JP2001077273A - リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法 - Google Patents

リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法

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JP2001077273A JP24752899A JP24752899A JP2001077273A JP 2001077273 A JP2001077273 A JP 2001077273A JP 24752899 A JP24752899 A JP 24752899A JP 24752899 A JP24752899 A JP 24752899A JP 2001077273 A JP2001077273 A JP 2001077273A
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land
resin
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Osamu Adachi
修 安達
Kunikazu Takemura
邦和 竹村
Katsuki Uchiumi
勝喜 内海
Masanori Nano
匡紀 南尾
Takahiro Matsuo
隆広 松尾
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Matsushita Electronics Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 パッケージ底面にランド電極が配置されたL
GA構造の半導体装置では、そのリードフレーム構造に
よりランド電極面を封止樹脂が覆ってしまうという課題
があった。 【解決手段】 LGA用のリードフレームにおいて、底
面がランド電極となるランドリード部4のランド部8の
根本付近の上面にポンチ打ちによる凹部24を設けるこ
とにより、樹脂封止の際、曲がり力によりランド部8が
下方に配置され、そのランド電極16が封止シート20
に食い込んで密着するため、ランド電極16の面に封止
樹脂が回り込むことがなく、結果として、ランドリード
部4のランド電極16の面への樹脂バリの発生を抑える
ことができるものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、従来のビーム状の
リードを備えたリードフレームに加えて、外部端子とな
るランド電極を備えたリードを有したリードフレームに
関するもので、それを用いて半導体素子を搭載し、外囲
を樹脂で封止したランド・グリッド・アレイ(LGA)
型の樹脂封止型半導体装置の製造方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小型化に対応するため
に、樹脂封止型半導体装置などの半導体部品の高密度実
装が要求され、それにともなって、半導体部品の小型、
薄型化が進んでいる。また小型で薄型でありながら、多
ピン化が進み、高密度の小型、薄型の樹脂封止型半導体
装置が要望されている。
【0003】以下、従来の樹脂封止型半導体装置に使用
するリードフレームについて説明する。
【0004】図20は、従来のリードフレームの構成を
示す平面図である。図20に示すように、従来のリード
フレームは、フレーム枠101と、そのフレーム枠10
1内に、半導体素子が載置される矩形状のダイパッド部
102と、ダイパッド部102を支持する吊りリード部
103と、半導体素子を載置した場合、その載置した半
導体素子と金属細線等の接続手段により電気的接続する
ビーム状のインナーリード部104と、そのインナーリ
ード部104と連続して設けられ、外部端子との接続の
ためのアウターリード部105と、アウターリード部1
05どうしを連結固定し、樹脂封止の際の樹脂止めとな
るタイバー部106とより構成されていた。
【0005】なお、リードフレームは、図20に示した
構成よりなるパターンが1つではなく、複数個、左右、
上下に連続して配列されたものである。
【0006】次に従来の樹脂封止型半導体装置について
説明する。図21は、図20に示したリードフレームを
用いた樹脂封止型半導体装置を示す断面図である。
【0007】図21に示すように、リードフレームのダ
イパッド部102上に半導体素子107が搭載され、そ
の半導体素子107とインナーリード部104とが金属
細線108により電気的に接続されている。そしてダイ
パッド部102上の半導体素子107、インナーリード
部104の外囲は封止樹脂109により封止されてい
る。封止樹脂109の側面からはアウターリード部10
5が突出して設けられ、先端部はベンディングされてい
る。
【0008】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法
は、図22に示すように、リードフレームのダイパッド
部102上に半導体素子107を接着剤により接合した
後(ダイボンド工程)、半導体素子107とインナーリ
ード部104の先端部とを金属細線108により接続す
る(ワイヤーボンド工程)。その後、半導体素子107
の外囲を封止するが、封止領域はリードフレームのタイ
バー部106で包囲された領域内を封止樹脂109によ
り封止し、アウターリード部105を外部に突出させて
封止する(樹脂封止工程)。そしてタイバー部106で
封止樹脂109の境界部をカッティングし、各アウター
リード部105を分離し、フレーム枠101を除去する
とともに、アウターリード部105の先端部をベンディ
ングすることにより(タイバーカット・ベンド工程)、
図21に示した構造の樹脂封止型半導体装置を製造する
ことができる。ここで図22において、破線で示した領
域が封止樹脂109で封止する領域である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のリ
ードフレームでは、半導体素子が高集積化し、多ピンと
なった場合、インナーリード部(アウターリード部)の
幅の形成には限界があり、多ピンに対応しようとする場
合は、インナーリード部(アウターリード部)の数が多
くなるため、リードフレーム自体が大きくなり、結果と
して樹脂封止型半導体装置も大きくなり、要望される小
型、薄型の樹脂封止型半導体装置は実現できないという
課題があった。また、半導体素子の多ピン対応としてリ
ードフレームのサイズを変更せず、インナーリード部を
増加させる場合は、1本当たりのインナーリード部の幅
を細くしなければならず、リードフレーム形成のエッチ
ング等の加工で課題が多くなってしまう。
【0010】また最近は面実装タイプの半導体装置とし
て、底面に外部電極(ボール電極、ランド電極)を設け
たキャリア(配線基板)上に半導体素子を搭載し、電気
的接続を行った後、そのキャリアの上面を樹脂封止した
半導体装置であるボール・グリッド・アレイ(BGA)
タイプやランド・グリッド・アレイ(LGA)タイプの
半導体装置がある。このタイプの半導体装置はその底面
側でマザー基板と実装する半導体装置であり、今後、こ
のような面実装タイプの半導体装置が主流になりつつあ
る。したがって、このような動向に対応するには、従来
のリードフレーム、そのリードフレームを用いた樹脂封
止型半導体装置では、対応できないという大きな課題が
顕在化してきている。
【0011】従来の樹脂封止型半導体装置では、封止樹
脂の側面にアウターリード部よりなる外部リードが突出
して設けられており、その外部リードと基板電極とを接
合して実装するものであるため、BGAタイプ,LGA
タイプの半導体装置に比べて、基板実装の信頼性は低い
ものとなってしまう。また、BGAタイプ,LGAタイ
プの半導体装置は、配線基板を用いているため、コスト
的に高価となるという課題がある。
【0012】本発明は前記した従来の課題および今後の
半導体装置の動向に対応できるリードフレームタイプの
樹脂封止型半導体装置を提供するものであり、底面側で
基板実装できる半導体装置をフレーム体を用いて構成す
ることを目的とするものである。そしてパッケージ底面
で外部端子を列構成で配置し、また各外部電極の表面が
確実に露出し、樹脂バリの発生を防止できるリードフレ
ームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法を
提供するものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記従来の課題を解決す
るために、本発明のリードフレームは、金属板よりなる
フレーム本体と、前記フレーム本体の略中央領域内に配
設された半導体素子搭載用のダイパッド部と、先端部で
前記ダイパッド部を支持し、他端部でフレーム枠と接続
した吊りリード部と、少なくとも先端部が前記ダイパッ
ド部に向かって延在し、他端部が前記フレーム枠と接続
し、底面がランド電極となる第1のリード部と、前記第
1のリード部の先端部領域に延在してその先端部が配置
され、他端部が前記フレーム枠と接続し、底面がランド
電極となる第2のリード部とよりなり、前記第1のリー
ド部の底面のランド電極と前記第2のリード部の底面の
ランド電極とで2列のランド電極を構成し、少なくとも
第2のリード部はそのランド電極の根本上面近傍に凹部
が形成されているリードフレームである。
【0014】また本発明のリードフレームを用いた樹脂
封止型半導体装置の製造方法は、金属板よりなるフレー
ム本体と、前記フレーム本体の略中央領域内に配設され
た半導体素子搭載用のダイパッド部と、先端部で前記ダ
イパッド部を支持し、他端部でフレーム枠と接続した吊
りリード部と、少なくとも先端部が前記ダイパッド部に
向かって延在し、他端部が前記フレーム枠と接続し、底
面がランド電極となる第1のリード部と、前記第1のリ
ード部の先端部領域に延在してその先端部が配置され、
他端部が前記フレーム枠と接続し、底面がランド電極と
なる第2のリード部とよりなり、前記第1のリード部の
底面のランド電極と前記第2のリード部の底面のランド
電極とで2列のランド電極を構成し、少なくとも第2の
リード部はそのランド電極の根本上面近傍に凹部が形成
されている構成を有したリードフレームを用意する工程
と、前記用意したリードフレームの前記ダイパッド部上
に半導体素子を搭載する工程と、前記ダイパッド部上に
搭載した前記半導体素子の主面上の電極パッドと、前記
リードフレームの第1のリード部、第2のリード部の各
上面とを金属細線により接続する工程と、前記リードフ
レームの裏面側の少なくともダイパッド部、第1のリー
ド部、第2のリード部の各底面に封止シートを密着させ
る工程と、少なくとも前記第1のリード部、第2のリー
ド部の端部に押圧力を付加し、前記第1のリード部のラ
ンド電極面と第2のリード部のランド電極面とを前記封
止シートに押圧した状態で、前記リードフレームの上面
側として前記半導体素子、ダイパッド部、金属細線の領
域を封止樹脂により樹脂封止する工程と、樹脂封止後に
前記封止シートを前記リードフレームより除去する工程
とよりなる樹脂封止型半導体装置の製造方法である。
【0015】具体的には、少なくとも第1のリード部、
第2のリード部の端部に押圧力を付加し、前記第1のリ
ード部のランド電極面と第2のリード部のランド電極面
とを封止シートに押圧した状態で、前記リードフレーム
の上面側として半導体素子、ダイパッド部、金属細線の
領域を封止樹脂により樹脂封止する工程では、前記押圧
力の付加の際、前記第1のリード部のランド電極面が封
止シートに押圧された状態を構成するとともに、前記押
圧力と前記封止樹脂の注入とによって前記第2のリード
部の凹部が下方に曲がる力を作用して前記第2のリード
のランド電極面は前記封止シート面に押圧されて密着し
た状態を構成し、ランド電極面に封止樹脂が回り込まな
い状態で樹脂封止する樹脂封止型半導体装置の製造方法
である。
【0016】前記構成の通り、本発明のリードフレーム
は、樹脂封止型半導体装置を構成した際、その外部電極
となるランド電極をリード体として設けたものであり、
半導体素子を搭載し、金属細線で半導体素子と各リード
とを接続し、樹脂封止して樹脂封止型半導体装置を構成
した際、樹脂封止型半導体装置の底面、すなわちパッケ
ージ底面領域内には、ランドリード部のランド部の底面
が配置され、そのランド部の外側にはリード部の底面が
配置されて2列配置の外部端子を構成するものであり、
LGA(ランド・グリッド・アレイ)型パッケージを構
成することができる。
【0017】また本発明のリードフレームを用いること
により、第2のリード部のランド部の根本近傍に設けた
凹部により、樹脂注入によりランド電極の面が封止シー
トに食い込んで密着するため、樹脂封止の注入圧による
第2のリード部の浮き上がりを防止し、ランド電極の面
に封止樹脂が回り込むことがなく、第2のリード部のラ
ンド電極の面への樹脂バリの発生を抑えることができる
ものである。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明のリードフレームと
それを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
の主とした実施形態について図面を参照しながら説明す
る。
【0019】まず本実施形態のリードフレームについて
説明する。
【0020】図1は本実施形態のリードフレームを示す
平面図である。図2は本実施形態のリードフレームのリ
ード部分を示す拡大図であり、図1における円内部分の
拡大図として、図2(a)は平面図であり、図2(b)
は図2(a)のA−A1、B−B1箇所の各断面図であ
る。なお、図1において、二点鎖線で示した領域は、本
実施形態のリードフレームを用いて半導体素子を搭載
し、樹脂封止する際の封止領域を示している。
【0021】図1,図2に示すように本実施形態のリー
ドフレームは、銅材または、42−アロイ等の通常のリ
ードフレームに用いられている金属板よりなり、半導体
素子を搭載するダイパッド部1と、その末端でフレーム
枠2と接続し、先端部でダイパッド部1の四隅を支持す
る吊りリード部3と、その先端部がダイパッド部1に対
向し、末端部がフレーム枠2と接続して配置された直線
状のランドリード部4(第2のリード部)と直線状のリ
ード部5(第1のリード部)とよりなるリードフレーム
であり、ランドリード部4とリード部5はそれぞれその
底面で外部端子(ランド部)を構成するものであり、リ
ード部5はその底面に加えて外方側面でも外部端子とし
て実装基板と接続できるものである。
【0022】そして詳細には、ダイパッド部1にはその
表面の略中央部分に円形の突出部6が設けられ、その突
出部6は、ダイパッド部1を構成している平板に対して
プレス加工により半切断状態のプレスを施し、上方に突
出させたものである。この突出部6が実質的に半導体素
子を支持する部分となり、半導体素子を搭載した際、ダ
イパッド部1の突出部6を除く表面と半導体素子裏面と
の間には間隙が形成されるよう構成されている。またダ
イパッド部1の表面の突出部6を包囲する領域には溝部
7が設けられ、半導体素子を搭載し、樹脂封止した際に
封止樹脂がその溝部7に入り込むように設けられてい
る。本実施形態では溝部7は円形の環状の溝部7を設け
たものである。この溝部7により、ダイパッド部1の突
出部6上に接着剤により半導体素子を搭載し、樹脂封止
した際に封止樹脂がその溝部7に入り込むため、熱膨張
による応力でダイパッド部1の表面と封止樹脂との間に
樹脂剥離が発生しても、その剥離自体を溝部でトラップ
することができ、信頼性低下を防止することができるも
のである。もちろん、溝部7の構成としては、環状の構
成以外、部分的に溝部を連結した構成でもよく、その数
も2本以上の3本,4本、または1本でもよいが、ダイ
パッド部1の大きさと搭載する半導体素子の大きさによ
り設定することができる。
【0023】また、本実施形態のリードフレームのラン
ドリード部4とリード部5は、フレーム枠2と接続した
状態では交互配列の並列配置となっており、ダイパッド
部1に対向する配置においては、ランドリード部4の先
端部がリード部5の先端部よりもダイパッド部1側に延
在し、それら先端部どうしは平面配置上、千鳥状に配置
されているものである。この配置は、半導体素子を搭載
し、樹脂封止した際には、パッケージ底面に2列の外部
端子が千鳥状に配置されるようにしたものであり、ラン
ドリード部4の先端部底面とリード部5の底面とがパッ
ケージ底面に配置されるものである。そして特に図2に
示すように、ランドリード部4は直線形状のリードであ
り、その先端部の底面部分に外部端子となる先端部が曲
率を有したランド部8が形成されており、ランド部8を
形成する部分以外はハーフエッチ加工により厚みが薄く
加工され、ランド部8はリード本来の厚みを有するもの
である。
【0024】すなわちランドリード部4においてランド
部8は下方に突出した形状を有し、ランドリード部4自
体は上面が下面よりも広い面積を有している。なお図1
では、ランドリード部4の先端底面の破線で示した部分
がランド部8を示し、図2では格子状ハッチング領域が
ハーフエッチされている部分を示している。またリード
部5は同様に図2に示すように、その先端部の外周部分
がハーフエッチ加工により薄厚に加工され、先端部が幅
広部9を有し、その幅広部9の根本付近には溝部10が
設けられている。また先端部の底面には先端部が曲率を
有した形状でランド部が形成されている。図1,図2に
おいてハッチングを付した部分が溝部10である。本実
施形態のリードフレームを用いて半導体素子を搭載し、
樹脂封止した際、リード部5自体は底面と側面が露出さ
れる片面封止構成となるため、従来のようなフルモール
ドパッケージのリード部とは異なり、封止樹脂による応
力、基板実装後の応力がリード部に印加される場合があ
る。しかし、この溝部10により、封止樹脂による応
力、基板実装後の応力によりリード部5自体に応力が印
加されても、溝部10で応力を吸収できるものであり、
金属細線の接続部分の破壊を防止し、実装後の製品の信
頼性を維持できるものである。なお、ここでランドリー
ド部4のランド部8の表面領域、リード部5の幅広部9
は金属細線が接続されるボンディングパッドを構成する
ものである。
【0025】本実施形態のリードフレームは、ランドリ
ード部4、リード部5は互いに直線状のリードであっ
て、それら底面のランド部8を構成する部分は、先端部
が曲率を有した形状であり、また互いに直線状であるた
め、パッケージ配置において、ランド部8どうしは千鳥
状を構成するものである。
【0026】また、本実施形態のリードフレームのダイ
パッド部1の突出部6を包囲する領域に相当する底面に
は、矩形状の環状の溝部11を設けている。この溝部1
1により、ダイパッド部1の底面にハンダ等の接合材料
を用いて基板実装した際、ハンダの余分な広がりを防止
し、実装精度を向上させるとともに、半導体素子からの
放熱作用によるダイパッド部1自体の応力を吸収できる
ものである。また本実施形態では溝部11を1つとして
いるが、ダイパッド部1の底面の外周部近傍にも環状の
溝部を形成してもさらなる実装精度向上を達成できる。
さらに吊りリード部3にダミーランド部を設けたり、吊
りリード部3に屈曲部を設けてもよい。
【0027】なお、ランドリード部4、リード部5の数
は、搭載する半導体素子のピン数などにより、その数を
適宜設定できるものである。また本実施形態のリードフ
レームはその表面がメッキ処理されたものであり、必要
に応じて例えば、ニッケル(Ni),パラジウム(P
d)および金(Au)などの金属が積層されて適宜メッ
キされているものである。また本実施形態のリードフレ
ームは図1に示したようなパターンが1つよりなるもの
ではなく、左右・上下に連続して形成できるものであ
る。
【0028】本実施形態のリードフレームにより、半導
体素子を搭載し、金属細線で半導体素子と各リードとを
接続し、樹脂封止して樹脂封止型半導体装置を構成した
際、樹脂封止型半導体装置の底面、すなわちパッケージ
底面には、ランドリード部4の先端部が曲率を有したラ
ンド部8の底面が配置され、そのランド部8の外側には
リード部5の先端部が曲率を有した底面部分が配置され
て千鳥状の2列配置の外部端子を構成するものであり、
LGA(ランド・グリッド・アレイ)型パッケージを構
成することができる。そして本実施形態のリードフレー
ムを用いて樹脂封止型半導体装置を構成することによ
り、ダイパッド部1の表面には溝部7が設けられてお
り、樹脂封止後の樹脂剥離が起こっても、その剥離を溝
部7でトラップできるため、樹脂封止型半導体装置とし
て信頼性を維持できるものである。その他、放熱特性の
向上、基板実装時のハンダ接合の精度向上、大きい面積
の半導体素子を搭載できるなどの利点もある。
【0029】次に本発明の樹脂封止型半導体装置につい
て図面を参照しながら説明する。図3は本実施形態に係
る樹脂封止型半導体装置を示す平面図であり、図4は本
実施形態に係る樹脂封止型半導体装置を示す底面図であ
り、図5,図6は本実施形態に係る樹脂封止型半導体装
置を示す断面図である。図5の断面図は、図3における
C−C1箇所、図4におけるE−E1箇所の断面を示
し、図6の断面図は、図3におけるD−D1箇所、図4
におけるF−F1箇所の断面を示す。また本実施形態で
は図1,図2に示したリードフレームを例として用いた
樹脂封止型半導体装置である。
【0030】図3,図4,図5および図6に示すよう
に、本実施形態の樹脂封止型半導体装置は、表面に突出
部6と、その突出部6を包囲する円形または矩形または
それらの組み合わせの環状の溝部7と、底面に環状の溝
部11を有したダイパッド部1と、そのダイパッド部1
の突出部6上に銀ペースト等の導電性接着剤(図示せ
ず)を介して搭載された半導体素子12と、表面に溝部
10を有し、底面が露出したリード部5と、リード部5
の先端部領域よりもダイパッド部1側に延在して配置さ
れ、その先端部の底面が露出してランド電極を構成する
ランドリード部4と、半導体素子12の主面の電極パッ
ド(図示せず)とランドリード部4、リード部5のボン
ディングパッド部13とを電気的に接続した金属細線1
4と、ダイパッド部1の底面を除く領域、搭載された半
導体素子12、ランドリード部4の底面を除く領域、リ
ード部5の外部側面と底面とを除く領域、および金属細
線14を封止した封止樹脂15とよりなるものである。
そして封止樹脂15よりなるパッケージ部より露出した
ランドリード部4の先端部底面と、リード部5の外部側
面と底面とは、プリント基板等の実装基板への実装の
際、外部電極を構成するランド電極16を構成してお
り、リード部5の底面とその先端部領域のランドリード
部4の先端部底面とが露出して千鳥状の2列ランド構成
を有しているものである。そしてランド電極16は封止
樹脂15より露出しているが、20[μm]程度の段差
を有して突出して露出しているものであり、基板実装時
のスタンドオフを有しているものである。同様にダイパ
ッド部1の底面も突出して露出しているものであり、基
板実装時はハンダ接合により放熱効率を向上させること
ができる。さらに、ダイパッド部1の底面には、凹部1
7が形成されており、これは突出部6をダイパッド部1
の上面にプレス加工による半切断状態で形成しているた
め、その突出量分の凹部が対応して底面に形成されてい
るものである。本実施形態では、200[μm]の金属
板よりなるダイパッド部1(リードフレーム厚)の厚み
に対して、140[μm]〜180[μm](金属板自
体の厚みの70[%]〜90[%])突出した突出部6
を形成している。
【0031】また、ランドリード部4、リード部5にお
けるボンディングパッド部13の面積は、100[μ
m]以上のワイヤーボンドができる大きさであればよ
く、高密度な電極配列が可能であり、小型・薄型の樹脂
封止型半導体装置を実現できるものである。さらに本実
施形態の構造により、多ピン化に対応でき、高密度面実
装型の樹脂封止型半導体装置を実現できるものであり、
半導体装置自体の厚みとしても、1[mm]以下の80
0[μm]程度の極めて薄型の樹脂封止型半導体装置を
実現できるものである。
【0032】また本実施形態の樹脂封止型半導体装置
は、封止樹脂15に封止されたランドリード部4の先端
部、リード部5の先端部の上面の面積が、封止樹脂15
から露出、突出した側のランド電極16側の面積よりも
大きく構成されており、封止樹脂15との食いつきを良
好にし、密着性を向上させることができ、基板実装の際
の接続の信頼性を得ることができるものである。
【0033】以上のように、本実施形態の樹脂封止型半
導体装置は、パッケージ底面には、ランドリード部4の
ランド電極16の底面が配置され、そのランド電極16
の外側にはリード部5の底面であるランド電極16が配
置されて千鳥状の2列配置の外部端子を構成するもので
あり、LGA(ランド・グリッド・アレイ)型パッケー
ジを構成することができる。またダイパッド部1の表面
には溝部7が設けられており、半導体素子12の裏面と
ダイパッド部1表面との間で封止樹脂15の樹脂剥離が
起こっても、その剥離を溝部7でトラップできるため、
樹脂封止型半導体装置として信頼性を維持できるもので
ある。その他、放熱特性の向上、基板実装時のハンダ接
合の精度向上、大きい面積の半導体素子を搭載できるな
どの利点もある。
【0034】さらに本実施形態の樹脂封止型半導体装置
は、従来のように配線基板、回路基板を用いず、リード
フレームを用いたLGA型の樹脂封止型半導体装置にお
いて、基板実装の実装強度を向上させた樹脂封止型半導
体装置である。図7は図6に示した本実施形態の樹脂封
止型半導体装置の実装状態の一例を示す断面図である。
【0035】図7に示すように、本実施形態の樹脂封止
型半導体装置は、パッケージ底面のランド電極16とプ
リント基板等の実装基板18とをハンダ等の接合剤19
により接続し、実装している。ここでランドリード部の
底面のランド電極はその底面部分のみが接合剤と接触し
て実装されているが、リード部5のランド電極16はそ
の底面部分が接合剤19と接触して実装されることに加
えて、リード部5の外部側面が露出していることによ
り、接合剤19がそのリード部5の側面とも接触して実
装されている。
【0036】すなわち、通常はランド電極として、その
底面部分のみが接合剤を介して実装基板に接合されるも
のであるが、本実施形態では、列構成のランド電極にお
いて外側のランド電極は、リード部5よりなるものであ
り、その外側部分はパッケージ部分(封止樹脂15)よ
り露出しているので、その外部側面に対して、接合剤を
設けることにより、底面+側面の2点接合構造となり、
実装基板との接続の実装強度を向上させ、接続の信頼性
を向上させることができる。これは通常のリードフレー
ムLGA型半導体装置では達成できなかった実装構造で
あり、本実施形態では、ランド電極の構成をランド電
極、リード型ランド電極の2種類で2列構成としている
ため、パッケージの外側にも接続部分を設けることがで
き、底面+側面の2点接合構造により、接続の信頼性を
向上させることができる革新的な構造を有している。
【0037】以上、本実施形態で示したようなリードフ
レームを用いることにより、半導体素子を搭載し、樹脂
封止することにより、樹脂封止型半導体装置の底面部分
に半導体素子と電気的に接続したランド電極を直線状ま
たは千鳥状の2列で配列することができる。その結果、
面実装タイプの半導体装置が得られ、従来のようなリー
ド接合による実装に比べて、基板実装の信頼性を向上さ
せることができる。
【0038】また本実施形態の樹脂封止型半導体装置
は、従来のBGAタイプの半導体装置のように、ランド
電極を設けた回路基板等の基板を用いるものでなく、リ
ードフレームという金属板からなるフレーム本体からL
GA型の半導体装置を構成するものであり、量産性、コ
スト性などの面においては、従来のBGAタイプの半導
体装置よりも有利となる。
【0039】また本実施形態の樹脂封止型半導体装置で
は、列構成のランド電極において外側のランド電極は、
リード部よりなるものであり、その外側部分の側端はパ
ッケージ部分より露出しているので、その外部側面に対
して、接合剤を設けることによりフィレットが形成さ
れ、底面+側面の2点接合構造となり、実装基板との接
続の実装強度を向上させ、接続の信頼性を向上させるこ
とができる。これは通常のリードフレームLGA型半導
体装置では達成できなかった実装構造であり、本実施形
態では、ランド電極の構成をランド電極、リード型ラン
ド電極の2種類で2列構成としているため、パッケージ
の外側にも接続部分を設けることができ、底面+側面の
2点接合構造により、実装強度を向上させることができ
る構造である。
【0040】次に本発明の樹脂封止型半導体装置の製造
方法の実施形態について図面を参照しながら説明する。
図8〜図13は本実施形態の樹脂封止型半導体装置の製
造方法を示す工程ごとの断面図である。なお、本実施形
態では、図1に示したようなリードフレームを用いてL
GA型の樹脂封止型半導体装置を製造する形態を説明す
る。また本実施形態では便宜的にランドリード部4の断
面方向の図を用いて説明するので、図中、リード部5は
示されていない。
【0041】まず図8に示すように、金属板よりなるフ
レーム本体と、そのフレーム本体の開口した領域内に配
設されて、表面に突出部6と、その突出部6を包囲する
円形または矩形の環状の溝部7と、底面に環状の溝部1
1と凹部17を有した半導体素子搭載用のダイパッド部
1と、先端部でそのダイパッド部1を支持し、他端部で
フレーム枠(図示せず)と接続した吊りリード部(図示
せず)と、図示されないが、底面がランド電極となり、
その先端部表面に金属細線が接続される幅広のボンディ
ングパッド部を有し、そのボンディングパッド部の近傍
に溝部が設けられ、規則性を有して配列され、他端部が
フレーム枠と接続したリード部と、底面がランド電極1
6となり、その先端部表面に金属細線が接続される幅広
のボンディングパッド部13を有し、上面が下面よりも
面積的に大きく、前記したリード部の先端部に千鳥状に
その先端部が配置されてそのリード部とともに2列構成
を形成し、他端部がフレーム枠と接続したランドリード
部4とを有するリードフレームを用意する。
【0042】次に図9に示すように、用意したリードフ
レームのダイパッド部1の突出部6上に銀ペースト等の
導電性接着剤を介して半導体素子12をその主面を上に
して接合する。
【0043】次に図10に示すように、ダイパッド部1
上に接合により搭載した半導体素子12の主面上の電極
パッドと、リードフレームのランドリード部4、リード
部(図示せず)の各上面のボンディングパッド部13と
を金属細線14により電気的に接続する。ここで金属細
線14が接続される各ボンディングパッド部の面積は、
一例として100[μm]以上である。
【0044】次に図11に示すように、リードフレーム
の裏面側、すなわちダイパッド部1の底面、ランドリー
ド部4のランド電極16、リード部(図示せず)の各底
面に密着するようにリードフレームの裏面側に封止テー
プまたは封止シート20を密着させる。ここで使用する
封止シート20は、リードフレームに対して接着力がな
く、樹脂後は容易にピールオフ等により除去できる樹脂
シートであり、樹脂封止工程でのリードフレームの裏面
側への封止樹脂の回り込みを確実に防止でき、その結
果、ダイパッド部1、ランドリード部4、リード部(図
示せず)の裏面への樹脂バリの付着を防止できる。その
ため、樹脂封止後の樹脂バリ除去のためのウォータージ
ェット工程を省略することができる。
【0045】次に図12に示すように、封止シート20
を密着させた状態でリードフレームの上面側を封止樹脂
15により樹脂封止し、半導体素子12、ダイパッド部
1、金属細線14の領域を樹脂封止する。通常は上下封
止金型を用いたトランスファーモールドにより片面封止
を行う。すなわち、ダイパッド部1、ランドリード部
4、リード部(図示せず)の底面部分を除いた片面封止
構造となる。また特にランドリード部4、リード部(図
示せず)のフレーム枠2と接続した部分、つまり樹脂封
止されないリード部分を封止シート20を介して上下金
型の第1の金型により第2の金型に対して押圧すること
により、ランドリード部4、リード部(図示せず)の各
底面を封止シート20に押圧、密着させた状態で樹脂封
止することにより、樹脂バリの発生を防止するととも
に、ランドリード部4、リード部(図示せず)の各底面
をパッケージ底面(封止樹脂15底面)からスタンドオ
フを有して配置させることができる。
【0046】なお、封止シート20のリードフレーム裏
面への密着、貼付は、樹脂封止する封止用の上下金型に
予め供給しておいた封止シートを樹脂封止前に密着させ
てもよいし、樹脂封止前に別工程で封止シートをリード
フレームに密着、貼付したものを封止金型に供給し、樹
脂封止してもよい。
【0047】次に図13に示すように、樹脂封止後は封
止シートをピールオフ等により除去した後、吊りリード
部やランドリード部4、リード部の各リード部のフレー
ム枠と接続した部分を切断する。この段階で実質的に各
リード部の端部が樹脂封止したパッケージの側面と同一
面に配列するように切断する。そしてランドリード部
4、リード部の底面はランド電極16を構成し、またリ
ード部の外側の側面部分も外部電極を構成し、ダイパッ
ド部1の底面も露出し、放熱構造を有するものである。
【0048】以上、本実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法により、パッケージ底面の内側列には、ラン
ドリード部4のランド電極16の底面が配置され、その
ランド電極16の外側列にはリード部の底面であるラン
ド電極が配置されて直線状もしくは千鳥状の2列配置の
外部端子を構成するものであり、LGA(ランド・グリ
ッド・アレイ)型パッケージを構成することができる。
さらに、ランド電極の構成をランド電極、リード型ラン
ド電極の2種類で2列構成としているため、パッケージ
の外側にも接続部分を設けることができ、底面+側面の
2点接合構造により、接続の信頼性を向上させることが
できる樹脂封止型半導体装置を実現することができる。
【0049】次に、本実施形態で示したリードフレーム
の構造では、別途、新たな問題が顕在化してきている。
【0050】以下、図面を参照して説明する。図14は
本実施形態のリードフレームにおける通常のランドリー
ド部4(2列目リード)の一部分を拡大して示した図面
であり、図14(a)は平面図、図14(b)は図14
(a)のG−G1箇所の断面図である。図15は樹脂封
止する場合の注入した樹脂によるランドリード部4、リ
ード部5に対する影響を示す部分的な断面図である。図
16は図15と同様、ランドリード部4の部分の注入し
た樹脂によるランドリード部4、リード部5に対する影
響を示す部分的な断面図である。図17は樹脂封止後の
樹脂封止型半導体装置の一部分を示す断面図である。
【0051】図14に示すように通常の第2のリード部
であるランドリード部4は、ランド部8をその先端に有
し、底面はランド電極16となるものである。しかし樹
脂封止の際は、図15に示すように、ランドリード部4
の端部(フレーム枠側)は第1の金型21により第2の
金型22に対して封止シート20を介して押圧される
が、押圧される箇所からランドリード部4のランド部8
が距離的に離れており、ランド部8のランド電極16が
封止シート20に対して密着する力が弱くなってしま
う。その結果、矢印に示される注入した封止樹脂の注入
圧により、ランドリード部4のランド部8のランド電極
16が封止シート20から浮き上がり、剥離した状態で
樹脂封止されてしまう。なお、第1のリード部であるリ
ード部5の場合は押圧される箇所から距離的に短いた
め、押圧力でリード部5の底面は封止シート20に密着
し、封止シート20から剥離するようなことはない。
【0052】このような状態で樹脂封止されると、図1
7に示すように、封止樹脂がランドリード部4の底面
(ランド電極16)に回り込み、ランドリード部4のラ
ンド電極16の表面に樹脂バリ23が形成され、外部電
極として機能しないという問題が発生し得る。このよう
な問題に対して、ランドリード部4の底面を確実に封止
シート20に密着させ、樹脂バリ23を防止することは
技術的に重要な課題となっている。
【0053】以下、本発明のリードフレームとそれを用
いた樹脂封止型半導体装置の製造方法について、課題解
決のための実施形態について図面を参照しながら説明す
る。
【0054】ここでは、ランドリード部4のランド電極
16の表面を確実に封止シートに密着させることができ
る実施形態について説明する。
【0055】図18は本実施形態のリードフレームのラ
ンドリード部を示す図であり、リードフレームとしては
図1に示したリードフレーム構成と基本構成は同様なも
のであるが、第2のリード部であるランドリード部4の
構成と作用とが異なるものであり、少なくともランドリ
ード部4において、ランドリード部4には封止シートに
食い込み、密着する構成が設けられているものである。
図18において、図18(a)は平面図であり、図18
(b)は図18(a)のH−H1箇所の断面図である。
【0056】本実施形態のリードフレームは、同様に金
属板よりなるフレーム本体と、そのフレーム本体の開口
した領域内に配設されて、表面に突出部と、その突出部
を包囲する円形または矩形の環状の溝部と、底面に環状
の溝部と凹部を有した半導体素子搭載用のダイパッド部
と、先端部でそのダイパッド部を支持し、他端部でフレ
ーム枠と接続した吊りリード部と、底面がランド電極と
なり、その先端部表面に金属細線が接続される幅広のボ
ンディングパッド部を有し、そのボンディングパッド部
の近傍に溝部が設けられ、規則性を有して配列され、他
端部がフレーム枠と接続したリード部と、底面がランド
電極となり、その先端部表面に金属細線が接続される幅
広のボンディングパッド部を有し、前記したリード部の
先端部に千鳥状にその先端部が配置されてそのリード部
とともに2列構成を形成し、他端部がフレーム枠と接続
したランドリード部とを有するリードフレームであっ
て、図18に示すように、特にランドリード部4は、ラ
ンド部8のランド電極16を構成する以外の部分は薄厚
で構成され、そのランド電極16を構成する部分が下方
に突出して構成されており、ランド電極16の根本付近
の上面には、ポンチ打ちによる凹部24が設けられてい
る。そしてこのランドリード部4の上面に圧力が印加さ
れた際、その凹部24により下方への曲がり力が作用し
て、ランドリード部4のランド電極16面が第1のリー
ド部であるリード部のランド電極面よりも下方もしくは
同等の位置に配置される構成を有するものである。
【0057】図18に示すようにランドリード部4のラ
ンド電極16の根本付近の上面に凹部24を設けること
により、樹脂封止の際のシート封止において、注入され
た樹脂の圧力により、その凹部24が受けた押圧力でラ
ンド部8の部分が下方に作用し、ランド電極16の面が
封止シートに食い込んで密着した状態を形成する。した
がって、ランドリード部4の浮き上がりを防止し、ラン
ドリード部4のランド電極16の面が封止シートに密着
するため、ランド電極16の面に封止樹脂が回り込むこ
とがなく、結果として、ランドリード部4のランド電極
16の面への樹脂バリの発生を抑えることができるもの
である。
【0058】なお、本実施形態では凹部24としては、
断面形状がV型の溝部であるが、その他、切り欠き状の
凹部、U型の溝部でもよい。ただし、上面からの注入樹
脂による押圧力を受けることができるような深さ、角度
のある凹部とする。
【0059】次に本実施形態で示したランドリード部4
に特徴を有するリードフレームを用いて樹脂封止型半導
体装置を製造する実施形態について説明する。
【0060】なお、本実施形態のリードフレームを用い
て樹脂封止型半導体装置を製造するプロセスについて
も、前記した基本的な実施形態の図8〜図13に示した
工法と同様であるため省略し、ここでは樹脂封止工程に
おける本実施形態のリードフレームの特にランドリード
部4による作用効果について図面を参照しながら説明す
る。
【0061】図19は本実施形態のリードフレームを用
いて樹脂封止する際の封止シート20とランドリード部
4のランド電極16との密着性を得るメカニズムを示す
断面図である。
【0062】図19に示すように、樹脂封止において注
入された樹脂による圧力がランドリード部4上に印加さ
れた場合、ランドリード部4のランド部8の根本付近に
設けた凹部24により、その厚みが薄く構成されている
分、その凹部を起点としてランド部8が曲がり力ととも
に下方に位置し、封止シート20と密着する。これは、
注入した樹脂の流れによって、樹脂による圧力(図中の
矢印A)が凹部24に印加されるため、凹部24ではリ
ード厚みが薄いため、矢印Bに示すように曲がり力が作
用するため、ランド電極16の面が下方に位置すること
により封止シート20に密着するものである。
【0063】すなわち、封止シートを用いた樹脂封止工
程では、少なくとも第1のリード部であるリード部、第
2のリード部であるランドリード部4の端部に金型によ
って押圧力を付加し、リード部のランド電極面とランド
リード部4のランド電極16面とを封止シート20に押
圧した状態で、リードフレームの上面側として半導体素
子、ダイパッド部、金属細線の領域を封止樹脂により樹
脂封止するが、この押圧力の付加の際、リード部のラン
ド電極面が封止シートに押圧された状態を構成するとと
もに、押圧力と封止樹脂の注入圧とによってランドリー
ド部4の凹部24が下方に曲がる力を作用して、ランド
リード部4のランド電極16面が封止シート20面に押
圧されて密着した状態を構成し、ランド電極16面に封
止樹脂が回り込まない状態で樹脂封止するものである。
【0064】したがって、ランドリード部4の浮き上が
りを防止し、ランドリード部4のランド電極16の面が
封止シート20に密着して隙間がないため、ランド電極
16の面に封止樹脂が回り込むことがなく、結果とし
て、ランドリード部4のランド電極16の面への樹脂バ
リの発生を抑えることができるものである。図中、矢印
Cは封止樹脂の注入によってランドリード部4のランド
電極16の密着力を示している。
【0065】本実施形態のリードフレームを用いて樹脂
封止型半導体装置を製造することにより、樹脂封止時の
ランドリード部4のランド電極16への樹脂バリの発生
を抑えて、封止樹脂部からランド電極が確実にスタンド
オフを有して露出した樹脂封止型半導体装置を実現する
ことができる。
【0066】以上、実施形態で示したように、樹脂封止
の注入圧によるランドリード部4の浮き上がりを防止す
るために、ランドリード部4のランド部の根本近傍の上
面に凹部24を設け、樹脂封止の際、ランドリード部4
のランド電極16の面が封止シート20に密着するた
め、ランド電極16の面に封止樹脂が回り込むことがな
く、ランドリード部4のランド電極16の面への樹脂バ
リの発生を抑えることができるものである。
【0067】なお、本実施形態では第1のリード部と第
2のリード部とによる2列構成のリード部を有したリー
ドフレームを例として説明したが、2列に限定するもの
ではなく、2列以上の3列,4列等の複数列を構成する
リード部を有したリードフレームに対しても有効である
ことは言うまでもない。
【0068】
【発明の効果】以上、本発明のリードフレームにより、
従来のようなビーム状のリード電極に代えて、ランド電
極を有した樹脂封止型半導体装置を実現することができ
る。そして本発明により、樹脂封止型半導体装置の底面
のランド電極を回路基板等を用いることなく、フレーム
状態から形成でき、製造コストを低下させ、従来のよう
なリード接合による実装に比べて、基板実装の信頼性を
向上させることができる。
【0069】また樹脂封止型半導体装置の製造方法にお
いては、従来のように突出したリード形成が必要ない
分、リードベンド工程が不要であって、樹脂封止後はパ
ッケージ底面の内側列には、ランドリード部のランド電
極の底面が配置され、そのランド電極の外側列にはリー
ド部の底面であるランド電極が配置されて直線状もしく
は千鳥状の2列配置の外部端子を構成し、LGA型パッ
ケージを構成することができる。そして本発明の樹脂封
止型半導体装置の底面の列構成のランド電極において、
外側のランド電極はリード部よりなるものであり、その
外側部分の側端はパッケージ部分より露出しているの
で、その外部側面に対して、ハンダ等の接合剤を設ける
ことによりフィレット部が形成され、底面+側面の2点
接合構造となり、実装基板との接続の実装強度を向上さ
せ、接続の信頼性を向上させることができる。
【0070】さらに本発明のリードフレーム、その構造
の作用により、形成した樹脂封止型半導体装置の底面の
ランド電極面に樹脂バリの発生をなくし、外部電極の不
良、実装不良を防止した樹脂封止型半導体装置を得るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態のリードフレームを示す平
面図
【図2】本発明の一実施形態のリードフレームを示す図
【図3】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置を
示す平面図
【図4】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置を
示す底面図
【図5】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置を
示す断面図
【図6】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置を
示す断面図
【図7】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
実装構造を示す断面図
【図8】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図9】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図10】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図11】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図12】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図13】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図14】本発明の一実施形態のランドリード部を示す
部分的な図
【図15】本発明の一実施形態の樹脂封止の状態を示す
部分的な断面図
【図16】本発明の一実施形態の樹脂封止の状態を示す
部分的な断面図
【図17】本発明の一実施形態の樹脂封止後の状態を示
す部分的な断面図
【図18】本発明の課題解決の実施形態のリードフレー
ムのランドリード部を示す図
【図19】本発明の課題解決の実施形態のリードフレー
ムのランドリード部を示す図
【図20】従来のリードフレームを示す平面図
【図21】従来の樹脂封止型半導体装置を示す断面図
【図22】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す平面図
【符号の説明】
1 ダイパッド部 2 フレーム枠 3 吊りリード部 4 ランドリード部 5 リード部 6 突出部 7 溝部 8 ランド部 9 幅広部 10 溝部 11 溝部 12 半導体素子 13 ボンディングパッド部 14 金属細線 15 封止樹脂 16 ランド電極 17 凹部 18 実装基板 19 接合剤 20 封止シート 21 第1の金型 22 第2の金型 23 樹脂バリ 24 凹部 101 フレーム枠 102 ダイパッド部 103 吊りリード部 104 インナーリード部 105 アウターリード部 106 タイバー部 107 半導体素子 108 金属細線 109 封止樹脂
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内海 勝喜 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 (72)発明者 南尾 匡紀 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 (72)発明者 松尾 隆広 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 Fターム(参考) 4M109 AA01 BA01 CA21 DA02 DA10 DB16 FA01 FA04 5F061 AA01 BA01 CA21 DE02 EA01 5F067 AA01 AA04 AA05 AA10 AA16 AB04 BC06 BC07 BC13 BD05 BE02 CA07 DE14 DF03 EA02 EA04

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属板よりなるフレーム本体と、前記フ
    レーム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載
    用のダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持
    し、他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少
    なくとも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、
    他端部が前記フレーム枠と接続し、底面がランド電極と
    なる第1のリード部と、前記第1のリード部の先端部領
    域に延在してその先端部が配置され、他端部が前記フレ
    ーム枠と接続し、底面がランド電極となる第2のリード
    部とよりなり、前記第1のリード部の底面のランド電極
    と前記第2のリード部の底面のランド電極とで2列のラ
    ンド電極を構成し、少なくとも第2のリード部はそのラ
    ンド電極の根本上面近傍に凹部が形成されていることを
    特徴とするリードフレーム。
  2. 【請求項2】 金属板よりなるフレーム本体と、前記フ
    レーム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載
    用のダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持
    し、他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少
    なくとも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、
    他端部が前記フレーム枠と接続し、底面がランド電極と
    なる第1のリード部と、前記第1のリード部の先端部領
    域に延在してその先端部が配置され、他端部が前記フレ
    ーム枠と接続し、底面がランド電極となる第2のリード
    部とよりなり、前記第1のリード部の底面のランド電極
    と前記第2のリード部の底面のランド電極とで2列のラ
    ンド電極を構成し、少なくとも第2のリード部はそのラ
    ンド電極の根本上面近傍に凹部が形成されている構成を
    有したリードフレームを用意する工程と、前記用意した
    リードフレームの前記ダイパッド部上に半導体素子を搭
    載する工程と、前記ダイパッド部上に搭載した前記半導
    体素子の主面上の電極パッドと、前記リードフレームの
    第1のリード部、第2のリード部の各上面とを金属細線
    により接続する工程と、前記リードフレームの裏面側の
    少なくともダイパッド部、第1のリード部、第2のリー
    ド部の各底面に封止シートを密着させる工程と、少なく
    とも前記第1のリード部、第2のリード部の端部に押圧
    力を付加し、前記第1のリード部のランド電極面と第2
    のリード部のランド電極面とを前記封止シートに押圧し
    た状態で、前記リードフレームの上面側として前記半導
    体素子、ダイパッド部、金属細線の領域を封止樹脂によ
    り樹脂封止する工程と、樹脂封止後に前記封止シートを
    前記リードフレームより除去する工程とよりなることを
    特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 少なくとも第1のリード部、第2のリー
    ド部の端部に押圧力を付加し、前記第1のリード部のラ
    ンド電極面と第2のリード部のランド電極面とを封止シ
    ートに押圧した状態で、前記リードフレームの上面側と
    して半導体素子、ダイパッド部、金属細線の領域を封止
    樹脂により樹脂封止する工程では、前記押圧力の付加の
    際、前記第1のリード部のランド電極面が封止シートに
    押圧された状態を構成するとともに、前記押圧力と前記
    封止樹脂の注入とによって前記第2のリード部の凹部が
    下方に曲がる力を作用して前記第2のリードのランド電
    極面は前記封止シート面に押圧されて密着した状態を構
    成し、ランド電極面に封止樹脂が回り込まない状態で樹
    脂封止することを特徴とする請求項2に記載の樹脂封止
    型半導体装置の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2836281A1 (fr) * 2002-02-20 2003-08-22 St Microelectronics Sa Grille conductrice plate pour boitier semi-conducteur
JP2004214233A (ja) * 2002-12-26 2004-07-29 Renesas Technology Corp 半導体装置およびその製造方法

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