JP2001068696A - 薄膜光電変換モジュール - Google Patents

薄膜光電変換モジュール

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JP2001068696A
JP2001068696A JP23870999A JP23870999A JP2001068696A JP 2001068696 A JP2001068696 A JP 2001068696A JP 23870999 A JP23870999 A JP 23870999A JP 23870999 A JP23870999 A JP 23870999A JP 2001068696 A JP2001068696 A JP 2001068696A
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thin
film photoelectric
cells
film
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JP23870999A
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Katsuhiko Hayashi
克彦 林
Hideo Yamagishi
英雄 山岸
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Abstract

(57)【要約】 【課題】高い信頼性を有する薄膜光電変換モジュールを
提供すること。 【解決手段】本発明の薄膜光電変換モジュール1は、基
板2と、該基板2の一方の主面上に形成され且つ直列接
続された複数の薄膜光電変換セル10と、前記複数の薄
膜光電変換セル10の直列接続された各々のn個とそれ
ぞれ並列接続された複数のバイパスダイオード15とを
具備し、前記個数nと各薄膜光電変換セル10の逆方向
耐電圧Vaと各薄膜光電変換セル10の下記条件下での
開放電圧Vbとが不等式n≦Va/Vb+1に示す関係を
満たす。 光源 :キセノンランプ 放射照度:100mW/cm2 AM :1.5 温度 :25℃

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光電変換モジュー
ルに関し、特には、直列接続された複数の薄膜光電変換
セルを有する薄膜光電変換モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、薄膜光電変換モジュールは、帯
状に形成された複数の薄膜光電変換セルをその短軸方向
で直列接続した構造を有している。かかるモジュールは
単独で使用されることは少なく、通常、複数を直列或い
は並列接続したモジュール列として使用される。
【0003】ところで、薄膜光電変換モジュールにおい
て、ある薄膜光電変換セルの受光面に木の葉や鳥の糞な
どが付着すると、その光起電力が低下し、延いてはモジ
ュール全体の出力が大幅に低下する。これは、光起電力
が低下したセルの抵抗値が極端に増加するためである。
【0004】このようなモジュールの出力の低下は、モ
ジュール列の出力に大きな影響を及ぼす。そのため、従
来は、例えば、各モジュール毎に1個のバイパスダイオ
ードを設けることにより、モジュール列の出力低下が抑
制されていた。
【0005】しかしながら、上記付着物により生ずる問
題はこれだけではなく、より深刻な問題が存在する。す
なわち、上記光起電力が低下したセルに逆方向耐電圧以
上の電圧が印加されると、ホットスポット現象と呼ばれ
る局所的な加熱を生ずる。このような現象は、特に大面
積のモジュールでは出力電流が大きいため、金属電極層
を溶融させ、最終的にはそのセル自体を破壊することが
ある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
に鑑みてなされたものであり、高い信頼性を有する薄膜
光電変換モジュールを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記課題
を解決するに当たり、まず、以下の事実に着目した。m
個の薄膜光電変換セルを直列接続してなる直列アレイに
おいて、1つの薄膜光電変換セルが遮光された場合にア
レイが短絡されると、そのセルには、各薄膜光電変換セ
ルの開放電圧Vbに(m−1)を乗じた電圧が印加され
る。この場合、電圧(m−1)・Vbが各薄膜光電変換
セルの逆方向耐電圧Va以下であれば、光起電力を失っ
たセルにおいて局所的に大電流が流れるのを防止するこ
とができるが、通常、電圧(m−1)・Vbは各セルの
逆方向耐電圧Vaよりも大きい。
【0008】本発明者らは、上記直列アレイを複数のブ
ロックへと分割して、それぞれのブロックにバイパスダ
イオードを並列接続することにより、上記問題が発生し
た場合に光起電力を失ったセルに印加される電圧を低減
することができ、各ブロックを構成するセルの数nが
(n−1)・Vb≦Vaなる関係を満たせば、光起電力を
失ったセルの破壊を防止できることを見出した。
【0009】すなわち、本発明によると、基板と、該基
板の一方の主面上に形成され且つ直列接続された複数の
薄膜光電変換セルと、前記複数の薄膜光電変換セルの直
列接続された各々のn個とそれぞれ並列接続された複数
のバイパスダイオードとを具備し、前記個数nと各薄膜
光電変換セルの逆方向耐電圧Vaと各薄膜光電変換セル
の下記条件下での開放電圧Vbとが不等式n≦Va/Vb
+1に示す関係を満たすことを特徴とする薄膜光電変換
モジュールが提供される。
【0010】光源 :キセノンランプ 放射照度:100mW/cm2 AM :1.5 温度 :25℃ 本発明において、薄膜光電変換セルは、通常、前記基板
上に順次形成された第1の電極層と非単結晶シリコン系
薄膜光電変換ユニットと第2の電極層とを有する。ま
た、上記複数の薄膜光電変換セルは、例えば、それぞれ
帯状に形成され且つその短軸方向に集積される。
【0011】本発明において、バイパスダイオードは、
薄膜光電変換セルを形成した後に外付けされるものであ
ってもよく、基板上に形成された薄膜であってもよい。
後者の場合、バイパスダイオードと薄膜光電変換セルと
を実質的に同一の層構造とすることができる。
【0012】また、本発明において、上記個数nと逆方
向耐電圧Vaと開放電圧Vbとが不等式Va/Vb−1≦n
に示す関係を満たすことが好ましい。この場合、ダイオ
ードを設けることにより生ずる発電領域の減少を最少化
すること、及びバイパスダイオードそのものの個数を減
らすことができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照しながらより詳細に説明する。なお、各図に
おいて同様の部材には同一の参照符号を付し、重複する
説明は省略する。
【0014】図1は、本発明の第1の実施形態に係る薄
膜光電変換モジュールを概略的に示す上面図である。図
1に示す薄膜光電変換モジュール1は、透明基板2上に
帯状の薄膜光電変換セル10を集積した構造を有してお
り、これら薄膜光電変換セル10はその短軸方向に直列
接続されて直列アレイ11を形成している。また、直列
アレイ11の両端にはリボン状の銅箔等からなる電極バ
スバー12a,12bが取り付けられている。なお、図
1に示すモジュール1において、バスバー12aは陰極
であり、バスバー12bは陽極である。
【0015】直列アレイ11は、4つのブロック13a
〜13dで構成されている。各ブロックには、端子14
a〜14eを介して、それらの発電方向に対して順方向
にダイオード15a〜15dがそれぞれ並列接続されて
いる。このような構成のモジュール1では、例えば、ブ
ロック13bの1つのセル10が光起電力を失ってその
抵抗値が増大したとしても、他のブロック13a,13
c,13dで生じた光起電力はダイオード15bにより
バイパスされるため、モジュール1の出力低下を最小限
に抑えることができる。
【0016】また、これらブロック13a〜13dは、
それぞれn個(図1では4個)の薄膜光電変換セル10
で構成されており、各ブロック13a〜13dを構成す
るセル10の個数nは、個数nと各セル10の逆方向耐
電圧Vaと各セル10の下記条件下での開放電圧Vbとが
不等式n≦Va/Vb+1に示す関係を満たすように設定
されている。このような場合、直列アレイ11が短絡さ
れたとしても、以下に説明する理由により、ホットスポ
ット現象によるセル10の破壊を防止することができ
る。
【0017】光源 :キセノンランプ 放射照度:100mW/cm2 AM :1.5 温度 :25℃ 例えば、ブロック13bの1つのセル10が光起電力を
失い、ブロック13a,13c,13dで生じた光起電
力がダイオード15bによりバイパスされた場合、端子
14b,14c間はほぼ同電位となる。そのため、光起
電力を失ったセル10には、ブロック13bを構成する
セル10のうち正常なものの個数(n−1)に個々の光
起電力Vcを乗じた逆バイアス電圧(n−1)・Vcのみ
が印加される。したがって、この逆バイアス電圧がセル
10の逆方向耐電圧Vaよりも小さければ、光起電力を
失ったセル10の絶縁破壊を抑制すること、すなわちセ
ル10の破壊を防止することができる。
【0018】ところで、セル10の光起電力Vcは、通
常、各セルの上記条件下での開放電圧Vb以下である。
また、上述したように、モジュール1は、(n−1)・
b≦Vaなる関係を満たしている。したがって、図1の
モジュール1によると、ホットスポット現象によるセル
10の破壊を防止することが可能である。
【0019】上記個数nと逆方向耐電圧Vaと開放電圧
bとは、不等式Va/Vb−1≦nに示す関係を満たす
ことが好ましい。あるセル10が光起電力を失うことに
基づくモジュール1の出力低下は、上記個数nを1とし
た場合に最も良好に抑制することができるが、その場
合、数多くのダイオード15nを必要とするため、コス
トが上昇する或いは有効な発電領域が減少することがあ
る。したがって、個数nと逆方向耐電圧Vaと開放電圧
bとが上記関係を満足する場合、コストの上昇や有効
な発電領域の減少を抑制しつつ、ホットスポット現象に
よるセル10の破壊を防止することができる。
【0020】上記モジュール1において、端子14a〜
14eは、薄膜光電変換セル10を構成する層を利用し
て形成することができる。例えば、薄膜光電変換セル1
0に用いられる金属電極層等を発電領域だけでなくその
外側にまで成膜し、これをレーザスクライブすることに
より端子14a〜14eを形成することができる。この
場合、ダイオード15a〜15dは、半田付け等により
端子14a〜14eへ取り付けることができる。
【0021】以上説明した上記モジュール1の構造につ
いて、図2を参照しながら、さらに詳細に説明する。図
2は、図1に示す薄膜光電変換モジュール1のA−A線
に沿った断面図である。なお、図2には、モジュール1
の一部のみが描かれている。
【0022】図2に示すように、モジュール1の薄膜光
電変換セル10は、透明基板2上に、透明前面電極層
3、薄膜光電変換ユニット4、及び金属裏面電極層5を
順次積層した構造を有している。すなわち、このモジュ
ール1は、透明基板2側から入射する光を光電変換ユニ
ット4により光電変換するものである。
【0023】図1及び図2に示す光電変換モジュール1
において、透明基板2は、ガラス板や透明樹脂フィルム
等により構成することができる。透明基板1上に形成さ
れる透明前面電極層3は、ITO膜、SnO2膜、或い
はZnO膜のような透明導電性酸化物層等で構成するこ
とができる。透明前面電極層3は単層構造でも多層構造
であってもよい。透明前面電極層3は、蒸着法、CVD
法、或いはスパッタリング法等それ自体既知の気相堆積
法を用いて形成することができる。
【0024】透明前面電極層3の表面は、微細な凹凸を
含む表面テクスチャ構造を有することが好ましい。透明
前面電極層3の表面にこのようなテクスチャ構造を形成
することにより、光電変換ユニット4への光の入射効率
を向上させることができる。
【0025】透明前面電極層3の上に形成される薄膜光
電変換ユニット4は、例えば、図2に示すように、透明
前面電極層3上にp型非単結晶シリコン系半導体層4
1、非単結晶シリコン系薄膜光電変換層42、及びn型
非単結晶シリコン系半導体層43を順次積層した構造を
有する。これらp型半導体層41、光電変換層42およ
びn型半導体層43はいずれもプラズマCVD法により
形成することができる。
【0026】p型シリコン系半導体層41は、シリコン
またはシリコンカーバイドやシリコンゲルマニウム等の
シリコン合金に、ボロンやアルミニウム等のp導電型決
定不純物原子をドープすることにより形成されている。
【0027】p型半導体層41上に形成される光電変換
層42は、非単結晶シリコン系半導体材料で形成され、
そのような材料には、真性半導体のシリコン(水素化シ
リコン等)やシリコンカーバイド及びシリコンゲルマニ
ウム等のシリコン合金等が含まれる。また、光電変換機
能を十分に備えていれば、微量の導電型決定不純物を含
む弱p型もしくは弱n型のシリコン系半導体材料も用い
られ得る。
【0028】光電変換層42上に形成されるn型シリコ
ン系半導体層43は、シリコンまたはシリコンカーバイ
ドやシリコンゲルマニウム等のシリコン合金に、燐や窒
素等のn導電型決定不純物原子をドープすることにより
形成されている。
【0029】光電変換ユニット上4上に形成される金属
裏面電極層5は電極としての機能を有するだけでなく、
透明基板2から光電変換ユニット4に入射し裏面電極層
5に到達した光を反射して光電変換ユニット4内に再入
射させる反射層としての機能も有している。金属裏面電
極層5は、銀等を用いて、蒸着法やスパッタリング法等
により形成することができる。
【0030】なお、金属裏面電極層5と光電変換ユニッ
ト4との間には、例えば両者の間の接着性を向上させる
ために、ZnOのような非金属材料からなる透明導電性
薄膜(図示せず)を設けることができる。
【0031】上述した透明前面電極層3、薄膜光電変換
ユニット4、及び金属裏面電極層5は、それぞれの成膜
後にYAGレーザ等を用いたレーザスクライブにより分
割され、図1に示すように複数の薄膜光電変換セル10
を形成している。
【0032】このモジュール1には、通常、その裏面側
に、封止樹脂層(図示せず)を介して有機保護フィルム
(図示せず)が設けられる。封止樹脂層は、透明基板2
上に形成された各薄膜光電変換セル10を封止するもの
であり、有機保護フィルムをこれらセル10に接着する
ことが可能な樹脂が用いられる。そのような樹脂として
は、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、及び光硬化性樹脂等
を挙げることができ、例えば、EVA(エチレン・ビニ
ルアセテート共重合体)、PVB(ポリビニルブチラー
ル)、PIB(ポリイソブチレン)、及びシリコーン樹
脂等を用いることができる。
【0033】有機保護フィルムとしては、ポリフッ化ビ
ニルフィルム(例えば、テドラーフィルム(登録商標
名))のようなフッ素樹脂系フィルム或いはPETフィ
ルムのように耐湿性や耐水性に優れた絶縁性フィルムが
用いられる。有機保護フィルムは、単層構造でもよく、
これらを積層した積層構造であってもよい。さらに、有
機保護フィルムは、アルミニウム等からなる金属箔がこ
れらフィルムで挟持された構造を有してもよい。アルミ
ニウム箔のような金属箔は耐湿性や耐水性を向上させる
機能を有するので、有機保護フィルムをこのような構造
とすることにより、薄膜光電変換セル10をより効果的
に水分から保護することができる。
【0034】これら封止樹脂/有機保護フィルムは、真
空ラミネート法により薄膜光電変換モジュール1の裏面
側に同時に貼着することができる。
【0035】次に、本発明の第2の実施形態について説
明する。第1の実施形態では、バイパスダイオードを外
付けしたが、第2の実施形態では、バイパスダイオード
は基板上に薄膜として形成される。
【0036】図3は、本発明の第2の実施形態に係る薄
膜光電変換モジュールを概略的に示す上面図である。図
3に示す薄膜光電変換モジュール1は、図1のモジュー
ル1と同様に透明基板2上に複数の薄膜光電変換セル1
0を集積した構造を有しているが、図1のモジュール1
とはダイオード15a〜15dの構造等が異なってい
る。
【0037】図3のモジュール1において、ダイオード
15a〜15dは薄膜光電変換セル10とほぼ同一の層
構造を有している。すなわち、ダイオード15a〜15
dは、透明基板2上に、透明前面電極層3、薄膜光電変
換ユニット4、及び金属裏面電極層5を順次積層した構
造を有している。
【0038】図3のモジュール1におけるダイオード1
5a〜15dとブロック13a〜13dとの接続につい
て図4を参照しながら説明する。図4は、本発明の第2
の実施形態に係る薄膜光電変換モジュール1におけるダ
イオード15aとブロック13aとの接続を示す回路図
である。ダイオード15aをブロック13aの発電方向
に対して順方向に並列接続した場合、図4に示すよう
に、ダイオード15aとブロック13aとでは接合の向
きが逆となる。
【0039】したがって、例えば、ブロック13aに関
しては、ダイオード15aの透明前面電極層3とバスバ
ー12a或いはバスバー12aに隣接するセル10の金
属裏面電極層5とが電気的に接続され、ダイオード15
aの金属裏面電極層5とブロック13aのブロック13
bに隣接するセル10の透明前面電極層3或いはブロッ
ク13bのブロック13aに隣接するセル10の金属裏
面電極層5とが電気的に接続される。このような接続
は、各層のレーザスクライブパターンを適宜変更するこ
とにより容易に実現することができる。
【0040】上述のように、図3のモジュール1におい
て、ダイオード15a〜15dはセル10と同様の構造
を有している。また、ダイオード15a〜15dとセル
10等との接続は、各層のレーザスクライブパターンを
適宜変更することにより容易に実現することができる。
したがって、図3のモジュール1は、図1のモジュール
1に比べて製造が容易である。
【0041】また、図3のモジュール1において、ダイ
オード15a〜15dは、基板2の周縁部に形成するこ
とが好ましい。一般に、モジュール1はフレームに支持
されるため、基板2の周縁部は発電に利用されていな
い。ダイオード15a〜15dには光が照射される必要
はなく、しかも比較的少ない面積があれば十分である。
したがって、ダイオード15a〜15dを基板2の周縁
部に形成することにより、基板2の表面を有効利用する
ことができる。
【0042】以上説明した各実施形態では、基板2の一
端部にダイオード15a〜15dを配置したが、他の配
置を採用してもよい。例えば、ダイオード15a〜15
dを基板2の両端部に互い違いに配置してもよい。ま
た、上記実施形態では、各ブロック13に1つのダイオ
ード15を設けたが、2つ以上のダイオード15を設け
てもよい。さらに、上記実施形態では、各ブロック13
を4つのセル10で構成し、直列アレイ11を4つのブ
ロック13で構成したが、他の構造を採用することもで
きる。
【0043】また、上述した各実施形態は、透明基板2
上に、透明電極層3、p−i−n接合を有する薄膜光電
変換ユニット4、及び金属電極層5を順次積層した構造
に関するものであるが、他の構造を採用することもでき
る。例えば、基板上に、金属電極層、n−i−p接合を
有する薄膜光電変換ユニット、及び透明電極層を順次積
層した構造を採用することができる。また、薄膜光電変
換ユニット4をタンデム型とすることも可能である。
【0044】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。 (実施例)図3に示す薄膜光電変換モジュール1を以下
に示す方法により作製した。まず、ガラス基板2の一方
の主面に形成されたSnO2膜3を、YAGレーザを用
いたレーザスクライブにより、セル10及びダイオード
15に対応してパターニングした。
【0045】次に、プラズマCVD法により、SnO2
膜3上に、厚さ10nmのp型水素含有非晶質シリコン
カーバイド層41、厚さ300nmのi型水素含有非晶
質シリコン層42、及び厚さ10nmのn型水素含有微
結晶シリコン層43を順次成膜した。なお、p型水素含
有非晶質シリコンカーバイド層41は不純物としてボロ
ンをドープされ、i型水素含有非晶質シリコン層42は
ノンドープであり、n型水素含有微結晶シリコン層43
は燐をドープされている。以上のようにして、p−i−
n接合を有する薄膜光電変換ユニット4を形成した。
【0046】その後、この薄膜光電変換ユニット4につ
いても、YAGレーザを用いたレーザスクライブを行う
ことにより、セル10及びダイオード15に対応してパ
ターニングした。
【0047】次に、薄膜光電変換ユニット4上に、スパ
ッタ法により、厚さ100nmのZnO膜(図示せず)
及び厚さ300nmのAg膜5を順次成膜して裏面電極
層を形成した。この裏面電極層についても、同様に、Y
AGレーザを用いたレーザスクライブを行った。
【0048】続いて、SnO2膜3、薄膜光電変換ユニ
ット4、及び裏面電極層を、YAGレーザを用いてレー
ザスクライブすることにより発電領域と基板周囲領域と
の絶縁等を行った。以上のようにして、縦10mm×横
900mmの薄膜光電変換セル10を縦方向に(基板2
の短辺に平行に)45個直列接続してなる直列アレイ1
1、並びに縦90mm×横2mmの5個のダイオード1
5を形成した。なお、これらダイオード15は、それぞ
れ、直列接続された9個のセル10に、それらの発電方
向に対して順方向に並列接続されている。
【0049】その後、直列アレイ11の両端部に一対の
電極バスバー12a,12bをそれぞれ取り付けた。さ
らに、基板2の直列アレイ11を形成した面に、EVA
層(図示せず)を介してフッ素樹脂系シート(商標名:
テドラー;図示せず)をラミネートすることによりモジ
ュール1を得た。
【0050】以上説明した方法で10枚のモジュール1
を製造し、それぞれについて、光源としてキセノンラン
プを用いた放射照度100mW/cm2、AM1.5の
ソーラーシュミレータを用いて出力特性を調べた。な
お、測定温度は25℃とした。その結果、モジュール1
の開放電圧は40Vであり、短絡電流は1.3Aであっ
た。また、EVA層及びフッ素樹脂系シートをラミネー
トする前に、これらモジュール1の各セル10について
逆方向耐電圧を測定したところ、平均で8Vであった。
【0051】次に、これらモジュール1をそれぞれ短絡
して、上記照射条件下に放置した。なお、このとき、そ
れぞれのモジュール1においては、セル10の1つの受
光面に黒色のビニルテープを貼って光を遮り、その光起
電力をゼロとした。1分経過後、それぞれのモジュール
1についてセル10が破壊されたかどうかを調べた。そ
の結果、全てのモジュール1において、セル10の破壊
は見られなかった。
【0052】(比較例)ダイオード15を形成すること
なく、縦10mm×横900mmの薄膜光電変換セルを
縦方向に45個直列接続してなる直列アレイを形成した
こと以外は上記実施例と同様にして薄膜光電変換モジュ
ールを10枚製造した。
【0053】これらモジュールについても上記実施例と
同様の条件で出力特性を調べた。その結果、モジュール
の開放電圧は40Vであり、短絡電流は1.3Aであっ
た。また、各セル10の逆方向耐電圧は平均で8Vであ
った。
【0054】次に、これらモジュールをそれぞれ短絡し
て、上記照射条件下に放置した。なお、このとき、それ
ぞれのモジュールにおいては、セル10の1つの受光面
に黒色のビニルテープを貼って光を遮り、その光起電力
をゼロとした。1分経過後、それぞれのモジュールにつ
いてセルが破壊されたかどうかを調べた。その結果、1
0枚のモジュールにおいてセルの破壊が生じた。
【0055】
【発明の効果】以上示したように、本発明においては、
直列アレイが複数のブロックへと分割され、それぞれの
ブロックにバイパスダイオードが並列接続される。ま
た、各ブロックを構成するセルの数nは、(n−1)・
b≦Vaなる関係を満たすように設定される。そのた
め、本発明の薄膜光電変換モジュールでは、いずれか1
つの薄膜光電変換セルの光起電力がゼロである場合に直
列アレイが短絡されたとしても、そのセルの破壊を防止
することができる。すなわち、本発明によると、高い信
頼性を有する薄膜光電変換モジュールが提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る薄膜光電変換モ
ジュールを概略的に示す上面図。
【図2】図1に示す薄膜光電変換モジュールのA−A線
に沿った断面図。
【図3】本発明の第2の実施形態に係る薄膜光電変換モ
ジュールを概略的に示す上面図。
【図4】本発明の第2の実施形態に係る薄膜光電変換モ
ジュールにおけるダイオードとブロックとの接続を示す
回路図。
【符号の説明】
1…薄膜光電変換モジュール 2…基板 3…透明前面電極層 4…薄膜光電変換ユニット 5…金属裏面電極層 10…薄膜光電変換セル 11…直列アレイ 12…電極バスバー 13…ブロック 14…端子 15…ダイオード

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と、該基板の一方の主面上に形成さ
    れ且つ直列接続された複数の薄膜光電変換セルと、前記
    複数の薄膜光電変換セルの直列接続された各々のn個と
    それぞれ並列接続された複数のバイパスダイオードとを
    具備し、 前記個数nと各薄膜光電変換セルの逆方向耐電圧Va
    各薄膜光電変換セルの下記条件下での開放電圧Vbとが
    不等式n≦Va/Vb+1に示す関係を満たすことを特徴
    とする薄膜光電変換モジュール。 光源 :キセノンランプ 放射照度:100mW/cm2 AM :1.5 温度 :25℃
  2. 【請求項2】 前記複数の薄膜光電変換セルは、それぞ
    れ、前記基板上に順次形成された第1の電極層と非単結
    晶シリコン系薄膜光電変換ユニットと第2の電極層とを
    具備することを特徴とする請求項1に記載の薄膜光電変
    換モジュール。
  3. 【請求項3】 前記複数の薄膜光電変換セルは、それぞ
    れ帯状に形成され且つその短軸方向に集積されたことを
    特徴とする請求項1または2に記載の薄膜光電変換モジ
    ュール。
  4. 【請求項4】 前記複数のバイパスダイオードは、それ
    ぞれ、前記基板の一方の主面上に形成された薄膜である
    ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記
    載の薄膜光電変換モジュール。
  5. 【請求項5】 前記複数のバイパスダイオードは、それ
    ぞれ、前記複数の薄膜光電変換セルと実質的に同一の層
    構造を有することを特徴とする請求項4に記載の薄膜光
    電変換モジュール。
  6. 【請求項6】 前記個数nと前記逆方向耐電圧Vaと前
    記開放電圧Vbとが不等式Va/Vb−1≦nに示す関係
    を満たすことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか
    1項に記載の薄膜光電変換モジュール。
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