JP2001024512A - 信号処理装置およびその装置を用いた半導体デバイス試験装置 - Google Patents

信号処理装置およびその装置を用いた半導体デバイス試験装置

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JP2001024512A JP19146099A JP19146099A JP2001024512A JP 2001024512 A JP2001024512 A JP 2001024512A JP 19146099 A JP19146099 A JP 19146099A JP 19146099 A JP19146099 A JP 19146099A JP 2001024512 A JP2001024512 A JP 2001024512A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 オーバーサンプリングするΣΔ変調器などの
サンプリング周波数を上げたい。 【解決手段】 信号処理装置20は、周波数補償ユニッ
ト28と変調ユニット30を含む。周波数補償ユニット
28は、第1波形整形器22と第2波形整形器52を含
む。変調ユニット30は一次のΣΔ変調器を2ウエイイ
ンタリーブしてなる。ふたつのΣΔ変調器は、それぞれ
入力信号Xの偶数符号列Xk(k:偶数)または奇数符
号列Xk(k:奇数)の一方を処理する。周波数補償ユ
ニット28は、ΣΔ変調器によって量子化ノイズが装置
全体の基準周波数fsで正しくサンプリングされるよう
伝送特性を操作する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は信号処理装置およ
び半導体デバイス試験装置に関する。この発明はとく
に、所定の基準周波数で信号を処理および伝送する信号
処理装置およびその装置を用いることの可能な半導体デ
バイス試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】アナログ信号をデジタル信号に変調する
過程には量子化の段階があり、その段階においていわゆ
る量子化ノイズが混入する。ノイズシェイピング技術
は、量子化ノイズの特性を変えて高域に偏らせることに
より、必要な帯域内の量子化ノイズを低減する。こうし
た技術のひとつに、ΣΔ(シグマデルタ)変調がある。
【0003】図1は従来一般的な一次のΣΔ変調器の構
成を示す。この変調器は、ふたつの加算器10、12
と、ふたつの遅延器14、16と、二値化回路18を含
む。入力信号Xは第一の加算器10に一方の端子に入力
され、第一の加算器10の出力は第二の加算器12に一
方の端子に入力される。
【0004】第二の加算器12の出力は第一の遅延器1
4に入力され、その遅延器14の出力が第二の加算器1
2の他方の端子に入力される。第二の加算器12の出力
は二値化回路18で二値化され、出力信号Yが生成され
る。
【0005】出力信号Yは第二の遅延器16に入力さ
れ、第二の遅延器16の出力は第一の加算器10の他方
の端子に入力される。ただし、これは減算のための入力
である。第一の遅延器14および第二の遅延器16はそ
れぞれ入力された信号を1サンプリング周期分遅らせ
る。以降、この変調器のサンプリング周期をfsと表記
する。
【0006】図2は図1のΣΔ変調器の動作を示す。こ
の変調器では入力信号Xのサンプリングがサンプリング
周波数fsで行われ、その結果、時刻t0、t1、t2
・・でサンプリングがなされる。二値化回路18は
「0」または「1」を出力する。この「0」と「1」の
差分がΔに相当する。図2の場合、入力信号の各符号X
i(i=0,1,…)に対応するYiは、
【0007】1、1、1、0、1、0、1 となり、出力信号Yが入力信号Xの変化に追従する。出
力信号Yが「1」をとったときには、第二の遅延器16
と第一の加算器10により、入力信号Xから「1」が引
かれる。出力信号Yが「0」をとったときには、入力信
号Xからはなにも引かれない。したがって、各サンプリ
ングタイミングにおいて、出力信号Yが入力信号Xを完
全に一致していれば、第一の加算器10における減算の
結果は常にゼロとなる。しかし、現実には量子化に伴う
誤差、つまり量子化ノイズ成分があるため、第一の遅延
器14と第二の加算器12がそのノイズを積分する。積
分の結果が二値化回路18のしきい値、たとえば0.5
などの値を越えている限り、出力信号Yは「1」とな
る。一方、積分の結果が前記のしきい値を越えていなけ
れば、出力信号Yは「0」となる。
【0008】なお、ここでは二値化回路18の出力とし
て「0」と「1」を考えたが、出力が「1」と「−1」
の二値、またはそれらと「0」の三値をとるようなもの
が利用される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ΣΔ変調はオーディオ
信号の処理などに広く利用され、オーバーサンプリング
を用いる。オーディオ信号処理の場合、必要な信号帯域
の周波数よりも2桁以上の速い周波数でサンプリングす
ることが多い。オーディオ信号に限らず、半導体デバイ
ス等の性能向上に従い、きわめて高速なアナログ信号を
きわめて高速なサンプリング周波数で標本化する要望が
高い。とくに、最先端の半導体デバイスを試験する装置
などでは、考えられる最も高速なアナログ信号をなるべ
く少ない量子化ノイズでデジタイズし、これを解析しな
ければならない。
【0010】本発明は以上の課題に鑑みてなされたもの
で、その目的は、データの処理および伝送の基準周波数
を上げることの可能な技術の提供にある。この目的は特
許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせ
により達成される。また従属項は、本発明の具体的かつ
有用な形態を規定する。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の信号処理装置
は、所定の基準周波数、たとえば所定のサンプリング周
波数で信号を処理および伝送する装置である。この装置
は、信号の伝送路上に並列に設けられ、それぞれが信号
を量子化した際に生じる量子化ノイズをシェイピングす
る機能をもつ複数の変調器を含む変調ユニットと、前記
伝送路上に前記変調ユニットと直列に設けられた周波数
補償ユニットとを含む。この構成で、前記変調ユニット
は前記基準周波数よりも低い第二の周波数をもとに変調
を行う。一方、前記周波数補償ユニットは前記量子化ノ
イズのシェイピングが前記基準周波数をもとに行われる
よう周波数に関する補償処理を行う。
【0012】前記周波数補償ユニットは、第一の波形整
形器と第二の波形整形器を含み、前記第一の波形整形器
の伝達関数と前記第二の波形整形器の伝達関数が逆数で
あってもよい。
【0013】本発明の信号処理装置の別の形態は、信号
の伝送路の一部を多重化して設けられた複数の副経路を
含む周波数低減ユニットと、前記伝送路上において前記
周波数低減ユニットと直列に設けられた周波数補償ユニ
ットとを含む。前記複数の副経路は、前記基準周波数よ
りも低い第二の周波数をもとにそれぞれ異なるタイミン
グで前記信号を伝送する。一方、前記周波数補償ユニッ
トは前記異なるタイミングで伝送された信号を、その伝
送が前記基準周波数をもとに行われる形に統合する。
【0014】前記複数の副経路はそれぞれ異なる数の遅
延素子を、いずれのふたつの副経路においても共用する
ことのない状態で含み、前記遅延素子の数に応じて前記
タイミングが定められてもよい。
【0015】前記周波数補償ユニットは、前記複数の副
経路の終端に現れる複数の信号をアナログ的に加算する
加算器、それらの排他的論理和を求める演算器、それら
の論理積を求める乗算器などであってもよい。
【0016】前記信号の前記複数の副経路間の干渉を制
御する干渉制御ユニットをさらに設けてもよい。
【0017】本発明の半導体デバイス試験装置は、被試
験デバイスに試験信号を印加し、前記被試験デバイスか
ら出力された信号を検査する主試験ユニットを含む。前
記主試験ユニットにおいて、前記試験信号を処理する経
路の一部が多重化され、かつ前記多重化された箇所にお
いて前記試験信号を処理するための周波数が、前記主試
験ユニット全体として前記試験信号を処理するための基
準周波数よりも低く設定される。
【0018】前記主試験ユニットは、被試験デバイスに
与える試験信号を生成する前処理ユニットを含んでもよ
い。前処理ユニットは、前記試験信号をデジタル信号と
して生成するパターン発生器と、前記パターン発生器に
よって生成されたデジタル信号をアナログ信号に変換す
るD/A変換ユニットを含んでもよい。前記D/A変換
ユニットは、インタリーブされた複数のD/Aコンバー
タと、前記複数のD/Aコンバータの出力を受ける周波
数補償ユニットとを含んでもよい。この構成で、前記周
波数補償ユニットの作用により、前記D/A変換ユニッ
ト全体として信号を伝送する周波数が、前記複数のD/
Aコンバータのそれぞれが信号を伝送する周波数よりも
高く設定される。
【0019】前処理ユニットはさらに、前記D/A変換
によって得られたアナログ信号の伝送路の一部を多重化
する信号経路多重化装置を含んでもよい。この信号経路
多重化装置は、複数の副経路を含む周波数低減ユニット
と、前記伝送路上において前記周波数低減ユニットと直
列に設けられた周波数補償ユニットとを含んでもい。こ
こで、前記周波数補償ユニットの作用により、前記信号
経路多重化装置全体として信号を伝送する周波数が、前
記複数の副経路において信号を伝送する周波数よりも高
く設定される。
【0020】なお以上の発明の概要は、本発明に必要な
すべての特徴を列挙したものではなく、当然ながら、こ
れらの特徴群のサブコンビネーションもまた発明となり
うる。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態を通じて
本発明を説明する。ただし、以下の実施の形態は特許請
求の範囲に記載された発明を限定するものではなく、ま
た実施の形態の中で説明されている特徴の組み合わせの
すべてが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【0022】実施の形態1 図3は実施の形態1に係る信号処理装置の構成を示す。
信号処理装置20はおもに、周波数補償ユニット28と
変調ユニット30からなる。周波数補償ユニット28は
第1波形整形器22と第2波形整形器52を含む。
【0023】第1波形整形器22は入力信号Xを1サン
プリング周期遅らせる遅延器24と、入力信号Xおよび
遅延器24の出力を加算する加算器26を含む。加算器
26の出力は加算器58によってディザ信号50と加算
される。ディザ信号50は変調ユニット30の動作をよ
り安定させるために付加される。それ自体は既知の技術
である。
【0024】変調ユニット30は第一の加算器32、第
二の加算器34、第一の遅延器36、第二の遅延器3
8、第三の遅延器40、第四の遅延器42、二値化回路
44を含む。第二の遅延器38の出力は第一の遅延器3
6に入力され、第四の遅延器42の出力は第三の遅延器
40に入力される。第一の加算器32はディザ信号に関
する加算器58の出力から第三の遅延器40の出力を減
算する。第二の加算器34は、第一の加算器32の出力
と第一の遅延器36の出力を加算する。第二の加算器3
4の出力は第二の遅延器38および二値化回路44に入
力される。二値化回路44の出力(仮に中間信号Y’と
名付ける)は第2波形整形器52および第四の遅延器4
2に入力される。
【0025】第2波形整形器52は加算器54と遅延器
56を含む。加算器54は二値化回路44の出力から遅
延器56の出力を減算する。加算器54の出力は出力信
号Yであり、この信号は遅延器56に入力される。
【0026】図4は図3の構成の一部をより実際の回路
素子に近い形に書き換えて示す。図4において図3と同
じ要素には同じ符号を与えている。図3における変調ユ
ニット30は、図4のごとく、ここではA/Dコンバー
タとして働くふたつのΣΔ変調器60、62と、それら
をインタリーブするインタリーブ回路64に相当する。
なぜなら、第一の加算器32および第二の加算器34に
与えられるフィードバックパスにそれぞれふたつの遅延
器が入っているため、変調ユニット30の変調作用が入
力信号Xの各符号Xiのうち、
【0027】X0,X2,X4,… という偶数符号列と、 X1,X3,X5,… という奇数符号列に独立して与えられるためである。図
3の変調ユニット30の各遅延器は1サンプリング周期
分信号を遅延させるため、ふたつの一次のΣΔ変調器6
0、62のサンプリングは、従来の1/2の周波数、す
なわち、fs/2で行われる。ΣΔ変調器60、62は
それぞれ、入力信号Xの偶数符号列と奇数符号列の一方
のみを処理するためである。
【0028】図3の変調ユニット30の最終的な出力は
偶数符号列、奇数符号列に関係なく一系統になっている
ため、これが現実の回路ではインタリーブ回路64に相
当する。インタリーブ回路64はサンプリング周波数f
sでふたつのΣΔ変調器60、62の出力を切り替えて
出力するセレクタなどである。
【0029】周波数補償ユニット28が必要な理由は、
変調ユニット30の構成を図1のものから変更したため
である。いま仮に周波数補償ユニット28がないと仮定
し、変調ユニット30に入力信号Xが与えられ、変調ユ
ニット30から出力信号Yが出力されるとすれば、変調
ユニット30の伝達特性は、
【0030】 Y=X+Q(1−z−2) (式1) となる。ただし、
【0031】z−n=exp(−j2πf・nT) j=√−1 T=1/fs で、fsはサンプリング周波数、fは信号周波数であ
る。また、Qは量子化ノイズである。
【0032】この式からわかるように、変調ユニット3
0だけでは、量子化ノイズがfs/2でサンプリングさ
れたことになり、ΣΔ変調器本来の機能を果たさない。
本来、量子化ノイズはfsでサンプリングされなければ
ならない。
【0033】一方、周波数補償ユニット28を設けた場
合を考える。まず第1波形整形器22の伝達関数H1
(z)は、
【0034】 H1(z)=1+z−1 (式2) と書ける。一方、第2波形整形器52の伝達関数H2
(z)は、
【0035】 H2(z)=1/(1+z−1) (式3) と書ける。式1、式2、式3を総合すれば、信号処理装
置20全体の伝達特性は、
【0036】Y=X+Q(1−z−1) となり、量子化ノイズも正しくサンプリング周波数fs
でサンプリングされる。
【0037】以上、信号処理装置20によれば、ΣΔ変
調器を2ウエイインタリーブし、そのサンプリング周波
数を半分に落とすことができる。逆にいえば、ΣΔ変調
のサンプリング周波数の上限をfsuとすれば、信号処
理装置20全体の信号処理または信号伝送の周波数は2
fsuまで可能になる。なお、2ウエイを越えるインタ
リーブのための装置、および2次以上のΣΔ変調器を用
いた装置は後述する。
【0038】図5は、図3の構成の一変形例である信号
処理装置70を示す。図6はその信号処理装置70をよ
り実際の回路素子に近い形で示している。図3では第1
波形整形器22は信号の伝送路上、変調ユニット30の
前に配置され、第2波形整形器は逆に後に配置された。
図5および図6の信号処理装置70はローパスフィルタ
72をさらに含み、信号の伝送路上、変調ユニット30
の後に、第2波形整形器52、ローパスフィルタ72、
第1波形整形器22がこの順に配置される。この構成で
は、量子化ノイズQがローパスフィルタ72でカットさ
れた後、所望の信号成分だけが第1波形整形器22によ
る波形整形を受ける。この信号処理装置70も図3と同
じ伝達特性をもち、同じ効果が得られる。
【0039】図5および図6の信号処理装置70のさら
なる利点は、デジタル処理に向く点にある。すなわち、
図3および図4の信号処理装置20では、第1波形整形
器22はアナログ信号に作用するアナログフィルタであ
るが、図5および図6の信号処理装置70における第1
波形整形器22は、デジタルフィルタでよい。したがっ
て、例えば図6の周波数補償ユニット28はすべてDS
P(デジタル信号プロセッサ)などに組み込むこともで
きる。
【0040】図7、図8、図9は、Nウエイのインタリ
ーブ、すなわちN個の変調器が並列に設けられた信号処
理装置の構成を示す。図7はその装置の第1波形整形器
22、図8は変調ユニット30、図9は第2波形整形器
52の構成である。ただし、N=2(nは自然数)で
ある。
【0041】図7のごとく、第1波形整形器22は加算
器と1個の遅延器からなる第1波形副整形器80と、加
算器と2個の遅延器からなる第2波形副整形器82と、
同様に加算器と2n−1個の遅延器からなる第n波形副
整形器84を含む。第2波形副整形器82と第n波形副
整形器84の間には、加算器と2i−1個の遅延器から
なる第i波形副整形器(ただし、i=3,4,…,n−
1)が存在する。
【0042】いずれの波形副整形器においても、入力側
に最も近い遅延器と加算器は同じ信号を入力し、入力側
から最も遠い遅延器の出力が加算器に与えられる。第1
波形整形器22は入力信号Xを入力し、中間信号X’を
出力する。第1波形整形器22の伝達関数H1(z)
は、 H1(z)=(1+z−1)(1+z−2)…(1+z−N/2) (式4 ) と書ける。
【0043】図8のごとく、変調ユニット30におい
て、2個の遅延器からなる第1遅延器群90が第2の
加算器34の出力と入力の間におかれている。また、2
個の遅延器からなる第2遅延器群92が二値化回路4
4の出力と第1の加算器32の間におかれている。変調
ユニット30は中間信号X’を入力し、別の中間信号
Y’を出力する。変調ユニット30の伝達特性は、
【0044】 Y’=X’+Q(1−z−N) (式5) である。なお、変調ユニット30の前におかれるディザ
信号に関する加算器は図面上省略する。
【0045】図9のごとく、第2波形整形器52は加算
器と1個の遅延器からなる第1波形副整形器100と、
加算器と2個の遅延器からなる第2波形副整形器102
と、同様に加算器と2n−1個の遅延器からなる第n波
形副整形器104を含む。第2波形副整形器102と第
n波形副整形器104の間には、加算器と2i−1個の
遅延器からなる第i波形副整形器(ただし、i=3,
4,…,n−1)が存在する。いずれの波形副整形器に
おいても、加算器が最初に信号を入力する。また、加算
器の出力は一連の遅延器の最初のものに与えられ、最後
の遅延器の出力が加算器に与えられる。第2波形整形器
52は中間信号Y’を入力し、出力信号Yを出力する。
第2波形整形器52の伝達関数H2(z)は、 H2(z)=1/(1+z−1)(1+z−2)…(1+z−N/2) ( 式6) と書ける。
【0046】以上、式4、式5、式6を総合すれば、こ
の信号処理装置全体の伝達特性はやはり、 Y=X+Q(1−z−1) となり、量子化ノイズが正しくサンプリング周波数fs
でサンプリングされる。この装置によれば、ΣΔ変調器
をNウエイインタリーブし、その部分の処理周波数をf
s/Nに落とすことができる。
【0047】なお、図3の構成に対する図5の構成と同
様、図7から図9による構成についても別の構成が可能
である。すなわち、ローパスフィルタを追加し、信号の
伝送路上、変調ユニット30の後に、第2波形整形器5
2、ローパスフィルタ72、第1波形整形器22をこの
順に配置すればよい。
【0048】図10はふたつの2次ΣΔ変調器120、
122を並列に設けた信号処理装置の構成を示す。この
装置の第1波形整形器22は遅延器と加算器を2組も
ち、同様に第2波形整形器52も遅延器と加算器を2組
もつ。これら組の数はΣΔ変調器の次数と同じにすれば
よい。したがって、一般にm次(mは自然数)のΣΔ変
調器をNウエイインタリーブする場合、第1波形整形器
22の伝達関数H1(z)は、
【0049】H1(z)=(1+z−1(1+z
−2…(1+z−N/2 とし、第2波形整形器52の伝達関数はH2(z)は、 H2(z)=1/(1+z−1(1+z−2
(1+z−N/2 とすればよい。
【0050】以上、実施の形態1の各信号処理装置によ
れば、たとえば高精度、高速のA/Dコンバータを実現
することができる。
【0051】実施の形態2 実施の形態1では変調器のインタリーブを考えた。実施
の形態2ではさらに広く、信号伝送路のインタリーブを
考える。実施の形態1で非常に高速のサンプリングがな
されるため、実施の形態1によってノイズシェイピング
が施された信号を伝送する際、その経路上に実施の形態
2に係る装置をおくことが考えられる。
【0052】図11は実施の形態2に係る信号処理装置
130の回路を示す。この信号処理装置130は、実施
の形態1またはその他の高速なΣΔ変調器、とくにΣΔ
D/Aコンバータの出力信号を入力する。この信号はア
ナログ信号を模するが、各サンプリングタイミングで
は、「0」と「1」のようなデジタル値をとる。同図で
はその信号を入力信号「X」と表記している。
【0053】信号処理装置130は信号の伝送路を4ウ
エイインタリーブする。信号処理装置130はおもに、
信号の伝送路の一部を多重化して設けられた複数の副経
路を含む周波数低減ユニット150と、伝送路上、周波
数低減ユニット150と直列に設けられた周波数補償ユ
ニット172と、周波数補償ユニット172の後段に設
けられたローパスフィルタ174を含む。
【0054】周波数低減ユニット150は、入力信号X
を4経路に振り分ける分配器180と、4経路に振り分
けられた入力信号Xをそれぞれ異なるタイミングでラッ
チする4個のフリップフロップ182、184、18
6、188を含む。4個のフリップフロップ182、1
84、186、188にはそれぞれクロックCK1、C
K2、CK3、CK4が入力されている。これら4つの
クロックの周波数は、それぞれ信号伝送周波数fsの1
/4であり、クロックの位相は90°ずつずらされてい
る。したがって、4個のフリップフロップ182、18
4、186、188はそれぞれ、入力信号Xの各符号X
i(i=0,1,2,…)のうち、
【0055】X0,X4,X8,… X1,X5,X9,…, X2,X6,X10,… X3,X7,X11,… のいずれかを伝送する。
【0056】周波数補償ユニット172は、それぞれフ
リップフロップ182、184、186、188の出力
に一端が接続された抵抗192、194、196、19
8を含む。それら4個の抵抗192、194、196、
198の他端は結合され、増幅器200の負入力に接続
される。増幅器200の出力と負入力の間には容量20
2と抵抗204が接続される。したがって、周波数補償
ユニット172全体は、4個のフリップフロップ18
2、184、186、188の出力をアナログ的に加算
する加算器として働く。
【0057】増幅器200の出力はローパスフィルタ1
74に入力される。このローパスフィルタ174によっ
て、高い周波数側に偏った量子化ノイズがカットされ
る。ローパスフィルタ174の出力が出力信号Yとな
る。
【0058】この構成によれば、信号の伝送路がインタ
リーブされて4つの副経路に分割され、各副経路におけ
る伝送の周波数を従来の1/4に緩和することができ
る。入力信号Xと出力信号Yは波形上一致せず、とくに
出力信号Yは0、1、2、3、4のいずれかの値をと
る。出力信号Yの周波数特性は、ΣΔ変調による量子化
ノイズの周波数特性に対し、その1/4の周波数に関す
るアパーチャ効果として知られる特性が加わったもので
あり、ΣΔ変調器のノイズシェイピング機能に多少影響
を与える。しかしながら、実際に必要な信号の周波数帯
域におけるS/N比にはさして影響せず、実用上問題が
ないことが多い。
【0059】この信号処理装置130は、たとえば周波
数低減ユニット150と周波数補償ユニット172が物
理的にある程度遠くて高速の信号伝送が望ましくない場
合などにきわめて有用である。実際に半導体デバイス試
験装置では、たとえば周波数低減ユニット150を試験
装置本体側に配し、周波数補償ユニット172を半導体
デバイスマウンタ側に配し、両者をケーブルやコネクタ
等で接続することがある。本実施の形態はそうした用途
に最適である。
【0060】図12、図13、図14は、図11の信号
処理装置130に現れるアパーチャ効果を除去すること
の可能な変形例を示す。
【0061】図12は一般に「パーシャルレスポンス」
の名で知られる信号伝送方式を示す。図11の信号処理
装置130でアパーチャ効果が生ずる理由は、符号間干
渉にある。すなわち、4個のフリップフロップ182、
184、186、188のうちひとつは、他のフリップ
フロップとは無関係に、
【0062】X0,X4,X8,…を伝送すべきである
が、図11のように4個のフリップフロップ182、1
84、186、188の出力を単純にアナログ加算する
場合、たとえばX4の伝送にX3またはX5など他の符
号が影響する。これが符号間干渉である。
【0063】パーシャルレスポンス方式は、信号の伝送
途中ではあえて符号間干渉を許し、伝送路の最後で符号
間干渉をキャンセルする。図12のごとくこの方式は、
第1の加算器220と、第1の遅延器222と、第2の
加算器226と、第2の遅延器224を含む。ここでは
入力信号Xは「1」と「0」の二値をとると仮定してい
る。第1の加算器220は入力信号Xと第1の遅延器2
22の出力を入力する。ただし、ここでは排他的論理和
が計算される。なお、入力信号Xが「1」と「−1」を
とる場合は、第1の加算器220は排他的論理和の代わ
りにふたつの入力の論理積を計算すればよい。これは第
2の加算器226についても同様である。
【0064】第1の加算器220の出力は、第1の遅延
器222、第2の加算器226および第2の遅延器22
4に入力される。第2の遅延器224の出力は第2の加
算器226に入力される。第2の加算器226の出力が
出力信号Yとなる。
【0065】この構成において、まず第1の加算器22
0および第1の遅延器222により、入力信号Xに一種
の積分を施す。これにより、符号間干渉が生じる。一
方、伝送路は第2の加算器226と第2の遅延器224
からなる一種の微分特性を有する。この結果、出力信号
Yからは符号間干渉による成分が除去されるというもの
である。
【0066】図12のパーシャルレスポンス方式は、符
号間干渉の除去を主眼とし、周波数の低減は考慮してい
ない。すなわち、第1の加算器220、第1の遅延器2
22、第2の加算器226、第2の遅延器224はすべ
て一定のサンプリング周波数fsで動作する。
【0067】図13はこのパーシャルレスポンス方式の
考え方と信号路の2ウエイインタリーブを組み合わせた
信号処理装置の概略構成図である。同図において、新た
にインタリーブ回路230が設けられ、ここで第1の加
算器220の出力が2ウエイインタリーブされる。イン
タリーブ回路230として、図11の周波数低減ユニッ
ト150を2ウエイにしたものが利用できる。インタリ
ーブされた一方の符号列Xk(k:偶数)は第2の加算
器226に入力され、他方の符号列Xk(k:奇数)は
第2の遅延器224を経て第2の加算器226に入力さ
れる。
【0068】この構成により、インタリーブ回路230
以降、第2の加算器226までの伝送路における信号の
伝送周波数を図12の場合の半分、すなわちfs/2に
緩和することができ、かつアパーチャ効果のない信号伝
送が実現する。
【0069】図14はパーシャルレスポンス方式を用い
た4ウエイの信号処理装置250の構成を示す。信号処
理装置250はおもに、信号の伝送路の一部を多重化し
て設けられた複数の副経路、ここでは4ウエイに対応し
て4個の副経路152、156、160、164を含む
周波数低減ユニット150と、周波数低減ユニット15
0と直列に設けられた周波数補償ユニット172を含
む。また、信号の複数の副経路間の干渉を制御する干渉
制御ユニット132が周波数低減ユニット150の前に
設けられている。干渉制御ユニット132の後にローパ
スフィルタ174が設けられている。
【0070】干渉制御ユニット132は、図13の第1
の加算器220と第1の遅延器222による積分回路を
4ウエイに拡張したものに対応する。干渉制御ユニット
132は、第1の加算器134、第2の加算器136、
第3の加算器138、第1の遅延器140、第2の遅延
器142、第3の遅延器144を含む。入力信号Xが
「1」「0」の二値をとる場合、これらの加算器はそれ
ぞれふたつの入力の排他的論理和を求める。二値化回路
信号Xが「1」「−1」の二値をとる場合はふたつの入
力の論理積を計算する。
【0071】入力信号Xは第1の加算器134に与えら
れる。第1の加算器134の出力は第2の加算器136
に入力される。第2の加算器136の出力は第3の加算
器138に入力される。第3の加算器138の出力は周
波数低減ユニット150と第3の遅延器144に入力さ
れる。
【0072】第3の遅延器144の出力は第3の加算器
138と第2の遅延器142に入力される。第2の遅延
器142の出力は第2の加算器136と第1の遅延器1
40に入力される。第1の遅延器140の出力は第1の
加算器134に入力される。なお、一般にNウエイ(N
は2以上の整数)の副経路を設ける場合は、図14の例
にならい、干渉制御ユニット132をN個の加算器とN
個の遅延器のラダーで構成すればよい。
【0073】周波数低減ユニット150は図13のイン
タリーブ回路230を4ウエイに拡張したものに相当す
る。周波数低減ユニット150の第1の副経路152は
遅延器を含まない。第2の副経路156はひとつの遅延
器154を含む。第3の副経路160はふたつの遅延器
158を含む。第4の副経路164は3個の遅延器16
2を含む。すなわち、これら複数の副経路はそれぞれ異
なる数の遅延素子を、いずれのふたつの副経路において
も共用することのない状態で含んでいる。一般にNウエ
イの副経路を設ける場合、それぞれの副経路の伝達関数
Fi(z)(i=0,1,…,N−1)は、 Fi(z)=z−i と書ける。
【0074】周波数補償ユニット172は、図13の第
2の加算器226と第2の遅延器224を4ウエイに拡
張したものに相当する。周波数補償ユニット172は、
第1の副経路152、第2の副経路156、第3の副経
路160、第4の副経路164の終端に現れる信号の排
他的論理和を求める加算器170を含む。ただし、入力
信号Xが「1」「−1」の場合は、いままで同様これを
論理積を計算する演算器に置き換える。
【0075】以上、信号処理装置250によれば、4つ
の副経路152、156、160、164における信号
伝送の周波数をサンプリング周波数fsの1/4に緩和
することができる。一般にNウエイインタリーブする場
合は、周波数を1/Nに緩和することができる。
【0076】実施の形態3 実施の形態1と実施の形態2の信号処理装置を用いた半
導体デバイス試験装置の例を述べる。ここでは被試験デ
バイスとしてアナログデバイスを考える。ただし、実施
の形態1または実施の形態2のいずれか一方を含む構成
であっても何ら差し支えはない。
【0077】図15は実施の形態3に係る半導体デバイ
ス試験装置300の構成図である。半導体デバイス試験
装置300は、被試験デバイス312に与える試験信号
を生成する前処理ユニット302と、その試験信号の印
加に伴って被試験デバイス312から出力された信号を
検査する後処理ユニット314を含む。前処理ユニット
302と後処理ユニット後処理回路314が主試験ユニ
ット320を構成する。
【0078】前処理ユニット302は、試験信号をデジ
タル信号として生成するパターン発生器304と、その
ためのタイミング信号を生成するタイミング発生器31
0と、パターン発生器304によって生成されたデジタ
ル信号をアナログ信号に変換するD/A変換ユニット3
06と、変換の結果得られたアナログ信号の伝送路の一
部を多重化する信号経路多重化装置308を含む。
【0079】D/A変換ユニット306は、たとえば図
6の構成を含み、具体的にはインタリーブされた複数の
ΣΔ変調器60、とくにD/Aコンバータと、それら複
数のΣΔ変調器60の出力を受ける周波数補償ユニット
28とを含む。ここで、周波数補償ユニット28の作用
により、D/A変換ユニット306全体として信号を伝
送する周波数が、複数のΣΔ変調器60のそれぞれが信
号を伝送する周波数よりも高く設定できる。
【0080】信号経路多重化装置308は、たとえば図
14の構成を含み、具体的には干渉制御ユニット132
と、複数の副経路をもつ周波数低減ユニット150と、
周波数補償ユニット172とローパスフィルタ174を
含む。ここで、周波数補償ユニット172の作用によ
り、信号経路多重化装置308全体として信号を伝送す
る周波数が、複数の副経路において信号を伝送する周波
数よりも高く設定できる。以上の前処理ユニット302
の構成により、被試験デバイスにアナログ信号の試験信
号が与えられる。
【0081】一方、後処理ユニット後処理回路314
は、被試験デバイス312から出力されたアナログ信号
をデジタル信号に戻すA/Dコンバータ318と、その
デジタル信号と期待信号を比較することによって被試験
デバイスを検証する試験結果検証装置316を含む。期
待信号はパターン発生器304から試験結果検証装置3
16へ与えられる。
【0082】なお、実施の形態1および実施の形態2の
信号処理装置は、前処理ユニット302の中にあると限
定する必要はなく、信号の伝送路上の任意の箇所に設け
ることができる。
【0083】以上、この半導体デバイス試験装置300
によれば、試験信号を最初デジタル信号で生成すること
ができ、また、試験結果をデジタル信号によって検証す
ることができるため、処理が比較的容易になる。しか
も、被試験デバイス312には非常に高速なアナログ信
号の入出力が可能であり、高性能かつ汎用性の高い半導
体デバイス試験装置を提供することができる。
【0084】いくつかの実施の形態を説明したが、本発
明の技術的な範囲はこれらの記載には限定されない。こ
れらの実施の形態に多様な変更または改良を加えうるこ
とは当業者には理解されるところである。そうした変更
または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ
得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【0085】
【発明の効果】本発明の信号処理装置によれば、信号の
伝送または処理を高速化することができる。本発明の半
導体デバイス試験装置によれば、高速デバイスの試験が
実現する。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来一般的な一次のΣΔ変調器の構成図であ
る。
【図2】図1のΣΔ変調器の動作を示す図である。
【図3】実施の形態1の信号処理装置の構成図である。
【図4】図3の信号処理装置の一部をより実際の回路素
子に近い形で示す図である。
【図5】図3の構成の一変形例である信号処理装置の構
成図である。
【図6】図5の信号処理装置の一部をより実際の回路素
子に近い形で示す図である。
【図7】Nウエイのインタリーブを実現する信号処理装
置の第1波形整形器の構成図である。
【図8】Nウエイのインタリーブを実現する信号処理装
置の変調ユニットの構成図である。
【図9】Nウエイのインタリーブを実現する信号処理装
置の第2波形整形器の構成図である。
【図10】2次のΣΔ変調器を2ウエイインタリーブし
た信号処理装置の構成図である。
【図11】実施の形態2に係る信号処理装置の回路図で
ある。
【図12】パーシャルレスポンスを利用する信号伝送方
法の説明図である。
【図13】パーシャルレスポンス方式の考え方と信号路
のインタリーブを組み合わせた信号処理装置の概略構成
図である。
【図14】パーシャルレスポンス方式を用い、4ウエイ
インタリーブを実現する信号処理装置の構成図である。
【図15】実施の形態3に係る半導体デバイス試験装置
の構成図である。
【符号の説明】
20,70,130,250 信号処理装置 22 第1波形整形器 24,36,38,40,42,56,140,14
2,144,154,158,162,222,226
遅延器 26,32,34,54,58,134,136,13
8,170,220,224 加算器 28,150,172 周波数補償ユニット 30 変調ユニット 44 二値化回路 52 第2波形整形器 60,62 ΣΔ変調器 64,230 インタリーブ回路 72,174 ローパスフィルタ 80,100 第1波形副整形器 82,102 第2波形副整形器 84,104 第n波形副整形器 120,122 2次ΣΔ変調器 132 干渉制御ユニット 152,156,160,164 副経路 182,184,186,188 フリップフロップ 300 半導体デバイス試験装置 302 前処理ユニット 304 パターン発生器 306 D/A変換ユニット 308 信号経路多重化装置 314 後処理ユニット 320 主試験ユニット

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の基準周波数で信号を処理および伝
    送する装置であって、 信号の伝送路上に並列に設けられ、それぞれが信号を量
    子化した際に生じる量子化ノイズをシェイピングする機
    能をもつ複数の変調器を含む変調ユニットと、前記伝送
    路上に前記変調ユニットと直列に設けられた周波数補償
    ユニットとを含み、 前記変調ユニットは前記基準周波数よりも低い第二の周
    波数をもとに変調を行う一方、前記周波数補償ユニット
    は前記量子化ノイズのシェイピングが前記基準周波数を
    もとに行われるよう周波数に関する補償処理を行うこと
    を特徴とする信号処理装置。
  2. 【請求項2】 前記周波数補償ユニットは、第一の波形
    整形器と第二の波形整形器を含み、前記第一の波形整形
    器の伝達関数と前記第二の波形整形器の伝達関数が逆数
    であることを特徴とする請求項1に記載の信号処理装
    置。
  3. 【請求項3】 前記変調ユニットは、N個(N=2
    ただしnは自然数)の変調器を含み、前記第二の周波数
    は前記基準周波数の1/Nであることを特徴とする請求
    項2に記載の信号処理装置。
  4. 【請求項4】 前記N個の変調器はそれぞれm次(mは
    自然数)のΣΔ変調器であることを特徴とする請求項3
    に記載の信号処理装置。
  5. 【請求項5】 前記第一の波形整形器の伝達関数H1
    (z)は、 H1(z)=(1+z−1(1+z−2…(1
    +z−N/2 であり、前記第二の波形整形器の伝達関数はH2(z)
    は、 H2(z)=1/(1+z−1(1+z−2
    (1+z−N/2 であることを特徴とする請求項4に記載の信号処理装
    置。
  6. 【請求項6】 前記第一の波形整形器は前記伝送路上、
    前記変調ユニットの前に配置され、前記第二の波形整形
    器は前記伝送路上、前記変調ユニットの後に配置される
    ことを特徴とする請求項2から5のいずれかに記載の信
    号処理装置。
  7. 【請求項7】 ローパスフィルタをさらに含み、 前記伝送路上、前記変調ユニットの後に、前記第二の波
    形整形器、前記ローパスフィルタ、前記第一の波形整形
    器がこの順に配置されることを特徴とする請求項2から
    5のいすれかに記載の信号処理装置。
  8. 【請求項8】 所定の基準周波数で信号を処理および伝
    送する装置であって、 信号の伝送路の一部を多重化して設けられた複数の副経
    路を含む周波数低減ユニットと、 前記伝送路上において前記周波数低減ユニットと直列に
    設けられた周波数補償ユニットとを含み、 前記複数の副経路は、前記基準周波数よりも低い第二の
    周波数をもとにそれぞれ異なるタイミングで前記信号を
    伝送する一方、前記周波数補償ユニットは前記異なるタ
    イミングで伝送された信号を、その伝送が前記基準周波
    数をもとに行われる形に統合することを特徴とする信号
    処理装置。
  9. 【請求項9】 前記周波数低減ユニットは、前記信号と
    してΣΔ変調器の出力信号を受けることを特徴とする請
    求項8に記載の信号処理装置。
  10. 【請求項10】 前記複数の副経路はそれぞれ異なる数
    の遅延素子を、いずれのふたつの副経路においても共用
    することのない状態で含み、前記遅延素子の数に応じて
    前記タイミングが定められることを特徴とする請求項
    8、9のいずれかに記載の信号処理装置。
  11. 【請求項11】 前記周波数低減ユニットは、N個(N
    は2以上の整数)の副経路を含み、前記第二の周波数は
    前記基準周波数の1/Nであることを特徴とする請求項
    8から10のいずれかに記載の信号処理装置。
  12. 【請求項12】 前記N個の副経路それぞれの伝達関数
    Fi(z)(i=0,1,…,N−1)はFi(z)=
    −i であることを特徴とする請求項11に記載の信
    号処理装置。
  13. 【請求項13】 前記周波数補償ユニットは、前記複数
    の副経路の終端に現れる複数の信号をアナログ的に加算
    する加算器であることを特徴とする請求項8から12の
    いずれかに記載の信号処理装置。
  14. 【請求項14】 前記周波数補償ユニットは、前記複数
    の副経路の終端に現れる複数の信号の排他的論理和を求
    める演算器であることを特徴とする請求項8から12の
    いずれかに記載の信号処理装置。
  15. 【請求項15】 前記周波数補償ユニットは、前記複数
    の副経路の終端に現れる複数の信号の論理積を求める乗
    算器であることを特徴とする請求項8から12のいずれ
    かに記載の信号処理装置。
  16. 【請求項16】 前記伝送路において前記周波数補償ユ
    ニットの後にローパスフィルタをさらに設けたことを特
    徴とする請求項8から15のいずれかに記載の信号処理
    装置。
  17. 【請求項17】 前記信号の前記複数の副経路間の干渉
    を制御する干渉制御ユニットをさらに設けたことを特徴
    とする請求項8から16のいずれかに記載の信号処理装
    置。
  18. 【請求項18】 前記干渉制御ユニットはパーシャルレ
    スポンス方式に基づいて構成されることを特徴とする請
    求項17に記載の信号処理装置。
  19. 【請求項19】 半導体デバイスを試験する装置であっ
    て、 被試験デバイスに試験信号を印加し、前記被試験デバイ
    スから出力された信号を検査する主試験ユニットを含
    み、 前記主試験ユニットにおいて、前記試験信号を処理する
    経路の一部が多重化され、かつ前記多重化された箇所に
    おいて前記試験信号を処理するための周波数が、前記主
    試験ユニット全体として前記試験信号を処理するための
    基準周波数よりも低く設定されることを特徴とする半導
    体デバイス試験装置。
  20. 【請求項20】 前記主試験ユニットは、被試験デバイ
    スに与える試験信号を生成する前処理ユニットを含み、 前記前処理ユニットは、 前記試験信号をデジタル信号として生成するパターン発
    生器と、 前記パターン発生器によって生成されたデジタル信号を
    アナログ信号に変換するD/A変換ユニットを含み、 前記D/A変換ユニットは、 インタリーブされた複数の変調器と、 前記複数の変調器の出力を受ける周波数補償ユニットと
    を含み、 前記周波数補償ユニットの作用により、前記D/A変換
    ユニット全体として信号を伝送する周波数が、前記複数
    の変調器のそれぞれが信号を伝送する周波数よりも高く
    設定されることを特徴とする請求項19に記載の半導体
    デバイス試験装置。
  21. 【請求項21】 前記主試験ユニットは、被試験デバイ
    スに与える試験信号を生成する前処理ユニットを含み、 前記前処理ユニットは、 前記試験信号をデジタル信号として生成するパターン発
    生器と、 前記パターン発生器によって生成されたデジタル信号を
    アナログ信号に変換するD/A変換ユニットと、 前記アナログ信号の伝送路の一部を多重化する信号経路
    多重化装置とを含み、 前記信号経路多重化装置は、 複数の副経路を含む周波数低減ユニットと、 前記伝送路上において前記周波数低減ユニットと直列に
    設けられた周波数補償ユニットとを含み、 前記周波数補償ユニットの作用により、前記信号経路多
    重化装置全体として信号を伝送する周波数が、前記複数
    の副経路において信号を伝送する周波数よりも高く設定
    されることを特徴とする請求項19、20のいずれかに
    記載の半導体デバイス試験装置。
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