JP2001068524A - マルチチャンバロードロック装置のシール機構 - Google Patents

マルチチャンバロードロック装置のシール機構

Info

Publication number
JP2001068524A
JP2001068524A JP24359899A JP24359899A JP2001068524A JP 2001068524 A JP2001068524 A JP 2001068524A JP 24359899 A JP24359899 A JP 24359899A JP 24359899 A JP24359899 A JP 24359899A JP 2001068524 A JP2001068524 A JP 2001068524A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
plate
cylindrical cam
semiconductor wafers
load lock
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP24359899A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3273560B2 (ja
Inventor
Kosuke Kyogoku
光祐 京極
Takayuki Yamagishi
孝幸 山岸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ASM Japan KK
Original Assignee
ASM Japan KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ASM Japan KK filed Critical ASM Japan KK
Priority to JP24359899A priority Critical patent/JP3273560B2/ja
Priority to US09/650,122 priority patent/US6743329B1/en
Publication of JP2001068524A publication Critical patent/JP2001068524A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3273560B2 publication Critical patent/JP3273560B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67757Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber vertical transfer of a batch of workpieces
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T74/00Machine element or mechanism
    • Y10T74/18Mechanical movements
    • Y10T74/18048Rotary to reciprocating and intermittent rotary

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】構造が単純でメンテナンスの不要なプレートの
自動動作管理機構を有するマルチチャンバロードロック
装置を与える。 【解決手段】半導体ウエハを収納するウエハカセットを
配置するロードステーションと,前記半導体ウエハを搬
送するトランスファチャンバとの間に配置され,プレー
トの上下移動でチャンバ空間が2つに分割されるマルチ
チャンバロードロック装置において,プレートと接触す
ることで前記チャンバ空間が選択的に2つに分割され,
非通気状態となるところのシール手段と,前記チャンバ
の軸と同軸に配置された円筒カムと,前記円筒カムに動
的に接続されたロータリーアクチュエータと,から成
り,前記円筒カムにより,前記ロータリーアクチュエー
タの回転力が前記軸の上下方向の推進力に変換され,前
記プレートが上昇または下降することを特徴とする装
置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体製造用の真空
チャンバに関し,特にロードロックチャンバのシール機
構に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置の装置面積を縮小化する
ために,トランスファチャンバに対して,ロードロック
チャンバ若しくはリアクタチャンバを立体的に構成した
ものが登場した。これらは,例えばウエハトランスファ
チャンバ内部に上下移動可能に設けられたプレートがウ
エハトランスファチャンバ上部に配置されたロードロッ
クチャンバまたはリアクタチャンバの開口部を封止し,
両者を非通気状態とするものである。
【0003】ウエハ交換時にロードロックチャンバは大
気圧となりトランスファチャンバは真空状態であるた
め,両者の圧力差よりプレートはトランスファチャンバ
側に大きな力で吸引される。直径200mmのウエハを処理
する場合,プレートの直径が300mm程度であるとき,こ
の吸引力は約700Kg程度である。
【0004】通常,この吸引力に対抗してプレートを保
持するために,電磁ブレーキが使用される。これは摩擦
を利用しているため徐々に磨耗し,定期的なメンテナン
スが必要となる。
【0005】今後,直径300mmのウエハが実現された場
合,プレートの直径は400mm程度に大型化し,吸引力は
約1300Kgに達する。それに従い電磁ブレーキも大型化し
メンテナンスの頻度も多くなる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】また,ロードロックチ
ャンバがプレートの上下移動により2つに分割構成され
るマルチチャンバロードロック装置においては,上下2
カ所のシール位置においてプレートは逆方向の吸引力を
受けることになる。その結果ブレーキ再調整などのメン
テナンス回数が増加する。
【0007】さらに,プレートは,生産性向上のために
はすばやく移動する必要があるが,封止時にはOリング
シールからのパーティクル汚染を防止するためにシール
位置直前で減速する必要がある。プレートがシールから
離れる時もゆっくり動かし,完全に離れた後に移動速度
を増加させる。
【0008】このように,マルチチャンバロードロック
装置において,移動速度の変化,ブレーキの作動,メン
テナンス等,複雑な動作管理が必要になる。
【0009】したがって,本発明の目的は,構造が単純
でメンテナンスの不要なプレートの自動動作管理機構を
有するマルチチャンバロードロック装置を与えることで
ある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に,本発明は以下の手段から成る。本発明に係る装置
は,半導体ウエハを収納するウエハカセットを配置する
ロードステーションと,前記半導体ウエハを搬送するト
ランスファチャンバとの間に配置され,プレートの上下
移動でチャンバ空間が2つに分割されるマルチチャンバ
ロードロック装置であって,プレートと接触することで
前記チャンバ空間が選択的に2つに分割され,非通気状
態となるところのシール手段と,前記チャンバの軸と同
軸に配置された円筒カムと,前記円筒カムに動的に接続
されたロータリーアクチュエータと,から成り,前記円
筒カムにより,前記ロータリーアクチュエータの回転力
が前記軸の上下方向の推進力に変換され,前記プレート
が上昇または下降することを特徴とする。
【0011】好適には,前記溝は前記プレートが前記シ
ール面に接触する直前で移動速度が減速し当接したとき
静止状態にロックされるように螺刻されている,ところ
の装置。
【0012】具体的にはシール手段はOリングである。
【0013】
【発明の実施の形態】以下,図面を参照しながら,本発
明を説明する。
【0014】図1は本発明に係るマルチチャンバ型ロー
ドロック装置の部分断面図である。
【0015】本願発明の装置は,半導体ウエハ9を収納
するウエハカセットを配置するロードステーション(図
示せず)と,前記半導体ウエハ9を搬送するトランスフ
ァチャンバ(図示せず)との間に配置され,プレート2
の上下移動でチャンバ空間が2つに分割されるロードロ
ックチャンバ1において,前記プレート2の前記上下移動
の限界点に設けられ,プレートと接触することでロード
ロックチャンバが選択的に2つに分割され,非通気状態
となるところのシール手段(12,13)と,前記ロードロッ
クチャンバ1の軸7と同軸下方部にあって,所定の角度で
螺刻された溝17を有する円筒カム3と,前記ロードロッ
クチャンバの軸7に結合され,前記円筒カム3を包囲する
円筒4と,前記円筒4の下方端部付近に固定され,前記溝
17に嵌合されたカムフォロア5と,前記円筒カム3に接続
されたロータリーアクチュエータ6と,から成り,前記
ロータリーアクチュエータ6の回転により前記円筒カム3
が回転し,前記カムフォロア5が前記溝17に沿って摺動
しながら上方または下方に移動し,それにしたがって前
記プレート2も上昇または下降することを特徴とする。
【0016】ロードロックチャンバ1の外側にある軸7の
周囲にはベローズ8が設けられ外気からのパーティクル
汚染を防止する。プレート2の表裏面には半導体ウエハ9
を積載するための保持手段14が設けられている。
【0017】図1(a)はプレート2が下限位置にあってシ
ール面13にシールされている状態を示している。ロード
ロックチャンバ1は2つのチャンバ(15,16)に分割されて
いる。2つのチャンバは非通気状態である。半導体ウエ
ハ9はロードステーションからゲートバルブ11を介して
第2チャンバ16に搬入される。このとき,第2チャンバ
16内の圧力は大気圧である。一方第1チャンバ15のゲー
トバルブ10は閉じられ真空ポンプ(図示せず)によって
排気される。このとき2つのチャンバの圧力差により生
じる力は第2チャンバ方向から第1チャンバ方向へ働
く。第1チャンバ15はトランスファチャンバ(図示せ
ず)に接続されている。図に示されるように,第1チャ
ンバの体積は第2チャンバの体積より大きい。
【0018】図1(b)はプレート2が上限位置にあってシ
ール面12にシールされている状態を示している。その結
果ロードロックチャンバ1は2つのチャンバ(15,16)に分
割されている。2つのチャンバは非通気状態である。半
導体ウエハ9はロードステーションからゲートバルブ10
を介して第1チャンバ15に搬入される。このとき,第1
チャンバ16内の圧力は大気圧である。一方第2チャンバ
16のゲートバルブ11は閉じられ真空ポンプ(図示せず)
によって排気される。このとき2つのチャンバの圧力差
により生じる力は第1チャンバから第2チャンバ方向へ
働く。第2チャンバ16はトランスファチャンバ(図示せ
ず)に接続されている。図に示されるように,第2チャ
ンバの体積は第1チャンバの体積より大きい。
【0019】シール面(12,13)には,好適にはOリング
が使用されているがそれ以外のシール手段を使用しても
よい。
【0020】図1(c)は円筒カム3に螺刻された溝の展開
図である。溝は5つの部分から構成されている。すなわ
ち,当該溝は平坦なセルフロック範囲a,傾斜が変化す
る加速若しくは減速する範囲b,所定の傾斜で一定速度
で移動する範囲c,傾斜が変化する減速若しくは加速す
る範囲d,及びセルフロック範囲eから成る。該溝にはカ
ムフォロア5の一端が嵌合している。カムフォロア5は円
筒4の下端付近に固定されている。ロータリーアクチュ
エータ6によって,円筒カム3が回転し,カムフォロア5
は該溝内を摺動もしくは回転しながら移動する。
【0021】カムフォロア5の軌跡とプレート2の上下移
動は連係している。カムフォロア5が範囲aにあるときプ
レート2は下限位置においてシールされている(図1
(a))。この状態でゲートバルブ11が開き処理済みウエ
ハと未処理ウエハの入れ替えが行なわれる。このとき,
カムフォロア5はセルフロック範囲aにあり圧力差によっ
てプレート2に係る力に対抗している。ロータリーアク
チュエータ6により円筒カム3が回転するに従いカムフォ
ロア5が範囲bを通過して徐々に上昇を開始しプレート2
も徐々にシール面13を離れ上昇を始める。次にカムフォ
ロアは範囲cにあって一定の速度で上昇を続けプレート2
も一定の速度で上昇する。カムフォロアが範囲dにさし
かかるときプレート2は上限シール面12の直前にあって
ゆっくり減速する。カムフォロアが範囲e達した時,プ
レート2はシール面12に接触しセルフロックされる(図
1(b))。この状態でゲートバルブ10が開き処理済みウ
エハと未処理ウエハの入れ替えが行なわれる。このと
き,カムフォロア5はセルフロック範囲eにあり圧力差に
よってプレート2に係る力に対抗している。
【0022】プレート2が上限位置から下降する時は上
記した動作と全く逆の動作となる。
【0023】カムフォロア5が範囲eにあるときプレート
2は上限位置においてシールされている(図1(b))。こ
の状態でゲートバルブ10が開き処理済みウエハと未処理
ウエハの入れ替えが行なわれる。このとき,カムフォロ
ア5はセルフロック範囲eにあり圧力差によってプレート
2に係る力に対抗している。ロータリーアクチュエータ6
により円筒カム3が回転するに従いカムフォロア5が範囲
dを通過して徐々に下降を開始しプレート2も徐々にシー
ル面12を離れ下降を始める。次にカムフォロアは範囲c
にあって一定の速度で下降を続けプレート2も一定の速
度で下降する。カムフォロアが範囲bにさしかかるとき
プレート2は下限シール面13の直前にあってゆっくり減
速する。カムフォロアが範囲a達した時,プレート2はシ
ール面13に接触しセルフロックされる(図1(a))。こ
の状態でゲートバルブ11が開き処理済みウエハと未処理
ウエハの入れ替えが行なわれる。このとき,カムフォロ
ア5はセルフロック範囲aにあり圧力差によってプレート
2に係る力に対抗している。
【0024】
【発明の効果】ロータリーアクチュエータの回転運動を
円筒カムによってプレートの上下運動に変換する機構に
おいて,円筒カムに螺刻された溝の形状を最適化するこ
とによって,複雑な速度管理若しくはブレーキ再調整が
不要となった。
【0025】また,プレートのシール位置においてチャ
ンバ間の圧力差によって生じる力に対抗してプレートを
静止状態に保持する機構を与えることができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)(b)は,本発明のロードロック装置の部
分断面図であり,(c)はカム溝の展開図である。
【符号の説明】
1 ロードロックチャンバ 2 プレート 3 円筒カム 4 円筒 5 カムフォロア 6 ロータリ−アクチュエータ 7 軸 8 ベローズ 9 半導体ウエハ 10 ゲートバルブ 11 ゲートバルブ 12 シール面 13 シール面 14 ウエハ保持手段 15 第1チャンバ 16 第2チャンバ 17 溝
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年9月24日(1999.9.2
4)
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体ウエハを収納するウエハカセットを
    配置するロードステーションと,前記半導体ウエハを搬
    送するトランスファチャンバとの間に配置され,プレー
    トの上下移動でチャンバ空間が2つに分割されるマルチ
    チャンバロードロック装置において,プレートと接触す
    ることで前記チャンバ空間が選択的に2つに分割され,
    非通気状態となるところのシール手段と,前記チャンバ
    の軸と同軸に配置された円筒カムと,前記円筒カムに動
    的に接続されたロータリーアクチュエータと,から成
    り,前記円筒カムにより,前記ロータリーアクチュエー
    タの回転力が前記軸の上下方向の推進力に変換され,前
    記プレートが上昇または下降することを特徴とする装
    置。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の装置であって,前記溝は
    前記プレートが前記シール面に接触する直前で移動速度
    が減速し当接したとき静止状態にロックされるように螺
    刻されている,ところの装置。
  3. 【請求項3】請求項1に記載のシール手段がOリングで
    ある,ところの装置。
JP24359899A 1999-08-30 1999-08-30 マルチチャンバロードロック装置のシール機構 Expired - Fee Related JP3273560B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24359899A JP3273560B2 (ja) 1999-08-30 1999-08-30 マルチチャンバロードロック装置のシール機構
US09/650,122 US6743329B1 (en) 1999-08-30 2000-08-29 Sealing mechanism of multi-chamber load-locking device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24359899A JP3273560B2 (ja) 1999-08-30 1999-08-30 マルチチャンバロードロック装置のシール機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001068524A true JP2001068524A (ja) 2001-03-16
JP3273560B2 JP3273560B2 (ja) 2002-04-08

Family

ID=17106206

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24359899A Expired - Fee Related JP3273560B2 (ja) 1999-08-30 1999-08-30 マルチチャンバロードロック装置のシール機構

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6743329B1 (ja)
JP (1) JP3273560B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100640557B1 (ko) 2004-06-17 2006-10-31 주식회사 에이디피엔지니어링 평판표시소자 제조장치
JP2008010670A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Nikon Corp ウェハ接合装置用のロードロック装置、及びウェハ接合システム
KR100868795B1 (ko) 2007-05-23 2008-11-17 세메스 주식회사 반도체 소자 제조용 로드 락 챔버
KR20160115794A (ko) * 2015-03-26 2016-10-06 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 반송 방법 및 기판 처리 장치
KR101927938B1 (ko) * 2011-11-22 2018-12-12 세메스 주식회사 기판처리장치 및 기판처리방법

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8440048B2 (en) * 2009-01-28 2013-05-14 Asm America, Inc. Load lock having secondary isolation chamber
CN103276369B (zh) * 2013-05-06 2016-02-17 南方科技大学 一种pecvd镀膜系统
CN104347460B (zh) * 2013-08-01 2017-03-15 中微半导体设备(上海)有限公司 晶圆传递腔室
JP6398761B2 (ja) * 2015-02-04 2018-10-03 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
CN114114849B (zh) * 2021-11-04 2022-12-13 清华大学 可拆分式真空腔室

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4024963A (en) * 1975-05-07 1977-05-24 Hautau Charles F Apparatus for transferring articles
USRE30188E (en) * 1976-06-01 1980-01-15 Valve train for internal combustion engine
US4241687A (en) * 1978-11-13 1980-12-30 Outboard Marine Corporation Throttle control for a marine propulsion device
GB8713241D0 (en) * 1987-06-05 1987-07-08 Vg Instr Group Bakeable vacuum systems
DE69614366T2 (de) * 1995-11-21 2002-05-23 Koyo Seiko Co Mechanisches teil
US6059507A (en) * 1997-04-21 2000-05-09 Brooks Automation, Inc. Substrate processing apparatus with small batch load lock
JP3286240B2 (ja) * 1998-02-09 2002-05-27 日本エー・エス・エム株式会社 半導体処理用ロードロック装置及び方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100640557B1 (ko) 2004-06-17 2006-10-31 주식회사 에이디피엔지니어링 평판표시소자 제조장치
JP2008010670A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Nikon Corp ウェハ接合装置用のロードロック装置、及びウェハ接合システム
JP4635972B2 (ja) * 2006-06-29 2011-02-23 株式会社ニコン ロードロック装置、それを使用した方法及びウエハ接合システム
KR100868795B1 (ko) 2007-05-23 2008-11-17 세메스 주식회사 반도체 소자 제조용 로드 락 챔버
KR101927938B1 (ko) * 2011-11-22 2018-12-12 세메스 주식회사 기판처리장치 및 기판처리방법
KR20160115794A (ko) * 2015-03-26 2016-10-06 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 반송 방법 및 기판 처리 장치
JP2016184664A (ja) * 2015-03-26 2016-10-20 東京エレクトロン株式会社 基板搬送方法及び基板処理装置
US10468278B2 (en) 2015-03-26 2019-11-05 Tokyo Electron Limited Substrate transfer method and substrate processing apparatus
KR102385670B1 (ko) 2015-03-26 2022-04-13 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 반송 방법 및 기판 처리 장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP3273560B2 (ja) 2002-04-08
US6743329B1 (en) 2004-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6796763B2 (en) Clean box, clean transfer method and system
US4584479A (en) Envelope apparatus for localized vacuum processing
US5772773A (en) Co-axial motorized wafer lift
US5026239A (en) Mask cassette and mask cassette loading device
US6337003B1 (en) Vacuum apparatus and driving mechanism therefor
JP3273560B2 (ja) マルチチャンバロードロック装置のシール機構
JPH02185971A (ja) 半導体ウェハの真空処理装置
JPH02179874A (ja) 真空環境内で処理する半導体ウェハの保持装置
EP1833079A1 (en) A method and apparatus for processing wafers
TW202016335A (zh) 真空隔離的批次處理系統
KR100196036B1 (ko) 플라즈마 처리장치 및 그 운전방법
KR20160035982A (ko) 게이트 밸브 및 기판 처리 시스템
KR20190036502A (ko) 로드 포트 장치, 로드 포트 장치의 구동 방법
JP2583747B2 (ja) 真空積層装置
EP0106510A2 (en) Envelope apparatus for localized vacuum processing
CN111164745B (zh) 盒开启器
EP0634784A1 (en) Variable speed wafer exchange robot
JP2001015571A (ja) ゲートバルブ
US5098245A (en) High speed wafer handler
JP2024006121A (ja) 真空ウエーハ搬送システム
JP4270617B2 (ja) 真空搬送装置
JPH10308427A (ja) ドア開閉機構
US20020146303A1 (en) Wafer handling system and apparatus
KR102645711B1 (ko) 기판 처리 장치
CN112392978A (zh) 狭缝阀装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080201

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090201

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100201

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees