JP2001068714A - シリコン系薄膜光電変換モジュール及びその製造方法 - Google Patents

シリコン系薄膜光電変換モジュール及びその製造方法

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JP2001068714A
JP2001068714A JP23871099A JP23871099A JP2001068714A JP 2001068714 A JP2001068714 A JP 2001068714A JP 23871099 A JP23871099 A JP 23871099A JP 23871099 A JP23871099 A JP 23871099A JP 2001068714 A JP2001068714 A JP 2001068714A
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film photoelectric
silicon
based thin
thin film
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Toru Sawada
徹 澤田
Toshinobu Nakada
年信 中田
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】高い歩留まり及び十分な長期信頼性を実現する
ことが可能なシリコン系薄膜光電変換モジュール及びそ
の製造方法を提供すること。 【解決手段】本発明のシリコン系薄膜光電変換モジュー
ル1は、長手方向の長さが20cm以上の基板2及び該
基板2上に順次形成された第1の電極層と膜厚0.7μ
m以上の非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットと第
2の電極層とをそれぞれ分割してなる複数の薄膜光電変
換セル10を具備し、前記第1の電極層と前記非単結晶
シリコン系薄膜光電変換ユニットと前記第2の電極層と
は第1の方向に延びた溝部11によりそれぞれ分割さ
れ、前記非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットに、
その膜厚の50%以上の深さを有する溝部12が前記第
1の方向と45°〜90°の角度をなす第2の方向に平
行に設けられたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の薄膜光電変
換セルを有する薄膜光電変換モジュール及びその製造方
法に係り、特には、それぞれの薄膜光電変換セルが非単
結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットを有するシリコン
系薄膜光電変換モジュール及びその製造方法に関する。
なお、本明細書において、用語「非単結晶」は、「多結
晶」と「微結晶」と「非晶質」とを包含する。また、用
語「多結晶」及び「微結晶」は、いずれも部分的に非晶
質を含むものを意味することとする。
【0002】
【従来の技術】一般に、複数の薄膜光電変換セルを直列
接続してなるシリコン系薄膜光電変換モジュールは、帯
状の薄膜光電変換セルがその短軸方向に集積された構造
を有しており、例えば、以下の方法により製造される。
【0003】まず、一方の主面に透明電極層を有する長
方形状のガラス基板を準備する。次に、この透明電極層
にレーザスクライブを施して、複数の帯状の薄膜パター
ンが基板の短軸方向に並置された構造を形成する。その
後、パターニングされた透明電極層上に、p型、i型、
及びn型のシリコン系薄膜を順次成膜する。次に、これ
らシリコン系薄膜をレーザスクライブにより帯状にパタ
ーニングして複数のシリコン系薄膜光電ユニットを形成
する。さらに、これらシリコン系薄膜光電ユニット上に
金属電極層等を成膜し、これについてもレーザスクライ
ブを施す。以上のようにして、複数の帯状の薄膜光電変
換セルが基板の短軸方向に集積された構造のシリコン系
薄膜光電変換モジュールを得る。
【0004】上記シリコン系薄膜光電変換モジュールの
製造においては、シリコン系薄膜の成膜にプラズマCV
D法が用いられる。プラズマCVD法による成膜は、原
料ガスと基板とが加熱された状態で行われる。そのた
め、成膜直後のシリコン系薄膜及びガラス基板はともに
熱膨脹状態にある。したがって、冷却されたシリコン系
薄膜には、シリコン系薄膜とガラス基板との間の熱膨張
係数の差に応じた圧縮応力が残留する。
【0005】このような残留応力は、熱膨張係数の差が
小さい場合、ガラス基板のサイズが小さい場合、ガラス
基板が十分に厚い場合、或いはシリコン系薄膜の膜厚が
薄い場合には、特に問題となることはない。
【0006】しかしながら、一般に、シリコン系薄膜と
ガラス基板との間の熱膨張係数の差は大きく、冷却され
たシリコン系薄膜には相当な大きさの応力が残留する。
また、通常、モジュールは大きなサイズに形成され、一
方、モジュール全体の重量にはガラス基板の厚さが大き
く影響するので、ガラス基板としては比較的厚さの薄い
ものが用いられる。
【0007】そのため、シリコン系薄膜を厚く形成した
場合、シリコン系薄膜側が凸となるようにガラス基板が
変形するか或いはシリコン系薄膜が剥離するおそれがあ
る。すなわち、歩留まりや長期信頼性が低下するという
問題を生ずる。
【0008】このような問題は、シリコン系薄膜光電変
換モジュールに特有の問題であり、他系統のモジュール
で大きな問題となることはない。例えば、特開昭57−
53986号公報には、薄膜光電変換ユニットがCdS
やCdTe等で構成されたモジュールが開示されてい
る。特開昭57−53986号公報は、短絡による電力
損失を減少させること等を目的として、直列接続された
複数の薄膜光電変換セルを分割して複数の直列アレイを
形成し、これら直列アレイを並列接続することを記載し
ているが、CdSやCdTe等からなる薄膜光電変換ユ
ニットを厚く形成した場合に剥離等が生じ易いことは記
載していない。実際、これら材料からなる薄膜は、シリ
コン系薄膜とは異なり、残留応力による剥離等を生じに
くいものである。
【0009】したがって、シリコン系薄膜光電変換モジ
ュールに関しては、厚いシリコン系薄膜光電変換ユニッ
トを残留応力による剥離等を生ずることなく形成可能と
する技術が求められている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記問題点に
鑑みてなされたものであり、非単結晶シリコン系薄膜光
電変換ユニットを厚く形成した場合においても高い歩留
まり及び十分な長期信頼性を実現することが可能なシリ
コン系薄膜光電変換モジュール及びその製造方法を提供
することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記課題
を解決するに当たり、まず、非単結晶シリコン系薄膜光
電変換ユニットの残留応力は、その表面に溝部を形成す
ることにより緩和することができるものと考え、次に以
下の事実に着目した。
【0012】上述したように、複数の薄膜光電変換セル
が集積されたシリコン系薄膜光電変換モジュールは、一
般に、複数の帯状の薄膜光電変換セルをそれらの短軸方
向に集積した構造を有している。このような構造では、
個々のセルの集積方向の長さは比較的短いため、この方
向に関して薄膜光電変換ユニットの残留応力は比較的小
さいものと考えられる。それに対し、個々のセルの集積
方向に垂直な方向の長さは比較的長い。そのため、この
方向に関する応力は緩和されず、薄膜光電変換ユニット
には大きな応力が残されたままとなる。
【0013】本発明者らは、このような応力は、薄膜光
電変換ユニットに上記集積方向と所定の角度をなす方向
に平行な所定の深さの溝部を設けることにより緩和する
ことができ、それにより、上記剥離等を防止して、高い
歩留まり及び十分な長期信頼性を実現することが可能で
あることを見出した。
【0014】すなわち、本発明によると、長手方向の長
さが20cm以上の基板及び該基板上に順次形成された
第1の電極層と膜厚0.7μm以上の非単結晶シリコン
系薄膜光電変換ユニットと第2の電極層とをそれぞれ分
割してなる複数の薄膜光電変換セルを具備し、前記第1
の電極層と前記非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニッ
トと前記第2の電極層とは第1の方向に延びた溝部によ
りそれぞれ分割され、前記非単結晶シリコン系薄膜光電
変換ユニットに、その膜厚の50%以上の深さを有する
溝部が前記第1の方向と45°〜90°の角度をなす第
2の方向に平行に設けられたことを特徴とするシリコン
系薄膜光電変換モジュールが提供される。
【0015】また、本発明によると、長手方向の長さが
20cm以上の基板、及び該基板上に順次形成された第
1の電極層と膜厚0.7μm以上の非単結晶シリコン系
薄膜光電変換ユニットと第2の電極層とをそれぞれ分割
してなる複数の薄膜光電変換セルを有するシリコン系薄
膜光電変換モジュールの製造方法であって、前記非単結
晶シリコン系薄膜光電変換ユニットを、第1の方向に延
びた溝部を形成することにより分割する工程と、前記非
単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットに、その膜厚の
50%以上の深さを有する溝部を前記第1の方向と45
°〜90°の角度をなす第2の方向に平行に形成する工
程とを具備することを特徴とするシリコン系薄膜光電変
換モジュールの製造方法が提供される。
【0016】本発明において、通常、基板としては5m
m以下の厚さを有するものが用いられる。また、本発明
において、第2の方向に延びた溝部は、非単結晶シリコ
ン系薄膜光電変換ユニットの基板側に設けてもよく、そ
の裏面側に設けてもよい。
【0017】第2の方向に延びた溝部が非単結晶シリコ
ン系薄膜光電変換ユニットの表面領域にのみ形成された
場合、すなわち、第2の方向に延びた溝部が非単結晶シ
リコン系薄膜光電変換ユニットを分割しない場合、通
常、薄膜光電変換セルは第1の方向に長い帯状に形成さ
れ、第1の方向に垂直な方向に集積される。
【0018】また、第2の方向に延びた溝部は、上記非
単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットを分割するよう
に設けることもできる。この場合、さらに、第1及び第
2の電極層も前記第2の方向に延びた溝部で分割しても
よい。すなわち、複数の薄膜光電変換セルが、縦横に配
列された構造を形成することができる。
【0019】本発明において、第1の方向と第2の方向
とは垂直であることが好ましい。この場合、最も効果的
に薄膜光電変換ユニットの剥離等を防止することができ
る。
【0020】上記シリコン系薄膜光電変換ユニットに
は、通常、第1及び第2の方向にそれぞれ複数の溝部が
設けられる。第1の方向に延びた溝部の数、すなわち溝
部の間隔は、主にモジュールに要求される出力特性に依
存して決定される。第1の方向に延びた溝部の間隔は、
例えば、3mm〜30mmの範囲内に設定される。
【0021】また、第2の方向に延びた溝部の数、すな
わち溝部の間隔は、主に緩和すべき残留応力の大きさに
依存して決定される。例えば、これら溝部を150mm
以下の間隔で設けることにより、残留応力を十分に緩和
することができる。
【0022】本発明において、シリコン系薄膜光電変換
モジュールは、様々な構造をとることができる。例え
ば、基板及び第1の電極層が光透過性を有し、第2の電
極層が金属反射層を含む構造とすることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照しながらより詳細に説明する。なお、各図に
おいて同様の部材には同一の参照符号を付し、重複する
説明は省略する。
【0024】図1は、本発明の第1の実施形態に係るシ
リコン系薄膜光電変換モジュールを概略的に示す上面図
である。図1に示すシリコン系薄膜光電変換モジュール
1は、透明基板2上に複数の薄膜光電変換セル10を集
積した構造を有している。なお、図1において、参照番
号11は各薄膜光電変換セル10を分割する第1の方向
に延びた溝部の一部を示し、参照番号12は非単結晶シ
リコン系薄膜光電変換ユニット(図示せず)に形成さ
れ、第2の方向に延びた溝部を示している。また、図1
に示すモジュール1において、これら薄膜光電変換セル
10は横方向に直列接続されており、その両端部には、
リボン状の銅箔等からなる一対の電極バスバー13がそ
れぞれ接続されている。
【0025】図1に示すモジュール1の薄膜光電変換セ
ル10について、図2を参照しながら説明する。図2
は、図1に示すシリコン系薄膜光電変換モジュール1の
A−A線に沿った断面図である。なお、図2には、モジ
ュール1の一部のみが描かれている。
【0026】図2に示すように、薄膜光電変換セル10
は、透明基板2上に、透明前面電極層3、非単結晶シリ
コン系薄膜光電変換ユニット4、金属裏面電極層5、封
止樹脂層(図示せず)、及び有機保護フィルム(図示せ
ず)を順次積層した構造を有している。この薄膜光電変
換セル10は、透明基板2側から入射する光を非単結晶
シリコン系光電変換ユニット4により光電変換するもの
である。
【0027】図1及び図2に示す光電変換モジュール1
において、透明基板2は、ガラス板や透明樹脂フィルム
等により構成することができる。透明基板2はその長手
方向の長さが20cm以上であればどのような形状でも
よいが、通常は図1に示すように長方形である。
【0028】また、モジュール1において、通常、透明
基板2の厚さは5mm以下である。基板2の厚さが5m
m以下である場合、薄膜光電変換ユニット4との間の熱
膨張係数の違いに基づく変形を生じ易い。したがって、
この場合、本発明はより有効に適用される。
【0029】透明基板2上に形成される透明前面電極層
3は、ITO膜、SnO2膜、或いはZnO膜のような
透明導電性酸化物層等で構成することができる。透明前
面電極層3は単層構造でも多層構造であってもよい。透
明前面電極層3は、蒸着法、CVD法、或いはスパッタ
リング法等それ自体既知の気相堆積法を用いて形成する
ことができる。
【0030】透明前面電極層3の表面は、微細な凹凸を
含む表面テクスチャ構造を有することが好ましい。透明
前面電極層3の表面にこのようなテクスチャ構造を形成
することにより、非単結晶シリコン系光電変換ユニット
4への光の入射効率を向上させることができる。
【0031】透明前面電極層3の上に形成される非単結
晶シリコン系薄膜光電変換ユニット4は、例えば、図2
に示すように、透明前面電極層3上にp型非単結晶シリ
コン系半導体層41、非単結晶シリコン系薄膜光電変換
層42、及びn型非単結晶シリコン系半導体層43を順
次積層した構造を有する。これらp型半導体層41、光
電変換層42およびn型半導体層43はいずれも、例え
ば基板2の温度を550℃以下としたプラズマCVD法
により形成することができる。
【0032】本実施形態に係るモジュール1において、
この薄膜光電変換ユニット1の膜厚は0.7μm以上で
ある。本発明を適用しない場合、非単結晶シリコン系薄
膜光電変換ユニット1の剥離等は、一般に、その膜厚が
0.7μm以上である場合に生じ、0.8μm以上であ
る場合により顕著となり、1.0μm以上である場合に
最も顕著となる。したがって、薄膜光電変換ユニット4
の膜厚がこのような範囲内にある場合に、本発明は有効
に適用される。
【0033】p型シリコン系半導体層41は、シリコン
またはシリコンカーバイドやシリコンゲルマニウム等の
シリコン合金に、ボロンやアルミニウム等のp導電型決
定不純物原子をドープすることにより形成されている。
【0034】p型半導体層41上に形成される光電変換
層42は、非単結晶シリコン系半導体材料で形成され、
そのような材料には、真性半導体のシリコン(水素化シ
リコン等)やシリコンカーバイド及びシリコンゲルマニ
ウム等のシリコン合金等が含まれる。また、光電変換機
能を十分に備えていれば、微量の導電型決定不純物を含
む弱p型もしくは弱n型のシリコン系半導体材料も用い
られ得る。
【0035】光電変換層42上に形成されるn型シリコ
ン系半導体層43は、シリコンまたはシリコンカーバイ
ドやシリコンゲルマニウム等のシリコン合金に、燐等の
n導電型決定不純物原子をドープすることにより形成さ
れている。
【0036】光電変換ユニット上4上に形成される金属
裏面電極層5は電極としての機能を有するだけでなく、
透明基板2から光電変換ユニット4に入射し裏面電極層
5に到達した光を反射して光電変換ユニット4内に再入
射させる反射層としての機能も有している。金属裏面電
極層5は、銀等を用いて、蒸着法やスパッタリング法等
により形成することができる。
【0037】なお、金属裏面電極層5と光電変換ユニッ
ト4との間には、例えば両者の間の接着性を向上させる
ために、ZnOのような非金属材料からなる透明導電性
薄膜を設けることができる。また、金属裏面電極層5上
には、例えば金属裏面電極層5の劣化を防止すること等
を目的として、Ti等からなる薄膜を設けてもよい。
【0038】上述した透明前面電極層3、非単結晶シリ
コン系薄膜光電変換ユニット4、及び金属裏面電極層5
は、それぞれの成膜後にYAGレーザ等を用いたレーザ
スクライブにより分割され、図1に示すように複数の薄
膜光電変換セル10を形成している。なお、図1におい
ては、透明前面電極層3、非単結晶シリコン系薄膜光電
変換ユニット4、及び金属裏面電極層5を図中横方向に
分割する溝部として溝部11のみが描かれているが、通
常は、これらはそれぞれ横方向に僅かにずれた溝部で分
割される。
【0039】透明前面電極層3、非単結晶シリコン系薄
膜光電変換ユニット4、及び金属裏面電極層5は、溝部
11のみによって分割されてもよく、溝部11と溝部1
2とで分割されてもよい。例えば、これらが溝部11に
より図中横方向にn個に分割される場合、すなわち、溝
部12が透明前面電極層3及び金属裏面電極層5の双方
を分割しない場合は、薄膜光電変換セル10は1×nの
配列構造をとる。この場合、透明基板2の長手方向の長
さにほぼ等しい長さを有する帯状のn個の薄膜光電変換
セル10が横方向に直列接続される。
【0040】また、透明前面電極層3、非単結晶シリコ
ン系薄膜光電変換ユニット4、及び金属裏面電極層5
が、溝部11により図中横方向にn個に分割され、溝部
12により図中縦方向にm個に分割された場合、薄膜光
電変換セル10はm×nの配列構造をとる。この場合、
透明基板2の長手方向の長さのほぼ1/mの長さを有す
る短冊状の薄膜光電変換セル10が形成される。薄膜光
電変換セル10がこのような配列構造をとる場合、横方
向に配列した薄膜光電変換セル10は直列接続され、縦
方向には電極バスバー13によってのみ接続される。す
なわち、この場合、n個の薄膜光電変換セル10を直列
接続してなる直列アレイが並列にm個接続された構造を
得ることができる。
【0041】また、この場合、例えば、電極バスバー1
3を省略する或いは電極バスバー13も横方向に配列し
た薄膜光電変換セル10に対応して分割された形状とす
れば、n個の薄膜光電変換セル10を直列接続してなる
m個の直列アレイは相互に並列接続されないため、これ
ら直列アレイからの出力を別々に取り出し、それぞれ異
なる用途に利用することができる。なお、要求される出
力電流に応じて、m個の直列アレイの一部を並列接続し
てもよい。
【0042】このように、透明前面電極層3、非単結晶
シリコン系薄膜光電変換ユニット4、及び金属裏面電極
層5を溝部11と溝部12とで分割することにより、モ
ジュール1の用途の自由度を高めることができる。
【0043】上述した溝部11の間隔はモジュール1に
要求される出力特性等に依存して決定され、例えば、3
mm〜30mmの範囲内に設定される。また、溝部12
の間隔は、主に緩和すべき残留応力の大きさに依存して
決定され、例えば、150mm以下の間隔で設けること
により、残留応力を十分に緩和することができる。な
お、溝部11,12の間隔が狭いほど残留応力を良好に
緩和することができるが、その反面で有効な発電領域が
減少してしまう。したがって、溝部11,12の間隔、
特に溝部12の間隔は、20mm以上であることが好ま
しい。
【0044】また、溝部11と溝部12とがなす角度は
45°〜90°の範囲内であり、好ましくは約90°で
ある。薄膜光電変換ユニット4の残留応力を緩和する効
果は、溝部11と溝部12との双方によりもたらされ
る。したがって、溝部11と溝部12とがなす角度が9
0°に近いほど、より効率的に残留応力を緩和すること
ができる。
【0045】上記モジュール1において、溝部12の深
さは、薄膜光電変換ユニット4の膜厚の50%以上に設
定される。一般に、溝部12の深さを薄膜光電変換ユニ
ット4の膜厚の50%以上とすることにより、溝部12
の間隔を過剰に狭くすることなく残留応力を十分に緩和
することができる。
【0046】溝部12の形成は、薄膜光電変換ユニット
4を形成した直後から行うことができるが、通常は、金
属裏面電極層5を成膜した後に行われる。金属裏面電極
層5を成膜した後に溝部12を形成する場合、薄膜光電
変換ユニット4だけでなく、透明前面電極層3や金属裏
面電極層5までも同時に分割することができる。したが
って、上記複数の直列アレイが並列に接続された構造を
容易に得ることができる。
【0047】上述したモジュール1には、通常、その裏
面側に、封止樹脂層(図示せず)を介して有機保護フィ
ルム(図示せず)が設けられる。この封止樹脂層は、透
明基板2上に形成された各薄膜光電変換セル10を封止
するものであり、有機保護フィルムをこれらセル10に
接着することが可能な樹脂が用いられる。そのような樹
脂としては、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、及び光硬化
性樹脂等を挙げることができ、例えば、EVA(エチレ
ン・ビニルアセテート共重合体)、PVB(ポリビニル
ブチラール)、PIB(ポリイソブチレン)、及びシリ
コーン樹脂等を用いることができる。
【0048】有機保護フィルムとしては、ポリフッ化ビ
ニルフィルム(例えば、テドラーフィルム(登録商標
名))のようなフッ素樹脂系フィルム或いはPETフィ
ルムのように耐湿性や耐水性に優れた絶縁性フィルムが
用いられる。有機保護フィルムは、単層構造でもよく、
これらを積層した積層構造であってもよい。さらに、有
機保護フィルムは、アルミニウム等からなる金属箔がこ
れらフィルムで挟持された構造を有してもよい。アルミ
ニウム箔のような金属箔は耐湿性や耐水性を向上させる
機能を有するので、有機保護フィルムをこのような構造
とすることにより、薄膜光電変換セル10をより効果的
に水分から保護することができる。
【0049】これら封止樹脂/有機保護フィルムは、真
空ラミネート法により薄膜光電変換モジュール1の裏面
側に同時に貼着することができる。
【0050】以上説明した第1の実施形態においては、
溝部11と溝部12とは格子状パターンを形成したが、
図3に示すようなパターンを形成してもよい。なお、図
3は、本発明の第2の実施形態に係るシリコン系薄膜光
電変換モジュール1を示す上面図である。
【0051】図3に示すモジュール1において、溝部1
1は図1に示したのと同様のパターンを形成している
が、溝部12は図1に示したのとは全く異なるパターン
を形成している。このように、薄膜光電変換ユニット4
の残留応力を均一且つ十分に緩和することができれば、
溝部12のパターンに特に制限はない。
【0052】なお、上述した各実施形態は、透明基板2
上に、透明電極層3、p−i−n接合を有する非単結晶
シリコン系薄膜光電変換ユニット4、及び金属電極層5
を順次積層した構造に関するものであるが、他の構造を
採用することもできる。例えば、基板上に、金属電極
層、n−i−p接合を有する非単結晶シリコン系薄膜光
電変換ユニット、及び透明電極層を順次積層した構造を
採用することができる。また、非単結晶シリコン系薄膜
光電変換ユニット4をタンデム型とすることも可能であ
る。
【0053】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。 (実施例1)図1及び2に示す薄膜光電変換モジュール
1を以下に示す方法により作製した。なお、本例におい
ては、電極バスバー13は設けなかった。
【0054】まず、寸法400×300mm、厚さ3m
mの青板ガラス基板2の一方の主面に、CVD法を用い
てSnO2膜3を形成した。次に、YAGレーザを用い
て基板1の長辺に平行にレーザスキャンすることによ
り、このSnO2膜3のスクライブを行い、SnO2膜3
をそれぞれの幅が10mmである28個の帯状パターン
に分割した。
【0055】その後、シリコン系薄膜成膜用のチャンバ
内で、プラズマCVD法により、SnO2膜3上に、厚
さ6nmのp型微結晶シリコン層41、厚さ2.8μm
のノンドープの多結晶シリコン層42、及び厚さ7nm
のn型微結晶シリコン層43を順次成膜した。すなわ
ち、p−i−n接合を有する薄膜光電変換ユニット4を
形成した。なお、このときの成膜温度は250℃とし
た。
【0056】次に、YAGレーザを用いて基板1の長辺
に平行にレーザスキャンすることにより、この薄膜光電
変換ユニット4のスクライブを行い、薄膜光電変換ユニ
ット4を幅10mmの複数の帯状パターンに分割した。
【0057】次に、薄膜光電変換ユニット4上に、スパ
ッタ法により、厚さ90nmのZnO膜(図示せず)、
厚さ300nmのAg膜5、及び厚さ10nmのTi膜
(図示せず)を順次成膜して裏面電極層を形成した。こ
の裏面電極層についても、同様に、YAGレーザを用い
たレーザスクライブを行い、幅10mmの複数の帯状パ
ターンに分割した。なお、SnO2膜3、薄膜光電変換
ユニット4、及び裏面電極層間では、レーザスクライブ
することにより形成された溝部11の位置は基板1の短
辺方向に僅かにずれている。以上のようにして、帯状の
薄膜光電変換セル10が基板2の短辺方向に直列接続さ
れた薄膜光電変換モジュール1を作製した。
【0058】続いて、YAGレーザを用いて溝部11に
垂直な方向にレーザスクライブを行い、SnO2膜3、
薄膜光電変換ユニット4、及び裏面電極層をそれぞれ基
板2の長辺方向に19個に分割する溝部12を20mm
の間隔で形成した。以上のようにして、縦20mm×横
10mmの薄膜光電変換セル10を28×19個作製し
た。すなわち、20mm×10mmの薄膜光電変換セル
10を横方向に28個直列接続してなる直列アレイを1
9個作製した。すなわち、それぞれ独立した負荷に接続
して使用することが可能な19個の直列アレイを作製し
た。
【0059】その後、モジュール1の裏面に、EVA層
(図示せず)を介してフッ素樹脂系シート(商標名:テ
ドラー;図示せず)をラミネートした。
【0060】以上説明した方法で、40枚のモジュール
1を製造し、それぞれについて、EVA層及びフッ素樹
脂系シートのラミネート前後で欠陥の有無を調べた。下
記表1にその結果を示す。
【0061】
【表1】
【0062】上記表1に示すように、本実施例による
と、良好な製造歩留まりを実現することができた。
【0063】次に、良品モジュール1について出力特性
を調べ、それらの平均値を求めた。その結果、薄膜光電
変換セル10を横方向に28個直列接続してなる直列ア
レイを19個並列接続した場合、開放電圧は13.0V
であり、短絡電流は0.84Aであり、曲線因子は0.
68であり、出力は7.43Wであった。また、それぞ
れの直列アレイについては、開放電圧が12.9Vであ
り、短絡電流は43mAであった。
【0064】また、モジュール1の完成後に、10枚の
サンプルを用いてヒートサイクル試験(100℃から−
40℃への冷却を200サイクル)を行った。その結
果、いずれのサンプルにおいても、出力特性の低下や膜
の剥離等の外観上の変化は見られなかった。
【0065】(比較例1)溝部12を形成しなかったこ
と以外は、実施例1に示したのと同様の方法により薄膜
光電変換モジュールを40枚製造した。これらモジュー
ルについても、EVA層及びフッ素樹脂系シートのラミ
ネート前後で欠陥の有無を調べた。下記表2にその結果
を示す。
【0066】
【表2】
【0067】上記表2に示すように、比較例1による
と、実施例1ほどの良好な製造歩留まりを実現すること
はできなかった。
【0068】次に、良品モジュールについて実施例1と
同条件で出力特性を調べ、それらの平均値を求めた。そ
の結果、薄膜光電変換セルを横方向に28個直列接続し
てなる直列アレイを19個並列接続した場合、開放電圧
は12.9Vであり、短絡電流は0.85Aであり、曲
線因子は0.67であり、出力は7.35Wであった。
また、モジュールの完成後に、10枚のサンプルを用い
てヒートサイクル試験(100℃から−40℃への冷却
を200サイクル)を行った。その結果、1つのサンプ
ルにおいて、レーザースクライブ線の周辺部に僅かな剥
離が観測され、出力が約2%低下した。
【0069】(実施例2)図4は、本発明の実施例2に
係るシリコン系薄膜光電変換モジュール1を概略的に示
す断面図である。図4に示す薄膜光電変換モジュール1
を以下に示す方法により作製した。なお、本例において
は、実施例1と同様に、溝部11,12を図1に示す格
子状パターンに形成した。
【0070】まず、寸法400×300mm、厚さ3m
mの青板ガラス基板2の一方の主面に、CVD法を用い
てSnO2膜3を形成した。次に、YAGレーザを用い
て基板1の長辺に平行にレーザスキャンすることによ
り、このSnO2膜3のスクライブを行い、SnO2膜3
をそれぞれの幅が10mmである28個の帯状パターン
に分割した。
【0071】その後、プラズマCVD法により、SnO
2膜3上に、厚さ10nmのp型非晶質シリコンカーバ
イド層41a、厚さ250nmのノンドープの非晶質シ
リコン層42a、及び厚さ10nmのn型非晶質シリコ
ン層43aを順次成膜して第1の薄膜光電変換ユニット
を形成した。さらに引き続き、この第1の薄膜光電変換
ユニットの上に、厚さ10nmのp型微結晶シリコン層
41b、厚さ2000nmのノンドープの微結晶シリコ
ン層42b、及び厚さ10nmのn型微結晶シリコン層
43bを順次成膜して第2の薄膜光電変換ユニットを形
成した。すなわち、第1の薄膜光電変換ユニットと第2
の薄膜光電変換ユニットとを積層してなる厚さ2.3μ
mのタンデム型の薄膜光電変換ユニット4を形成した。
なお、このときの成膜温度は250℃以下とした。
【0072】次に、YAGレーザを用いて基板1の長辺
に平行にレーザスキャンすることにより、この薄膜光電
変換ユニット4のスクライブを行い、薄膜光電変換ユニ
ット4を幅10mmの複数の帯状パターンに分割した。
【0073】次に、薄膜光電変換ユニット4上に、スパ
ッタ法により、厚さ90nmのZnO膜(図示せず)、
厚さ300nmのAg膜5、及び厚さ10nmのTi膜
(図示せず)を順次成膜して裏面電極層を形成した。こ
の裏面電極層についても、同様に、YAGレーザを用い
たレーザスクライブを行い、幅10mmの複数の帯状パ
ターンに分割した。なお、SnO2膜3、薄膜光電変換
ユニット4、及び裏面電極層間では、レーザスクライブ
することにより形成された溝部11の位置は基板1の短
辺方向に僅かにずれている。以上のようにして、帯状の
薄膜光電変換セル10が基板2の短辺方向に直列接続さ
れた薄膜光電変換モジュール1を作製した。
【0074】続いて、YAGレーザを用いて溝部11に
垂直な方向にレーザスクライブを行い、SnO2膜3、
薄膜光電変換ユニット4、及び裏面電極層をそれぞれ基
板2の長辺方向に19個に分割する溝部12を20mm
の間隔で形成した。以上のようにして、縦20mm×横
10mmの薄膜光電変換セル10を28×19個作製し
た。すなわち、20mm×10mmの薄膜光電変換セル
10を横方向に28個直列接続してなる直列アレイを1
9個作製した。すなわち、それぞれ独立した負荷に接続
して使用することが可能な19個の直列アレイを作製し
た。
【0075】その後、モジュール1の裏面に、EVA層
(図示せず)を介してフッ素樹脂系シート(商標名:テ
ドラー;図示せず)をラミネートした。
【0076】以上説明した方法で、40枚のモジュール
1を製造し、それぞれについて、EVA層及びフッ素樹
脂系シートのラミネート前後で欠陥の有無を調べた。下
記表3にその結果を示す。
【0077】
【表3】
【0078】上記表3に示すように、本実施例による
と、良好な製造歩留まりを実現することができた。
【0079】次に、良品モジュール1について実施例1
と同条件で出力特性を調べ、それらの平均値を求めた。
その結果、薄膜光電変換セル10を横方向に28個直列
接続してなる直列アレイを19個並列接続した場合、開
放電圧は36.3Vであり、短絡電流は0.385Aで
あり、曲線因子は0.71であり、出力は9.92Wで
あった。また、それぞれの直列アレイについては、開放
電圧が36.3Vであり、短絡電流は20.3mAであ
った。
【0080】(比較例2)溝部12を形成しなかったこ
と以外は、実施例2に示したのと同様の方法により薄膜
光電変換モジュールを40枚製造した。これらモジュー
ルについても、EVA層及びフッ素樹脂系シートのラミ
ネート前後で欠陥の有無を調べた。下記表4にその結果
を示す。
【0081】
【表4】
【0082】上記表4に示すように、比較例2による
と、実施例2ほどの良好な製造歩留まりを実現すること
はできなかった。
【0083】次に、良品モジュールについて実施例2と
同条件で出力特性を調べ、それらの平均値を求めた。そ
の結果、薄膜光電変換セルを横方向に28個直列接続し
てなる直列アレイを19個並列接続した場合、開放電圧
は36.5Vであり、短絡電流は0.372Aであり、
曲線因子は0.705であり、出力は9.57Wであっ
た。
【0084】
【発明の効果】以上示したように、本発明においては、
各薄膜光電変換セルを分割する第1の方向に延びた溝部
だけでなく、これに対して所定の角度をなす第2の方向
に延びた所定の深さの溝部が非単結晶シリコン系薄膜光
電変換ユニットに形成される。そのため、非単結晶シリ
コン系薄膜光電変換ユニットの残留応力を十分に緩和す
ることができ、非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニッ
トの剥離等を防止することができる。すなわち、本発明
によると、非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットを
厚く形成した場合においても高い歩留まり及び十分な長
期信頼性を実現することが可能なシリコン系薄膜光電変
換モジュール及びその製造方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るシリコン系薄膜
光電変換モジュールを概略的に示す上面図。
【図2】図1に示すシリコン系薄膜光電変換モジュール
のA−A線に沿った断面図。
【図3】本発明の第2の実施形態に係るシリコン系薄膜
光電変換モジュールを概略的に示す上面図。
【図4】本発明の実施例2に係るシリコン系薄膜光電変
換モジュールを概略的に示す断面図。
【符号の説明】
1…シリコン系薄膜光電変換モジュール 2…透明基板 3…透明前面電極層 4…非単結晶シリコン系光電変換ユニット 5…裏面金属電極層 10…薄膜光電変換セル 11,12…溝部 13…電極バスバー

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 長手方向の長さが20cm以上の基板及
    び該基板上に順次形成された第1の電極層と膜厚0.7
    μm以上の非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットと
    第2の電極層とをそれぞれ分割してなる複数の薄膜光電
    変換セルを具備し、 前記第1の電極層と前記非単結晶シリコン系薄膜光電変
    換ユニットと前記第2の電極層とは第1の方向に延びた
    溝部によりそれぞれ分割され、 前記非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットに、その
    膜厚の50%以上の深さを有する溝部が前記第1の方向
    と45°〜90°の角度をなす第2の方向に平行に設け
    られたことを特徴とするシリコン系薄膜光電変換モジュ
    ール。
  2. 【請求項2】 前記非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユ
    ニットは、前記第2の方向に設けられた溝部により分割
    されたことを特徴とする請求項1に記載のシリコン系薄
    膜光電変換モジュール。
  3. 【請求項3】 前記第1及び第2の電極層は、前記第2
    の方向に延びた溝部により分割されたことを特徴とする
    請求項2に記載のシリコン系薄膜光電変換モジュール。
  4. 【請求項4】 前記基板は5mm以下の厚さを有するこ
    とを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載
    のシリコン系薄膜光電変換モジュール。
  5. 【請求項5】 前記第1の方向と前記第2の方向とは垂
    直である請求項1ないし4のいずれか1項に記載のシリ
    コン系薄膜光電変換モジュール。
  6. 【請求項6】 前記第1の方向に延びた溝部が3mm〜
    30mmの間隔で設けられたことを特徴とする請求項1
    ないし5のいずれか1項に記載のシリコン系薄膜光電変
    換モジュール。
  7. 【請求項7】 前記第2の方向に延びた溝部が150m
    m以下の間隔で設けられたことを特徴とする請求項1な
    いし6のいずれか1項に記載のシリコン系薄膜光電変換
    モジュール。
  8. 【請求項8】 前記基板及び前記第1の電極層は光透過
    性を有し、前記第2の電極層は金属反射層を含むことを
    特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載のシ
    リコン系薄膜光電変換モジュール。
  9. 【請求項9】 長手方向の長さが20cm以上の基板、
    及び該基板上に順次形成された第1の電極層と膜厚0.
    7μm以上の非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニット
    と第2の電極層とをそれぞれ分割してなる複数の薄膜光
    電変換セルを有するシリコン系薄膜光電変換モジュール
    の製造方法であって、 前記非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットを、第1
    の方向に延びた溝部を形成することにより分割する工程
    と、 前記非単結晶シリコン系薄膜光電変換ユニットに、その
    膜厚の50%以上の深さを有する溝部を前記第1の方向
    と45°〜90°の角度をなす第2の方向に平行に形成
    する工程と、を具備することを特徴とするシリコン系薄
    膜光電変換モジュールの製造方法。
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