JPH1011577A

JPH1011577A - 画質測定方法

Info

Publication number: JPH1011577A
Application number: JP8165851A
Authority: JP
Inventors: Yukisuke Hosokawa; 享佑細川
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1996-06-26
Filing date: 1996-06-26
Publication date: 1998-01-16
Anticipated expiration: 2016-06-26
Also published as: JP3305576B2; US5982942A

Abstract

(57)【要約】【課題】原稿の画質測定において、異なる倍率で測定
して得られた画質データ同士を等価的に比較することを
可能にする。【解決手段】原稿を撮影してウインドウ上のセルに表
示し、エッジ凹凸度σ等の画質データを求める。セルサ
イズと画質データとの相関から回帰線を求める。特定の
セルサイズの場合の画質データを基準値に設定し、上記
基準値を目標として、上記回帰線に基づいて各画質デー
タを変換補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複写機、プリンタ
ー、ファクシミリスキャナ等によって得られる複写物等
の印刷物の画質評価を行うための画質測定方法に関し、
特に、線および文字等の２値画像のエッジ部についての
画質測定方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】複写機、プリンター、ファクシミリスキ
ャナ等によって、複写物等の印刷物が得られる。これら
印刷物の画質評価を行うには、画質に関する種々の画質
データを測定することが必要である。これらの画質デー
タを測定するために、画質測定装置が用いられている。

【０００３】画質測定装置を用いて上記測定を行うに
は、まず、これらの印刷物を原稿として原稿台に載せ、
光源装置で照明する。顕微鏡等を用いてこれら印刷物の
画像を所定倍率で拡大する。この拡大像をＣＣＤ（固体
撮像素子）カメラ等によって撮影することによって画像
信号を得る。

【０００４】コンピュータのディスプレイ等の表示画面
上に、特定のセル（画素）を有する表示領域であるウイ
ンドウを設けておき、上記画像信号をこのウインドウの
中に表示する。上記画像信号に基づいて、画質に関する
種々の評価項目についてコンピュータ等を用いて演算処
理し、画質データとして種々の測定値を算出する。この
測定値を用いて、上記印刷物の画質評価を行っている。

【０００５】上記評価項目としては、例えば、線画像エ
ッジの凹凸度、線画像エッジのボケ度、線画像の線幅等
がある。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記測
定の際、倍率が異なると当然ながら解像度が異なる。こ
のため、同一の画像を測定する場合であっても、倍率が
異なると測定値にバラツキ（不揃い）が発生する。この
結果、測定装置が異なる故に倍率が異なる場合や、また
単一の測定装置であっても倍率が異なる場合などのよう
に、異なる倍率で測定した場合には、得られた測定値同
士を単純に比較できない。すなわち、測定値を等価的に
比較できないという問題がある。

【０００７】また、一般に、測定倍率によって画質デー
タは変動するが、この変動の仕方が原稿の画質によって
影響を受け、異なっている。このため、もし、このバラ
ツキを抑えようとして、倍率にかかわらず一定の補正値
を上記測定値に与えてしまうと、ある倍率では適切に補
正されても、別の倍率では不適切になる。このため、や
はり測定精度にバラツキが生じてしまうという問題があ
る。

【０００８】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
であり、その目的は、異なる倍率で測定して得られた画
質データ同士を等価的に比較することが可能な画質測定
方法を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、請求項１記載の画質測定方法は、原稿の画質を評価
するための画質データを測定する画質測定方法であっ
て、セルサイズにより大きさの規定される画素としての
セルを有するウインドウを用意し、原稿を撮影して上記
セルに表示し、上記画質データを求めることによりセル
サイズｘと画質データｙとからなる測定値を得て、セル
サイズｘと画質データｙとの相関から回帰線を求め、特
定のセルサイズの場合の画質データを基準値に設定し、
上記基準値を目標として、上記回帰線に基づいた変換式
を用いることによって上記画質データを補正することを
特徴としている。

【００１０】上記の方法により、セルサイズを決めるこ
とによって特定の倍率でウインドウに画像を表示する。
種々のセルサイズの下で得られた画質データから回帰線
を求める。各画像データを、特定のセルサイズすなわち
特定の倍率での基準の画質データを目標として、回帰線
に則って変換する。したがって、各画質データは等価的
に変換され、規格化された値に補正される。その結果、
ひとつの測定系内における倍率による測定値のバラツキ
を良好に補正できる。それゆえ、この規格化された画質
データを用いて、種々の倍率で得られた画質データ同士
を比較することにより、異なる倍率で測定して得られた
画質データ同士であっても等価的に比較することが可能
になる。

【００１１】また、前述のように、一般に、測定倍率に
よって画質データは変動するが、この変動の仕方が原稿
の画質によって影響を受け、異なっている。しかしなが
ら、上記の本方法によれば、複数倍率における測定値の
回帰式を基に画質データを補正している。このため、回
帰式の勾配は、単位長さ当たりすなわちセルサイズ当た
りの画質データであり、画像の空間周波数に対応する。
したがって、この補正後の画質データは、原稿の画質の
影響を受けがたい。それゆえ、幅広い画質の画像に対し
て測定精度を向上させることができる。

【００１２】また、一般に、倍率が高いほうが測定精度
が高くなり、高倍率の測定器がない場合にはこのような
精度が得られないが、上記の本方法によれば、高倍率の
測定値を基準とすることにより、倍率の低い測定値を倍
率の高い測定値へ等価的に補正することができる。それ
ゆえ、低倍率での測定時の測定精度を向上させることが
できる。

【００１３】請求項２記載の画質測定方法は、請求項１
の方法において、回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ
（ｘ）＋Ｃｒ１を選び、上記基準値として、ｘ＝１の場
合の画質データＣｒ１を選び、上記回帰線に基づき、各
セルサイズｘおよび画質データｙを変換式Ｃｒ１’＝ｙ
−ａＬｎ（ｘ）に代入して変換することによって補正後
の画質データＣｒ１’を得ることを特徴としている。

【００１４】上記の方法により、セルサイズｘの対数値
と画質データとの相関の直線的な回帰式が求められる。
それゆえ、請求項１の方法による効果に加え、セルサイ
ズｘそのものと画質データの相関から直線的な回帰式を
求めるよりも、画質データをより高精度に補正すること
ができる。

【００１５】請求項３記載の画質測定方法は、請求項１
の方法において、回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ
（ｘ）＋Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズ
ｘが上記の測定値中の特定の値ｘ_iのときの測定値とし
て得られた画質データｙ_iを選び、ｋ_i＝Ｃｒ１−ｙ_i
で補正係数ｋ_iを求め、上記回帰線に基づき、各セルサ
イズｘおよび画質データｙを変換式Ｃｒｐｉ＝ｙ−ａ・
Ｌｎ（ｘ）−ｋ_iに代入して変換することによって補正
後の画質データＣｒｐｉを得ることを特徴としている。

【００１６】上記の方法により、１つの測定系内で測定
結果として得られた画質データのひとつが、評価目的に
合わせて基準として選ばれる。そして、その測定系内で
の測定倍率による画質データの測定値のバラツキを補正
する。したがって、１つの測定系内で測定結果として得
られた画質データを、評価目的に合った測定倍率に等価
的に集計することができる。それゆえ、特定の倍率での
画質データの等価的な比較が容易に行え、画質データを
高精度に検討することができる。

【００１７】また、一般に、ある測定系において、ウイ
ンドウの大きさの制限によって一つの倍率での測定範囲
（レンジ）は決まっている。これを越えた場合は別の倍
率で測定することになる。しかし、既に述べたように、
倍率が異なるので測定値を等価的に比較できない。これ
に対し、本方法によれば、画質データの測定基準をある
特定の倍率に設定しておき、その回帰線から得られた値
を目標として各測定値を補正している。それゆえ、実際
にその倍率で測定範囲を越えたために別の倍率で測った
ような場合でも、画質データの測定値を等価的に比較す
ることができる。

【００１８】特に、測定器が異なることによって倍率が
異なる場合でも、どちらか一方の倍率を基準に設定する
ことにより、画質データの測定値を等価的に比較するこ
とができる。それゆえ、任意かつ特定の倍率で測定して
得られた画質データの値を、測定機器の測定性能の規格
として定めることが可能になる。

【００１９】請求項４記載の画質測定方法は、請求項１
の方法において、回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ
（ｘ）＋Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズ
ｘがある特定の値ｘ_sのときの、上記測定値以外の画質
データｙ_sを選び、ｋ１＝Ｃｒ１−ｙ_s＋ａ・Ｌｎ（ｘ
_s）で補正係数ｋ１を求め、上記回帰線に基づき、各セ
ルサイズｘおよび画質データｙを変換式Ｃｒｐ１＝ｙ−
ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ１に代入して変換することによって
補正後の画質データＣｒｐ１を得ることを特徴としてい
る。

【００２０】上記の方法により、１つの測定系内で測定
結果として得られた画質データが、他の測定系内で得ら
れた画質データに基づいて、評価目的に合った測定倍率
に等価的に集計される。それゆえ、請求項１の方法によ
る効果に加え、テストチャート等のように、あらかじめ
別途に求められた値を用いて、その測定系内での測定倍
率による画質データの測定値のバラツキを補正し、その
測定系を効率的に調整することができる。

【００２１】請求項５記載の画質測定方法は、請求項１
の方法において、回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ
（ｘ）＋Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズ
ｘがある特定の値ｘ_sのときの、上記測定値以外の画質
データｙ_sを選び、ｋ_s＝Ｃｒ１−ｙ_sで補正係数ｋ_s
を求め、上記回帰線に基づき、各セルサイズｘおよび画
質データｙを変換式Ｃｒｐｓ＝ｙ−ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ
_sに代入して変換することによって補正後の画質データ
Ｃｒｐｓを得ることを特徴としている。

【００２２】上記の方法により、１つの測定系内で測定
結果として得られた画質データが、他の測定系内で得ら
れた画質データに基づいて、評価目的に合った測定倍率
に等価的に集計される。それゆえ、請求項１の方法によ
る効果に加え、テストチャート等のように、あらかじめ
別途に正確に求められた値を用いて、その測定系内での
測定倍率による画質データの測定値のバラツキを補正
し、その測定系を効率的に調整することができる。

【００２３】さらに、そのテストチャート等であらかじ
め求められている測定値とも等価的に比較することがで
きる。それゆえ、広域的な、すなわち広範囲の測定系を
効率的に調整することができる。

【００２４】

【発明の実施の形態】

〔実施の形態１〕本発明の実施の一形態について図１な
いし図９に基づいて説明すれば、以下の通りである。本
画質測定に用いる画質測定装置は、図２に示すように、
光源装置１、顕微鏡２、ＣＣＤ（固体撮像素子）カメラ
（撮影手段）３、画像処理装置４、および画像表示装置
５がこの順に接続されている。画像処理装置４にはさら
に演算処理装置６が接続されている。演算処理装置６に
は、モニタ７、キーボード８、およびプリンタ９が接続
されている。

【００２５】光源装置１は光源１１と照明リング（照明
手段）１２とを有する。顕微鏡２は原稿台１３とスタン
ド１４と接眼レンズ部１５とを有する。原稿台１３上に
印刷物等の原稿３０が載置される。上記照明リング１２
は原稿３０を照明する。

【００２６】ＣＣＤカメラ３は撮影用レンズ部としての
ヘッド１６とそれをコントロールするコントロールユニ
ット１７とを有する。ヘッド１６は顕微鏡２の接眼レン
ズ部１５に取り付けられている。コントロールユニット
１７は上記画像処理装置４に接続されている。

【００２７】画像処理装置４はコンピュータで構成され
ており、これには画像に関する種々のデータを記憶する
メモリ１８が接続されている。

【００２８】画像表示装置５はディスプレイ１９と表示
制御部２０とを備えている。ディスプレイ１９は後述の
セル（画素）を有する。ディスプレイ１９はセルを用い
て画像モニタとして働き、後述のウインドウ２１や、画
像処理上の種々の画像情報等を表示するものである。表
示制御部２０はアンプを備え、画像処理装置４からの画
像信号に応じて、ディスプレイ１９上の上記セルに表示
用電圧を制御しながら印加するようになっている。

【００２９】演算処理装置６は画質データの演算を行う
ものであり、コンピュータで構成される。モニタ７は演
算処理の際に使用者がキーボード８から入力した情報
や、画質データに関する演算処理結果等を表示するもの
である。プリンタ９は演算処理結果を印刷するものであ
る。

【００３０】本画質測定装置を用いて上記測定を行う概
略の手順を述べる。まず、これらの印刷物を原稿として
原稿台１３に載せ、照明リング１２で照明する。顕微鏡
２を用いてこれら印刷物の画像を所定倍率で拡大する。
この拡大像をＣＣＤカメラ３によって撮影することによ
って画像信号を得る。

【００３１】画像処理装置４がこの画像信号に表示する
画像に合わせた処理を加えて、画像表示装置５に送る。
画像表示装置５は、この画像信号に応じて、上記表示制
御部２０のアンプにより、ディスプレイ１９上の上記セ
ルに表示用電圧を制御しながら印加する。

【００３２】ディスプレイ１９の表示画面上に、特定の
セルを有する表示領域であるサンプリングウインドウと
してのウインドウ２１を表示する。上記表示用電圧に基
づき、上記画像信号をこのウインドウ２１の中に表示す
る。この画像から得られる後述の種々の情報に基づい
て、画質に関する種々の評価項目について演算処理装置
６が演算処理し、画質データとして種々の測定値を算出
する。この測定値を用いて、使用者が上記印刷物の画質
評価を行えるようになっている。

【００３３】本実施の形態においては、画質の評価対象
となる画像として、線状の画像（線画像）を対象とす
る。この場合の評価項目としては、例えば、線画像のエ
ッジ凹凸度、線画像のエッジボケ度、線画像の線幅等が
ある。本実施の形態においては、画質データとして、線
画像のエッジ凹凸度を測定する。

【００３４】次に、上記の画質測定について詳細な手順
を以下順を追って説明する。

【００３５】〔ウインドウの用意〕上記ウインドウ２１
として、以下のようなものを用意する。図３に示すよう
に、ウインドウは幅方向（第１方向）と長さ方向（第２
方向）とを有する。また、第１方向に並んだセルの群で
一つの行とし、第２方向に並んだセルの群で一つの列と
する。ウインドウには、マトリクス状に、第１方向にｍ
個、第２方向にｎ個、計ｍｎ個のセル（画素）２２…が
配置されている。各セル２２は、セルごとに、複数階調
を有している。各セル２２は、第１方向に沿って、端か
ら順に１からｍまでのセル番号がひとつずつ付されてい
る。顕微鏡２の倍率が決まると、１つのセル２２が表す
元の原稿上の長さ（セルサイズ）が決まる。言い換えれ
ば、セルサイズにより、像の大きさ（倍率）が規定され
る。このため、セルサイズで倍率を表すことができる。

【００３６】セル２２の第１方向の長さ（セルサイズ）
をｄ₁とし、第２方向の長さをｄ₂とすると、原稿の幅
を表すウインドウ幅ＷはＷ＝ｄ₁ｍであり、原稿の長さ
を表すウインドウ長さＬはＬ＝ｄ₂ｎである。倍率（解
像度）が高いほど、セルサイズはそれに反比例して小さ
くなり、所定の大きさのウインドウにおいて画像がより
緻密に描かれる。そのため、画像を細かく分析できる。
以下、特に断りのない場合、特定の原稿について測定し
たとして、倍率を表すのにセルサイズを用いる。なお、
このように、倍率を表現するものとしてセルサイズを用
いる場合はセルサイズをｘで表すこととする。

【００３７】〔線画像の表示〕以下、図１のフローチャ
ートに従って説明する。線画像を有する印刷物等の原稿
３０（図２参照）を用意する。この原稿を照明リング１
２で照らしながら顕微鏡２で拡大する。得られた拡大像
をＣＣＤカメラ３で撮影し、サンプリングする（Ｓ
１）。それによって、所定の階調（例えば２５６階調）
を有する画像信号を得る。その画像信号に基づいて表示
制御部２０のアンプによりセル２２…に表示用電圧を印
加する。そして、各セル２２にこの電圧に応じた所定の
濃度で原稿に対応する画像を表示させる。その際に、原
稿を照明する光量と表示用電圧とを調整して、図４に示
すように、画像信号の階調とセル２２…の濃度とを一定
の相関関係に保つ（Ｓ２）。なお、図中、横軸はＣＣＤ
の出力、縦軸は反射率である。このようにして、ウイン
ドウ２１上に原稿の画像を表示する。

【００３８】〔線画像とウインドウとの位置関係の調
整〕線画像は、実際には幅を有している。上記の第１方
向、第２方向がそれぞれ、線画像の幅方向、長さ方向と
一致するように、線画像とウインドウとの位置関係を調
整する。なお、効率よく測定するには、印刷物を原稿台
に置く際に、線画像の延びる方向とセル方向とを一致さ
せることが好ましい。または、原稿の画像を画像信号に
変換したのち、コンピュータの演算処理で、両者が一致
するように画像をウインドウ内で回転させてもよい。

【００３９】〔線画像の特定〕画像処理装置４におい
て、線画像の幅を以下のようにして決める。ウインドウ
内の各セル２２から、セルごとの画像の濃度を検知す
る。そして、図５に示すように、濃度ごとのヒストグラ
ムを作り、各濃度の頻度分布を求める（Ｓ３）。高濃度
側の、頻度が極大である第１濃度Ｒｉ（画像最頻値）を
求める（Ｓ４）。また、低濃度側の、頻度が極大である
第２濃度Ｒｂ（下地最頻値）を求める（Ｓ５）。

【００４０】次に、Ｒｗ＝ｔＲｉ＋（１−ｔ）Ｒｂ（１）（ただし０．４５≦ｔ≦０．７０）例えばＲｗ＝０．６Ｒｉ＋０．４Ｒｂとして、ＲｉとＲｂとの間のしきい値濃度Ｒｗを求め
る。このときの、階調と、ウインドウ枠一端から各セル
までの距離との関係をエッジ凹凸度の濃度断面として図
６に示す。図中、距離はμｍを単位とする標準偏差で表
している。Ｒｗ以上の濃度を有するセルは、線画像を表
示していると考える。一方、Ｒｗ未満の濃度を有するセ
ルは、線画像のない下地を表示していると考える。この
ようにして、画像の濃度を２値化する。線画像を表示し
ているセルのうち、下地を表示するセルと接する位置を
線画像の境界線とする。この結果、図７に示すように、
線画像３１の両側の境界線４０・４１が定まる。

【００４１】〔エッジ凹凸度の決定〕線画像は、たとえ
直線として描かれたものであっても、実際には線の幅方
向に蛇行しているため、幅方向（第１方向）に凹凸を生
じる。このときのエッジ凹凸度を演算処理装置６におい
て以下のようにして求める（Ｓ６）。

【００４２】図７に示すように、この凹凸の中心に位置
する、すなわち理想的な直線が通る、特定のセル番号を
Ｘ₀とおく。Ｘ₀は理想境界線を表している。一方、上
記境界線、例えば上記境界線４０は、ｎ個のセルに乗っ
ているわけであるが、その各セルのセル番号をＸ_iとお
く（ｉ＝１，２，…，ｎ）。Ｘ_iは実際の境界線を表し
ている。ｎはサンプル数を表すことになる。

【００４３】画質データｙとしてのエッジ凹凸度σを以
下の式（２） σ＝｛Σ［（Ｘ_i−Ｘ₀）²／ｎ］｝^1/2 （２）すなわち σ＝｛［（Ｘ₁−Ｘ₀)²＋（Ｘ₂−Ｘ₀)²＋…＋（Ｘ_n−Ｘ₀)²］／ｎ｝^1/2 で求める。σはＸ_iの標準偏差値を表すことになる。

【００４４】数回（Ｎ回）サンプリングを行うことによ
り、以上の操作、すなわちサンプリングからエッジ凹凸
度算出までの操作をＮ回行う（σ₁〜σ_N）（Ｓ７）。
ここでは操作を１０回行った。そして、１０個のσの平
均値を求める（Ｓ８）。

【００４５】なお、線画像３１は線の左右両側に一つず
つ境界線４０・４１を有しているため、境界線４０だけ
でなく、境界線４１においても上記同様に求める。ただ
し、ここでは、便宜上、片側すなわち境界線４０のみで
説明を進めることとする。

【００４６】ひとつの線画像に対し、複数の倍率すなわ
ちセルサイズｘ（＝ｄ₁）について上記測定を行い、同
様にしてσを求める（Ｓ１〜Ｓ８）。ここではセルサイ
ズｘとして、６．００、１０．４５、１６．５０、２
１．３０（μｍ）のときのエッジ凹凸度σを測定した。
得られた結果を表１および図８のグラフに示す。なお、
グラフ中、エッジ凹凸度をｙで表す。

【００４７】

【表１】

【００４８】〔回帰式演算〕次に、得られたｘとσとに
対し、演算処理装置６において、最も相関性の高い回帰
式を最小二乗法を用いて求める。すなわち、以下の回帰
式（３）ｆ（ｘ）＝ａ・Ｌｎ（ｘ）＋Ｃｒ１（３）で表される回帰線ｆ（ｘ）を求める（Ｓ９）。

【００４９】最小二乗法とは、測定値と回帰式上の計算
値とのずれ（すなわち残差）の二乗和が最小になるよう
に係数（ここではａ、Ｃｒ１）を求める演算法である。

【００５０】上記回帰式（３）でＬｎは自然対数であ
る。また、ａ、Ｃｒ１はｘとσとによらない定数であ
る。グラフ上でいえば、ａは勾配である。またａは、単
位長さ当たり、すなわちセルサイズｘ（＝ｄ₁）当たり
の画質データ（ここではエッジ凹凸度）であり、セルサ
イズに対するエッジ凹凸度の増加率である。このため、
ａは画像の空間周波数を表す。

【００５１】Ｃｒ１は、回帰線とｘ＝１すなわちｙ軸と
の交点のｙ座標（切片）である。

【００５２】計算の結果、ａ＝−３．３０３９、Ｃｒ１
＝２３．２９５が求められた。したがってこのときの回
帰式はｆ（ｘ）＝−３．３０３９Ｌｎ（ｘ）＋２３．２９５（４）となる。この回帰式を前述の図８のグラフ内に示す。な
お、これらの定数は、線画像の線質、線幅、濃淡によっ
て固有の値を示す。

【００５３】〔得られた測定値の補正〕そして、本実施
の形態においては、上記のようにして得られた測定値と
してのエッジ凹凸度σを以下のように補正する。

【００５４】まず、セルサイズｘが１、すなわち倍率の
仮想的な基準値つまり基準倍率（理想倍率、目標倍率）
であるとき、ｆ（ｘ）＝Ｃｒ１となるが、このときのＣ
ｒ１を基準凹凸度（理想凹凸度、目標凹凸度）とする
（Ｓ１０）。

【００５５】次に、本実施の形態においては、Ｓ１２へ
は行かずに、各セルサイズにおいて、変換式（５）Ｃｒ１' ＝σ−ａ・Ｌｎ（ｘ）（５）により、各σをＣｒ１’（変換関数）に変換する（Ｓ１
１）。得られた結果を表２および図９のグラフに示す。

【００５６】

【表２】

【００５７】以上のように、ここでは、理想（ｘ＝１）
の測定値（Ｃｒ１＝２３．２９５）を仮定し、その値を
目標にして測定値の規格化を行った。

【００５８】ａは、前記のように、種々のｘとσとから
求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この変換
は等価的に行われるとともに、Ｃｒ１' は、表２からも
分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すなわち
規格化されたエッジ凹凸度を示すことになる。それによ
って、この規格化されたエッジ凹凸度を用いることによ
り、異なる倍率で測定して得られたエッジ凹凸度同士で
あっても等価的に比較することが可能になる。つまり、
あたかも一つの倍率（解像度）で測定したと同様な画質
データ比較を行うことができる。

【００５９】〔実施の形態２〕本発明の他の実施の形態
について図１および図１０に基づいて説明すれば、以下
の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態
の図面に示した部材と同一の機能を有する部材には、同
一の符号を付記してその説明を省略する。

【００６０】ここでは、画質データとして、実施の形態
１と同じく、線画像のエッジ凹凸度を測定する。〔回帰
式演算〕までは実施の形態１同様に行う。すなわち、図
１のフローチャートに従ってＳ９まで進む。この結果、
ａ＝−３．３０３９、Ｃｒ１＝２３．２９５が求められ
た。

【００６１】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【００６２】セルサイズｘが上記の測定値（表１参照）
中の特定の測定値ｘ_iのときのエッジ凹凸度σ（ｙ_i）
を基準凹凸度（理想凹凸度、目標凹凸度）とする（Ｓ１
０）。ここでは、ｘ_i＝１０．４５、ｙ_i＝１５．５１
を基準値に選んだ。

【００６３】次に、式（６）ｋ_i＝Ｃｒ１−ｙ_i （６）で補正係数ｋ_iを求める（Ｓ１２）。したがって、ｋ_i
＝７．７９となる。

【００６４】次に、各セルサイズにおいて、式（７）Ｃｒｐｉ＝σ−ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ_i （７）により、各σをＣｒｐｉに変換する（Ｓ１１）。

【００６５】得られた結果を表３および図１０のグラフ
に示す。

【００６６】

【表３】

【００６７】ａは、前記のように、種々のｘとσとから
求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この変換
は等価的に行われるとともに、Ｃｒｐｉは、表３からも
分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すなわち
規格化されたエッジ凹凸度を示すことになる。それによ
って、この規格化されたエッジ凹凸度を用いることによ
り、異なる倍率で測定して得られたエッジ凹凸度同士で
あっても等価的に比較することが可能になる。

【００６８】本実施の形態では、実際にここで測定して
得られた値（ｘ_i＝１０．４５、ｙ_i＝１５．５１）を
目標にして測定値の規格化を行った。つまり、一つの測
定系で得られた画質データを、その系で得られた任意の
基準値を目標として規格化した。このため、例えば社内
データの規格化等の場合に特に有効である。

【００６９】〔実施の形態３〕本発明の他の実施の形態
について図１および図１１に基づいて説明すれば、以下
の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態
の図面に示した部材と同一の機能を有する部材には、同
一の符号を付記してその説明を省略する。

【００７０】ここでは、画質データとして、実施の形態
１と同じく、線画像のエッジ凹凸度を測定する。〔回帰
式演算〕までは実施の形態１同様に行う。すなわち、図
１のフローチャートに従ってＳ９まで進む。この結果、
ａ＝−３．３０３９、Ｃｒ１＝２３．２９５が求められ
た。

【００７１】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【００７２】セルサイズｘが上記の測定値以外の特定の
測定値ｘ_sのときのエッジ凹凸度σ（ｙ_s）を基準凹凸
度（理想凹凸度、目標凹凸度）とする（Ｓ１０）。この
値はテストチャート等から取り入れることができる。こ
こでは、ｘ_s＝３．８０、ｙ_s＝１７．５９を基準値に
選んだ。

【００７３】次に、式（８）ｋ１＝Ｃｒ１−ｙ_s＋ａ・Ｌｎ（ｘ_s）（８）で補正係数ｋ１を求める（Ｓ１２）。したがって、ｋ１
＝１．２９４２９となる。

【００７４】次に、各セルサイズにおいて、変換式
（９）Ｃｒｐ１＝σ−ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ１（９）により、各σをＣｒｐ１に変換する（Ｓ１１）。

【００７５】得られた結果を表４および図１１のグラフ
に示す。

【００７６】

【表４】

【００７７】ａは、前記のように、種々のｘとσとから
求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この変換
は等価的に行われるとともに、Ｃｒｐ１は、表４からも
分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すなわち
規格化されたエッジ凹凸度を示すことになる。それによ
って、この規格化されたエッジ凹凸度を用いることによ
り、異なる倍率で測定して得られたエッジ凹凸度同士で
あっても等価的に比較することが可能になる。

【００７８】本実施の形態では、実際には測定しておら
ず、外部から取り入れた値（ｘ_s＝３．８０、ｙ_s＝１
７．５９）を目標にして測定値の規格化を行った。この
ため、テストチャート等の値を用いて画質データを規格
化するような場合に特に有効である。

【００７９】〔実施の形態４〕本発明の他の実施の形態
について図１および図１２に基づいて説明すれば、以下
の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態
の図面に示した部材と同一の機能を有する部材には、同
一の符号を付記してその説明を省略する。

【００８０】ここでは、画質データとして、実施の形態
１と同じく、線画像のエッジ凹凸度を測定する。〔回帰
式演算〕までは実施の形態１同様に行う。すなわち、図
１のフローチャートに従ってＳ９まで進む。この結果、
ａ＝−３．３０３９、Ｃｒ１＝２３．２９５が求められ
た。

【００８１】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【００８２】セルサイズｘが上記の測定値以外の特定の
測定値ｘ_sのときのエッジ凹凸度σ（ｙ_s）を基準凹凸
度（理想凹凸度、目標凹凸度）とする（Ｓ１０）。この
値はテストチャート等から取り入れることができる。こ
こでは、ｘ_s＝３．８０、ｙ_s＝１７．５９を基準値に
選んだ。

【００８３】次に、式（１０）ｋ_s＝Ｃｒ１−ｙ_s （１０）で補正係数ｋ_sを求める（Ｓ１２）。したがって、ｋ_s
＝５．７０５となる。

【００８４】次に、各セルサイズにおいて、変換式（１
１）Ｃｒｐｓ＝σ−ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ_s （１１）により、各σをＣｒｐｓに変換する（Ｓ１１）。

【００８５】得られた結果を表５および図１２のグラフ
に示す。

【００８６】

【表５】

【００８７】ａは、前記のように、種々のｘとσとから
求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この変換
は等価的に行われるとともに、Ｃｒｐｓは、表５からも
分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すなわち
規格化されたエッジ凹凸度を示すことになる。それによ
って、この規格化されたエッジ凹凸度を用いることによ
り、異なる倍率で測定して得られたエッジ凹凸度同士で
あっても等価的に比較することが可能になる。

【００８８】本実施の形態では、実際には測定しておら
ず、外部から取り入れた値（ｘ_s＝３．８０、ｙ_s＝１
７．５９）を目標にして測定値の規格化を行った。この
ため、テストチャート等の値を用いて画質データを規格
化するような場合に特に有効である。

【００８９】また、この場合、テストチャートでの値と
も等価的に比較することが可能になることが分かる。

【００９０】〔実施の形態５〕本発明の他の実施の形態
について図１３ないし図１８に基づいて説明すれば、以
下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形
態の図面に示した部材と同一の機能を有する部材には、
同一の符号を付記してその説明を省略する。

【００９１】実施の形態５ないし８においては、これま
での実施の形態と異なり、ここでは、画質データとし
て、線画像のエッジボケ度を測定する。

【００９２】図１３に示すフローチャートに従って処理
される。すなわち、〔線画像の特定〕までは実施の形態
１同様に行う（Ｓ２１〜Ｓ２５）。

【００９３】〔線画像のエッジボケ度の決定〕線画像の
エッジボケ度を以下のようにして決める（Ｓ２６）。実
施の形態１で述べたようにして線画像３１の境界線４０
・４１（図７参照）が求まるが、これら境界は、実際に
は図１６に示すようになっている。すなわち、線画像３
１において、線４２・４４で囲まれた部分は、濃度が高
くて線として鮮明な部分である。一方、一方の側の線４
２と線４３とで囲まれた部分や、他方の側の線４４と線
４５とで囲まれた部分は、いずれも、濃度がやや低く、
線としてやや不鮮明な部分（ボケ）である。

【００９４】このボケを規定するため、図１４に示すよ
うに、第１濃度Ｒｉよりやや薄い第３濃度Ｒｂｉと、第
２濃度Ｒｂよりやや濃い第４濃度Ｒｂｂ（Ｒｂｉ＞Ｒｂ
ｂ）とを定める。この定め方は特に限定されない。

【００９５】次に、図１６に示すように、線４４と線４
５との間、すなわち線画像３１の一方の側（図中右側）
で濃度がＲｂｉとＲｂｂとの間にあるセルの個数Ｂr
（しきい値内画素数）を求める。同様に、線４２と線４
３との間、すなわち線画像３１のもう一方の側（図中左
側）で濃度がＲｂｉとＲｂｂとの間にあるセルの個数Ｂ
l （しきい値内画素数）を求める。

【００９６】次に、図１５に示すように、式（１２）、
（１３）ＢlurL＝ｄ₁Ｂl ／Ｌ（１２）ＢlurR＝ｄ₁Ｂr ／Ｌ（１３）により、左右各側におけるエッジボケ度ＢlurL、ＢlurR
を求める。同図は、このときの階調と、ウインドウ枠一
端から各セルまでの距離との関係をエッジボケ度の濃度
断面として示している。図中、距離はμｍを単位とする
標準偏差で表している。

【００９７】なお、以下の説明では、左右両側のエッジ
ボケ度のうち、代表して片側のみについて説明し、説明
中は便宜上エッジボケ度をＢlur で表す。

【００９８】数回（ｎ回）サンプリングを行うことによ
り、以上の操作、すなわちサンプリングからエッジボケ
度算出までの操作をｎ回行う（Ｂlur₁〜Ｂlur _n）（Ｓ
２７）。ここでは操作を１０回行った。そして、１０個
のＢlur の平均値を求める（Ｓ２８）。

【００９９】ひとつの線画像に対し、複数の倍率すなわ
ちセルサイズｘ（＝ｄ₁）について上記測定を行い、同
様にしてＢlur を求める（Ｓ２１〜Ｓ２８）。ここでは
セルサイズｘとして、６．００、１０．４５、１６．５
０、２１．３０（μｍ）のときのエッジボケ度Ｂlur を
測定した。得られた結果を表６および図１７のグラフに
示す。なお、グラフ中、エッジボケ度をｙで表す。

【０１００】

【表６】

【０１０１】〔回帰式演算〕次に、得られたｘとＢlur
とに対し、演算処理装置６において、最も相関性の高い
回帰式を最小二乗法を用いて求める。すなわち、以下の
回帰式（１４）ｆ（ｘ）＝ａ・Ｌｎ（ｘ）＋Ｃｂ１（１４）で表される回帰線ｆ（ｘ）を求める（Ｓ２９）。

【０１０２】上記回帰式（１４）で、実施の形態１同
様、Ｌｎは自然対数である。また、ａ、Ｃｂ１はｘとＢ
lur とによらない定数である。グラフ上でいえば、ａは
勾配である。またａは、単位長さ当たり、すなわちセル
サイズｘ（＝ｄ₁）当たりの画質データ（ここではエッ
ジボケ度）であり、セルサイズに対するエッジボケ度の
増加率である。そのため、画像の空間周波数を表す。

【０１０３】Ｃｂ１は、回帰線とｘ＝１すなわちｙ軸と
の交点のｙ座標（切片）である。

【０１０４】計算の結果、ａ＝２６．９８６、Ｃｂ１＝
２８．５５５が求められた。したがってこのときの回帰
式はｆ（ｘ）＝２６．９８６Ｌｎ（ｘ）＋２８．５５５（１５）となる。この回帰式を前述の図１７のグラフ内に示す。
なお、これらの定数は、線画像の線質、線幅、濃淡によ
って固有の値を示す。

【０１０５】〔得られた測定値の補正〕そして、本実施
の形態においては、上記のようにして得られた測定値と
してのエッジボケ度Ｂlur を以下のように補正する。

【０１０６】まず、セルサイズｘが１、すなわち倍率の
仮想的な基準値つまり基準倍率（理想倍率、目標倍率）
であるとき、ｆ（ｘ）＝Ｃｂ１となるが、このときのＣ
ｂ１を基準ボケ度（理想ボケ度、目標ボケ度）とする
（Ｓ３０）。

【０１０７】次に、本実施の形態においては、Ｓ３２へ
は行かずに、各セルサイズにおいて、変換式（１６）Ｃｂ１' ＝Ｂlur −ａ・Ｌｎ（ｘ）（１６）により、各Ｂlur をＣｂ１’（変換関数）に変換する
（Ｓ３１）。得られた結果を表７および図１８のグラフ
に示す。

【０１０８】

【表７】

【０１０９】以上のように、ここでは、理想（ｘ＝１）
の測定値（Ｃｂ１＝２８．５５５）を仮定し、その値を
目標にして測定値の規格化を行った。

【０１１０】ａは、前記のように、種々のｘとＢlur と
から求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この
変換は等価的に行われるとともに、Ｃｂ１' は、表７か
らも分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すな
わち規格化されたエッジボケ度を示すことになる。それ
によって、この規格化されたエッジボケ度を用いること
により、異なる倍率で測定して得られたエッジボケ度同
士であっても等価的に比較することが可能になる。つま
り、あたかも一つの倍率（解像度）で測定したと同様な
画質データ比較を行うことができる。

【０１１１】〔実施の形態６〕本発明の他の実施の形態
について図１３および図１９に基づいて説明すれば、以
下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形
態の図面に示した部材と同一の機能を有する部材には、
同一の符号を付記してその説明を省略する。

【０１１２】ここでは、画質データとして、実施の形態
５と同じく、線画像のエッジボケ度を測定する。〔回帰
式演算〕までは実施の形態５同様に行う。すなわち、図
１３のフローチャートに従ってＳ２９まで進む。この結
果、ａ＝２６．９８６、Ｃｂ１＝２８．５５５が求めら
れた。

【０１１３】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【０１１４】セルサイズｘが上記の測定値（表６参照）
中の特定の測定値ｘ_iのときのエッジボケ度Ｂlur （ｙ
_i）を基準ボケ度（理想ボケ度、目標ボケ度）とする
（Ｓ３０）。ここでは、ｘ_i＝１０．４５、ｙ_i＝９
１．２０を基準値に選んだ。

【０１１５】次に、式（１７）ｋ_i＝ｙ_i−Ｃｂ１（１７）で補正係数ｋ_iを求める（Ｓ３２）。したがって、ｋ_i
＝６２．６５となる。

【０１１６】次に、各セルサイズにおいて、変換式（１
８）Ｃｂｐｉ＝Ｂlur −ａ・Ｌｎ（ｘ）＋ｋ_i （１８）により、各Ｂlur をＣｂｐｉに変換する（Ｓ３１）。

【０１１７】得られた結果を表８および図１９のグラフ
に示す。

【０１１８】

【表８】

【０１１９】ａは、前記のように、種々のｘとＢlur と
から求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この
変換は等価的に行われるとともに、Ｃｂｐｉは、表８か
らも分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すな
わち規格化されたエッジボケ度を示すことになる。それ
によって、この規格化されたエッジボケ度を用いること
により、異なる倍率で測定して得られたエッジボケ度同
士であっても等価的に比較することが可能になる。

【０１２０】本実施の形態では、実際にここで測定して
得られた値（ｘ_i＝１０．４５、ｙ_i＝９１．２０）を
目標にして測定値の規格化を行った。つまり、一つの測
定系で得られた画質データを、その系で得られた任意の
基準値を目標として規格化した。このため、例えば社内
データの規格化等の場合に特に有効である。

【０１２１】〔実施の形態７〕本発明の他の実施の形態
について図１３および図２０に基づいて説明すれば、以
下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形
態の図面に示した部材と同一の機能を有する部材には、
同一の符号を付記してその説明を省略する。

【０１２２】ここでは、画質データとして、実施の形態
５と同じく、線画像のエッジボケ度を測定する。〔回帰
式演算〕までは実施の形態５同様に行う。すなわち、図
１３のフローチャートに従ってＳ２９まで進む。この結
果、ａ＝２６．９８６、Ｃｂ１＝２８．５５５が求めら
れた。

【０１２３】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【０１２４】セルサイズｘが上記の測定値以外の特定の
測定値ｘ_sのときのエッジボケ度Ｂlur （ｙ_s）を基準
ボケ度（理想ボケ度、目標ボケ度）とする（Ｓ３０）。
この値はテストチャート等から取り入れることができ
る。ここでは、ｘ_s＝３．８０、ｙ_s＝４４．１０を基
準値に選んだ。

【０１２５】次に、式（１９）ｋ１＝Ｃｂ１−ｙ_s＋ａ・Ｌｎ（ｘ_s）（１９）で補正係数ｋ１を求める（Ｓ３２）。したがって、ｋ１
＝２０．４８となる。

【０１２６】次に、各セルサイズにおいて、変換式（２
０）Ｃｂｐ１＝Ｂlur −ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ１（２０）により、各Ｂlur をＣｂｐ１に変換する（Ｓ３１）。

【０１２７】得られた結果を表９および図２０のグラフ
に示す。

【０１２８】

【表９】

【０１２９】ａは、前記のように、種々のｘとＢlur と
から求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この
変換は等価的に行われるとともに、Ｃｂｐ１は、表９か
らも分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すな
わち規格化されたエッジボケ度を示すことになる。それ
によって、この規格化されたエッジボケ度を用いること
により、異なる倍率で測定して得られたエッジボケ度同
士であっても等価的に比較することが可能になる。

【０１３０】本実施の形態では、実際には測定しておら
ず、外部から取り入れた値（ｘ_s＝３．８０、ｙ_s＝４
４．１０）を目標にして測定値の規格化を行った。この
ため、テストチャート等の値を用いて画質データを規格
化するような場合に特に有効である。

【０１３１】〔実施の形態８〕本発明の他の実施の形態
について図１３および図２１に基づいて説明すれば、以
下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形
態の図面に示した部材と同一の機能を有する部材には、
同一の符号を付記してその説明を省略する。

【０１３２】ここでは、画質データとして、実施の形態
５と同じく、線画像のエッジボケ度を測定する。〔回帰
式演算〕までは実施の形態５同様に行う。すなわち、図
１３のフローチャートに従ってＳ２９まで進む。この結
果、ａ＝２６．９８６、Ｃｂ１＝２８．５５５が求めら
れた。

【０１３３】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【０１３４】セルサイズｘが上記の測定値以外の特定の
測定値ｘ_sのときのエッジボケ度Ｂlur （ｙ_s）を基準
ボケ度（理想ボケ度、目標ボケ度）とする（Ｓ３０）。
この値はテストチャート等から取り入れることができ
る。ここでは、ｘ_s＝３．８０、ｙ_s＝４４．１０を基
準値に選んだ。

【０１３５】次に、式（２１）ｋ_s＝Ｃｂ１−ｙ_s （２１）で補正係数ｋ_sを求める（Ｓ３２）。したがってｋ_s＝
−１５．５５となる。

【０１３６】次に、各セルサイズにおいて、変換式（２
２）Ｃｂｐｓ＝Ｂlur −ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ_s （２２）により、各Ｂlur をＣｂｐｓに変換する（Ｓ３１）。

【０１３７】得られた結果を表１０および図２１のグラ
フに示す。

【０１３８】

【表１０】

【０１３９】ａは、前記のように、種々のｘとＢlur と
から求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この
変換は等価的に行われるとともに、Ｃｂｐｓは、表１０
からも分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、す
なわち規格化されたエッジボケ度を示すことになる。そ
れによって、この規格化されたエッジボケ度を用いるこ
とにより、異なる倍率で測定して得られたエッジボケ度
同士であっても等価的に比較することが可能になる。

【０１４０】本実施の形態では、実際には測定しておら
ず、外部から取り入れた値（ｘ_s＝３．８０、ｙ_s＝４
４．１０）を目標にして測定値の規格化を行った。この
ため、テストチャート等の値を用いて画質データを規格
化するような場合に特に有効である。

【０１４１】また、この場合、テストチャートでの値と
も等価的に比較することが可能になることが分かる。

【０１４２】〔実施の形態９〕本発明のさらに他の実施
の形態について図２２ないし図２６に基づいて説明すれ
ば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実
施の形態の図面に示した部材と同一の機能を有する部材
には同一の符号を付記してその説明を省略する。

【０１４３】実施の形態９ないし１２においては、これ
までの実施の形態と異なり、ここでは、画質データとし
て、線画像の線幅を測定する。

【０１４４】図２２に示すフローチャートに従って処理
される。すなわち、〔線画像の特定〕までは実施の形態
１同様に行う（Ｓ４１〜Ｓ４５）。

【０１４５】〔線画像の線幅の決定〕線画像の線幅を以
下のようにして決める（Ｓ４６）。

【０１４６】前述のようにして線画像３１の境界線４０
・４１が得られるが、図２４に示すように、これら２つ
の境界線も含めて、これら境界線の間にあるセルの個数
（しきい値内画素数）すなわち線画像３１を表すセルの
個数をＢとする。そして式（２３）Ｌｗ＝ｄ₁Ｂ／Ｌ（２３）により、線画像の線幅Ｌｗを求める。このときの階調
と、ウインドウ枠一端から各セルまでの距離との関係を
線幅の濃度断面として図２３に示す。図中、距離はμｍ
を単位とする標準偏差で表している。

【０１４７】数回（ｎ回）サンプリングを行うことによ
り、以上の操作、すなわちサンプリングから線幅算出ま
での操作をｎ回行う（Ｌｗ₁〜Ｌｗ_n）（Ｓ４７）。こ
こでは操作を１０回行った。そして、１０個のＬｗの平
均値を求める（Ｓ４８）。

【０１４８】ひとつの線画像に対し、複数の倍率すなわ
ちセルサイズｘ（＝ｄ₁）について上記測定を行い、同
様にしてＬｗを求める（Ｓ４１〜Ｓ４８）。ここではセ
ルサイズｘとして、６．００、１０．４５、１６．５
０、２１．３０（μｍ）のときの線幅Ｌｗを測定した。
得られた結果を表１１および図２５のグラフに示す。な
お、グラフ中、線幅Ｌｗをｙで表す。

【０１４９】

【表１１】

【０１５０】〔回帰式演算〕次に、得られたｘとＬｗと
に対し、演算処理装置６において、最も相関性の高い回
帰式を最小二乗法を用いて求める。すなわち、以下の回
帰式（２４）ｆ（ｘ）＝ａｘ＋Ｃｗ０（２４）で表される回帰線ｆ（ｘ）を求める（Ｓ４９）。

【０１５１】上記回帰式（２４）で、ａ、Ｃｗ０はｘと
Ｌｗとによらない定数である。グラフ上でいえば、ａは
勾配である。またａは、単位長さ当たり、すなわちセル
サイズｘ（＝ｄ₁）当たりの画質データ（ここでは線
幅）であり、セルサイズによる線幅の増加率である。そ
のため、画像の空間周波数を表す。

【０１５２】Ｃｗ０は、回帰線とｘ＝０すなわちｙ軸と
の交点のｙ座標（切片）である。つまり測定の際のセル
サイズｘが無限小のときの画質データ（ここでは線幅）
である。

【０１５３】計算の結果、ａ＝０．６７３３、Ｃｗ０＝
１２１．０２が求められた。したがってこのときの回帰
式はｆ（ｘ）＝０．６７３３ｘ＋１２１．０２（２５）となる。この回帰式を前述の図２５のグラフ内に示す。
なお、これらの定数は、線画像の線質、線幅、濃淡によ
って固有の値を示す。

【０１５４】〔得られた測定値の補正〕そして、本実施
の形態においては、上記のようにして得られた測定値と
しての線幅Ｌｗを以下のように補正する。

【０１５５】まず、セルサイズｘが０、すなわち倍率の
仮想的な基準値つまり基準倍率（理想倍率、目標倍率）
であるとき、ｆ（ｘ）＝Ｃｗ０となるが、このときのＣ
ｗ０を基準線幅（理想線幅、目標線幅）とする（Ｓ５
０）。

【０１５６】次に、本実施の形態においては、Ｓ５２へ
は行かずに、各セルサイズにおいて、変換式（２６）Ｃｗ０' ＝Ｌｗ−ａｘ（２６）により、各ＬｗをＣｗ０’（変換関数）に変換する（Ｓ
５１）。得られた結果を表１２および図２６のグラフに
示す。

【０１５７】

【表１２】

【０１５８】以上のように、ここでは、理想（ｘ＝０）
の測定値（Ｃｗ０＝１２１．０２）を仮定し、その値を
目標にして測定値の規格化を行った。

【０１５９】ａは、前記のように種々のｘとＬｗとから
求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この変換
は等価的に行われるとともに、Ｃｗ０' は、表１２から
も分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すなわ
ち規格化された線幅を示すことになる。それによって、
この規格化された線幅を用いることにより、異なる倍率
で測定して得られた線幅同士であっても、等価的に比較
することが可能になる。つまり、あたかも一つの倍率
（解像度）で測定したと同様な画質データ比較を行うこ
とができる。

【０１６０】〔実施の形態１０〕本発明の他の実施の形
態について図２２および図２７に基づいて説明すれば、
以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の
形態の図面に示した部材と同一の機能を有する部材に
は、同一の符号を付記してその説明を省略する。

【０１６１】ここでは、画質データとして、実施の形態
９と同じく、線画像の線幅を測定する。〔回帰式演算〕
までは実施の形態９同様に行う。すなわち、図２２のフ
ローチャートに従ってＳ４９まで進む。この結果、ａ＝
０．６７３３、Ｃｗ０＝１２１．０２が求められた。

【０１６２】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【０１６３】セルサイズｘが上記の測定値（表１１参
照）中の特定の測定値ｘ_iのときの線幅Ｌｗ（ｙ_i）を
基準線幅（理想線幅、目標線幅）とする（Ｓ５０）。こ
こでは、ｘ_i＝１０．４５、ｙ_i＝１２８．０２を基準
値に選んだ。

【０１６４】次に、式（２７）ｋ_i＝ｙ_i−Ｃｗ０（２７）で補正係数ｋ_iを求める（Ｓ５２）。したがって、ｋ_i
＝７．００となる。

【０１６５】次に、各セルサイズにおいて、変換式（２
８）Ｃｗｐｉ＝Ｌｗ−ａｘ＋ｋ_i （２８）により、各ＬｗをＣｗｐｉに変換する（Ｓ５１）。

【０１６６】得られた結果を表１３および図２７のグラ
フに示す。

【０１６７】

【表１３】

【０１６８】ａは、前記のように種々のｘとＬｗとから
求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この変換
は等価的に行われるとともに、Ｃｗｐｉは、表１３から
も分かるように、セルサイズｘにかかわらずに、すなわ
ち規格化された線幅を示すことになる。それによって、
この規格化された線幅を用いることにより、異なる倍率
で測定して得られた線幅同士であっても、等価的に比較
することが可能になる。

【０１６９】本実施の形態では、実際にここで測定して
得られた値（ｘ_i＝１０．４５、ｙ_i＝１２８．０２）
を目標にして測定値の規格化を行った。つまり、一つの
測定系で得られた画質データを、その系で得られた任意
の基準値を目標として規格化した。このため、例えば社
内データの規格化等の場合に特に有効である。

【０１７０】〔実施の形態１１〕本発明の他の実施の形
態について図２２および図２８に基づいて説明すれば、
以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の
形態の図面に示した部材と同一の機能を有する部材に
は、同一の符号を付記してその説明を省略する。

【０１７１】ここでは、画質データとして、実施の形態
９と同じく、線画像の線幅を測定する。〔回帰式演算〕
までは実施の形態９同様に行う。すなわち、図２２のフ
ローチャートに従ってＳ４９まで進む。この結果、ａ＝
０．６７３３、Ｃｗ０＝１２１．０２が求められた。

【０１７２】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【０１７３】セルサイズｘが上記の測定値以外の特定の
測定値ｘ_sのときの線幅Ｌｗ（ｙ_s）を基準線幅（理想
線幅、目標線幅）とする（Ｓ５０）。この値はテストチ
ャート等から取り入れることができる。ここでは、ｘ_s
＝６．００、ｙ_s＝１１５．１２を基準値に選んだ。

【０１７４】次に、式（２９）ｋ１＝Ｃｗ０−ｙ_s＋ａｘ_s （２９）で補正係数ｋ１を求める（Ｓ５２）。したがってｋ１＝
９．９３９８となる。

【０１７５】次に、各セルサイズにおいて、変換式（３
０）Ｃｗｐ０＝Ｌｗ−ａｘ−ｋ１（３０）により、各ＬｗをＣｗｐ０に変換する（Ｓ５１）。

【０１７６】得られた結果を表１４および図２８のグラ
フに示す。

【０１７７】

【表１４】

【０１７８】ａは、前記のように種々のｘとＬｗとから
求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この変換
は等価的に行われるとともに、Ｃｗｐ０は、表１４から
も分かるように、セルサイズｘにかかわらずにすなわち
規格化された線幅を示すことになる。それによって、こ
の規格化された線幅を用いることにより、異なる倍率で
測定して得られた線幅同士であっても等価的に比較する
ことが可能になる。

【０１７９】本実施の形態では、実際には測定しておら
ず、外部から取り入れた値（ｘ_s＝６．００、ｙ_s＝１
１５．１２）を目標にして測定値の規格化を行った。こ
のため、テストチャート等の値を用いて画質データを規
格化するような場合に特に有効である。

【０１８０】〔実施の形態１２〕本発明の他の実施の形
態について図２２および図２９に基づいて説明すれば、
以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の
形態の図面に示した部材と同一の機能を有する部材に
は、同一の符号を付記してその説明を省略する。

【０１８１】ここでは、画質データとして、実施の形態
９と同じく、線画像の線幅を測定する。〔回帰式演算〕
までは実施の形態９同様に行う。すなわち、図２２のフ
ローチャートに従ってＳ４９まで進む。この結果、ａ＝
０．６７３３、Ｃｗ０＝１２１．０２が求められた。

【０１８２】〔得られた測定値の補正〕本実施の形態に
おいては、上記のようにして得られた測定値を以下のよ
うに補正する。

【０１８３】セルサイズｘが上記の測定値以外の特定の
測定値ｘ_sのときの線幅Ｌｗ（ｙ_s）を基準線幅（理想
線幅、目標線幅）とする（Ｓ５０）。この値はテストチ
ャート等から取り入れることができる。ここでは、ｘ_s
＝６．００、ｙ_s＝１１５．１２を基準値に選んだ。

【０１８４】次に、式（３１）ｋ_s＝Ｃｗ０−ｙ_s （３１）で補正係数ｋ_sを求める（Ｓ５２）。したがって、ｋ_s
＝５．９０となる。

【０１８５】次に、各セルサイズにおいて、変換式（３
２）Ｃｗｐｓ＝Ｌｗ−ａｘ−ｋ_s （３２）により、各ＬｗをＣｗｐｓに変換する（Ｓ５１）。

【０１８６】得られた結果を表１５および図２９のグラ
フに示す。

【０１８７】

【表１５】

【０１８８】ａは、前記のように種々のｘとＬｗとから
求めた上記回帰線の勾配である。したがって、この変換
は等価的に行われるとともに、Ｃｗｐｓは、表１５から
も分かるように、セルサイズｘにかかわらずにすなわち
規格化された線幅を示すことになる。それによって、こ
の規格化された線幅を用いることにより、異なる倍率で
測定して得られた線幅同士であっても等価的に比較する
ことが可能になる。

【０１８９】本実施の形態では、実際には測定しておら
ず、外部から取り入れた値（ｘ_s＝６．００、ｙ_s＝１
１５．１２）を目標にして測定値の規格化を行った。こ
のため、テストチャート等の値を用いて画質データを規
格化するような場合に特に有効である。

【０１９０】また、この場合、テストチャートでの値と
も等価的に比較することが可能になることが分かる。

【０１９１】

【発明の効果】以上のように、本発明の請求項１記載の
画質測定方法は、原稿の画質を評価するための画質デー
タを測定する画質測定方法であって、セルサイズにより
大きさの規定される画素としてのセルを有するウインド
ウを用意し、原稿を撮影して上記セルに表示し、上記画
質データを求めることによりセルサイズｘと画質データ
ｙとからなる測定値を得て、セルサイズｘと画質データ
ｙとの相関から回帰線を求め、特定のセルサイズの場合
の画質データを基準値に設定し、上記基準値を目標とし
て、上記回帰線に基づいた変換式を用いることによって
上記画質データを補正する方法である。

【０１９２】それゆえ、異なる倍率で測定して得られた
画質データ同士であっても等価的に比較することが可能
になるという効果を奏する。

【０１９３】また、低倍率での測定時の測定精度を向上
させることができる。

【０１９４】また、測定値が画質による影響を受けがた
いので、幅広い画質の画像に対して測定精度を向上させ
ることができるという効果を奏する。

【０１９５】請求項２記載の画質測定方法は、請求項１
の方法において、回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ
（ｘ）＋Ｃｒ１を選び、上記基準値として、ｘ＝１の場
合の画質データＣｒ１を選び、上記回帰線に基づき、各
セルサイズｘおよび画質データｙを変換式Ｃｒ１’＝ｙ
−ａＬｎ（ｘ）に代入して変換することによって補正後
の画質データＣｒ１’を得る方法である。

【０１９６】それゆえ、請求項１の方法による効果に加
えて、セルサイズｘそのものと画質データの相関から直
線的な回帰式を求めるよりも、画質データをより高精度
に補正することができるという効果を奏する。

【０１９７】請求項３記載の画質測定方法は、請求項１
の方法において、回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ
（ｘ）＋Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズ
ｘが上記の測定値中の特定の値ｘ_iのときの測定値とし
て得られた画質データｙ_iを選び、ｋ_i＝Ｃｒ１−ｙ_i
で補正係数ｋ_iを求め、上記回帰線に基づき、各セルサ
イズｘおよび画質データｙを変換式Ｃｒｐｉ＝ｙ−ａ・
Ｌｎ（ｘ）−ｋ_iに代入して変換することによって補正
後の画質データＣｒｐｉを得る方法である。

【０１９８】それゆえ、請求項１の方法による効果に加
えて、特定の倍率での画質データの等価的な比較が容易
に行え、画質データを高精度に検討することができると
いう効果を奏する。

【０１９９】また、実際にその倍率で測定範囲を越えた
ために別の倍率で測ったような場合でも、画質データの
測定値を等価的に比較することができるという効果を奏
する。

【０２００】また、任意かつ特定の倍率で測定して得ら
れた画質データの値を、測定機器の測定性能の規格とし
て定めることが可能になるという効果を奏する。

【０２０１】請求項４記載の画質測定方法は、請求項１
の方法において、回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ
（ｘ）＋Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズ
ｘがある特定の値ｘ_sのときの、上記測定値以外の画質
データｙ_sを選び、ｋ１＝Ｃｒ１−ｙ_s＋ａ・Ｌｎ（ｘ
_s）で補正係数ｋ１を求め、上記回帰線に基づき、各セ
ルサイズｘおよび画質データｙを変換式Ｃｒｐ１＝ｙ−
ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ１に代入して変換することによって
補正後の画質データＣｒｐ１を得る方法である。

【０２０２】それゆえ、請求項１の方法による効果に加
えて、テストチャートなどのように、あらかじめ別途に
求められた値を用いて、その測定系内での測定倍率によ
る画質データの測定値のバラツキを補正し、その測定系
を効率的に調整することができるという効果を奏する。

【０２０３】請求項５記載の画質測定方法は、請求項１
の方法において、回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ
（ｘ）＋Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズ
ｘがある特定の値ｘ_sのときの、上記測定値以外の画質
データｙ_sを選び、ｋ_s＝Ｃｒ１−ｙ_sで補正係数ｋ_s
を求め、上記回帰線に基づき、各セルサイズｘおよび画
質データｙを変換式Ｃｒｐｓ＝ｙ−ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ
_sに代入して変換することによって補正後の画質データ
Ｃｒｐｓを得る方法である。

【０２０４】それゆえ、請求項１の方法による効果に加
えて、テストチャート等のように、あらかじめ別途に正
確に求められた値を用いて、その測定系内での測定倍率
による画質データの測定値のバラツキを補正し、その測
定系を効率的に調整することができるという効果を奏す
る。

【０２０５】さらに、そのテストチャート等であらかじ
め求められている測定値とも等価的に比較することがで
きるため、広域的な、すなわち広範囲の測定系を効率的
に調整することができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る画質測定方法の一構成例における
画質データの測定および補正処理を示すフローチャート
である。

【図２】画質測定装置の一構成例を示すブロック図であ
る。

【図３】ウインドウにおけるセルの構成を示す説明図で
ある。

【図４】カメラヘッドにおけるＣＣＤ出力と画像の濃度
との関係を示すグラフである。

【図５】ウインドウにおける階調と頻度との関係を示す
説明図である。

【図６】ウインドウにおける水平走査線に沿う第１方向
の位置と階調との関係を示す説明図である。

【図７】ウインドウにおけるエッジ凹凸度を示す説明図
である。

【図８】セルサイズとエッジ凹凸度との関係およびその
回帰式とを示すグラフである。

【図９】セルサイズとデータ変換処理後のエッジ凹凸度
との関係を示すグラフである。

【図１０】セルサイズとデータ変換処理後のエッジ凹凸
度との関係を示すグラフである。

【図１１】セルサイズとデータ変換処理後のエッジ凹凸
度との関係を示すグラフである。

【図１２】セルサイズとデータ変換処理後のエッジ凹凸
度との関係を示すグラフである。

【図１３】本発明に係る画質測定方法の他の構成例にお
ける画質データの測定および補正処理を示すフローチャ
ートである。

【図１４】ウインドウにおける階調と頻度との関係を示
す説明図である。

【図１５】ウインドウにおける水平走査線に沿う第１方
向の位置と階調との関係を示す説明図である。

【図１６】ウインドウにおけるエッジボケ度を示す説明
図である。

【図１７】セルサイズとエッジボケ度との関係およびそ
の回帰式とを示すグラフである。

【図１８】セルサイズとデータ変換処理後のエッジボケ
度との関係を示すグラフである。

【図１９】セルサイズとデータ変換処理後のエッジボケ
度との関係を示すグラフである。

【図２０】セルサイズとデータ変換処理後のエッジボケ
度との関係を示すグラフである。

【図２１】セルサイズとデータ変換処理後のエッジボケ
度との関係を示すグラフである。

【図２２】本発明に係る画質測定方法のさらに他の構成
例における画質データの測定および補正処理を示すフロ
ーチャートである。

【図２３】ウインドウにおける水平走査線に沿う第１方
向の位置と階調との関係を示す説明図である。

【図２４】ウインドウにおける線幅を示す説明図であ
る。

【図２５】セルサイズと線幅との関係およびその回帰式
とを示すグラフである。

【図２６】セルサイズとデータ変換処理後の線幅との関
係を示すグラフである。

【図２７】セルサイズとデータ変換処理後の線幅との関
係を示すグラフである。

【図２８】セルサイズとデータ変換処理後の線幅との関
係を示すグラフである。

【図２９】セルサイズとデータ変換処理後の線幅との関
係を示すグラフである。

【符号の説明】

１光源装置２顕微鏡３ＣＣＤカメラ４画像処理装置５画像表示装置６演算処理装置７モニタ８キーボード９プリンタ１１光源１２照明リング（照明手段）１３原稿台１４スタンド１５接眼レンズ部１６ヘッド１７コントロールユニット１８メモリ１９ディスプレイ２０表示制御部２１ウインドウ２２セル（画素）３０原稿３１線画像４０、４１境界線４２、４３、４４、４５線ｘセルサイズ σ エッジ凹凸度Ｂlur エッジボケ度Ｌｗ線幅

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】原稿の画質を評価するための画質データを
測定する画質測定方法であって、セルサイズにより大きさの規定される画素としてのセル
を有するウインドウを用意し、原稿を撮影して上記セルに表示し、上記画質データを求めることによりセルサイズｘと画質
データｙとからなる測定値を得て、セルサイズｘと画質データｙとの相関から回帰線を求
め、特定のセルサイズの場合の画質データを基準値に設定
し、上記基準値を目標として、上記回帰線に基づいた変換式
を用いることによって上記画質データを補正することを
特徴とする画質測定方法。
【請求項２】回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ（ｘ）＋
Ｃｒ１を選び、上記基準値として、ｘ＝１の場合の画質データＣｒ１を
選び、上記回帰線に基づき、各セルサイズｘおよび画質データ
ｙを変換式Ｃｒ１’＝ｙ−ａＬｎ（ｘ）に代入して変換することによって補正後の画質データＣ
ｒ１’を得ることを特徴とする請求項１記載の画質測定
方法。
【請求項３】回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ（ｘ）＋
Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズｘが上記の測定値中の特
定の値ｘ_iのときの測定値として得られた画質データｙ
_iを選び、ｋ_i＝Ｃｒ１−ｙ_iで補正係数ｋ_iを求め、上記回帰線に基づき、各セルサイズｘおよび画質データ
ｙを変換式Ｃｒｐｉ＝ｙ−ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ_i に代入して変換することによって補正後の画質データＣ
ｒｐｉを得ることを特徴とする請求項１記載の画質測定
方法。
【請求項４】回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ（ｘ）＋
Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズｘがある特定の値ｘ_sの
ときの、上記測定値以外の画質データｙ_sを選び、ｋ１＝Ｃｒ１−ｙ_s＋ａ・Ｌｎ（ｘ_s）で補正係数ｋ１
を求め、上記回帰線に基づき、各セルサイズｘおよび画質データ
ｙを変換式Ｃｒｐ１＝ｙ−ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ１に代入して変換することによって補正後の画質データＣ
ｒｐ１を得ることを特徴とする請求項１記載の画質測定
方法。
【請求項５】回帰線として、ｆ（ｘ）＝ａＬｎ（ｘ）＋
Ｃｒ１を選び、上記基準値として、セルサイズｘがある特定の値ｘ_sの
ときの、上記測定値以外の画質データｙ_sを選び、ｋ_s＝Ｃｒ１−ｙ_sで補正係数ｋ_sを求め、上記回帰線に基づき、各セルサイズｘおよび画質データ
ｙを変換式Ｃｒｐｓ＝ｙ−ａ・Ｌｎ（ｘ）−ｋ_s に代入して変換することによって補正後の画質データＣ
ｒｐｓを得ることを特徴とする請求項１記載の画質測定
方法。