JP2001013089A - Ｘ線断層撮像装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 適正な撮像条件で断層像を撮像する。 【解決手段】 Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検
査体Ｍとを所望の位置関係にして２次元透視像と断層像
とを撮像する。２次元透視像は、被検査体の１方向から
の２次元Ｘ線透過データを２次元Ｘ線検出部２で検出し
て得る。断層像は、被検査体ＭにＸ線を照射しながらタ
ーンテーブル３を回転させ、２次元Ｘ線検出部２で被検
査体Ｍの周回方向からのＸ線透過データを収集し、その
Ｘ線透過データを用いて断層像再構成部１４が指定され
た断層幅の断層像を再構成して得る。透視像上断層領域
算出部１３は、２次元透視像上において、断層像の断層
幅方向の領域がどこになるかを求め、画像処理部１５
は、求めた２次元透視像上における断層像の断層領域を
２次元透視像に重ねて画像モニタ１８に表示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、被検査体の断層
像を撮像する産業用や医療用などのＸ線断層撮像装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、産業用のＸ線断層撮像装置は、
ターンテーブル上に載置された被検査体（検査対象物）
を、対向配置されたＸ線管とＸ線検出器との間に位置さ
せ、ターンテーブルを回転させて、被検査体の周回方向
からのＸ線透過データを収集し、それらＸ線透過データ
を用いて周知の演算方法により断層像を再構成するよう
に構成している。

【０００３】しかしながら、単に被検査体の断層像を撮
像するだけでは、被検査体のどの部位の断層像を撮像し
たのかが操作者に判り難くかった。そのため、従来装置
には、予め得られた被検査体の２次元透視像をモニタに
表示し、操作者が指定して、断層像の中心位置（断層像
の断層幅の中心位置）をその２次元透視像に重畳表示さ
せて、断層像の位置を確認できるように構成されたもの
もある。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来装
置は、２次元透視像と断層像とを別々の装置で撮像して
おり、断層像の断層幅方向の領域が２次元透視像上にお
いてどの領域になるのかを正確に特定することができ
ず、断層像の中心位置を２次元透視像に重畳表示させて
いるだけであった。そのため、被検査体のどの領域（断
層幅方向の領域）の断層像を撮像するのかを操作者が把
握することができず、適正な撮像条件で断層像を撮像す
る上で弊害になっていた。また、断層像を撮像しても、
それが被検査体のどの領域を撮像したものであるのかを
操作者は把握できず、断層像を観察して検査などを行う
上で弊害にもなっていた。

【０００５】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、適正な撮像条件で断層像を撮像した
り、断層像を検査などに有効に利用したりすることがで
きるＸ線断層撮像装置を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、この発明は、（ａ）被検査体にＸ線を照射するＸ線
照射手段と、（ｂ）前記Ｘ線照射手段と対向配置され、
前記被検査体のＸ線透過データを２次元的に検出する２
次元Ｘ線検出手段と、（ｃ）前記被検査体の周回方向か
らのＸ線透過データを収集するために、前記Ｘ線照射手
段及び前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体とを相対
的に回転させる回転手段と、（ｄ）前記Ｘ線照射手段及
び前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体とを相対的に
回転させて収集された前記被検査体の周回方向からの各
Ｘ線透過データを用いて、指定された断層幅の断層像を
再構成する断層像再構成手段と、（ｅ）画像を表示する
画像表示手段と、（ｆ）前記被検査体の２次元Ｘ線透過
データから得られた２次元透視像上において、前記断層
像の断層幅方向の領域がどこになるかを求める透視像上
断層領域算出手段と、（ｇ）前記透視像上断層領域算出
手段により求めた２次元透視像上における前記断層像の
断層領域を、前記得られた２次元透視像上に重ねて前記
画像表示手段に表示する画像重畳表示手段とを備えたこ
とを特徴とするものである。

【０００７】〔作用〕この発明の作用は次のとおりであ
る。Ｘ線照射手段及び２次元Ｘ線検出手段と被検査体と
の位置関係を所望の位置関係にして、その位置関係で２
次元透視像と断層像とを撮像する。

【０００８】２次元透視像は、上記位置関係において、
被検査体にＸ線を照射し、Ｘ線を照射した方向からの被
検査体の２次元Ｘ線透過データを２次元Ｘ線検出手段で
検出して得る。

【０００９】断層像は、上記位置関係において、Ｘ線照
射手段から被検査体にＸ線を照射しながら、回転手段に
より、Ｘ線照射手段及び２次元Ｘ線検出手段と被検査体
とを相対的に回転させ、２次元Ｘ線検出手段で、被検査
体の周回方向からのＸ線透過データを収集し、断層像再
構成手段により、収集された被検査体の周回方向からの
各Ｘ線透過データを用いて、指定された断層幅の断層像
を再構成して得る。

【００１０】Ｘ線照射手段及び２次元Ｘ線検出手段と被
検査体との位置関係と、撮像する断層像の断層幅（被検
査体内における断層幅）が決まれば、幾何学的に、２次
元透視像（２次元Ｘ線検出手段の検出面）上で被検査体
内の断層幅がどこになるかを計算で求めることができ
る。透視像上断層領域算出手段は、上記２次元透視像上
において、上記断層像の断層幅方向の領域がどこになる
かを求め、画像重畳表示手段は、透視像上断層領域算出
手段により求めた２次元透視像上における断層像の断層
領域を、上記２次元透視像上に重ねて画像表示手段に表
示する。

【００１１】なお、２次元透視像は、静止画で撮像して
もよいし、動画で撮像してもよい。動画で撮像する場合
には、動画を構成する各フレームの２次元透視像上にそ
れぞれ、断層像の断層領域を重ねて表示してもよい。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を説明する。図１はこの発明の一実施例に係
るＸ線断層撮像装置の概略構成を示す図であり、図２は
Ｘ線管と２次元Ｘ線検出部及びターンテーブルの平面図
である。なお、各図には、各構成機器などの位置関係を
示すためのＸＹＺ直交座標を付している。

【００１３】この実施例は、被検査体（検査対象物）Ｍ
の断層像を撮像するための産業用のＸ線断層撮像装置で
あり、Ｘ線照射手段に相当するＸ線管１と２次元Ｘ線検
出手段に相当する２次元Ｘ線検出部２とが対向配置さ
れ、これらＸ線管１と２次元Ｘ線検出部２との間にター
ンテーブル３に載置された被検査体Ｍを配置できるよう
に構成されている。

【００１４】Ｘ線管１は、図示を省略したＸ線高電圧発
生装置から所要の電力が供給されて、２次元Ｘ線検出部
２に向けて放射状のＸ線を照射するように構成されてい
る。このＸ線管１は固定されている。

【００１５】２次元Ｘ線検出部２は、Ｘ線管１から照射
され、被検査体Ｍを透過したＸ線透過データを２次元的
に検出して可視光の２次元透視像に変換するイメージイ
ンテンシファイア（Ｉ．Ｉ）４や、Ｉ．Ｉ４で変換され
た可視光の２次元透視像を、図示を省略した光学系を介
して撮像するＣＣＤカメラなどの撮像器５などを備えて
構成され、被検査体Ｍの２次元透視データを検出（２次
元透視像を撮像）して電気信号（ＮＴＳＣ信号などのビ
デオ信号）で出力するように構成されている。２次元Ｘ
線検出部２から出力された電気信号は、Ａ／Ｄ（アナロ
グtoデジタル）変換器６によりデジタルデータに変換さ
れた後、メモリ７に記憶される。

【００１６】また、２次元Ｘ線検出部２は、スライド移
動機構８によって図のＸ方向へのスライド移動だけが行
えるように構成され、Ｘ線管１に対して接離可能になっ
ている。スライド移動機構８は移動回転制御部９によっ
て制御される。移動回転制御部９は、操作器１０から設
定された移動情報に基づき、スライド移動機構８を動作
させ、設定された位置に２次元Ｘ線検出部２を位置させ
る。

【００１７】ターンテーブル３は、３次元移動機構１１
によって、互いに直交する３次元方向（図のＸＹＺ方
向）に移動可能に構成され、ターンテーブル３に載置さ
れた被検査体Ｍを、Ｘ線管１と２次元Ｘ線検出部２との
間の任意の位置に配置できるように構成されている。ま
た、ターンテーブル３は、回転手段に相当するモーター
１２によってＺ方向に平行な軸芯Ｊ周りで回転可能に構
成されている。３次元移動機構１１とモーター１２も移
動回転制御部９によって制御される。移動回転制御部９
は、操作器１０から設定された移動情報に基づき、３次
元移動機構１１を動作させ、設定された位置にターンテ
ーブル３を移動させてターンテーブル３に載置された被
検査体Ｍを任意の撮像位置に配置させる。また、移動回
転制御部９は、操作器１０からの指示により、モーター
１２を駆動して、ターンテーブル３とともに被検査体Ｍ
を軸芯Ｊ周りで回転させる。

【００１８】操作器１０からは断層像を撮像する際の断
層幅も設定できるようになっている。操作器１０から設
定された断層幅や、上述したスライド移動機構８や３次
元移動機構１１に対する移動情報は、透視像上断層領域
算出手段に相当する透視像上断層領域算出部１３と断層
像再構成手段に相当する断層像再構成部１４とに与えら
れる。

【００１９】また、操作器１０からは２次元透視像の撮
像指示や、断層像の撮像指示なども行える。

【００２０】操作器１０から２次元透視像の撮像指示が
与えられると、２次元透視像が撮像される一方、透視像
上断層領域算出部１３は、与えられた移動情報や断層幅
に基づき、後述するような算出方法により、上記撮像し
た２次元透視像上において、断層像の断層幅方向の領域
がどこになるかを求めて画像処理部１５に与える。画像
処理部１５は、２次元Ｘ線検出部２で検出され、メモリ
７に記憶された２次元透過データ（２次元透視像）を読
み出し、その透視像に透視像上断層領域算出部１３から
与えられた断層像の断層領域を重ね合わせた画像を作成
する。この画像は、Ｄ／Ａ（デジタルtoアナログ）変換
器１６でアナログ信号に変換された後、表示制御部１７
に制御されて画像表示手段に相当する画像モニタ１８に
表示される。なお、画像処理部１５と表示制御部１７と
がこの発明における画像重畳表示手段を構成する。

【００２１】また、操作器１０から断層像の撮像指示が
与えられると、モーター１２が駆動され、ターンテーブ
ル３が回転されて被検査体Ｍの周回方向からの２次元透
過データが収集され、その収集を終えると、断層像再構
成部１４は、２次元Ｘ線検出部２で検出され、メモリ７
に記憶された被検査体Ｍの周回方向からの各（２次元）
Ｘ線透過データを読み出し、これらデータや与えられた
移動情報や断層幅などに基づき、後述するような算出方
法により、断層像を再構成する。再構成された断層像
は、Ｄ／Ａ変換器１６、表示制御部１７を経て画像モニ
タ１８に表示される。

【００２２】なお、メモリ７や移動回転制御部９、操作
器１０、透視像上断層領域算出部１３、断層像再構成部
１４、画像処理部１５などは、例えば、パーソナルコン
ピューターで構成され、各部が実行する処理制御は、ソ
フトウエアで実現されている。

【００２３】次に、上記実施例装置の動作を説明する。
まず、操作者は、ターンテーブル３に被検査体Ｍを載置
し、操作器１０からスライド移動機構８や３次元移動機
構１１に対する移動情報を設定し、Ｘ線管１及び２次元
Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの位置関係を所望の位置関
係に調節する。また、操作者は、断層像を撮像する際の
断層幅（この断層幅は、被検査体Ｍ内での断層幅の大き
さである）を操作器１０から設定する。この実施例で
は、図３に示すように、Ｘ線管１から水平方向に照射さ
れるＸ線ＸＣが断層像の中心位置ＣＬになるように決め
ている。なお、Ｘ線管１から水平方向に照射されるＸ線
ＸＣは、Ｉ．Ｉ４の検出面４ａにおけるＺ方向の中心位
置ＩＣＬになるようにＸ線管１と２次元Ｘ線検出部２の
高さ位置が調節されている。

【００２４】次に、操作者は、操作器１０から２次元透
視像の撮像指示を与える。これにより、上記調節した位
置関係において、ターンテーブル３を回転させずに、Ｘ
線管１から被検査体ＭにＸ線を照射し、２次元Ｘ線検出
部２で１方向からの２次元Ｘ線透過データを検出して２
次元透視像を得て、デジタルデータに変換してからメモ
リ７に記憶される。

【００２５】一方で、透視像上断層領域算出部１３は、
与えられた移動情報や断層幅に基づき、上記撮像した２
次元透視上における設定された（被検査体Ｍ内の）断層
幅の領域を求める。この算出方法を図３を参照して説明
する。図３に示すように、Ｘ線管１のＸ線焦点ＸＰを頂
点とし、設定された被検査体Ｍ内での断層幅ＤＨを底辺
とする３角形と、Ｘ線管１のＸ線焦点ＸＰを頂点とし、
設定された被検査体Ｍ内での断層幅ＤＨがＩ．Ｉ４の検
出面４ａに投影される領域ＩＨを底辺とする３角形とは
相似形である。従って、Ｘ線管１のＸ線焦点ＸＰとＩ．
Ｉ４の検出面４ａとの間の距離をＬＡ、Ｘ線管１のＸ線
焦点ＸＰと設定された被検査体Ｍ内での断層幅ＤＨまで
の距離をＬＤとすると、（ＩＨ：ＤＨ＝ＬＡ：ＬＤ）と
なり、ＩＨは、以下の式（１）で求められる。

【００２６】ＩＨ＝（ＤＨ×ＬＡ）／ＬＤ … （１）

【００２７】上記式（１）においてＤＨは設定された値
（断層幅の設定値）であり、ＬＡ、ＬＤは、操作器１０
から設定されたスライド移動機構８や３次元移動機構１
１に対する移動情報により一義的に決まる。従って、上
記調節された位置関係において、設定された断層幅ＤＨ
がＩ．Ｉ４の検出面４ａに投影される領域ＩＨを求める
ことができる。そして、この領域ＩＨが、上記調節され
た位置関係で撮像された２次元透視像上における設定さ
れた断層幅ＤＨ方向の断層領域に相当する。

【００２８】また、上記調節された位置関係で撮像さ
れ、メモリ７に記憶されたデジタルの２次元透視像にお
いて、その画像の縦方向に並ぶ画素間の１ピッチ当たり
のＩ．Ｉ４の検出面４ａ上での実長さは予め判っている
ので、上記式（１）で求めた断層領域ＩＨが、メモリ７
に記憶されたデジタルの２次元透視像において、Ｉ．Ｉ
４の検出面４ａにおけるＺ方向の中心位置ＩＣＬに対応
する画素列を中心に上下に何画素が含まれる領域である
かを換算することができる。透視像上断層領域算出部１
３は、メモリ７に記憶されたデジタルの２次元透視像に
おいて、上記式（１）で求めた断層領域ＩＨに対応する
画素領域を求めて画像処理部１５に与える。

【００２９】画像処理部１５では、上記調節された位置
関係で検出され、メモリ７に記憶されたデジタルの２次
元透視像を読み出し、図４に示すように、透視像上断層
領域算出部１３から与えられた、被検査体Ｍ内における
断層幅ＤＨに対応する画素領域の両端の位置を示す線Ｄ
Ｕ、ＤＤや、それに加えてその中心位置ＣＬを示す線Ｄ
Ｃを２次元透視像に重ね合わせた画像ＸＧを作成し、画
像モニタ１８に表示させる。なお、２次元透視像に断層
像の断層領域を重ねた画像としては、例えば、被検査体
Ｍ内における断層幅ＤＨに対応する画素領域の両端の位
置を示す線ＤＵ、ＤＤの間の領域を網かけなどして強調
表示するような画像であってもよい。

【００３０】これにより、上記調節した位置関係及び設
定した断層幅ＤＨの撮像条件で、これから撮像しようと
する断層像が被検査体Ｍのどの領域を撮像するのかを操
作者が把握することができる。

【００３１】このとき、表示された２次元透視像上の断
層像の断層領域を観察するなどして断層像の撮像条件が
適切でないと判断すると、操作器１０からスライド移動
機構８や３次元移動機構１１に対する移動情報を設定
し、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの
位置関係を変更調節したり、新たな断層幅ＤＨを設定し
て断層幅ＤＨを変更したりする。これに伴い、上述した
ように動作して、上記変更調節した位置関係及び新たに
設定した断層幅ＤＨの撮像条件で、２次元透視像上に断
層領域を重ねた画像を画像モニタ１８に再表示する。こ
の動作を断層像の撮像条件が適切になるまで繰り返し、
断層像の撮像条件が適切になると、操作者は、操作器１
０から断層像の撮像指示を与える。これにより、現在の
撮像条件（Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体
Ｍとの現在の位置関係及び現在設定している断層幅Ｄ
Ｈ）で断層像が撮像される。

【００３２】断層像の撮像は、まず、Ｘ線管１から被検
査体ＭにＸ線を照射しながら、モーター１２を駆動して
ターンテーブル３を回転させ、２次元Ｘ線検出部２で被
検査体Ｍの周回方向からの２次元Ｘ線透過データを収集
しメモリ７に記憶する。この収集を終えると、断層像再
構成部１４は、２次元Ｘ線検出部２で撮像され、メモリ
７に記憶された被検査体Ｍの周回方向からの各２次元透
過データ（デジタルデータ）を読み出し、そのＸ線透過
データを用いて、周知の算出方法で上記断層幅ＤＨの断
層像を再構成する。

【００３３】ここで、断層像を再構成するのに必要なＸ
線透過データは、メモリ７に記憶された被検査体Ｍの周
回方向からの各２次元透過データごとに、それぞれ一部
のデータである。この２次元Ｘ線透過データのうちの断
層幅ＤＨの断層像を再構成するのに必要なＸ線透過デー
タは、各２次元Ｘ線透過データごとに、図４に示す画像
上の断層幅ＤＨに対応する領域（ＤＵとＤＤとの間の領
域）内のデータである。すなわち、現在のＸ線管１及び
２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの位置関係（設定さ
れたスライド移動機構８や３次元移動機構１１の各移動
情報により一義的に決まる）と、現在設定されている断
層幅ＤＨとに基づき、図３で説明したのと同様の算出方
法により、断層像の再構成に必要なＸ線透過データを特
定することができる。なお、像に歪みなどがある場合に
は、図４に示す画像上の断層幅ＤＨに対応する領域より
も若干広い領域（付加する領域は、例えば、予め決めて
おく）内のＸ線透過データを用いて断層像を再構成して
もよい。

【００３４】再構成された断層像は、断層幅ＤＨを重ね
た２次元透視像と並べて、あるいは、その２次元透視像
に代えて画像モニタ１８に表示して操作者に提示され
る。

【００３５】以上により、被検査体Ｍのどの領域の断層
像を撮像するのかを操作者に正確に提示することがで
き、適切な撮像条件で断層像を撮像することができる。

【００３６】また、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と
被検査体Ｍとの位置関係を所望の位置関係として、ま
ず、断層像を撮像し、その後、同じ位置関係で２次元透
視像を撮像してその２次元透視像上における断層像の断
層領域を２次元透視像に重ねた画像を画像モニタ１８に
表示されるように動作させることもできる。

【００３７】このように動作させれば、断層像を撮像し
た後で、それが被検査体Ｍのどの領域を撮像したもので
あるのかを操作者は把握でき、断層像を観察して行う検
査などを好適に行うことができ、断層像を検査などに有
効に利用することができる。

【００３８】次に、複数の断層像を撮像する場合を説明
する。ここでは、図５に示すように、上述した中心位置
ＣＬの断層像と、その断層像の中心位置ＣＬから指定さ
れたピッチＤＰだけ上下にそれぞれ離れた位置ＣＬ２、
ＣＬ３をそれぞれ中心位置とした断層像の３つの断層像
を撮像する場合を例に採り説明する。

【００３９】図５に示すように、被検査体Ｍ内での上記
各断層像間のピッチＤＰに対応するＩ．Ｉ４の検出面４
ａ上のピッチＩＰは、比例関係により、以下の式（２）
により求められる。

【００４０】ＩＰ＝（ＤＰ×ＬＡ）／ＬＤ … （２）

【００４１】また、上下の各断層像の断層幅ＤＨ２、Ｄ
Ｈ３に対応するＩ．Ｉ４の検出面４ａ上の断層領域ＩＨ
２、ＩＨ３は、比例関係により、以下の式（３）、
（４）により求められる。

【００４２】 ＩＨ２＝（ＤＨ２×ＬＡ）／ＬＤ … （３） ＩＨ３＝（ＤＨ３×ＬＡ）／ＬＤ … （４）

【００４３】従って、上述した中央の断層像と同様の処
理により、複数の断層像を撮像する場合でも、透視像上
断層領域算出部１３は、２次元透視像上における各断層
像の断層領域を求めることができる。そして、図６に示
すように、被検査体Ｍ内における断層幅ＤＨとＤＨ２及
びＤＨ３に対応する画素領域の両端の位置を示す線Ｄ
Ｕ、ＤＤとＤＵ２、ＤＤ２及びＤＵ３、ＤＤ３や、それ
に加えて各中心位置ＣＬとＣＬ２及びＣＬ３を示す線Ｄ
ＣとＤＣ２及びＤＣ３を２次元透視像に重ね合わせた画
像ＸＧを画像モニタ１８に表示させることができる。

【００４４】これにより、複数の断層像を撮像する場合
でも、各断層像の位置関係などを操作者に正確に提示す
ることができ、適切な撮像条件で断層像を撮像したり、
断層像を検査などに有効に利用したりすることができ
る。

【００４５】なお、以上の説明から明らかなように、上
記と同様の算出方法（比例計算など）により、任意の位
置を中心位置とした１または複数の断層像に対して、２
次元透視像上における断層像の断層領域を算出すること
ができる。

【００４６】このように、この実施例によれば、断層像
が被検査体Ｍのどの領域に対応するのかを操作者に正確
に提示することができる。また、複数の断層像を撮像す
る場合でも、各断層像の位置関係などを操作者に正確に
提示することができる。従って、適切な撮像条件で断層
像を撮像したり、断層像を検査などに有効に利用したり
することができる。

【００４７】ところで、上記実施例では、２次元透視像
を静止画で１枚だけ撮像する場合について説明したが、
例えば、ターンテーブル３を適宜に回転させて、任意の
方向から見た２次元透視像を順次撮像しつつ、各２次元
透視像上に断層像の断層領域を重ねて表示してもよい。
このように構成すれば、任意の方向から見た２次元透視
像上での断層像の断層領域を作業者が確認することがで
きる。

【００４８】さらに、１秒間に多数枚（例えば、３０フ
レーム／秒）の２次元透視像を順次撮像し、撮像した２
次元透視像を動画として画像モニタ１８に表示し、動画
を構成する各フレームの２次元透視像上にそれぞれ断層
像の断層領域を重ねて表示したり、あるいは、動画を構
成する各フレームのうちの代表的な１または複数のフレ
ームの２次元透視像上に断層像の断層領域を重ねて表示
したりしてもよい。このように構成すれば、動画の２次
元透視像上での断層像の断層領域を次々に作業者が確認
することができる。また、例えば、ターンテーブル３を
回転させながら上記のように２次元透視像を動画で撮像
すれば、被検査体Ｍの周回方向からの２次元透視像を動
画で見ながら、各フレームの２次元透視像上で断層像の
断層領域がどのようになるかなどを作業者が確認するこ
とができる。

【００４９】なお、上記実施例では、被検査体Ｍ側を回
転させて断層像を撮像したが、被検査体ＭとＸ線管１と
の間の距離及び、被検査体Ｍと２次元Ｘ線検出部２
（Ｉ．Ｉ４の検出面４ａ）との間の距離を一定に保ちな
がら、被検査体Ｍを中心にＸ線管１及び２次元Ｘ線検出
部２側を回転させて断層像を撮像するような装置にもこ
の発明は適用することができる。

【００５０】また、上記実施例では、Ｉ．Ｉ４と撮像器
５などで２次元Ｘ線検出手段を構成したが、この発明は
これに限定されず、例えば、Ｘ線透過データを２次元的
に検出して、各画素ごとに検出データを電気信号に直接
変換するフラットパネル型のＸ線センサなどで２次元Ｘ
線検出手段を構成してもよい。

【００５１】さらに、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２
と被検査体Ｍとの位置関係を変更調節する構成は上記実
施例のものに限定されないし、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線
検出部２と被検査体Ｍとの位置関係が固定されたもので
もこの発明は適用することができる。

【００５２】さらに、上記実施例では、検査対象物を被
検査体Ｍとし、検査対象物内部を検査するための断層像
を撮像する産業用のＸ線断層撮像装置を例に採り説明し
たが、患者を被検査体Ｍとして、医療診断用の断層像を
撮像する場合にも適用することができる。

【００５３】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明によれば、２次元透視像と断層像を１台の装置で撮像
し、断層像の断層幅が同じ位置関係で撮像した２次元透
視像上でどこになるかを求め、求めた断層領域を２次元
透視像上に重ねて表示するように構成したので、断層像
が被検査体のどの領域に対応するのかを操作者に正確に
提示することができる。また、複数の断層像を撮像する
場合でも、各断層像の位置関係などを操作者に正確に提
示することができる。従って、適切な撮像条件で断層像
を撮像したり、断層像を検査などに有効に利用したりす
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例に係るＸ線断層撮像装置の
概略構成を示す図である。

【図２】Ｘ線管と２次元Ｘ線検出部及びターンテーブル
の平面図である。

【図３】２次元透視像上における断層像の断層領域の算
出方法を説明するための図である。

【図４】２次元透視像に断層像の断層領域を重ねた画像
を示す図である。

【図５】２次元透視像上における複数の断層像の断層領
域の算出方法を説明するための図である。

【図６】２次元透視像に複数の断層像の断層領域を重ね
た画像を示す図である。

【符号の説明】

１：Ｘ線管 ２：２次元Ｘ線検出部 ３：ターンテーブル ４：イメージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ） ５：撮像器 １２：モーター １３：透視像上断層領域算出部 １４：断層像再構成部 １５：画像処理部 １７：表示制御部 １８：画像モニタ Ｍ：被検査体 ＤＨ、ＤＨ２、ＤＨ３：指定された断層幅 ＩＨ、ＩＨ２、ＩＨ３：２次元透視像上における断層像
の断層領域

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G001 AA01 BA11 CA01 DA01 DA02 DA09 FA06 GA08 HA09 HA13 HA14 HA20 JA06 JA08 JA11 JA13 PA11 PA12 PA14

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 （ａ）被検査体にＸ線を照射するＸ線照
   射手段と、（ｂ）前記Ｘ線照射手段と対向配置され、前
   記被検査体のＸ線透過データを２次元的に検出する２次
   元Ｘ線検出手段と、（ｃ）前記被検査体の周回方向から
   のＸ線透過データを収集するために、前記Ｘ線照射手段
   及び前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体とを相対的
   に回転させる回転手段と、（ｄ）前記Ｘ線照射手段及び
   前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体とを相対的に回
   転させて収集された前記被検査体の周回方向からの各Ｘ
   線透過データを用いて、指定された断層幅の断層像を再
   構成する断層像再構成手段と、（ｅ）画像を表示する画
   像表示手段と、（ｆ）前記被検査体の２次元Ｘ線透過デ
   ータから得られた２次元透視像上において、前記断層像
   の断層幅方向の領域がどこになるかを求める透視像上断
   層領域算出手段と、（ｇ）前記透視像上断層領域算出手
   段により求めた２次元透視像上における前記断層像の断
   層領域を、前記得られた２次元透視像上に重ねて前記画
   像表示手段に表示する画像重畳表示手段とを備えたこと
   を特徴とするＸ線断層撮像装置。