JP2001077173A - Semiconductor manufacturing apparatus and manufacture of device - Google Patents

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacture of device

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JP2001077173A JP24815999A JP24815999A JP2001077173A JP 2001077173 A JP2001077173 A JP 2001077173A JP 24815999 A JP24815999 A JP 24815999A JP 24815999 A JP24815999 A JP 24815999A JP 2001077173 A JP2001077173 A JP 2001077173A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable quick and easy exchange of an SMIF pod accommodating a reticle or the like. SOLUTION: A pod stocker 10 having a pod hoisting and lowering base 20 and a hoisting and lowering means 30 is provided on the side of a chamber 1 incorporating an aligner or the like. At a first position S1 on a height of about 900 mm from the floor surface, exchange of a pod P is carried out by an operator or by an AGV of a floor surface running type or the like, to house the pod previously on each shelf of a pod holding shelf unit 50. At supplying or recovering of the pod P to or from an indexer 2 as an opening/closing means provided on a top of the chamber 1, the pod hoisting and lowering base 20 is moved to a second position S2 on the top part of the stocker 10 to transfer the pod P between a pod wait base 40 at a third position S3 and a horizontal transfer robot 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体ウエ
ハやレチクル等の基板を内蔵するカセットを清浄に保つ
ことのできる開閉可能な収納容器(ポッド)を用いて基
板の供給・回収を行なう、いわゆる標準メカニカルイン
ターフェースシステムを用いた露光装置等の半導体製造
装置およびデバイス製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a so-called open / close storage container (pod) capable of keeping a cassette containing a substrate such as a semiconductor wafer or a reticle clean. The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus such as an exposure apparatus using a standard mechanical interface system and a device manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体の製造工程、特にリソグラ
フィ工程では、歩留まりを向上させるため、素子欠陥の
原因となるサブミクロン大の塵を管理したクリーンルー
ム内で半導体ウエハ等の基板を処理してきたが、素子の
高集積化や回路の微細化が進んでいる今日、これらに対
応する粒径の塵を管理するクリーンルームの実現が技術
的・コスト的に困難になってきている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor manufacturing process, in particular, in a lithography process, a substrate such as a semiconductor wafer has been processed in a clean room in which submicron-sized dust causing element defects is controlled in order to improve the yield. Nowadays, with high integration of elements and miniaturization of circuits, realization of a clean room for managing dust having a particle size corresponding to these is becoming technically and costly difficult.

【0003】そこで、クリーンルームのクリーン度向上
に代わる方法の1つとして、基板を内蔵したカセット等
を内部が清浄に保たれた開閉可能な密閉容器に収納し、
この容器の開閉手段を各半導体製造装置に配備すること
により、基板のクリーンな搬送を可能にする標準メカニ
カルインターフェースシステム(SMIF)が提案され
ている。
In order to improve the cleanliness of a clean room, a method of improving the cleanliness of a clean room is to store a cassette or the like containing a substrate in a closed and openable container whose inside is kept clean.
A standard mechanical interface system (SMIF) that enables clean transfer of a substrate by disposing the container opening / closing means in each semiconductor manufacturing apparatus has been proposed.

【0004】例えば半導体露光装置におけるレチクル搬
出入のSMIFとして、図8に示すものが開発されてい
る。
For example, as shown in FIG. 8, a SMIF for carrying in and out a reticle in a semiconductor exposure apparatus has been developed.

【0005】これは、SMIFポッド102を開閉し収
納されたレチクルキャリア(カセット)102aをポッ
ド102から引き出す開閉昇降手段(SMIFインデク
サ)103を有し、該SMIFインデクサ103により
半導体露光装置101内に引き出されたカセット102
aからレチクル102bを取り出すためのフォーク状の
ハンド104と、該ハンド104をカセット102aに
対して前後・昇降するとともに不図示のプリアライメン
トステージへ搬送する搬送手段105を備えたものであ
る。そして、該搬送手段105により搬送されるレチク
ル102bの汚染やレチクル102bの交換時間を短縮
するために、カセット102aからレチクル102bを
取り出す時の高さを、レチクル102bをプリアライメ
ントステージへ搬送する高さとほぼ一致させて、搬送系
路を短縮している。
This has opening / closing elevating means (SMIF indexer) 103 for opening / closing the SMIF pod 102 and pulling out the stored reticle carrier (cassette) 102a from the pod 102. The SMIF indexer 103 pulls the reticle carrier 102a into the semiconductor exposure apparatus 101. Cassette 102
a fork-shaped hand 104 for taking out the reticle 102b from the cassette 102a, and a transfer means 105 for moving the hand 104 up and down and up and down with respect to the cassette 102a and transferring the hand 104 to a pre-alignment stage (not shown). In order to reduce contamination of the reticle 102b conveyed by the conveyance means 105 and the time required for exchanging the reticle 102b, the height at which the reticle 102b is taken out of the cassette 102a is set to the height at which the reticle 102b is conveyed to the pre-alignment stage. The transport system path is shortened by almost matching.

【0006】このために、SMIFインデクサ103の
ポッド載置面T1 は、前記レチクル搬送面T2 より幾分
上方に配置されることになり、しかも、レチクル搬送面
2の高さは露光装置のレチクルステージの高さ近傍で
あるため、床から1600mm以上となる。
[0006] For this, pod mounting surface T 1 of the SMIF indexer 103, would be disposed somewhat above said reticle conveying surface T 2, moreover, the height of the reticle-carrying surface T 2 are exposure apparatus Is near the height of the reticle stage, and therefore is 1600 mm or more from the floor.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術によれば、前述のように、ポッドの載置面が床か
ら1600mm以上と高いため、オペレータによるポッ
ド交換や、床面を走行する有軌道無人搬送車(AGV)
によるポッドの供給・回収は困難である。その結果、ク
リーンルームの天井から吊り下げられた軌道を走行する
天井走行型のAGVの使用が必須となり、設備コストを
上昇させるとともにレイアウト上の制約も増大する。
However, according to the above prior art, as described above, the mounting surface of the pod is as high as 1600 mm or more from the floor. Automatic guided vehicle (AGV)
It is difficult to supply and recover pods. As a result, it becomes necessary to use an overhead traveling type AGV that travels on a track suspended from the ceiling of the clean room, which increases equipment costs and increases restrictions on layout.

【0008】一方、オペレータによるポッド交換や床面
走行型のAGVに対応するために、SMIFインデクサ
の位置を床面から800〜1000mmの高さに設定し
た場合は、半導体製造装置内の清浄な環境(チャンバ)
内でレチクルを搬送する距離が大幅に増大するため、そ
の搬送機構部からの発塵により、チャンバ内の清浄な環
境やレチクルを汚染するおそれがあり、これを防止する
ためには大がかりな発塵対策、例えば取り出したレチク
ルを別の蓋付のカセットに収納し直して搬送するか、駆
動部を旋回アームの組み合わせにして発塵を抑える必要
がある。また、ポッド内に複数枚のレチクルを収納して
いる場合には、レチクル交換に要する時間を増大させる
という欠点がある。
On the other hand, if the position of the SMIF indexer is set at a height of 800 to 1000 mm from the floor surface in order to cope with pod replacement by the operator or a floor traveling type AGV, a clean environment in the semiconductor manufacturing apparatus is required. (Chamber)
Because the distance over which the reticle is transported within the chamber is significantly increased, dust from the transport mechanism may contaminate the clean environment and reticle inside the chamber. For example, it is necessary to store the removed reticle in a cassette with another lid and transport the reticle, or to suppress the generation of dust by combining the drive unit with a rotating arm. Further, when a plurality of reticles are stored in the pod, there is a disadvantage that the time required for reticle replacement is increased.

【0009】さらに、SMIFの構造上の問題として、
インデクサを2〜3基しか搭載できないため、頻繁なポ
ッド交換が必要になるという未解決の課題がある。
Further, as a structural problem of the SMIF,
Since only a few indexers can be mounted, there is an unsolved problem that frequent pod replacement is required.

【0010】本発明は上記従来の技術の有する未解決の
課題に鑑みてなされたものであり、標準メカニカルイン
ターフェースシステムすなわちSMIFを有する露光装
置等において、オペレータや床面走行型のAGVによる
ポッド交換作業が容易であり、しかも、多数のポッドを
保管するポッド保持棚を併設することで、ポッド交換に
要する時間を大幅に短縮できる半導体製造装置およびデ
バイス製造方法を提供することを目的とするものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned unresolved problems of the prior art, and has been described in connection with an exposure apparatus or the like having a standard mechanical interface system, that is, a SMIF. It is an object of the present invention to provide a semiconductor manufacturing apparatus and a device manufacturing method which can easily reduce the time required for pod replacement by providing a pod holding shelf for storing a large number of pods. .

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明の半導体製造装置は、略密閉されたポッドに
よって基板を搬出入する標準メカニカルインターフェー
スシステムを有する半導体製造装置であって、前記ポッ
ドの開閉を行なう複数の開閉手段を備えた密閉チャンバ
と、該密閉チャンバの所定の第1の高さ位置から前記開
閉手段の高さ位置に近い第2の高さ位置に往復移動自在
であるポッド昇降台と、該ポッド昇降台を往復移動させ
るための昇降手段と、前記第2の高さ位置において前記
ポッドを待機させるためのポッド待機台と、前記第2の
高さ位置において前記ポッドを前記ポッド昇降台と前記
開閉手段の間で搬送する水平搬送ロボットを備えている
ことを特徴とする。
In order to achieve the above object, a semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention is a semiconductor manufacturing apparatus having a standard mechanical interface system for loading and unloading a substrate by a substantially sealed pod. A closed chamber provided with a plurality of opening / closing means for opening and closing the pod; and a reciprocating movement from a predetermined first height position of the closed chamber to a second height position close to the height position of the opening / closing means. A pod elevating platform, elevating means for reciprocating the pod elevating platform, a pod standby platform for waiting the pod at the second height position, and the pod at the second height position. A horizontal transfer robot for transferring the pod between the pod lift and the opening / closing means is provided.

【0012】第1の高さ位置と第2の高さ位置の間にポ
ッドを保管するためのポッド保持棚が設けられていると
よい。
Preferably, a pod holding shelf for storing the pod is provided between the first height position and the second height position.

【0013】ポッド昇降台とポッド待機台が、それぞれ
ポッドの受け渡しを行なうための受け渡し手段を有する
とよい。
It is preferable that the pod lifting platform and the pod standby platform each have a delivery unit for delivering the pod.

【0014】[0014]

【作用】リソグラフィ工程に用いられる露光装置等を内
蔵する密閉チャンバの側面にポッドストッカを配設し、
ポッドストッカ内に複数のポッドを垂直に並べて保管す
るポッド保持棚と、床面から例えば900mm程度の第
1の高さ位置から、ポッドの開閉手段すなわちインデク
サの高さに近い第2の高さ位置まで往復移動自在なポッ
ド昇降台を設ける。
A pod stocker is provided on the side of a closed chamber containing an exposure apparatus used for a lithography process.
A pod holding shelf for vertically storing a plurality of pods in a pod stocker, and a second height position close to the height of the pod opening / closing means, ie, the indexer, from a first height position of, for example, about 900 mm from the floor surface. A pod lift that can reciprocate up and down is provided.

【0015】ポッド昇降台は、第1の高さ位置でオペレ
ータや床面走行型のAGV等からポッドを受け取り、ポ
ッド保持棚に沿って上昇して所定の棚にポッドを収納す
る。密閉チャンバに対するポッドの供給・回収工程にお
いては、ポッド保持棚からポッドを受け取ったポッド昇
降台がポッドストッカの頂部の第2の高さ位置まで上昇
し、水平搬送ロボットにポッドを引き渡し、ポッドを受
け取った水平搬送ロボットが所定の開閉手段までポッド
を搬送する。
The pod lift receives the pod from the operator or a floor traveling type AGV at the first height position, rises along the pod holding shelf, and stores the pod on a predetermined shelf. In the pod supply / recovery process to the closed chamber, the pod lift receiving the pod from the pod holding shelf rises to the second height position on the top of the pod stocker, delivers the pod to the horizontal transfer robot, and receives the pod. The horizontal transfer robot transfers the pod to predetermined opening / closing means.

【0016】開閉手段によってポッドを開き、レチクル
等の基板を密閉チャンバ内に取り出したのち、空になっ
たポッドを水平搬送ロボットによってポッドストッカの
頂部に戻して、ポッド待機台に受け渡す。この間、次の
ポッドを搬送したポッド昇降台は、ポッドストッカの頂
部の第2の高さ位置で前述と同様に水平搬送ロボットに
次のポッドを引き渡し、続いてポッド待機台から空のポ
ッドを受け取って降下し、ポッド保持棚の棚に空のポッ
ドを収納する。
After the pod is opened by the opening / closing means and a substrate such as a reticle is taken out of the closed chamber, the empty pod is returned to the top of the pod stocker by a horizontal transfer robot and delivered to the pod stand. During this time, the pod lift that transported the next pod delivered the next pod to the horizontal transport robot at the second height position at the top of the pod stocker, and subsequently received an empty pod from the pod standby platform. To drop and store empty pods on the pod holding shelf.

【0017】第2の高さ位置の水平搬送ロボットによっ
てポッドを水平方向に搬送する間に、第1の高さ位置ま
たはポッド保持棚の各棚と第2の高さ位置との間でポッ
ドを垂直方向に搬送し、また、ポッドストッカの頂部に
おいては、ポッド待機台およびポッド昇降台と水平搬送
ロボットの間で交互にポッドの受け渡しを行なうことに
より、ポッドの交換時間を短縮できる。
During the horizontal transfer of the pod by the horizontal transfer robot at the second height position, the pod is moved between the first height position or each of the pod holding shelves and the second height position. By transporting the pods vertically and alternately transferring the pods at the top of the pod stocker between the pod standby table, the pod lifting table, and the horizontal transport robot, the pod exchange time can be reduced.

【0018】また、ポッド昇降台に対するポッドの供給
・回収は、オペレータや床面走行型のAGVによる作業
に都合のよい第1の高さ位置において行なわれるため、
作業効率の向上や、設備コストの低減、レイアウトの自
由度の増大等に大きく貢献できる。
Further, the supply and collection of the pod to and from the pod lift are performed at the first height position convenient for the work by the operator or the floor traveling type AGV.
This can greatly contribute to improving work efficiency, reducing equipment costs, increasing the degree of freedom in layout, and the like.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0020】図1は一実施の形態による半導体製造装置
全体を示すもので、露光装置を内蔵する密閉チャンバで
あるチャンバ1の前面左上方には基板であるレチクル用
の標準メカニカルインターフェースシステム(SMI
F)の開閉手段である複数のインデクサ2が配設され、
チャンバ1の内部には、各インデクサ2により装置内に
導入されたレチクルを搬送するレチクル搬送手段とレチ
クルを保管するレチクルストッカ1aが設けられてい
る。
FIG. 1 shows an entire semiconductor manufacturing apparatus according to one embodiment. A standard mechanical interface system (SMI) for a reticle as a substrate is provided on the upper left of a front surface of a chamber 1 which is a closed chamber containing an exposure apparatus.
A plurality of indexers 2 which are opening / closing means of F) are provided,
Inside the chamber 1, a reticle transport unit for transporting the reticle introduced into the apparatus by each indexer 2 and a reticle stocker 1a for storing the reticle are provided.

【0021】略密閉されたポッドPの開閉を行なうイン
デクサ2のポッド載置面は、レチクルストッカ1aに対
するレチクルの搬送高さより所定量高く設定されてい
る。
The pod mounting surface of the indexer 2, which opens and closes the substantially closed pod P, is set at a predetermined height higher than the reticle transport height with respect to the reticle stocker 1a.

【0022】チャンバ1の側面には、多数のポッドPを
保管するポッドストッカ10が配置されている。ポッド
ストッカ10には、ポッド昇降台20と、該ポッド昇降
台20を床面から略900mmの高さの第1の高さ位置
にある第1位置S1 からインデクサ2のポッド載置面の
近傍の第2の高さ位置にある第2位置S2 まで上下に往
復移動させる昇降手段30が配設され、ポッドストッカ
10の頂部の第2位置S2 にポッド昇降台20が上昇し
たときには、後述するようにポッドストッカ10の開口
11から上にポッド昇降台20が露出する。第2位置S
2 に搬送されたポッドPは、ポッドPに形成されたハン
ドリング用部材を把持するロボットハンド3aとこれを
上下、水平移動するための昇降水平移動手段3bを有す
る水平搬送ロボット3によって各インデクサ2へ搬送さ
れる。なお、昇降水平移動手段3bの機構は公知の機
構、例えばパルスモーター、ボールネジ、リニアガイド
等により構成される。
On the side of the chamber 1, a pod stocker 10 for storing a large number of pods P is arranged. The pod stocker 10 has a pod lifting platform 20 and a pod lifting platform 20 located near a pod mounting surface of the indexer 2 from a first position S 1 at a first height of approximately 900 mm above the floor. Lifting means 30 for reciprocating up and down to a second position S 2 at a second height position is provided, and when the pod lifting table 20 rises to the second position S 2 at the top of the pod stocker 10, it will be described later. The pod lift 20 is exposed from the opening 11 of the pod stocker 10 as shown in FIG. Second position S
The pods P transferred to the indexer 2 are transferred to each indexer 2 by a horizontal transfer robot 3 having a robot hand 3a for gripping a handling member formed on the pod P and a vertically moving means 3b for horizontally moving the pods P up and down. Conveyed. Note that the mechanism of the elevating / lowering horizontal moving means 3b is constituted by a known mechanism, for example, a pulse motor, a ball screw, a linear guide and the like.

【0023】前記第2位置S2 の後方に位置する第3位
置S3 にはポッド待機台40が配設され、さらに、ポッ
ド昇降台20が第1位置S1 から第2位置S2 へ上昇す
るエリアの後方には、複数の棚を有するポッド保持棚5
0が配置されている。
At a third position S 3 located behind the second position S 2, a pod standby table 40 is provided, and the pod lifting table 20 is raised from the first position S 1 to the second position S 2 . A pod holding shelf 5 having a plurality of shelves
0 is arranged.

【0024】ポッド昇降台20は、図2に示すように、
ポッドPの底面に設けられた位置決め用穴に嵌合してポ
ッドPの位置決めを行なう3本の位置決めピン21a
(図3参照)とポッド外形により大まかな位置決めをす
るための一方向のガイド部21bを備えた台板21と、
台板21を水平方向に進退させる受け渡し手段であるス
ライド板22と、昇降手段30に片持ち支持された昇降
板23を備えている。昇降板23にはポッドPの外形に
より大まかな位置決めをするガイド部23aが形成さ
れ、台板21上に形成されたガイド部21bと直交する
方向のガイドを行なうようになっている。
The pod lift 20 is, as shown in FIG.
Three positioning pins 21a for positioning the pod P by fitting into positioning holes provided on the bottom surface of the pod P
(See FIG. 3) and a base plate 21 having a one-way guide portion 21b for rough positioning based on the outer shape of the pod;
A slide plate 22 serving as a transfer unit for moving the base plate 21 forward and backward in the horizontal direction, and an elevating plate 23 cantilevered by the elevating unit 30 are provided. The elevating plate 23 is formed with a guide portion 23a for roughly positioning according to the outer shape of the pod P, and guides in a direction orthogonal to the guide portion 21b formed on the base plate 21.

【0025】ポッド待機台40は、ポッド外形に基づい
て平面内の位置決めをするためのガイド部41aと、ポ
ッド昇降台20と干渉しないための切欠部41bが形成
された台板41と、台板41を水平方向に進退させる受
け渡し手段であるスライド板42と、スライド板42を
支持する支持板43を有し、該支持板43は、ポッドス
トッカ10の上に支持されている。
The pod stand 40 includes a guide 41a for positioning in a plane based on the outer shape of the pod, a base 41 having a notch 41b for preventing interference with the pod lift 20, and a base 41. The pod stocker 10 has a slide plate 42 serving as a transfer means for moving the slide plate 41 horizontally and a support plate 43 for supporting the slide plate 42. The support plate 43 is supported on the pod stocker 10.

【0026】図3は、任意のインデクサ2から回収され
る空のポッドP1 と任意のインデクサ2へ供給されるポ
ッドP2 を交換するシーケンスを説明するもので、回収
ポッドP1 は、図3の(a)に示すように、ロボットハ
ンド3aと昇降水平移動手段3bにより第2位置S2
上方に運ばれ、供給ポッドP2 はポッド昇降台20上に
載置され、昇降手段30により第2位置S2 より少し低
い位置に待機する。続いて、図3の(b)に示すよう
に、第3位置S3 のポッド待機台40のスライド板42
が第2位置S2 へ移動し、ロボットハンド3aから回収
ポッドP1 を受け取る。ロボットハンド3aが回収ポッ
ドP1 を開放したら、図3の(c)に示すように、ポッ
ド待機台40のスライド板42が台板41を第3位置S
3 へ後退させ、ポッド昇降台20が第2位置S2 まで上
昇する。
[0026] FIG. 3 is for explaining a sequence of exchanging the pod P 2 to be supplied to the empty pod P 1 and any indexer 2 recovered from any of the indexer 2, recovery pod P 1 is 3 (A), the supply pod P 2 is transported above the second position S 2 by the robot hand 3 a and the vertical movement horizontal moving means 3 b, and is placed on the pod lifting table 20. than 2 position S 2 to wait slightly lower position. Subsequently, as shown in (b) of FIG. 3, the slide plate of the third position S 3 of the pod standby stage 40 42
There was moved to the second position S 2, it receives a recovered pod P 1 from the robot hand 3a. When the robot hand 3a is opened to recover the pod P 1, as shown in (c) of FIG. 3, the pod standby base sliding plate 42 is a base plate 41 of the 40 third position S
3 is retracted into the pod elevator platform 20 is raised to the second position S 2.

【0027】ロボットハンド3aが供給ポッドP2 を把
持し、ポッド昇降台20から供給ポッドP2 を搬出した
ら(図3の(d)参照)、ポッド昇降台20を、台板2
1がポッド待機台40上に支持された回収ポッドP1
下面より低くなるまで下降させ、図3の(e)に示すよ
うに、スライド板22により台板21を回収ポッドP 1
の下方に移動させ、ポッド昇降台20を上昇させる。こ
のようにして、ポッド待機台40から回収ポッドP1
受け取る。その後、ポッド昇降台20の台板21とスラ
イド板22を昇降板23上に戻し、直接オペレータ等が
回収する場合は第1位置S1 へ移動させる。ポッドスト
ッカ10内にストックする場合は、ポッド待機台40の
下方に配置されたポッド保持棚50の任意の棚(スロッ
ト)に収納する。
The supply pod P is provided by the robot hand 3a.TwoGrasp
Pod P supplied from the pod lift 20Two Unloaded
(See (d) of FIG. 3), the pod elevating table 20 is
1 is a collection pod P supported on a pod stand 401of
Lower until it is lower than the lower surface, as shown in FIG.
As shown in FIG. 1
To move the pod lift 20 upward. This
Pod P from the pod stand 401To
receive. Then, the slide 21 and the plate 21 of the pod lift 20
The guide plate 22 is returned to the lift plate 23, and an operator or the like directly
When collecting, first position S1Move to Podst
When stocking in the locker 10, the pod
Any shelf (slot) of the pod holding shelf 50 arranged below
G).

【0028】ここではポッドの回収と供給が同時に行な
われる際のシーケンスを説明したが、回収だけ、あるい
は、供給だけの場合は、ポッド昇降台20とロボットハ
ンド3aとの間で直接ポッドを授受すべきであることは
言うまでもない。
Here, the sequence in which the collection and the supply of the pod are performed simultaneously has been described. However, in the case of the collection only or the supply only, the pod is directly exchanged between the pod lift 20 and the robot hand 3a. Needless to say, it should be.

【0029】図4および図5は、ポッド保持棚50の構
造と棚に対するポッドの搬入出を説明するもので、ポッ
ド保持棚50の各棚には、ポッドP3 の外形により平面
内の位置決めをするためのガイド部51aと前記ポッド
昇降台20と干渉しないための切欠部51bが形成され
た棚板51が設けられている。
[0029] Figures 4 and 5 is for explaining loading and unloading of the pod with respect to the structure and the shelf of the pod holding rack 50, each shelf of the pod holding rack 50, the positioning in the plane by the outer shape of the pod P 3 The shelf 51 is provided with a notch 51b for preventing the guide portion 51a from interfering with the pod lift 20.

【0030】各棚に対するポッドP3 の受け渡し工程
は、まず、図5の(a)に示すように、ポッド昇降台2
0に指定のスロット(棚)に収納すべきポッドP3 を載
置した状態で、ポッド昇降台20を指定のスロットの棚
板51より少し高い位置に昇降したのち、(b)に示す
ように、スライド板22により台板21を棚板51の上
方に移動したところで、(c)に示すように、昇降手段
30によりポッド昇降台20を下降させ、(d)に示す
ように、スライド板22により台板21を昇降板23上
に戻すことによりポッド収納動作を終了する。ポッドを
取り出す際にはこれと逆の動作を行なう。
In the step of transferring the pod P 3 to each shelf, first, as shown in FIG.
With the pod P 3 to be stored in the designated slot (shelf) at 0, the pod lift 20 is raised and lowered to a position slightly higher than the shelf 51 of the designated slot, and as shown in FIG. When the base plate 21 is moved above the shelf plate 51 by the slide plate 22, the pod lift base 20 is lowered by the lifting / lowering means 30 as shown in (c), and the slide plate 22 is moved as shown in (d). The pod storage operation is completed by returning the base plate 21 onto the lifting plate 23. When taking out the pod, the reverse operation is performed.

【0031】本実施の形態では、フットプリントを最小
にするためポッド待機台40をポッド昇降台20の後方
に配置したが、チャンバ1上のインデクサ2とポッド昇
降台20の間に設けてもよいことは言うまでもない。
In the present embodiment, the pod stand 40 is arranged behind the pod lift 20 in order to minimize the footprint. However, it may be provided between the indexer 2 on the chamber 1 and the pod lift 20. Needless to say.

【0032】次に上記説明した半導体製造装置を利用し
たデバイス製造方法の実施例を説明する。図6は半導体
デバイス(ICやLSI等の半導体チップ、あるいは液
晶パネルやCCD等)の製造フローを示す。ステップ1
(回路設計)では半導体デバイスの回路設計を行なう。
ステップ2(マスク製作)では設計した回路パターンを
形成した基板であるマスクを製作する。ステップ3(ウ
エハ製造)ではシリコン等の材料を用いてウエハを製造
する。ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼ば
れ、上記用意したマスクとウエハを用いて、リソグラフ
ィ技術によってウエハ上に実際の回路を形成する。ステ
ップ5(組立)は後工程と呼ばれ、ステップ4によって
作製されたウエハを用いて半導体チップ化する工程であ
り、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、
パッケージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ス
テップ6(検査)ではステップ5で作製された半導体デ
バイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行な
う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、これ
が出荷(ステップ7)される。
Next, an embodiment of a device manufacturing method using the above-described semiconductor manufacturing apparatus will be described. FIG. 6 shows a flow of manufacturing a semiconductor device (a semiconductor chip such as an IC or an LSI, or a liquid crystal panel or a CCD). Step 1
In (circuit design), a circuit of a semiconductor device is designed.
In step 2 (mask fabrication), a mask, which is a substrate on which the designed circuit pattern is formed, is fabricated. In step 3 (wafer manufacture), a wafer is manufactured using a material such as silicon. Step 4 (wafer process) is called a pre-process, and an actual circuit is formed on the wafer by lithography using the prepared mask and wafer. Step 5 (assembly) is called a post-process, and is a process of forming a semiconductor chip using the wafer produced in step 4, and includes an assembly process (dicing, bonding),
It includes steps such as a packaging step (chip encapsulation). In step 6 (inspection), inspections such as an operation confirmation test and a durability test of the semiconductor device manufactured in step 5 are performed. Through these steps, a semiconductor device is completed and shipped (step 7).

【0033】図7は上記ウエハプロセスの詳細なフロー
を示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸化
させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶縁
膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ上
に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオン
打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ15
(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ステ
ップ16(露光)では上記説明した露光装置によってマ
スクの回路パターンをウエハに焼付露光する。ステップ
17(現像)では露光したウエハを現像する。ステップ
18(エッチング)では現像したレジスト像以外の部分
を削り取る。ステップ19(レジスト剥離)ではエッチ
ングが済んで不要となったレジストを取り除く。これら
のステップを繰り返し行なうことによって、ウエハ上に
多重に回路パターンが形成される。本実施例の製造方法
を用いれば、従来は製造が難しかった高集積度の半導体
デバイスを製造することができる。
FIG. 7 shows a detailed flow of the wafer process. Step 11 (oxidation) oxidizes the wafer's surface. Step 12 (CVD) forms an insulating film on the wafer surface. Step 13 (electrode formation) forms electrodes on the wafer by vapor deposition. In step 14 (ion implantation), ions are implanted into the wafer. Step 15
In (resist processing), a photosensitive agent is applied to the wafer. Step 16 (exposure) uses the above-described exposure apparatus to print and expose the circuit pattern of the mask onto the wafer. Step 17 (development) develops the exposed wafer. In step 18 (etching), portions other than the developed resist image are removed. In step 19 (resist stripping), unnecessary resist after etching is removed. By repeating these steps, multiple circuit patterns are formed on the wafer. By using the manufacturing method of this embodiment, it is possible to manufacture a highly integrated semiconductor device, which has been conventionally difficult to manufacture.

【0034】[0034]

【発明の効果】本発明は上述のように構成されているの
で、以下に記載するような効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, it has the following effects.

【0035】SMIFを搭載する半導体製造装置におい
て、オペレータや床面走行型のAGVによるポッドの供
給・回収作業が容易である。従って、ポッド交換の作業
効率の向上や、設備コストの低減およびレイアウトの自
由度の増大等に大きく貢献できる。
In a semiconductor manufacturing apparatus equipped with a SMIF, pod supply / recovery operations by an operator or a floor traveling type AGV are easy. Therefore, it is possible to greatly contribute to improvement of the work efficiency of the pod replacement, reduction of the equipment cost, increase of the degree of freedom of the layout, and the like.

【0036】また、ポッドストッカ内に複数のポッドを
保管することができるため、ポッド交換に要する時間を
大幅に短縮し、半導体製造装置のスループットを向上で
きる。
Further, since a plurality of pods can be stored in the pod stocker, the time required for pod replacement can be greatly reduced, and the throughput of the semiconductor manufacturing apparatus can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】一実施の形態による半導体製造装置全体を示す
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an entire semiconductor manufacturing apparatus according to an embodiment.

【図2】ポッド昇降台とポッド待機台を示すもので、
(a)はこれらの平面図、(b)は(a)のA−A線に
沿ってとった断面図、(c)は(a)のB−B線に沿っ
てとった断面図である。
FIG. 2 shows a pod lifting platform and a pod standby platform.
(A) is a plan view thereof, (b) is a cross-sectional view taken along line AA of (a), and (c) is a cross-sectional view taken along line BB of (a). .

【図3】ポッド昇降台とポッド待機台の間でポッドを受
け渡す工程を説明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a process of transferring a pod between a pod lifting platform and a pod standby platform.

【図4】ポッド昇降台とポッド保持棚を示すもので、
(a)はこれらの平面図、(b)は(a)のA−A線に
沿ってとった断面図である。
FIG. 4 shows a pod elevator and a pod holding shelf;
(A) is a plan view of these, and (b) is a cross-sectional view taken along line AA of (a).

【図5】ポッド昇降台からポッド保持棚にポッドを収納
する工程を説明する図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a process of storing a pod from a pod lifting table on a pod holding shelf.

【図6】デバイス製造方法を示すフローチャートであ
る。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a device manufacturing method.

【図7】ウエハプロセスを示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing a wafer process.

【図8】一従来例による半導体製造装置を示すもので、
(a)はその外観を示す斜視図、(b)は半導体製造装
置の内部を断面で示す部分拡大図である。
FIG. 8 shows a semiconductor manufacturing apparatus according to a conventional example.
(A) is a perspective view showing the appearance, and (b) is a partially enlarged view showing the inside of the semiconductor manufacturing apparatus in cross section.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 チャンバ 2 インデクサ 3 水平搬送ロボット 3a ロボットハンド 10 ポッドストッカ 11 開口 20 ポッド昇降台 21,41 台板 22,42 スライド板 23 昇降板 30 昇降手段 40 ポッド待機台 43 支持板 50 ポッド保持棚 51 棚板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Chamber 2 Indexer 3 Horizontal transfer robot 3a Robot hand 10 Pod stocker 11 Opening 20 Pod elevating table 21, 41 Base plate 22, 42 Slide plate 23 Elevating plate 30 Elevating means 40 Pod standby table 43 Support plate 50 Pod holding shelf 51 Shelf plate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/027 H01L 21/30 502J 503E ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 21/027 H01L 21/30 502J 503E

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 略密閉されたポッドによって基板を搬出
入する標準メカニカルインターフェースシステムを有す
る半導体製造装置であって、前記ポッドの開閉を行なう
複数の開閉手段を備えた密閉チャンバと、該密閉チャン
バの所定の第1の高さ位置から前記開閉手段の高さ位置
に近い第2の高さ位置に往復移動自在であるポッド昇降
台と、該ポッド昇降台を往復移動させるための昇降手段
と、前記第2の高さ位置において前記ポッドを待機させ
るためのポッド待機台と、前記第2の高さ位置において
前記ポッドを前記ポッド昇降台と前記開閉手段の間で搬
送する水平搬送ロボットを備えていることを特徴とする
半導体製造装置。
1. A semiconductor manufacturing apparatus having a standard mechanical interface system for carrying a substrate in and out of a substantially closed pod, comprising: a closed chamber provided with a plurality of opening / closing means for opening / closing the pod; A pod elevator that is reciprocally movable from a predetermined first height position to a second height position closer to the height position of the opening / closing means, an elevating means for reciprocating the pod elevator, A pod standby table for holding the pod at a second height position; and a horizontal transfer robot for transferring the pod between the pod lift table and the opening / closing means at the second height position. A semiconductor manufacturing apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項2】 第1の高さ位置と第2の高さ位置の間に
ポッドを保管するためのポッド保持棚が設けられている
ことを特徴とする請求項1記載の半導体製造装置。
2. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein a pod holding shelf for storing the pod is provided between the first height position and the second height position.
【請求項3】 ポッド昇降台とポッド待機台が、それぞ
れポッドの受け渡しを行なうための受け渡し手段を有す
ることを特徴とする請求項1または2記載の半導体製造
装置。
3. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the pod lifting table and the pod standby table each have a transfer unit for transferring the pod.
【請求項4】 ポッド保持棚とポッド昇降台と昇降手段
を内蔵するポッドストッカが設けられており、該ポッド
ストッカの上にポッド待機台が配設されていることを特
徴とする請求項2または3記載の半導体製造装置。
4. A pod stocker including a pod holding shelf, a pod lifting platform, and a lifting means, and a pod standby platform is provided on the pod stocker. 4. The semiconductor manufacturing apparatus according to 3.
【請求項5】 請求項1ないし4いずれか1項記載の半
導体製造装置によって半導体デバイスを製造する工程を
有するデバイス製造方法。
5. A device manufacturing method comprising a step of manufacturing a semiconductor device by the semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1.
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