JP2001007516A - 平坦化膜の形成方法 - Google Patents

平坦化膜の形成方法

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JP2001007516A
JP2001007516A JP17268299A JP17268299A JP2001007516A JP 2001007516 A JP2001007516 A JP 2001007516A JP 17268299 A JP17268299 A JP 17268299A JP 17268299 A JP17268299 A JP 17268299A JP 2001007516 A JP2001007516 A JP 2001007516A
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photosensitive resin
substrate
insulating layer
film
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English (en)
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Hiroyuki Tsuchiya
宏之 土屋
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Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡便にかつ均一に凹凸を低減することが可能
な平坦化膜の形成方法を提供する。 【解決手段】 硬度が95°±5°のフラットゴムロー
ルを用いて、粘度が500〜5000cpsの感光性樹
脂を基板上に塗布することにより、感光性樹脂の塗布量
を少なくし、均一塗布を行うことで、凹部に感光性樹脂
を充分に塗布することができる。その後、乾燥し、溝付
きゴムロールを用いて感光性樹脂の塗布厚みが所定厚み
になるまで塗布および乾燥を繰返すことにより、所望の
厚みの平坦な絶縁層80を容易に得ることができる。し
たがって、研磨あるいは加圧を施す必要がないので、製
造工程を増大させることなく、簡便にかつ均一に絶縁層
80の凹凸を低減することができる。さらに、感光性樹
脂の粘度、ならびに溝付きゴムロールの溝ピッチ、溝深
さ等のゴム形状を変えることにより、感光性樹脂の塗布
量、すなわち絶縁層80の膜厚を制御することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平坦化膜の形成方
法に関し、特にビルドアップ基板の絶縁層に好適な平坦
化膜の形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置において、ICチップやLS
Iチップ等の半導体素子は、半導体パッケージに設けら
れた半導体素子搭載部に搭載されて実用に供されてい
る。樹脂モールドパッケージはセラミック製の半導体パ
ッケージに比べて製造コストが安価であり、特にリード
フレームを用いずにプリント配線板上に半導体素子を搭
載し、プリント配線板の電極部に取付けたはんだボール
等でマザーボードに接続するようにしたBGA(Ball Gr
id Array) パッケージが注目されている。BGAパッケ
ージは、QFP(Quad Flat Package) 等のリードフレー
ムを用いたパッケージに比べて、リードを面的にとる
ため多ピン化が可能である。リードピッチが大きく、
マウンタ等の精度が甘くてもよいので、製造歩留りが向
上する。製造コストが比較的安価である等の長所を有
している。
【0003】従来のBGAパッケージは、半導体素子が
プリント配線板の上部に搭載され、ボンディングワイ
ヤ、プリント配線板の配線、プリント配線板の周辺に設
けたスルーホール、プリント配線板の下部の電極部等を
介してはんだボール等に半導体素子の電極部が電気的に
接続されており、半導体素子搭載後にモールド樹脂で封
止されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが上記のBGA
パッケージにおいては、積層板を積層してめっきスルー
ホールで導体パターンの層間接続を行うスルーホール基
板構造をプリント配線板として用いているので、導体パ
ターンの微細化が困難であるとともに、導体パターンの
層間接続のためには積層した全ての積層板を貫通するス
ルーホールを設ければならない。このため、配線密度を
高めることができず、その結果、半導体装置の小型化が
困難であるという問題があった。
【0005】そこで、プリント配線板として、ビルドア
ップ基板と称される構造のものがある。このビルドアッ
プ基板は、例えば図6に示すように、積層板等からなる
コア基板1の上に、導体パターン2と感光性樹脂からな
る絶縁層3とをビア4を形成しながら交互に積み上げる
方法(ビルドアップ法)で形成し、ビア4で導体パター
ン2の層間接続を行うものである。なお、スルーホール
5はコア基板1に形成されている。
【0006】上記のように、プリント配線板としてビル
ドアップ基板を使用すると、導体パターンの微細化が可
能であるとともに、各絶縁層ごとに形成するビアで導体
パターンの層間接続がなされるため、スルーホール基板
の場合より配線密度を高めることができ、したがって半
導体装置の小型化が容易である。
【0007】しかしながら、従来のビルドアッププリン
ト配線板の製造方法においては、ビアや導体パターンを
形成したコア基板上に感光性絶縁樹脂を塗布したとき、
ビアや導体パターン上に形成される絶縁層に凹凸が形成
される恐れがある。絶縁層に凹凸が形成されると、導体
パターン転写用フォトマスクを用いて絶縁層を露光する
ときの精度が低下したり、現像後の絶縁層の表面に銅め
っきを施した後、エッチングして導体パターンを形成す
るとき、配線の形成精度が低下するという問題があっ
た。さらに、銅めっきのエッチング時に除去すべき部分
が除去されず、配線の短絡の原因となるという問題があ
った。
【0008】そこで、(1) ビアや導体パターンを形成し
たコア基板上に薄いフィルム状の絶縁樹脂膜を貼付する
ことが行われているが、しかし、貼付時に例えば減圧貼
付法等の気泡を巻き込まない処理を施す必要があった。
【0009】また、(2) 絶縁層に形成された凸部に機械
研磨あるいは化学研磨を施し、絶縁層の平坦化を図るこ
とが考えられるが、しかし、製造工程が増大し、絶縁層
を均一に研磨するのが困難で、絶縁層の密着性が劣化す
る恐れがあるという問題があった。
【0010】さらに、(3) 平滑なフィルム上に導体およ
び絶縁体を印刷し、転写することで平坦面を得る方法が
知られているが、しかし、転写による位置精度の確保が
困難であるという問題があった。
【0011】さらにまた、(4) 熱圧着あるいは加圧熱ロ
ールにより絶縁層形成後に平坦化を図る方法が知られて
いるが、しかし、製造工程が増大し、加圧工程等におけ
る2次的な汚染が発生する恐れがあるという問題があっ
た。
【0012】本発明は、このような問題を解決するため
になされたものであり、製造工程を増大させることな
く、簡便にかつ均一に凹凸を低減することが可能な平坦
化膜の形成方法を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
平坦化膜の形成方法によると、フラットゴムロールを用
いて凹凸部を有する基板上に液状膜形成材を塗布して乾
燥し、液状膜形成材を塗布し乾燥した基板上に溝付きゴ
ムロールを用いて液状膜形成材を塗布して乾燥し、溝付
きゴムロールを用いて液状膜形成材を塗布し乾燥する工
程を基板上に形成される膜の膜厚が所定厚みになるまで
繰返す。フラットゴムロールを用いることで凹部に液状
膜形成材を充分に塗布し、膜の平坦化を図ることができ
る。その後、乾燥し、溝付きゴムロールを用いて、基板
上に形成される膜の膜厚が所定厚みになるまで液状膜形
成材の塗布および乾燥を繰返すことにより、所望の厚み
の平坦化膜を容易に得ることができる。したがって、簡
便にかつ均一に膜の凹凸を低減することができる。
【0014】さらに、研磨あるいは加圧を施す必要がな
いので、製造工程を増大させることなく膜の平坦化を図
ることができる。さらにまた、溝付きゴムロールの溝ピ
ッチ、溝深さ等のゴム形状を変えることにより、液状膜
形成材の塗布量、すなわち膜厚を制御することができ
る。
【0015】本発明の請求項2記載の平坦化膜の形成方
法によると、液状膜形成材の室温における粘度をρcp
sとすると、ρは、 500≦ρ≦5000 であるので、フラットゴムロールを用いて液状膜形成材
の塗布量を少なくし、膜の均一塗布を行うことができ
る。さらに、液状膜形成材の粘度を上記の範囲内で任意
に変えることにより、液状膜形成材の塗布量、すなわち
膜厚を制御することができる。
【0016】本発明の請求項3記載の平坦化膜の形成方
法によると、フラットゴムロールの硬度は、溝付きゴム
ロールの硬度よりも大きいので、膜の均一塗布を確実に
行うとともに、所望の厚みの平坦化膜を確実に得ること
ができる。
【0017】さらに、溝付きゴムロールの硬度をフラッ
トゴムロールの硬度よりも小さい範囲内で任意に変える
ことにより、液状膜形成材の塗布量、すなわち膜厚を制
御することができる。
【0018】本発明の請求項4記載の平坦化膜の形成方
法によると、フラットゴムロールの硬度をh°とする
と、hは、90≦h≦100であるので、確実に膜の凹
凸を低減することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて説明する。本発明の平坦化膜の形成方法をビルド
アップ基板の絶縁層の形成方法に適用した一実施例につ
いて、図1〜図5を用いて説明する。
【0020】まず、ビルドアップ基板の製造方法につい
て述べる。 (1) 図2(A)〜(F)において、コア基板10は銅張
積層板であり、紙やガラス繊維などの補強基材に樹脂を
含浸させたシート(プリプレグ)を重ね、加圧加熱処理
して得た絶縁板(積層板)の両面または片面に銅箔を張
り付けたものである。積層板としては、例えばガラス布
にエポキシ樹脂を含浸させた両面銅張積層板を用いるこ
とができる。銅箔には、公知のフォトエッチング法によ
って導体パターン20が形成されている。
【0021】(2) 図2(A)に示すように、コア基板1
0の片面に液状膜形成材としての感光性樹脂、例えばエ
ポキシアクリレート系のネガ型液状感光性樹脂をロール
コーター法により塗布し、厚みが約30μmの絶縁層3
0を形成する。そして、絶縁層30を形成した積層体4
0を低温の恒温槽に入れ、感光性樹脂の溶媒中に含まれ
る揮発性有機溶剤を除いて乾燥させ、膜質を適当に硬化
させる。次に、所望のビアパターンを焼付けた図示しな
いフォトマスクを絶縁層30に密着させ、あるいは僅か
に離して位置合わせを行い、例えば白色光等の適切な波
長の光を照射して露光する。その後、絶縁層30の表面
を粗化して絶縁層30の表面にめっき触媒を付与する。
【0022】(3) 図2(B)に示すように、無電解銅め
っきおよび電解銅めっきにより銅のめっき被膜50を形
成する。その後、銅のめっき被膜50上に感光性樹脂を
ロールコーター法により塗布して乾燥させ、これを露光
現像処理して図2(C)に示すように、エッチングレジ
スト60のパターンを形成する。
【0023】(4) 銅のめっき被膜50のうちのエッチン
グレジスト60のパターンから露出する部分をエッチン
グして図2(D)に示すように、配線層70を形成す
る。その後、エッチングレジスト60を剥離除去して図
2(E)に示すように、配線層70を表面処理する。
【0024】(5) 配線層70および絶縁層30上に感光
性樹脂をロールコーター法により塗布して乾燥させ、図
2(F)に示すように、次の層の絶縁層80を形成する
とともに、これを露光現像処理してビアホール90を形
成する。以後、上記の各工程を必要な積層数となるまで
繰り返してビルドアップ基板が製造される。
【0025】次に、感光性樹脂の塗布方法について詳細
に説明する。 図3(A)および(B)に示すように、ビアや導体
パターンに起因した凹凸部を有する基板110上にフラ
ットゴムロール120を用いて感光性樹脂200を塗布
し、乾燥する。ここで、感光性樹脂200の粘度をρc
psとすると、ρは、 500≦ρ≦5000 である。また、フラットゴムロール120は、ウレタ
ン、シリコン、バイトン等のゴムからなり、その硬度を
h°とすると、hは、 90≦h≦100 である。このとき、感光性樹脂200の塗布量を少なく
し、均一塗布を行うことで、凹部に感光性樹脂200を
充分に塗布することができる。
【0026】 図4(A)および(B)に示すよう
に、感光性樹脂200を塗布し乾燥した基板130上に
溝付きゴムロール140を用いて感光性樹脂200を塗
布し、乾燥する。ここで、溝付きゴムロール140は、
ウレタン、シリコン、バイトン等のゴムからなり、その
硬度をh1°とすると、h1は、 55≦h1≦65 である。また、溝付きゴムロール140の溝ピッチは3
60±36mmであり、溝深さは250±25mmであ
る。
【0027】 図5(A)および(B)に示すよう
に、溝付きゴムロール140を用いて感光性樹脂200
を塗布し乾燥した基板150上に溝付きゴムロール16
0を用いて、基板上に形成された絶縁層の膜厚が所定厚
みになるまで感光性樹脂200を塗布し、乾燥する。こ
こで、本実施例における所定厚みは30μmであり、溝
付きゴムロール160による塗布回数は1回である。ま
た、溝付きゴムロール160は、ウレタン、シリコン、
バイトン等のゴムからなり、その硬度をh2°とする
と、h2は、 55≦h2≦65 である。また、溝付きゴムロール160の溝ピッチは6
40±64mmであり、溝深さは440±44mmであ
る。このとき、溝付きゴムロール160の硬度をフラッ
トゴムロール120の硬度よりも小さい範囲内で任意に
変えたり、溝付きゴムロール160の溝ピッチや溝深さ
を変えることにより、感光性樹脂200の塗布量を制御
することができる。さらに、感光性樹脂200の粘度を
500〜5000cpsの範囲内で任意に変えることに
より、感光性樹脂200の塗布量を制御することができ
る。
【0028】次に、上記の、およびの工程により
形成した絶縁層の凹み量を試験した結果について表1に
示す。また、フラットゴムロール120を用いずに基板
上に感光性樹脂200を塗布した比較例1、2および3
について絶縁層の凹み量を試験した結果についても表1
に示す。なお、各ゴムロールの硬度、溝ピッチおよび溝
深さについて表2および表3に示す。表1においては、
図1に示すように、導体パターン20および配線層70
からなるトップ径d=90μmのビア上に形成した厚み
t=30μmの絶縁層80の凹み量hを試験したもので
あり、試験数はn=100である。また、表2における
フラットゴムロール#2は図3に示すフラットゴムロー
ル120に相当し、表3における溝付きゴムロール#1
は図4に示す溝付きゴムロール140に相当し、表3に
おける溝付きゴムロール#2は図5に示す溝付きゴムロ
ール160に相当する。
【0029】
【表1】
【表2】
【表3】
【0030】表1、表2および表3に示すように、比較
例1においては、溝ピッチが360±36mmであり、
溝深さが250±25mmの溝付きゴムロール#1を用
いて基板上に感光性樹脂200を3回塗布し乾燥したも
のであって、絶縁層の凹み平均値は14.7μmであっ
た。また比較例2においては、溝ピッチが640±64
mmであり、溝深さが440±44mmの溝付きゴムロ
ール#2を用いて基板上に感光性樹脂200を2回塗布
し乾燥したものであって、絶縁層の凹み平均値は16.
9μmであった。また比較例3においては、硬度が60
°±5°のフラットゴムロール#1を用いて基板上に感
光性樹脂200を1回塗布し乾燥した後、溝付きゴムロ
ール#1を用いて基板上に感光性樹脂200を1回塗布
し乾燥した後、さらに溝付きゴムロール#2を用いて基
板上に感光性樹脂200を1回塗布し乾燥したものであ
って、絶縁層の凹み平均値は8.6μmであった。
【0031】したがって、比較例1、2および3におい
ては、フォトマスクを用いて絶縁層を露光するときの精
度が低下したり、現像後の絶縁層の表面に銅めっきを施
した後、エッチングして導体パターンを形成するとき、
配線の形成精度が低下する恐れがある。さらに、銅めっ
きのエッチング時に除去すべき部分が除去されず、配線
の短絡の原因となる恐れがある。
【0032】一方本実施例においては、表1に示すよう
に、硬度が95°±5°のフラットゴムロール#2を用
いて基板110上に感光性樹脂200を1回塗布し乾燥
した後、溝付きゴムロール#1を用いて基板130上に
感光性樹脂200を1回塗布し乾燥した後、さらに溝付
きゴムロール#2を用いて基板150上に感光性樹脂2
00を1回塗布し乾燥したものであって、絶縁層80の
凹み平均値は4.8μmであった。
【0033】したがって、本実施例においては、フォト
マスクを用いて絶縁層を露光するときの精度が低下した
り、現像後の絶縁層の表面に銅めっきを施した後、エッ
チングして導体パターンを形成するとき、配線の形成精
度が低下したりすることを防止し、銅めっきのエッチン
グ時に除去すべき部分が除去されず、配線の短絡の原因
となることを防止することができる。
【0034】以上説明した本発明の一実施例において
は、硬度が95°±5°のフラットゴムロール#2を用
いて、粘度が500〜5000cpsの感光性樹脂20
0を基板上に塗布することにより、感光性樹脂200の
塗布量を少なくし、均一塗布を行うことで、凹部に感光
性樹脂200を充分に塗布することができる。その後、
乾燥し、溝付きゴムロール#1および#2を用いて感光
性樹脂200の塗布厚みが所定厚みになるまで塗布およ
び乾燥を繰返すことにより、所望の厚みの平坦な絶縁層
80を容易に得ることができる。したがって、簡便にか
つ均一に絶縁層80の凹凸を低減することができる。
【0035】さらに本実施例においては、研磨あるいは
加圧を施す必要がないので、製造工程を増大させること
なく絶縁層80の平坦化を図ることができる。さらにま
た、本実施例においては、感光性樹脂200の粘度、な
らびに溝付きゴムロール#1および#2の溝ピッチ、溝
深さ等のゴム形状を変えることにより、感光性樹脂20
0の塗布量、すなわち絶縁層80の膜厚を制御すること
ができる。
【0036】本実施例では、銅張積層板をコア基板10
に用いたが、本発明では、基板はその材質および構成に
限定されず、樹脂製フィルム等を用いてもよい。また、
本実施例では、サブトラクティブ法により製造されるビ
ルドアップ基板の絶縁層の形成方法に適用したが、本発
明では、セミアディティブ法あるいはフルアディティブ
法により製造されるビルドアップ基板の絶縁層の形成方
法に適用可能なことはいうまでもない。
【0037】また本発明においては、ビルドアップ基板
の絶縁層の形成方法に限らず、様々な形の凹凸部を有す
る基板上に平坦化膜を形成する方法に適用することは可
能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】ビルドアップ基板の絶縁層の形成方法に本発明
を適用した一実施例を説明するための模式的断面図であ
る。
【図2】(A)〜(F)は、ビルドアップ基板の製造方
法を説明するための模式的断面図である。
【図3】(A)および(B)は、本発明の一実施例によ
る感光性樹脂の塗布方法を説明するための模式図であ
る。
【図4】(A)および(B)は、本発明の一実施例によ
る感光性樹脂の塗布方法を説明するための模式図であ
る。
【図5】(A)および(B)は、本発明の一実施例によ
る感光性樹脂の塗布方法を説明するための模式図であ
る。
【図6】従来のビルドアップ基板を示す模式的断面図で
ある。
【符号の説明】
10 コア基板 20 導体パターン 30、80 絶縁層 50 銅のめっき被膜 60 エッチングレジスト 70 配線層 90 ビアホール 110、130、150 基板 120 フラットゴムロール 140、160 溝付きゴムロール 200 感光性樹脂(液状膜形成材)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // B05C 1/02 102 B05C 1/02 102

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 凹凸部を有する基板上に平坦化膜を形成
    する方法であって、 フラットゴムロールを用いて前記基板上に液状膜形成材
    を塗布し、乾燥する工程と、 前記フラットゴムロールを用いて前記液状膜形成材を塗
    布し乾燥した基板上に溝付きゴムロールを用いて前記液
    状膜形成材を塗布し、乾燥する工程と、 前記溝付きゴムロールを用いて前記液状膜形成材を塗布
    し乾燥する工程を前記基板上に形成される膜の膜厚が所
    定厚みになるまで繰返す工程と、 を含むことを特徴とする平坦化膜の形成方法。
  2. 【請求項2】 前記液状膜形成材の室温における粘度を
    ρcpsとすると、ρは、 500≦ρ≦5000 であることを特徴とする請求項1記載の平坦化膜の形成
    方法。
  3. 【請求項3】 前記フラットゴムロールの硬度は、前記
    溝付きゴムロールの硬度よりも大きいことを特徴とする
    請求項1または2記載の平坦化膜の形成方法。
  4. 【請求項4】 前記フラットゴムロールの硬度をh°と
    すると、hは、 90≦h≦100 であることを特徴とする請求項3記載の平坦化膜の形成
    方法。
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