JP2001095757A - 内視鏡用撮像素子組付け装置 - Google Patents
内視鏡用撮像素子組付け装置Info
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Abstract
る場合でも、その公差を吸収して正確な寸法に設定し、
内視鏡の細径化を妨げないようにする。 【解決手段】 CCD1の上面には、その電極部に複数
のリード線2を取り付けると共に、カバーガラス3を接
着剤4等で貼着し、このCCD1を、調整用スペースS
1 を設けた2枚の回路基板11,12に接続する。この
回路基板11の横幅をD1 、他方の回路基板12の横幅
をD2、スペースS1 の幅をd1 とすると、D1 +D2
+d1 =D0 となるように設定する。このスペースS1
により、セラミック板の公差を吸収して全体の幅を寸法
通りにすることができる。このスペースS1 は、端子パ
ッドKA 〜KB の配置位置に適する位置で分割した段付
き形状線に沿って設けることができる。
Description
付け装置、特にセラミックからなる回路基板に撮像素子
を組み付ける際に、その全体の幅の寸法を正確かつ容易
に合わせるための構成に関する。
される撮像素子組付け装置の構成が示されており、図示
されるように、撮像素子であるCCD(Charge Coupled
Device)1は、その上面端子部に複数のリード線2を
取り付け、その上側にカバーガラス3を接着剤4等で貼
着した構成となっている。即ち、この撮像素子組付け部
材は、例えば搬送用テープに組み込まれて搬送されるC
CD1の撮像面に導体リード線2及びカバーガラス3を
実装し、製造・検査等を流れ作業的に量産するTAB
(Tape Automated Bonding)方式で製作される。
この上面に形成された端子パッドK A に、上記CCD1
のリード線2が接続される。また、この回路基板5に
は、端子パッドKA に図示していないプリント配線によ
って接続される端子パッドKBが形成されており、この
パッドKB には、CCD1の駆動及びビデオ信号の伝送
を行うための信号線が接続される。
別のタイプの構成が示されており、この例の回路基板6
は、CCD1の横方向に長く形成したものである。この
回路基板6にも、リード線2を接続するための端子パッ
ドKC が設けられると共に、信号線を接続する端子パッ
ドKD がCCD1の例えば右端側に配置される。このよ
うなCCD1の取付け構造は、直視型、側視型の内視
鏡、或いはプリズムを介して配置する等の各種の構造に
よって相違し、様々な構造が存在する。
基板5の材料であるセラミック板は、微細な配線パター
ンを引くことができ、回路基板5の極小化が可能になる
という利点を有する反面、その寸法誤差(公差)が大き
く、スコープの細径化が進む今日では、無視できないも
のとなっている。
長手方向が内視鏡の軸方向に配置されることになり、細
径化のために、回路基板5の横幅をCCD1の横幅とほ
ぼ同一の幅D0 まで小さくしている。しかし、この横幅
D0 の公差は±0.15mmであり、この公差により回
路基板5が鎖線の位置まで大きくなることがあり、この
場合には内視鏡の細径化を妨げることになる。
分だけ小さした値に設計することも考えられるが、CC
D1のリード線2の取付け位置や信号線を接続すること
との関係により、上述した端子パッドKA ,KB が回路
基板5の端部ぎりぎりまで配置されており、この横幅D
0をCCD1の幅以下にするのは好ましくない。また、
図6に示す構成では、回路基板6の上下端側に端子パッ
ドKC が存在することから、これ以上に回路基板6の縦
幅L0 を小さくすることはできない。
であり、その目的は、回路基板を製作する際の寸法公差
が大きくなる場合でも、その公差を吸収して正確な寸法
に設定し、内視鏡の細径化等を妨げることのない内視鏡
用撮像素子組付け装置を提供することにある。
に、請求項1に係る内視鏡用撮像素子組付け装置は、被
観察体を撮像するための撮像素子と、この撮像素子のリ
ード線を接続する端子パッドを有する回路基板とを備え
た内視鏡用撮像素子組付け装置において、上記回路基板
を2分割し、これら2枚の回路基板の合計幅が組付け時
の基板全体の幅よりも小さくなるようにして所定幅の幅
調整用スペースを設けたことを特徴とする。
いて2枚の回路基板を設計寸法に正確に合わせることが
でき、セラミック回路基板に比較的大きな公差(又は誤
差)があったとしても、組付け時には設計通りの寸法を
出すことが可能となる。
1例に係る内視鏡用撮像素子組付け装置が示されてお
り、図示のCCD1、リード線2及びカバーガラス3
は、図4等と同様に、TAB(Tape Automated Bondin
g)方式により製作されたものである。このCCD1と
カバーガラス3は周辺部の接着剤4によって接着されて
おり、CCD1の撮像面側はカバーガラス3との間で気
密状態が維持されている。そして、このCCD1の取付
け回路基板として、左右に分割された2枚の回路基板1
1,12が設けられ、これらの基板11,12の上面に
は、CCD1のリード線2を接続するための端子パッド
KE と、このパッドKE に不図示の配線パターンで接続
され、信号線を接続するための端子パッドKF が形成さ
れる。
横幅を調整するための調整用スペースS1 (幅d1 )が
設定される。即ち、回路基板11の横幅D1 ともう一方
の回路基板12の横幅D2 は、CCD1を取り付ける回
路基板全体の設計横幅がD0であるとすると、D1 +D
2 +d1 =D0 となるように、幅d1 のスペースS1が
設けられる。この調整用スペース幅d1 は、例えば公差
が±0.15mmである場合、0.3mm以上に設定し
ており、これにより公差分の幅が調整できることにな
る。また、上記端子パッドKE は回路基板11,12を
横方向に動かした場合でもCCD1のリード線2との接
続が可能なように、その横幅D3 を従来のものより少し
広くしている。
割された回路基板11と回路基板12はそれらの間に設
けられた調整用スペースS1 の幅d1 の範囲で横方向へ
ずらすことができ、それぞれの回路基板11,12に±
0.15mmの公差があったとしても、全体の幅を設計
値のD0 に正確に合せることが可能となる。
上記図6のタイプに対応した第2例の構成が示されてお
り、この場合は、CCD1の取付け回路基板として、上
下に分割された2枚の回路基板15,16が設けられ、
これらの基板15,16の上面に、CCD1のリード線
2を接続する端子パッドKG と、信号線を接続する端子
パッドKH が形成される。
う一方の回路基板16の縦幅L2 が、CCD1を取り付
ける回路基板全体の設計縦幅をL0 とすると、L1 +L
2 +l1 =L0 となるように設定され、この幅l1 のス
ペースS2 が両基板15,16間に設定される。この調
整用スペース幅l1 も、例えば公差が±0.15mmで
ある場合、0.3mm以上に設定しており、これにより
公差分の幅が調整可能となる。また、下側の端子パッド
KG は回路基板15,16を縦方向に動かした場合でも
CCD1のリード線2との接続が十分に可能なように、
その縦幅L3 を従来のものより少し広くする。
された回路基板15と回路基板16はそれらの間に設け
られた調整用スペースS2 の幅l1 の範囲だけ上下方向
へずらすことができ、それぞれの基板15,16に±
0.15mmの公差があったとしても、全体の縦幅を設
計値のL0 に正確に合せることが可能となる。
異なる第3例の構成が示されており、この第3例は、上
下の端子パッドの配置を考慮した分割線で分割したもの
である。即ち、図4に示されるように、この回路基板は
段付き形状線で左右に2分割した回路基板19と20か
らなり、これらの基板19,20の上面には、CCD1
のリード線2を接続する端子パッドKI と、信号線を
接続する端子パッドK J が形成されるが、これらの端
子パッドKI ,KJ の配置を考慮し、これらの複数の
パッドKI ,KJ のそれぞれを分割するために最適な
位置(上側KI 、下側KI ,KJ において分割の最適
位置)となる図の段付き形状線で幅d2 のスペースS3
を設けたものである。
4 +D5 +d2 =D0 となり、このスペースS3 の幅d
2 の範囲で横幅を調整することができる。また、この第
3例では、段差部を当接することにより、2枚の回路基
板19,20の縦方向の位置合せができる利点がある。
なお、この第3例の構成は上記第2例にも同様に適用す
ることができる。
回路基板を2分割し、これら2枚の回路基板の合計幅が
組付け時の基板全体の幅よりも小さくなるように所定幅
の幅調整用スペースを設けたので、回路基板を製作する
際の寸法公差(又は誤差)が大きくなる場合でも、その
公差を吸収して正確な寸法に設定することができ、内視
鏡の細径化等を妨げることもないという利点がある。
素子組付け装置の構成を示し、図(A)は正面図、図
(B)は左側面図、図(C)は下側側面図である。
を示し、図(A)は正面図、図(B)は左側面図、図
(C)は下側側面図である。
を示す正面図である。
(A)は正面図、図(B)は左側面図である。
面図である。
板、 S1 ,S2 ,S3 … 調整用スペース、 KA 〜KJ … 端子パッド。
Claims (1)
- 【請求項1】 被観察体を撮像するための撮像素子と、 この撮像素子のリード線を接続する端子パッドを有する
回路基板とを備えた内視鏡用撮像素子組付け装置におい
て、 上記回路基板を2分割し、これら2枚の回路基板の合計
幅が組付け時の基板全体の幅よりも小さくなるようにし
て所定幅の幅調整用スペースを設けたことを特徴とする
内視鏡用撮像素子組付け装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27564099A JP3734389B2 (ja) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | 内視鏡用撮像素子組付け装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27564099A JP3734389B2 (ja) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | 内視鏡用撮像素子組付け装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001095757A true JP2001095757A (ja) | 2001-04-10 |
JP3734389B2 JP3734389B2 (ja) | 2006-01-11 |
Family
ID=17558287
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27564099A Expired - Fee Related JP3734389B2 (ja) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | 内視鏡用撮像素子組付け装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3734389B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6953432B2 (en) | 2003-05-20 | 2005-10-11 | Everest Vit, Inc. | Imager cover-glass mounting |
US8213676B2 (en) | 2006-12-20 | 2012-07-03 | Ge Inspection Technologies Lp | Inspection apparatus method and apparatus comprising motion responsive control |
US8810636B2 (en) | 2006-12-20 | 2014-08-19 | Ge Inspection Technologies, Lp | Inspection apparatus method and apparatus comprising selective frame output |
US10291850B2 (en) | 2006-12-20 | 2019-05-14 | General Electric Company | Inspection apparatus method and apparatus comprising selective frame output |
-
1999
- 1999-09-29 JP JP27564099A patent/JP3734389B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
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US6953432B2 (en) | 2003-05-20 | 2005-10-11 | Everest Vit, Inc. | Imager cover-glass mounting |
US8213676B2 (en) | 2006-12-20 | 2012-07-03 | Ge Inspection Technologies Lp | Inspection apparatus method and apparatus comprising motion responsive control |
US8810636B2 (en) | 2006-12-20 | 2014-08-19 | Ge Inspection Technologies, Lp | Inspection apparatus method and apparatus comprising selective frame output |
US9621808B2 (en) | 2006-12-20 | 2017-04-11 | General Electric Company | Inspection apparatus method and apparatus comprising selective frame output |
US10291850B2 (en) | 2006-12-20 | 2019-05-14 | General Electric Company | Inspection apparatus method and apparatus comprising selective frame output |
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JP3734389B2 (ja) | 2006-01-11 |
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