AC01 AC04 AC05 AC06 AD03 CB25 CB33 CB52 CC20

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一般式(1)で示されるポリアミド
    (A)100重量部と、感光材(B)1〜50重量部
    と、一般式(2)で表されるフェノール化合物(C)1
    〜40重量部とからなることを特徴とするポジ型感光性
    樹脂組成物。 【化1】 【化2】
  2. 【請求項2】 一般式(1)の該ポリアミドにおけるX
    が、下記より選ばれてなる請求項1記載のポジ型感光性
    樹脂組成物。 【化3】
  3. 【請求項3】 一般式(1)の該ポリアミドにおけるY
    が、下記より選ばれてなる請求項1又は2記載のポジ型
    感光性樹脂組成物。 【化4】
  4. 【請求項4】 一般式(1)の該ポリアミドにおけるE
    が、下記より選ばれてなる請求項1、2又は3記載のポ
    ジ型感光性樹脂組成物。 【化5】
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載のポジ型
    感光性樹脂組成物を用いて製作したことを特徴とする半
    導体装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010015039A (ja) * 2008-07-04 2010-01-21 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd リフトオフ用ポジ型レジスト組成物

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010015039A (ja) * 2008-07-04 2010-01-21 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd リフトオフ用ポジ型レジスト組成物

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