JP2001004345A - 画像測定装置 - Google Patents

画像測定装置

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JP2001004345A
JP2001004345A JP11172082A JP17208299A JP2001004345A JP 2001004345 A JP2001004345 A JP 2001004345A JP 11172082 A JP11172082 A JP 11172082A JP 17208299 A JP17208299 A JP 17208299A JP 2001004345 A JP2001004345 A JP 2001004345A
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image
frame memory
scale
lens
aberration
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Tomoyuki Sakai
知之 酒井
Yoshiaki Jinme
良明 甚目
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Koki Holdings Co Ltd
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Hitachi Koki Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は画像測定装置に関するものであり、
その目的とするところは図形が並んだパターンを印刷し
た印刷物において,各図形の形状を正確に測定する事で
ある。 【解決手段】 レンズを備えた画像入力部と画像入力部
から入力した画像を輝度のデータとして記憶するフレー
ムメモリと、フレームメモリを構成する各画素の輝度に
対する演算処理部と、演算結果を記憶するメモリと、画
像入力部から入力した画像に含まれる図形どうしの間隔
を画素単位で算出する機構と図形同士の間隔の実寸と画
素単位の間隔から一画素当たりの寸法に換算する機構を
備え、以降の画像測定の際に画素単位の寸法値をレンズ
の収差が不変である性質から先に取得した各画素ごとの
1画素あたりの寸法を乗算して実寸値へ換算する機構を
備えた画像測定装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は印刷物上の図形の特
徴量を画像処理を用いて測定する画像測定装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来は撮影時にレンズの収差による歪み
を含んだ画像をそのまま使用して、撮影した図形の特徴
を表す面積、幅、長さ等を算出していたため正しい形状
を測定することができなかった。
【0003】上記課題を解決するため、レンズ収差など
を予め定められた補正計数を用いて補正する技術として
「特開平6−54182号」があげられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、レンズの作用によって生じる収差が影響し
てフレームメモリ上に記憶した画像データに含まれてい
る画像の歪みを演算処理によって、歪みのない正しい形
状の図形の画像データを生成することにより、図形の特
徴を表す面積、幅、長さ等を正しく算出することであ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は図4に示すよ
うな等間隔αの目盛51を備えたスケール50の目盛5
1の撮影位置へ画像入力部となるビデオカメラ1をセッ
トし、フレームメモリ9上に画像入力部1が備えている
レンズ2の収差を含む画像15を記憶する。
【0006】例えば、画像15に示すようにスケール5
0の目盛51が垂直方向の間隔で並ぶように撮影してフ
レームメモリ9に画像を記憶した場合、各目盛の間隔は
一定であるため、フレームメモリ上の画像においても目
盛と目盛の間の画素数は一定になるはずであるが、レン
ズ2の収差により一定にはならない。
【0007】図2に示すようにフレームメモリ9を水平
方向m画素と垂直方向n画素のマトリックスとした場合
にフレームメモリ9を構成する画素を列単位で区切って
目盛間の間隔についてフレームメモリ9上の画像15の
目盛51−1と目盛51−2の画素単位での間隔をH0
(i)(0≦i≦m−1)とし、目盛51−2と目盛5
1−3の画素単位での間隔をH1(i)(0≦i≦m−
1)とし、目盛51−3と目盛51−4の画素単位での
間隔をH2(i)(0≦i≦m−1)とした場合、本来
ならば(式1)のように目盛51−1と目盛51−2の
どの部分で間隔を測定しても間隔は等しくなるはずであ
り、目盛51はすべて等間隔αであるため、(式2)の
ようにすべての間隔は等しくなるはずであるがレンズ2
の収差によってこれらの値にも差が生じる。従って画像
入力部1とレンズ2の組み合わせでフレームメモリ9上
に撮影した画像において垂直方向の一画素当たりの寸法
は、(式3)(式4)(式5)によって算出できる。
【0008】同様に図5に示すようにスケール50の目
盛51が水平方向の間隔で並ぶようにした場合について
も各目盛毎の間隔は一定であるため、フレームメモリ9
上の画像16においては目盛と目盛の間の画素数は一定
になるはずであるが、レンズ2の収差により一定にはな
らない。
【0009】フレームメモリ9を構成する画素を行単位
で区切って目盛間の間隔についてフレームメモリ9上の
画像16の目盛51−11と目盛51−12の画素単位
での間隔をT1(i)(0≦i≦n−1)とし目盛51
−12と目盛51−13の画素単位での間隔をT2
(i)(0≦i≦n−1)とし目盛51−13と目盛5
1−14の画素単位での間隔をT3(i)(0≦i≦n
−1)とし目盛51−14と目盛51−15の画素単位
での間隔をT4(i)(0≦i≦n−1)とし目盛51
−15と目盛51−16の画素単位での間隔をT5
(i)(0≦i≦n−1)とした場合、レンズ2の収差
によってこれらの値にも差が生じる。スケール50の目
盛51のそれぞれの目盛間隔は一定値αであるため、フ
レームメモリ9の水平方向の1画素当たりの寸法は、
(式6)(式7)(式8)(式9)(式10)で算出で
きる。
【0010】このときレンズ2の収差は撮影対象に依存
せず不変であるため、レンズ2を備えた画像入力部1か
らフレームメモリ9に読み込んだ画像については、いか
なる対象に対しても1画素当たりの寸法については、算
出した値を適用できるため、レンズ2の収差で生じたフ
レームメモリ9上に撮影した画像の図形の形状の歪みが
あっても、フレームメモリ9上でパターンの形状を構成
している画素毎の水平方向と垂直方向の1画素当たりの
寸法を乗算することによってレンズ2の収差を補正した
寸法を求めることができ、図形の幅、面積等を正しく測
定することにより目的を達成できる。
【0011】
【数1】
【数2】
【数3】
【数4】
【数5】
【数6】
【0012】
【数7】
【0013】
【数8】
【0014】
【数9】
【0015】
【数10】
【0016】本方式により、また補正計数等を用いずに
実機の実測値を用いて収差の補正ができ、機差のない画
像測定が可能となる。
【0017】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施例について図面
を用いて説明する。
【0018】図1は本発明による間隔測定を実施するた
めの一実施例を示すブロック図である。画像入力部とな
るビデオカメラ1は平行線が並んだ図形13が印刷され
た印刷物12を撮影するための撮影用レンズ2を備えて
おり運転用スイッチ7をオンにして画像入力部1でステ
ージ11上の突き当て部14に沿って置いた印刷物12
の図形13を撮影して A/D変換部3で明暗レベルを
数値で表す輝度データに変換してフレームメモリ9上の
各画素に記憶する。中央演算処理部となるCPU5上で
画像処理プログラム8を実行してフレームメモリ9上の
輝度データから各直線の幅や間隔等の特徴量を算出し算
出した値とフレームメモリ9に記憶した輝度データから
構成される画像は出力装置6から出力する。
【0019】図2は画像入力部1から入力した画像を明
暗レベルを表す数値とした輝度データとして、水平方向
にはm個ずつ並び、垂直方向にはn個ずつ並んだ各画素
に記憶するフレームメモリ9である。
【0020】図3は等間隔αの目盛51を備えたスケー
ル50である。
【0021】図4は、図1のステージ11上に印刷物1
2の代わりにスケール50を目盛51が垂直な方向に並
ぶように置き、レンズ2を備えた画像入力部1から、撮
影してフレームメモリ9に記憶した画像15である。ス
ケール50の目盛51に相当する画像15の目盛部分を
それぞれ目盛51−1と目盛51−2と目盛51−3と
目盛51−4とした場合、各目盛どうしの間隔は一定の
画素数になるはずであるが、レンズ2の収差により一定
にはならず、ばらつきが生じる。
【0022】同様に、図5は、図1のステージ11上に
印刷物12の代わりにスケール50を目盛51が水平な
方向に並ぶようにレンズ2を備えた画像入力部1から撮
影してフレームメモリ9に記憶した画像16である。ス
ケール50の目盛51に相当する画像16の目盛部分を
それぞれ目盛52−11と目盛51−12と目盛51−
13と目盛51−14と目盛51−15とした場合もフ
レームメモリ9上での各目盛どうしの間隔はレンズ2の
収差によって一定にはならずばらつきが生じる。
【0023】図6は画像15と画像16からフレームメ
モリ9上の各一画素当たりの寸法を算出し、レンズ2の
収差による寸法のずれの補正量を算出しメモリ4に記憶
するフローである。ステップ31において収差の算出に
使用するスケール50を図4のように目盛51をビデオ
カメラ1で撮影したときに垂直な方向に並ぶようにステ
ージ11に置く。
【0024】次にステップ32において画像入力部1を
スケール50の予定の撮影位置に固定する。次にステッ
プ33において運転スイッチ7を押しスケール50の目
盛51を画像入力部1から入力しフレームメモリ9に画
像15として記憶する。次にステップ34においてフレ
ームメモリ9上に記憶した画像15上の目盛パターンを
それぞれ目盛51−1と目盛51−2と目盛51−3と
目盛51−4とし、目盛51−1と目盛51−2の画素
単位の間隔をH1(i) (0≦i≦m−1)とし、目盛
51−2と目盛51−3の画素単位の間隔をH2(i)
(0≦i≦m−1)とし、目盛51−3と目盛51−4
の画素単位の間隔をH3(i) (0≦i≦m−1)とす
る。次にステップ35においてスケール50の目盛51
の間隔は一定値αであることより、フレームメモリ9の
垂直な方向の一画素当たりの寸法は、目盛51−1を構
成する画素と目盛51−2を構成する画素の範囲ではH
1(i)/αとなり、目盛51−2を構成する画素と目盛
51−3を構成する画素の範囲ではH2(i)/αとな
り、目盛51−3を構成する画素と目盛51−4を構成
する画素の範囲ではH3(i)/αとなる。
【0025】次にステップ36により各画素ごとの垂直
な方向の寸法P(i,j)(0≦i≦m−1,0≦j≦n
−1)をメモリ4に記憶する。次に垂直な方向の場合と
同様にして水平な方向についてもレンズ2を備えた画像
入力部1からフレームメモリ9上に画像を記憶した場合
の各画素毎の1画素当たりの寸法を求めるため、ステッ
プ37により収差の算出に使用するスケール50を図5
のように目盛51を画像入力部1で撮影したときに水平
な方向に並ぶようにステージ11に置く。
【0026】次にステップ38において画像入力部1を
スケール50の予定の撮影位置に固定する。次にステッ
プ39において運転スイッチ7を押しスケール50の目
盛51を画像入力部1から入力しフレームメモリ9に画
像16として記憶する。次にステップ40においてフレ
ームメモリ9上に記憶した画像16上の目盛部分をそれ
ぞれ目盛51−11と目盛51−12と目盛51−13
と目盛51−14と目盛51−15とし、目盛51−1
1と目盛51−12の画素単位の間隔をT1(i) (0
≦i≦n−1)とし、目盛51−12と目盛51−13
の画素単位の間隔をT2(i)(0≦i≦n−1)とし、
目盛51−13と目盛51−14の画素単位の間隔をT
3(i)(0≦i≦n−1)とし、目盛51−14と目盛
51−15の画素単位の間隔をT4(i) (0≦i≦n
−1)とする。次にステップ41においてスケール50
の目盛51の間隔は一定値αであることより、フレーム
メモリ9の水平な方向の一画素当たりの寸法は、目盛5
1−11を構成する画素と目盛51−12を構成する画
素の範囲ではT1(i)/αとなり、目盛51−12を構
成する画素と目盛51−13を構成する画素の範囲では
T2(i)/αとなり、目盛51−13を構成する画素と
目盛51−14を構成する画素の範囲ではT3(i)/α
となり、目盛51−14を構成する画素と目盛51−1
5を構成する画素の範囲ではT4(i)/αとなる。次に
ステップ42により各画素ごとの水平な方向の寸法Q
(i,j)(0≦i≦m−1,0≦j≦n−1)をメモリ
4に記憶する。
【0027】図7はステージ11上に計測の対象となる
図形18を印刷した印刷物19をレンズ2を備えた画像
入力部1で撮影し、フレームメモリ9に記憶した画像2
0である。このとき、画像20は図形18に対しレンズ
2の収差により歪みを生じており相似形ではない。
【0028】図8はこの図形18の面積を測定する処理
を示したフローである。まずステップ60により画像2
0において図形18を構成する画素数Rと、図形18を
構成する画素の座標値(X(i),Y(i))(0≦i
≦R−1)をすべて取得する。次にステップ61により
レンズ2の収差は撮影する対象に関わらず不変であり画
像20においても一画素当たりの寸法は画像15や画像
16と同じであるため図形18を撮影した画像20を構
成する各画素ごとの面積SS(i)(0≦i≦R−1)
を(式11)により算出し、次にステップ62によって
図形18を構成する各画素ごとの面積の総和Sを(式1
2)により算出し、図形18の面積とする。
【0029】
【数11】
【0030】
【数12】
【0031】このようにあらかじめレンズ2の収差を補
正するためのフレームメモリ9の垂直な方向の1画素当
たりの寸法P(i,j)(0≦i≦m−1,0≦j≦n
−1)と水平な方向の1画素当たりの寸法Q(i,j)
(0≦i≦m−1,0≦j≦n−1)を取得することに
より、以降レンズ2を備えた画像入力部1で撮影しフレ
ームメモリ9上に記憶した画像に対しては、画像20の
場合と同様に、面積や、幅、間隔等の図形パターンの特
徴を表す数値をレンズ2の収差を補正して取得すること
ができる。
【0032】ただし本発明の画像測定装置ではレンズの
収差を補正する場合、フレームメモリ9上に記憶される
スケールの目盛部分の数によって一画素当たりの寸法の
補正の精度に差が生じる。
【0033】例えば、図9のようにステージ11上にス
ケール500の等間隔βの目盛510が垂直な方向に並
ぶようにレンズ2を備えた画像入力部1で撮影しフレー
ムメモリ9上に記憶した画像17において目盛部分がk
個に分割され、目盛部分どうしの画素単位の間隔をUi
(j)とした場合、フレームメモリ9の各画素の垂直な
方向の一画素当たりの寸法gij(0≦i≦k−1,0
≦j≦m−1)を(式13)で算出できる。
【0034】このときそれぞれのgijの平均をGとし
た場合、各分割部Ui(j)の一画素当たりの寸法につ
いてフレームメモリ9上に読み込まれる目盛パターン5
10の数が少なすぎる場合すなわち分割の数kが少なす
ぎると、レンズの収差による一画素当たりの寸法の誤差
の分布が詳細にならず、最終的には(式14)に示すよ
うに各gijの収差を含む一画素当たりの寸法の差が0
になってしまう。
【0035】また、フレームメモリ9上に読み込まれる
目盛部分の数が多すぎる場合、即ち分割の数kが大きす
ぎると目盛の間隔がフレームメモリ9上で一画素以下と
なりフレームメモリ9の解像度の限界に達するためレン
ズの収差を含む一画素当たりの寸法を算出不能となる。
これはスケール500を目盛510が水平な方向に並ぶ
ように画像入力部1からフレームメモリ9に記憶し、レ
ンズ2の収差を含むフレームメモリ9の水平の方向の一
画素当たりの寸法の補正量を算出する場合も同様であ
る。
【0036】従って本発明では、(式15)に示すよう
にフレームメモリ9の垂直の方向の一画素当たりの寸法
gijの偏差平方和が最大値Cになりフレームメモリ9
上での目盛部分ごとの間隔の数kcとなるレンズ2とス
ケールの組み合わせ及び水平の方向についても同様の組
み合わせとなるレンズ2とスケールの組み合わせによっ
てレンズ2の収差を含むフレームメモリ9の水平の方向
の一画素当たりの寸法の補正量を算出することによって
最も精度の高い補正を行い測定対象となる図形の正しい
寸法が算出できる。
【0037】
【数13】
【0038】
【数14】
【0039】
【数15】
【0040】
【発明の効果】本発明の画像測定装置では図形を印刷し
た印刷物を画像入力部となるビデオカメラから撮影して
フレームメモリ上に記憶した画像のデータにおいてレン
ズの構造上の収差によって歪みの生じた画像に対して面
積、幅等の特徴量を正しく測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の画像測定装置の構成図である。
【図2】 本発明の画像測定装置のフレームメモリの構
成図である。
【図3】 等間隔αの目盛51を備えたスケールの図で
ある。
【図4】 目盛51が垂直な方向に並ぶようにフレーム
メモリに撮影した図である。
【図5】 目盛51が水平な方向に並ぶようにフレーム
メモリ撮影した図である。
【図6】 本発明の画像測定装置の処理の流れ図であ
る。
【図7】 本発明の画像測定装置での測定例を示すため
の不定形の図形である。
【図8】 本発明の画像測定装置の測定例を示す処理の
流れ図である。
【図9】 目盛510が垂直な方向に並ぶようにフレー
ムメモリに撮影した図である。
【符号の説明】
1:画像入力用ビデオカメラ、2:画像入力用カメラに
備えたレンズ、 3:A/D変換部、 4:メモリ、
5:CPU、6:出力装置、7:運転用スイッチ、8:
画像処理プログラム、9:フレームメモリ、11:印刷
物設置用ステージ、12:印刷物、13:パターン、1
4:印刷物固定用ストッパー、101:データ搬送路、
90:フレームメモリ9の画素、X:フレームメモリ9
の水平方向の座標軸、Y:フレームメモリ9の垂直方向
の座標軸、m:フレームメモリ9の水平方向の画素数、
n:フレームメモリ9の垂直方向の画素数、50:スケ
ール、51:等間隔αの目盛、15:スケール50の目
盛51をフレームメモリ9に記憶した画像、51−1:
フレームメモリ9に読み込んだ画像15においてスケー
ル50の目盛51に相当する部分、51−2:フレーム
メモリ9に読み込んだ画像15においてスケール50の
目盛51に相当する部分、51−3:フレームメモリ9
に読み込んだ画像15においてスケール50の目盛51
に相当する部分、51−4:フレームメモリ9に読み込
んだ画像15においてスケール50の目盛51に相当す
る部分、16:スケール50の目盛51をフレームメモ
リ9に記憶した画像、51−11:フレームメモリ9に
読み込んだ画像15においてスケール50の目盛51に
相当する部分、51−12:フレームメモリ9に読み込
んだ画像15においてスケール50の目盛51に相当す
る部分、51−13:フレームメモリ9に読み込んだ画
像15においてスケール50の目盛51に相当する部
分、51−14:フレームメモリ9に読み込んだ画像1
5においてスケール50の目盛51に相当する部分、5
1−15:フレームメモリ9に読み込んだ画像15にお
いてスケール50の目盛51に相当する部分、31〜4
2:ステップ、19:印刷物、18:印刷物19上の印
刷パターン、20:印刷パターン18を撮影してフレー
ムメモリ9上に記憶した画像、60〜62:ステップ、
500:スケール、510:目盛、17:スケール5
00の目盛510をフレームメモリ9に記憶した画像。
フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA23 BB02 CC02 EE00 EE08 FF04 FF61 JJ03 JJ09 PP11 QQ03 QQ21 QQ23 QQ24 QQ25 QQ27 QQ41 TT02 5L096 BA08 EA45 FA09 FA59 FA64 FA70

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画像を撮影して入力する画像の入力部
    と、画像を記憶するフレームメモリと、画像の入力部か
    らフレームメモリに記憶した図形の特徴量を表す面積、
    幅、長さ等を算出する機構を備えている画像測定装置に
    おいて、 あらかじめ正確な形状寸法の分かっている図形とその図
    形を撮影してフレームメモリに記憶した画像と形状のず
    れから、画像入力部が備えたレンズの収差によるフレー
    ムメモリ一画素あたりの寸法の誤差を算出する機構と、
    フレームメモリの各画素に対応した寸法誤差を記憶する
    寸法較正用メモリと、測定の対象となる図形を撮影しフ
    レームメモリに記憶した画像に対して、特徴量の算出時
    にフレームメモリの各画素に対応した寸法較正表から正
    しい寸法を算出する演算機構を備えていることを特徴と
    する画像測定装置。
JP11172082A 1999-06-18 1999-06-18 画像測定装置 Pending JP2001004345A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002340529A (ja) * 2001-05-16 2002-11-27 Nippon Koei Power Systems Co Ltd デジタルカメラを用いた構造物の亀裂変位計測方法
JP2006258626A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd X線検査装置及びx線検査方法
JP2006349489A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Sohatsu System Kenkyusho:Kk 画像処理装置
CN108151679A (zh) * 2017-12-29 2018-06-12 深圳市智物联网络有限公司 一种土地面积测量的方法及系统
CN110657760A (zh) * 2019-06-11 2020-01-07 北京无限光场科技有限公司 基于人工智能的测量空间面积的方法、装置及存储介质
CN114353702A (zh) * 2021-12-06 2022-04-15 北京动力机械研究所 一种基于视觉检测的旋转开口调节面积测量装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002340529A (ja) * 2001-05-16 2002-11-27 Nippon Koei Power Systems Co Ltd デジタルカメラを用いた構造物の亀裂変位計測方法
JP4683516B2 (ja) * 2001-05-16 2011-05-18 日本工営株式会社 デジタルカメラを用いた構造物の亀裂変位計測方法
JP2006258626A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd X線検査装置及びx線検査方法
JP2006349489A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Sohatsu System Kenkyusho:Kk 画像処理装置
JP4718250B2 (ja) * 2005-06-15 2011-07-06 株式会社創発システム研究所 画像処理装置
CN108151679A (zh) * 2017-12-29 2018-06-12 深圳市智物联网络有限公司 一种土地面积测量的方法及系统
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