JP2001007277A - マルチチップパッケージおよびマルチチップパッケージのアセンブリ方法 - Google Patents

マルチチップパッケージおよびマルチチップパッケージのアセンブリ方法

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JP2001007277A JP11171357A JP17135799A JP2001007277A JP 2001007277 A JP2001007277 A JP 2001007277A JP 11171357 A JP11171357 A JP 11171357A JP 17135799 A JP17135799 A JP 17135799A JP 2001007277 A JP2001007277 A JP 2001007277A
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Hiroki Arisumi
宏樹 有住
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 リードフレームとチップとの接続関係を自由
に設計できる構成とし、特性や機能の異なる複数のIC
チップの混載を可能にするマルチチップパッケージおよ
びマルチチップパッケージのアセンブリ方法を得るこ
と。 【解決手段】 チップ15aおよび15bのボンディン
グパッドのそれぞれと電気的に接続されるチップ用ボン
ディングパッドと、内部に配線された導線を介してチッ
プ用ボンディングパッドのそれぞれと一対一に対応して
電気的に接続されるリードフレーム用ボンディングパッ
ドと、を設けた信号位置変換部13を備え、リードフレ
ーム用ボンディングパッドとリードフレーム11のリー
ドとをワイヤ14によって電気的に接続し、かつ信号位
置変換部13をダイパッド12に対して固定配置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のICチップ
を包むマルチチップパッケージ(MCP)およびIC製
造工程におけるマルチチップパッケージのアセンブリ方
法に関し、特に多種多様なICチップを同一のパッケー
ジとして提供できるマルチチップパッケージおよびその
マルチチップパッケージのアセンブリ方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】近年の軽薄短小および低消費電力を実現
する電子デバイスの要求にともない、その電子デバイス
の主要を担うICチップの小型化が進んでいる。現状に
おいて実際に流通しているICチップ(ベアチップ)の
サイズは、上記した要求を十分に満たすものであり、電
子デバイスのサイズは、このICチップのサイズよりも
むしろICチップを包むパッケージ(以下、単にパッケ
ージと称する)のサイズによって決まる。
【0003】元来、半導体デバイスの機能は、半導体自
身、すなわちICチップが握っており、パッケージはI
Cチップの機能を最大限に引き出す役割を担う。また、
顧客の要求するものはICチップではなく、パッケージ
を含めた半導体デバイスとしての機能である。よって、
顧客に対して最適なパッケージ形態を与えることがCS
(顧客満足度)の向上につながり、その基準は半導体デ
バイスの機能、品質およびコストであると考えられてい
る。
【0004】また、半導体メーカ側においては、ベアチ
ップやフリップチップとして半導体デバイスを供給する
よりも、DIP(Dual Inline Package)、PGA(Pin
Grid Array)およびQFP(Quad Flat Package)等の
パッケージ形態によって供給する方が、テスト工程にお
けるハンドリングが容易となり、コストの低下を図るこ
とが可能となる。
【0005】さらに、一つのパッケージに複数のICチ
ップを包装することによって、電子デバイス全体のIC
チップ実装密度を高めたマルチチップパッケージが実用
化されている。このマルチチップパッケージは、有機基
板やセラミック基板等からなる同一の基板上に複数のベ
アチップまたはフリップチップを平面状に実装した平面
実装型と、ポリイミドやシリコン酸化物等で層状に形成
された配線を絶縁した多層基板の上下面にそれぞれベア
チップまたはフリップチップを実装した垂直実装型と、
に大きく分類される。
【0006】特に、垂直実装型のマルチチップパッケー
ジとして、二つ以上の記憶素子をスタック実装したスタ
ックチップパッケージ(SCP)が知られており、記憶
素子の高密度実装を可能としている。図12は、このよ
うな垂直実装型のマルチチップパッケージのチップ積載
方向における断面図である。図12において、従来のマ
ルチチップパッケージ100は、リードフレーム10
1、リードフレーム101のダイパッド(アイランド)
102、ダイパッド102の上面にダイボンディングさ
れたチップ105aおよびダイパッド102の下面にダ
イボンディングされたチップ105bから構成され、エ
ポキシ樹脂等のモールド樹脂110でこれらの構成要素
をモールディングした構造となっている。
【0007】また、チップ105aには、チップの機能
を発現させるための信号入出力部において複数のボンデ
ィングパッド107aが設けられており、各ボンディン
グパッド107aとリードフレーム101の各リードと
が一対一に対応して金線等のワイヤ106aで電気的に
接続されることにより、パッケージ外部との信号または
電源の入出力を可能としている。
【0008】一方、ダイパッド102の下面にダイボン
ディングされたチップ105bにおいても同様に、ワイ
ヤ106bによってリードフレーム101と電気的に接
続されるボンディングパッド107bが設けられてい
る。
【0009】図13は、図12におけるダイパッド、リ
ードフレームおよびボンディングパッドの一部分を拡大
した上面図である。図中、点線は上面からは見えない裏
面部分のボンディングパッドまたはワイヤを示してい
る。図13に示すように、リードフレーム101の一つ
の任意のリードは、そのリードに対向した位置にあるボ
ンディングパッド107aまたは107bの一つにワイ
ヤ106aまたは106bを介して接続される。
【0010】このリードフレーム101とボンディング
パッド107aまたは107bと電気的接続をなすワイ
ヤ106aまたは106bは、ノイズの混入、信号伝達
速度、材料コスト、配線構造等の問題から短い方が好ま
しく、図示するように、長くても、ボンディングパッド
とそのボンディングパッドの対向位置にあるリードに隣
接したリードとの間の距離程度である。
【0011】よって、金線等のワイヤ106aまたは1
06bを用いて、リードフレーム101とボンディング
パッド107aまたは107bとの接続関係を自由に設
計することは困難であった。これは、ダイパッド102
上にボンディングしようとするチップ105aまたは1
05bの構造を制限することになり、特に、従来では、
記憶素子のように互いに同様な入出力をおこなうチップ
以外は一つのパッケージとして包装することは困難とな
っていた。
【0012】そこで、この問題を改善するための方策と
して、たとえば特開平8―181275号公報に開示の
「半導体デバイスのパッケージ方法および半導体デバイ
スのパッケージ」によれば、上面および下面に配置させ
る各チップのボンディングパッドを、ソルダバンプを介
して導線により互いに電気的に接続するインタフェース
ボードを備え、このインタフェースボード内部の導線に
さらに電気的に接続されたインタフェース上のワイヤボ
ンドパッドとリードフレームとをワイヤボンディングす
ることにより、各チップのボンディングパッドとリード
フレームとの接続を達成し、上記したインタフェース内
部の導線の接続を考慮することによって、これら電気接
続の自由度を向上させている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た特開平8―181275号公報に開示の「半導体デバ
イスのパッケージ方法および半導体デバイスのパッケー
ジ」においては、上下面に配置したチップのボンディン
グパッド間が、インタフェースボード内部の導線により
電気的に接続された形態を想定しており、パッドパター
ンが異なるチップに対応できるにしても、同一パッケー
ジ内に混載可能なチップは、記憶素子のように同機能を
有した複数のチップのみである。
【0014】よって、アナログ信号処理用チップとデジ
タル信号処理用チップやSRAMとフラッシュメモリ
等、特性や機能が異なるチップを同一のパッケージに混
載して、それぞれ独立の機能を発現させることができな
いという問題があった。
【0015】さらに、上記した「半導体デバイスのパッ
ケージ方法および半導体デバイスのパッケージ」では、
チップをインタフェースボードに接続する際、フリップ
チップのようにソルダバンプを使用しているので、ワイ
ヤボンディングする必要のあるチップをパッケージ内に
混載することはできなかった。
【0016】この発明は上記問題点を解決するためにな
されたもので、リードフレームとチップとの接続関係を
自由に設計できる構成とし、特性や機能の異なる複数の
ICチップの混載と、ワイヤボンディングを必要とする
チップの混載とを可能にするマルチチップパッケージお
よびマルチチップパッケージのアセンブリ方法を得るこ
とを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するため、この発明にかかるマルチチップパ
ッケージにあっては、複数のチップを同一のパッケージ
として混載するマルチチップパッケージにおいて、ダイ
パッドを備えたリードフレームと、前記複数のチップの
ボンディングパッドのそれぞれと電気的に接続される複
数の第1のボンディングパッドと、内部に配線された導
線を介して前記第1のボンディングパッドのそれぞれと
一対一に対応して電気的に接続される複数の第2のボン
ディングパッドと、を設け、前記第2のボンディングパ
ッドのそれぞれと前記リードフレームのリードとがワイ
ヤボンディングによって電気的に接続されるとともに、
前記ダイパッドに対して固定配置される信号位置変換部
と、を備えたことを特徴とする。
【0018】この発明によれば、複数のチップのボンデ
ィングパッドのそれぞれと電気的に接続される複数の第
1のボンディングパッドと、内部に配線された導線を介
して前記第1のボンディングパッドのそれぞれと一対一
に対応して電気的に接続される複数の第2のボンディン
グパッドと、を設けた信号位置変換部を備え、第2のボ
ンディングパッドのそれぞれと前記リードフレームのリ
ードとがワイヤボンディングによって電気的に接続さ
れ、かつその信号位置変換部がダイパッドに対して固定
配置されるので、複数のチップの各ボンディングパッド
とリードフレームの各リードとの接続関係を信号位置変
換部の内部の導線により自由に設定することができる。
【0019】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記信号位置変換部は、層間絶縁膜と導
電膜とが交互に配置されて構成される多層配線構造であ
ることを特徴とする。
【0020】この発明によれば、信号位置変換部が、半
導体デバイスの配線構造において多く用いられている層
間絶縁膜と導電膜との交互配置により構成された多層配
線構造とするので、第1のボンディングパッドと第2の
ボンディングパッドとの接続を3次元的にレイアウトす
ることができる。
【0021】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記第2のボンディングパッドは、前記
信号位置変換部の上面または下面の一方にのみ設けられ
ていることを特徴とする。
【0022】この発明によれば、第2のボンディングパ
ッドが、信号位置変換部の上面または下面の一方にのみ
設けられるので、混載した複数のチップのボンディング
パッドからの配線を一領域に集約することができる。
【0023】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記複数のチップの少なくとも一つは、
前記チップのボンディングパッドと前記第1のボンディ
ングパッドとの電気的な接続においてワイヤボンディン
グを必要とするチップであることを特徴とする。
【0024】この発明によれば、混載させる複数のチッ
プの少なくとも一つを、ワイヤボンディングを必要とす
るチップであるので、ワイヤボンディングが必要なチッ
プのみ、ワイヤボンディングを必要としないフリップチ
ップのようなチップのみ、またはこれらが複合された複
数のチップを、同一のパッケージに混載することができ
る。
【0025】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記第1のボンディングパッドは、前記
信号位置変換部の上面に設けられた上面チップ用ボンデ
ィングパッドと、前記信号位置変換部の下面に設けられ
た下面チップ用ボンディングパッドと、から構成され、
前記複数のチップは、前記上面チップ用ボンディングパ
ッドに電気的に接続された上部チップと、前記下面チッ
プ用ボンディングパッドに電気的に接続された下部チッ
プと、を含んでいることを特徴とする。
【0026】この発明によれば、第1のボンディングパ
ッドが、信号位置変換部の上面に設けられた上面チップ
用ボンディングパッドと、信号位置変換部の下面に設け
られた下面チップ用ボンディングパッドと、から構成さ
れ、混載させる複数のチップには、上面チップ用ボンデ
ィングパッドに電気的に接続された上部チップと、下面
チップ用ボンディングパッドに電気的に接続された下部
チップと、が含まれるので、信号位置変換部を挟んだ垂
直実装型のマルチチップパッケージを実現することがで
きる。
【0027】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記ダイパッドは、前記下部チップが収
まる大きさの開口部を設け、前記信号位置変換部は、前
記開口部に前記下部チップを収めた状態で、前記ダイパ
ッドに直接に接着されることを特徴とする。
【0028】この発明によれば、ダイパッドに、下部チ
ップが収まる大きさの開口部が設けられ、信号位置変換
部は、この開口部に下部チップを収めた状態でダイパッ
ドに直接に接着されるので、このダイパッドを備えたリ
ードフレームと信号位置変換部との距離を小さくするこ
とができる。
【0029】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記開口部は、少なくとも前記下部チッ
プの厚みと等しい深さを有するブラインドホールである
ことを特徴とする。
【0030】この発明によれば、開口部が、少なくとも
下部チップの厚みと等しい深さを有するブラインドホー
ルであるので、開口部形成に要する加工時間を最小限に
抑えることができる。
【0031】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記開口部は、スルーホールであること
を特徴とする。
【0032】この発明によれば、開口部が、スルーホー
ルであるので、下部チップの厚みを問うことなく簡易な
工程により開口を形成することができる。
【0033】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記下部チップは、当該下部チップのボ
ンディングパッドにソルダバンプを設けて前記下面チッ
プ用ボンディングパッドと電気的に接続されるフリップ
チップであり、前記信号位置変換部は、前記フリップチ
ップの面上が前記ダイパッドに直接に接着されることで
固定配置されることを特徴とする。
【0034】この発明によれば、下部チップが、ボンデ
ィングパッドにソルダバンプを設けて使用されるフリッ
プチップであり、このフリップチップの面上をダイパッ
ドに直接に接着することにより信号位置変換部を固定配
置するので、信号位置変換部を固定するのに、ダイパッ
ドに対して特別な加工を必要としない。
【0035】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記ダイパッドは、前記リードフレーム
に対して、少なくとも前記フリップチップの厚みの段差
を下方に向けて設けた位置に配置されたことを特徴とす
る。
【0036】この発明によれば、ダイパッドが、リード
フレームに対して、少なくとも下部チップであるフリッ
プチップの厚みに等しい段差を下方に向けて設けた位置
に配置されるので、このダイパッドを備えたリードフレ
ームと信号位置変換部との距離を小さくすることができ
る。
【0037】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、複数のチップを同一のパッケージとして
混載するマルチチップパッケージにおいて、ダイパッド
を備えたリードフレームと、前記複数のチップのボンデ
ィングパッドのそれぞれと電気的に接続される複数の第
1のボンディングパッドと、内部に配線された導線を介
して前記第1のボンディングパッドのそれぞれと一対一
に対応して電気的に接続される複数の第2のボンディン
グパッドと、を設け、前記第2のボンディングパッドの
それぞれと前記リードフレームのリードとがワイヤボン
ディングによって電気的に接続されるとともに、前記ダ
イパッドの上面および下面においてそれぞれ固定配置さ
れる第1および第2の信号位置変換部と、を備えたこと
を特徴とする。
【0038】この発明によれば、複数のチップのボンデ
ィングパッドのそれぞれと電気的に接続される複数の第
1のボンディングパッドと、内部に配線された導線を介
して第1のボンディングパッドのそれぞれと一対一に対
応して電気的に接続される複数の第2のボンディングパ
ッドと、を設けた第1および第2の信号位置変換部を備
え、第2のボンディングパッドのそれぞれと前記リード
フレームのリードとがワイヤボンディングによって電気
的に接続され、かつこれら第1および第2の信号位置変
換部がダイパッドの上面および下面においてそれぞれ固
定配置されるので、複数のチップの各ボンディングパッ
ドとリードフレームの各リードとの接続関係を信号位置
変換部の内部の導線により自由に設定することができる
とともに、リードフレームに対して対称な位置に各チッ
プを配置することができる。
【0039】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記第1および第2の信号位置変換部
は、層間絶縁膜と導電膜とが交互に配置されて構成され
る多層配線構造であることを特徴とする。
【0040】この発明によれば、信号位置変換部が、半
導体デバイスの配線構造において多く用いられている層
間絶縁膜と導電膜との交互配置により構成された多層配
線構造とするので、第1のボンディングパッドと第2の
ボンディングパッドとの接続を3次元的にレイアウトす
ることができる。
【0041】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記第2のボンディングパッドは、前記
第1および第2の信号位置変換部の一方にのみ設けら
れ、前記ダイパッドは、前記第1および第2の信号位置
変換部の他方の前記第1のボンディングパッドと、前記
第2のボンディングパッドとを電気的に接続するための
スルーホールを設けていることを特徴とする。
【0042】この発明によれば、第2のボンディングパ
ッドが、第1および第2の信号位置変換部の一方にのみ
設けられ、ダイパッドにおいて、第1および第2の信号
位置変換部の他方の第1のボンディングパッドと第2の
ボンディングパッドとを電気的に接続するためのスルー
ホールが設けられているので、混載した複数のチップの
ボンディングパッドからの配線を一領域に集約すること
ができる。
【0043】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジにあっては、前記ダイパッドは、GNDプレーンであ
ることを特徴とする。
【0044】この発明によれば、ダイパッドがGNDプ
レーンとして用いられるので、チップにおけるGNDラ
インをダイパッドから得ることができる。
【0045】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジのアセンブリ方法にあっては、複数のチップを同一の
パッケージとして混載するマルチチップパッケージのア
センブリ方法において、複数の第1のボンディングパッ
ドと、内部に配線された導線を介して前記第1のボンデ
ィングパッドのそれぞれと一対一に対応して電気的に接
続される複数の第2のボンディングパッドと、を設けた
信号位置変換部の上面および/または下面に前記複数の
チップを接着するチップボンディング工程と、前記第1
のボンディングパッドと前記複数のチップのボンディン
グパッドとを電気的に接続する第1のパッドボンディン
グ工程と、リードフレームのダイパッドに対して前記信
号位置変換部を固定配置するマウント工程と、前記第2
のボンディングパッドと前記リードフレームの各リード
とを電気的に接続する第2のパッドボンディング工程
と、を含んだことを特徴とする。
【0046】この発明によれば、チップボンディング工
程によって、複数の第1のボンディングパッドとこの第
1のボンディングパッドのそれぞれと一対一に対応して
内部に配線された導線により電気的に接続される複数の
第2のボンディングパッドと、を設けた信号位置変換部
の上面および/または下面に、複数のチップを接着し、
第1のパッドボンディング工程によって、第1のボンデ
ィングパッドと複数のチップのボンディングパッドとを
電気的に接続し、マウント工程によって、リードフレー
ムのダイパッドに対して信号位置変換部を固定配置し、
第2のパッドボンディング工程によって、第2のボンデ
ィングパッドとリードフレームの各リードとを電気的に
接続するので、複数のチップの各ボンディングパッドと
リードフレームの各リードとの接続関係を信号位置変換
部の内部の導線により自由に設定することができるパッ
ケージを得ることができる。
【0047】つぎの発明にかかるマルチチップパッケー
ジのアセンブリ方法にあっては、複数のチップを同一の
パッケージとして混載するマルチチップパッケージのア
センブリ方法において、複数の第1のボンディングパッ
ドと、内部に配線された導線を介して前記第1のボンデ
ィングパッドのそれぞれと一対一に対応して電気的に接
続される複数の第2のボンディングパッドと、を設けた
第1および第2の信号位置変換部の各上面に前記複数の
チップを接着するチップボンディング工程と、前記第1
の信号位置変換部に接着されたチップのボンディングパ
ッドと当該第1の信号位置変換部の第1のボンディング
パッドとを電気的に接続するとともに、前記第2の信号
位置変換部に接着されたチップのボンディングパッドと
当該第2の信号位置変換部の第1のボンディングパッド
とを電気的に接続する第1のパッドボンディング工程
と、リードフレームのダイパッドの上面に前記第1の信
号位置変換部を直接に接着するとともに、当該ダイパッ
ドの下面に前記第2の信号位置変換部を直接に接着する
マウント工程と、前記第2のボンディングパッドと前記
リードフレームの各リードとを電気的に接続する第2の
パッドボンディング工程と、を含んだことを特徴とす
る。
【0048】この発明によれば、チップボンディング工
程によって、複数の第1のボンディングパッドと、内部
に配線された導線を介して第1のボンディングパッドの
それぞれと一対一に対応して電気的に接続される複数の
第2のボンディングパッドと、を設けた第1および第2
の信号位置変換部の各上面に複数のチップを接着し、第
1のパッドボンディング工程によって、第1の信号位置
変換部に接着されたチップのボンディングパッドとその
第1の信号位置変換部の第1のボンディングパッドとを
電気的に接続するとともに、第2の信号位置変換部に接
着されたチップのボンディングパッドとその第2の信号
位置変換部の第1のボンディングパッドとを電気的に接
続し、マウント工程によって、リードフレームのダイパ
ッドの上面に第1の信号位置変換部を直接に接着すると
ともに、そのダイパッドの下面に第2の信号位置変換部
を直接に接着し、第2のパッドボンディング工程によっ
て、第2のボンディングパッドとリードフレームの各リ
ードとを電気的に接続するので、複数のチップの各ボン
ディングパッドとリードフレームの各リードとの接続関
係を信号位置変換部の内部の導線により自由に設定する
ことができるとともに、リードフレームに対して対称な
位置に各チップを配置することができるパッケージを得
ることができる。
【0049】
【発明の実施の形態】以下に、この発明にかかるマルチ
チップパッケージおよびマルチチップパッケージのアセ
ンブリ方法の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明す
る。なお、この実施の形態によりこの発明が限定される
ものではない。
【0050】実施の形態1.まず、実施の形態1にかか
るマルチチップパッケージおよびマルチチップパッケー
ジのアセンブリ方法について説明する。図1は、実施の
形態1にかかるマルチチップパッケージのチップ積載方
向における断面図である。
【0051】図1において、実施の形態1にかかるマル
チチップパッケージ10は、リードフレーム11、リー
ドフレーム11のダイパッド(アイランド)12、ダイ
パッド12の上面にダイボンディングされた信号位置変
換部13、信号位置変換部13の上面にダイボンディン
グされたチップ15aおよび信号位置変換部13の下面
にダイボンディングされたチップ15bを備えて構成さ
れ、エポキシ樹脂等のモールド樹脂20でこれらの構成
要素をモールディングした構造となっている。
【0052】また、チップ15aおよび15bは、後述
するように、チップの機能を発現させるための信号入出
力部において複数のボンディングパッドを設け、ワイヤ
ボンディングによる電気接続を可能とするものである。
特に、チップ15aとチップ15bとは、アナログ信号
処理用チップとデジタル信号処理用チップやSRAMと
フラッシュメモリ等のように、互いに特性や機能が異な
るチップでもよく、また、そのボンディングパッドのレ
イアウトも同一である必要はない。
【0053】そして、信号位置変換部13には、チップ
15aを上面に取り付けた状態において上記したチップ
15aの各ボンディングパッドにワイヤ16aを介して
電気接続されるボンディングパッド(以下、上面チップ
用ボンディングパッドと称する)が、チップ15aの各
ボンディングパッドに一対一に対応するように並置して
設けられている。
【0054】また、信号位置変換部13は、その下面に
おいても同様に、チップ15bを取り付けた状態におい
てチップ15bの各ボンディングパッドにワイヤ16b
を介して電気接続されるボンディングパッド(以下、下
面チップ用ボンディングパッドと称する)が、チップ1
5bの各ボンディングパッドに一対一に対応するように
並置して設けられている。
【0055】さらに、この信号位置変換部13の上面に
は、リードフレーム11の各リードに一対一に対応して
ワイヤボンディングされるためのボンディングパッド
(以下、リードフレーム用ボンディングパッドと称す
る)が設けられており、ワイヤ14によって電気接続さ
れる。このような構造を有する信号位置変換部13は、
その内部において、上記した上面チップ用ボンディング
パッドおよび下面チップ用ボンディングパッドの各ボン
ディングパッドが上記したリードフレーム用ボンディン
グパッドの任意の一つに接続されるように導線を配線し
ている。
【0056】すなわち、チップ15aおよび15bの各
ボンディングパッドは、信号位置変換部13の上面チッ
プ用ボンディングパッドまたは下面チップ用ボンディン
グパッドの各ボンディングパッドと、その内部の導線
と、リードフレーム用ボンディングパッドとを介するこ
とにより、リードフレームとの電気接続を可能としてい
る。
【0057】図2は、実施の形態1にかかるマルチチッ
プパッケージの組み立て概観を示す斜視図である。な
お、図2においては、理解を容易にするため、チップ1
5aおよびチップ15bについて、それぞれ一部のボン
ディングパッド17aおよび17bのみを示しており、
特に、これらボンディングパッド17aおよび17bが
信号位置変換部13を挟んで回転対称となるように配置
された場合を示している。同様に、信号位置変換部13
のリードフレーム用ボンディングパッド19およびリー
ドフレーム11についても一部のみを示している。
【0058】図2に示すように、信号位置変換部13の
上面にダイボンドされるチップ15aは、ボンディング
パッド17aのそれぞれと、ワイヤ16aと、信号位置
変換部13の上面チップ用ボンディングパッド18aと
を介してワイヤボンドされる。一方、信号位置変換部1
3の下面にダイボンドされるチップ15bも同様に、ボ
ンディングパッド17bのそれぞれと、ワイヤ16b
と、信号位置変換部13の下面チップ用ボンディングパ
ッド18bとを介してワイヤボンドされる。
【0059】ここで、信号位置変換部13の下面にはチ
ップ15bが取り付けられているため、信号位置変換部
13をリードフレーム11のダイパッド上に取り付ける
には、このチップ15bをダイパッド上にダイボンドす
ることになる。通常のダイパッドは、リードフレーム1
1と同一平面上に形成されるため、上記したように、ダ
イバッド上にチップ15bをダイボンドすると、そのチ
ップ15bの厚み分だけ、信号位置変換部13のリード
フレーム用ボンディングパッド19とリードフレーム1
1との距離が長くなってしまう。
【0060】このことは、リードフレーム用ボンディン
グパッド19とリードフレーム11とをワイヤボンディ
ングするワイヤ14の長さを多く必要とすることを意味
し、上述したようにノイズの混入、信号伝達速度、材料
コスト、配線構造等の問題から好ましくない。
【0061】そこで、マルチチップパッケージ10にお
いては、信号位置変換部13の下面に取り付けられたチ
ップ15bの大きさおよび厚み以上の開口を形成したダ
イパッド12を用い、チップ15bがこの開口内に収ま
るように信号位置変換部13をダイパッド12上に取り
付けることで、上記した問題を解決している。
【0062】すなわち、信号位置変換部13は、その下
面においてチップ15bが取り付けられていない部分
と、ダイパッド12の開口を除く表面部分が接触し、そ
の接触した部分においてダイボンディングを可能とする
構造となる。
【0063】なお、信号位置変換部13に形成される開
口は、チップ15bがワイヤ16bによってワイヤボン
ドされた状態で収まる大きさおよび深さであれば、ブラ
インドホールでもよいが、開口の形成工程やモールディ
ングの密封度を考慮すると、スルーホールである方がよ
り好ましい。
【0064】つぎに、信号位置変換部13について説明
する。図3は、信号位置変換部13の構造について説明
するための上面図であり、特に、チップ15aの積載方
向から見た上面図を示している。また、図4は、信号位
置変換部13の構造について説明するための断面図であ
る。
【0065】まず、図3に示す信号位置変換部13は、
理解を容易にするため、その内部に配線される導電膜2
1a、21b、21cおよび21dを示しているが、実
際には、図4において後述するように、多層配線構造を
有しており、その層数において許される範囲だけの3次
元配線を可能とするものである。
【0066】図3に示すように、チップ15aのボンデ
ィングパッド17a−1、17a−2、17a−3およ
び17a−4は、これらボンディングパッドにそれぞれ
並置した信号位置変換部13の上面チップ用ボンディン
グパッド18a−1、18a−2、18a−3および1
8a−4とワイヤボンドされる。
【0067】そして、信号位置変換部13は、たとえ
ば、図示するように、その内部の多層構造において、上
面チップ用ボンディングパッド18a−1とリードフレ
ーム用ボンディングパッド19−4とを導電膜21bに
よって電気接続されている。同様に、上面チップ用ボン
ディングパッド18a−2、18a−3および18a−
4は、それぞれリードフレーム用ボンディングパッド1
9−1、19−6および19−5と、それぞれ導電膜2
1a、21dおよび21cによって電気接続される。
【0068】なお、図示していないが、信号位置変換部
13の下面に取り付けられたチップ15bのボンディン
グパッド17bのそれぞれについても同様に、信号位置
変換部13の内部の導電膜によって、リードフレーム1
1に導かれる。
【0069】信号位置変換部13の多層構造は、たとえ
ば図4に示すように、層間絶縁膜とメタル層(図中、第
1〜4メタル層)とが交互に積層して形成され、ボンデ
ィングパッド18aとリードフレーム用ボンディングパ
ッド19とが、タングステンCVD等の埋め込み技術に
よって形成されるビアホール(via hole)またはコンタ
クトホール23と導電膜24とを介して電気接続され
る。
【0070】よって、これら複数のメタル層とそのメタ
ル層形成領域とを考慮して、適宜設計することにより、
上面チップ用ボンディングパッド18aまたは下面チッ
プ用ボンディングパッド18bとリードフレーム用ボン
ディングパッド19との接続関係を自由に設定すること
が可能となり、このパッケージに混載するチップの仕様
に応じて変更することができる。
【0071】つぎに、上述したマルチチップパッケージ
10のアセンブリ方法について説明する。図5は、実施
の形態1にかかるマルチチップパッケージのアセンブリ
方法における各工程を示すフローチャートである。図5
においてまず、マルチチップパッケージ10の製造工程
における前工程が終了しているものとする。
【0072】この前工程とは、マルチチップパッケージ
10に混載する各チップ(チップ15aや15b)を製
造する工程であり、より詳しくは、シリコンウェハの鏡
面研磨工程、シリコン酸化膜作成工程、シリコン窒化膜
作成工程、回路パターニング工程(フォトリソグラフ
ィ、エッチング、レジスト剥離、洗浄等を多層構造とな
るように適宜繰り返す)をおこなうことでチップをウェ
ハとして供給可能な状態とし、つづいてG/W工程によ
ってそのウェハ上のチップの良品・不良品が検査される
までの工程を示す。
【0073】そして、この前工程が終了した後、ウェハ
から上記したG/W工程において良品と判定されたチッ
プを個別に切り分けるダイシングがおこなわれる(ステ
ップS101)。このステップS101においては、同
一のパッケージ内に混載する複数種のチップがそれぞれ
形成されたウェハからのダイシングを含んでいる。
【0074】また、信号位置変換部13の作成(ステッ
プS102)やリードフレーム11の作成(ステップS
105)は、上記した前工程およびダイシングと同様な
工程によって完了しているものとする。信号位置変換部
13は、チップの回路パターン作成工程においておこな
われている多層配線形成工程によって作成することがで
き、リードフレーム11の作成も同様にフォトリソグラ
フィ工程によって作成することができる。ただし、リー
ドフレーム11の作成においては、そのダイパッド12
に、上述したような開口を形成する工程がさらに必要と
なる。
【0075】チップのダイシングが終了した後、すなわ
ち同一パッケージ内に混載する各チップが用意された後
は、ステップS102においてあらかじめ作成された信
号位置変換部13の上下面に、それらチップを図2に示
したようにダイボンドする(ステップS103)。
【0076】つぎに、ダイボンドされたチップ、たとえ
ば図2に示すチップ15aおよび15bの各ボンディン
グパッドと、それらに並置した位置にある信号位置変換
部13の上面チップ用ボンディングパッド18aまたは
下面チップ用ボンディングパッド18bと、を金線等の
ワイヤ16aまたは16bを用いてワイヤボンドする
(ステップS104)。
【0077】そして、上下面にそれぞれチップ15aお
よび15bを取り付けてワイヤボンドされた状態の信号
位置変換部13を、ステップS105においてあらかじ
め作成されたリードフレーム11のダイパッド12の上
面に、図2に示したようにダイボンドする(ステップS
106)。
【0078】ステップS106におけるダイボンディン
グは、上述したように、ダイパッド12の開口周辺上
に、通常の半導体チップのマウント工程と同様に、たと
えば銀ペースト等の接着樹脂をスポット状に載せ、ここ
に信号位置変換部13のチップ15bが取り付けられて
いない下面部分を軽く押し付けることによりおこなう。
【0079】信号位置変換部13をダイパッド12上に
ダイボンドした後は、信号位置変換部13のリードフレ
ーム用ボンディングパッド19のそれぞれと、それらに
並置した位置にあるリードフレーム11のリードと、を
金線等のワイヤ14を用いてワイヤボンドする(ステッ
プS107)。
【0080】この後、上記した信号位置変換部13と一
体となったリードフレーム11を、たとえば、金型成型
機にセットし、温度を上げて液状化したエポキシ樹脂等
のモールド樹脂を圧送して流し込むことにより、モール
ドする(ステップS108)。最後に、リードフレーム
11の余分な樹脂やバリを取り、必要であるならばリー
ドをメッキする(ステップS109)。
【0081】以上のステップによって実施の形態1にか
かるマルチチップパッケージ10を得ることができる。
特に、このマルチチップパッケージ10は、DIP、P
GAおよびQFP等の種々のパッケージ形態によって提
供することが可能である。
【0082】なお、以上に説明したマルチチップパッケ
ージ10は、垂直実装型の形態をとるものであるが、平
面実装型のマルチチップパッケージに対しても、上述し
た信号位置変換部13を備えることで同様な効果を得る
ことができる。この場合、信号位置変換部13の下面に
取り付けられるチップ15bがチップ15aと同一平面
上に配置されることになり、ダイパッド12に開口を形
成する必要もない。
【0083】また、信号位置変換部13の上下面に取り
付けるチップは、ワイヤボンディングを必要とするチッ
プのみでなく、ソルダバンプを介して取り付け可能なフ
リップチップであってもよい。この場合、信号位置変換
部13の上面チップ用ボンディングパッド18aまたは
下面チップ用ボンディングパッド18bは、フリップチ
ップのソルダバンプの配列に対応するように形成され
る。ワイヤボンディングを必要とするチップとフリップ
チップとを混載することも可能である。
【0084】以上に説明したとおり、実施の形態1にか
かるマルチチップパッケージおよびマルチチップパッケ
ージのアセンブリ方法によれば、複数のチップを信号位
置変換部13に取り付け、この信号位置変換部13の内
部に配線された導線によって、複数のチップの各ボンデ
ィングパッドとリードフレームの各リードとを自由に対
応付けて電気接続することが可能となり、これにより、
互いに特性や機能が異なる複数のチップを混載して同一
のパッケージとして提供することができる。
【0085】また、実施の形態1にかかるマルチチップ
パッケージ10を垂直実装型のマルチパッケージに適用
する場合には、信号位置変換部13を取り付けるダイパ
ッド12に、信号位置変換部13の下面に取り付けられ
たチップ15bがワイヤボンディングされた状態で格納
可能な開口を形成するので、信号位置変換部13とダイ
パッド12とを直接にダイボンドすることが可能とな
り、これにより信号位置変換部13のリードフレーム用
ボンディングパッド19と、ダイパッド12と略同一平
面にあるリードフレーム11の各リードと、の間を電気
接続するワイヤ14の距離が長くなることを避けること
ができる。
【0086】さらに、信号位置変換部13の上面チップ
用ボンディングパッド18aまたは下面チップ用ボンデ
ィングパッド18bのレイアウトを適宜変更することに
より、混載するチップの形態を、ワイヤボンディングを
必要とするチップのみ、ソルダバンプを介して接続され
るフリップチップのみ、またはこれらを複合した形態と
することができる。
【0087】実施の形態2.つぎに、実施の形態2にか
かるマルチチップパッケージおよびマルチチップパッケ
ージのアセンブリ方法について説明する。図6は、実施
の形態2にかかるマルチチップパッケージのチップ積載
方向における断面図である。なお、図6において、図1
と共通する部分には同一符号を付して、その説明を省略
する。
【0088】図6に示す実施の形態2にかかるマルチチ
ップパッケージ30は、垂直実装型のマルチチップパッ
ケージにおいて、信号位置変換部13の下面に取り付け
るチップ35bをフリップチップの形態とし、このチッ
プ35bをダイパッド32上にダイボンドするとととも
に、信号位置変換部13のリードフレーム用ボンディン
グパッド19とリードフレーム11との距離を小さくす
るべく、ダイパッド32がリードフレーム11のリード
よりも下方に位置するように、ダイパッド32とリード
フレーム11のリードとの間に段差を設けた点が、実施
の形態1にかかるマルチチップパッケージ10と異な
る。なお、ダイパッド32に開口は形成されていない。
【0089】実施の形態1にかかるマルチチップパッケ
ージ10では、ダイパッド12に開口を形成し、信号位
置変換部13の周辺部とダイパッド12とをダイボンド
したが、この方法だとダイパッド12の面積は、信号位
置変換部13の下面に取り付けるチップ15bの面積と
そのチップ15bを下面チップ用ボンディングパッド1
8bにワイヤボンディングするためのワイヤ領域および
信号位置変換部13の周辺部におけるボンディング面積
を考慮した大きさとしなければならず、信号位置変換部
13の面積もまた同様に、ボンディング領域を確保する
ための面積を考慮した大きさにする必要がある。
【0090】そこで、実施の形態2にかかるマルチチッ
プパッケージ30では、図6に示すように、信号位置変
換部13の下面に取り付けられたチップ35bを、ワイ
ヤ領域を必要としないフリップチップの形態とし、この
チップ35bをダイパッド32上に直接にボンドするこ
とで、ダイパッド32の面積をチップ35bにおけるボ
ンディング領域、すなわちチップ35bの面積と同程度
まで小さくすることができ、これにより信号位置変換部
13の面積もまた無用に大きくする必要がなくなる。
【0091】なお、信号位置変換部13の上面に取り付
けられるチップ15aは、ワイヤボンディングを必要と
するチップでもよいが、このチップ15aもまたチップ
15bと同様なフリップチップの形態によるチップとす
ることで、ソルダバンプとリフローされる上面チップ用
ボンディングパッドをチップ15aの面積内に収めるこ
とができ、信号位置変換部13の大きさをさらに小さく
することができる。
【0092】図7は、実施の形態2にかかるマルチチッ
プパッケージの組み立て概観を示す斜視図である。な
お、図7において、図2と共通する部分には同一符号を
付して、その説明を省略する。また、図7においては、
理解を容易にするため、チップ15aについては一部の
ボンディングパッド17aのみを示しており、信号位置
変換部13のリードフレーム用ボンディングパッド19
およびリードフレーム11についても一部のみを示して
いる。ただし、チップ35bには、ボンディングパッド
に相当する各位置にソルダバンプ37bが設けられてい
る。
【0093】信号位置変換部13の下面には、チップ3
5bにソルダバンプが設けられたボンディングパッドの
レイアウトに対応するように、下面チップ用ボンディン
グパッド(図示していない)が設けられており、チップ
35bは、リフロー等によってソルダバンプ37bを介
してこの下面チップ用ボンディングパッドに電気接続さ
れる。
【0094】ここで、信号位置変換部13の下面にはチ
ップ35bが取り付けられているため、信号位置変換部
13をリードフレーム11のダイパッド上に取り付ける
には、このチップ35bをダイパッド上にダイボンドす
ることになる。ただし、ダイバッド上にチップ35bを
ダイボンドすると、上述したように、そのチップ35b
の厚み分だけ、信号位置変換部13のリードフレーム用
ボンディングパッド19とリードフレーム11との距離
が長くなり、リードフレーム用ボンディングパッド19
とリードフレーム11とをワイヤボンドするワイヤ14
の長さを多く必要としてしまう。
【0095】そこで、マルチチップパッケージ30にお
いては、ダイパッド32とリードフレーム11との間
に、チップ35bをこのダイパッド32に取り付けた状
態で信号位置変換部13のリードフレーム用ボンディン
グパッド19とリードフレーム11との距離が小さくな
るように、信号位置変換部13の下面に取り付けられた
チップ15bの大きさおよび厚み以上の段差を設けてい
る。
【0096】つぎに、上述したマルチチップパッケージ
30のアセンブリ方法について説明する。図8は、実施
の形態2にかかるマルチチップパッケージのアセンブリ
方法における各工程を示すフローチャートである。図8
においてまず、マルチチップパッケージ30の製造工程
における前工程が終了しているものとする。
【0097】この前工程とは、実施の形態1において説
明したものと同様の工程を示す。また、信号位置変換部
13の作成(ステップS202)やリードフレーム11
の作成(ステップS206)は、それぞれ図5のステッ
プS102およびステップS105に相当する工程であ
り、これら信号位置変換部13およびリードフレーム1
1はあらかじめ作成されているものとする。ただし、リ
ードフレーム11の作成においては、そのダイパッド3
2とリードとの間に上記したような段差を設ける工程が
さらに必要となる。
【0098】前工程が終了した後は、図5のステップS
101と同様なダイシングがおこなわれる(ステップS
201)。このステップS201によって同一パッケー
ジ内に混載する各チップ(チップ15a、チップ35
b)が用意された後は、まず、信号位置変換部13の下
面に取り付けるフリップチップ形態のチップ35bのボ
ンディングパッドにソルダバンプを設ける(ステップS
203)。
【0099】そして、図7に示したように、ステップS
202においてあらかじめ作成された信号位置変換部1
3の上面にチップ15aをダイボンドし、下面にチップ
35bをワイヤレスボンド(リフローによるボンディン
グ)する(ステップS204)。
【0100】チップ35bについては、リフローによる
ボンディングにより信号位置変換部13への固定と電気
接続とが同時におこなわれているので、ダイボンドされ
たチップ15aの各ボンディングパッドと、それらに並
置した位置にある信号位置変換部13の上面チップ用ボ
ンディングパッド18aと、を金線等のワイヤ16aを
用いてワイヤボンドする(ステップS205)。
【0101】そして、図7に示したように、信号位置変
換部13の下面に取り付けられたチップ35bを、ステ
ップS206においてあらかじめ作成されたリードフレ
ーム11のダイパッド32上にダイボンドする(ステッ
プS207)。
【0102】つづく信号位置変換部13のリードフレー
ム用ボンディングパッド19とリードフレーム11のリ
ードとのワイヤボンディング工程(ステップS20
8)、モールディング工程(ステップS209)および
バリ取り工程(ステップS209)は、それぞれ図5に
示したステップS107、ステップS108およびステ
ップS109と同様であるので、ここではそれらの説明
を省略する。
【0103】よって、以上のステップにより実施の形態
2にかかるマルチチップパッケージ30を得ることがで
きる。このマルチチップパッケージ30もまた、DI
P、PGAおよびQFP等の種々のパッケージ形態によ
って提供することが可能である。
【0104】以上に説明したとおり、実施の形態2にか
かるマルチチップパッケージおよびマルチチップパッケ
ージのアセンブリ方法によれば、複数のチップを信号位
置変換部13に取り付け、この信号位置変換部13の内
部に配線された導線によって、複数のチップの各ボンデ
ィングパッドとリードフレームの各リードとを自由に対
応付けて電気接続することが可能となり、これにより、
互いに特性や機能が異なる複数のチップを混載して同一
の垂直実装型のマルチパッケージとして提供することが
できる。
【0105】また、信号位置変換部13の下面に、ワイ
ヤボンディングを必要としないフリップチップの形態で
あるチップ35bを取り付けているので、チップ35b
をリードフレーム11のダイパッド32に直接にダイボ
ンドすることで信号位置変換部13をリードフレームに
固定することができ、ダイパッド32の面積をチップ3
5bにおけるボンディング領域、すなわちチップ35b
の面積と同程度まで小さくすることができるとともに、
信号位置変換部13の面積もまた無用に大きくする必要
もなく、これによりパッケージ全体の大きさを小さくす
ることが可能になる。
【0106】また、実施の形態2にかかるマルチチップ
パッケージ30は、信号位置変換部13の下面のチップ
35bを取り付けるダイパッド32とリードフレーム1
1との間に、少なくともチップ35bの厚み程度の段差
を設けているので、信号位置変換部13のリードフレー
ム用ボンディングパッド19と、リードフレーム11の
各リードと、の間を電気接続するワイヤ14の距離が長
くなることを避けることができる。
【0107】さらに、信号位置変換部13の上面チップ
用ボンディングパッド18aのレイアウトを適宜変更す
ることにより、上面に取り付けるチップの形態を、ワイ
ヤボンディングを必要とするチップまたはソルダバンプ
を介して接続されるフリップチップのいずれかを選択す
ることができる。
【0108】実施の形態3.つぎに、実施の形態3にか
かるマルチチップパッケージおよびマルチチップパッケ
ージのアセンブリ方法について説明する。図9は、実施
の形態3にかかるマルチチップパッケージのチップ積載
方向における断面図である。なお、図9において、図1
と共通する部分には同一符号を付して、その説明を省略
する。
【0109】図9に示す実施の形態3にかかるマルチチ
ップパッケージ40は、垂直実装型のマルチチップパッ
ケージにおいて、チップ15aを取り付けた信号位置変
換部43aとチップ15bを取り付けた信号位置変換部
43bの二つの信号位置変換部を、ダイパッド42の上
下面にそれぞれダイボンドし、ダイパッド42に対して
上面にある信号位置変換部43aのみをリードフレーム
11にワイヤボンドした点が、実施の形態1にかかるマ
ルチチップパッケージ10と異なる。なお、信号位置変
換部43aおよび43bは、実施の形態1に示した信号
位置変換部13と同様な構造であり、ダイパッド42
は、GNDプレーンとして機能するとともに、下面の信
号位置変換部43bの内部に配線された導線を上面の信
号位置変換部43aの内部の導線に電気接続するための
スルーホールが設けられている。
【0110】実施の形態2にかかるマルチチップパッケ
ージ30では、信号位置変換部13の下面に取り付けら
れたチップ35bをダイパッド32に直接にダイボンド
することで信号位置変換部13とダイパッド32の面積
を小さくすることを可能とするが、この方法だとダイパ
ッド32と信号位置変換部13との平坦度を高精度に保
つ必要が生じ、信号位置変換部13のリードフレーム用
ボンディングパッド19とリードフレーム11の各リー
ドとの距離が不均一になるといった問題が生じる可能性
がある。また、信号位置変換部13のリードフレーム用
ボンディングパッド19とリードフレーム11の各リー
ドとの距離が大きくなり、上述したようにダイパッド3
2とリードフレーム11との間に段差を設けるといった
工夫が必要であった。
【0111】そこで、実施の形態3にかかるマルチチッ
プパッケージ40では、図9に示すように、二つの信号
位置変換部43aおよび43bを用意し、信号位置変換
部43aの上面にチップ15aをダイボンドするととも
に、チップ15aと信号位置変換部43aとをワイヤボ
ンドした構成の第1のチップ部と、信号位置変換部43
bの上面にチップ15bをダイボンドするとともに、チ
ップ15bと信号位置変換部43bとをワイヤボンドし
た構成の第2のチップ部と、をダイパッド42の上下面
にそれぞれダイボンドして、第1のチップ部の信号位置
変換部43aとリードフレーム11とをワイヤボンドし
ている。
【0112】信号位置変換部43aおよび43bは、フ
リップチップのようなチップよりもダイパッド42の表
面に対して平坦度の高いものを容易に得ることができる
ので、各信号位置変換部43aおよび43bとリードフ
レーム11との間の距離の均衡を保つことができる。な
お、信号位置変換部43aおよび43bのそれぞれの上
面に取り付けられるチップは、ワイヤボンディングを必
要とするチップでも、フリップチップの形態によるチッ
プでもよい。
【0113】図10は、実施の形態3にかかるマルチチ
ップパッケージの組み立て概観を示す斜視図である。な
お、図10において、図2と共通する部分には同一符号
を付して、その説明を省略する。また、図10において
は、理解を容易にするため、チップ15aおよびチップ
15bについて、それぞれ一部のボンディングパッド1
7aおよび17bのみを示しており、特に、これらボン
ディングパッド17aおよび17bが信号位置変換部4
3a、ダイパッド42および信号位置変換部43bを挟
んで回転対称となるように配置された場合を示してい
る。同様に、信号位置変換部43aのリードフレーム用
ボンディングパッド49およびリードフレーム11につ
いても一部のみを示している。
【0114】ここで、リードフレーム11の各リードと
ワイヤボンディングされるリードフレーム用ボンディン
グパッド49は、ダイパッド42の上面にダイボンドさ
れた信号位置変換部43aのみに設けられているため、
下面にダイボンドされた信号位置変換部43bの内部に
配線された導線、すなわちチップ15bのボンディング
パッド17bのそれぞれの接続先を、信号位置変換部4
3aのリードフレーム用ボンディングパッド49へと導
く必要がある。
【0115】そこで、信号位置変換部43aにおいてダ
イパッド42にダイボンドされる側の面に、信号位置変
換部43bのボンディングパッド48bのそれぞれをリ
ードフレーム用ボンディングパッド49の一つに接続さ
れるように複数のコンタクトホールが設けられている。
ダイパッド42においても、このコンタクトホールに対
応するように、スルーホールが設けられている。
【0116】同様に、信号位置変換部43bにおいても
ダイパッド42にダイボンドされる側の面に、上記した
信号位置変換部43aのコンタクトホールおよびダイパ
ッド42のスルーホールに対応するように複数のコンタ
クトホールが設けられている。
【0117】つぎに、上述したマルチチップパッケージ
40のアセンブリ方法について説明する。図11は、実
施の形態3にかかるマルチチップパッケージのアセンブ
リ方法における各工程を示すフローチャートである。図
11においてはまず、マルチチップパッケージ40の製
造工程における前工程が終了しているものとする。
【0118】この前工程とは、実施の形態3において説
明したものと同様の工程を示す。また、二つの信号位置
変換部43aおよび43bの作成(ステップS302)
やリードフレーム11の作成(ステップS305)は、
それぞれ図5のステップS102およびステップS10
5に相当する工程であり、これら信号位置変換部13お
よびリードフレーム11はあらかじめ作成されているも
のとする。ただし、リードフレーム11の作成において
は、ダイパッド42に上述したようなスルーホールを作
成する工程(ステップS306)がさらに必要となる。
【0119】前工程が終了した後は、図5のステップS
101と同様なダイシングがおこなわれる(ステップS
301)。このステップS301によって同一パッケー
ジ内に混載する各チップ(チップ15a、チップ15
b)が用意された後は、図10に示したように、ステッ
プS302においてあらかじめ作成された信号位置変換
部43aおよび43bの各上面にそれぞれチップ15a
および15bをダイボンドする(ステップS303)。
【0120】そして、信号位置変換部43aのボンディ
ングパッド48aとチップ15aのボンディングパッド
17aとのワイヤボンディングをおこない、これら信号
位置変換部43aとチップ15aから構成される第1の
チップ部を得る。同様に、信号位置変換部43bのボン
ディングパッド48bとチップ15bのボンディングパ
ッド17bとのワイヤボンディングをおこない、これら
信号位置変換部43bとチップ15bから構成される第
2のチップ部を得る(ステップS304)。
【0121】そして、図10に示したように、第1のチ
ップ部の信号位置変換部43aを、ステップS305お
よびS306においてあらかじめ作成されたリードフレ
ーム11のダイパッド42の上面にダイボンドし、第2
のチップ部の信号位置変換部43bをダイパッド42の
下面にダイボンドする(ステップS307)。
【0122】つづく第1のチップ部の信号位置変換部4
3aのリードフレーム用ボンディングパッド49とリー
ドフレーム11のリードとのワイヤボンディング工程
(ステップS308)、モールディング工程(ステップ
S309)およびバリ取り工程(ステップS310)
は、それぞれ図5に示したステップS107、ステップ
S108およびステップS109と同様であるので、こ
こではそれらの説明を省略する。
【0123】よって、以上のステップにより実施の形態
3にかかるマルチチップパッケージ40を得ることがで
きる。このマルチチップパッケージ40もまた、DI
P、PGAおよびQFP等の種々のパッケージ形態によ
って提供することが可能である。
【0124】なお、上述した説明においては、リードフ
レーム用ボンディングパッド49は、ダイパッド42の
上面にダイボンドされた信号位置変換部43aのみに設
けられるとしたが、信号位置変換部43bにおいてもリ
ードフレーム用ボンディングパッド49を設けるように
してもよい。この場合、ダイパッド42にスルーホール
を設ける必要はない。
【0125】以上に説明したとおり、実施の形態3にか
かるマルチチップパッケージおよびマルチチップパッケ
ージのアセンブリ方法によれば、信号位置変換部43a
および43bにそれぞれチップを取り付けた構成である
第1のチップ部および第2のチップ部を作成し、スルー
ホールが形成されたダイパッド42の上下面に、信号位
置変換部43aおよび43bの内部に配線された導線に
よって各チップの各ボンディングパッドとリードフレー
ムの各リードとが対応付けて電気接続されるように、信
号位置変換部43aおよび43bをダイボンドしている
ので、互いに特性や機能が異なる複数のチップを混載し
て同一の垂直実装型のマルチパッケージとして提供する
ことができる。
【0126】また、平坦度を比較的高くすることのでき
る信号位置変換部43aおよび43bを直接にダイパッ
ド42にダイボンドしているので、各信号位置変換部4
3aおよび43bとリードフレーム11との間の距離の
均衡を保つことができ、リードフレーム用ボンディング
パッド49とリードフレーム11の各リードとの高精度
なワイヤボンディングをおこなうことができる。
【0127】さらに、信号位置変換部13の上面チップ
用ボンディングパッド18aまたは下面チップ用ボンデ
ィングパッド18bのレイアウトを適宜変更することに
より、混載するチップの形態を、ワイヤボンディングを
必要とするチップ、ソルダバンプを介して接続されるフ
リップチップ、またはこれらの複合とすることができ
る。
【0128】
【発明の効果】以上、説明したとおり、この発明によれ
ば、複数のチップのボンディングパッドのそれぞれと電
気的に接続される複数の第1のボンディングパッドと、
内部に配線された導線を介して前記第1のボンディング
パッドのそれぞれと一対一に対応して電気的に接続され
る複数の第2のボンディングパッドと、を設けた信号位
置変換部を備え、第2のボンディングパッドのそれぞれ
と前記リードフレームのリードとがワイヤボンディング
によって電気的に接続され、かつその信号位置変換部が
ダイパッドに対して固定配置されるので、複数のチップ
の各ボンディングパッドとリードフレームの各リードと
の接続関係を信号位置変換部の内部の導線により自由に
設定することができ、これにより、互いに特性や機能が
異なる複数のチップを混載して同一のパッケージとして
提供することができる。
【0129】つぎの発明によれば、信号位置変換部が、
半導体デバイスの配線構造において多く用いられている
層間絶縁膜と導電膜との交互配置により構成された多層
配線構造とするので、第1のボンディングパッドと第2
のボンディングパッドとの接続を3次元的にレイアウト
することができ、これら接続の自由度を高めることがで
きる。
【0130】つぎの発明によれば、第2のボンディング
パッドが、信号位置変換部の上面または下面の一方にの
み設けられるので、混載した複数のチップのボンディン
グパッドからの配線を一領域に集約することができ、リ
ードフレームとの接続を容易におこなうことができる。
【0131】つぎの発明によれば、混載させる複数のチ
ップの少なくとも一つを、ワイヤボンディングを必要と
するチップであるので、ワイヤボンディングが必要なチ
ップのみ、ワイヤボンディングを必要としないフリップ
チップのようなチップのみ、またはこれらが複合された
複数のチップを、同一のパッケージに混載することがで
き、特性や機能の違いに応じて異なる種々のチップ形態
に対しても対応することができる。
【0132】つぎの発明によれば、第1のボンディング
パッドが、信号位置変換部の上面に設けられた上面チッ
プ用ボンディングパッドと、信号位置変換部の下面に設
けられた下面チップ用ボンディングパッドと、から構成
され、混載させる複数のチップには、上面チップ用ボン
ディングパッドに電気的に接続された上部チップと、下
面チップ用ボンディングパッドに電気的に接続された下
部チップと、が含まれるので、信号位置変換部を挟んだ
垂直実装型のマルチチップパッケージを実現することが
でき、この垂直実装型のマルチチップパッケージに対し
ても、信号位置変換部によってもたらされる効果を享受
できる。
【0133】つぎの発明によれば、ダイパッドに、下部
チップが収まる大きさの開口部が設けられ、信号位置変
換部は、この開口部に下部チップを収めた状態でダイパ
ッドに直接に接着されるので、このダイパッドを備えた
リードフレームと信号位置変換部との距離を小さくする
ことができ、これによりこれらの間を電気接続するワイ
ヤの長さを短くすることができる。
【0134】つぎの発明によれば、開口部が、少なくと
も下部チップの厚みと等しい深さを有するブラインドホ
ールであるので、開口部形成に要する加工時間を最小限
に抑えることができ、特に厚みの大きなダイパッドに対
して有効となる。
【0135】つぎの発明によれば、開口部が、スルーホ
ールであるので、下部チップの厚みを問うことなく簡易
な工程により開口を形成することができ、特に、下部チ
ップがワイヤボンディングを必要とするチップである場
合に、そのワイヤの領域に対する空間を十分に確保する
ことができる。
【0136】つぎの発明によれば、下部チップが、ボン
ディングパッドにソルダバンプを設けて使用されるフリ
ップチップであり、このフリップチップの面上をダイパ
ッドに直接に接着することにより信号位置変換部を固定
配置するので、信号位置変換部を固定するのに、ダイパ
ッドに対して特別な加工を必要とせず、迅速に組み立て
ることができ、さらに、ダイパッドの面積を下部チップ
におけるボンディング領域、すなわち下部チップの面積
と同程度まで小さくすることができるとともに、信号位
置変換部の面積もまた無用に大きくする必要もなく、こ
れによりパッケージ全体の大きさを小さくすることが可
能になる。
【0137】つぎの発明によれば、ダイパッドが、リー
ドフレームに対して、少なくとも下部チップであるフリ
ップチップの厚みに等しい段差を下方に向けて設けた位
置に配置されるので、このダイパッドを備えたリードフ
レームと信号位置変換部との距離を小さくすることがで
き、これによりこれらの間を電気接続するワイヤの長さ
を短くすることができる。
【0138】つぎの発明によれば、複数のチップのボン
ディングパッドのそれぞれと電気的に接続される複数の
第1のボンディングパッドと、内部に配線された導線を
介して第1のボンディングパッドのそれぞれと一対一に
対応して電気的に接続される複数の第2のボンディング
パッドと、を設けた第1および第2の信号位置変換部を
備え、第2のボンディングパッドのそれぞれと前記リー
ドフレームのリードとがワイヤボンディングによって電
気的に接続され、かつこれら第1および第2の信号位置
変換部がダイパッドの上面および下面においてそれぞれ
固定配置されるので、複数のチップの各ボンディングパ
ッドとリードフレームの各リードとの接続関係を信号位
置変換部の内部の導線により自由に設定することができ
るとともに、リードフレームに対して対称な位置に各チ
ップを配置することができ、平坦度を比較的高くするこ
とのできる第1および第2の信号位置変換部をダイパッ
ドに固定配置しているので、各信号位置変換部とリード
フレームとの間の距離の均衡を保つことができ、第2の
ボンディングパッドとリードフレームの各リードとのワ
イヤボンディングを高精度におこなうことができる。
【0139】つぎの発明によれば、信号位置変換部が、
半導体デバイスの配線構造において多く用いられている
層間絶縁膜と導電膜との交互配置により構成された多層
配線構造とするので、第1のボンディングパッドと第2
のボンディングパッドとの接続を3次元的にレイアウト
することができ、これら接続の自由度を高めることがで
きる。
【0140】つぎの発明によれば、第2のボンディング
パッドが、第1および第2の信号位置変換部の一方にの
み設けられ、ダイパッドにおいて、第1および第2の信
号位置変換部の他方の第1のボンディングパッドと第2
のボンディングパッドとを電気的に接続するためのスル
ーホールが設けられているので、混載した複数のチップ
のボンディングパッドからの配線を一領域に集約するこ
とができ、リードフレームとの接続を容易におこなうこ
とができる。
【0141】つぎの発明によれば、ダイパッドがGND
プレーンとして用いられるので、チップにおけるGND
ラインをダイパッドから得ることができ、配線構造を簡
易化することができる。
【0142】つぎの発明によれば、チップボンディング
工程によって、複数の第1のボンディングパッドとこの
第1のボンディングパッドのそれぞれと一対一に対応し
て内部に配線された導線により電気的に接続される複数
の第2のボンディングパッドと、を設けた信号位置変換
部の上面および/または下面に、複数のチップを接着
し、第1のパッドボンディング工程によって、第1のボ
ンディングパッドと複数のチップのボンディングパッド
とを電気的に接続し、マウント工程によって、リードフ
レームのダイパッドに対して信号位置変換部を固定配置
し、第2のパッドボンディング工程によって、第2のボ
ンディングパッドとリードフレームの各リードとを電気
的に接続するので、複数のチップの各ボンディングパッ
ドとリードフレームの各リードとの接続関係を信号位置
変換部の内部の導線により自由に設定することができる
パッケージを得ることができる。
【0143】つぎの発明によれば、チップボンディング
工程によって、複数の第1のボンディングパッドと、内
部に配線された導線を介して第1のボンディングパッド
のそれぞれと一対一に対応して電気的に接続される複数
の第2のボンディングパッドと、を設けた第1および第
2の信号位置変換部の各上面に複数のチップを接着し、
第1のパッドボンディング工程によって、第1の信号位
置変換部に接着されたチップのボンディングパッドとそ
の第1の信号位置変換部の第1のボンディングパッドと
を電気的に接続するとともに、第2の信号位置変換部に
接着されたチップのボンディングパッドとその第2の信
号位置変換部の第1のボンディングパッドとを電気的に
接続し、マウント工程によって、リードフレームのダイ
パッドの上面に第1の信号位置変換部を直接に接着する
とともに、そのダイパッドの下面に第2の信号位置変換
部を直接に接着し、第2のパッドボンディング工程によ
って、第2のボンディングパッドとリードフレームの各
リードとを電気的に接続するので、複数のチップの各ボ
ンディングパッドとリードフレームの各リードとの接続
関係を信号位置変換部の内部の導線により自由に設定す
ることができるとともに、リードフレームに対して対称
な位置に各チップを配置することができるパッケージを
得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施の形態1にかかるマルチチップパッケー
ジのチップ積載方向を示す断面図である。
【図2】 実施の形態1にかかるマルチチップパッケー
ジの組み立て概観を示す斜視図である。
【図3】 実施の形態1にかかるマルチチップパッケー
ジにおいて信号位置変換部の構造を示す上面図である。
【図4】 実施の形態1にかかるマルチチップパッケー
ジにおいて信号位置変換部の構造を示す断面図である。
【図5】 実施の形態1にかかるマルチチップパッケー
ジのアセンブリ方法における各工程を示すフローチャー
トである。
【図6】 実施の形態2にかかるマルチチップパッケー
ジのチップ積載方向を示す断面図である。
【図7】 実施の形態2にかかるマルチチップパッケー
ジの組み立て概観を示す斜視図である。
【図8】 実施の形態2にかかるマルチチップパッケー
ジのアセンブリ方法における各工程を示すフローチャー
トである。
【図9】 実施の形態3にかかるマルチチップパッケー
ジのチップ積載方向を示す断面図である。
【図10】 実施の形態3にかかるマルチチップパッケ
ージの組み立て概観を示す斜視図である。
【図11】 実施の形態3にかかるマルチチップパッケ
ージのアセンブリ方法における各工程を示すフローチャ
ートである。
【図12】 従来における垂直実装型のマルチチップパ
ッケージのチップ積載方向を示す断面図である。
【図13】 従来における垂直実装型のマルチチップパ
ッケージにおけるダイパッド、リードフレームおよびボ
ンディングパッドの一部分を拡大して示す上面図であ
る。
【符号の説明】
10,30,40 マルチチップパッケージ、11 リ
ードフレーム、12,32,42 ダイパッド、13,
43a,43b 信号位置変換部、14 ワイヤ、15
a,15b,35b チップ、16a,16b ワイ
ヤ、17a,17b,48a,48b ボンディングパ
ッド、18a 上面チップ用ボンディングパッド、18
b 下面チップ用ボンディングパッド、19,49 リ
ードフレーム用ボンディングパッド、20 モールド樹
脂、21a,21b,21c,21d,24 導電膜、
23 コンタクトホール、37b ソルダバンプ。

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のチップを同一のパッケージとして
    混載するマルチチップパッケージにおいて、 ダイパッドを備えたリードフレームと、 前記複数のチップのボンディングパッドのそれぞれと電
    気的に接続される複数の第1のボンディングパッドと、
    内部に配線された導線を介して前記第1のボンディング
    パッドのそれぞれと一対一に対応して電気的に接続され
    る複数の第2のボンディングパッドと、を設け、前記第
    2のボンディングパッドのそれぞれと前記リードフレー
    ムのリードとがワイヤボンディングによって電気的に接
    続されるとともに、前記ダイパッドに対して固定配置さ
    れる信号位置変換部と、 を備えたことを特徴とするマルチチップパッケージ。
  2. 【請求項2】 前記信号位置変換部は、層間絶縁膜と導
    電膜とが交互に配置されて構成される多層配線構造であ
    ることを特徴とする請求項1に記載のマルチチップパッ
    ケージ。
  3. 【請求項3】 前記第2のボンディングパッドは、前記
    信号位置変換部の上面または下面の一方にのみ設けられ
    ていることを特徴とする請求項1または2に記載のマル
    チチップパッケージ。
  4. 【請求項4】 前記複数のチップの少なくとも一つは、
    前記チップのボンディングパッドと前記第1のボンディ
    ングパッドとの電気的な接続においてワイヤボンディン
    グを必要とするチップであることを特徴とする請求項
    1、2または3に記載のマルチチップパッケージ。
  5. 【請求項5】 前記第1のボンディングパッドは、前記
    信号位置変換部の上面に設けられた上面チップ用ボンデ
    ィングパッドと、前記信号位置変換部の下面に設けられ
    た下面チップ用ボンディングパッドと、から構成され、
    前記複数のチップは、前記上面チップ用ボンディングパ
    ッドに電気的に接続された上部チップと、前記下面チッ
    プ用ボンディングパッドに電気的に接続された下部チッ
    プと、を含んでいることを特徴とする請求項1〜4のい
    ずれか一つに記載のマルチチップパッケージ。
  6. 【請求項6】 前記ダイパッドは、前記下部チップが収
    まる大きさの開口部を設け、前記信号位置変換部は、前
    記開口部に前記下部チップを収めた状態で、前記ダイパ
    ッドに直接に接着されることを特徴とする請求項5に記
    載のマルチチップパッケージ。
  7. 【請求項7】 前記開口部は、少なくとも前記下部チッ
    プの厚みと等しい深さを有するブラインドホールである
    ことを特徴とする請求項6に記載のマルチチップパッケ
    ージ。
  8. 【請求項8】 前記開口部は、スルーホールであること
    を特徴とする請求項6に記載のマルチチップパッケー
    ジ。
  9. 【請求項9】 前記下部チップは、当該下部チップのボ
    ンディングパッドにソルダバンプを設けて前記下面チッ
    プ用ボンディングパッドと電気的に接続されるフリップ
    チップであり、前記信号位置変換部は、前記フリップチ
    ップの面上が前記ダイパッドに直接に接着されることで
    固定配置されることを特徴とする請求項5に記載のマル
    チチップパッケージ。
  10. 【請求項10】 前記ダイパッドは、前記リードフレー
    ムに対して、少なくとも前記フリップチップの厚みの段
    差を下方に向けて設けた位置に配置されたことを特徴と
    する請求項9に記載のマルチチップパッケージ。
  11. 【請求項11】 複数のチップを同一のパッケージとし
    て混載するマルチチップパッケージにおいて、 ダイパッドを備えたリードフレームと、 前記複数のチップのボンディングパッドのそれぞれと電
    気的に接続される複数の第1のボンディングパッドと、
    内部に配線された導線を介して前記第1のボンディング
    パッドのそれぞれと一対一に対応して電気的に接続され
    る複数の第2のボンディングパッドと、を設け、前記第
    2のボンディングパッドのそれぞれと前記リードフレー
    ムのリードとがワイヤボンディングによって電気的に接
    続されるとともに、前記ダイパッドの上面および下面に
    おいてそれぞれ固定配置される第1および第2の信号位
    置変換部と、 を備えたことを特徴とするマルチチップパッケージ。
  12. 【請求項12】 前記第1および第2の信号位置変換部
    は、層間絶縁膜と導電膜とが交互に配置されて構成され
    る多層配線構造であることを特徴とする請求項11に記
    載のマルチチップパッケージ。
  13. 【請求項13】 前記第2のボンディングパッドは、前
    記第1および第2の信号位置変換部の一方にのみ設けら
    れ、前記ダイパッドは、前記第1および第2の信号位置
    変換部の他方の前記第1のボンディングパッドと、前記
    第2のボンディングパッドとを電気的に接続するための
    スルーホールを設けていることを特徴とする請求項11
    または12に記載のマルチチップパッケージ。
  14. 【請求項14】 前記ダイパッドは、GNDプレーンで
    あることを特徴とする請求項13に記載のマルチチップ
    パッケージ。
  15. 【請求項15】 複数のチップを同一のパッケージとし
    て混載するマルチチップパッケージのアセンブリ方法に
    おいて、 複数の第1のボンディングパッドと、内部に配線された
    導線を介して前記第1のボンディングパッドのそれぞれ
    と一対一に対応して電気的に接続される複数の第2のボ
    ンディングパッドと、を設けた信号位置変換部の上面お
    よび/または下面に前記複数のチップを接着するチップ
    ボンディング工程と、 前記第1のボンディングパッドと前記複数のチップのボ
    ンディングパッドとを電気的に接続する第1のパッドボ
    ンディング工程と、 リードフレームのダイパッドに対して前記信号位置変換
    部を固定配置するマウント工程と、 前記第2のボンディングパッドと前記リードフレームの
    各リードとを電気的に接続する第2のパッドボンディン
    グ工程と、 を含んだことを特徴とするマルチチップパッケージのア
    センブリ方法。
  16. 【請求項16】 複数のチップを同一のパッケージとし
    て混載するマルチチップパッケージのアセンブリ方法に
    おいて、 複数の第1のボンディングパッドと、内部に配線された
    導線を介して前記第1のボンディングパッドのそれぞれ
    と一対一に対応して電気的に接続される複数の第2のボ
    ンディングパッドと、を設けた第1および第2の信号位
    置変換部の各上面に前記複数のチップを接着するチップ
    ボンディング工程と、 前記第1の信号位置変換部に接着されたチップのボンデ
    ィングパッドと当該第1の信号位置変換部の第1のボン
    ディングパッドとを電気的に接続するとともに、前記第
    2の信号位置変換部に接着されたチップのボンディング
    パッドと当該第2の信号位置変換部の第1のボンディン
    グパッドとを電気的に接続する第1のパッドボンディン
    グ工程と、 リードフレームのダイパッドの上面に前記第1の信号位
    置変換部を直接に接着するとともに、当該ダイパッドの
    下面に前記第2の信号位置変換部を直接に接着するマウ
    ント工程と、 前記第2のボンディングパッドと前記リ
    ードフレームの各リードとを電気的に接続する第2のパ
    ッドボンディング工程と、 を含んだことを特徴とするマルチチップパッケージのア
    センブリ方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6812556B2 (en) 2002-04-05 2004-11-02 Oki Electric Industry Co., Ltd. Multi-chip package semiconductor device having plural level interconnections
US6836010B2 (en) 2002-07-24 2004-12-28 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device include relay chip connecting semiconductor chip pads to external pads
JP2007220708A (ja) * 2006-02-14 2007-08-30 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2008300663A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Oki Electric Ind Co Ltd リードフレーム、このリードフレームを用いる半導体装置及びその製造方法
KR101455749B1 (ko) * 2007-08-23 2014-11-04 삼성전자주식회사 반도체 칩 적층형 패키지 및 그 제조 방법

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6812556B2 (en) 2002-04-05 2004-11-02 Oki Electric Industry Co., Ltd. Multi-chip package semiconductor device having plural level interconnections
US6836010B2 (en) 2002-07-24 2004-12-28 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device include relay chip connecting semiconductor chip pads to external pads
JP2007220708A (ja) * 2006-02-14 2007-08-30 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2008300663A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Oki Electric Ind Co Ltd リードフレーム、このリードフレームを用いる半導体装置及びその製造方法
US7705469B2 (en) 2007-05-31 2010-04-27 Oki Semiconductor Co., Ltd. Lead frame, semiconductor device using same and manufacturing method thereof
KR101455749B1 (ko) * 2007-08-23 2014-11-04 삼성전자주식회사 반도체 칩 적층형 패키지 및 그 제조 방법

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