JP4154805B2

JP4154805B2 - Ｘ線断層撮像装置

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Publication number: JP4154805B2
Application number: JP18170299A
Authority: JP
Inventors: 博志大原; 圭一藤井
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1999-06-28
Filing date: 1999-06-28
Publication date: 2008-09-24
Anticipated expiration: 2019-06-28
Also published as: JP2001013089A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、被検査体の断層像を撮像する産業用や医療用などのＸ線断層撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、産業用のＸ線断層撮像装置は、ターンテーブル上に載置された被検査体（検査対象物）を、対向配置されたＸ線管とＸ線検出器との間に位置させ、ターンテーブルを回転させて、被検査体の周回方向からのＸ線透過データを収集し、それらＸ線透過データを用いて周知の演算方法により断層像を再構成するように構成している。
【０００３】
しかしながら、単に被検査体の断層像を撮像するだけでは、被検査体のどの部位の断層像を撮像したのかが操作者に判り難くかった。そのため、従来装置には、予め得られた被検査体の２次元透視像をモニタに表示し、操作者が指定して、断層像の中心位置（断層像の断層幅の中心位置）をその２次元透視像に重畳表示させて、断層像の位置を確認できるように構成されたものもある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来装置は、２次元透視像と断層像とを別々の装置で撮像しており、断層像の断層幅方向の領域が２次元透視像上においてどの領域になるのかを正確に特定することができず、断層像の中心位置を２次元透視像に重畳表示させているだけであった。そのため、被検査体のどの領域（断層幅方向の領域）の断層像を撮像するのかを操作者が把握することができず、適正な撮像条件で断層像を撮像する上で弊害になっていた。また、断層像を撮像しても、それが被検査体のどの領域を撮像したものであるのかを操作者は把握できず、断層像を観察して検査などを行う上で弊害にもなっていた。
【０００５】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、適正な撮像条件で断層像を撮像したり、断層像を検査などに有効に利用したりすることができるＸ線断層撮像装置を提供することを目的とする。
【０００６】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわち、この発明は、（ａ）被検査体にＸ線を照射するＸ線照射手段と、（ｂ）前記Ｘ線照射手段と対向配置され、前記被検査体のＸ線透過データを２次元的に検出する２次元Ｘ線検出手段と、（ｃ）前記被検査体の周回方向からのＸ線透過データを収集するために、前記Ｘ線照射手段及び前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体とを相対的に回転させる回転手段と、（ｄ）前記Ｘ線照射手段及び前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体とを相対的に回転させて収集された前記被検査体の周回方向からの各Ｘ線透過データを用いて、指定された断層幅の断層像を再構成する断層像再構成手段と、（ｅ）画像を表示する画像表示手段と、（ｆ）前記被検査体の２次元Ｘ線透過データから得られた２次元透視像上において、前記断層像の断層幅方向の領域が複数個あり、各々どこになるかを前記Ｘ線照射手段と前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体との位置関係と前記断層幅との幾何学的な比例関係により求める透視像上断層領域算出手段と、（ｇ）前記透視像上断層領域算出手段により求めた２次元透視像上における前記断層像の複数の断層領域を、前記得られた２次元透視像上に重ねて前記画像表示手段に表示する画像重畳表示手段とを備えたことを特徴とするものである。
【０００７】
〔作用〕
この発明の作用は次のとおりである。
Ｘ線照射手段及び２次元Ｘ線検出手段と被検査体との位置関係を所望の位置関係にして、その位置関係で２次元透視像と断層像とを撮像する。
【０００８】
２次元透視像は、上記位置関係において、被検査体にＸ線を照射し、Ｘ線を照射した方向からの被検査体の２次元Ｘ線透過データを２次元Ｘ線検出手段で検出して得る。
【０００９】
断層像は、上記位置関係において、Ｘ線照射手段から被検査体にＸ線を照射しながら、回転手段により、Ｘ線照射手段及び２次元Ｘ線検出手段と被検査体とを相対的に回転させ、２次元Ｘ線検出手段で、被検査体の周回方向からのＸ線透過データを収集し、断層像再構成手段により、収集された被検査体の周回方向からの各Ｘ線透過データを用いて、指定された断層幅の断層像を再構成して得る。
【００１０】
Ｘ線照射手段及び２次元Ｘ線検出手段と被検査体との位置関係と、撮像する断層像の断層幅（被検査体内における断層幅）が決まれば、幾何学的に、２次元透視像（２次元Ｘ線検出手段の検出面）上で被検査体内の断層幅がどこになるかを計算で求めることができる。透視像上断層領域算出手段は、上記２次元透視像上において、上記断層像の断層幅方向の領域を複数個算出でき、各々の領域がどこになるかを求め、画像重畳表示手段は、透視像上断層領域算出手段により求めた２次元透視像上における断層像の複数の断層領域を、上記２次元透視像上に重ねて画像表示手段に表示する。
【００１１】
なお、２次元透視像は、静止画で撮像してもよいし、動画で撮像してもよい。動画で撮像する場合には、動画を構成する各フレームの２次元透視像上にそれぞれ、断層像の断層領域を重ねて表示してもよい。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照してこの発明の実施の形態を説明する。
図１はこの発明の一実施例に係るＸ線断層撮像装置の概略構成を示す図であり、図２はＸ線管と２次元Ｘ線検出部及びターンテーブルの平面図である。なお、各図には、各構成機器などの位置関係を示すためのＸＹＺ直交座標を付している。
【００１３】
この実施例は、被検査体（検査対象物）Ｍの断層像を撮像するための産業用のＸ線断層撮像装置であり、Ｘ線照射手段に相当するＸ線管１と２次元Ｘ線検出手段に相当する２次元Ｘ線検出部２とが対向配置され、これらＸ線管１と２次元Ｘ線検出部２との間にターンテーブル３に載置された被検査体Ｍを配置できるように構成されている。
【００１４】
Ｘ線管１は、図示を省略したＸ線高電圧発生装置から所要の電力が供給されて、２次元Ｘ線検出部２に向けて放射状のＸ線を照射するように構成されている。このＸ線管１は固定されている。
【００１５】
２次元Ｘ線検出部２は、Ｘ線管１から照射され、被検査体Ｍを透過したＸ線透過データを２次元的に検出して可視光の２次元透視像に変換するイメージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ）４や、Ｉ．Ｉ４で変換された可視光の２次元透視像を、図示を省略した光学系を介して撮像するＣＣＤカメラなどの撮像器５などを備えて構成され、被検査体Ｍの２次元透視データを検出（２次元透視像を撮像）して電気信号（ＮＴＳＣ信号などのビデオ信号）で出力するように構成されている。２次元Ｘ線検出部２から出力された電気信号は、Ａ／Ｄ（アナログtoデジタル）変換器６によりデジタルデータに変換された後、メモリ７に記憶される。
【００１６】
また、２次元Ｘ線検出部２は、スライド移動機構８によって図のＸ方向へのスライド移動だけが行えるように構成され、Ｘ線管１に対して接離可能になっている。スライド移動機構８は移動回転制御部９によって制御される。移動回転制御部９は、操作器１０から設定された移動情報に基づき、スライド移動機構８を動作させ、設定された位置に２次元Ｘ線検出部２を位置させる。
【００１７】
ターンテーブル３は、３次元移動機構１１によって、互いに直交する３次元方向（図のＸＹＺ方向）に移動可能に構成され、ターンテーブル３に載置された被検査体Ｍを、Ｘ線管１と２次元Ｘ線検出部２との間の任意の位置に配置できるように構成されている。また、ターンテーブル３は、回転手段に相当するモーター１２によってＺ方向に平行な軸芯Ｊ周りで回転可能に構成されている。３次元移動機構１１とモーター１２も移動回転制御部９によって制御される。移動回転制御部９は、操作器１０から設定された移動情報に基づき、３次元移動機構１１を動作させ、設定された位置にターンテーブル３を移動させてターンテーブル３に載置された被検査体Ｍを任意の撮像位置に配置させる。また、移動回転制御部９は、操作器１０からの指示により、モーター１２を駆動して、ターンテーブル３とともに被検査体Ｍを軸芯Ｊ周りで回転させる。
【００１８】
操作器１０からは断層像を撮像する際の断層幅も設定できるようになっている。操作器１０から設定された断層幅や、上述したスライド移動機構８や３次元移動機構１１に対する移動情報は、透視像上断層領域算出手段に相当する透視像上断層領域算出部１３と断層像再構成手段に相当する断層像再構成部１４とに与えられる。
【００１９】
また、操作器１０からは２次元透視像の撮像指示や、断層像の撮像指示なども行える。
【００２０】
操作器１０から２次元透視像の撮像指示が与えられると、２次元透視像が撮像される一方、透視像上断層領域算出部１３は、与えられた移動情報や断層幅に基づき、後述するような算出方法により、上記撮像した２次元透視像上において、断層像の断層幅方向の領域がどこになるかを求めて画像処理部１５に与える。画像処理部１５は、２次元Ｘ線検出部２で検出され、メモリ７に記憶された２次元透過データ（２次元透視像）を読み出し、その透視像に透視像上断層領域算出部１３から与えられた断層像の断層領域を重ね合わせた画像を作成する。この画像は、Ｄ／Ａ（デジタルtoアナログ）変換器１６でアナログ信号に変換された後、表示制御部１７に制御されて画像表示手段に相当する画像モニタ１８に表示される。なお、画像処理部１５と表示制御部１７とがこの発明における画像重畳表示手段を構成する。
【００２１】
また、操作器１０から断層像の撮像指示が与えられると、モーター１２が駆動され、ターンテーブル３が回転されて被検査体Ｍの周回方向からの２次元透過データが収集され、その収集を終えると、断層像再構成部１４は、２次元Ｘ線検出部２で検出され、メモリ７に記憶された被検査体Ｍの周回方向からの各（２次元）Ｘ線透過データを読み出し、これらデータや与えられた移動情報や断層幅などに基づき、後述するような算出方法により、断層像を再構成する。再構成された断層像は、Ｄ／Ａ変換器１６、表示制御部１７を経て画像モニタ１８に表示される。
【００２２】
なお、メモリ７や移動回転制御部９、操作器１０、透視像上断層領域算出部１３、断層像再構成部１４、画像処理部１５などは、例えば、パーソナルコンピューターで構成され、各部が実行する処理制御は、ソフトウエアで実現されている。
【００２３】
次に、上記実施例装置の動作を説明する。
まず、操作者は、ターンテーブル３に被検査体Ｍを載置し、操作器１０からスライド移動機構８や３次元移動機構１１に対する移動情報を設定し、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの位置関係を所望の位置関係に調節する。また、操作者は、断層像を撮像する際の断層幅（この断層幅は、被検査体Ｍ内での断層幅の大きさである）を操作器１０から設定する。この実施例では、図３に示すように、Ｘ線管１から水平方向に照射されるＸ線ＸＣが断層像の中心位置ＣＬになるように決めている。なお、Ｘ線管１から水平方向に照射されるＸ線ＸＣは、Ｉ．Ｉ４の検出面４ａにおけるＺ方向の中心位置ＩＣＬになるようにＸ線管１と２次元Ｘ線検出部２の高さ位置が調節されている。
【００２４】
次に、操作者は、操作器１０から２次元透視像の撮像指示を与える。これにより、上記調節した位置関係において、ターンテーブル３を回転させずに、Ｘ線管１から被検査体ＭにＸ線を照射し、２次元Ｘ線検出部２で１方向からの２次元Ｘ線透過データを検出して２次元透視像を得て、デジタルデータに変換してからメモリ７に記憶される。
【００２５】
一方で、透視像上断層領域算出部１３は、与えられた移動情報や断層幅に基づき、上記撮像した２次元透視上における設定された（被検査体Ｍ内の）断層幅の領域を求める。この算出方法を図３を参照して説明する。図３に示すように、Ｘ線管１のＸ線焦点ＸＰを頂点とし、設定された被検査体Ｍ内での断層幅ＤＨを底辺とする３角形と、Ｘ線管１のＸ線焦点ＸＰを頂点とし、設定された被検査体Ｍ内での断層幅ＤＨがＩ．Ｉ４の検出面４ａに投影される領域ＩＨを底辺とする３角形とは相似形である。従って、Ｘ線管１のＸ線焦点ＸＰとＩ．Ｉ４の検出面４ａとの間の距離をＬＡ、Ｘ線管１のＸ線焦点ＸＰと設定された被検査体Ｍ内での断層幅ＤＨまでの距離をＬＤとすると、（ＩＨ：ＤＨ＝ＬＡ：ＬＤ）となり、ＩＨは、以下の式（１）で求められる。
【００２６】
ＩＨ＝（ＤＨ×ＬＡ）／ＬＤ … （１）
【００２７】
上記式（１）においてＤＨは設定された値（断層幅の設定値）であり、ＬＡ、ＬＤは、操作器１０から設定されたスライド移動機構８や３次元移動機構１１に対する移動情報により一義的に決まる。従って、上記調節された位置関係において、設定された断層幅ＤＨがＩ．Ｉ４の検出面４ａに投影される領域ＩＨを求めることができる。そして、この領域ＩＨが、上記調節された位置関係で撮像された２次元透視像上における設定された断層幅ＤＨ方向の断層領域に相当する。
【００２８】
また、上記調節された位置関係で撮像され、メモリ７に記憶されたデジタルの２次元透視像において、その画像の縦方向に並ぶ画素間の１ピッチ当たりのＩ．Ｉ４の検出面４ａ上での実長さは予め判っているので、上記式（１）で求めた断層領域ＩＨが、メモリ７に記憶されたデジタルの２次元透視像において、Ｉ．Ｉ４の検出面４ａにおけるＺ方向の中心位置ＩＣＬに対応する画素列を中心に上下に何画素が含まれる領域であるかを換算することができる。透視像上断層領域算出部１３は、メモリ７に記憶されたデジタルの２次元透視像において、上記式（１）で求めた断層領域ＩＨに対応する画素領域を求めて画像処理部１５に与える。
【００２９】
画像処理部１５では、上記調節された位置関係で検出され、メモリ７に記憶されたデジタルの２次元透視像を読み出し、図４に示すように、透視像上断層領域算出部１３から与えられた、被検査体Ｍ内における断層幅ＤＨに対応する画素領域の両端の位置を示す線ＤＵ、ＤＤや、それに加えてその中心位置ＣＬを示す線ＤＣを２次元透視像に重ね合わせた画像ＸＧを作成し、画像モニタ１８に表示させる。なお、２次元透視像に断層像の断層領域を重ねた画像としては、例えば、被検査体Ｍ内における断層幅ＤＨに対応する画素領域の両端の位置を示す線ＤＵ、ＤＤの間の領域を網かけなどして強調表示するような画像であってもよい。
【００３０】
これにより、上記調節した位置関係及び設定した断層幅ＤＨの撮像条件で、これから撮像しようとする断層像が被検査体Ｍのどの領域を撮像するのかを操作者が把握することができる。
【００３１】
このとき、表示された２次元透視像上の断層像の断層領域を観察するなどして断層像の撮像条件が適切でないと判断すると、操作器１０からスライド移動機構８や３次元移動機構１１に対する移動情報を設定し、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの位置関係を変更調節したり、新たな断層幅ＤＨを設定して断層幅ＤＨを変更したりする。これに伴い、上述したように動作して、上記変更調節した位置関係及び新たに設定した断層幅ＤＨの撮像条件で、２次元透視像上に断層領域を重ねた画像を画像モニタ１８に再表示する。この動作を断層像の撮像条件が適切になるまで繰り返し、断層像の撮像条件が適切になると、操作者は、操作器１０から断層像の撮像指示を与える。これにより、現在の撮像条件（Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの現在の位置関係及び現在設定している断層幅ＤＨ）で断層像が撮像される。
【００３２】
断層像の撮像は、まず、Ｘ線管１から被検査体ＭにＸ線を照射しながら、モーター１２を駆動してターンテーブル３を回転させ、２次元Ｘ線検出部２で被検査体Ｍの周回方向からの２次元Ｘ線透過データを収集しメモリ７に記憶する。この収集を終えると、断層像再構成部１４は、２次元Ｘ線検出部２で撮像され、メモリ７に記憶された被検査体Ｍの周回方向からの各２次元透過データ（デジタルデータ）を読み出し、そのＸ線透過データを用いて、周知の算出方法で上記断層幅ＤＨの断層像を再構成する。
【００３３】
ここで、断層像を再構成するのに必要なＸ線透過データは、メモリ７に記憶された被検査体Ｍの周回方向からの各２次元透過データごとに、それぞれ一部のデータである。この２次元Ｘ線透過データのうちの断層幅ＤＨの断層像を再構成するのに必要なＸ線透過データは、各２次元Ｘ線透過データごとに、図４に示す画像上の断層幅ＤＨに対応する領域（ＤＵとＤＤとの間の領域）内のデータである。すなわち、現在のＸ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの位置関係（設定されたスライド移動機構８や３次元移動機構１１の各移動情報により一義的に決まる）と、現在設定されている断層幅ＤＨとに基づき、図３で説明したのと同様の算出方法により、断層像の再構成に必要なＸ線透過データを特定することができる。なお、像に歪みなどがある場合には、図４に示す画像上の断層幅ＤＨに対応する領域よりも若干広い領域（付加する領域は、例えば、予め決めておく）内のＸ線透過データを用いて断層像を再構成してもよい。
【００３４】
再構成された断層像は、断層幅ＤＨを重ねた２次元透視像と並べて、あるいは、その２次元透視像に代えて画像モニタ１８に表示して操作者に提示される。
【００３５】
以上により、被検査体Ｍのどの領域の断層像を撮像するのかを操作者に正確に提示することができ、適切な撮像条件で断層像を撮像することができる。
【００３６】
また、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの位置関係を所望の位置関係として、まず、断層像を撮像し、その後、同じ位置関係で２次元透視像を撮像してその２次元透視像上における断層像の断層領域を２次元透視像に重ねた画像を画像モニタ１８に表示されるように動作させることもできる。
【００３７】
このように動作させれば、断層像を撮像した後で、それが被検査体Ｍのどの領域を撮像したものであるのかを操作者は把握でき、断層像を観察して行う検査などを好適に行うことができ、断層像を検査などに有効に利用することができる。
【００３８】
次に、複数の断層像を撮像する場合を説明する。
ここでは、図５に示すように、上述した中心位置ＣＬの断層像と、その断層像の中心位置ＣＬから指定されたピッチＤＰだけ上下にそれぞれ離れた位置ＣＬ２、ＣＬ３をそれぞれ中心位置とした断層像の３つの断層像を撮像する場合を例に採り説明する。
【００３９】
図５に示すように、被検査体Ｍ内での上記各断層像間のピッチＤＰに対応するＩ．Ｉ４の検出面４ａ上のピッチＩＰは、比例関係により、以下の式（２）により求められる。
【００４０】
ＩＰ＝（ＤＰ×ＬＡ）／ＬＤ … （２）
【００４１】
また、上下の各断層像の断層幅ＤＨ２、ＤＨ３に対応するＩ．Ｉ４の検出面４ａ上の断層領域ＩＨ２、ＩＨ３は、比例関係により、以下の式（３）、（４）により求められる。
【００４２】
ＩＨ２＝（ＤＨ２×ＬＡ）／ＬＤ … （３）
ＩＨ３＝（ＤＨ３×ＬＡ）／ＬＤ … （４）
【００４３】
従って、上述した中央の断層像と同様の処理により、複数の断層像を撮像する場合でも、透視像上断層領域算出部１３は、２次元透視像上における各断層像の断層領域を求めることができる。そして、図６に示すように、被検査体Ｍ内における断層幅ＤＨとＤＨ２及びＤＨ３に対応する画素領域の両端の位置を示す線ＤＵ、ＤＤとＤＵ２、ＤＤ２及びＤＵ３、ＤＤ３や、それに加えて各中心位置ＣＬとＣＬ２及びＣＬ３を示す線ＤＣとＤＣ２及びＤＣ３を２次元透視像に重ね合わせた画像ＸＧを画像モニタ１８に表示させることができる。
【００４４】
これにより、複数の断層像を撮像する場合でも、各断層像の位置関係などを操作者に正確に提示することができ、適切な撮像条件で断層像を撮像したり、断層像を検査などに有効に利用したりすることができる。
【００４５】
なお、以上の説明から明らかなように、上記と同様の算出方法（比例計算など）により、任意の位置を中心位置とした１または複数の断層像に対して、２次元透視像上における断層像の断層領域を算出することができる。
【００４６】
このように、この実施例によれば、断層像が被検査体Ｍのどの領域に対応するのかを操作者に正確に提示することができる。また、複数の断層像を撮像する場合でも、各断層像の位置関係などを操作者に正確に提示することができる。従って、適切な撮像条件で断層像を撮像したり、断層像を検査などに有効に利用したりすることができる。
【００４７】
ところで、上記実施例では、２次元透視像を静止画で１枚だけ撮像する場合について説明したが、例えば、ターンテーブル３を適宜に回転させて、任意の方向から見た２次元透視像を順次撮像しつつ、各２次元透視像上に断層像の断層領域を重ねて表示してもよい。このように構成すれば、任意の方向から見た２次元透視像上での断層像の断層領域を作業者が確認することができる。
【００４８】
さらに、１秒間に多数枚（例えば、３０フレーム／秒）の２次元透視像を順次撮像し、撮像した２次元透視像を動画として画像モニタ１８に表示し、動画を構成する各フレームの２次元透視像上にそれぞれ断層像の断層領域を重ねて表示したり、あるいは、動画を構成する各フレームのうちの代表的な１または複数のフレームの２次元透視像上に断層像の断層領域を重ねて表示したりしてもよい。このように構成すれば、動画の２次元透視像上での断層像の断層領域を次々に作業者が確認することができる。また、例えば、ターンテーブル３を回転させながら上記のように２次元透視像を動画で撮像すれば、被検査体Ｍの周回方向からの２次元透視像を動画で見ながら、各フレームの２次元透視像上で断層像の断層領域がどのようになるかなどを作業者が確認することができる。
【００４９】
なお、上記実施例では、被検査体Ｍ側を回転させて断層像を撮像したが、被検査体ＭとＸ線管１との間の距離及び、被検査体Ｍと２次元Ｘ線検出部２（Ｉ．Ｉ４の検出面４ａ）との間の距離を一定に保ちながら、被検査体Ｍを中心にＸ線管１及び２次元Ｘ線検出部２側を回転させて断層像を撮像するような装置にもこの発明は適用することができる。
【００５０】
また、上記実施例では、Ｉ．Ｉ４と撮像器５などで２次元Ｘ線検出手段を構成したが、この発明はこれに限定されず、例えば、Ｘ線透過データを２次元的に検出して、各画素ごとに検出データを電気信号に直接変換するフラットパネル型のＸ線センサなどで２次元Ｘ線検出手段を構成してもよい。
【００５１】
さらに、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの位置関係を変更調節する構成は上記実施例のものに限定されないし、Ｘ線管１及び２次元Ｘ線検出部２と被検査体Ｍとの位置関係が固定されたものでもこの発明は適用することができる。
【００５２】
さらに、上記実施例では、検査対象物を被検査体Ｍとし、検査対象物内部を検査するための断層像を撮像する産業用のＸ線断層撮像装置を例に採り説明したが、患者を被検査体Ｍとして、医療診断用の断層像を撮像する場合にも適用することができる。
【００５３】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、この発明によれば、２次元透視像と断層像を１台の装置で撮像し、断層像の断層幅が同じ位置関係で撮像した２次元透視像上でどこになるかを求め、求めた断層領域を２次元透視像上に重ねて表示するように構成したので、断層像が被検査体のどの領域に対応するのかを操作者に正確に提示することができる。また、複数の断層像を撮像する場合でも、各断層像の位置関係などを操作者に正確に提示することができる。従って、適切な撮像条件で断層像を撮像したり、断層像を検査などに有効に利用したりすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施例に係るＸ線断層撮像装置の概略構成を示す図である。
【図２】Ｘ線管と２次元Ｘ線検出部及びターンテーブルの平面図である。
【図３】２次元透視像上における断層像の断層領域の算出方法を説明するための図である。
【図４】２次元透視像に断層像の断層領域を重ねた画像を示す図である。
【図５】２次元透視像上における複数の断層像の断層領域の算出方法を説明するための図である。
【図６】２次元透視像に複数の断層像の断層領域を重ねた画像を示す図である。
【符号の説明】
１：Ｘ線管
２：２次元Ｘ線検出部
３：ターンテーブル
４：イメージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ）
５：撮像器
１２：モーター
１３：透視像上断層領域算出部
１４：断層像再構成部
１５：画像処理部
１７：表示制御部
１８：画像モニタ
Ｍ：被検査体
ＤＨ、ＤＨ２、ＤＨ３：指定された断層幅
ＩＨ、ＩＨ２、ＩＨ３：２次元透視像上における断層像の断層領域

Claims

（ａ）被検査体にＸ線を照射するＸ線照射手段と、（ｂ）前記Ｘ線照射手段と対向配置され、前記被検査体のＸ線透過データを２次元的に検出する２次元Ｘ線検出手段と、（ｃ）前記被検査体の周回方向からのＸ線透過データを収集するために、前記Ｘ線照射手段及び前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体とを相対的に回転させる回転手段と、（ｄ）前記Ｘ線照射手段及び前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体とを相対的に回転させて収集された前記被検査体の周回方向からの各Ｘ線透過データを用いて、指定された断層幅の断層像を再構成する断層像再構成手段と、（ｅ）画像を表示する画像表示手段と、（ｆ）前記被検査体の２次元Ｘ線透過データから得られた２次元透視像上において、前記断層像の断層幅方向の領域が複数個あり、各々どこになるかを前記Ｘ線照射手段と前記２次元Ｘ線検出手段と前記被検査体との位置関係と前記断層幅との幾何学的な比例関係により求める透視像上断層領域算出手段と、（ｇ）前記透視像上断層領域算出手段により求めた２次元透視像上における前記断層像の複数の断層領域を、前記得られた２次元透視像上に重ねて前記画像表示手段に表示する画像重畳表示手段とを備えたことを特徴とするＸ線断層撮像装置。